JP3400427B2 - 電子部品ユニット及び電子部品ユニットを実装した印刷配線板装置 - Google Patents
電子部品ユニット及び電子部品ユニットを実装した印刷配線板装置Info
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- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
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- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Description
等の無線端末を含む通信機器等の電子機器に搭載するの
に好適する電子部品ユニット及び電子部品ユニットを実
装した印刷配線板装置に関する。
は、BGA(Ball Grid Array)と称す
る電子部品を用いたものが知られている。このような電
子部品ユニットは、例えば図11に示すようにその電子
部品本体1を構成する半導体チップ1Aがキャリア基板
1B上にダイボンディングペースト1Cを用いて実装さ
れる。このようにキャリア基板1B上に実装された半導
体チップ1Aは、その複数の電極1Jがキャリア基板1
Bに形成した電極1Kに対してワイヤ1Eでそれぞれボ
ンディング接続され、上記キャリア基板1Bに形成した
電極1Kと反対の面に形成された電極1Lには、それぞ
れ半田ボール1Fが取着される。また、キャリア基板1
Bに形成した電極1Kと電極1Lとは、スルーホール1
Dによって電気的に接続されている。そして、この半導
体チップ1A及びキャリア基板1Bは、その周囲が樹脂
材1Gを用いて樹脂封止される。
12に示すようにその電子部品本体1が印刷配線板2に
実装されて印刷配線板装置を構成する。
Aが設けられ、この接続電極2Aに対して上記電子部品
本体1のスルーホール1Dの半田ボール1Fが半田接続
されて実装される。このように印刷配線板2上に実装さ
れた電子部品ユニットは、半田接続箇所の破壊を防止す
る目的で、エポキシ樹脂等の接着剤3が、印刷配線板2
との間に流し込む如く塗布されて、実装面側が印刷配線
板2に接着固定される。
部品ユニットに対して機械的なストレスが付与される
と、その応力が印刷配線板2との接着部分に集中して剥
離し、半田接続箇所が破壊される虞を有する。
ユニットを印刷配線板2に実装して、相互間の半田接続
箇所を補強する目的で、相互間に接着剤を塗布する際、
その接着剤3が周囲に流れ出して、印刷配線板2の接着
剤が付着してはいけない箇所に付着する虞を有するため
に、高密度化の促進が困難であるという問題を有する。
子部品を用いた電子部品ユニットに限るものでなく、そ
の他、QON(Quad Outline Non−l
ead)と称する電子部品等の各種の電子部品を用いた
電子部品ユニットにおいても同様である。
来の印刷配線板装置では、機械的なストレス等により実
装した電子部品ユニットの半田接続箇所が破壊される虞
を有する。
た電子部品ユニットを、印刷配線板に補強するために塗
布する接着剤が周囲部に付着する虞を有することによ
り、高密度化の促進が困難であるという問題を有する。
ので、堅牢にして、信頼性の高い高精度な実装を実現し
得るようにした電子部品ユニット及び電子部品ユニット
を実装した印刷配線板装置を提供することを目的とす
る。
得るようにした電子部品ユニット及び電子部品ユニット
を実装した印刷配線板装置を提供することを目的とす
る。
プが樹脂封止された電子部品本体と、この電子部品本体
の実装面に所定の間隔に配置されて設けられ、前記半導
体チップと電気的に接続される複数の外部接続電極と、
前記電子部品本体の前記外部接続電極の配置される実装
面を除く面を覆うように被着されて、該電子部品本体と
の間に空隙が生じるように一部が接着固定されるもので
あって、前記空隙に対応して空気抜け穴が設けられたカ
バー部材とを備えて電子部品ユニットを構成した。
実装面を除く周壁を覆うようにカバー部材が被着されて
いることにより、印刷配線板に実装された状態で、その
実装面と、カバー部材の先端部とが協働して接着固定用
の接着面積を形成する。この際、接着剤は、カバー部材
の空気抜け穴、及び電子部品本体との間の空隙による毛
細管減少により、カバー部材と電子部品本体との間に効
果的に充填されて所望の接着面積が確保される。従っ
て、堅牢な接着固定が可能となり、信頼性の高い高精度
な実装を実現することができる。
止された電子部品本体と、この電子部品本体の周壁に所
定の間隔に配置されて設けられ、前記半導体チップと電
気的に接続される複数の外部接続電極と、前記電子部品
本体の前記実装面を除く面を覆うように被着されて、該
電子部品本体との間に空隙が生じるように一部が接着固
定されるものであって、前記空隙に対応して空気抜け穴
が設けられたカバー部材とを備えて電子部品ユニットを
構成した。
実装面を除く複数の外部接続電極に配置される周壁を覆
うようにカバー部材が被着されていることにより、印刷
配線板に実装された状態で、そのカバー部材が接着固定
用の接着剤の流れ出を防止する。この際、接着剤は、カ
バー部材の空気抜け穴、及び電子部品本体との間の空隙
による毛細管減少により、カバー部材と電子部品本体と
の間に効果的に充填されて所望の接着面積が確保され
る。従って、実装状態における高密度化を実現したうえ
で、堅牢な接着固定が可能となり、信頼性の高い高精度
な実装を実現することができる。
止された電子部品本体と、この電子部品本体の周壁に所
定の間隔に配置されて設けられ、前記半導体チップと電
気的に接続される複数の外部接続電極と、前記電子部品
本体の少なくとも周壁の一部を、所定の空隙を有して覆
うように形成された該電子部品本体に接着固定されるカ
バー部材とを備えて電子部品ユニットを構成した。
実装面を除く複数の外部接続電極に配置される周壁の一
部を覆うようにカバー部材が被着されていることによ
り、印刷配線板に実装された状態で、そのカバー部材が
接着固定用の接着剤の周囲への流れ出を防止する。従っ
て、カバー部材の配設される電子部品本体の周壁近傍へ
の他の部品の実装が可能となり、印刷配線板への実装状
態の高密度化の促進を容易に図ることが可能となる。
複数の外部接続電極が設けられ、該外部接続電極と電気
的に接続された半導体チップが樹脂封止される電子部品
本体に対して、前記外部接続電極の配置される実装面を
除く面を覆うように被着されて、該電子部品本体との間
に空隙が生じるように一部が接着固定される前記空隙に
対応して空気抜け穴が設けられたカバー部材を有した電
子部品ユニットと、この電子部品ユニットの前記外部接
続電極が半田接続されて実装され、前記カバー部材と接
着固定される印刷配線板とを備えて印刷配線板装置を構
成した。
た電子部品ユニットは、その電子部品本体の実装面を除
く周壁を覆うようにカバー部材が被着されていることに
より、その実装面と、カバー部材の先端部とが協働して
接着固定用の接着面積を形成する。この際、接着剤は、
カバー部材の空気抜け穴、及び電子部品本体との間の空
隙による毛細管減少により、カバー部材と電子部品本体
の間に効果的に充填されて所望の接着面積が確保され
る。従って、印刷配線板への堅牢な接着固定が可能とな
り、信頼性の高い高精度な実装を実現することができ
る。
所定の間隔に複数の外部接続電極が設けられ、該外部接
続電極と電気的に接続された半導体チップが樹脂封止さ
れる電子部品本体に対して実装面を除く面を覆うように
被着されて、該電子部品本体との間に空隙が生じるよう
に一部が接着固定される前記空隙に対応して空気抜け穴
が設けられたカバー部材を有した電子部品ユニットと、
この電子部品ユニットの前記外部接続電極が半田接続さ
れて実装され、前記カバー部材と接着固定される印刷配
線板とを備えて印刷配線板装置を構成した。
た電子部品ユニットは、その電子部品本体の実装面を除
く周壁を覆うようにカバー部材が被着されていることに
より、印刷配線板に実装された状態で、そのカバー部材
が接着固定用の接着剤の流れ出を防止する。この際、接
着剤は、カバー部材の空気抜け穴、及び電子部品本体と
の間の空隙による毛細管減少により、カバー部材と電子
部品本体の間に効果的に充填されて所望の接着面積が確
保される。従って、印刷配線板への堅牢な接着固定が可
能となり、信頼性の高い高精度な実装を実現することが
できる。
所定の間隔に複数の外部接続電極が設けられ、該外部接
続電極と電気的に接続された半導体チップが樹脂封止さ
れる電子部品本体に対して少なくとも周壁の一部を、空
隙を有して覆うようにカバー部材を接着固定した電子部
品ユニットと、この電子部品ユニットの前記外部接続電
極が半田接続されて実装され、前記カバー部材と接着固
定される印刷配線板とを備えて印刷配線板装置を構成し
た。
た電子部品ユニットは、その電子部品本体の実装面を除
く複数の外部接続電極に配置される周壁の一部を覆うよ
うにカバー部材が被着されていることにより、相互間に
接着剤を塗布して接着固定する際、そのカバー部材が接
着固定用の接着剤の周囲への流れ出を防止する。従っ
て、カバー部材の配設される電子部品本体の周壁近傍へ
の接着剤が付着してはいけない部品の実装が可能とな
り、印刷配線板への高密度実装の促進を容易に図ること
が可能となる。
いて、図面を参照して詳細に説明する。
る電子部品ユニット10を示すもので、例えばBGA
(Ball Grid Array)を用いて構成され
る。即ち、半導体チップ11は、キャリア基板12上に
ダイボンディングペースト13を用いて実装される。そ
して、このキャリア基板12上に実装された半導体チッ
プ11は、その複数の電極111がキャリア基板12に
形成した電極121に対してワイヤ15でそれぞれボン
ディング接続される。また、キャリア基板12に形成し
た電極121と電極122とは、スルーホール14によ
って電気的に接続され、上記電極122には、それぞれ
半田ボール16が取着される。
2は、その半導体チップ11の周囲が樹脂剤17を用い
て樹脂封止されて電子部品本体18が形成される。そし
て、この電子部品本体18上には、補強用カバー部材1
9が被着され、その相互間の少なくとも一部が接着剤2
01を用いて接着されて固定される。
るいは樹脂材料等で凹形状に形成され、その先端部が電
子部品本体18の周壁に位置されて、電子部品本体18
の実装面に対して段状になるように形成される。このカ
バー部材19は、例えば上記金属材料で形成した場合、
半導体チップ11からの熱量を放熱する作用も奏するこ
ととなる。
ジストである。
してなるこの発明の第1の実施の形態に係る印刷配線板
装置について説明する。
ば図2に示すようにその半田ボール16が印刷配線板2
2の所望の接続電極221上に図示しないソルダーペー
ストを介して載置されて、リフロー半田付けにより実装
される。この状態で、電子部品ユニット10は、例えば
そのカバー部材19の先端の直交する二辺側よりエポキ
シ樹脂等の接着剤202が、キャリア基板12の半田ボ
ール16の周囲部と印刷配線板22の接続電極221の
周囲部との間、及びカバー部材19の先端部と電子部品
本体18の周囲壁と印刷配線板22の板面で形成される
段状の部分191に塗布されて接着固定される。
的なストレスが付与された場合、そのストレスが印刷配
線板22と接着剤202を介して接着固定される接着面
全体に分散され、その半田接続部分への付与が軽減され
て初期の実装状態が確保される。
は、半導体チップ11をキャリア基板12に実装して樹
脂封止した電子部品本体18に対して、そのキャリア基
板12の実装面側の電極122に半田ボール16を取着
し、その実装面を除く電子部品本体18上及び周壁を覆
うように、カバー部材19を被着して、このカバー部材
19の先端部が、電子部品本体18の周壁に位置するよ
うに構成した。
その電子部品本体18の実装面を除く周壁を覆うように
カバー部材19が被着されていることにより、印刷配線
板22に実装された状態において、その実装面と、カバ
ー部材19の先端部と印刷配線板22との間の段状の部
分191とが接着固定用の接着面積を形成する。したが
って、電子部品ユニット10は、そのカバー部材19に
よる電子部品本体18の剛性の強化と共に、カバー部材
19の先端部と印刷配線板22との間に形成される段状
の部分だけ、相互間の接着面積の増加が図れる。この結
果、電子部品本体18と印刷配線板22との接着部分に
おける機械的なストレスに対する堅牢化が図れて、信頼
性の高い高精度な実装を実現することができる。
プ11をキャリア基板12に実装して樹脂封止した電子
部品本体18に対して、その実装面を除く面を覆うよう
に補強用のカバー部材19を被着して、このカバー部材
19の先端部が電子部品本体18の周壁の中間部に位置
するように設けた電子部品ユニット10を、印刷配線板
22の接続電極221に実装し、これら実装した電子部
品本体18の実装面及びカバー部材19と電子部品本体
18の周壁とで形成される段状の部分に接着剤202を
塗布して相互間を接着固定するように構成した。
た電子部品ユニット10は、その電子部品本体18の実
装面を除く周壁を覆うようにカバー部材19が被着され
ていることにより、その実装面及びカバー部材19の先
端部と印刷配線板22とで形成される段状の部分191
が接着固定用の接着面積を形成するため、充分な接着面
積を確保することが可能となり、印刷配線板22への実
装状態において堅牢な接着固定が実現されて、信頼性の
高い高精度な実装が実現される。
ユニット10及び印刷配線板装置では、カバー部材19
を、その先端部が電子部品本体18の周壁の中間部に位
置するように形成して、このカバー部材19の先端部と
電子部品本体18の周壁との間に段状の部分191を形
成するように構成した場合で説明したが、これに限るこ
となく、例えばカバー部材19の先端部をキャリア基板
12の実装面と略面一となるように構成してもよい。こ
れによっても、略同様の効果が期待される。
ことなく、その他、図3乃至図10に示すように構成し
てもよい。但し、図3乃至図10においては、便宜上、
上記図1及び図2と同一部分について、同一符号を付し
て、その詳細な説明を省略する。
子部品ユニット30及び印刷配線板装置を示すもので、
この第2の実施の形態に係る電子部品ユニット30は、
上記電子部品本体18に被着するカバー部材31が、電
子部品本体18の実装面を除く面を覆うように形成され
て、その内壁に突出した固定部311が電子部品本体1
8に対応して設けられる。
構成する空隙部312が、上記固定部311に対応して
形成され、その所定の位置には、空気抜け穴313が上
記空隙部312に対応して形成される。また、カバー部
材31は、その先端部がキャリア基板12の実装面と略
面一に形成される。
は、カバー部材31が、その固定部311を接着剤20
1を用いて電子部品本体18上に接着固定されて被着さ
れると、カバー部材31と電子部品本体18との間に空
隙部312を形成する。そして、この電子部品ユニット
30は、図4及び図5に示すようにその半田ボール16
が上記印刷配線板22の接続電極221に載置されて半
田接続されて実装される。
ー部材31の周囲の直交する二辺より接着剤202が塗
布されて、その実装面及びカバー部材31の先端部と印
刷配線板22とが接着固定される。この際、接着剤20
2は、カバー部材31の空気抜け穴313の作用による
毛細管現象により、カバー部材31の空隙部312と電
子部品本体18との間に形成されている空隙に浸透して
充填される。
部品ユニット30は、その実装面側が印刷配線板22に
接着固定されると共に、そのカバー部材31の先端部が
印刷配線板22上に接着固定され、しかもカバー部材3
1と電子部品本体18との間に充填された接着剤202
により接着固定される。
側、そのカバー部材31の先端部及びカバー部材31と
電子部品本体18との間の空隙が接着面積を形成するこ
とにより、そのカバー部材31の作用により、充分な接
着面積の確保が実現されると共に、剛性の強化が図れ
て、印刷配線板22への堅牢で、信頼性の高い高精度な
実装が実現される。
係る電子部品ユニット40及び印刷配線板装置を示すも
ので、この第3の実施の形態に係る電子部品ユニット4
0は、電子部品本体18に被着するカバー部材41が、
電子部品本体18の実装面を除く面を覆うように形成さ
れて、その内壁に突出した固定部411が電子部品本体
18に対応して設けられる。
構成する空隙部412が、上記固定部411に対応して
形成され、その所定の位置には、空気抜け穴413が上
記空隙部412に対応して形成される。また、カバー部
材41は、その先端部が電子部品本体18の周壁に位置
されて実装面に対して段状の部分414を形成するよう
に設けられる。
は、カバー部材41が、その固定部411を接着剤20
1を用いて電子部品本体18上に接着固定されて被着さ
れると、その空隙部412が電子部品本体18との間に
空隙を形成する。そして、この電子部品ユニット40
は、図7に示すようにその半田ボール16が上記印刷配
線板22の接続電極221に載置されて半田接続されて
実装される。
ー部材41の周囲の直交する二辺より接着剤202が塗
布されて、その実装面及びカバー部材41の先端部と印
刷配線板22とを接着固定する。この際、接着剤202
は、カバー部材41の空気抜け穴413の作用による毛
細管現象により、カバー部材41の空隙部412と電子
部品本体18との間に形成されている空隙に浸透して充
填される。
部品ユニット40は、その実装面側が印刷配線板22に
接着固定されると共に、そのカバー部材41の先端部と
印刷配線板22との間の段状の部分414に接着固定さ
れ、しかも、カバー部材41と電子部品本体18との間
に充填された接着剤202により接着固定される。
側、そのカバー部材41の先端部と印刷配線板22との
間の段状の部分414及びカバー部材41と電子部品本
体18との間の空隙が接着面積を形成することにより、
そのカバー部材41の作用により、充分な接着面積の確
保が実現されると共に、剛性の強化が図れて、印刷配線
板22への堅牢で、信頼性の高い高精度な実装が実現さ
れる。
形態に係る電子部品ユニット50及び印刷配線板装置を
示すもので、この第4の実施の形態に係る電子部品ユニ
ット50は、その電子部品として、例えば電子部品本体
51の周壁に複数の外部電極52が所定の間隔に配置さ
れた構造のものに適用される。
ニット50は、その電子部品を構成する半導体チップ5
3が、例えばアイランドと称する基材54にダイボンド
ペースト55を用いて実装されて、この半導体チップ5
3の接続電極531がワイヤ56を用いて上記複数の外
部接続電極52に電気的に接続される。そして、この半
導体チップ53及び基材54は、樹脂剤57を用いて、
その周壁に複数の外部接続電極52が所定の間隔に配置
するように樹脂封止されてQON(QuadOutli
ne Non−lead)と称する電子部品構造に形成
される。
逆側の面上にカバー部材58が接着剤201を用いて接
着固定される。このカバー部材58には、電子部品本体
51の周壁の対向する二面を覆うように第1及び第2の
遮蔽部581、582が所望の傾斜角を有して設けら
れ、その第1及び第2の遮蔽部581、582で電子部
品本体51の周壁の対向する二面の外部接続電極52を
囲繞する。このカバー部材58の第1及び第2の遮蔽部
581、582は、電子部品ユニット50を実装する印
刷配線板22の接着剤202の付着を防止する必要のあ
る部分に対向するように電子部品本体51に被着され
る。
は、その外部接続電極52が印刷配線板22の接続電極
221に載置されて半田接続されて該印刷配線板22に
実装される。ここで、電子部品ユニット50は、例えば
そのカバー部材58の第1及び第2の遮蔽部581、5
82に囲繞されていない二辺より接着剤202が塗布さ
れて、その外部接続電極52を含む電子部品本体51の
周壁が印刷配線板22に接着固定される。
第2の遮蔽部581、582が、電子部品本体51の対
向する二辺から塗布された接着剤202の印刷配線板2
2上の範囲Xへの流出を阻止する。同時に、カバー部材
58の第1及び第2の遮蔽部581、582は、その囲
繞した電子部品本体51の外部接続電極52の周囲への
接着剤202の付着を案内して印刷配線板22に接着固
定する。
22に実装した状態で、そのカバー部材58の第1及び
第2の遮蔽部581、582により、印刷配線板22の
範囲Xへの接着剤202の流出を確実に防止することが
できる。したがって、印刷配線板22は、範囲Xへの接
着剤202が付着してはいけない電子部品(例えば、コ
ネクタ等)の実装が可能となることにより、さらなる高
密度化の促進を図ることができる。
部材58に第1及び第2の遮蔽部材581、582を設
けて2方向への接着剤202の流出を防止するように構
成した場合で説明したが、これに限ることなく、少なく
とも1方向あるいは一部分への接着剤202の流出を防
止するように構成することが可能である。
子部品構造としては、上記QONに限ることなく、その
他、外部接続電極が電子部品本体の周壁に配置される構
造のものにおいて有効である。
は、半導体チップ11の実装されるキャリア基板12に
電極122を設け、この電極122に半田ボール16を
取着したBGAと称する電子部品構造のものを用いて構
成した場合で説明したが、これに限ることなく、上記第
4の実施の形態で説明した電子部品本体51の周壁に複
数の外部接続電極52を所定の間隔に配置したQONと
称する電子部品構造のものを用いて構成することも可能
である。
ることなく、その他、実施段階ではその要旨を逸脱しな
い範囲で種々の変形を実施し得ることが可能である。さ
らに、上記実施形態には、種々の段階の発明が含まれて
おり、開示される複数の構成要件における適宜な組合せ
により種々の発明が抽出され得る。
幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようと
する課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果で述
べられている効果が得られる場合には、この構成要件が
削除された構成が発明として抽出され得る。
ば、堅牢にして、信頼性の高い高精度な実装を実現し得
るようにした電子部品ユニット及び電子部品ユニットを
実装した印刷配線板装置を提供することができる。
得るようにした電子部品ユニット及び電子部品ユニット
を実装した印刷配線板装置を提供することができる。
ニットを示した断面図である。
ニットを実装した印刷配線板装置を示した断面図であ
る。
ニットを示した断面図である。
ニットを実装した印刷配線板装置を示した断面図であ
る。
ニットを示した断面図である。
ニットを実装した印刷配線板装置を示した断面図であ
る。
ニットを示した断面図である。
ニットを実装した印刷配線板装置を示した断面図であ
る。
る。
板装置を示した断面図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 半導体チップが樹脂封止された電子部品
本体と、 この電子部品本体の実装面に所定の間隔に配置されて設
けられ、前記半導体チップと電気的に接続される複数の
外部接続電極と、 前記電子部品本体の前記外部接続電極の配置される実装
面を除く面を覆うように被着されて、該電子部品本体と
の間に空隙が生じるように一部が接着固定されるもので
あって、前記空隙に対応して空気抜け穴が設けられたカ
バー部材とを具備した電子部品ユニット。 - 【請求項2】 半導体チップが樹脂封止された電子部品
本体と、 この電子部品本体の周壁に所定の間隔に配置されて設け
られ、前記半導体チップと電気的に接続される複数の外
部接続電極と、 前記電子部品本体の前記実装面を除く面を覆うように被
着されて、該電子部品本体との間に空隙が生じるように
一部が接着固定されるものであって、前記空隙に対応し
て空気抜け穴が設けられたカバー部材とを具備した電子
部品ユニット。 - 【請求項3】 半導体チップが樹脂封止された電子部品
本体と、 この電子部品本体の周壁に所定の間隔に配置されて設け
られ、前記半導体チップと電気的に接続される複数の外
部接続電極と、 前記電子部品本体の少なくとも周壁の一部を、所定の空
隙を有して覆うように形成された該電子部品本体に接着
固定されるカバー部材と を具備した電子部品ユニット。 - 【請求項4】 実装面に所定の間隔に複数の外部接続電
極が設けられ、該外部接続電極と電気的に接続された半
導体チップが樹脂封止される電子部品本体に対して、前
記外部接続電極の配置される実装面を除く面を覆うよう
に被着されて、該電子部品本体との間に空隙が生じるよ
うに一部が接着固定される前記空隙に対応して空気抜け
穴が設けられたカバー部材を有した電子部品ユニット
と、 この電子部品ユニットの前記外部接続電極が半田接続さ
れて実装され、前記カバー部材と接着固定される印刷配
線板と を具備したことを特徴とする印刷配線板装置。 - 【請求項5】 電子部品本体の周壁に所定の間隔に複数
の外部接続電極が設けられ、該外部接続電極と電気的に
接続された半導体チップが樹脂封止される電子部品本体
に対して実装面を除く面を覆うように被着されて、該電
子部品本体との間に空隙が生じるように一部が接着固定
される前記空隙に対応して空気抜け穴が設けられたカバ
ー部材を有した電子部品ユニットと、 この電子部品ユニットの前記外部接続電極が半田接続さ
れて実装され、前記カバー部材と接着固定される印刷配
線板と を具備したことを特徴とする印刷配線板装置。 - 【請求項6】 電子部品本体の周壁に所定の間隔に複数
の外部接続電極が設けられ、該外部接続電極と電気的に
接続された半導体チップが樹脂封止される電子部品本体
に対して少なくとも周壁の一部を、空隙を有して覆うよ
うにカバー部材を接着固定した電子部品ユニットと、 この電子部品ユニットの前記外部接続電極が半田接続さ
れて実装され、前記カバー部材と接着固定される印刷配
線板とを具備したことを特徴とする印刷配線板装置。
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---|---|---|---|---|
US6882041B1 (en) * | 2002-02-05 | 2005-04-19 | Altera Corporation | Thermally enhanced metal capped BGA package |
US20040108588A1 (en) * | 2002-09-24 | 2004-06-10 | Cookson Electronics, Inc. | Package for microchips |
US7230316B2 (en) | 2002-12-27 | 2007-06-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having transferred integrated circuit |
US7164585B2 (en) * | 2003-03-31 | 2007-01-16 | Intel Corporation | Thermal interface apparatus, systems, and methods |
US7042729B2 (en) * | 2003-06-24 | 2006-05-09 | Intel Corporation | Thermal interface apparatus, systems, and fabrication methods |
US7176567B2 (en) * | 2005-07-06 | 2007-02-13 | Advanced Chip Engineering Technology Inc. | Semiconductor device protective structure and method for fabricating the same |
US7851896B2 (en) * | 2005-07-14 | 2010-12-14 | Chipmos Technologies Inc. | Quad flat non-leaded chip package |
JP2007035819A (ja) * | 2005-07-26 | 2007-02-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 放送受信モジュールとこれを用いた放送受信機器 |
US20080067650A1 (en) * | 2006-09-15 | 2008-03-20 | Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute Company Limited | Electronic component package with EMI shielding |
US8198709B2 (en) * | 2006-10-18 | 2012-06-12 | Vishay General Semiconductor Llc | Potted integrated circuit device with aluminum case |
US20090079064A1 (en) * | 2007-09-25 | 2009-03-26 | Jiamiao Tang | Methods of forming a thin tim coreless high density bump-less package and structures formed thereby |
JP2010010212A (ja) * | 2008-06-24 | 2010-01-14 | Toshiba Corp | プリント回路板、電子機器および半導体パッケージ |
US7936060B2 (en) * | 2009-04-29 | 2011-05-03 | International Business Machines Corporation | Reworkable electronic device assembly and method |
US9254532B2 (en) * | 2009-12-30 | 2016-02-09 | Intel Corporation | Methods of fabricating low melting point solder reinforced sealant and structures formed thereby |
FR2957192B1 (fr) * | 2010-03-03 | 2013-10-25 | Hispano Suiza Sa | Module electronique de puissance pour un actionneur pour aeronef |
KR20120060665A (ko) * | 2010-12-02 | 2012-06-12 | 삼성전자주식회사 | 반도체 패키지 |
DE102010063048A1 (de) * | 2010-12-14 | 2012-06-21 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zur Herstellung einer elektronischen Baugruppe mit Formkörper |
CN102589753B (zh) | 2011-01-05 | 2016-05-04 | 飞思卡尔半导体公司 | 压力传感器及其封装方法 |
US8643169B2 (en) * | 2011-11-09 | 2014-02-04 | Freescale Semiconductor, Inc. | Semiconductor sensor device with over-molded lid |
US9029999B2 (en) | 2011-11-23 | 2015-05-12 | Freescale Semiconductor, Inc. | Semiconductor sensor device with footed lid |
US9099391B2 (en) | 2013-03-14 | 2015-08-04 | Infineon Technologies Austria Ag | Semiconductor package with top-side insulation layer |
US9090454B2 (en) * | 2013-08-27 | 2015-07-28 | Freescale Semiconductor, Inc. | Sequential wafer bonding |
CN104576411A (zh) * | 2013-10-25 | 2015-04-29 | 飞思卡尔半导体公司 | 双角部顶部闸道模制 |
JP2015159197A (ja) * | 2014-02-24 | 2015-09-03 | 新光電気工業株式会社 | 配線基板及びその製造方法 |
JP2015231027A (ja) * | 2014-06-06 | 2015-12-21 | 住友電気工業株式会社 | 半導体装置 |
KR20150141417A (ko) * | 2014-06-10 | 2015-12-18 | 삼성전기주식회사 | 다축센서 |
US9368442B1 (en) * | 2014-12-28 | 2016-06-14 | Unimicron Technology Corp. | Method for manufacturing an interposer, interposer and chip package structure |
WO2016144356A1 (en) * | 2015-03-11 | 2016-09-15 | Intel Corporation | Stretchable electronics fabrication method with strain redistribution layer |
EP3357085A1 (en) * | 2016-01-07 | 2018-08-08 | Xilinx, Inc. | Stacked silicon package assembly having enhanced stiffener |
US10622770B2 (en) * | 2017-07-24 | 2020-04-14 | Sapient Industries, Inc. | Custom power outlet socket with integrated wireless functionality |
CN111951880A (zh) * | 2019-05-16 | 2020-11-17 | 第一检测有限公司 | 检测设备 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0638458B2 (ja) * | 1985-09-12 | 1994-05-18 | 日本電気株式会社 | チツプキヤリアとその製造方法 |
JPH0492457A (ja) * | 1990-08-08 | 1992-03-25 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
JPH04155853A (ja) * | 1990-10-19 | 1992-05-28 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
JPH04157757A (ja) * | 1990-10-22 | 1992-05-29 | Oki Electric Ind Co Ltd | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 |
US5956576A (en) * | 1996-09-13 | 1999-09-21 | International Business Machines Corporation | Enhanced protection of semiconductors with dual surface seal |
JPH11121640A (ja) * | 1997-10-21 | 1999-04-30 | Oki Electric Ind Co Ltd | 素子パッケージ及びそのパッケージの実装構造 |
JPH11202060A (ja) | 1998-01-09 | 1999-07-30 | Citizen Watch Co Ltd | カレンダー付き電子時計 |
JP2957547B1 (ja) | 1998-04-20 | 1999-10-04 | 埼玉日本電気株式会社 | ボール・グリッド・アレイ型パッケージ |
JPH11345905A (ja) * | 1998-06-02 | 1999-12-14 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
US6218730B1 (en) * | 1999-01-06 | 2001-04-17 | International Business Machines Corporation | Apparatus for controlling thermal interface gap distance |
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