JP3013578B2 - 電子部品の製造方法 - Google Patents

電子部品の製造方法

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JP3013578B2
JP3013578B2 JP4022294A JP2229492A JP3013578B2 JP 3013578 B2 JP3013578 B2 JP 3013578B2 JP 4022294 A JP4022294 A JP 4022294A JP 2229492 A JP2229492 A JP 2229492A JP 3013578 B2 JP3013578 B2 JP 3013578B2
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sealing
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行夫 柏木
和貴 浦
国明 松下
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Panasonic Holdings Corp
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は各種電子機器に使用され
各種マイクロプロセッサの基準信号発生用として使用さ
れるセラミック発振子などに代表される電子部品の製造
方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電子部品の製造方法の代表的な従来例に
ついてセラミック発振子を例に説明する。
【0003】従来、この種のセラミック発振子は図2に
示すような構成であり、図2において1は圧電磁器振動
子(以下、圧電素子という)、2は容量素子であり、こ
の容量素子2の上に圧電素子1を重ねて配置しリード端
子4を植設した端子台3の上部に導電性接着剤6などを
用いて電気的かつ機械的に接続固着して組立品を構成し
たものである。さらにこれらの組立品を、一端が開放さ
れ上記端子台3の外側面に内接するように形成された樹
脂成形容器(以下、ケースという)5に端子台3がケー
ス5の中央部近傍に位置するように挿入し、上記端子台
3の下面のケース5内部に形成された空間部7に図3に
示す封止用樹脂8を室温にて充填し、図1の点線Aで示
すように封止用樹脂8によって決定される硬化温度に設
定された温度雰囲気槽に閉じ込めて所定時間放置するこ
とにより封止用樹脂8を硬化させ、図3に示すように組
立品の上面に空洞部9を形成させる製造方法であった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の製造方法では、ケース5に注入した封止用樹脂8の加
熱硬化の際に、室温にて封止用樹脂8を空間部7に充填
した後に所定の温度に設定された温度雰囲気槽に電子部
品を所定の時間閉じ込めて放置させ封止用樹脂8を硬化
させるものであるが、この間に組立品の上面に形成され
る空洞部9内にある空気が加熱により膨脹し端子台3を
通過して封止用樹脂8から外部へ抜けてしまうために図
4に示すようなピンホール10が発生するという課題を
有していた。
【0005】本発明はこのような課題を解決し、ピンホ
ールの発生が無い信頼性の高い電子部品の製造方法を提
供することを目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明による電子部品の製造方法では、予め組立品を
収納したケースを所定の温度にて予熱させた後に封止用
樹脂を充填し、その後速やかに上記所定温度より低い温
度に設定した温度雰囲気槽に移して封止用樹脂の硬化に
必要な時間より長い時間をかけて低い温度から徐々に連
続的に、又は断続的に一定の昇温カーブで温度を上昇さ
せ、上記所定の温度に到達した後に封止用樹脂の硬化に
必要な時間だけ温度雰囲気槽に閉じ込めて放置し封止用
樹脂を硬化させる製造方法としたものである。
【0007】
【作用】この方法により封止用樹脂を加熱する際にゲル
化する温度において粘度が急激に低下するという封止用
樹脂が持つ特性を利用することができる。すなわち、こ
のゲル化の状態を長く維持することにより空洞部内の熱
膨脹した空気が封止用樹脂の内部を逃げやすくなりピン
ホールの発生を防止することができる。
【0008】
【実施例】
(実施例1)以下、本発明の一実施例について図面を参
照しながら説明する。なお、従来例と同じ構成のものは
同じ図面を用いて説明する。図1は本発明の電子部品の
製造方法により、封止用樹脂8を加熱硬化する際の昇温
パターンを示すものであり、図2に示す空間部7に、図
3で示す封止用樹脂8を充填する前に、リード端子4を
植設した端子台3の上面に容量素子2と圧電素子1を結
合してなる組立品を挿入したケース5を封止用樹脂8の
硬化温度で予熱乾燥させ、この後に封止用樹脂8を空間
部7へ充填する。なお、この時、封止用樹脂8の温度は
室温でも高温でもよい。次に、封止用樹脂8が充填され
た電子部品を図1の実線Bで示すように封止用樹脂8に
て規定されるゲル化温度に設定された温度雰囲気槽に閉
じ込め、封止用樹脂8を硬化させるために規定されてい
る硬化時間以上をかけて断続的に温度を昇温させ、所定
の硬化温度に到達した後に硬化に必要な時間だけ放置し
て硬化させる。
【0009】このような方法により予熱温度よりも低い
温度で封止用樹脂8を徐々に硬化させるため、空洞部9
内の空気が熱膨脹により封止用樹脂8の層を破って外部
へ排出された後でも、封止用樹脂8がゲル化状態で十分
に柔らかいためにピンホール10が発生することが無
く、空洞部9が安定して均一に形成されると共に封止用
樹脂8を硬化させ、信頼性の高い気密封止を行うことが
可能となる。なお、上記封止用樹脂8を加熱硬化させる
昇温パターンは、断続的に昇温する以外に連続的に昇温
させても良い。
【0010】(実施例2)第2の実施例において上記第
1の実施例と異なるのは、封止用樹脂8をケース5に充
填する際に室温にて実施する点であり、室温にて封止用
樹脂8を充填した後に、室温に設定された温度雰囲気槽
に閉じ込めて温度雰囲気槽内の温度を封止用樹脂8を硬
化させるために規定されている硬化時間以上をかけて上
昇させる。この昇温パターンを図1のCに示し、所定の
硬化温度に到達した後に硬化に必要な時間だけ放置して
硬化させることにより、上記実施例1と同様の効果を得
ることができる。
【0011】
【発明の効果】以上のように本発明による電子部品の製
造方法は、封止用樹脂を充填する前の電子部品を予備加
熱してから充填し、且つ充填後封止用樹脂の硬化温度よ
りも低い温度に設定した温度雰囲気槽に電子部品を閉じ
込めて放置し、その後、槽内の温度を徐々に上げて空洞
部内の熱膨脹により発生する空気を封止用樹脂から外部
へ追い出すことにより、ピンホールのない優れた気密封
止をされた電子部品を供給することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による封止用樹脂を加熱硬化
させる際の昇温カーブ、ならびに従来の同昇温カーブを
比較した昇温パターン図
【図2】同電子部品の構造を説明する斜視図
【図3】同電子部品の封止用樹脂を注入した時の状態を
示す断面図
【図4】(a)従来の電子部品にピンホールが発生した
状態を示す斜視図 (b)同一部切欠正面図
【符号の説明】 1 圧電素子 2 容量素子 3 端子台 4 端子 5 ケース 6 導電性接着剤 7 空間部 8 封止用樹脂 9 空洞部 10 ピンホール
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭56−51845(JP,A) 特開 平3−38098(JP,A) 実開 昭51−94954(JP,U) 実開 昭58−95637(JP,U) 実開 平1−120345(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/56 H01G 4/40 H01L 23/28

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】リード端子を植設した端子台の上面に容量
    素子と圧電素子とを積み重ねて電気的に接続固定した組
    立品を一端を開放した樹脂成形容器の中央部まで挿入し
    て収納し、上記樹脂成形容器の開放端から組立品までの
    空間部に液状の封止用樹脂を充填させ組立品の上面と樹
    脂成形容器との間に空洞部を形成する際に、予め組立品
    を収納した樹脂成形容器を所定の温度にて予熱させた後
    に封止用樹脂を充填し、その後速やかに上記所定温度よ
    り低い温度に設定した温度雰囲気槽に移して封止用樹脂
    の硬化に必要な時間より長い時間をかけて低い温度から
    徐々に連続的に、又は断続的に一定の昇温カーブで温度
    を上昇させ、上記所定の温度に到達した後に封止用樹脂
    の硬化に必要な時間だけ温度雰囲気槽に閉じ込めて放置
    し封止用樹脂を硬化させることにより、上記樹脂成形容
    器内に空洞部を形成する電子部品の製造方法。
  2. 【請求項2】組立品を収納した樹脂成形容器の空間部に
    室温状態で封止用樹脂を充填し、室温から封止用樹脂の
    硬化に必要な時間より長い時間をかけて徐々に連続的
    に、又は断続的に一定の昇温カーブで温度を上昇させ、
    所定の温度に到達した後に封止用樹脂の硬化に必要な時
    間だけ温度雰囲気槽に閉じ込めて放置し封止用樹脂を硬
    化させることにより上記樹脂成形容器内に空洞部を形成
    する請求項1記載の電子部品の製造方法。
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