JP3320325B2 - 高密度プリント回路基板にパッドを設ける方法 - Google Patents
高密度プリント回路基板にパッドを設ける方法Info
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高密度プリント回
路基板(PCB)の上面に金属パターンを形成するこ
と、特に、外面に開いた導電スルーホールを有する多層
プリント回路基板上に金属フィーチャ(featur
e)を形成することに関する。
路基板(PCB)の上面に金属パターンを形成するこ
と、特に、外面に開いた導電スルーホールを有する多層
プリント回路基板上に金属フィーチャ(featur
e)を形成することに関する。
【0002】
【従来の技術】高密度タイプの多層プリント回路基板
は、誘電体材料の層で分離されたいくつかの導電層を有
している。これら導電層のいくつかは、電力平面として
利用され、他の導電層は、電気信号接続(例えば、集積
回路チップ間の)のために、パターニングできる。多層
回路基板構造は、“コア・アセンブリ”または単に“コ
ア”と名付けられた、複数の小さい、独立に形成された
回路基板構造を組合せることによって製造される。各コ
アの製造プロセスは、所定の導電層を所定のパターンに
エッチングし、導電層を互いに積層して、コア・アセン
ブリを形成する工程を含んでいる。各コア・アセンブリ
は、他のコアと多層構造に積層される前に、別個に製造
されテストされる。完成したコア・アセンブリは、位置
決めされて配列され、続いて複雑なプロセスで一緒に積
層される。この複雑なプロセスは、熱と圧力を加えて、
累積したプロセスおよび材料公差によって作られたギャ
ップを閉じ、すべてのスルーホールについて密接な接触
と、外部誘電体層の機械的接着を保証する、といった工
程を含んでいる。
は、誘電体材料の層で分離されたいくつかの導電層を有
している。これら導電層のいくつかは、電力平面として
利用され、他の導電層は、電気信号接続(例えば、集積
回路チップ間の)のために、パターニングできる。多層
回路基板構造は、“コア・アセンブリ”または単に“コ
ア”と名付けられた、複数の小さい、独立に形成された
回路基板構造を組合せることによって製造される。各コ
アの製造プロセスは、所定の導電層を所定のパターンに
エッチングし、導電層を互いに積層して、コア・アセン
ブリを形成する工程を含んでいる。各コア・アセンブリ
は、他のコアと多層構造に積層される前に、別個に製造
されテストされる。完成したコア・アセンブリは、位置
決めされて配列され、続いて複雑なプロセスで一緒に積
層される。この複雑なプロセスは、熱と圧力を加えて、
累積したプロセスおよび材料公差によって作られたギャ
ップを閉じ、すべてのスルーホールについて密接な接触
と、外部誘電体層の機械的接着を保証する、といった工
程を含んでいる。
【0003】隣接する導電層間で電気的な相互接続が必
要とされる状況では、“スルーホール(through
−hole)”または“バイア(via)”と呼ばれる
“めっきスルーホール(PTH)”で、このような接続
を与えることは、技術上一般に行われている。従来、コ
アを積層して完全な多層構造を形成した後で、多層構造
内に開口をあけ、内部を電気めっきすることによって、
スルーホールが形成され、スルーホールがあけられた導
電層は、電気的に接続される。米国特許第5,359,
797号明細書に記載されているような改良されたプロ
セスにおいては、多層構造を形成する前に、各コアにス
ルーホールが別個に形成される。これは、各コア内に開
口をあけて、開口の内部と開口の周辺領域を電気めっき
して、導電性スルーホールおよびバイア・ランドを形成
することにより行われる。コア・アセンブリが位置決め
されて、積層の準備がなされるとき、各コアの開口が並
んで、スルーホールが定められる。積層後に、多層構造
内に形成されるスルーホールは、多数のコア内を延び、
時には上部外面に、下部外面に、あるいは多層構造の外
面の両方に、開いている。ここで用いられる“スルーホ
ール”という用語は、外面に開くPTHを含む、すべて
のタイプのスルーホールおよびバイアを含んでいる。
要とされる状況では、“スルーホール(through
−hole)”または“バイア(via)”と呼ばれる
“めっきスルーホール(PTH)”で、このような接続
を与えることは、技術上一般に行われている。従来、コ
アを積層して完全な多層構造を形成した後で、多層構造
内に開口をあけ、内部を電気めっきすることによって、
スルーホールが形成され、スルーホールがあけられた導
電層は、電気的に接続される。米国特許第5,359,
797号明細書に記載されているような改良されたプロ
セスにおいては、多層構造を形成する前に、各コアにス
ルーホールが別個に形成される。これは、各コア内に開
口をあけて、開口の内部と開口の周辺領域を電気めっき
して、導電性スルーホールおよびバイア・ランドを形成
することにより行われる。コア・アセンブリが位置決め
されて、積層の準備がなされるとき、各コアの開口が並
んで、スルーホールが定められる。積層後に、多層構造
内に形成されるスルーホールは、多数のコア内を延び、
時には上部外面に、下部外面に、あるいは多層構造の外
面の両方に、開いている。ここで用いられる“スルーホ
ール”という用語は、外面に開くPTHを含む、すべて
のタイプのスルーホールおよびバイアを含んでいる。
【0004】多層電子構造は、外面の一方または両方の
上に形成された複数の実装サイトまたはパッドを必要と
する。これら実装サイトまたはパッドは、半導体チップ
のような電子デバイスを多層回路基板に実装するのに用
いられる。特に、実装構造は、電子デバイスに対し、多
層回路基板内の信号ライン,電力平面,あらゆる他の構
造と接続する方法を与える。実装サイトは、導電材料よ
りなり、例えばグランド,電力,および/または信号サ
イトとして働く所定のパターンを有している。通常、実
装サイトのパターンは、実装デバイス上の電力,グラン
ド,または信号サイトと適合するように構成されてい
る。多くの場合、実装サイトは、多層回路基板から外部
へ開いためっきスルーホールに電気的に接続される。
上に形成された複数の実装サイトまたはパッドを必要と
する。これら実装サイトまたはパッドは、半導体チップ
のような電子デバイスを多層回路基板に実装するのに用
いられる。特に、実装構造は、電子デバイスに対し、多
層回路基板内の信号ライン,電力平面,あらゆる他の構
造と接続する方法を与える。実装サイトは、導電材料よ
りなり、例えばグランド,電力,および/または信号サ
イトとして働く所定のパターンを有している。通常、実
装サイトのパターンは、実装デバイス上の電力,グラン
ド,または信号サイトと適合するように構成されてい
る。多くの場合、実装サイトは、多層回路基板から外部
へ開いためっきスルーホールに電気的に接続される。
【0005】電気回路コンポーネントの寸法が小さくな
るにしたがって、プリント回路基板(またはカードまた
はチップ・キャリア)に実装されるチップ上のグランド
・サイト,電力サイト,信号サイトの密度は大きくなっ
てきた。実装される要素の密度の増大は、残念なこと
に、回路基板の実装面上の密度の増大を要求する。例え
ば、チップ直接実装方法は、チップが実装されるパッド
が、非常に小さい領域アレイピッチにある(例えば、パ
ッド間の中心間距離は、0.203mm(8ミル))こ
とを要求する。小さいアレイ・ピッチが要求される他の
例は、ハイI/Oモジュールである。
るにしたがって、プリント回路基板(またはカードまた
はチップ・キャリア)に実装されるチップ上のグランド
・サイト,電力サイト,信号サイトの密度は大きくなっ
てきた。実装される要素の密度の増大は、残念なこと
に、回路基板の実装面上の密度の増大を要求する。例え
ば、チップ直接実装方法は、チップが実装されるパッド
が、非常に小さい領域アレイピッチにある(例えば、パ
ッド間の中心間距離は、0.203mm(8ミル))こ
とを要求する。小さいアレイ・ピッチが要求される他の
例は、ハイI/Oモジュールである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】回路基板内のスルーホ
ールの存在は、回路基板へコンポーネントを接続すると
きに、金属化スルーホールへの溶融はんだのウィッキン
グ(wicking)を含む問題を生じる。このような
ウィッキングの結果、はんだボールの容積が小さくな
り、このことがアセンブリの歩留りおよび相互接続の信
頼性を、不都合に減少させている。
ールの存在は、回路基板へコンポーネントを接続すると
きに、金属化スルーホールへの溶融はんだのウィッキン
グ(wicking)を含む問題を生じる。このような
ウィッキングの結果、はんだボールの容積が小さくな
り、このことがアセンブリの歩留りおよび相互接続の信
頼性を、不都合に減少させている。
【0007】コンポーネント・グリッドが十分に大きけ
れば、バイア・ランドを延長させ、あるいははんだマス
クと一緒に“犬の骨(dogbone)”状のパッドを
用い、バイアから物理的に分離されているが、バイアに
電気的に共通のアセンブリ・パッドを与えることによっ
て、ウィッキングの問題を解決することができる。その
結果、実装(またはアセンブリ)パッドは、スルーホー
ル・グリッドからオフセットされる。
れば、バイア・ランドを延長させ、あるいははんだマス
クと一緒に“犬の骨(dogbone)”状のパッドを
用い、バイアから物理的に分離されているが、バイアに
電気的に共通のアセンブリ・パッドを与えることによっ
て、ウィッキングの問題を解決することができる。その
結果、実装(またはアセンブリ)パッドは、スルーホー
ル・グリッドからオフセットされる。
【0008】しかし、コンポーネント・グリッドが非常
に小さければ、実装パッドをオフセットするのに利用で
きるスペースはない。換言すれば、非常に小さいグリッ
ドは、回路化されたフィーチャを隙間があくように分解
し、バイアから離れてはんだを“堰止める(dam)”
のに必要なはんだマーク・イメージを分解するのに、十
分なスペースを有していない。特にこれらの例では、こ
れらスルーホールの直上(スルーホールからオフセット
しているよりもむしろ)で、コンポーネントとキャリア
との間のはんだ相互接続を形成する方法が必要とされ
る。実装パッドを、あけられたホールの直上に配置する
ことは、入力サイトおよび出力サイトの最大密度を与
え、はんだマスクの必要性を排除する。しかし、はんだ
ボールまたは実装チップを、スルーホールの直上、ある
いはスルーホールの近くに設けることは、スルーホール
をふさいで、はんだが接合部からスルーホールにウィッ
キングすることを妨げ、ウィッキングの問題を解決する
方法が必要とされる。
に小さければ、実装パッドをオフセットするのに利用で
きるスペースはない。換言すれば、非常に小さいグリッ
ドは、回路化されたフィーチャを隙間があくように分解
し、バイアから離れてはんだを“堰止める(dam)”
のに必要なはんだマーク・イメージを分解するのに、十
分なスペースを有していない。特にこれらの例では、こ
れらスルーホールの直上(スルーホールからオフセット
しているよりもむしろ)で、コンポーネントとキャリア
との間のはんだ相互接続を形成する方法が必要とされ
る。実装パッドを、あけられたホールの直上に配置する
ことは、入力サイトおよび出力サイトの最大密度を与
え、はんだマスクの必要性を排除する。しかし、はんだ
ボールまたは実装チップを、スルーホールの直上、ある
いはスルーホールの近くに設けることは、スルーホール
をふさいで、はんだが接合部からスルーホールにウィッ
キングすることを妨げ、ウィッキングの問題を解決する
方法が必要とされる。
【0009】米国特許出願第08/352,144号明
細書は、多層構造において外部に開いたスルーホールを
ふさぐ方法を開示している。これによると、まず初め
に、スルーホール開口に一致する所定のパターンで、銅
層上に接着金属を付着し、次に、外部に開いたスルーホ
ールを覆って、多層構造に金属を接着する。最後に、コ
ンポーネントまたは他の構造のための実装サイトを与え
るために、多層構造内の銅層を、所定のパターンにエッ
チングする。
細書は、多層構造において外部に開いたスルーホールを
ふさぐ方法を開示している。これによると、まず初め
に、スルーホール開口に一致する所定のパターンで、銅
層上に接着金属を付着し、次に、外部に開いたスルーホ
ールを覆って、多層構造に金属を接着する。最後に、コ
ンポーネントまたは他の構造のための実装サイトを与え
るために、多層構造内の銅層を、所定のパターンにエッ
チングする。
【0010】この最後の工程は、(今までは)非常に高
価な複合多層構造の歩留りを減少させるので、残念なこ
とに部品コストを増大させる。表面上に分解するパター
ンがより複雑になればなるほど、歩留りロスは大きくな
る。例えば、この最終工程の歩留りは、いくつかの高密
度パターンに対しては、10%となる。さらに、ほとん
ど完成に近い多層構造は、潜在的に損傷を与える化学的
侵入および機械的ストレスにさらされる。損傷を受けた
ならば、部品は廃棄され、したがって歩留りは減少す
る。
価な複合多層構造の歩留りを減少させるので、残念なこ
とに部品コストを増大させる。表面上に分解するパター
ンがより複雑になればなるほど、歩留りロスは大きくな
る。例えば、この最終工程の歩留りは、いくつかの高密
度パターンに対しては、10%となる。さらに、ほとん
ど完成に近い多層構造は、潜在的に損傷を与える化学的
侵入および機械的ストレスにさらされる。損傷を受けた
ならば、部品は廃棄され、したがって歩留りは減少す
る。
【0011】前記米国特許出願の明細書に開示されたプ
ロセスの他の欠点は、積層プロセスの際、銅層は適切な
位置にあり、銅層に隣接する誘電体外面の下には延び
ず、また銅層は最終パッドの部分を形成しないので、パ
ッドを、誘電体外面と同じ平面に形成することができな
いことである。
ロセスの他の欠点は、積層プロセスの際、銅層は適切な
位置にあり、銅層に隣接する誘電体外面の下には延び
ず、また銅層は最終パッドの部分を形成しないので、パ
ッドを、誘電体外面と同じ平面に形成することができな
いことである。
【0012】
【課題を解決するための手段】上面に開いた複数のスル
ーホールを有する高密度プリント回路基板に複数のパッ
ドを設ける方法を開示する。キャリア・シート上に複数
のパッドを所定のパターンで形成する。各パッドは、キ
ャリア・シートに近接する銅層と、この銅層の上部に形
成された接合金属層とを有している。プリント回路基板
の上面上のスルーホール・パターンに位置決めして、複
数のパッドを配置する。接合金属を用いて、上面上のス
ルーホールにパッドを積層する。最後に、パッドからキ
ャリア・シートを分離して、銅層を露出する。
ーホールを有する高密度プリント回路基板に複数のパッ
ドを設ける方法を開示する。キャリア・シート上に複数
のパッドを所定のパターンで形成する。各パッドは、キ
ャリア・シートに近接する銅層と、この銅層の上部に形
成された接合金属層とを有している。プリント回路基板
の上面上のスルーホール・パターンに位置決めして、複
数のパッドを配置する。接合金属を用いて、上面上のス
ルーホールにパッドを積層する。最後に、パッドからキ
ャリア・シートを分離して、銅層を露出する。
【0013】プリント回路基板構造のスルーホールをふ
さぐ方法を開示する。この方法は、コンポーネントの下
面上のグリッドに等しいグリッドに銅パッドのパターン
を形成する工程を含んでいる。パッドは、剥離できるキ
ャリア・シート上に、所定のパターンでめっきされ、プ
リント回路基板の所定の外面(すなわち上面または下
面)に接合される。一実施例では、プリント回路基板
は、多層構造を備え、パッドは、コアを接合して多層構
造を形成するのに用いられる同一の接合プロセスの際
に、パッドは多層構造に接合される。
さぐ方法を開示する。この方法は、コンポーネントの下
面上のグリッドに等しいグリッドに銅パッドのパターン
を形成する工程を含んでいる。パッドは、剥離できるキ
ャリア・シート上に、所定のパターンでめっきされ、プ
リント回路基板の所定の外面(すなわち上面または下
面)に接合される。一実施例では、プリント回路基板
は、多層構造を備え、パッドは、コアを接合して多層構
造を形成するのに用いられる同一の接合プロセスの際
に、パッドは多層構造に接合される。
【0014】パッドに実装されるコンポーネント(もし
あれば)のような構成要件、およびパッドが設けられる
スルーホール・グリッドの間隔によって予め決められた
パターンに、パッドは形成される。パッド・パターン
は、1個のスルーホールを覆う円形状パッドと、2個以
上のスルーホールを接続する細長パッドとを含む、種々
の形状を有することができる。キャリア・シートは、パ
ッドと多層構造との間の接着を保持しながら、キャリア
・シートの剥離を可能とするのに十分な程度にパッドに
弱く接着する材料よりなる。このようなキャリア・シー
トの一例は、良好な寸法安定性を有するポリイミド膜
(例えば、upilex(商標))、またはステンレス
鋼のような滑らかな金属膜である。キャリア・シート
は、好ましくは、多層構造から剥離を可能とする程度に
フレキシブルである。多層構造が十分にフレキシブルで
あれば、いくつかの実施例では、キャリア層は、ステン
レス鋼のブロックのように比較的フレキシブルでなくて
もよい。
あれば)のような構成要件、およびパッドが設けられる
スルーホール・グリッドの間隔によって予め決められた
パターンに、パッドは形成される。パッド・パターン
は、1個のスルーホールを覆う円形状パッドと、2個以
上のスルーホールを接続する細長パッドとを含む、種々
の形状を有することができる。キャリア・シートは、パ
ッドと多層構造との間の接着を保持しながら、キャリア
・シートの剥離を可能とするのに十分な程度にパッドに
弱く接着する材料よりなる。このようなキャリア・シー
トの一例は、良好な寸法安定性を有するポリイミド膜
(例えば、upilex(商標))、またはステンレス
鋼のような滑らかな金属膜である。キャリア・シート
は、好ましくは、多層構造から剥離を可能とする程度に
フレキシブルである。多層構造が十分にフレキシブルで
あれば、いくつかの実施例では、キャリア層は、ステン
レス鋼のブロックのように比較的フレキシブルでなくて
もよい。
【0015】接合処理に続いて、キャリア・シートが剥
離されて、金属パッドの上部(銅)層(外面上のバイア
・ランドに接合された)が露出される。その結果得られ
た構造では、コア上のスルーホールは、パッドによって
ふさがれる。プリント回路基板が多数のコアから形成さ
れる実施例では、コアとコアとを接合するのに用いられ
る接合金属(例えば、金−スズ遷移液相接着)を用い
て、パッドがバイア・ランドへ接合される。露出した銅
上部は、コンポーネントまたは実装構造のはんだ付けを
容易にする。
離されて、金属パッドの上部(銅)層(外面上のバイア
・ランドに接合された)が露出される。その結果得られ
た構造では、コア上のスルーホールは、パッドによって
ふさがれる。プリント回路基板が多数のコアから形成さ
れる実施例では、コアとコアとを接合するのに用いられ
る接合金属(例えば、金−スズ遷移液相接着)を用い
て、パッドがバイア・ランドへ接合される。露出した銅
上部は、コンポーネントまたは実装構造のはんだ付けを
容易にする。
【0016】完全性を確かめる前に検査することのでき
る剥離できるキャリア・シートを設けることの利点は、
接着される前に部品が良品であることを保証し、これに
より最終製品の極めて高い歩留りを確保できることであ
る。いくつかの例では、歩留りは100%近くになる。
他の利点として、本発明はほぼ完成した回路基板をエッ
チングしないことにより、不所望な化学的侵入および機
械的ストレスを避けることができる。
る剥離できるキャリア・シートを設けることの利点は、
接着される前に部品が良品であることを保証し、これに
より最終製品の極めて高い歩留りを確保できることであ
る。いくつかの例では、歩留りは100%近くになる。
他の利点として、本発明はほぼ完成した回路基板をエッ
チングしないことにより、不所望な化学的侵入および機
械的ストレスを避けることができる。
【0017】一実施例では、積層プロセスは、スルーホ
ールと、スルーホールに接着されるパッドとを圧縮する
のに十分な圧力と加熱の組合せを与えて、パッドを誘電
体内へ埋め込む。その結果、パッドは、誘電体の上面と
同一平面になる。誘電体と同一面となるパッドは、多層
回路基板の後のプロセスの際に、薄いはんだマスクが、
パッド上に設けられることを可能にし、フィーチャの容
易な分解を与える利点を有している。
ールと、スルーホールに接着されるパッドとを圧縮する
のに十分な圧力と加熱の組合せを与えて、パッドを誘電
体内へ埋め込む。その結果、パッドは、誘電体の上面と
同一平面になる。誘電体と同一面となるパッドは、多層
回路基板の後のプロセスの際に、薄いはんだマスクが、
パッド上に設けられることを可能にし、フィーチャの容
易な分解を与える利点を有している。
【0018】
【発明の実施の形態】以下の説明および関連する図面
は、複数のコア・アセンブリ(ここでは、“コア”と称
する)から、多層回路基板アセンブリを作製する方法に
関する。各コアは、複数の誘電体層と導電層とにより形
成されている。最終のアセンブリは、加熱および圧縮を
用いる所定の方法で、一緒にされた複数のコアを有し、
特定の構成に要求される動作特性(例えば、書込み密度
および抵抗)を有する最終製品を与える。以下に示す図
および説明においては、本発明の一実施例に従って、多
層回路について種々の工程および構造を示す。これら図
に示される構造は、このような多層回路の1つの例のみ
を表している。したがって、本発明は、図に示される構
造に限定されるものではない。
は、複数のコア・アセンブリ(ここでは、“コア”と称
する)から、多層回路基板アセンブリを作製する方法に
関する。各コアは、複数の誘電体層と導電層とにより形
成されている。最終のアセンブリは、加熱および圧縮を
用いる所定の方法で、一緒にされた複数のコアを有し、
特定の構成に要求される動作特性(例えば、書込み密度
および抵抗)を有する最終製品を与える。以下に示す図
および説明においては、本発明の一実施例に従って、多
層回路について種々の工程および構造を示す。これら図
に示される構造は、このような多層回路の1つの例のみ
を表している。したがって、本発明は、図に示される構
造に限定されるものではない。
【0019】技術上周知のように、多層プリント回路基
板の構造は、信号平面および/または電力平面および/
またはグランド導電平面、種々のスルーホール、他の導
電層またはラインについて、銅または類似の高導電率の
材料を典型的に利用している。ここで用いる“プリント
回路基板”という用語は、少なくとも1つの誘電体層
と、誘電体層の内部および/または上部に設けられた少
なくとも1つの導電層とを有する構造を意味する。この
ような構造に用いる誘電体材料の周知の例は、ファイバ
ガラス強化エポキシ樹脂(例えば、FR4)である。他
の誘電体材料は、ポリイミド,ポリテトラフルオロエチ
レン(PTFE),高温エポキシ,BT樹脂,シアン酸
エステルである。
板の構造は、信号平面および/または電力平面および/
またはグランド導電平面、種々のスルーホール、他の導
電層またはラインについて、銅または類似の高導電率の
材料を典型的に利用している。ここで用いる“プリント
回路基板”という用語は、少なくとも1つの誘電体層
と、誘電体層の内部および/または上部に設けられた少
なくとも1つの導電層とを有する構造を意味する。この
ような構造に用いる誘電体材料の周知の例は、ファイバ
ガラス強化エポキシ樹脂(例えば、FR4)である。他
の誘電体材料は、ポリイミド,ポリテトラフルオロエチ
レン(PTFE),高温エポキシ,BT樹脂,シアン酸
エステルである。
【0020】図1〜図7は、キャリア・シート上に複数
のパッドを形成する好適な実施例の一連の工程を示す。
特定の工程およびプロセスを用いて、好適な方法を説明
する。他の工程およびプロセスは、当業者には明らかで
ある。
のパッドを形成する好適な実施例の一連の工程を示す。
特定の工程およびプロセスを用いて、好適な方法を説明
する。他の工程およびプロセスは、当業者には明らかで
ある。
【0021】図1は、フレキシブルで剥離可能なキャリ
ア・シート100を示す。キャリア・シート(または
層)は、パッドと多層構造との間の接着を保持しなが
ら、キャリア・シートの剥離を可能とするのに十分な程
度にパッドに弱く接着する材料よりなる。このようなキ
ャリア・シートの一例は、良好な寸法安定性を有するポ
リイミド膜(例えば、upilex(商標))、また
は、ステンレス鋼のような滑らかな金属膜である。キャ
リア・シートは、好ましくは、多層構造から剥離を可能
とする程度にフレキシブルである。多層構造がフレキシ
ブルである実施例では、キャリア層は、比較的フレキシ
ブルでなくてもよく、例えばステンレス鋼のブロックを
有することができる。
ア・シート100を示す。キャリア・シート(または
層)は、パッドと多層構造との間の接着を保持しなが
ら、キャリア・シートの剥離を可能とするのに十分な程
度にパッドに弱く接着する材料よりなる。このようなキ
ャリア・シートの一例は、良好な寸法安定性を有するポ
リイミド膜(例えば、upilex(商標))、また
は、ステンレス鋼のような滑らかな金属膜である。キャ
リア・シートは、好ましくは、多層構造から剥離を可能
とする程度にフレキシブルである。多層構造がフレキシ
ブルである実施例では、キャリア層は、比較的フレキシ
ブルでなくてもよく、例えばステンレス鋼のブロックを
有することができる。
【0022】図2の工程では、通常の技術を用いて、銅
スパッタ層110が、キャリア・シート100上にスパ
ッタされ、およびフラッシュめっきされる。
スパッタ層110が、キャリア・シート100上にスパ
ッタされ、およびフラッシュめっきされる。
【0023】図3において、ホトレジストの層120が
設けられて、銅層110を被覆する。ブロックで示す光
学素子124を、光源126と一緒に用いて、ホトレジ
スト層120を、所定のパッド・パターン130で露光
する。パッド・パターンの一例を、点線で示す。所定の
パッド・パターンは、実装されるコンポーネント(もし
あれば)の実装要件、パッドが設けられるスルーホール
の位置、スルーホール・グリッドの間隔、スルーホール
間の電気的相互接続に合致するように構成される。これ
らの構成要件および他の構成要件を満たすためには、所
定のパッド・パターンは、種々の形状を有することがで
きる。例えば、1個以上のパッドを、円形状,長方形
状,長円形状,L字形状とすることができる。
設けられて、銅層110を被覆する。ブロックで示す光
学素子124を、光源126と一緒に用いて、ホトレジ
スト層120を、所定のパッド・パターン130で露光
する。パッド・パターンの一例を、点線で示す。所定の
パッド・パターンは、実装されるコンポーネント(もし
あれば)の実装要件、パッドが設けられるスルーホール
の位置、スルーホール・グリッドの間隔、スルーホール
間の電気的相互接続に合致するように構成される。これ
らの構成要件および他の構成要件を満たすためには、所
定のパッド・パターンは、種々の形状を有することがで
きる。例えば、1個以上のパッドを、円形状,長方形
状,長円形状,L字形状とすることができる。
【0024】図4において、所定のパッド・パターン1
30で露光されたホトレジスト層120を処理して、露
光された材料を除去して、所定のパッド・パターン13
0に相当する複数の露出領域を形成する。露出領域は、
複数の円形状の露出領域135を含んでいる。露出領域
135は、コンポーネントが実装されるバイア・ランド
のサイズおよび形状に少なくとも等しいサイズおよび形
状を有している。露出領域は、また、複数(例えば2
個)のスルーホールを覆う長円形状の細長露出領域14
0を含んでいる。
30で露光されたホトレジスト層120を処理して、露
光された材料を除去して、所定のパッド・パターン13
0に相当する複数の露出領域を形成する。露出領域は、
複数の円形状の露出領域135を含んでいる。露出領域
135は、コンポーネントが実装されるバイア・ランド
のサイズおよび形状に少なくとも等しいサイズおよび形
状を有している。露出領域は、また、複数(例えば2
個)のスルーホールを覆う長円形状の細長露出領域14
0を含んでいる。
【0025】図5において、露出領域135,140
は、例えば酸−銅プロセスによって、電解的に銅めっき
され、円形状露出領域内に円形状銅パッド部分145
と、細長パッド領域140内に長円状銅パッド部分14
7とを与える。
は、例えば酸−銅プロセスによって、電解的に銅めっき
され、円形状露出領域内に円形状銅パッド部分145
と、細長パッド領域140内に長円状銅パッド部分14
7とを与える。
【0026】図6において、金層およびスズ層のような
1つ以上の接合金属層が、後に詳細に説明する遷移液相
(TLP)接着のような所定の接着技術によって、銅パ
ッド部分上にめっきされる。その結果得られた円形状パ
ッドを150で、長円形状パッドを155で示す。
1つ以上の接合金属層が、後に詳細に説明する遷移液相
(TLP)接着のような所定の接着技術によって、銅パ
ッド部分上にめっきされる。その結果得られた円形状パ
ッドを150で、長円形状パッドを155で示す。
【0027】図7において、ホトレジスト層120を、
通常の方法で除去し、フラッシュめっき銅層110をエ
ッチング除去して、複数のパッド150,155を残
す。
通常の方法で除去し、フラッシュめっき銅層110をエ
ッチング除去して、複数のパッド150,155を残
す。
【0028】図8は、好適な実施例におけるパッド15
0の1つを示す。銅(Cu)で形成された下部層を14
5で示す。下部層は、図5にも示されている。パッド1
50をバイア・ランドに接合するためには、接合金属
を、銅層145上の層に用いる。一実施例では、210
で示す金(Au)の層が、銅層上に付着され、220で
示すスズ(Sn)層が、金属210の上部に付着されて
いる。層210,220に示される接合金属は、好まし
くは、多層構造の接着プロセスと両立できるように選ば
れ、その結果、多層構造の形成と同時に、パッドを多層
構造に接着することができる。好適な実施例では、金属
−スズを用いるTLP(遷移液相)接着が利用される。
0の1つを示す。銅(Cu)で形成された下部層を14
5で示す。下部層は、図5にも示されている。パッド1
50をバイア・ランドに接合するためには、接合金属
を、銅層145上の層に用いる。一実施例では、210
で示す金(Au)の層が、銅層上に付着され、220で
示すスズ(Sn)層が、金属210の上部に付着されて
いる。層210,220に示される接合金属は、好まし
くは、多層構造の接着プロセスと両立できるように選ば
れ、その結果、多層構造の形成と同時に、パッドを多層
構造に接着することができる。好適な実施例では、金属
−スズを用いるTLP(遷移液相)接着が利用される。
【0029】遷移液相(TLP)プロセスの一例が、米
国特許第5,280,414号明細書に開示されてい
る。ここで説明するように、TLPプロセスは、一緒に
共晶金属を形成することのできる、種々の導電表面金属
の付着を含む拡散接着プロセスである。接着される表面
は、接着金属によって被覆される銅のような高導電率の
金属よりなる金属表面を有している。2つの表面は、互
いに物理的に接触され、初期の共晶温度に加熱される。
これにより、接着金属を溶融して、初期共晶温度で結晶
化する第1の合金を形成するのに十分なパーセンテージ
で共に拡散する。次に、結晶化した合金は、より高い温
度に加熱され、溶融されて、隣接する接着金属にさらに
拡散して、第2の合金を形成し、さらに拡散して金属表
面の接着を生じる。
国特許第5,280,414号明細書に開示されてい
る。ここで説明するように、TLPプロセスは、一緒に
共晶金属を形成することのできる、種々の導電表面金属
の付着を含む拡散接着プロセスである。接着される表面
は、接着金属によって被覆される銅のような高導電率の
金属よりなる金属表面を有している。2つの表面は、互
いに物理的に接触され、初期の共晶温度に加熱される。
これにより、接着金属を溶融して、初期共晶温度で結晶
化する第1の合金を形成するのに十分なパーセンテージ
で共に拡散する。次に、結晶化した合金は、より高い温
度に加熱され、溶融されて、隣接する接着金属にさらに
拡散して、第2の合金を形成し、さらに拡散して金属表
面の接着を生じる。
【0030】図9は、パッド150,155が形成され
たキャリア・シート100に対して位置決めされた位置
にある、複数のコア(積層前の)の斜視図である。第1
のコア301は、外部に開いた複数のスルーホールを有
している。これらスルーホールは、第1のスルーホール
311,第2のスルーホール312,第3のスルーホー
ル313,第4のスルーホール314,第5のスルーホ
ール315,第6のスルーホール316を含んでいる。
第1のコア301は、上部コアであり、したがって各ス
ルーホール311〜316は、外部に開いている。各ス
ルーホール311〜316は、電気めっきのような技術
で内部に形成された導電材料を有する内周部を有してい
る。各スルーホールの外面(すなわち上面および下面)
上には、環状のバイア・ランドが、同じ電気めっきプロ
セスによって形成される。スルーホール311〜316
によって示されるパターンは、キャリア・シート100
上のパッド150,155のパターンに直接に対応して
いる。スルーホールにより定められるパターンは、“グ
リッド”と名付けられ、グリッド間隔は、スルーホール
間の間隔として定義される。グリッド間隔は、非常に小
さく(例えば、0.203〜0.254mm(8〜10
ミル))、または大きく(0.508〜0.635mm
(20〜25ミル))することができる。
たキャリア・シート100に対して位置決めされた位置
にある、複数のコア(積層前の)の斜視図である。第1
のコア301は、外部に開いた複数のスルーホールを有
している。これらスルーホールは、第1のスルーホール
311,第2のスルーホール312,第3のスルーホー
ル313,第4のスルーホール314,第5のスルーホ
ール315,第6のスルーホール316を含んでいる。
第1のコア301は、上部コアであり、したがって各ス
ルーホール311〜316は、外部に開いている。各ス
ルーホール311〜316は、電気めっきのような技術
で内部に形成された導電材料を有する内周部を有してい
る。各スルーホールの外面(すなわち上面および下面)
上には、環状のバイア・ランドが、同じ電気めっきプロ
セスによって形成される。スルーホール311〜316
によって示されるパターンは、キャリア・シート100
上のパッド150,155のパターンに直接に対応して
いる。スルーホールにより定められるパターンは、“グ
リッド”と名付けられ、グリッド間隔は、スルーホール
間の間隔として定義される。グリッド間隔は、非常に小
さく(例えば、0.203〜0.254mm(8〜10
ミル))、または大きく(0.508〜0.635mm
(20〜25ミル))することができる。
【0031】第2のコア302は、第1のスルーホール
321,第2のスルーホール322,第3のスルーホー
ル323,第4のスルーホール324,第5のスルーホ
ール325を含む5個のスルーホールを示している。こ
れらすべてのスルーホールは、第1のコア301に対応
するスルーホールに対し一直線上に列んでいる。しか
し、第1のコア301の第6のスルーホール316は、
第2のコアに対応するスルーホールを有していないこと
に留意すべきである。したがって、第6のスルーホール
316は、設計基準に従って、第1のコア内にのみ延び
ている。
321,第2のスルーホール322,第3のスルーホー
ル323,第4のスルーホール324,第5のスルーホ
ール325を含む5個のスルーホールを示している。こ
れらすべてのスルーホールは、第1のコア301に対応
するスルーホールに対し一直線上に列んでいる。しか
し、第1のコア301の第6のスルーホール316は、
第2のコアに対応するスルーホールを有していないこと
に留意すべきである。したがって、第6のスルーホール
316は、設計基準に従って、第1のコア内にのみ延び
ている。
【0032】第3のコア303は、第1のスルーホール
331,第2のスルーホール332,第3のスルーホー
ル333を有している。スルーホール331,332,
333は、第2のコアの対応するスルーホール321,
322,323に対し一直線上に列んでいる。しかし、
第2のコアにおいて、第4のスルーホール324および
第5のスルーホール325は、第3のコアにおいて合致
する対応のスルーホールを有していない。したがって、
第4および第5のスルーホールは、第3のコア303内
には続かない。
331,第2のスルーホール332,第3のスルーホー
ル333を有している。スルーホール331,332,
333は、第2のコアの対応するスルーホール321,
322,323に対し一直線上に列んでいる。しかし、
第2のコアにおいて、第4のスルーホール324および
第5のスルーホール325は、第3のコアにおいて合致
する対応のスルーホールを有していない。したがって、
第4および第5のスルーホールは、第3のコア303内
には続かない。
【0033】図10は、位置決めされて一緒に配置され
た第1のコア301,第2のコア302,第3のコア3
03を示している。キャリア・シート100上の円形状
パッド150は、点線で示すように、外部に開いたスル
ーホール311,312,314,316に接続され、
長円形パッド155は、外部に開いた2つのスルーホー
ル313,315に接続される。
た第1のコア301,第2のコア302,第3のコア3
03を示している。キャリア・シート100上の円形状
パッド150は、点線で示すように、外部に開いたスル
ーホール311,312,314,316に接続され、
長円形パッド155は、外部に開いた2つのスルーホー
ル313,315に接続される。
【0034】図11において、キャリア層100は、第
1のコア301,第2のコア302,第3のコア303
に位置決めされて配置されている。図11の構造は、積
層プロセスに対して準備される。積層プロセスの間、圧
力が加えられる。この圧力は、矢印350で示されるよ
うに下方に、矢印360で示されるように上方に加えら
れる。積層は、第1のコア301のスルーホールを覆う
ための、パッド150のバイア・ランドへの接着を含ん
でいる。いくつかの実施例では、十分な圧力が加えられ
て、スルーホールおよびパッド構造が圧縮され、図15
に示し、かつ、図15について詳細に説明されるよう
に、パッドの表面が誘電体層と同じ面になるように形成
される。
1のコア301,第2のコア302,第3のコア303
に位置決めされて配置されている。図11の構造は、積
層プロセスに対して準備される。積層プロセスの間、圧
力が加えられる。この圧力は、矢印350で示されるよ
うに下方に、矢印360で示されるように上方に加えら
れる。積層は、第1のコア301のスルーホールを覆う
ための、パッド150のバイア・ランドへの接着を含ん
でいる。いくつかの実施例では、十分な圧力が加えられ
て、スルーホールおよびパッド構造が圧縮され、図15
に示し、かつ、図15について詳細に説明されるよう
に、パッドの表面が誘電体層と同じ面になるように形成
される。
【0035】図12は、積層後のキャップド多層回路基
板を示す。キャリア・シート110が剥離され、円形状
パッド150の1つによってそれぞれがふさがれた第1
および第2のスルーホール311,312が現れる状態
が示されている。細長パッド155は、第3のスルーホ
ール313および第5のスルーホールの両方を、被覆す
る。
板を示す。キャリア・シート110が剥離され、円形状
パッド150の1つによってそれぞれがふさがれた第1
および第2のスルーホール311,312が現れる状態
が示されている。細長パッド155は、第3のスルーホ
ール313および第5のスルーホールの両方を、被覆す
る。
【0036】多層回路基板に対する好適な接合プロセス
は、米国特許第5,359,767号明細書「Meth
od of Making Multilayered
Circuit Board」に開示されており、そ
の内容は本願明細書の内容に引用される。この米国特許
出願明細書は、コアを互いに接着させるために、遷移液
相(TLB)技術を用いる方法を開示している。これに
よると、多層構造のための積層プロセスは、スルーホー
ルを正確に位置決めし、そしてスルーホールを所定の圧
力(例えば、21kg/cm2 (300psi))で圧
縮する。次に、圧縮された構造は、設定された期間の
間、第1の温度(例えば、300℃)に加熱され、2つ
のスルーホール間の初期接着を形成する。この初期接着
処理により形成された合金は、サブアセンブリ誘電体
(例えば、PTFE)の融点よりもかなり大きい融点を
有している。この期間に続いて、圧縮されたサブアセン
ブリは、多層構造内での誘電体のフローを保証するのに
十分な、第2の設定期間の間、さらに高い温度(例え
ば、380℃)に加熱される。次に、サブアセンブリ
は、冷却され、圧力が除かれる。この方法は、圧縮され
たコア内のスルーホールの各対間の効果的な係合を増進
し、位置決めされた各スルーホール間に形成された接着
部を通しての誘電体の侵入を阻止する。誘電体の侵入
は、隣接するコア間の電気的接続に悪影響を及ぼす。
は、米国特許第5,359,767号明細書「Meth
od of Making Multilayered
Circuit Board」に開示されており、そ
の内容は本願明細書の内容に引用される。この米国特許
出願明細書は、コアを互いに接着させるために、遷移液
相(TLB)技術を用いる方法を開示している。これに
よると、多層構造のための積層プロセスは、スルーホー
ルを正確に位置決めし、そしてスルーホールを所定の圧
力(例えば、21kg/cm2 (300psi))で圧
縮する。次に、圧縮された構造は、設定された期間の
間、第1の温度(例えば、300℃)に加熱され、2つ
のスルーホール間の初期接着を形成する。この初期接着
処理により形成された合金は、サブアセンブリ誘電体
(例えば、PTFE)の融点よりもかなり大きい融点を
有している。この期間に続いて、圧縮されたサブアセン
ブリは、多層構造内での誘電体のフローを保証するのに
十分な、第2の設定期間の間、さらに高い温度(例え
ば、380℃)に加熱される。次に、サブアセンブリ
は、冷却され、圧力が除かれる。この方法は、圧縮され
たコア内のスルーホールの各対間の効果的な係合を増進
し、位置決めされた各スルーホール間に形成された接着
部を通しての誘電体の侵入を阻止する。誘電体の侵入
は、隣接するコア間の電気的接続に悪影響を及ぼす。
【0037】好適な実施例では、接着金属として金−ス
ズを用いるTLP(遷移液相)に従って積層が行われる
が、他の実施例では、異なる電気的相互接続技術を用い
ることができることを理解すべきである。例えば、Sn
Pb:共晶、SnPb:高温金−インジウムTLP、は
んだペースト、導電接着プロセスを用いることができ
る。他の技術を選択するためのプロセスの考察は、電気
的相互接続技術,機械的接着技術,誘電体材料の熱的な
両立性の維持を含んでいる。ある場合には、材料の選択
は、電気的および機械的相互接続に採用することのでき
る代替を制限し得る。
ズを用いるTLP(遷移液相)に従って積層が行われる
が、他の実施例では、異なる電気的相互接続技術を用い
ることができることを理解すべきである。例えば、Sn
Pb:共晶、SnPb:高温金−インジウムTLP、は
んだペースト、導電接着プロセスを用いることができ
る。他の技術を選択するためのプロセスの考察は、電気
的相互接続技術,機械的接着技術,誘電体材料の熱的な
両立性の維持を含んでいる。ある場合には、材料の選択
は、電気的および機械的相互接続に採用することのでき
る代替を制限し得る。
【0038】図13は、積層プロセスの前に、第1のス
ルーホール311に位置決めされた位置にある、スルー
ホールおよびパッド150の断面図である。図からわか
るように、誘電体材料380,390の両面のバイア・
ランド(スルーホール311を取り囲む)は、圧縮され
ず、第1のコア301の誘電体材料380は、395で
示される空間によって、第2のコア302の誘電体材料
390から分離されている。
ルーホール311に位置決めされた位置にある、スルー
ホールおよびパッド150の断面図である。図からわか
るように、誘電体材料380,390の両面のバイア・
ランド(スルーホール311を取り囲む)は、圧縮され
ず、第1のコア301の誘電体材料380は、395で
示される空間によって、第2のコア302の誘電体材料
390から分離されている。
【0039】図14は、積層プロセス後の、スルーホー
ル311の断面図である。第1のコア301および第2
のコア302は、互いに圧縮されて、スルーホール31
1のバイア・ランドは電気的に接合された。第1コアの
誘電体材料380は、第2コアの誘電体390に対して
圧縮される。キャリア・シート100は剥離されて、ス
ルーホール311に接続される銅表面145を露出す
る。積層プロセスにおいて熱および圧力の供給の際に、
金層210およびスズ層220の組合せによって、合金
410が形成される。得られた合金層410は、導電性
を有し、スルーホール311に接着して、電気的接続を
与える。銅層145は、合金層410の上部にそのまま
残り、電気コンポーネントへの実装パッドを与える。例
えば、はんだボール420は、電気コンポーネント43
0を、銅層145に接続する。
ル311の断面図である。第1のコア301および第2
のコア302は、互いに圧縮されて、スルーホール31
1のバイア・ランドは電気的に接合された。第1コアの
誘電体材料380は、第2コアの誘電体390に対して
圧縮される。キャリア・シート100は剥離されて、ス
ルーホール311に接続される銅表面145を露出す
る。積層プロセスにおいて熱および圧力の供給の際に、
金層210およびスズ層220の組合せによって、合金
410が形成される。得られた合金層410は、導電性
を有し、スルーホール311に接着して、電気的接続を
与える。銅層145は、合金層410の上部にそのまま
残り、電気コンポーネントへの実装パッドを与える。例
えば、はんだボール420は、電気コンポーネント43
0を、銅層145に接続する。
【0040】図15は、キャップド・スルーホール31
1の他の実施例を示す。パッド150の銅層145の上
面は、第1の(上側の)コア301の誘電体層380の
上面500と面を同一に配置される。図15では、この
明細書の教示から当業者には明らかな所定のプロセスに
おいて、パッド150は、多層構造の積層プロセスの際
に加えられる熱および圧力の組合せによって、誘電体層
380内に押し込められて、同一面とされる。同一面パ
ッドは、多層回路基板の後のプロセスの際に、利点を有
している。この利点には、薄いはんだマスクが、パッド
上に設けられることを可能にし、フィーチャの容易な分
解を与えることを含んでいる。
1の他の実施例を示す。パッド150の銅層145の上
面は、第1の(上側の)コア301の誘電体層380の
上面500と面を同一に配置される。図15では、この
明細書の教示から当業者には明らかな所定のプロセスに
おいて、パッド150は、多層構造の積層プロセスの際
に加えられる熱および圧力の組合せによって、誘電体層
380内に押し込められて、同一面とされる。同一面パ
ッドは、多層回路基板の後のプロセスの際に、利点を有
している。この利点には、薄いはんだマスクが、パッド
上に設けられることを可能にし、フィーチャの容易な分
解を与えることを含んでいる。
【0041】本発明は、単一層のプリント回路基板、お
よびここで説明した多数のコアで作られた多層回路基板
を含む、多くのタイプのプリント回路基板上に金属フィ
ーチャを形成するのに有用である。当業者であれば、本
発明の他の実施例および変形例を、これらの教示の観点
から考えることができる。例えば、サブトラクティブ法
のような他のプロセスを用いて、パッドをキャリア・シ
ート上に形成することができる。また、いくつかの実施
例では、1つ以上のパッドを、スルーホール以外の他の
フィーチャに設けることができる。
よびここで説明した多数のコアで作られた多層回路基板
を含む、多くのタイプのプリント回路基板上に金属フィ
ーチャを形成するのに有用である。当業者であれば、本
発明の他の実施例および変形例を、これらの教示の観点
から考えることができる。例えば、サブトラクティブ法
のような他のプロセスを用いて、パッドをキャリア・シ
ート上に形成することができる。また、いくつかの実施
例では、1つ以上のパッドを、スルーホール以外の他の
フィーチャに設けることができる。
【0042】まとめとして、本発明の構成に関して以下
の事項を開示する。 (1)上面に開いた複数のスルーホールを有する高密度
プリント回路基板にパッドを設ける方法において、 a)キャリア・シート上に複数のパッドを所定のパター
ンで形成する工程を含み、前記パッドの各々は、前記キ
ャリア・シートに近接する銅層と、該銅層の上部に形成
された接合金属層とを有し、 b)前記プリント回路基板の上面上のスルーホール・パ
ターンに位置決めして、前記複数のパッドを前記キャリ
ア・シート上に配置する工程と、 c)前記接合金属を用いて、前記上面上のスルーホール
にパッドを積層する工程と、 d)前記スルーホールに接合する前記複数のパッドから
前記キャリア・シートを分離して、前記銅層を露出する
工程とを含む、ことを特徴とする、高密度プリント回路
基板にパッドを設ける方法。 (2)前記工程(a)は、前記キャリア・シート上に銅
をスパッタし電気めっきする工程を含む、上記(1)に
記載の高密度プリント回路基板にパッドを設ける方法。 (3)前記キャリア・シートは、ポリイミドよりなる、
上記(1)に記載の高密度プリント回路基板にパッドを
設ける方法。 (4)前記キャリア・シートは、ステンレス銅よりな
る、上記(1)に記載の高密度プリント回路基板にパッ
ドを設ける方法。 (5)前記工程(a)は、前記接合金属を電気めっきす
る工程を含む、上記(1)に記載の高密度プリント回路
基板にパッドを設ける方法。 (6)前記接合金属は、金およびスズよりなる、上記
(5)に記載の高密度プリント回路基板にパッドを設け
る方法。 (7)前記積層工程は、遷移液相(TLP)プロセスを
含む、上記(1)に記載の高密度プリント回路基板にパ
ッドを設ける方法。 (8)前記接合金属は、金およびスズよりなり、前記T
LPプロセスは、前記金およびスズを加熱して、金−ス
ズ合金を形成する工程を含む、上記(7)に記載の高密
度プリント回路基板にパッドを設ける方法。 (9)前記回路基板は、誘電体材料よりなる上面を定
め、前記工程(c)は、前記複数のパッドを前記プリン
ト回路基板内に圧縮して、前記複数のパッドの最外面
が、プリント回路基板の誘電体層の上面と同一面となる
ようにする工程を含む、上記(1)に記載の高密度プリ
ント回路基板にパッドを設ける方法。 (10)電子コンポーネントを、前記複数のパッドの少
なくとも1つに実装する工程をさらに含む、上記(1)
に記載の高密度プリント回路基板にパッドを設ける方
法。 (11)電子コンポーネントを実装する前記工程は、は
んだボールを設ける工程を含む、上記(10)に記載の
高密度プリント回路基板にパッドを設ける方法。 (12)前記複数のパッドの少なくとも1つは、前記プ
リント回路基板の少なくとも2つのスルーホールを覆う
形状を有し、前記積層工程は、前記パッドを前記少なく
とも2つのスルーホールに接着する工程を含む、上記
(1)に記載の高密度プリント回路基板にパッドを設け
る方法。 (13)上面に複数のスルーホールを有する高密度多層
プリント回路基板を形成する方法において、 a)キャリア・シート上に複数のパッドを所定のパター
ンで形成する工程を含み、前記パッドの各々は、前記キ
ャリア・シートに近接する銅層と、この銅層の上部に形
成された接合金属層とを有し、 b)所定のスルーホール・パターンを有する複数の予め
形成されたコア回路基板を位置決めする工程を含み、前
記複数のコアは、外部に開いたスルーホールを有する上
面を有する上部コアを有し、 c)前記上面上のスルーホール・パターンに位置決めし
て、前記複数のパッドを前記キャリア・シート上に配置
する工程と、 d)前記接合金属を用いて、前記パッドを前記上面上の
スルーホールに積層し、前記複数のコアを同時に積層し
て、多層構造を得る工程と、 e)前記スルーホールに接合する前記複数のパッドから
前記キャリア・シートを分離して、前記銅層を露出する
工程とを含む、ことを特徴とする、高密度多層プリント
回路基板を形成する方法。 (14)前記工程(a)は、前記キャリア・シート上に
銅をスパッタし電気めっきする工程を含む、上記(1
3)に記載の高密度多層プリント回路基板を形成する方
法。 (15)前記キャリア・シートは、ポリイミドよりな
る、上記(13)に記載の高密度多層プリント回路基板
を形成する方法。 (16)前記キャリア・シートは、ステンレス銅よりな
る、上記(13)に記載の高密度多層プリント回路基板
を形成する方法。 (17)前記工程(a)は、前記接合金属を電気めっき
する工程を含む、上記813)に記載の高密度多層プリ
ント回路基板を形成する方法。 (18)前記接合金属は、金およびスズよりなる、上記
(17)に記載の高密度多層プリント回路基板を形成す
る方法。 (19)前記積層工程は、遷移液相(TLP)プロセス
を含む、上記(13)に記載の高密度多層プリント回路
基板を形成する方法。 (20)前記接合金属は、金およびスズよりなり、前記
TLPプロセスは、前記金およびスズを加熱して、金−
スズ合金を形成する工程を含む、上記(19)に記載の
高密度多層プリント回路基板を形成する方法。 (21)前記多層回路は、誘電体材料よりなる上面を定
め、前記工程(c)は、前記複数のパッドを前記プリン
ト回路基板内に圧縮して、前記複数のパッドの最外面
が、プリント回路基板の誘電体層の上面と同一面となる
ようにする工程を含む、上記(13)に記載の高密度多
層プリント回路基板を形成する方法。 (22)電子コンポーネントを、前記複数のパッドの少
なくとも1つに実装する工程をさらに含む、上記(1
3)に記載の高密度多層プリント回路基板を形成する方
法。 (23)電子コンポーネントを実装する前記工程は、は
んだボールを設ける工程を含む、上記(13)に記載の
高密度多層プリント回路基板を形成する方法。 (24)前記複数のパッドの少なくとも1つは、前記プ
リント回路基板の少なくとも2つのスルーホールを覆う
形状を有し、前記積層工程は、前記パッドを前記少なく
とも2つのスルーホールに接着する工程を含む、上記
(13)に記載の高密度多層プリント回路基板を形成す
る方法。 (25)上面に開いた複数のスルーホールを有する高密
度多層プリント回路基板にパッドを設ける方法におい
て、 a)下記工程a1〜a7を含むキャリア・シート上に複
数のパッドを形成する工程を含み、 a1)前記キャリア・シート上に銅表面層を付着して、
銅表面キャリア・シートを与える工程、 a2)前記銅表面キャリア・シートにホトレジストを設
ける工程、 a3)前記銅表面キャリア・シート上の前記ホトレジス
トを、所定のパッド・パターンで露光する工程、 a4)工程a3による露出表面を現像し洗浄して、前記
所定のパッド・パターンを有する複数の露出領域を設け
る工程、 a5)前記複数の露出領域上に銅を付着する工程、 a6)工程a5において付着された銅の上に接合金属を
付着する工程、 a7)前記キャリア・シートから、前記ホトレジストの
層および前記銅の層を除去する工程、 b)前記多層プリント回路基板の上面上のスルーホール
・パターンに位置決めして、前記複数のパッドを前記キ
ャリア・シート上に配置する工程と、 c)前記接合金属を用いて、前記上面上のスルーホール
にパッドを積層する工程と、 d)前記スルーホールに接合する前記複数のパッドから
前記キャリア・シートを分離する工程とを含む、ことを
特徴とする、高密度多層プリント回路基板にパッドを設
ける方法。 (26)前記キャリア・シートは、剥離できるポリイミ
ド層よりなる、上記(25)に記載の高密度多層プリン
ト回路基板にパッドを設ける方法。 (27)前記キャリア・シートは、剥離できるステンレ
ス鋼よりなる、上記(25)に記載の高密度多層プリン
ト回路基板にパッドを設ける方法。 (28)前記工程(a)は、前記接合金属を電気めっき
する工程を含む、上記(25)に記載の高密度多層プリ
ント回路基板にパッドを設ける方法。 (29)前記接合金属は、金およびスズよりなる、上記
(25)に記載の高密度多層プリント回路基板にパッド
を設ける方法。 (30)前記積層工程は、遷移液相(TLP)プロセス
を含む、上記(25)に記載の高密度多層プリント回路
基板にパッドを設ける方法。 (31)前記接合金属は、金およびスズよりなり、前記
TLPプロセスは、前記金およびスズを加熱して、金−
スズ合金を形成する工程を含む、上記(30)に記載の
高密度多層プリント回路基板にパッドを設ける方法。 (32)前記多層回路は、誘電体材料よりなる上面を定
め、前記工程(c)は、前記複数のパッドを前記多層構
造内に圧縮して、前記複数のパッドの最外面が、多層構
造の誘電体層の上面と同一面となるようにする工程を含
む、上記(25)に記載の高密度プリント回路基板にパ
ッドを設ける方法。 (33)電子コンポーネントを、前記複数のパッドの少
なくとも1つに実装する工程をさらに含む、上記(2
5)に記載の高密度多層プリント回路基板にパッドを設
ける方法。 (34)電子コンポーネントを実装する前記工程は、は
んだボールを設ける工程を含む、上記(33)に記載の
高密度多層プリント回路基板にパッドを設ける方法。 (35)前記複数のパッドの少なくとも1つは、前記多
層構造の少なくとも2つのスルーホールを覆う形状を有
し、前記積層工程は、前記パッドを前記少なくとも2つ
のスルーホールに接着する工程を含む、上記(25)に
記載の高密度多層プリント回路基板にパッドを設ける方
法。 (36)誘電体よりなる外面と、前記外面に、ふさがれ
た外部開口を有する複数のスルーホールと、前記開口に
接続された複数のパッドとを備え、前記パッドは、前記
開口をふさぎ、前記パッドは、関連するスルーホールと
は反対側の上部平坦面を有し、この上部平坦面は、前記
外面とほぼ同一面となるように配置される、ことを特徴
とする多層回路基板。 (37)前記パッドの少なくとも1つは、関連するスル
ーホールを覆うために円形状である、上記(36)に記
載の多層回路基板。 (38)前記パッドの少なくとも1つは、前記スルーホ
ールのうちの少なくとも2つを覆うための形状を有す
る、上記(36)に記載の多層回路基板。 (39)前記パッドは、各パッドを関連するスルーホー
ルに接続する接合金属を有する、上記(36)に記載の
多層回路基板。 (40)前記接合金属は、金−スズ合金よりなる、上記
(36)に記載の多層回路基板。 (41)多層プリント回路基板を形成する方法におい
て、複数の露出したスルーホールを有する上面を持つ上
部コアを含む、複数のコアプリント回路基板(PCB)
を形成する工程と、剥離できるキャリア層上に所定のパ
ッド・パターンで複数のパッドを形成する工程と、前記
コアPCBを、相互接続できる構成で、互いに位置決め
する工程と、前記所定のパッド・パターンを、前記上面
に合わせて位置決めする工程と、前記コアPCBおよび
複数のパッドを加熱および圧縮する工程と、前記キャリ
ア層を剥離して、前記上面のスルーホール上にパッドを
有する多層PCBを与える工程と、を含むことを特徴と
する多層プリント回路基板の形成方法。
の事項を開示する。 (1)上面に開いた複数のスルーホールを有する高密度
プリント回路基板にパッドを設ける方法において、 a)キャリア・シート上に複数のパッドを所定のパター
ンで形成する工程を含み、前記パッドの各々は、前記キ
ャリア・シートに近接する銅層と、該銅層の上部に形成
された接合金属層とを有し、 b)前記プリント回路基板の上面上のスルーホール・パ
ターンに位置決めして、前記複数のパッドを前記キャリ
ア・シート上に配置する工程と、 c)前記接合金属を用いて、前記上面上のスルーホール
にパッドを積層する工程と、 d)前記スルーホールに接合する前記複数のパッドから
前記キャリア・シートを分離して、前記銅層を露出する
工程とを含む、ことを特徴とする、高密度プリント回路
基板にパッドを設ける方法。 (2)前記工程(a)は、前記キャリア・シート上に銅
をスパッタし電気めっきする工程を含む、上記(1)に
記載の高密度プリント回路基板にパッドを設ける方法。 (3)前記キャリア・シートは、ポリイミドよりなる、
上記(1)に記載の高密度プリント回路基板にパッドを
設ける方法。 (4)前記キャリア・シートは、ステンレス銅よりな
る、上記(1)に記載の高密度プリント回路基板にパッ
ドを設ける方法。 (5)前記工程(a)は、前記接合金属を電気めっきす
る工程を含む、上記(1)に記載の高密度プリント回路
基板にパッドを設ける方法。 (6)前記接合金属は、金およびスズよりなる、上記
(5)に記載の高密度プリント回路基板にパッドを設け
る方法。 (7)前記積層工程は、遷移液相(TLP)プロセスを
含む、上記(1)に記載の高密度プリント回路基板にパ
ッドを設ける方法。 (8)前記接合金属は、金およびスズよりなり、前記T
LPプロセスは、前記金およびスズを加熱して、金−ス
ズ合金を形成する工程を含む、上記(7)に記載の高密
度プリント回路基板にパッドを設ける方法。 (9)前記回路基板は、誘電体材料よりなる上面を定
め、前記工程(c)は、前記複数のパッドを前記プリン
ト回路基板内に圧縮して、前記複数のパッドの最外面
が、プリント回路基板の誘電体層の上面と同一面となる
ようにする工程を含む、上記(1)に記載の高密度プリ
ント回路基板にパッドを設ける方法。 (10)電子コンポーネントを、前記複数のパッドの少
なくとも1つに実装する工程をさらに含む、上記(1)
に記載の高密度プリント回路基板にパッドを設ける方
法。 (11)電子コンポーネントを実装する前記工程は、は
んだボールを設ける工程を含む、上記(10)に記載の
高密度プリント回路基板にパッドを設ける方法。 (12)前記複数のパッドの少なくとも1つは、前記プ
リント回路基板の少なくとも2つのスルーホールを覆う
形状を有し、前記積層工程は、前記パッドを前記少なく
とも2つのスルーホールに接着する工程を含む、上記
(1)に記載の高密度プリント回路基板にパッドを設け
る方法。 (13)上面に複数のスルーホールを有する高密度多層
プリント回路基板を形成する方法において、 a)キャリア・シート上に複数のパッドを所定のパター
ンで形成する工程を含み、前記パッドの各々は、前記キ
ャリア・シートに近接する銅層と、この銅層の上部に形
成された接合金属層とを有し、 b)所定のスルーホール・パターンを有する複数の予め
形成されたコア回路基板を位置決めする工程を含み、前
記複数のコアは、外部に開いたスルーホールを有する上
面を有する上部コアを有し、 c)前記上面上のスルーホール・パターンに位置決めし
て、前記複数のパッドを前記キャリア・シート上に配置
する工程と、 d)前記接合金属を用いて、前記パッドを前記上面上の
スルーホールに積層し、前記複数のコアを同時に積層し
て、多層構造を得る工程と、 e)前記スルーホールに接合する前記複数のパッドから
前記キャリア・シートを分離して、前記銅層を露出する
工程とを含む、ことを特徴とする、高密度多層プリント
回路基板を形成する方法。 (14)前記工程(a)は、前記キャリア・シート上に
銅をスパッタし電気めっきする工程を含む、上記(1
3)に記載の高密度多層プリント回路基板を形成する方
法。 (15)前記キャリア・シートは、ポリイミドよりな
る、上記(13)に記載の高密度多層プリント回路基板
を形成する方法。 (16)前記キャリア・シートは、ステンレス銅よりな
る、上記(13)に記載の高密度多層プリント回路基板
を形成する方法。 (17)前記工程(a)は、前記接合金属を電気めっき
する工程を含む、上記813)に記載の高密度多層プリ
ント回路基板を形成する方法。 (18)前記接合金属は、金およびスズよりなる、上記
(17)に記載の高密度多層プリント回路基板を形成す
る方法。 (19)前記積層工程は、遷移液相(TLP)プロセス
を含む、上記(13)に記載の高密度多層プリント回路
基板を形成する方法。 (20)前記接合金属は、金およびスズよりなり、前記
TLPプロセスは、前記金およびスズを加熱して、金−
スズ合金を形成する工程を含む、上記(19)に記載の
高密度多層プリント回路基板を形成する方法。 (21)前記多層回路は、誘電体材料よりなる上面を定
め、前記工程(c)は、前記複数のパッドを前記プリン
ト回路基板内に圧縮して、前記複数のパッドの最外面
が、プリント回路基板の誘電体層の上面と同一面となる
ようにする工程を含む、上記(13)に記載の高密度多
層プリント回路基板を形成する方法。 (22)電子コンポーネントを、前記複数のパッドの少
なくとも1つに実装する工程をさらに含む、上記(1
3)に記載の高密度多層プリント回路基板を形成する方
法。 (23)電子コンポーネントを実装する前記工程は、は
んだボールを設ける工程を含む、上記(13)に記載の
高密度多層プリント回路基板を形成する方法。 (24)前記複数のパッドの少なくとも1つは、前記プ
リント回路基板の少なくとも2つのスルーホールを覆う
形状を有し、前記積層工程は、前記パッドを前記少なく
とも2つのスルーホールに接着する工程を含む、上記
(13)に記載の高密度多層プリント回路基板を形成す
る方法。 (25)上面に開いた複数のスルーホールを有する高密
度多層プリント回路基板にパッドを設ける方法におい
て、 a)下記工程a1〜a7を含むキャリア・シート上に複
数のパッドを形成する工程を含み、 a1)前記キャリア・シート上に銅表面層を付着して、
銅表面キャリア・シートを与える工程、 a2)前記銅表面キャリア・シートにホトレジストを設
ける工程、 a3)前記銅表面キャリア・シート上の前記ホトレジス
トを、所定のパッド・パターンで露光する工程、 a4)工程a3による露出表面を現像し洗浄して、前記
所定のパッド・パターンを有する複数の露出領域を設け
る工程、 a5)前記複数の露出領域上に銅を付着する工程、 a6)工程a5において付着された銅の上に接合金属を
付着する工程、 a7)前記キャリア・シートから、前記ホトレジストの
層および前記銅の層を除去する工程、 b)前記多層プリント回路基板の上面上のスルーホール
・パターンに位置決めして、前記複数のパッドを前記キ
ャリア・シート上に配置する工程と、 c)前記接合金属を用いて、前記上面上のスルーホール
にパッドを積層する工程と、 d)前記スルーホールに接合する前記複数のパッドから
前記キャリア・シートを分離する工程とを含む、ことを
特徴とする、高密度多層プリント回路基板にパッドを設
ける方法。 (26)前記キャリア・シートは、剥離できるポリイミ
ド層よりなる、上記(25)に記載の高密度多層プリン
ト回路基板にパッドを設ける方法。 (27)前記キャリア・シートは、剥離できるステンレ
ス鋼よりなる、上記(25)に記載の高密度多層プリン
ト回路基板にパッドを設ける方法。 (28)前記工程(a)は、前記接合金属を電気めっき
する工程を含む、上記(25)に記載の高密度多層プリ
ント回路基板にパッドを設ける方法。 (29)前記接合金属は、金およびスズよりなる、上記
(25)に記載の高密度多層プリント回路基板にパッド
を設ける方法。 (30)前記積層工程は、遷移液相(TLP)プロセス
を含む、上記(25)に記載の高密度多層プリント回路
基板にパッドを設ける方法。 (31)前記接合金属は、金およびスズよりなり、前記
TLPプロセスは、前記金およびスズを加熱して、金−
スズ合金を形成する工程を含む、上記(30)に記載の
高密度多層プリント回路基板にパッドを設ける方法。 (32)前記多層回路は、誘電体材料よりなる上面を定
め、前記工程(c)は、前記複数のパッドを前記多層構
造内に圧縮して、前記複数のパッドの最外面が、多層構
造の誘電体層の上面と同一面となるようにする工程を含
む、上記(25)に記載の高密度プリント回路基板にパ
ッドを設ける方法。 (33)電子コンポーネントを、前記複数のパッドの少
なくとも1つに実装する工程をさらに含む、上記(2
5)に記載の高密度多層プリント回路基板にパッドを設
ける方法。 (34)電子コンポーネントを実装する前記工程は、は
んだボールを設ける工程を含む、上記(33)に記載の
高密度多層プリント回路基板にパッドを設ける方法。 (35)前記複数のパッドの少なくとも1つは、前記多
層構造の少なくとも2つのスルーホールを覆う形状を有
し、前記積層工程は、前記パッドを前記少なくとも2つ
のスルーホールに接着する工程を含む、上記(25)に
記載の高密度多層プリント回路基板にパッドを設ける方
法。 (36)誘電体よりなる外面と、前記外面に、ふさがれ
た外部開口を有する複数のスルーホールと、前記開口に
接続された複数のパッドとを備え、前記パッドは、前記
開口をふさぎ、前記パッドは、関連するスルーホールと
は反対側の上部平坦面を有し、この上部平坦面は、前記
外面とほぼ同一面となるように配置される、ことを特徴
とする多層回路基板。 (37)前記パッドの少なくとも1つは、関連するスル
ーホールを覆うために円形状である、上記(36)に記
載の多層回路基板。 (38)前記パッドの少なくとも1つは、前記スルーホ
ールのうちの少なくとも2つを覆うための形状を有す
る、上記(36)に記載の多層回路基板。 (39)前記パッドは、各パッドを関連するスルーホー
ルに接続する接合金属を有する、上記(36)に記載の
多層回路基板。 (40)前記接合金属は、金−スズ合金よりなる、上記
(36)に記載の多層回路基板。 (41)多層プリント回路基板を形成する方法におい
て、複数の露出したスルーホールを有する上面を持つ上
部コアを含む、複数のコアプリント回路基板(PCB)
を形成する工程と、剥離できるキャリア層上に所定のパ
ッド・パターンで複数のパッドを形成する工程と、前記
コアPCBを、相互接続できる構成で、互いに位置決め
する工程と、前記所定のパッド・パターンを、前記上面
に合わせて位置決めする工程と、前記コアPCBおよび
複数のパッドを加熱および圧縮する工程と、前記キャリ
ア層を剥離して、前記上面のスルーホール上にパッドを
有する多層PCBを与える工程と、を含むことを特徴と
する多層プリント回路基板の形成方法。
【図1】キャリア・シートを示す斜視図である。
【図2】キャリア・シート上にスパッタされフラッシュ
めっきされた銅層を示す斜視図である。
めっきされた銅層を示す斜視図である。
【図3】銅層上に設けられたホトレジスト層と、所定の
パッド・パターンと、ホトレジスト層を露光する紫外線
源とを示す斜視図である。
パッド・パターンと、ホトレジスト層を露光する紫外線
源とを示す斜視図である。
【図4】未露光のホトレジストが除去された複数の露出
領域を示す斜視図である。
領域を示す斜視図である。
【図5】複数の露出領域内に形成された複数の銅層を示
す斜視図である。
す斜視図である。
【図6】複数の銅層上に接合金属を付着することによっ
て形成された複数のパッドを示す斜視図である。
て形成された複数のパッドを示す斜視図である。
【図7】残りのホトレジストおよび銅スパッタ層が除去
された、パッド形成剥離可能キャリア・シートを示す斜
視図である。
された、パッド形成剥離可能キャリア・シートを示す斜
視図である。
【図8】好適な実施例におけるパッドの1つを示す斜視
図である。
図である。
【図9】上部にパッドが形成されたキャリア・シートに
位置決めされた複数のコアを示す斜視図である。
位置決めされた複数のコアを示す斜視図である。
【図10】互いに位置決めされた複数のコアを示す斜視
図であり、キャリア・シート上のパッドを示す図であ
る。
図であり、キャリア・シート上のパッドを示す図であ
る。
【図11】積層のために配列されたコアに位置決めされ
たキャリア・シートを示す斜視図である。
たキャリア・シートを示す斜視図である。
【図12】キャップド多層回路の斜視図であり、キャリ
ア・シートが剥離される状態を示す図である。
ア・シートが剥離される状態を示す図である。
【図13】複数のコアと、コアを通るスルーホールと、
積層前にスルーホールの上部にあるパッドとを示す断面
図である。
積層前にスルーホールの上部にあるパッドとを示す断面
図である。
【図14】積層後の複数のコアの断面図であり、多層構
造内のキャップド・スルーホールと、はんだボールと、
はんだボールに接続された電気コンポーネントとを示す
図である。
造内のキャップド・スルーホールと、はんだボールと、
はんだボールに接続された電気コンポーネントとを示す
図である。
【図15】パッドの上面が、上部コアの誘電体層の上面
と同一面になる位置に、パッドが圧縮された、積層後の
複数のコアの断面図である。
と同一面になる位置に、パッドが圧縮された、積層後の
複数のコアの断面図である。
100 キャリア・シート 110 銅層 120 ホトレジスト層 145 銅層 150 円形状パッド 155 長円状パッド 210 金層 220 スズ層 301,302,303 コア 311 スルーホール 380,390 誘電体材料
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 デヴィッド・ノエル・ライト アメリカ合衆国 18818 ペンシルバニ ア州 フレンズヴィル アールディー1 ボックス 1772(番地なし) (56)参考文献 特開 平7−115280(JP,A) 特開 平6−21631(JP,A) 特開 平4−192495(JP,A) 特開 平7−66362(JP,A) 特開 平6−77073(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H05K 3/00 - 3/46
Claims (16)
- 【請求項1】上面に開いた複数のスルーホールを有する
高密度プリント回路基板にパッドを設ける方法におい
て、 a)キャリア・シート上に複数のパッドを所定のパター
ンで形成する工程を含み、前記パッドの各々は、前記キ
ャリア・シートに近接する銅層と、該銅層の上部に形成
された接合金属層とを有し、 b)前記プリント回路基板の上面上のスルーホール・パ
ターンに位置決めして、前記複数のパッドを前記キャリ
ア・シート上に配置する工程と、 c)前記接合金属を用いて、前記上面上のスルーホール
にパッドを積層する工程と、 d)前記スルーホールに接合する前記複数のパッドから
前記キャリア・シートを分離して、前記銅層を露出する
工程とを含む、 ことを特徴とする、高密度プリント回路基板にパッドを
設ける方法。 - 【請求項2】上面に複数のスルーホールを有する高密度
多層プリント回路基板を形成する方法において、 a)キャリア・シート上に複数のパッドを所定のパター
ンで形成する工程を含み、前記パッドの各々は、前記キ
ャリア・シートに近接する銅層と、この銅層の上部に形
成された接合金属層とを有し、 b)所定のスルーホール・パターンを有する複数の予め
形成されたコア回路基板を位置決めする工程を含み、前
記複数のコアは、外部に開いたスルーホールを有する上
面を有する上部コアを有し、 c)前記上面上のスルーホール・パターンに位置決めし
て、前記複数のパッドを前記キャリア・シート上に配置
する工程と、 d)前記接合金属を用いて、前記パッドを前記上面上の
スルーホールに積層し、前記複数のコアを同時に積層し
て、多層構造を得る工程と、 e)前記スルーホールに接合する前記複数のパッドから
前記キャリア・シートを分離して、前記銅層を露出する
工程とを含む、 ことを特徴とする、高密度多層プリント回路基板を形成
する方法。 - 【請求項3】上面に開いた複数のスルーホールを有する
高密度多層プリント回路基板にパッドを設ける方法にお
いて、 a)下記工程a1〜a7を含むキャリア・シート上に複
数のパッドを形成する工程を含み、 a1)前記キャリア・シート上に銅表面層を付着して、
銅表面キャリア・シートを与える工程、 a2)前記銅表面キャリア・シートにホトレジストを設
ける工程、 a3)前記銅表面キャリア・シート上の前記ホトレジス
トを、所定のパッド・パターンで露光する工程、 a4)工程a3による露出表面を現像し洗浄して、前記
所定のパッド・パターンを有する複数の露出領域を設け
る工程、 a5)前記複数の露出領域上に銅を付着する工程、 a6)工程a5において付着された銅の上に接合金属を
付着する工程、 a7)前記キャリア・シートから、前記ホトレジストの
層および前記銅の層を除去する工程、 b)前記多層プリント回路基板の上面上のスルーホール
・パターンに位置決めして、前記複数のパッドを前記キ
ャリア・シート上に配置する工程と、 c)前記接合金属を用いて、前記上面上のスルーホール
にパッドを積層する工程と、 d)前記スルーホールに接合する前記複数のパッドから
前記キャリア・シートを分離する工程とを含む、 ことを特徴とする、高密度多層プリント回路基板にパッ
ドを設ける方法。 - 【請求項4】前記工程(a)は、前記キャリア・シート
上に銅をスパッタし電気めっきする工程を含む請求項1
に記載の方法。 - 【請求項5】前記キャリア・シートは、ポリイミドより
なる請求項1に記載の方法。 - 【請求項6】前記キャリア・シートは、ステンレス銅よ
りなる請求項1に記載の方法。 - 【請求項7】前記工程(a)は、前記接合金属を電気め
っきする工程を含む請求項1に記載の方法。 - 【請求項8】前記接合金属は、金およびスズよりなる請
求項7に記載の方法。 - 【請求項9】前記積層工程は、遷移液相(TLP)プロ
セスを含む請求項1に記載の方法。 - 【請求項10】前記接合金属は、金およびスズよりな
り、前記TLPプロセスは、前記金およびスズを加熱し
て、金−スズ合金を形成する工程を含む請求項9に記載
の方法。 - 【請求項11】前記回路基板は、誘電体材料よりなる上
面を定め、前記工程(c)は、前記複数のパッドを前記
プリント回路基板内に圧縮して、前記複数のパッドの最
外面が、プリント回路基板の誘電体層の上面と同一面と
なるようにする工程を含む請求項1に記載の方法。 - 【請求項12】電子コンポーネントを、前記複数のパッ
ドの少なくとも1つに実装する工程をさらに含む請求項
1に記載の方法。 - 【請求項13】電子コンポーネントを実装する前記工程
は、はんだボールを設ける工程を含む請求項12に記載
の高密度プリント回路基板にパッドを設ける方法。 - 【請求項14】前記複数のパッドの少なくとも1つは、
前記プリント回路基板の少なくとも2つのスルーホール
を覆う形状を有し、前記積層工程は、前記パッドを前記
少なくとも2つのスルーホールに接着する工程を含む請
求項1に記載の方法。 - 【請求項15】多層プリント回路基板を形成する方法に
おいて、 複数の金属めっきスルーホールの開口が上面に露出して
いる上部コアを含む、複数のコアプリント回路基板(P
CB)を用意する工程と、 前記スルーホール開口を覆って融着すべき大きさおよび
材料の接合金属層を含む金属積層構造の複数のパッドが
所定のパッド・パターンでシート基層上に剥離可能に設
けられているキャリア・シートを用意する工程と、 前記複数のPCBを、相互接続できる構成で、互いに位
置決めする工程と、 前記複数のパッドがそれぞれ対応する前記スルーホール
開口を覆って整置されるように前記キャリア・シートを
前記PCB上面に合わせて位置決めする工程と、 前記スルーホール開口とそれらを覆うパッドとの融着面
が前記PCB上面から押し込まれたレベルに位置するよ
うに前記PCBおよび複数のパッドを加熱および圧縮す
る工程と、 前記キャリア・シートを剥離して、前記スルーホール開
口が前記パッドで覆われている多層PCBを与える工程
と、 を含むことを特徴とする多層プリント回路基板の形成方
法。 - 【請求項16】前記加熱および圧縮する工程は、前記パ
ッドが前記PCB上面と実質的に平坦面化されるまで行
なうことを特徴とする請求項15に記載の方法。」
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Families Citing this family (43)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5632631A (en) | 1994-06-07 | 1997-05-27 | Tessera, Inc. | Microelectronic contacts with asperities and methods of making same |
US5773195A (en) * | 1994-12-01 | 1998-06-30 | International Business Machines Corporation | Cap providing flat surface for DCA and solder ball attach and for sealing plated through holes, multi-layer electronic structures including the cap, and a process of forming the cap and for forming multi-layer electronic structures including the cap |
US6002177A (en) * | 1995-12-27 | 1999-12-14 | International Business Machines Corporation | High density integrated circuit packaging with chip stacking and via interconnections |
US5829124A (en) * | 1995-12-29 | 1998-11-03 | International Business Machines Corporation | Method for forming metallized patterns on the top surface of a printed circuit board |
US6307659B1 (en) | 1997-09-24 | 2001-10-23 | Stratos Lightwave, Inc. | Optoelectronic transceiver having an adaptable logic level signal detect output |
US6713707B2 (en) | 1997-10-16 | 2004-03-30 | Magna International, Inc. | Welding material and method without carrier |
US6621037B2 (en) * | 1997-10-16 | 2003-09-16 | Magna International Inc. | Welding material with conductive sheet and method |
US6689982B2 (en) | 1997-10-16 | 2004-02-10 | Magna International, Inc. | Apparatus and method for welding aluminum tubes |
US6009632A (en) * | 1997-12-12 | 2000-01-04 | Mercury Diagnostics, Inc. | Alignment system for optical analyte testing meter components |
US6373269B1 (en) * | 1998-10-13 | 2002-04-16 | Frederick J. Holmes | Circuit board particularly adapted for use with high density test point in-circuit testers |
JP3973340B2 (ja) * | 1999-10-05 | 2007-09-12 | Necエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置、配線基板、及び、それらの製造方法 |
US6686653B2 (en) * | 2000-06-28 | 2004-02-03 | Institut National D'optique | Miniature microdevice package and process for making thereof |
US6884313B2 (en) * | 2001-01-08 | 2005-04-26 | Fujitsu Limited | Method and system for joining and an ultra-high density interconnect |
US6429390B1 (en) | 2001-03-12 | 2002-08-06 | International Business Machines Corporation | Structure and method for forming the same of a printed wiring board having built-in inspection aids |
JP3675407B2 (ja) * | 2001-06-06 | 2005-07-27 | 株式会社デンソー | 電子装置 |
US6663786B2 (en) * | 2001-06-14 | 2003-12-16 | International Business Machines Corporation | Structure having embedded flush circuitry features and method of fabricating |
US6740567B2 (en) * | 2001-06-20 | 2004-05-25 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd | Laminating method for forming integrated circuit microelectronic fabrication |
KR100416000B1 (ko) * | 2001-07-11 | 2004-01-24 | 삼성전자주식회사 | 다수의 핀을 갖는 부품이 실장되는 인쇄회로기판 |
KR20070074001A (ko) | 2002-03-05 | 2007-07-10 | 히다치 가세고교 가부시끼가이샤 | 수지 부착 금속박, 금속 피복 적층판, 그를 이용한 프린트배선판 및 그의 제조 방법 |
US20030234276A1 (en) * | 2002-06-20 | 2003-12-25 | Ultratera Corporation | Strengthened bonding mechanism for semiconductor package |
US6876088B2 (en) | 2003-01-16 | 2005-04-05 | International Business Machines Corporation | Flex-based IC package construction employing a balanced lamination |
US6867121B2 (en) * | 2003-01-16 | 2005-03-15 | International Business Machines Corporation | Method of apparatus for interconnecting a relatively fine pitch circuit layer and adjacent power plane(s) in a laminated construction |
US7253510B2 (en) | 2003-01-16 | 2007-08-07 | International Business Machines Corporation | Ball grid array package construction with raised solder ball pads |
US6994918B2 (en) * | 2003-08-12 | 2006-02-07 | Johnson Morgan T | Selective application of conductive material to circuit boards by pick and place |
US7416106B1 (en) * | 2003-09-29 | 2008-08-26 | Emc Corporation | Techniques for creating optimized pad geometries for soldering |
TWI262041B (en) * | 2003-11-14 | 2006-09-11 | Hitachi Chemical Co Ltd | Formation method of metal layer on resin layer, printed wiring board, and production method thereof |
US7332817B2 (en) * | 2004-07-20 | 2008-02-19 | Intel Corporation | Die and die-package interface metallization and bump design and arrangement |
US7390735B2 (en) * | 2005-01-07 | 2008-06-24 | Teledyne Licensing, Llc | High temperature, stable SiC device interconnects and packages having low thermal resistance |
US7353479B2 (en) * | 2005-01-31 | 2008-04-01 | Faraday Technology Corp. | Method for placing probing pad and computer readable recording medium for storing program thereof |
US7830021B1 (en) * | 2005-09-06 | 2010-11-09 | Rockwell Collins, Inc. | Tamper resistant packaging with transient liquid phase bonding |
JP4295767B2 (ja) * | 2006-01-10 | 2009-07-15 | 日本特殊陶業株式会社 | コンデンサ |
JP2008205132A (ja) * | 2007-02-19 | 2008-09-04 | Nec Corp | プリント配線板及びこれとフレキシブルプリント基板とのはんだ接続構造並びに方法 |
TWI455671B (zh) * | 2007-10-23 | 2014-10-01 | Ube Industries | 印刷電路板之製造方法 |
JP2008263222A (ja) * | 2008-06-23 | 2008-10-30 | Ibiden Co Ltd | 多層プリント配線板 |
JP2009143233A (ja) * | 2008-12-24 | 2009-07-02 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | キャリア付金属箔 |
US8552311B2 (en) * | 2010-07-15 | 2013-10-08 | Advanced Bionics | Electrical feedthrough assembly |
JP5430002B2 (ja) * | 2010-08-31 | 2014-02-26 | 京セラSlcテクノロジー株式会社 | 配線基板およびその製造方法 |
US8431445B2 (en) | 2011-06-01 | 2013-04-30 | Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. | Multi-component power structures and methods for forming the same |
FR2994304A1 (fr) * | 2012-08-02 | 2014-02-07 | St Microelectronics Tours Sas | Puce a montage en surface |
CN108140138A (zh) * | 2015-04-14 | 2018-06-08 | 第资本服务公司 | 具有emv接口的动态交易卡和制造方法 |
US9990795B2 (en) | 2015-04-14 | 2018-06-05 | Capital One Services, Llc | Dynamic transaction card with EMV interface and method of manufacturing |
ES2928498T3 (es) | 2019-05-07 | 2022-11-18 | Light Med Usa Inc | Método de fase líquida transitoria de plata-indio de unión de dispositivo semiconductor y soporte de dispersión de calor y estructura semiconductora que tiene una junta de unión de fase líquida transitoria de plata-indio |
CN113936545B (zh) * | 2021-10-15 | 2024-01-16 | 业成科技(成都)有限公司 | 背光模组及其制造方法 |
Family Cites Families (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US535523A (en) * | 1895-03-12 | Fire-escape | ||
ES316614A1 (es) * | 1964-08-24 | 1966-07-01 | Gen Electric | Un procedimiento para preparar una composicion electronicamente conductora. |
US3832769A (en) * | 1971-05-26 | 1974-09-03 | Minnesota Mining & Mfg | Circuitry and method |
US3781596A (en) * | 1972-07-07 | 1973-12-25 | R Galli | Semiconductor chip carriers and strips thereof |
US4016050A (en) * | 1975-05-12 | 1977-04-05 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Conduction system for thin film and hybrid integrated circuits |
US3986939A (en) * | 1975-01-17 | 1976-10-19 | Western Electric Company, Inc. | Method for enhancing the bondability of metallized thin film substrates |
DE3036260A1 (de) * | 1980-09-26 | 1982-04-29 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren zur herstellung von elektrischen kontakten an einer silizium-solarzelle |
US4648179A (en) * | 1983-06-30 | 1987-03-10 | International Business Machines Corporation | Process of making interconnection structure for semiconductor device |
US4879156A (en) * | 1986-05-02 | 1989-11-07 | International Business Machines Corporation | Multilayered ceramic substrate having solid non-porous metal conductors |
US4851614A (en) * | 1987-05-22 | 1989-07-25 | Compaq Computer Corporation | Non-occluding mounting hole with solder pad for printed circuit boards |
US4832255A (en) * | 1988-07-25 | 1989-05-23 | International Business Machines Corporation | Precision solder transfer method and means |
JPH0298190A (ja) * | 1988-10-04 | 1990-04-10 | Mitsubishi Electric Corp | プリント配線板 |
US5113579A (en) * | 1989-06-30 | 1992-05-19 | Semicon Components, Inc. | Method of manufacturing hybrid integrated circuit |
US5015538A (en) * | 1989-09-22 | 1991-05-14 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Process for pulse electroplating electroactive polymers and articles derived therefrom |
US5611140A (en) * | 1989-12-18 | 1997-03-18 | Epoxy Technology, Inc. | Method of forming electrically conductive polymer interconnects on electrical substrates |
JP2940269B2 (ja) * | 1990-12-26 | 1999-08-25 | 日本電気株式会社 | 集積回路素子の接続方法 |
US5338900A (en) * | 1991-03-06 | 1994-08-16 | International Business Machines Corporation | Structures for electrically conductive decals filled with inorganic insulator material |
US5306872A (en) * | 1991-03-06 | 1994-04-26 | International Business Machines Corporation | Structures for electrically conductive decals filled with organic insulator material |
US5116459A (en) * | 1991-03-06 | 1992-05-26 | International Business Machines Corporation | Processes for electrically conductive decals filled with organic insulator material |
JPH05114448A (ja) * | 1991-10-21 | 1993-05-07 | Fujitsu Ltd | 後付け部品のはんだ付け方法 |
US5239448A (en) * | 1991-10-28 | 1993-08-24 | International Business Machines Corporation | Formulation of multichip modules |
JP2910397B2 (ja) * | 1992-04-22 | 1999-06-23 | 日本電気株式会社 | 半田接続方法 |
US5305523A (en) * | 1992-12-24 | 1994-04-26 | International Business Machines Corporation | Method of direct transferring of electrically conductive elements into a substrate |
US5288951A (en) * | 1992-10-30 | 1994-02-22 | At&T Bell Laboratories | Copper-based metallizations for hybrid integrated circuits |
JP2716336B2 (ja) * | 1993-03-10 | 1998-02-18 | 日本電気株式会社 | 集積回路装置 |
US5323947A (en) * | 1993-05-03 | 1994-06-28 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for use in forming pre-positioned solder bumps on a pad arrangement |
US5773195A (en) * | 1994-12-01 | 1998-06-30 | International Business Machines Corporation | Cap providing flat surface for DCA and solder ball attach and for sealing plated through holes, multi-layer electronic structures including the cap, and a process of forming the cap and for forming multi-layer electronic structures including the cap |
US5829124A (en) * | 1995-12-29 | 1998-11-03 | International Business Machines Corporation | Method for forming metallized patterns on the top surface of a printed circuit board |
US5764485A (en) * | 1996-04-19 | 1998-06-09 | Lebaschi; Ali | Multi-layer PCB blockade-via pad-connection |
US5819401A (en) * | 1996-06-06 | 1998-10-13 | Texas Instruments Incorporated | Metal constrained circuit board side to side interconnection technique |
-
1995
- 1995-12-29 US US08/580,678 patent/US5829124A/en not_active Expired - Fee Related
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