JPH04162550A - 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置およびその製造方法

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JPH04162550A JP2400418A JP40041890A JPH04162550A JP H04162550 A JPH04162550 A JP H04162550A JP 2400418 A JP2400418 A JP 2400418A JP 40041890 A JP40041890 A JP 40041890A JP H04162550 A JPH04162550 A JP H04162550A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
[0001]
【産業上の利用分野】
本発明は樹脂封止型半導体装置およびその製造方法に関
し、特に半導体チップを搭載した金属製放熱板の形状と
樹脂封止方法に関する。 [0002]
【従来の技術】
従来許容損失の大きいパワートランジスタ等の半導体チ
ップを搭載する樹脂封止型半導体装置では、半導体チッ
プの発熱を逃すため、1〜2mmの厚さを持つ金属製の
放熱板上に半導体チップを搭載している。近年、この放
熱板を高熱伝導タイプのエポキシ樹脂でフルモールドし
た製品が考案されている。しかしこの金属製の放熱板は
銅等で構成されているため、質量が大きく、自重により
外部に導出したリード位置に対して変形等が発生し、樹
脂封止時の成形金形内(キャビティ)で不安定となり、
モールド内の位置精度が確保でないという問題があった
。 [0003] 次に従来の樹脂封止型半導体装置の一例を図8 (a)
、  (b)を用いて説明する。パワーデバイスを構成
する半導体チップ1を搭載した銅等からなる金属性の矩
形状の放熱板2が、エポキシ樹脂3により封止され、樹
脂の一端面から電極となる外部リード4が出ており、外
部リード4はワイヤ6により半導体チップ1に接続され
ている。この放熱板2の表裏を全て樹脂で被覆するため
には、樹脂対土工程で成形金型内の放熱板2を浮かせた
状態で固定する。その方法の一つとして、例えば特開昭
60−180127号公報に示されているように、リー
ド4の導出方向と反対の放熱板先端を成形金型内に形成
された挟持体で挟み込む方法が用いられる。 [0004] 以下その方法について図9 (a)、  (b)を用い
て説明する。まず、図9 (a)に示すように、成形金
型を開いた状態で突起状の挟持体8Aを有する上金型7
Aと、下金型7Bの内部に半導体チップを搭載した放熱
板2及び外部リード4を置く。次に図9(b)に示す通
り、上金型7Aと下金型7Bを閉じ、放熱板2の先端と
り−ド4を固定する。その後、上記金型内にエポキシ樹
脂等を加圧注入し、加熱硬化したのち取り出す。 [0005]
【発明が解決しようとする課題】
この従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法では、放熱
板2を成形金型内に形方向の位置精度は良好で安定する
が、放熱板2に前工程(マウント、ボンディング工程等
)やハンドリング時、横方向にずれやねじれが生じた場
合その状態で成形金型内に固定されるため放熱板側面の
樹脂厚が減少し、絶縁耐圧の低下を招くという問題点が
あった。 [0006] また、ずれが大きい場合は、上下金型を閉じた時に、放
熱板のカジリ等が発生し、製造工程内でのトラブルや歩
留の低下を招く恐れがあった。 [0007] 更に、樹脂側面と放熱板側面の距離に、放熱板の横方向
ずれを考慮した余分なりリアランスを持たせると、樹脂
注入時に、放熱板裏面に流入した樹脂が放熱板の表面に
回り込み、裏面の充填性を損うなめ、裏面の樹脂厚を薄
くすることが困難になるという問題点もあった。 [0008]
【課題を解決するための手段】
第1の発明の樹脂封止型半導体装置は、矩形状の放熱板
と、この放熱板上に固着された半導体チップと、前記放
熱板の周辺部に設けられ前記半導体チップとワイヤによ
り接続された外部リードと、前記放熱板と前記半導体チ
ップと前記外部リードの一部を封止する樹脂とを有する
樹脂封止型半導体装置において、前記外部リードの導出
方向を除く前記放熱板の少くとも一端面に、樹脂封止時
の放熱板の位置ずれを防止するための溝を設けたもので
ある。 [0009] 第2の発明の樹脂封止型半導体装置は、矩形状の放熱板
と、この放熱板上に固着された半導体チップと、前記放
熱板の周辺部に設けられ前記半導体チップとワイヤによ
り接続された外部リードと、前記放熱板と前記半導体チ
ップと前記外部リードの一部を封止する樹脂とを有する
樹脂封止型半導体装置において、前記外部リードの導出
方向を除く前記放熱板のコーナー部に樹脂封止時の放熱
板の位置ずれを防止するための切り欠き部を設けたもの
である。 [0010] 第3の発明の樹脂封止型半導体装置の製造方法は、矩形
状の放熱板の一端の2特開平4−1に2550 (5) つのコーナー部に切り欠き部を設け、この放熱板上に半
導体チップを搭載し、放熱板の他端部に一体的に形成さ
れた外部リードと前記半導体チップとをワイヤーにより
接続し、矩形状のくぼみの2隅の内側に放熱板の位置決
め用の傾斜稜を有する固定ブロックが設けられた下金型
内に前記放熱板の切り欠き部が傾斜稜に接するように置
き、矩形状のくぼみ内に先端が円錐状の複数の固定ピン
を有する上金型をこの放熱板上に置き、これら金型内に
樹脂を注入するものである。 [0011]
【実施例】
次に本発明について図面を参照して説明する。図1  
(a)、  (b)は本発明の第1の実施例の平面図及
びA−A線断面図である。 [0012] 図1 (a)、  (b)において、銅等からなる矩形
状の放熱板2上には半導体チップ1が固着されており、
この半導体チップ1は放熱板2の周辺部に設げられた外
部リード4とワイヤ6により接続されている。そして特
に放熱板2の外部り一部4と反対側の端部には、樹脂封
止時の放熱板の位置ずれを防止するための約30°の角
度を有する7字形溝9が2ケ所に設けである。エポキシ
樹脂3はこの放熱板2と半導体チップ1と外部リード4
の一部を封止している。面図1 (a)(b)において
5は樹脂封止時における金型に設けられた挟持体跡であ
り、放熱板面に対して45°の角度を有している。 [0013] 次に図2 (a)、  (b)を用い実施例の樹脂封止
方法を説明する。図2(a)は成形金型を開いた状態で
あり、上・下金型7A、7Bには図3に示すように、放
熱板を挾む部分が45°に形成された突起状の挟持体8
が設けられている。これらの金型内に、半導体チップ1
を搭載し先端部に7字形溝9を有する放熱板2及びリー
ド4を置く。次に図2(b)に示す通り、上金型7Aと
下金型7Bを閉じて固定する。その後金型内にエポキシ
樹脂を加工注入し加熱硬化したのち取り出す。 [0014] このように第1の実施例によれば、樹脂封止時に挟持体
8により7字形溝9を打開+4−1F;2550 (5
) 使って放熱板2の位置ずれやねじれを補正することがで
きるので、エポキシ樹脂3を放熱板の表面に均一に固着
することができる。 [0015] 図4は本発明の第2の実施例の平面図である。半導体チ
ップ1を搭載した金属製の放熱板2の外部リード4の導
出方向を除いた3方向の端面に3mmfpWiのU字形
溝10を設け、外部リード4の一部を除きエポキシ樹脂
5で被覆する。放熱板のU字形溝10と対応する樹脂部
には、2mm幅で且つ放熱板面に対して45゜の角度を
有するU字形状の挟持体跡5Aを有している。製造方法
は第1の実施例と同様である。木簡2の実施例ではU字
形溝10を放熱板2の3方向の端部に設けであるため、
放熱板の位置ずれをより少くすることができる。 [0016] 図5(a)〜(C)は本発明の第3の実施例を説明する
ための半導体チップを搭載したリードフレームの平面図
と上金型及び下金型の斜視図であり、図6は上記リード
フレームと成形金型により形成された樹脂封止型半導体
装置のモールド内の透視図である。 [0017] まず図5 (a)に示すようにリードフレームは、金属
製の放熱板2上に半導体チップ1が半田等で接着され、
放熱板2から外部電極となる外部リード4Aが導出され
ている。そして外部リード4Aと並行に形成された外部
リード4は半導体チップ1の表面電極とアルミのワイヤ
6で接続されている。又、外部リード4及び4Aは共通
細条12により接続されている。更に外部リード4の導
出方向と反対側の放熱板2の2つのコーナー部には、そ
れぞれ60°の切り欠き部6が設けられている。通常、
放熱板2は共通細条12により複数個接続されている。 [0018] 成形金型は図5 (b)、  (C)に示すように、上
金型17Aと下金型17Bとに分かれている。上金型1
7Aの矩形状のくぼみ13A内には、先端部が円錐状の
2本の固定ピン14が設げられており、一方下金型17
Bでは矩形状のくぼみ13Bの2隅に放熱板2の切り欠
き部11に対向する位置に傾斜稜16を持つ四角錐状の
固定ブロック15が設けられている。
【O○19】 この下金型17B内に、放熱板2の切り欠き部11が傾
斜稜16に接するように置く。次で放熱板2の表面上に
上金型17Aを下金型17Bに合わせて閉じる。この時
、放熱板2に横ずれ等があった場合でも下金型17Bの
固定ブロック15によって、放熱板2はずれと反対方向
に矯正され、キャビティ内の所定の位置に精度よく固定
される。最後に熱硬化性のエポキシ樹脂をキャビティ内
に注入し成形を完了する。 [0020] このようにして製造された樹脂封止型半導体装置は、図
6に示したようにエポキシ樹脂3の表面には固定ピンの
跡18および固定ブロックの跡19が形成されている。 木簡3の実施例では固定ピン14と固定ブロック15が
放熱板2を点で支持しているため、放熱板2の露出部が
少くなり耐湿性を向上させることができる。 [0021] 図7 (a)、  (b)は本発明の第4の実施例を説
明するための上金型及び下金型の斜視図である。上金型
17Aにはバネにより支持され、パーティングラインよ
り飛び出した先端部が円錐状の2本の固定ピン14Aを
有し、且つ金型端面に下金型とかみ合う傾斜凸部18が
設げられている。上金型17Bの矩形状のくぼみ13B
内には、放熱板2の切り欠き部11と対向する位置に、
金型のパーティングライン上まで傾斜稜16Aを持つ四
角錐状の固定ブロック15Aを有し且つ上金型17Aの
傾斜凸部18に合致する形状を有している。 [0022] これらの成形金型を用いて樹脂封止する場合は、まず下
金型17B内に図5(a)に示した放熱板2の裏面を合
わせて載置し、次に上金型17Aを閉じる。この時、放
熱板2に横ずれ等があった場合でもバネ支持の固定ピン
14Aにより放熱板2は、下金型17Bの固定ブロック
15Aの傾斜稜16Aに沿って矯正され金型が完全に閉
じられた時にはキャビティ内の所定の位置に固定される
。 [0023] この第4の実施例では固定ブロック15Aの傾斜稜16
Aがパーティングライ特開平4(EE2550 (B) ン上にまで形成されているため、放熱板2の横ずれが大
きい場合でも、放熱板2は金型にはさまれることなく矯
正されるため第3の実施例に比べ作業性が改善される。 [0024]
【発明の効果】
以上説明したように本発明は、放熱板の少くとも一端に
、樹脂封止時の放熱板の位置ずれを防止するための溝ま
たは切り欠き部を設けることにより、樹脂封止工程で成
形金型内へ載置する放熱板の横方向の位置ずれやねじれ
を金型に設けた挟持体または固定ブロックにより修正で
きるため、樹脂中の放熱板の位置精度を向上させること
ができる。従って放熱板の成形金型によるカジリや成形
後の製品の放熱板側面の樹脂厚減少による絶縁耐圧の低
下を防止できる。又、樹脂側面と放熱板側面のクリアラ
ンスを減少させ、裏面樹脂厚を薄くした樹脂封止型半導
体装置が得られるという効果もある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施例の平面図及びA−A線断面図であ
る。
【図2】 第1の実施例の樹脂封止工程を説明するための金型の断
面図である。
【図3】 金型内に形成した挟持体の斜視図である。
【図4】 本発明の第2″の実施例の平面図である。
【図5】 本発明の第3の実施例を説明するためのリードフレーム
の平面図、上金型及び下金型の斜視図である。
【図6】 第3の実施例により形成された樹脂封止型半導体装置の
透視図である。
【図7】 本発明の第4の実施例を説明するための上金型及び下金
型の斜視図である。
【図8】 従来の樹脂封止型半導体装置の平面図及びB−B線断面
図である。
【図9】 従来の樹脂封止型半導体装置の樹脂対土工程を説明する
ための金型の断面図である。
【符号の説明】
1  半導体チップ 2  放熱板 3  ニポキシ樹脂 4  外部リード 5  挟持体跡 6  ワイヤ 7A、17A   上金型 7B、17B   上金型 8  挟持体 9  v字形溝 10   U字形溝 11  切り欠き部 12  共通細条 13A、13B   <ぼみ 14.14A   固定ピン 15.15A   固定ブロック 16  傾斜稜 18  傾斜凸部
【書類名】
図面
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】 1開+4−162550 (14)
【図6】
【図7】
【図8】 11開平4−162550 (17)
【図9】

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】矩形状の放熱板と、この放熱板上に固着さ
    れた半導体チップと、前記放熱板の周辺部に設けられ前
    記半導体チップとワイヤにより接続された外部リードと
    、前記放熱板と前記半導体チップと前記外部リードの一
    部を封止する樹脂とを有する樹脂封止型半導体装置にお
    いて、前記外部リードの導出方向を除く前記放熱板の少
    くとも一端面に、樹脂封止時の放熱板の位置ずれを防止
    するための溝を設けたことを特徴とする樹脂封止型半導
    体装置。
  2. 【請求項2】矩形状の放熱板と、この放熱板上に固着さ
    れた半導体チップと、前記放熱板の周辺部に設けられ前
    記半導体チップとワイヤにより接続された外部リードと
    、前記放熱板と前記半導体チップと前記外部リードの一
    部を封止する樹脂とを有する樹脂封止型半導体装置にお
    いて、前記外部リードの導出方向を除く前記放熱板のコ
    ーナー部に樹脂封止時の放熱板の位置ずれを防止するた
    めの切り欠き部を設けたことを特徴とする樹脂封止型半
    導体装置。
  3. 【請求項3】矩形状の放熱板の一端の2つのコーナー部
    に切り欠き部を設け、この放熱板上に半導体チップを搭
    載し、放熱板の他端部に一体的に形成された外部リード
    と前記半導体チップとをワイヤーにより接続し、矩形状
    のくぼみの2隅の内側に放熱板の位置決め用の傾斜稜を
    有する固定ブロックが設けられた下金型内に前記放熱板
    の切り欠き部が傾斜稜に接するように置き、矩形状のく
    ぼみ内に先端が円錐状の複数の固定ピンを有する上金型
    をこの放熱板上に置き、これら金型内に樹脂を注入する
    ことを特徴とする樹脂封止型半導体装置の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101649328B1 (ko) * 2015-06-11 2016-08-18 김효성 암벽 굴착기와 이를 이용한 굴착방법

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6263944U (ja) * 1985-10-11 1987-04-21
JPS6441145U (ja) * 1987-09-08 1989-03-13
JPS6472546A (en) * 1987-09-11 1989-03-17 Kansai Nippon Electric Semiconductor device
JPH01120344U (ja) * 1988-02-08 1989-08-15
JPH0241446U (ja) * 1988-09-14 1990-03-22
JPH02152260A (ja) * 1988-12-05 1990-06-12 Fujitsu Ltd 樹脂封止半導体装置およびそれの製造に用いる金型
JPH02146449U (ja) * 1989-05-16 1990-12-12

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6263944U (ja) * 1985-10-11 1987-04-21
JPS6441145U (ja) * 1987-09-08 1989-03-13
JPS6472546A (en) * 1987-09-11 1989-03-17 Kansai Nippon Electric Semiconductor device
JPH01120344U (ja) * 1988-02-08 1989-08-15
JPH0241446U (ja) * 1988-09-14 1990-03-22
JPH02152260A (ja) * 1988-12-05 1990-06-12 Fujitsu Ltd 樹脂封止半導体装置およびそれの製造に用いる金型
JPH02146449U (ja) * 1989-05-16 1990-12-12

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