JPH02501692A - 厚膜ハイブリッド回路用密閉バリア - Google Patents

厚膜ハイブリッド回路用密閉バリア

Info

Publication number
JPH02501692A
JPH02501692A JP63505641A JP50564188A JPH02501692A JP H02501692 A JPH02501692 A JP H02501692A JP 63505641 A JP63505641 A JP 63505641A JP 50564188 A JP50564188 A JP 50564188A JP H02501692 A JPH02501692 A JP H02501692A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
barrier
encapsulant
electronic device
radiation
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63505641A
Other languages
English (en)
Inventor
シュミット,ジョン・デービッド
モーリナス,マーティン・アーサー
Original Assignee
イーストマン・コダック・カンパニー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by イーストマン・コダック・カンパニー filed Critical イーストマン・コダック・カンパニー
Publication of JPH02501692A publication Critical patent/JPH02501692A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0203Containers; Encapsulations, e.g. encapsulation of photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01046Palladium [Pd]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/095Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
    • H01L2924/097Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
    • H01L2924/09701Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/4913Assembling to base an electrical component, e.g., capacitor, etc.
    • Y10T29/49146Assembling to base an electrical component, e.g., capacitor, etc. with encapsulating, e.g., potting, etc.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 厚膜ハイブリッド回路用密閉バリア (技術分野) 本発明は、密閉電子デバイスに関し、特に放射線で硬化可能な材料による密閉電 子デバイスに関する。
(背景技術) 電子デバイスを密閉するための今日の方法は、下記を含む1つ以上の短所を有す る。即ち、1)カプセル材料の外周部を予想通り画成することができないこと、 されたハイブリッド回路の寸法的なパッケージ要件を満たすことができないこと である。
C,W、 Logan等の米国特許第3.381.071号は、エポキシ樹脂の 如き熱で硬化されるカプセル材料中に密閉゛された電子デバイスを示している。
このカプセル材料は、最初にガラスの如き熱硬化可能な材料からなる障壁(ペリ ア)をセラミック基板上にスクリーン印刷することにより形成される。このバリ アは、熱的に硬化され、電子デバ樹脂は、液状で電子デバイス上に付着させられ 、バリア内に保持される。次いでこのカプセル材料は、2回目の熱の付与により 硬化される。
C,f、Logan 等の特許において示されるプロセスはいくつかの短所を免 れず、第1の短所はバリアの熱硬化が必然的に壁のある程度の拡がりをもたらす 結果となり、結果として得られる密閉デバイスのコンパクト性を損なう。2番目 の短所は、カプセル材料の熱硬化が非常に時間を費やすことで、前記特許に記載 されるように24時間を要する。
Thompsonの米国特許第4.203.792号は、大量の熱硬化材料に少 量の放射線硬化性材料からなる混合物からなる多数成分ポリマー材料を用いて電 子デバイスを密閉するための方法を示している。電子デバイス上にカプセル材料 を付着させた後、カプセル材料は短時間放射線硬化させられてその形状を確立す る。カプセル材料は、その後熱硬化されて完成デバイスを形成する。Thomp sonの特許に示されたプロセスは、放射線硬化工程と熱硬化工程の両方を含む 複雑な硬化プロセスを必要とするという短所から免れない。
0huchi 等の米国特許第4.635.356号は、大型の予め成型された スペーサが放射線を透過する支持板上に取付けられた電子構成要素を包囲するバ リアとして用いられる電子デバイスを密閉する方法を示している。このバリア内 の領域は、放射線硬化性材料からなるカプセル材料で充填されている。このカプ セル材料は、支持板を介して放射線に露呈することにより硬化され、バリアを取 り外して完成デバイスを形成する。0huchi等の特許は、予め成型されたバ リアが設置および取り外しに時間を要しかなりの空間を要するという短所から免 れない。
このように、カプセル材料の外周部、従ってカプセル材料の形状が充分に管理す ることが可能である密閉された電子デバイスを提供しこの電子デバイスを形成す る方法を提供することが望ましい。このようなデバイスを形成するプロセスが前 項の背景に述べた熱硬化プロセスよりも比較的率〈実施可能であるならば更に望 ましかろう。
(発明の要約) 本発明の第1の実施態様によれば、基板上に電子デバイスを密閉する斬新かつ改 善された方法が提供され、これにおいては、放射線硬化性材料からなるバリアは 基板上の予め定めた位置付近に付着される。適当な放射線を用いてバリアを硬化 させ、電子デバイスがバリア内に置かれる。次いでカプセル材料はバリア内の電 子デバイス上に付着される。
本発明の望ましい一実施態様においては、前記バリアは、厚膜付着1手法を用い て付着される。バリアおよびカプセル材料は、紫外線(UV)で硬化し得る材料 であることが望ましい。カプセル材料は、電子デバイスが光電デバイスである時 、光学的に透明である材料でよい。
本発明の別の実施態様によれば、基板上に電子デバイスを密閉する方法は、バリ アが存在しない電子デバイス上に大部分が放射線硬化性材料からなるカプセル材 料を付着させることからなる。次いでカプセル材料が適当な放射線を用いて硬化 される。カプセル材料はUV硬化性材料であることが望ましい。
(図面の簡単な説明) 本明細書は斬新であると見做される本発明の諸特徴を規定する特許請求の範囲で 終わっているが、本発明は、その他の目的と共に、参照番号が付された図面に関 して以降の記述を考察すれば更によく理解されるものと信じる。
第1図乃至第5図は、本発明の第1の実施例による密閉された電子デバイスを製 造する連続的なステップを示し、第6図は本発明の第2の実施例により構成され た密閉電子デバイスを示している。
(実施例) 図面において、第1図は、それぞれ12.13で示される2つの導電体のパター ンを持つ基板IOを示している。
基板10は、典型的には印刷回路板の構成に用いられるガラス・エポキシ樹脂、 あるいは典型的にはハイブリット回路の構成に用いられるアルミナの如きセラミ ックのような適当な電気的に絶縁する材料からなっている。
導電体12.13はそれぞれ、銅またはパラジウム銀の如き導電性を持つ金属か らなっている。導電体12.13は、適当なプロセスを用いて、例えば、基板1 0がセラミックからなる時は厚膜デポジション、あるいはまた基板が印刷回路板 である時はエツチングによって、基板10上に形成される。
次に第2図においては、放射線硬化性材料製の円形バリア14が、基板10の予 め定めた領域16の周囲に配置されている。(バリア14の円形状は第5図に最 もよく示されている)図示の如く、導電体12.13はそれぞれ、12Aおよび 13Aで示されるように、 領域16内のバリア14の内側に延在する部分を含 む。バリア14は、Hercules社から入手可能な誘電ポリV −CERM ALLOY UV5270Tの如き紫外線(U*V)硬化性材料からなることが 望ましく、スクリーン印刷の如き厚膜デポジション・プロセスを用いて基板10 上(および導体部分12A、 13A ’上)に付着されることが望ましい。こ のような厚膜デポジション・プロセスは、0.10乃至0.13Am(4乃至5 ミル)の高さAを持つバリア14を提供する。しかし、バリア14の正確な高さ は重要ではない。(以下にのべる)カプセル材料の流れを保持するに充分である 限り、このバリアは放射線硬化性材料を基板上に付着させるための適当な方法を 用いて形成することができる。バリア14が基板10上に付着された後、バリア は適当な硬化用放射線19の供給源18に対して露呈される。バリア14がUV 硬化性材料である時は、供給源18はUV放射線19の供給源となるように選択 される。
次に第3図においては、電子デバイス20が、例えば、適当な接着剤22を用い て基板10の領域16に置かれる。
電子デバイス20は、導電性を持つワイヤ28.30により、それぞれ導体部分 12A、13Aと接続された1対の電気端子24.26を含む。ワイヤ28.3 0は、適当な接着手段を用いて接続された適当な導体からなることが判るであろ ゛う。例えば、導体28.30は、超音波で溶着されたワイヤあるいはハンダ付 けされたテープ自動接着(TAB)リード線でよい。
次に第4図においては、カプセル材料32は、バリア14内部で電子デバイス2 0.ワイヤ28.30、および導体部分12A、13A上に付着されている。カ プセル材料32は、用いて領域16に対して付着される。カプセル材料32は粘 性のある状態にある間に基板10上に付着されるので、本例ではカプセル材料流 が自然にバリア14内に保持される。カプセル材料32は、エレクトロニック素 子を密閉するため適当な特性、例えば、電気的絶縁性であり、湿気に耐え、基板 10に対し接着性を有し、基板10の熱膨張率と略々一致する熱膨張率を呈する 硬化性材料でよい。本発明の望ましい一実施態様においては、カプセル材料32 は、UV硬化性材料からなる。カプセル材料32の基板10への付着後、このカ プセル材料は充分な架橋結合、従って硬化を生じるに充分な時間硬化用放射線1 9に露呈される。完成したハイブリッド回路40の平面図が第5図に示されてい る。
このように、バリア14が放射線を用いて迅速かつ経済的に硬化することができ る電子デバイスの密閉方法が提供される。硬化の速度は、バリア14の周囲と実 質的に同じであるカプセル材料32の形状および囲繞度を正確に制御することを 可能にする。本方法は、このように、最近のハイブリッド回路において見出され る如き密にパッケージされるエレクトロニック素子に対して応用することができ る。
カプセル材料32は、N0RLAND Products社から入手可能な光学 用ポリマーN0RLAND63の如き光学的に透明なUV硬化性材料からなる。
電子デバイス20は、基板10に背を向けてカプセル材料に面する感光面20A (第3図に示される)を含むフォトダイオードの如き光電デバイスである。本発 明のこの望ましい実施態様は、機能的な凹レンズ状の断面形状を持つカプセル材 料32を提供する。
第4図に示されるこのレンズ状の形状は、フォトダイオード20の面2OAに対 する光の合焦を行いかつフォトダイオードの動作を強化するものと信じられる。
更に、バリア14の付着のため望ましいスクリーン印刷プロセスを用いる時、カ プセル材料32のレンズ状の形状は完成されたデバイスにおいて非常に予期以上 に均一である。
このように、スクリーン印刷プロセスは、比較的少ない経済的な工程において均 一な特性のこのように多数の密閉されたデバイスを形成する能力を提供するもの である。
次に第6図においてはハイブリッド回路40゛ が示されるが、同図では第1図 、J主筒5図における類似の部分が同じ参照番号で示される。ハイブリッド回路 40°は、バリア14を含まないこと、およびカプセル材料32′ が大部分放 射線硬化性材料からならねばならないことを除いて、ハイブリッド回路40と同 じものである。ハイブリッド回路40′ は、バリア14の付着および硬化の工 程が実施されないことを除いて、ハイブリッド回路40と同様に作られる。本発 明の望ましい一実施態様においては、カプセル材料32°は、光学用ポリマーN 0RLAND63の如き実質的に完全に放射線で硬化し得る材料からなっている 。
カプセル材料32′ を含みかつこれを形成するためにバリア壁を用いることが ないため、その周縁部は不規則な形状を呈する。しかし、大部分が放射線硬化性 である材料の使用により充分に迅速な硬化が可能であり、従来技術の熱硬化によ るカプセル材料の実質的に制御不能な形状および流動に勝る実質的な改善をもた らす。
本発明の別の望ましい実施態様においては、カプセル材料32°は光学的に透明 なUV硬化性材料からなっている。(前掲の) Thompsonの特許の教示 内容とは対照的に、このカプセル材料は、耐久性および可撓性を含む優れた作動 特性を提供する。このカプセル材料は、使用および硬化に際して比較的簡単であ りかつ経済的である。更にまた、このカプセル材料は光学的に透明であるため、 使用中ある(゛は使用後に密閉デバイスを視認あるいは検査することが望ましい 用途に優れている。
このように、従来技術に勝る実質的な改善および利点を提供する電子デバイスを 密閉するための多数の方法ならびにその結果形成される密閉電子デバイスが提供 される。
本発明の望ましい実施態様を示し記したが、本発明がこれに限定されるものでは ないことは明らかであろう。
当業者には、本発明の趣旨および範囲から逸脱すること補正書の翻訳文提出書 (特許法第184条の8)

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.基板上に電子デバイスを密閉する方法において、該基板上の予め定めた場所 付近に放射線硬化性材料からなるバリアを付着させ、 放射線を用いて前記バリアを硬化させ、前記電子デバイスを前記バリア内に設置 し、前記バリア内の前記電子デバイス上にカプセル材料を付着させる ステップからなることを特徴とする方法。
  2. 2.請求項1記載の方法において、 前記カプセル材料が、放射線硬化性材料からなり、更に、 適当な放射線を用いて前記カプセル材料を硬化させる ステップを含むことを特徴とする方法。
  3. 3.請求項2記載の方法において、前記バリアおよび前記カプセル材料が各々紫 外線硬化性材料からなることを特徴とする方法。
  4. 4.請求項1記載の方法において、前記バリアを付着させる前記ステップが、前 記バリアを前記基板上にスクリーン印刷することにより行われることを特徴とす る方法。
  5. 5.請求項1記載の方法において、前記カプセル材料が実質的に光学的に透明で ある材料からなることを特徴とする方法。
  6. 6.請求項5記載の方法において、前記電気的構成要素が光電素子からなること を特徴とする方法。
  7. 7.基板上にエレクトロニック素子を密閉する方法において、 前記エレクトロニック素子を前記基板上の予め定めた場所に設置し、 バリアが存在しない場合に、前記エレクトロニック素子上に大部分が放射線硬化 性材料からなるカプセル材料を付着させ、 前記カプセル材料を適当な放射線を用いて硬化させる ステップからなることを特徴とする方法。
  8. 8.請求項7記載の方法において、前記カプセル材料が紫外線硬化性材料からな ることを特徴とする方法。
  9. 9.請求項8記載の方法において、前記カプセル材料が実質的に光学的に透明で あることを特徴とする方法。
  10. 10.請求項9記載の方法において、前記エレクトロニック素子が光電素子から なることを特徴とする方法。
  11. 11.密閉されたエレクトロニック素子において、電気的に絶縁性を有する基板 と、 前記基板上の予め定めた場所付近に配置された放射線硬化性材料からなるバリア と、 前記バリア内に置かれたエレクトロニック素子と、 前記バリア内の前記エレクトロニック素子上に置かれた凹レンズ状のカプセル材 料と からなることを特徴とする密閉エレクトロニック素子。
  12. 12.請求項11記載のエレクトロニック素子において、前記カプセル材料が放 射線硬化性材料からなることを特徴とするエレクトロニック素子。
  13. 13.請求項12記載のエレクトロニック素子において、前記バリアおよび前記 カプセル材料がそれぞれ紫外線硬化性材料からなることを特徴とするエレクトロ ニック素子。
  14. 14.請求項11記載のエレクトロニック素子において、前記カプセル材料が実 質的に光学的に透明な材料からなることを特徴とするエレクトロニック素子。
  15. 15.請求項14記載のエレクトロニック素子において、前記エレクトロニック 素子が光電素子からなることを特徴とするエレクトロニック素子。
JP63505641A 1987-06-29 1988-06-20 厚膜ハイブリッド回路用密閉バリア Pending JPH02501692A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/067,743 US4843036A (en) 1987-06-29 1987-06-29 Method for encapsulating electronic devices
US067,743 1987-06-29

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02501692A true JPH02501692A (ja) 1990-06-07

Family

ID=22078098

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63505641A Pending JPH02501692A (ja) 1987-06-29 1988-06-20 厚膜ハイブリッド回路用密閉バリア

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4843036A (ja)
EP (1) EP0356465A1 (ja)
JP (1) JPH02501692A (ja)
WO (1) WO1989000337A1 (ja)

Families Citing this family (54)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3782201T2 (de) * 1986-07-16 1993-04-15 Canon Kk Halbleiterphotosensor und verfahren zu dessen herstellung.
US4916519A (en) * 1989-05-30 1990-04-10 International Business Machines Corporation Semiconductor package
JPH0322543A (ja) * 1989-06-05 1991-01-30 Siemens Ag 電子デバイスの被覆方法及び装置
US5075759A (en) * 1989-07-21 1991-12-24 Motorola, Inc. Surface mounting semiconductor device and method
JPH04155378A (ja) * 1990-10-18 1992-05-28 Mitsubishi Electric Corp 表示装置のフロントマスク
JPH04171969A (ja) * 1990-11-06 1992-06-19 Fujitsu Ltd 実装icチップ樹脂封止構造及び樹脂封止方法
US5149958A (en) * 1990-12-12 1992-09-22 Eastman Kodak Company Optoelectronic device component package
JPH04259520A (ja) * 1991-02-13 1992-09-16 Nippon Steel Corp 樹脂成形金型及びフレキシブルテープ
US5218759A (en) * 1991-03-18 1993-06-15 Motorola, Inc. Method of making a transfer molded semiconductor device
US5218234A (en) * 1991-12-23 1993-06-08 Motorola, Inc. Semiconductor device with controlled spread polymeric underfill
US5311059A (en) * 1992-01-24 1994-05-10 Motorola, Inc. Backplane grounding for flip-chip integrated circuit
US5265792A (en) * 1992-08-20 1993-11-30 Hewlett-Packard Company Light source and technique for mounting light emitting diodes
US5302778A (en) * 1992-08-28 1994-04-12 Eastman Kodak Company Semiconductor insulation for optical devices
US5438216A (en) * 1992-08-31 1995-08-01 Motorola, Inc. Light erasable multichip module
JP3627222B2 (ja) * 1992-09-30 2005-03-09 日本ゼオン株式会社 電子部品封止体製造用型枠、およびそれを用いた電子部品封止体の製造方法
US5382310A (en) * 1994-04-29 1995-01-17 Eastman Kodak Company Packaging medical image sensors
US5436203A (en) * 1994-07-05 1995-07-25 Motorola, Inc. Shielded liquid encapsulated semiconductor device and method for making the same
US5991160A (en) * 1995-12-27 1999-11-23 Infineon Technologies Corporation Surface mount LED alphanumeric display
US5987739A (en) 1996-02-05 1999-11-23 Micron Communications, Inc. Method of making a polymer based circuit
US6067709A (en) * 1996-02-23 2000-05-30 Mpm Corporation Applying encapsulating material to substrates
US5895976A (en) * 1996-06-03 1999-04-20 Motorola Corporation Microelectronic assembly including polymeric reinforcement on an integrated circuit die, and method for forming same
US5936310A (en) * 1996-11-12 1999-08-10 Micron Technology, Inc. De-wetting material for glob top applications
US5973337A (en) * 1997-08-25 1999-10-26 Motorola, Inc. Ball grid device with optically transmissive coating
US5962810A (en) * 1997-09-09 1999-10-05 Amkor Technology, Inc. Integrated circuit package employing a transparent encapsulant
US6138349A (en) 1997-12-18 2000-10-31 Vlt Corporation Protective coating for an electronic device
US6246123B1 (en) 1998-05-04 2001-06-12 Motorola, Inc. Transparent compound and applications for its use
US6251211B1 (en) 1998-07-22 2001-06-26 Micron Technology, Inc. Circuitry interconnection method
US6188527B1 (en) * 1999-04-12 2001-02-13 Hewlett-Packard Company LED array PCB with adhesive rod lens
US6379991B2 (en) * 1999-07-26 2002-04-30 Micron Technology, Inc. Encapsulation methods for semiconductive die packages
US6623861B2 (en) 2001-04-16 2003-09-23 Battelle Memorial Institute Multilayer plastic substrates
US20100330748A1 (en) 1999-10-25 2010-12-30 Xi Chu Method of encapsulating an environmentally sensitive device
US6866901B2 (en) * 1999-10-25 2005-03-15 Vitex Systems, Inc. Method for edge sealing barrier films
US6413645B1 (en) 2000-04-20 2002-07-02 Battelle Memorial Institute Ultrabarrier substrates
US7198832B2 (en) * 1999-10-25 2007-04-03 Vitex Systems, Inc. Method for edge sealing barrier films
US6242283B1 (en) * 1999-12-30 2001-06-05 Siliconware Precision Industries Co., Ltd. Wafer level packaging process of semiconductor
JP3651577B2 (ja) * 2000-02-23 2005-05-25 三菱電機株式会社 撮像装置
US6531335B1 (en) * 2000-04-28 2003-03-11 Micron Technology, Inc. Interposers including upwardly protruding dams, semiconductor device assemblies including the interposers, and methods
US6709170B2 (en) * 2001-01-08 2004-03-23 Optical Communications Products, Inc. Plastic encapsulation of optoelectronic devices for optical coupling
US8900366B2 (en) 2002-04-15 2014-12-02 Samsung Display Co., Ltd. Apparatus for depositing a multilayer coating on discrete sheets
US8808457B2 (en) 2002-04-15 2014-08-19 Samsung Display Co., Ltd. Apparatus for depositing a multilayer coating on discrete sheets
US7648925B2 (en) 2003-04-11 2010-01-19 Vitex Systems, Inc. Multilayer barrier stacks and methods of making multilayer barrier stacks
US7510913B2 (en) 2003-04-11 2009-03-31 Vitex Systems, Inc. Method of making an encapsulated plasma sensitive device
US7332797B2 (en) * 2003-06-30 2008-02-19 Intel Corporation Wire-bonded package with electrically insulating wire encapsulant and thermally conductive overmold
US20050009239A1 (en) * 2003-07-07 2005-01-13 Wolff Larry Lee Optoelectronic packaging with embedded window
US7479653B2 (en) * 2003-12-04 2009-01-20 Henkel Ag & Co Kgaa UV curable protective encapsulant
US7767498B2 (en) 2005-08-25 2010-08-03 Vitex Systems, Inc. Encapsulated devices and method of making
DE102006014247B4 (de) * 2006-03-28 2019-10-24 Robert Bosch Gmbh Bildaufnahmesystem und Verfahren zu dessen Herstellung
JP2008071859A (ja) * 2006-09-13 2008-03-27 Shin Etsu Chem Co Ltd 微小電子部品の封止方法
CN102246261B (zh) * 2008-11-17 2015-08-12 先进封装技术私人有限公司 用于密封半导体裸片的系统
US9337446B2 (en) 2008-12-22 2016-05-10 Samsung Display Co., Ltd. Encapsulated RGB OLEDs having enhanced optical output
US9184410B2 (en) 2008-12-22 2015-11-10 Samsung Display Co., Ltd. Encapsulated white OLEDs having enhanced optical output
US8590338B2 (en) 2009-12-31 2013-11-26 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Evaporator with internal restriction
US8624364B2 (en) * 2010-02-26 2014-01-07 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit packaging system with encapsulation connector and method of manufacture thereof
DE102021213165A1 (de) 2021-11-23 2023-05-25 Zf Friedrichshafen Ag Verfahren zum Bauteilschutz einer Leiterplatte

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61184834A (ja) * 1985-02-13 1986-08-18 Toshiba Chem Corp 樹脂封止型半導体装置の製造方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3178621A (en) * 1962-05-01 1965-04-13 Mannes N Glickman Sealed housing for electronic elements
US3381071A (en) * 1965-04-12 1968-04-30 Nat Semiconductor Corp Electrical circuit insulation method
US4027383A (en) * 1974-01-24 1977-06-07 Massachusetts Institute Of Technology Integrated circuit packaging
US4054938A (en) * 1974-05-13 1977-10-18 American Microsystems, Inc. Combined semiconductor device and printed circuit board assembly
US4372037A (en) * 1975-03-03 1983-02-08 Hughes Aircraft Company Large area hybrid microcircuit assembly
US4410874A (en) * 1975-03-03 1983-10-18 Hughes Aircraft Company Large area hybrid microcircuit assembly
JPS52137279A (en) * 1976-05-12 1977-11-16 Hitachi Ltd Semiconductor device for optical coupling
US4143456A (en) * 1976-06-28 1979-03-13 Citizen Watch Commpany Ltd. Semiconductor device insulation method
JPS53103659U (ja) * 1977-01-25 1978-08-21
CH619333A5 (en) * 1977-11-01 1980-09-15 Faselec Ag Process for covering a flat component with a polymer
US4203792A (en) * 1977-11-17 1980-05-20 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Method for the fabrication of devices including polymeric materials
CH625381A5 (ja) * 1977-12-02 1981-09-15 Standard Telephon & Radio Ag
NL7713758A (nl) * 1977-12-13 1979-06-15 Philips Nv Halfgeleiderinrichting.
JPS5726379Y2 (ja) * 1978-09-21 1982-06-08
US4508758A (en) * 1982-12-27 1985-04-02 At&T Technologies, Inc. Encapsulated electronic circuit
US4533975A (en) * 1983-12-27 1985-08-06 North American Philips Corporation Radiation hardenable coating and electronic components coated therewith
US4590667A (en) * 1984-08-22 1986-05-27 General Instrument Corporation Method and apparatus for assembling semiconductor devices such as LEDs or optodetectors
US4635356A (en) * 1984-12-28 1987-01-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of manufacturing a circuit module
FR2592221B1 (fr) * 1985-12-20 1988-02-12 Radiotechnique Compelec Procede d'encapsulation d'un composant electronique au moyen d'une resine synthetique

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61184834A (ja) * 1985-02-13 1986-08-18 Toshiba Chem Corp 樹脂封止型半導体装置の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO1989000337A1 (en) 1989-01-12
US4843036A (en) 1989-06-27
EP0356465A1 (en) 1990-03-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH02501692A (ja) 厚膜ハイブリッド回路用密閉バリア
US4300153A (en) Flat shaped semiconductor encapsulation
US3668299A (en) Electrical circuit module and method of assembly
US3691289A (en) Packaging of semiconductor devices
KR100298323B1 (ko) 리드갯수가많은패키지에서의피복된본딩와이어
JP2004528713A (ja) 光電素子配置及び光電素子配置を製造する方法
JPH11195794A (ja) 光電素子および該光電素子の製造方法
KR900003829B1 (ko) 패케이지 구조를 갖는 반도체장치 제조방법
US20030173655A1 (en) Component assembly and method for producing the same
US6841857B2 (en) Electronic component having a semiconductor chip, system carrier, and methods for producing the electronic component and the semiconductor chip
JPH1051034A (ja) 面実装型電子部品、その製造方法、これを回路基板上に実装する方法、およびこれを実装した回路基板
EP0389170A2 (en) Method for fabricating electronic devices
JPS60134447A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2000306932A (ja) 半導体装置の製造方法
JP3431993B2 (ja) Icパッケージの組立方法
JPH06291215A (ja) 半導体装置
JPH01133328A (ja) 半導体素子の封止方法
JPH0742164U (ja) 電子部品実装回路基板
KR19980019661A (ko) 홈이 형성된 인쇄회로기판을 이용한 COB(Chip On Board)패키지
JPH08148612A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPH01208851A (ja) 電子部品の実装構造
JPS6292331A (ja) 半導体チツプの封止方法
KR940010290A (ko) 고체촬상소자 패키지 및 그 제조방법
JP3288394B2 (ja) 固体撮像装置の製造方法
JPH0220032A (ja) 半導体素子の樹脂封止方法