JP3330468B2 - 配線基板及び半導体装置 - Google Patents
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体チップ等の電子部
品を配線基板内で支持した半導体装置に関し、より詳細
にはボールグリッドアレイ型(以下BGAという)の半
導体装置に関する。更に、本発明は上記半導体装置と搭
載されるべき回路基板との間に介在し、半導体装置の回
路変更を行うために用いられる配線基板に関する。
品を配線基板内で支持した半導体装置に関し、より詳細
にはボールグリッドアレイ型(以下BGAという)の半
導体装置に関する。更に、本発明は上記半導体装置と搭
載されるべき回路基板との間に介在し、半導体装置の回
路変更を行うために用いられる配線基板に関する。
【0002】近年、半導体チップが高集積化してきてお
り、また、半導体装置の実装の高密度化が要求されてき
ている。そこで、QFP型半導体装置に比べて、装置の
裏面に端子を広いピッチで設けることができ、かつ端子
の変形が少ないという特徴を有するBGA型半導体装置
が注目されてきている。また、半導体チップの高集積化
に伴って、半導体装置の製造当初においては、機能変更
や不具合に対応するために、半導体装置が搭載されるマ
ザーボード(プリント基板、回路基板、配線基板、実装
基板又は単に基板などとも言われる)の配線変更が行わ
れることが多い。
り、また、半導体装置の実装の高密度化が要求されてき
ている。そこで、QFP型半導体装置に比べて、装置の
裏面に端子を広いピッチで設けることができ、かつ端子
の変形が少ないという特徴を有するBGA型半導体装置
が注目されてきている。また、半導体チップの高集積化
に伴って、半導体装置の製造当初においては、機能変更
や不具合に対応するために、半導体装置が搭載されるマ
ザーボード(プリント基板、回路基板、配線基板、実装
基板又は単に基板などとも言われる)の配線変更が行わ
れることが多い。
【0003】現実問題として、プリント板のパターン変
更には多大な時間と労力を要する。従って、通常、緊急
の対応としては、必要な配線変更部分にパターン間の短
絡用にストラップ線を用いる。ストラップ線の使用は、
半導体装置が搭載される表面側で行われる。よって、パ
ッケージのエッジに外部接続用端子が設けられている場
合には、ストラップ線でパターン変更を容易かつ応急的
に行うことができる。しかしながら、BGA型半導体装
置では、外部接続用のボール状端子はパッケージの下
面、(より特定すれば半導体チップを支持するベースの
下面)に形成されているため、ボール状端子からストラ
ップ線の引き出しを半導体装置搭載側(部品搭載側)で
行うことはできない。
更には多大な時間と労力を要する。従って、通常、緊急
の対応としては、必要な配線変更部分にパターン間の短
絡用にストラップ線を用いる。ストラップ線の使用は、
半導体装置が搭載される表面側で行われる。よって、パ
ッケージのエッジに外部接続用端子が設けられている場
合には、ストラップ線でパターン変更を容易かつ応急的
に行うことができる。しかしながら、BGA型半導体装
置では、外部接続用のボール状端子はパッケージの下
面、(より特定すれば半導体チップを支持するベースの
下面)に形成されているため、ボール状端子からストラ
ップ線の引き出しを半導体装置搭載側(部品搭載側)で
行うことはできない。
【0004】
【従来技術】まず、図9を参照して、従来のBGA型半
導体装置を簡単に説明する。図9に示すBGA型半導体
装置10は、配線を有するベース12と、ベアチップで
ある半導体チップ(LSIチップ)14と、封止部16
と、ボール状のSnPbはんだバンプ18とを有する。
半導体チップ14に設けられている電極(図示を省略す
る)とベース12の表面に設けられている電極とは、ワ
イヤでボンディングされている。ベース12の表面に設
けられた電極とベース12の裏面に設けられたはんだバ
ンプ18とは、ベース内部に形成されている配線層やス
ルーホールを介して、電気的に接続されている。半導体
チップ14及びベース12の表面は図示するように、樹
脂製の封止部16で封止されている。はんだバンプ18
は外部接続端子(電極)として機能し、ベース12の裏
面上にマトリクス状に配列されている。一般に、隣接す
るはんだバンプ18の間隔は、1.5mm以下である。
導体装置を簡単に説明する。図9に示すBGA型半導体
装置10は、配線を有するベース12と、ベアチップで
ある半導体チップ(LSIチップ)14と、封止部16
と、ボール状のSnPbはんだバンプ18とを有する。
半導体チップ14に設けられている電極(図示を省略す
る)とベース12の表面に設けられている電極とは、ワ
イヤでボンディングされている。ベース12の表面に設
けられた電極とベース12の裏面に設けられたはんだバ
ンプ18とは、ベース内部に形成されている配線層やス
ルーホールを介して、電気的に接続されている。半導体
チップ14及びベース12の表面は図示するように、樹
脂製の封止部16で封止されている。はんだバンプ18
は外部接続端子(電極)として機能し、ベース12の裏
面上にマトリクス状に配列されている。一般に、隣接す
るはんだバンプ18の間隔は、1.5mm以下である。
【0005】このようなBGA型半導体装置10は、図
10に示すように、ガラスエポキシ基板であるマザーボ
ード20上に搭載可能である。マザーボード20上に
は、マトリクス状に配列された電極22及び配線を有す
る。はんだバンプ18はマザーボード20上の電極に接
触した状態ではんだ付けされる。
10に示すように、ガラスエポキシ基板であるマザーボ
ード20上に搭載可能である。マザーボード20上に
は、マトリクス状に配列された電極22及び配線を有す
る。はんだバンプ18はマザーボード20上の電極に接
触した状態ではんだ付けされる。
【0006】前述したように、半導体チップの高集積化
に伴って、半導体装置の製造当初においては、機能変更
や不具合に対応するために、半導体装置が搭載されるマ
ザーボードの配線変更が行われることが多い。図11
に、QFP型半導体装置をマザーボードに搭載した状態
で、パターン変更(回路変更)のために、ストラップ線
(ジャンパ線ともいう)を接続する様子を示す。マザー
ボード20上に形成されているランド28上に、QFP
型半導体装置のリード端子26がはんだ付けされてい
る。参照番号30ははんだフレットを示している。い
ま、回路変更により、ストラップ線36をリード26に
接続する必要がある場合、パルスヒートツール32又は
はんだごて34を用いて、ストラップ線36の被覆中の
導体をランド28上にはんだ付けする。このように、リ
ード端子が半導体装置のエッジから延びている場合に
は、ストラップ線を用いた回路変更は容易である。
に伴って、半導体装置の製造当初においては、機能変更
や不具合に対応するために、半導体装置が搭載されるマ
ザーボードの配線変更が行われることが多い。図11
に、QFP型半導体装置をマザーボードに搭載した状態
で、パターン変更(回路変更)のために、ストラップ線
(ジャンパ線ともいう)を接続する様子を示す。マザー
ボード20上に形成されているランド28上に、QFP
型半導体装置のリード端子26がはんだ付けされてい
る。参照番号30ははんだフレットを示している。い
ま、回路変更により、ストラップ線36をリード26に
接続する必要がある場合、パルスヒートツール32又は
はんだごて34を用いて、ストラップ線36の被覆中の
導体をランド28上にはんだ付けする。このように、リ
ード端子が半導体装置のエッジから延びている場合に
は、ストラップ線を用いた回路変更は容易である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図10
に示すように、マザーボード20上に搭載された状態
で、ストラップ線36をBGA半導体装置10の端子
(既に、フィレット状態にある)に接続することは不可
能である。よって、BGA型半導体装置では、ストラッ
プ線を用いた簡易な回路変更はできず、マザーボード2
0の配線(回路パターン)そのものを変更しなければな
らないという問題点がある。
に示すように、マザーボード20上に搭載された状態
で、ストラップ線36をBGA半導体装置10の端子
(既に、フィレット状態にある)に接続することは不可
能である。よって、BGA型半導体装置では、ストラッ
プ線を用いた簡易な回路変更はできず、マザーボード2
0の配線(回路パターン)そのものを変更しなければな
らないという問題点がある。
【0008】本発明は上記従来の問題点を解決し、マザ
ーボードの回路パターンを変更することなく、回路の設
計変更の自由度を高くすることを目的とする。
ーボードの回路パターンを変更することなく、回路の設
計変更の自由度を高くすることを目的とする。
【0009】
【問題点を解決するための手段】上記課題を達成するた
めに、本発明はまず、下記構成の配線基板を提供する。
即ち、請求項1に記載の発明は、ボールグリッドアレイ
タイプの半導体装置に用いられる配線基板であって、絶
縁物質で構成されるベースと、該ベースの第1の表面に
設けられ、パッケージされた電子部品の外部接続用端子
に接続可能な端子を有する第1の回路パターンと、前記
ベースの第2の表面に設けられると共に前記第1の回路
パターンに接続されかつマザーボードの接続用端子に接
続可能な端子と、この端子に接続されかつ端子間を通る
配線とを有する第2の回路パターンと前記ベースの第2
の表面に設けられ、前記第2の回路パターン内の回路構
成を変えるために接続されるストラップ用配線を接続可
能なストラップ用端子とを有し、かつ、前記ボールグリ
ッドアレイタイプの半導体装置に配設された状態におい
て、前記ストラップ用端子の配設位置が、前記ベースの
外部から前記ストラップ用配線を接続しうる位置に設定
されていることを特徴とするものである。
めに、本発明はまず、下記構成の配線基板を提供する。
即ち、請求項1に記載の発明は、ボールグリッドアレイ
タイプの半導体装置に用いられる配線基板であって、絶
縁物質で構成されるベースと、該ベースの第1の表面に
設けられ、パッケージされた電子部品の外部接続用端子
に接続可能な端子を有する第1の回路パターンと、前記
ベースの第2の表面に設けられると共に前記第1の回路
パターンに接続されかつマザーボードの接続用端子に接
続可能な端子と、この端子に接続されかつ端子間を通る
配線とを有する第2の回路パターンと前記ベースの第2
の表面に設けられ、前記第2の回路パターン内の回路構
成を変えるために接続されるストラップ用配線を接続可
能なストラップ用端子とを有し、かつ、前記ボールグリ
ッドアレイタイプの半導体装置に配設された状態におい
て、前記ストラップ用端子の配設位置が、前記ベースの
外部から前記ストラップ用配線を接続しうる位置に設定
されていることを特徴とするものである。
【0010】請求項2に記載の発明は、請求項1におい
て、前記配線基板は、前記ベース内に形成されたスルー
ホールを有し、該スルーホールは前記第1の回路パター
ンと前記第2の回路パターンとを接続する。請求項3に
記載の発明では、請求項1又は2において、前記第1の
回路パターンに含まれる前記端子は平面状であり、前記
第2の回路パターンに含まれる前記端子はボール状であ
ることを特徴とする。
て、前記配線基板は、前記ベース内に形成されたスルー
ホールを有し、該スルーホールは前記第1の回路パター
ンと前記第2の回路パターンとを接続する。請求項3に
記載の発明では、請求項1又は2において、前記第1の
回路パターンに含まれる前記端子は平面状であり、前記
第2の回路パターンに含まれる前記端子はボール状であ
ることを特徴とする。
【0011】請求項4に記載の発明は、請求項1ないし
3において、前記ストラップ用端子は、前記ベースの周
囲に配設されていることを特徴とするものである。
3において、前記ストラップ用端子は、前記ベースの周
囲に配設されていることを特徴とするものである。
【0012】請求項5に記載の発明は、配線基板とパッ
ケージされた電子部品とを有し、前記配線基板は請求項
1ないし4のいずれか一項記載のものであることを特徴
とする半導体装置である。請求項6に記載の発明では、
請求項5において、前記電子部品は半導体チップを含む
ことを特徴とする。
ケージされた電子部品とを有し、前記配線基板は請求項
1ないし4のいずれか一項記載のものであることを特徴
とする半導体装置である。請求項6に記載の発明では、
請求項5において、前記電子部品は半導体チップを含む
ことを特徴とする。
【0013】請求項7に記載の発明は、マザーボードに
実装されるボールグリッドアレイタイプの半導体装置で
あって、半導体チップと、該半導体チップを支持するベ
ース基板と、前記半導体チップを封止するパッケージ
と、前記ベース基板の第1の表面に設けられた外部接続
用端子と、前記ベース基板の第2の表面に設けられ、ス
トラップ線が接続可能なストラップ用端子と、前記ベー
ス基板に設けられ、前記外部接続用端子とストラップ用
端子とを接続するスルーホールとを有し、 前記マザーボ
ードに実装された状態において、前記ストラップ用端子
の配設位置が、前記ベース基板の外部から前記ストラッ
プ用配線を接続しうる位置に設定されていることを特徴
とするものである。
実装されるボールグリッドアレイタイプの半導体装置で
あって、半導体チップと、該半導体チップを支持するベ
ース基板と、前記半導体チップを封止するパッケージ
と、前記ベース基板の第1の表面に設けられた外部接続
用端子と、前記ベース基板の第2の表面に設けられ、ス
トラップ線が接続可能なストラップ用端子と、前記ベー
ス基板に設けられ、前記外部接続用端子とストラップ用
端子とを接続するスルーホールとを有し、 前記マザーボ
ードに実装された状態において、前記ストラップ用端子
の配設位置が、前記ベース基板の外部から前記ストラッ
プ用配線を接続しうる位置に設定されていることを特徴
とするものである。
【0014】請求項8に記載の発明は、請求項7におい
て、前記外部接続用端子はボール状であることを特徴と
する。請求項9に記載の発明は、請求項7又は8におい
て、前記ストラップ用端子は平坦なランドであることを
特徴とする。
て、前記外部接続用端子はボール状であることを特徴と
する。請求項9に記載の発明は、請求項7又は8におい
て、前記ストラップ用端子は平坦なランドであることを
特徴とする。
【0015】請求項10に記載の発明は、ボールグリッ
ドアレイタイプの半導体装置に用いられる配線基板であ
って、ベースと、該ベースの第1の表面に設けられ、半
導体装置の外部接続用端子と接続可能な外部接続用端子
と、前記ベースの第2の表面に設けられるとともに前記
第1の表面に設けられた外部接続用端子と接続され、回
路変更用のストラップ線が接続可能なストラップ用端子
と、前記ベースに設けられ、外部接続用端子と前記スト
ラップ用端子とを接続するスルーホールとを有し、前記
ストラップ用端子は前記外部接続用端子の位置に対しオ
フセットした位置で、かつ前記ベースの外部から前記ス
トラップ用配線を接続しうる位置に設定されていること
を特徴とするものである。
ドアレイタイプの半導体装置に用いられる配線基板であ
って、ベースと、該ベースの第1の表面に設けられ、半
導体装置の外部接続用端子と接続可能な外部接続用端子
と、前記ベースの第2の表面に設けられるとともに前記
第1の表面に設けられた外部接続用端子と接続され、回
路変更用のストラップ線が接続可能なストラップ用端子
と、前記ベースに設けられ、外部接続用端子と前記スト
ラップ用端子とを接続するスルーホールとを有し、前記
ストラップ用端子は前記外部接続用端子の位置に対しオ
フセットした位置で、かつ前記ベースの外部から前記ス
トラップ用配線を接続しうる位置に設定されていること
を特徴とするものである。
【0016】
【作用】請求項1ないし6に記載の発明では、配線基板
を半導体装置等の電子部品とこれを搭載する基板(マザ
ーボード等)との間に介在する配線基板の回路構成(配
線)を変更することで、既存の基板に形成された回路パ
ターンを変更することなく、電子部品を含む回路変更を
行える。
を半導体装置等の電子部品とこれを搭載する基板(マザ
ーボード等)との間に介在する配線基板の回路構成(配
線)を変更することで、既存の基板に形成された回路パ
ターンを変更することなく、電子部品を含む回路変更を
行える。
【0017】請求項7ないし9に記載の発明では、ベー
スの第2の表面に設けられたストラップ用端子にストラ
ップ線を接続することで、既存の基板に形成された回路
パターンを変更することなく、回路の変更を行える。請
求項10に記載の発明では、回路変更用のストラップ線
をストラップ用端子に接続することで、既存の基板に形
成された回路パターンを変更することなく、回路の変更
を行える。
スの第2の表面に設けられたストラップ用端子にストラ
ップ線を接続することで、既存の基板に形成された回路
パターンを変更することなく、回路の変更を行える。請
求項10に記載の発明では、回路変更用のストラップ線
をストラップ用端子に接続することで、既存の基板に形
成された回路パターンを変更することなく、回路の変更
を行える。
【0018】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図1は、本発明の第1の実施例による配線基板4
0と、これに搭載された前述のBGA型半導体装置10
を示すである。なお、図9と同一の構成要素には同一の
参照番号を付けている。第1の実施例の特徴の1つは、
配線基板40を半導体装置10とマザーボード(図1に
は図示を省略してある)との間に介在させることで、マ
ザーボードの配線(回路パターン)を変更することな
く、回路変更を可能にした点にある。
する。図1は、本発明の第1の実施例による配線基板4
0と、これに搭載された前述のBGA型半導体装置10
を示すである。なお、図9と同一の構成要素には同一の
参照番号を付けている。第1の実施例の特徴の1つは、
配線基板40を半導体装置10とマザーボード(図1に
は図示を省略してある)との間に介在させることで、マ
ザーボードの配線(回路パターン)を変更することな
く、回路変更を可能にした点にある。
【0019】図2に、図1に示す配線基板40の詳細を
示す。より特定すれば、図2(A)は、配線基板40の
平面図、図2(B)は平線基板40の底面図である。配
線基板40は、例えばガラスエポキシ等の絶縁物質で構
成されたベース44を有する。ベース44の表面(第1
の表面)には、図2(A)に示すように、複数のランド
46からなる回路パターンが形成されている。ランド4
6はマトリクス状に配列されている。この配列は、BG
A型半導体装置10のはんだバンプ18の配列に相当す
る。すなわち、半導体装置10を配線基板40上に搭載
した場合、少なくとも所定の数、又はすべてのはんだバ
ンプ18がランド46の上にのる。換言すれば、ランド
46の配列ピッチははんだバンプ18の配列ピッチに等
しい。
示す。より特定すれば、図2(A)は、配線基板40の
平面図、図2(B)は平線基板40の底面図である。配
線基板40は、例えばガラスエポキシ等の絶縁物質で構
成されたベース44を有する。ベース44の表面(第1
の表面)には、図2(A)に示すように、複数のランド
46からなる回路パターンが形成されている。ランド4
6はマトリクス状に配列されている。この配列は、BG
A型半導体装置10のはんだバンプ18の配列に相当す
る。すなわち、半導体装置10を配線基板40上に搭載
した場合、少なくとも所定の数、又はすべてのはんだバ
ンプ18がランド46の上にのる。換言すれば、ランド
46の配列ピッチははんだバンプ18の配列ピッチに等
しい。
【0020】配線基板40の裏面(第2の表面)は、図
2(B)に示す回路パターンを有する。この回路パター
ンは、ボール状のはんだバンプ42、ストラップ用パッ
ド(端子)48、及びはんだバンプ42とストラップ用
パッド48とを接続するストラップ用配線50とを有す
る。はんだバンプ42は、ランド46に対応して設けら
れている。換言すれば、はんだバンプ42の配列は、B
GA型半導体装置10のはんだバンプ18と同一配列で
ある。ストラップ用パッド48は、ストラップ線が接続
できるように、ベース44の裏面の周囲に設けられてい
る。
2(B)に示す回路パターンを有する。この回路パター
ンは、ボール状のはんだバンプ42、ストラップ用パッ
ド(端子)48、及びはんだバンプ42とストラップ用
パッド48とを接続するストラップ用配線50とを有す
る。はんだバンプ42は、ランド46に対応して設けら
れている。換言すれば、はんだバンプ42の配列は、B
GA型半導体装置10のはんだバンプ18と同一配列で
ある。ストラップ用パッド48は、ストラップ線が接続
できるように、ベース44の裏面の周囲に設けられてい
る。
【0021】図3は、図2(A)に示すIII−III
線断面図である。ランド46とはんだバンプ42とは、
導体52を内部に有するスルーホール50で接続されて
いる。はんだバンプ42は銅(Cu)のコア部分42a
を有する。スルーホール50内の導体52は例えば、銅
のメッキである。またストラップ用配線50も例えば銅
で構成される。
線断面図である。ランド46とはんだバンプ42とは、
導体52を内部に有するスルーホール50で接続されて
いる。はんだバンプ42は銅(Cu)のコア部分42a
を有する。スルーホール50内の導体52は例えば、銅
のメッキである。またストラップ用配線50も例えば銅
で構成される。
【0022】半導体装置10を含む回路を変更する必要
がある場合、半導体装置10を配線基板40に搭載し、
はんだバンプ18を溶融してランド46上に取り付け
る。そして、回路変更を実現するために、例えば図2
(B)に示すように、ストラップ線54をストラップ用
パッド48に接続する。ストラップ用パッド48間のみ
ならず、ストラップ用パッド48と、配線基板40が搭
載されるマザーボード上の端子との間の接続も可能であ
る。このように、BGA型半導体装置を含む回路に変更
があっても、マザーボードの回路パターンを変更するこ
となく対応が可能である。
がある場合、半導体装置10を配線基板40に搭載し、
はんだバンプ18を溶融してランド46上に取り付け
る。そして、回路変更を実現するために、例えば図2
(B)に示すように、ストラップ線54をストラップ用
パッド48に接続する。ストラップ用パッド48間のみ
ならず、ストラップ用パッド48と、配線基板40が搭
載されるマザーボード上の端子との間の接続も可能であ
る。このように、BGA型半導体装置を含む回路に変更
があっても、マザーボードの回路パターンを変更するこ
となく対応が可能である。
【0023】尚、前述の配線基板40は単層構成であっ
たが、多層構成であってもよい。多層構成の一例を図4
に示す。図4に示す構成は、2層構成の配線基板を示
す。図4に示す配線基板は2つのガラスエポキシ製ベー
ス44a及び44bを有し、これらの間に銅などの内層
パターン54が設けられている。ランド46とはんだバ
ンプ42とは、この内層パターン54を介して電気的に
接続されている。このようにすることで、回路変更の自
由度がより大きくなる。
たが、多層構成であってもよい。多層構成の一例を図4
に示す。図4に示す構成は、2層構成の配線基板を示
す。図4に示す配線基板は2つのガラスエポキシ製ベー
ス44a及び44bを有し、これらの間に銅などの内層
パターン54が設けられている。ランド46とはんだバ
ンプ42とは、この内層パターン54を介して電気的に
接続されている。このようにすることで、回路変更の自
由度がより大きくなる。
【0024】次に、本発明の第2の実施例を説明する。
第2の実施例は、前述した課題を達成するために、BG
A型半導体装置が搭載されるマザーボード(配線基板)
に工夫を施したものである。図5は、BGA型半導体装
置10を、本発明の第2の実施例によるマザーボード5
6上に搭載した状態を示す図である。マザーボード60
は、単層又は多層構成であり、マザーボード56のベー
ス(例えばガラスエポキシ製)60内を貫通するスルー
ホール58を有する。
第2の実施例は、前述した課題を達成するために、BG
A型半導体装置が搭載されるマザーボード(配線基板)
に工夫を施したものである。図5は、BGA型半導体装
置10を、本発明の第2の実施例によるマザーボード5
6上に搭載した状態を示す図である。マザーボード60
は、単層又は多層構成であり、マザーボード56のベー
ス(例えばガラスエポキシ製)60内を貫通するスルー
ホール58を有する。
【0025】図6に示すように、スルーホール58内に
は、銅などの導体が設けられており、ベース60の第1
の面に設けられたランド64とこれと対向する第2の面
に設けられたランド66とを電気的に接続する。ランド
64は、BGA型半導体装置10のはんだバンプ18の
配列に対応してマトリクス状に配列されている。また、
ランド66も同様にマトリクス状に配列されている。な
お、ランド64と66はスルーホール58の位置からオ
フセットした位置に形成されている。
は、銅などの導体が設けられており、ベース60の第1
の面に設けられたランド64とこれと対向する第2の面
に設けられたランド66とを電気的に接続する。ランド
64は、BGA型半導体装置10のはんだバンプ18の
配列に対応してマトリクス状に配列されている。また、
ランド66も同様にマトリクス状に配列されている。な
お、ランド64と66はスルーホール58の位置からオ
フセットした位置に形成されている。
【0026】いま、回路変更により、ストラップ線を用
いて実際に回路パターンを変更する場合、例えば図5に
示すように、ストラップ線62を用いてランド66間を
短絡する。これにより、ランド66に対応するBGA型
半導体装置10のはんだバンプ18は短絡する。このよ
うにしても、マザーボード56の回路パターンを変更す
ることなく、回路変更が容易に可能になる。
いて実際に回路パターンを変更する場合、例えば図5に
示すように、ストラップ線62を用いてランド66間を
短絡する。これにより、ランド66に対応するBGA型
半導体装置10のはんだバンプ18は短絡する。このよ
うにしても、マザーボード56の回路パターンを変更す
ることなく、回路変更が容易に可能になる。
【0027】尚、スルーホール58及びランド64、6
6が他の配線パターンに影響しないように設けることが
必要である。また、BGA型半導体装置10のすべての
パッド18に対して、図5に示す構成を設ける必要はな
い。実際には、ストラップ線による配線処理が行われな
いであろうはんだバンプ18(例えば、電源系)も存在
する可能性があり、このようなものに対するスルーホー
ル等は省略してもよい。
6が他の配線パターンに影響しないように設けることが
必要である。また、BGA型半導体装置10のすべての
パッド18に対して、図5に示す構成を設ける必要はな
い。実際には、ストラップ線による配線処理が行われな
いであろうはんだバンプ18(例えば、電源系)も存在
する可能性があり、このようなものに対するスルーホー
ル等は省略してもよい。
【0028】次に、本発明の第3の実施例を説明する。
第3の実施例は、前述した課題を達成するために、BG
A型半導体装置の構成に工夫を施したものである。図7
は、本発明の第3の実施例によるBGA型半導体装置の
斜視図である。より詳細には、図7(A)はBGA型半
導体装置の斜視図、同図(B)は同図(A)に示すA−
A線に沿った断面の一部を示す図である。
第3の実施例は、前述した課題を達成するために、BG
A型半導体装置の構成に工夫を施したものである。図7
は、本発明の第3の実施例によるBGA型半導体装置の
斜視図である。より詳細には、図7(A)はBGA型半
導体装置の斜視図、同図(B)は同図(A)に示すA−
A線に沿った断面の一部を示す図である。
【0029】図7に示すBGA型半導体装置70のパッ
ケージ(例えば、樹脂モールド)72には、複数のスル
ーホール74が形成されている。このスルーホール74
の内部には、例えば銅のメッキなどの導体75が形成さ
れている。また、パッケージ72の上面にはランド78
が設けられ、下面にはランド80が設けられ、これらの
導体75で電気的に接続されている。
ケージ(例えば、樹脂モールド)72には、複数のスル
ーホール74が形成されている。このスルーホール74
の内部には、例えば銅のメッキなどの導体75が形成さ
れている。また、パッケージ72の上面にはランド78
が設けられ、下面にはランド80が設けられ、これらの
導体75で電気的に接続されている。
【0030】パッケージ72の上面に設けられたランド
78には、回路変更用のストラップ線76が接続可能で
ある。図7に示す例では、ストラップ線76は半導体装
置70以外の部分に接続されるように示されているが、
ストラップ線76を用いてランド78間を電気的に接続
してもよい。ストラップ線76は被覆されており、その
芯線を図7(B)に示すようにはんだ付けしてランド7
8に固定する。
78には、回路変更用のストラップ線76が接続可能で
ある。図7に示す例では、ストラップ線76は半導体装
置70以外の部分に接続されるように示されているが、
ストラップ線76を用いてランド78間を電気的に接続
してもよい。ストラップ線76は被覆されており、その
芯線を図7(B)に示すようにはんだ付けしてランド7
8に固定する。
【0031】下側のランド80上には、ボール状のはん
だバンプが設けられており、マザーボード84上のラン
ド86に固定した状態でははんだフィレット82となっ
ている。下側のランド80及びその上のはんだバンプは
従来と同様であるが、これにスルーホール74を用いて
パッケージ72の上面にもランド78を形成したこと
に、本発明の第3の実施例の特徴の1つがある。
だバンプが設けられており、マザーボード84上のラン
ド86に固定した状態でははんだフィレット82となっ
ている。下側のランド80及びその上のはんだバンプは
従来と同様であるが、これにスルーホール74を用いて
パッケージ72の上面にもランド78を形成したこと
に、本発明の第3の実施例の特徴の1つがある。
【0032】以上の構成によれば、BGA型半導体装置
70をマザーボード84に取り付けた状態で、マザーボ
ード84の回路パターンを変更することなく、回路変更
が可能になる。図8は、本発明の第4の実施例によるB
GA型半導体装置90を示す図である。前述の第3の実
施例では、ランド78がパッケージの上面全面に形成さ
れていたが、図8に示す第4の実施例では、パッケージ
の上面の周辺部にのみ形成されている。
70をマザーボード84に取り付けた状態で、マザーボ
ード84の回路パターンを変更することなく、回路変更
が可能になる。図8は、本発明の第4の実施例によるB
GA型半導体装置90を示す図である。前述の第3の実
施例では、ランド78がパッケージの上面全面に形成さ
れていたが、図8に示す第4の実施例では、パッケージ
の上面の周辺部にのみ形成されている。
【0033】BGA型半導体装置90は、配線パターン
を有するベース94を有する。このベース94はパッケ
ージとしても機能する。ベース94は、ガラスエポキシ
等で形成された3つの層94a、94b及び94cを積
層した3層構成である。各層間には、内層パターンが形
成されている。ベース94の中央部には凹部95が設け
られ、ここに半導体チップ92が収容されている。半導
体チップ92とベース層94b上に形成されたパッドと
はワイヤ93でボンディングされている。半導体チップ
92は蓋97で封止されている。
を有するベース94を有する。このベース94はパッケ
ージとしても機能する。ベース94は、ガラスエポキシ
等で形成された3つの層94a、94b及び94cを積
層した3層構成である。各層間には、内層パターンが形
成されている。ベース94の中央部には凹部95が設け
られ、ここに半導体チップ92が収容されている。半導
体チップ92とベース層94b上に形成されたパッドと
はワイヤ93でボンディングされている。半導体チップ
92は蓋97で封止されている。
【0034】ベース94の底面上には、ボール状のはん
だバンプ96が形成されている。はんだバンプ96はス
ルーホール98を介して内層パターンと電気的に接続さ
れるとともに、ベース94の上面に設けられたランド1
00とも電気的に接続されている。このランド100
は、図7(B)に示すランド78に相当し、回路変更用
のストラップ線を接続可能である。
だバンプ96が形成されている。はんだバンプ96はス
ルーホール98を介して内層パターンと電気的に接続さ
れるとともに、ベース94の上面に設けられたランド1
00とも電気的に接続されている。このランド100
は、図7(B)に示すランド78に相当し、回路変更用
のストラップ線を接続可能である。
【0035】図8に示す構成においても、本発明の第3
の実施例と同様に、BGA型半導体装置90をマザーボ
ード84に取り付けた状態で、マザーボード84の回路
パターンを変更することなく、回路変更が可能になる。
以上、本発明を説明した。本発明は上記各実施例に限定
されるものではない。また、本発明はBGA型の半導体
装置に限定されず、これと同様の端子構成を有する半導
体装置も含むものである。
の実施例と同様に、BGA型半導体装置90をマザーボ
ード84に取り付けた状態で、マザーボード84の回路
パターンを変更することなく、回路変更が可能になる。
以上、本発明を説明した。本発明は上記各実施例に限定
されるものではない。また、本発明はBGA型の半導体
装置に限定されず、これと同様の端子構成を有する半導
体装置も含むものである。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
マザーボードの回路パターンを変更することなく、回路
の設計変更の自由度を高くすることができる。より詳細
には、次の通りである。
マザーボードの回路パターンを変更することなく、回路
の設計変更の自由度を高くすることができる。より詳細
には、次の通りである。
【0037】請求項1ないし6に記載の発明では、配線
基板を半導体装置等の電子部品とこれを搭載する基板
(マザーボード等)との間に介在する配線基板の回路構
成(配線)を変更することで、既存の基板に形成された
回路パターンを変更することなく、電子部品を含む回路
変更を行える。
基板を半導体装置等の電子部品とこれを搭載する基板
(マザーボード等)との間に介在する配線基板の回路構
成(配線)を変更することで、既存の基板に形成された
回路パターンを変更することなく、電子部品を含む回路
変更を行える。
【0038】請求項7ないし9に記載の発明では、ベー
スの第2の表面に設けられたストラップ用端子にストラ
ップ線を接続することで、既存の基板に形成された回路
パターンを変更することなく、回路の変更を行える。請
求項10に記載の発明では、回路変更用のストラップ線
をストラップ用端子に接続することで、既存の基板に形
成された回路パターンを変更することなく、回路の変更
を行える。
スの第2の表面に設けられたストラップ用端子にストラ
ップ線を接続することで、既存の基板に形成された回路
パターンを変更することなく、回路の変更を行える。請
求項10に記載の発明では、回路変更用のストラップ線
をストラップ用端子に接続することで、既存の基板に形
成された回路パターンを変更することなく、回路の変更
を行える。
【図1】本発明の第1の実施例による配線基板と、これ
に搭載されたBGA型半導体装置10を示すである。
に搭載されたBGA型半導体装置10を示すである。
【図2】図1に示す配線基板を示す図である。
【図3】図2に示すIII−III線断面図である。
【図4】本発明の第1の実施例の変形例を示す断面図で
ある。
ある。
【図5】本発明の第2の実施例による配線基板及びこれ
に搭載される半導体装置を示す図である。
に搭載される半導体装置を示す図である。
【図6】図5に示す配線基板の要部拡大断面図である。
【図7】本発明の第3の実施例による半導体装置を示す
図である。
図である。
【図8】本発明の第4の実施例による半導体装置を示す
図である。
図である。
【図9】従来の半導体装置の構成例を示す斜視図であ
る。
る。
【図10】従来の半導体装置を基板に搭載した様子を示
す図である。
す図である。
【図11】従来の別の半導体装置を基板に搭載した状態
で回路変更を行うためのストラップ線を接続する方法を
示す図である。
で回路変更を行うためのストラップ線を接続する方法を
示す図である。
10 BGA型半導体装置 18 はんだバンプ 40 配線基板 44 ベース 46 ランド
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 手島 康裕 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 審査官 中澤 登 (56)参考文献 特開 昭59−161847(JP,A) 特開 昭64−32662(JP,A) 特開 昭63−237535(JP,A) 特開 平5−198732(JP,A) 特開 平7−22095(JP,A) 特開 平7−169872(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 23/32 H01L 23/52 - 23/538
Claims (10)
- 【請求項1】 ボールグリッドアレイタイプの半導体装
置に用いられる配線基板であって、 絶縁物質で構成されるベースと、 該ベースの第1の表面に設けられ、パッケージされた電
子部品の外部接続用端子に接続可能な端子を有する第1
の回路パターンと、 前記ベースの第2の表面に設けられると共に前記第1の
回路パターンに接続されかつマザーボードの接続用端子
に接続可能な端子と、この端子に接続されかつ端子間を
通る配線とを有する第2の回路パターンと前記ベースの
第2の表面に設けられ、前記第2の回路パターン内の回
路構成を変えるために接続されるストラップ用配線を接
続可能なストラップ用端子とを有し、 かつ、前記ボールグリッドアレイタイプの半導体装置に
配設された状態において、前記ストラップ用端子の配設
位置が、前記ベースの外部から前記ストラップ用配線を
接続しうる位置に設定されていることを特徴とする配線
基板。 - 【請求項2】 前記配線基板は、前記ベース内に形成さ
れたスルーホールを有し、該スルーホールは前記第1の
回路パターンと前記第2の回路パターンとを接続するこ
とを特徴とする請求項1記載の配線基板。 - 【請求項3】 前記第1の回路パターンに含まれる前記
端子は平面状であり、前記第2の回路パターンに含まれ
る前記端子はボール状であることを特徴とする請求項1
又は2記載の配線基板。 - 【請求項4】 前記ストラップ用端子は、前記ベースの
周囲に配設されていることを特徴とする請求項1ないし
3のいずれか一項記載の配線基板。 - 【請求項5】 配線基板とパッケージされた電子部品と
を有し、 前記配線基板は、請求項1ないし4のいずれか一項記載
のものであることを特徴とする半導体装置。 - 【請求項6】 前記電子部品は半導体チップを含むこと
を特徴とする請求項5記載の半導体装置。 - 【請求項7】 マザーボードに実装されるボールグリッ
ドアレイタイプの半導体装置であって、 半導体チップと、 該半導体チップを支持するベース基板と、 前記半導体チップを封止するパッケージと、 前記ベース基板の第1の表面に設けられた外部接続用端
子と、 前記ベース基板の第2の表面に設けられ、ストラップ線
が接続可能なストラップ用端子と、 前記ベース基板に設けられ、前記外部接続用端子とスト
ラップ用端子とを接続するスルーホールとを有し、 前記マザーボードに実装された状態において、前記スト
ラップ用端子の配設位置が、前記ベース基板の外部から
前記ストラップ用配線を接続しうる位置に設定されてい
ることを特徴とする半導体装置。 - 【請求項8】 前記外部接続用端子はボール状であるこ
とを特徴とする請求項7記載の半導体装置。 - 【請求項9】 前記ストラップ用端子は平坦なランドで
あることを特徴とする請求項7又は8に記載の半導体装
置。 - 【請求項10】 ボールグリッドアレイタイプの半導体
装置に用いられる配線基板であって、 ベースと、 該ベースの第1の表面に設けられ、半導体装置の外部接
続用端子と接続可能な外部接続用端子と、 前記ベースの第2の表面に設けられるとともに前記第1
の表面に設けられた外部接続用端子と接続され、回路変
更用のストラップ線が接続可能なストラップ用端子と、 前記ベースに設けられ、外部接続用端子と前記ストラッ
プ用端子とを接続するスルーホールとを有し、 前記ストラップ用端子は前記外部接続用端子の位置に対
しオフセットした位置で、かつ前記ベースの外部から前
記ストラップ用配線を接続しうる位置に設定されている
ことを特徴とする配線基板。
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