JP3145294B2 - 薄膜トランジスタからなる物品とその製造方法 - Google Patents
薄膜トランジスタからなる物品とその製造方法Info
- Publication number
- JP3145294B2 JP3145294B2 JP34545495A JP34545495A JP3145294B2 JP 3145294 B2 JP3145294 B2 JP 3145294B2 JP 34545495 A JP34545495 A JP 34545495A JP 34545495 A JP34545495 A JP 34545495A JP 3145294 B2 JP3145294 B2 JP 3145294B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- organic semiconductor
- thin film
- semiconductor material
- film transistor
- article
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 36
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 13
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 10
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 7
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims description 6
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 6
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 6
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 claims description 5
- 125000001544 thienyl group Chemical group 0.000 claims description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 4
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 claims description 3
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 38
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 8
- 239000010408 film Substances 0.000 description 8
- 230000037230 mobility Effects 0.000 description 8
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 7
- 238000004151 rapid thermal annealing Methods 0.000 description 7
- KXSFECAJUBPPFE-UHFFFAOYSA-N 2,2':5',2''-terthiophene Chemical group C1=CSC(C=2SC(=CC=2)C=2SC=CC=2)=C1 KXSFECAJUBPPFE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 6
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 5
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 5
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- MZRVEZGGRBJDDB-UHFFFAOYSA-N N-Butyllithium Chemical compound [Li]CCCC MZRVEZGGRBJDDB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 4
- AUHZEENZYGFFBQ-UHFFFAOYSA-N mesitylene Substances CC1=CC(C)=CC(C)=C1 AUHZEENZYGFFBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000001827 mesitylenyl group Chemical group [H]C1=C(C(*)=C(C([H])=C1C([H])([H])[H])C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 4
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 4
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 4
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000012442 inert solvent Substances 0.000 description 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 3
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 3
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000000113 differential scanning calorimetry Methods 0.000 description 2
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000003760 magnetic stirring Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 239000012265 solid product Substances 0.000 description 2
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RDMHXWZYVFGYSF-LNTINUHCSA-N (z)-4-hydroxypent-3-en-2-one;manganese Chemical compound [Mn].C\C(O)=C\C(C)=O.C\C(O)=C\C(C)=O.C\C(O)=C\C(C)=O RDMHXWZYVFGYSF-LNTINUHCSA-N 0.000 description 1
- VWVRASTUFJRTHW-UHFFFAOYSA-N 2-[3-(azetidin-3-yloxy)-4-[2-(2,3-dihydro-1H-inden-2-ylamino)pyrimidin-5-yl]pyrazol-1-yl]-1-(2,4,6,7-tetrahydrotriazolo[4,5-c]pyridin-5-yl)ethanone Chemical compound O=C(CN1C=C(C(OC2CNC2)=N1)C1=CN=C(NC2CC3=C(C2)C=CC=C3)N=C1)N1CCC2=C(C1)N=NN2 VWVRASTUFJRTHW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N Ethane Chemical compound CC OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N benzophenone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)C1=CC=CC=C1 RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012965 benzophenone Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910021387 carbon allotrope Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L copper(II) chloride Chemical compound Cl[Cu]Cl ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 238000001493 electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 239000003480 eluent Substances 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000000706 filtrate Substances 0.000 description 1
- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- LZKLAOYSENRNKR-LNTINUHCSA-N iron;(z)-4-oxoniumylidenepent-2-en-2-olate Chemical compound [Fe].C\C(O)=C\C(C)=O.C\C(O)=C\C(C)=O.C\C(O)=C\C(C)=O LZKLAOYSENRNKR-LNTINUHCSA-N 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- WGOPGODQLGJZGL-UHFFFAOYSA-N lithium;butane Chemical compound [Li+].CC[CH-]C WGOPGODQLGJZGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229920003223 poly(pyromellitimide-1,4-diphenyl ether) Polymers 0.000 description 1
- 229920000128 polypyrrole Polymers 0.000 description 1
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 238000000967 suction filtration Methods 0.000 description 1
- 239000006228 supernatant Substances 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000003828 vacuum filtration Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
- -1 α-5T Chemical class 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/649—Aromatic compounds comprising a hetero atom
- H10K85/655—Aromatic compounds comprising a hetero atom comprising only sulfur as heteroatom
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0009—RRAM elements whose operation depends upon chemical change
- G11C13/0014—RRAM elements whose operation depends upon chemical change comprising cells based on organic memory material
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/10—Organic polymers or oligomers
- H10K85/111—Organic polymers or oligomers comprising aromatic, heteroaromatic, or aryl chains, e.g. polyaniline, polyphenylene or polyphenylene vinylene
- H10K85/113—Heteroaromatic compounds comprising sulfur or selene, e.g. polythiophene
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K10/00—Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
- H10K10/40—Organic transistors
- H10K10/46—Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
- H10K10/462—Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
- H10K10/464—Lateral top-gate IGFETs comprising only a single gate
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K10/00—Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
- H10K10/40—Organic transistors
- H10K10/46—Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
- H10K10/462—Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
- H10K10/466—Lateral bottom-gate IGFETs comprising only a single gate
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
- Heterocyclic Carbon Compounds Containing A Hetero Ring Having Oxygen Or Sulfur (AREA)
Description
る薄膜トランジスタ(TFT)、及びその製造方法に関
する。
ransistor)はよく知られていて、商業的に大変な発展
を見せている。例えば、アモルファスシリコン・ベース
のTFTは、活性マトリクス液晶表示器の大部分で使わ
れている。
れ以下の論文を見るとよい。即ち、エフ・ガーニエル
(F. Garnier)他著、Science, Vol.265、1684〜16
86ページ、エイチ・コエズカ(H. Koezuka)他著、Appl
ied Physics Letters, Vol.62(15)、1794〜179
6ページ、エイチ・フチガミ(H. Fuchigami)他著、Appl
ied Physics Letters Vol.63(10)、1372〜1374
ページ、ジー・ホロビッツ(G. Horowitz)他著、J. Appl
ied Physics, Vol.70(1)、469〜475ページ、及び
G.ホロビッツ(Horowitz)他著、Synthetic Metals,Vo
l.41-43、1127〜1130ページの各論文を見ると
よい。これらのデバイスは電界効果トランジスタ(FE
T)である。このようなデバイスは従来技術のTFTよ
りも以下のようなかなりの利点を有する。即ち、潜在的
により単純な(よって安い)製造工程、低温度処理の可
能及び非ガラス(例えばプラスチック)基板との互換性
の利点である。p型及びn型の双方の有機物質を利用す
るバイポーラートランジスタはまたよく知られている。
例えば、米国特許の第5,315,129号を見るとよ
い。エス・ミヤウチ(S. Miyauchi)他著の論文、Synthet
ic Metals, 41-43(1991)、1155〜1158ページ、
はn型シリコン上のp型ポリチオフェン(polythiophen
e)層からなる接合FETを開示する。
わらず、「有機」TFTはまだ商業化には達していな
い。これは少なくとも従来技術の有機TFTの貧弱なデ
バイス特性のためである。
ス特性として、ソース/ドレイン電流のオン/オフ比が
ある。従来の有機TFTは比較的低いオン/オフ比を有
し、例えば、エイチ・フチガミ(H. Fuchigami)他(前
掲)は最近、キャリヤ移動度がアモルファスシリコンに
相当するがオン/オフ比が約20だけであるデバイスを
報告した。この論文は不純物によるキャリヤ散乱を減ら
すための半導体材料の純度向上(PTV)もまた開示す
る。この物質は、10-5〜10-6S/cmの範囲の導電
率を有した。
は、ドープされたポリピロール(高導電性高分子)コー
トのソース及びドレイン接点のデバイスで約105のチ
ャネル電流のオン/オフ比(変調比)の達成を報告し
た。これらの著者によれば、これらは有機FETで達せ
られたオン/オフ比での最高値である。報告されたオン
/オフ比は、まだ従来のFETで可能なオン/オフ比よ
りかなり小さいにもかかわらず、多くの有機TFTの潜
在的な応用のために需要が高い。さらに、有機TFTは
非常に低いキャリヤ移動度を有し(2×10-4cm2/
V・s)、高速動作には適していない。
在性を考えると、ソース/ドレイン電流の改善されたオ
ン/オフ比を含む改善した特性を有するデバイスが望ま
れ、この明細書はこのようなデバイス及びその製造方法
を開示する。
炭素の同素体(ダイヤモンドを除く)からなる物質であ
り、室温(20゜C)で少なくとも10-3cm2/V・sの
電荷キャリヤ移動度を示す。TFTに用いる有機半導体
は、20゜Cで約1S/cm以下の導電率を有する。
は有機半導体であり、ここでのフェルミ・エネルギー
は、物質に存在する分子又は集団の最低非占有軌道のエ
ネルギーよりも最高占有軌道のエネルギーに近い(遠
い)。この用語はまた、負キャリヤよりも多く(少な
く)効率的に正電荷キャリヤを輸送する有機半導体を意
味する。正(負)キャリヤは、「正孔」(「電子」)と
一般に呼ぶ。
/オフ比を改善した有機TFTからなる装置に実装さ
れ、製造方法も開示する。
る間隔をあけられる第1及び第2接点(例えば、金電
極)、並びに第1及び第2接点の双方とから間隔をあけ
られて、自身に印加される電圧及び第1と第2接点間の
電流により制御に用いられる第3接点手段からなる。層
の有機物質は、α-クアテルチエニレン(α-quaterthie
nylene)(α-4T)、α-ヘキサチエニレン(α-hexat
hienylene)(α-6T)、α-オクタチエニレン(α-oc
tathienylene)(α-8T)、α-ペンタチエニレン(α
-pentathienylene)(α-5T)、α-ヘプタチエニレン
(α-heptathienylene)(α-7T)、及びα-ノナチエ
ニレン(α-nonathienylene)(α-9T)からなる群よ
り選択され、上記各物質は、終端環の4番又は5番の炭
素上の置換基有することができ(これらの化合物は共同
で、4から9の整数nを用いて、「α-nT」として呼
ぶ)、前記有機物質層は、既蒸着で又は急速熱アニール
(焼きなまし)の後でのいずれでも、20゜Cで高々5×
10-8S/cm(好ましくは1×10-8S/cm以下)
の導電率を有す。有機層物質はここでは、α-6T又は
α-8Tが好ましく、α-6Tがもっとも好まれる。
例えば、α-6Tを、非常に低い導電率の活性層からな
るTFTをもたらす方法で作り、蒸着し、この低い導電
率の活性層からなるTFTは、かなり改善されたソース
/ドレイン電流オン/オフ比を含む、大いに改善した特
性を有した。この活性層物質からなるTFTは、本発明
の発明者らが共同で出願した名称が「有機薄膜トランジ
スタからなる装置(Article Comprising an Organic Thi
n Film Transistor)」である特許出願で記述される、
(2層)TFTの値に相当するオン/オフ比を有する。
従って本発明は、必要条件ではないが、単一の有機層を
有し、これは「活性」層である(前記活性層上の保護層
等は含まれる)。
は8)活性層からなるTFTの製造方法を含む。この方
法は基板上にα-mTを供給して、α-mT層を蒸着す
る。α-mTは、有機溶媒で5の位置で脱プロトン化し
たα-(m/2)チエニルを供給する過程により作り出
す。重要なことに、前記のα-mTを作る過程は、α-m
T含有混合物を形成し前記α-mTを混合物から孤立す
るように、非ハロゲン化酸化剤と有機溶媒中の前記α-
(m/2)チエニルを接する段階からさらになる。後で
詳細に記述するように、「分離」段階は複数のサブステ
ップからなる。
が、上記に定めた群α-nTの各要素を特定の導電率需
要に合わせるため、合成処理してもよい。α-6Tのよ
うな化合物を製造する従来の方法が、Chemical Abstrac
ts, Vol.114, p.22, item 186387g (1991)にて開示され
ている。
Tは従来のα-6Tと比べて、キャリヤ濃度に関してだ
けではなく、物質を特徴づける融点、X線回折パター
ン、元素解析のような特性において異なる。これらの相
違は本発明の活性層物質が、類似する従来の物質と質的
に異なる新物質であることを裏付ける。しかしながら我
々は、本発明の物質を類似する従来の物質に一般に使わ
れる化学名により呼ぶ。
Tは、既蒸着状態で20゜Cで106より大きいオン/オ
フ比を示す。これは従来の有機TFTにより示されたオ
ン/オフ比よりもかなり高い(例えば102の倍数
で)。本発明のTFTの例の活性層は、20゜Cで少しだ
けp型であった。
効果トランジスタ(MIS-FET)型の従来の有機T
FT10を概略的に示す。ここで符号11〜16はそれ
ぞれ、基板、第1電極(例えばソース電極)、第2電極
(例えばドレイン電極)、第3電極(ゲート電極)、絶
縁体層及び活性層を表す。
を概略的に示す。トランジスタ20はまた、基板11
(例えばコップ、シリコン又はプラスチックの素地)、
第1及び第2接点12、13、第3接点14、ゲート誘
電体15及び活性層16からなる。トランジスタ20が
従来のトランジスタ10と比べて幾何学的に同じことが
わかる。しかしながら、このトランジスタ20は、従来
の物質とかなり異なる活性層物質からなり、従来の有機
TFTと比べて改善された性能をもたらす(例えばかな
り高いソース/ドレイン電流のオン/オフ比)。
FET型の有機TFTの例を描く。符号31〜35はそ
れぞれ、基板、活性層、第1、第2及び第3接点を表
す。
μmのチャネル長、250μmのゲート長で、熱的に酸
化させられた導電性Si基板上に製造した。酸化物は、
ゲート誘電体として機能させ、300nmの厚さであっ
た。ゲート領域はSiに金のオーム接触により接した。
金のソース及びドレイン接点は酸化ケイ素上にリソグラ
フィーで定められた。有機活性層を次に、室温及び10
-6torrの圧力でアセンブリ全体への蒸発により形成し
た。活性層は50nmの厚さで、熱処理はしなかった。
測定は元の場所(in situ)で、真空でされた。
記述するように準備した上述のTFTから得られたドレ
イン電圧に対するドレイン電流の曲線を示す。
は正、ドレイン電圧−100V)は約10-11Aであ
り、オン/オフ比は106より大きかった。20゜Cでの
既蒸着のα-6Tが10-8S/cm、(約10-9S/c
m)より下の導電率を有し、かろうじてp型あった(即
ち真性半導体であった)、ゲート電圧0〜60Vの曲線
でのかなりの重複が認識できる。
ーピングのために幾分より高い導電率(約1.4×10
-8S/cm)であること以外は上述のTFTと類似する
結果を示す。キャリヤ移動度は1−2×10-2cm2/
V・sであり、オン/オフ比は20〜−80Vのゲート
電圧に対して106より大きかった。
物質調合は本発明のTFTにおいて大変重要である。我
々は次に非常に低い導電率の物質を生じさせ、20゜Cで
例として5×10-8S/cm以下であるα-6Tを製造
する方法を記述する。TFTでのこの物質の使用は非常
に低いオフ電流をもたらし、即ち、とりわけ高いオン/
オフ比及びTFTの良い動的応答の機能をもたらす。近
似化合物のα-8T及びα-4Tは同様の方法で作られ
る。
の重量のトルエンで溶かし、クロマトグラフィーカラム
でこの液の10倍の重量のヘキサンで満たされたシリカ
ゲルに作用させた。α-テルチエニルをヘキサンで満た
されたカラムから溶離し、溶離液は真空で濃縮した。精
製したα-テルチエニル(4.5g)を、ナトリウムベン
ゾフェノンケチル(sodium benzophenone ketyl)から蒸
留したばかりの400mlのテトラヒドロフラン(TH
F:tetrahydrofuran)とともに磁石攪拌棒を備えた丸底
フラスコに入れた。フラスコはゴム栓で栓をした。溶液
を窒素を用いて浄化し、窒素下で−70゜C以下まで冷や
した(磁石攪拌を行いながら)。ヘキサン中に2.5M
のn-ブチルリチウム(n-butyllithium)の7.3mlを含
む注射器を10分かけて針経由で栓を通してフラスコの
中に全量注入し、その後の20分で−70゜C以下で攪拌
した。5番の位置で脱プロトン化されたα-テルチエニ
ル、即ち5-lithio-α-テルチエニル(5-lithio-α-tert
hienyl)の相当な量の形成をもたらした。沈殿物が形成
した。得られた懸濁液を、例えば試薬級鉄アセチルアセ
トネート(アセチルアセトン化鉄:ferric acetylaceto
nate)の6.4gである脱ハロゲン処理をした酸化剤試
薬、及び窒素下で−70゜C以下に冷やした150mlの
THFを含む第2の攪拌されたフラスコに管経由で加え
た。この低温は加えた後の1時間持続させた。次に混合
物を室温まで5〜20時間以上かけて暖めた。手順の残
りはα-6Tの分離に向けられた。
0mlのエチルエーテル、1%HCl水溶液300m
l、(蒸留)水300ml、エタノール100ml及び
エーテルの100mlの順で洗浄し、粗い固体3.5g
を得た。その固体を、1%Na2CO3水溶液、水、再び
水、エタノール、メチルエチルケトン、及びトルエンの
各100mlでさらに洗い、ここですべては沸点の下ま
で熱せられ、激しく震動させて激しい沸騰を防いだ。沸
点が120゜C以上の不活性溶媒(例えば、沸騰メジチレ
ン(mesitylene))800mlを窒素下で1時間用いて、
溶解しなかった固体を抽出した。その抽出物は、受ける
フラスコで沸騰しているものと同じ溶媒(例えばメジチ
レン)の蒸気で熱したろうとを通して、沸点下でろ過し
た。ろ液を室温に冷やし、結晶が得られた。上澄み液は
吸引ろ過により結晶から分離し、溶解しなかった固体は
さらに抽出するのに用いた。総量1.5gの結晶を得
た。このように作った結晶の200〜300mgの部分
を、直径5cmで6〜12cmの高さで測定するガラス
昇華器の底に置いた。その物質は、10-4torrで約30
0゜Cでの加熱により1cm以上ガラス管に沿って昇華し
た。真空下で室温まで冷やした後、昇華物質をガラス束
管からこすり取った。
にかなり影響する特徴を有する。その1つとして、例え
ば鉄アセチルアセトネートである脱ハロゲン処理をした
酸化剤の使用がある。我々は従来のα-6T(例えば塩
化銅から作ったα-6T)がかなりの量の塩素(典型的
には0.1〜1重量%)を有するという驚くべき観測を
した。我々の知識によれば、この望ましくない構成要素
の存在は今まで知られていなく、本発明のα-6Tから
のハロゲンの不在(塩素又は他のハロゲンが0.1重量
%未満、好ましくは0.05重量%未満)は低い導電率
や高移動度の達成に重要である。この製造方法によるα
-6Tは従って元素分析で従来のα-6Tと異なる。
120゜Cより大きい沸点の不活性溶媒(例えば、メジチ
レン)を用いて固体を抽出する段階と、その抽出物を結
晶化することによりα-6Tを分離する段階からさらに
なる。本方法は、(前もって洗われた)粗の固体産生物
を多段階過程で洗浄する段階と、その洗浄固体産生物
を、典型的には1cm以上である相当な距離昇華させる
段階とからさらになる。
従来報告されたα-6Tの融点の280〜307゜Cの範
囲の融点とはかなり違う融点を有するという驚くべき発
見をした。具体的には、窒素下で差分走査熱量測定を用
いて、本発明のα-6Tの融点が、図8で示すように、
約313゜Cであるのが分かった。
に、α-6TのX線回折パターンの本発明のものと出版
された従来のものとの間のかなりの相違が生じるのを見
いだした。前者は本発明のα-6Tで、後者は従来のα-
6Tの文献の回折パターンである。ビー・セルベット
(B. Servet)他著の論文、Advanced Materials, Vol. 5
(6), (1993)、461ページ、を見るとよい。
より鋭いX線ピークを有する。具体的には、従来技術
(上記のビー・セルベット(B. Servet)他著の論文を見
るとよい)の約20゜と約22.5゜のピークは、それ
ぞれ本発明のα-6Tにおいては少なくとも2つのピー
クに分解されている。
6Tよりも、安定し密集し整然とした結晶構造の蒸着フ
ィルムを可能とすることを指示する。実際、電子顕微鏡
により、本発明のα-6Tの既蒸着の膜が(室温で基板
上に蒸着された)、異方性を有する100〜200nm
の長さの大きな板状体からなることができ、これらは相
互に結合していることを確証した。このことは類似方法
で蒸着したお互い分離される従来のα-6T膜とは対照
的である(ビー・セルベット(B. Servet)他著、Chemist
ry of Materials, Vol. 6, (1994)、1809ページを
見るとよい)。これらの構造上の差はキャリヤ移動度の
相違に反映する。本発明のα-6T膜は約10-2cm2/
V・sの移動度を有することができ、上述の従来の物質
が2×10-3cm2/V・sだけの移動度を有することと
対照的である。
善、例えばソース/ドレイン電流の高いオン/オフ比の
達成、に重要である。特に、高いハロゲン含量の活性層
物質が比較的低いキャリヤ移動度を有する傾向があるの
で、0.1重量%より下(好ましくは0.05重量%より
下)のハロゲン含有量は本発明の活性層物質の重要な点
である。
変更は可能である。例を挙げると、メジチレンの極性と
類似する代替の不活性溶媒(例えばキシレン)が、n-
ブチルリチウムの代わりに他の金属-アルキル試薬(例
えば、sec-ブチルリチウム(sec-butyllithium))が、他
の脱ハロゲン処理酸化剤(例えば鉄トリフルオロ-アセ
チルアセトネート(トリフルオロ-アセチルアセトン化
鉄:ferric trifluoro-acetylacetonate)、マンガン(I
II)アセチルアセトネート(manganese (III) acetylace
tonate))が使われる。さらに、本方法はα-6Tの合成
に限定されず、自明な変更(例えば出発物質並びに溶
媒、昇華温度と圧力の量及び温度)をして、α-4Tと
α-8Tの調合、及びα-4Tやα-8Tのα-6Tを端置
換した誘導体のような近似化合物の調合に適用され、さ
らに、少なくとも本方法の純度向上の点は、自明な変更
(例えば適切な極性と沸点の溶媒の使用、昇華の温度と
圧力)をして、α-5T、α-7T及びα-9T並びにこ
れらの4又は5位置が置換した誘導体のような他の近似
化合物に適用できる。
(例えば50mg)が従来の蒸発器(エバポレータ)シ
ステムの中で従来のタングステンボートの中に置いた。
蒸発チャンバの底圧力は約10-7torrであった。ボート
は約300゜Cに暖め、厚さ50nmのα-6Tフィルム
が室温で適当な基板上に一様に蒸着した。既蒸着物質
は、典型的には100nm程度の平均粒径である多結晶
である。
態を変え、デバイス特性をさらに改善できることを発見
した。具体的には、例えばα-6Tである既蒸着膜の急
速熱アニール(RTA:rapid thermal annealing)によ
り、平均粒径を意図するTFTのチャネル長(典型的に
は4〜12μm)以上になるほどに物質の粒径を増やせ
ることを発見した。この場合、活性層は単結晶層のよう
に振る舞う。
度で(わずかに上の温度でも良い)、短期間(典型的に
は10秒未満、例えば1秒)既蒸着のα-6T薄膜をア
ニールして、約2μmより大きい平均粒径、例えば5〜
100μmの範囲、の増加をもたらした。望ましくはア
ニールは、例えばN2の不活性雰囲気でする。いかなる
適当な熱ソース(例えば受容器に焦点を合わせたハロゲ
ンランプの傾斜、又は黒鉛ストリップヒータ)が使われ
る。他のα-nTの形態がまた、適当なRTAにより改
善できる。
RTAが、導電率の相当な減少をもたらし、結果的にオ
ン/オフ比を増加することを発見した。例えば、既蒸着
のα-6T層は約10-6S/cmの導電率を示した。N2
でのRTA(296゜Cで1秒)の後、層は0.7×10
-8S/cmの導電率を示した。他のα-nTの群の要素
も類似の導電率減少を示すと思われる。
α-nTが使われて、実質的に類似する従来のTFTと
同じ方法で作られる。例の基板の例として、ガラス、M
YLAR(登録商標)若しくはKAPTONG(登録商
標)のような合成樹脂、又は(SiO2又は他の絶縁体
でコートされた)Siがある。活性層物質を守る被覆材
の使用が考えられる。
として用いることができるが、典型的には本発明のトラ
ンジスタの多数からなる集積回路で使われ、従来の半導
体デバイス、デバイスを相互に結び付ける導体、並びに
デバイスにエネルギーを与え、回路へ入力信号を送り、
及びまた出力信号をそこから受信する手段と組合わさる
ことが考えられる。
体TFTが現在使われるのと同じ方法で、液晶表示器で
電流スイッチとして用いられる。これは、ジェイ・カニ
ッキ編の本、「アモルファスと微結晶デバイス(Amorpho
us and Microcrystalline Devices)」(Artech House出
版, Boston (1991))の102ページの図に基づいてい
る図9で概略的に示される。図9には、活性マトリック
ス液晶表示器の回線図の例の重要な点を示す。ここでト
ランジスタ101は本発明のTFTであり、回路の残り
は従来技術である。符号102が液晶、符号103〜1
05が信号線、ゲート線及び共通電極をそれぞれ示す。
ビデオ信号及びゲートパルスをまた概略的に示す。
ジスタは改善した特性(例えば20゜Cで105より大き
いオン/オフ比)を有し、改善したトランジスタは低い
導電率(20゜Cで5×10-8S/cm以下で、好ましく
は10-8又は10-9S/cm以下)の有機活性層(1
6)からなり、このような物質を作る方法が開示され
る。急速熱アニールは有益な結果を有する。望ましい物
質はα-ヘキサチエニレンである(α-6T)。改善され
たトランジスタは、例えば活性液晶表示器及びメモリに
用いることができ、有機TFTのソース/ドレイン電流
の改善したオン/オフ比を有するデバイスが提供され
る。
レイン電圧に対するドレイン電流のデータのグラフ図で
ある。
レイン電圧に対するドレイン電流のデータのグラフ図で
ある。
る。
る。
温度に対する熱流のグラフ図である。
示器の中の駆動回路を示す。
Claims (9)
- 【請求項1】(A)有機半導体物質層(16)と、 (B)前記有機半導体物質層に接し、離間して形成され
た第1及び第2接点(12、13)と、 (C)前記第1及び第2接点の手段に離間して形成され
た第3接点(14)とを備え、 この第3接点に印加された電圧を用いて第1及び第2接
点の間の前記有機半導体物質層を通る電流を制御し、 (D)前記有機半導体物質が、末端の環上の4又は5の
位置の炭素に置換基がないα-nT(nは4から9まで
の整数)、末端の環上の4又は5の位置の炭素に置換基
があるα-nT(nは4から9までの整数)又はこれら
の誘導体からなる群から選択される物質であり、 (E)20゜Cにおいて5×10-8S/cm以下の導電率
を有し、20 ゜ Cにおいて10 -3 cm 2 /V ・ s以上の電荷
キャリヤ移動度を有することを特徴とする薄膜トランジ
スタ(20)からなる物品。 - 【請求項2】前記有機半導体物質が、前記置換基の有無
にかかわらないα-6T及びα-8T又はこれらの誘導体
から選択される物質であることを特徴とする請求項1記
載の物品。 - 【請求項3】前記有機半導体物質が0.1重量%よりも
少ないハロゲンを含むことを特徴とする請求項2記載の
物品。 - 【請求項4】前記有機半導体物質がα-6T又はこの誘
導体であって、約313゜Cの融点を有することを特徴
とする請求項3記載の物品。 - 【請求項5】前記有機半導体物質層が2μm以上の平均
粒径の多結晶の層であることを特徴とする請求項4記載
の薄膜トランジスタからなる物品。 - 【請求項6】前記薄膜トランジスタはソース/ドレイン
電流のオン/オフ比が105より大きいようにすること
を特徴とする請求項1記載の薄膜トランジスタからなる
物品。 - 【請求項7】前記有機半導体物質が、蒸着された状態で
5×10-8S/cm以下の導電率を有することを特徴と
する請求項1記載の薄膜トランジスタからなる物品。 - 【請求項8】末端の環上の4又は5の位置の炭素上の置
換基の有無に関わらない、m=4、6又は8である、α
-mT又はこれらの誘導体の活性層からなる薄膜トラン
ジスタの製造方法であって、この方法が、 (A)前記α-mTを準備する段階であって、このα-m
Tが、有機溶媒で5-位置で脱プロトン化したα-(m/
2)チエニルを準備する段階からなる方法により作られ
るような段階と、及び (B)基板上に前記α-mT層を蒸着する段階とからな
り、前記α-mTを作る方法が、 (C)有機溶媒で前記脱プロトン化α-(m/2)チエ
ニルを非ハロゲン化酸化試薬と接触させて、α-mT含
有混合物が形成する段階と、及び (D)前記α-mTを前記混合物から分離する段階とか
らさらになることを特徴とする薄膜トランジスタ製造方
法。 - 【請求項9】前記脱プロトン化α-(m/2)チエニル
が5-lithio-α-テルチエニルで、前記α-mTがα-6
Tであることを特徴とする請求項8の製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US353032 | 1994-12-09 | ||
US08/353,032 US5574291A (en) | 1994-12-09 | 1994-12-09 | Article comprising a thin film transistor with low conductivity organic layer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08228035A JPH08228035A (ja) | 1996-09-03 |
JP3145294B2 true JP3145294B2 (ja) | 2001-03-12 |
Family
ID=23387469
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34545495A Expired - Fee Related JP3145294B2 (ja) | 1994-12-09 | 1995-12-11 | 薄膜トランジスタからなる物品とその製造方法 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5574291A (ja) |
EP (1) | EP0716458B1 (ja) |
JP (1) | JP3145294B2 (ja) |
KR (1) | KR100351009B1 (ja) |
CA (1) | CA2160394C (ja) |
DE (1) | DE69532794T2 (ja) |
MX (1) | MX9505068A (ja) |
TW (1) | TW279260B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7378683B2 (en) | 2004-04-15 | 2008-05-27 | Nec Corporation | Transistor using organic material having a bridged cyclic hydrocarbon lactone structure and process for producing the same |
Families Citing this family (116)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5663077A (en) * | 1993-07-27 | 1997-09-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of manufacturing a thin film transistor in which the gate insulator comprises two oxide films |
US6278127B1 (en) * | 1994-12-09 | 2001-08-21 | Agere Systems Guardian Corp. | Article comprising an organic thin film transistor adapted for biasing to form a N-type or a P-type transistor |
US6107117A (en) * | 1996-12-20 | 2000-08-22 | Lucent Technologies Inc. | Method of making an organic thin film transistor |
US6194167B1 (en) * | 1997-02-18 | 2001-02-27 | Washington State University Research Foundation | ω-3 fatty acid desaturase |
US5796121A (en) * | 1997-03-25 | 1998-08-18 | International Business Machines Corporation | Thin film transistors fabricated on plastic substrates |
US5936259A (en) * | 1997-10-16 | 1999-08-10 | Lucent Technologies Inc. | Thin film transistor and organic semiconductor material thereof |
US6704133B2 (en) | 1998-03-18 | 2004-03-09 | E-Ink Corporation | Electro-optic display overlays and systems for addressing such displays |
JP4664501B2 (ja) * | 1998-04-10 | 2011-04-06 | イー インク コーポレイション | 有機系電界効果トランジスタを用いる電子ディスプレイ |
US7075502B1 (en) | 1998-04-10 | 2006-07-11 | E Ink Corporation | Full color reflective display with multichromatic sub-pixels |
US6215130B1 (en) * | 1998-08-20 | 2001-04-10 | Lucent Technologies Inc. | Thin film transistors |
US6384804B1 (en) | 1998-11-25 | 2002-05-07 | Lucent Techonologies Inc. | Display comprising organic smart pixels |
US6498114B1 (en) | 1999-04-09 | 2002-12-24 | E Ink Corporation | Method for forming a patterned semiconductor film |
US6736985B1 (en) * | 1999-05-05 | 2004-05-18 | Agere Systems Inc. | High-resolution method for patterning a substrate with micro-printing |
AU7094400A (en) | 1999-08-31 | 2001-03-26 | E-Ink Corporation | A solvent annealing process for forming a thin semiconductor film with advantageous properties |
EP1208603A1 (en) * | 1999-08-31 | 2002-05-29 | E Ink Corporation | Transistor for an electronically driven display |
US6611096B1 (en) | 1999-09-03 | 2003-08-26 | 3M Innovative Properties Company | Organic electronic devices having conducting self-doped polymer buffer layers |
US6593690B1 (en) * | 1999-09-03 | 2003-07-15 | 3M Innovative Properties Company | Large area organic electronic devices having conducting polymer buffer layers and methods of making same |
DE10034873B4 (de) * | 2000-07-18 | 2005-10-13 | Pacifica Group Technologies Pty Ltd | Verfahren und Bremsanlage zum Regeln des Bremsvorgangs bei einem Kraftfahrzeug |
WO2002015264A2 (de) * | 2000-08-18 | 2002-02-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Verkapseltes organisch-elektronisches bauteil, verfahren zu seiner herstellung und seine verwendung |
WO2002015293A2 (de) * | 2000-08-18 | 2002-02-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Organischer feldeffekt-transistor (ofet), herstellungsverfahren dazu und daraus gebaute integrierte schaltung sowie verwendungen |
DE10043204A1 (de) * | 2000-09-01 | 2002-04-04 | Siemens Ag | Organischer Feld-Effekt-Transistor, Verfahren zur Strukturierung eines OFETs und integrierte Schaltung |
DE10044842A1 (de) * | 2000-09-11 | 2002-04-04 | Siemens Ag | Organischer Gleichrichter, Schaltung, RFID-Tag und Verwendung eines organischen Gleichrichters |
DE10045192A1 (de) * | 2000-09-13 | 2002-04-04 | Siemens Ag | Organischer Datenspeicher, RFID-Tag mit organischem Datenspeicher, Verwendung eines organischen Datenspeichers |
US20040026121A1 (en) * | 2000-09-22 | 2004-02-12 | Adolf Bernds | Electrode and/or conductor track for organic components and production method thereof |
DE10061297C2 (de) * | 2000-12-08 | 2003-05-28 | Siemens Ag | Verfahren zur Sturkturierung eines OFETs |
DE10061299A1 (de) * | 2000-12-08 | 2002-06-27 | Siemens Ag | Vorrichtung zur Feststellung und/oder Weiterleitung zumindest eines Umwelteinflusses, Herstellungsverfahren und Verwendung dazu |
DE10063721A1 (de) * | 2000-12-20 | 2002-07-11 | Merck Patent Gmbh | Organischer Halbleiter, Herstellungsverfahren dazu und Verwendungen |
DE10105914C1 (de) | 2001-02-09 | 2002-10-10 | Siemens Ag | Organischer Feldeffekt-Transistor mit fotostrukturiertem Gate-Dielektrikum und ein Verfahren zu dessen Erzeugung |
EP1374138A2 (de) * | 2001-03-26 | 2004-01-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Gerät mit zumindest zwei organischen elektronischen bauteilen und verfahren zur herstellung dazu |
JP4841751B2 (ja) * | 2001-06-01 | 2011-12-21 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 有機半導体装置及びその作製方法 |
DE10126860C2 (de) * | 2001-06-01 | 2003-05-28 | Siemens Ag | Organischer Feldeffekt-Transistor, Verfahren zu seiner Herstellung und Verwendung zum Aufbau integrierter Schaltungen |
WO2003030278A2 (en) * | 2001-10-01 | 2003-04-10 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Composition, method and electronic device |
JP3856202B2 (ja) | 2001-10-05 | 2006-12-13 | 日本電気株式会社 | 有機薄膜トランジスタ |
DE10151036A1 (de) * | 2001-10-16 | 2003-05-08 | Siemens Ag | Isolator für ein organisches Elektronikbauteil |
DE10151440C1 (de) * | 2001-10-18 | 2003-02-06 | Siemens Ag | Organisches Elektronikbauteil, Verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendung |
JP3823312B2 (ja) | 2001-10-18 | 2006-09-20 | 日本電気株式会社 | 有機薄膜トランジスタ |
DE10153563A1 (de) * | 2001-10-30 | 2003-05-15 | Infineon Technologies Ag | Verringerung des Kontaktwiderstandes in organischen Feldeffekttransistoren durch Einbettung von Nanopartikeln zur Erzeugung von Feldüberhöhungen |
DE10160732A1 (de) * | 2001-12-11 | 2003-06-26 | Siemens Ag | Organischer Feld-Effekt-Transistor mit verschobener Schwellwertspannung und Verwendung dazu |
US6885146B2 (en) | 2002-03-14 | 2005-04-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device comprising substrates, contrast medium and barrier layers between contrast medium and each of substrates |
DE10212639A1 (de) * | 2002-03-21 | 2003-10-16 | Siemens Ag | Vorrichtung und Verfahren zur Laserstrukturierung von Funktionspolymeren und Verwendungen |
DE10212640B4 (de) * | 2002-03-21 | 2004-02-05 | Siemens Ag | Logische Bauteile aus organischen Feldeffekttransistoren |
DE10226370B4 (de) * | 2002-06-13 | 2008-12-11 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Substrat für ein elektronisches Bauteil, Verwendung des Substrates, Verfahren zur Erhöhung der Ladungsträgermobilität und Organischer Feld-Effekt Transistor (OFET) |
JP4136482B2 (ja) * | 2002-06-20 | 2008-08-20 | キヤノン株式会社 | 有機半導体素子、その製造方法および有機半導体装置 |
US7078702B2 (en) * | 2002-07-25 | 2006-07-18 | General Electric Company | Imager |
US8044517B2 (en) | 2002-07-29 | 2011-10-25 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Electronic component comprising predominantly organic functional materials and a method for the production thereof |
US6821811B2 (en) | 2002-08-02 | 2004-11-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Organic thin film transistor and method of manufacturing the same, and semiconductor device having the organic thin film transistor |
US20060079327A1 (en) * | 2002-08-08 | 2006-04-13 | Wolfgang Clemens | Electronic device |
US6784017B2 (en) | 2002-08-12 | 2004-08-31 | Precision Dynamics Corporation | Method of creating a high performance organic semiconductor device |
ATE355566T1 (de) | 2002-08-23 | 2006-03-15 | Polyic Gmbh & Co Kg | Organisches bauelement zum überspannungsschutz und dazugehörige schaltung |
WO2004042837A2 (de) * | 2002-11-05 | 2004-05-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Organisches elektronisches bauteil mit hochaufgelöster strukturierung und herstellungsverfahren dazu |
DE10253154A1 (de) | 2002-11-14 | 2004-05-27 | Siemens Ag | Messgerät zur Bestimmung eines Analyten in einer Flüssigkeitsprobe |
WO2004047144A2 (de) * | 2002-11-19 | 2004-06-03 | Polyic Gmbh & Co.Kg | Organisches elektronisches bauelement mit stukturierter halbleitender funktionsschicht und herstellungsverfahren dazu |
EP1563554B1 (de) * | 2002-11-19 | 2012-01-04 | PolyIC GmbH & Co. KG | Organisches elektronisches bauelement mit gleichem organischem material für zumindest zwei funktionsschichten |
DE10300521A1 (de) * | 2003-01-09 | 2004-07-22 | Siemens Ag | Organoresistiver Speicher |
EP1586127B1 (de) * | 2003-01-21 | 2007-05-02 | PolyIC GmbH & Co. KG | Organisches elektronikbauteil und verfahren zur herstellung organischer elektronik |
DE10302149A1 (de) * | 2003-01-21 | 2005-08-25 | Siemens Ag | Verwendung leitfähiger Carbon-black/Graphit-Mischungen für die Herstellung von low-cost Elektronik |
CN1742392A (zh) * | 2003-01-28 | 2006-03-01 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 电子器件 |
KR100749126B1 (ko) * | 2003-01-29 | 2007-08-13 | 폴리아이씨 게엠베하 운트 코. 카게 | 유기 메모리 장치 및 이를 위한 구동회로 |
US7166689B2 (en) | 2003-02-13 | 2007-01-23 | Ricoh Company, Ltd. | Aryl amine polymer, thin film transistor using the aryl amine polymer, and method of manufacturing the thin film transistor |
US7820999B2 (en) * | 2003-03-07 | 2010-10-26 | Polymer Vision Limited | Electronic arrangement including a thin film transistor having active and protective layers structured in a same two-dimensional pattern |
WO2004093180A1 (en) | 2003-04-15 | 2004-10-28 | California Institute Of Technology | Flexible carbon-based ohmic contacts for organic transistors |
DE10330064B3 (de) * | 2003-07-03 | 2004-12-09 | Siemens Ag | Logikgatter mit potentialfreier Gate-Elektrode für organische integrierte Schaltungen |
DE10330062A1 (de) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Strukturierung von organischen Schichten |
DE10338277A1 (de) * | 2003-08-20 | 2005-03-17 | Siemens Ag | Organischer Kondensator mit spannungsgesteuerter Kapazität |
DE10339036A1 (de) | 2003-08-25 | 2005-03-31 | Siemens Ag | Organisches elektronisches Bauteil mit hochaufgelöster Strukturierung und Herstellungsverfahren dazu |
KR100973811B1 (ko) * | 2003-08-28 | 2010-08-03 | 삼성전자주식회사 | 유기 반도체를 사용한 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조방법 |
DE10340644B4 (de) * | 2003-09-03 | 2010-10-07 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Mechanische Steuerelemente für organische Polymerelektronik |
DE10340643B4 (de) * | 2003-09-03 | 2009-04-16 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Druckverfahren zur Herstellung einer Doppelschicht für Polymerelektronik-Schaltungen, sowie dadurch hergestelltes elektronisches Bauelement mit Doppelschicht |
KR100692448B1 (ko) | 2003-11-17 | 2007-03-09 | 후지제롯쿠스 가부시끼가이샤 | 유기 반도체 트랜지스터 소자, 이것을 사용한 반도체 장치및 그 반도체 장치의 제조 방법 |
US7767998B2 (en) * | 2003-12-04 | 2010-08-03 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | OFETs with active channels formed of densified layers |
KR100576719B1 (ko) * | 2003-12-24 | 2006-05-03 | 한국전자통신연구원 | 하부 게이트형 유기박막 트랜지스터의 제조방법 |
US7554121B2 (en) * | 2003-12-26 | 2009-06-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Organic semiconductor device |
JP4877869B2 (ja) * | 2003-12-26 | 2012-02-15 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 有機半導体素子の作製方法 |
US7659138B2 (en) * | 2003-12-26 | 2010-02-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing an organic semiconductor element |
DE102004002024A1 (de) * | 2004-01-14 | 2005-08-11 | Siemens Ag | Organischer Transistor mit selbstjustierender Gate-Elektrode und Verfahren zu dessen Herstellung |
JP4100351B2 (ja) * | 2004-02-09 | 2008-06-11 | セイコーエプソン株式会社 | 薄膜トランジスタの製造方法 |
JP2005268550A (ja) * | 2004-03-18 | 2005-09-29 | Japan Science & Technology Agency | 有機半導体及びそれを用いた半導体装置並びにそれらの製造方法 |
US20050211973A1 (en) * | 2004-03-23 | 2005-09-29 | Kiyotaka Mori | Stressed organic semiconductor |
US20050275056A1 (en) * | 2004-05-26 | 2005-12-15 | Stephen Forrest | Organic heterojunction bipolar transistor |
DE102004040831A1 (de) * | 2004-08-23 | 2006-03-09 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Funketikettfähige Umverpackung |
US7291522B2 (en) * | 2004-10-28 | 2007-11-06 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Semiconductor devices and methods of making |
DE102004059464A1 (de) * | 2004-12-10 | 2006-06-29 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Elektronikbauteil mit Modulator |
DE102004059467A1 (de) * | 2004-12-10 | 2006-07-20 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Gatter aus organischen Feldeffekttransistoren |
DE102004059465A1 (de) * | 2004-12-10 | 2006-06-14 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Erkennungssystem |
DE102004063435A1 (de) | 2004-12-23 | 2006-07-27 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Organischer Gleichrichter |
DE102005009820A1 (de) * | 2005-03-01 | 2006-09-07 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Elektronikbaugruppe mit organischen Logik-Schaltelementen |
DE102005009819A1 (de) | 2005-03-01 | 2006-09-07 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Elektronikbaugruppe |
KR101133767B1 (ko) | 2005-03-09 | 2012-04-09 | 삼성전자주식회사 | 유기 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법 |
JP4632034B2 (ja) * | 2005-03-10 | 2011-02-16 | セイコーエプソン株式会社 | 有機強誘電体メモリの製造方法 |
JP4667096B2 (ja) * | 2005-03-25 | 2011-04-06 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 有機半導体装置及びその作製方法 |
DE102005017655B4 (de) | 2005-04-15 | 2008-12-11 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Mehrschichtiger Verbundkörper mit elektronischer Funktion |
DE102005031448A1 (de) | 2005-07-04 | 2007-01-11 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Aktivierbare optische Schicht |
DE102005035589A1 (de) | 2005-07-29 | 2007-02-01 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Herstellung eines elektronischen Bauelements |
DE102005044306A1 (de) | 2005-09-16 | 2007-03-22 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Elektronische Schaltung und Verfahren zur Herstellung einer solchen |
US7521710B2 (en) | 2006-02-16 | 2009-04-21 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | Organic thin film transistor |
US20070215863A1 (en) * | 2006-03-15 | 2007-09-20 | Lucent Technologies Inc. | Fabricating apparatus with doped organic semiconductors |
DE102006013605A1 (de) * | 2006-03-22 | 2007-10-11 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Verfahren zum Programmieren einer elektronischen Schaltung sowie elektronische Schaltung |
WO2007117698A2 (en) | 2006-04-07 | 2007-10-18 | Qd Vision, Inc. | Composition including material, methods of depositing material, articles including same and systems for depositing material |
JP2007287961A (ja) * | 2006-04-18 | 2007-11-01 | Konica Minolta Holdings Inc | 有機薄膜トランジスタ及びその製造方法 |
WO2008111947A1 (en) | 2006-06-24 | 2008-09-18 | Qd Vision, Inc. | Methods and articles including nanomaterial |
KR20090077779A (ko) | 2006-10-12 | 2009-07-15 | 이데미쓰 고산 가부시키가이샤 | 유기 박막 트랜지스터 소자 및 유기 박막 발광 트랜지스터 |
WO2008059816A1 (fr) | 2006-11-14 | 2008-05-22 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | Transistor en couche mince organique et transistor en couche mince organique photoémetteur |
CN101563796B (zh) | 2006-11-14 | 2011-07-06 | 出光兴产株式会社 | 有机薄膜晶体管和有机薄膜发光晶体管 |
US8203139B2 (en) | 2006-11-24 | 2012-06-19 | Idemitsu Kosan Co., Ltd | Organic thin film transistor and organic thin film light-emitting transistor using an organic semiconductor layer having an aromatic hydrocarbon group or an aromatic heterocyclic group in the center thereof |
WO2008062715A1 (fr) | 2006-11-24 | 2008-05-29 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | Transistor à couches minces organiques et transistor électroluminescent à couches minces organiques |
WO2008069061A1 (ja) * | 2006-12-04 | 2008-06-12 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | 有機薄膜トランジスタ及び有機薄膜発光トランジスタ |
WO2008069060A1 (ja) * | 2006-12-04 | 2008-06-12 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | 有機薄膜トランジスタ及び有機薄膜発光トランジスタ |
TW201002722A (en) | 2008-01-22 | 2010-01-16 | Ricoh Co Ltd | Benzobisthiazole compound, benzobisthiazole polymer, organic film including the compound or polymer and transistor including the organic film |
US7821000B2 (en) | 2008-02-01 | 2010-10-26 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | Method of doping organic semiconductors |
JP2010225758A (ja) * | 2009-03-23 | 2010-10-07 | Fuji Xerox Co Ltd | 有機半導体トランジスタ |
JP4893767B2 (ja) * | 2009-03-24 | 2012-03-07 | 富士ゼロックス株式会社 | 有機半導体トランジスタ |
JP5347690B2 (ja) * | 2009-04-30 | 2013-11-20 | 富士ゼロックス株式会社 | 有機電界発光素子、及び表示媒体 |
WO2011132425A1 (ja) | 2010-04-22 | 2011-10-27 | 出光興産株式会社 | 有機薄膜トランジスタ |
JP5659567B2 (ja) * | 2010-06-11 | 2015-01-28 | 富士ゼロックス株式会社 | 有機トランジスタ及び有機トランジスタの製造方法 |
JP5966353B2 (ja) | 2011-12-26 | 2016-08-10 | 富士ゼロックス株式会社 | 有機半導体トランジスタ |
KR101582991B1 (ko) * | 2014-05-23 | 2016-01-20 | 연세대학교 산학협력단 | 플렉서블 유기박막 트랜지스터 및 이를 포함한 센서 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8909011D0 (en) * | 1989-04-20 | 1989-06-07 | Friend Richard H | Electroluminescent devices |
JPH03236286A (ja) * | 1990-02-14 | 1991-10-22 | Toshiba Corp | 有機膜素子 |
US5315129A (en) * | 1990-08-20 | 1994-05-24 | University Of Southern California | Organic optoelectronic devices and methods |
JP3224829B2 (ja) * | 1991-08-15 | 2001-11-05 | 株式会社東芝 | 有機電界効果型素子 |
-
1994
- 1994-12-09 US US08/353,032 patent/US5574291A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-02-14 TW TW084101308A patent/TW279260B/zh not_active IP Right Cessation
- 1995-10-12 CA CA002160394A patent/CA2160394C/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-28 DE DE69532794T patent/DE69532794T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-28 EP EP95308517A patent/EP0716458B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-12-05 MX MX9505068A patent/MX9505068A/es not_active IP Right Cessation
- 1995-12-09 KR KR1019950049121A patent/KR100351009B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-12-11 JP JP34545495A patent/JP3145294B2/ja not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
G.Horowitz et al.,"Organic Thin−Film Transistors Using ▲II▼−Conjugated Oligomers:Influence of the Chain Length",JOURNAL OF MOLECULAR ELECTRONICS,1991,Vol.7,p.85−89 |
Juzo Nakayama et al.,"Preparation of Oligomers",HETEROCYCLES,1988,Vol.27,No.7,p.1731−1754 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7378683B2 (en) | 2004-04-15 | 2008-05-27 | Nec Corporation | Transistor using organic material having a bridged cyclic hydrocarbon lactone structure and process for producing the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
MX9505068A (es) | 1997-01-31 |
KR960026961A (ko) | 1996-07-22 |
EP0716458B1 (en) | 2004-03-31 |
EP0716458A3 (en) | 1997-11-26 |
US5574291A (en) | 1996-11-12 |
DE69532794T2 (de) | 2005-03-17 |
JPH08228035A (ja) | 1996-09-03 |
EP0716458A2 (en) | 1996-06-12 |
CA2160394C (en) | 1999-04-13 |
TW279260B (ja) | 1996-06-21 |
CA2160394A1 (en) | 1996-06-10 |
KR100351009B1 (ko) | 2003-01-29 |
DE69532794D1 (de) | 2004-05-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3145294B2 (ja) | 薄膜トランジスタからなる物品とその製造方法 | |
US6774393B2 (en) | Field effect transistor | |
KR101410150B1 (ko) | 전계 효과 트랜지스터 | |
US6608323B2 (en) | n-type thiophene semiconductors | |
JP3387832B2 (ja) | 薄膜トランジスタ及び薄膜トランジスタ用半導体材料 | |
US6991749B2 (en) | n-Type thiophene semiconductors | |
JP4820287B2 (ja) | ポリアセン化合物及び有機半導体薄膜 | |
WO2006059486A1 (ja) | 有機薄膜トランジスタ材料、有機薄膜トランジスタ、電界効果トランジスタ、スイッチング素子、有機半導体材料及び有機半導体膜 | |
Yan et al. | An investigation on air stability of copper phthalocyanine-based organic thin-film transistors and device encapsulation | |
WO2005122277A1 (ja) | 有機薄膜トランジスタ | |
WO2005006461A1 (en) | Field effect organic transistor | |
JP2006339474A (ja) | 有機半導体材料、有機半導体構造物及び有機半導体装置 | |
JP2008094781A (ja) | テトラチアフルバレン誘導体、および、それを用いた電子デバイス | |
JP2005142526A (ja) | 大きな有機半導体結晶を有するデバイスおよび該デバイスを作製する方法 | |
US7786470B2 (en) | Switching element | |
US7863081B2 (en) | Field effect transistor and method of manufacturing the same | |
WO2006098121A1 (ja) | 有機半導体材料、有機半導体膜、有機半導体デバイス、有機薄膜トランジスタ及び有機薄膜トランジスタの形成方法 | |
Chang et al. | High-performance semiconductors based on oligocarbazole–thiophene derivatives for solution-fabricated organic field-effect transistors | |
JP2003243660A (ja) | 電界効果型トランジスタ | |
JPH07249775A (ja) | 電界効果型トランジスタ | |
US9718251B2 (en) | Laminate having porous organic semicoductor thin film and chemical sensor comprising same | |
JPH06291312A (ja) | 電界効果型トランジスタ並びにそれを用いた液晶表示装置 | |
EP2138545B1 (en) | Use of porphyrazine derivative as semiconductor | |
Petit et al. | Variable temperature characterization of N, N′-Bis (n-pentyl) terrylene-3, 4: 11, 12-tetracarboxylic diimide thin film transistor | |
WO2019044412A1 (ja) | ヘテロフラーレンを含むp型半導体膜および電子デバイス |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080105 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090105 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100105 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110105 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120105 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130105 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130105 Year of fee payment: 12 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |