JP2660353B2 - 回路試験 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は電気回路試験に関し、特に試験プローブが試
験すべき回路と接触しているかどうかの検出に関する。

背景技術 少なくとも１つの試験プローブを用いて、電気回路を
試験するための各種の方法が知られている。例えば、そ
のような少なくとも１つのプローブは、アース面に対す
るキャパシタンス（静電容量）値の点検や抵抗値の点検
あるいはこれら両点検の組合せに基づき、開回路故障及
び／又は短絡回路故障について導電路を試験することに
よって、部品の実装前にプリント回路板を自動的に試験
するのに使える。

しかし、プローブが導電路やそのような導電路の端子
へ適切に接触しないと、プローブからの読取エラーが生
じてしまう。

発明の開示 本発明の一態様によれば、試験プローブが試験すべき
電気回路と接触しているかどうかを検出する方法におい
て、前記プローブと基準間のインピーダンス値の大きさ
を得、該大きさを、前記プローブを回路と接触させずに
得られたインピーダンスの大きさと比較することを含む
方法が提供される。

本発明の別の態様によれば、試験プローブが試験すべ
き電気回路と接触しているかどうかを検出する装置にお
いて、前記プローブと基準間のインピーダンス値の大き
さを得る手段、及び該大きさを、前記プローブを回路と
接触させずに得られたインピーダンスの大きさと比較す
る手段を備えた装置が提供される。

図面の簡単な説明 添付の図面は、本発明による装置の一実施例の概略図
である。

発明を実施するための最良の形態 以下本発明を、本発明による装置の実施例の概略図で
ある添付の図面を参照し一例としてのみ説明する。

添付の図面を参照すれば、参照符号Ｐは回路Ｕの試験
のため、試験下の回路Ｕと接触するのに使われる試験プ
ローブを示す。プローブＰに近接してキャパシタンス測
定回路Ｍが位置し、このキャパシタンス測定回路Ｍはリ
レーRL1を介してプローブＰと接続可能であるが、コン
デンサCyによってリレーRL1から隔絶されている。リレ
ーRL1は、その端子１と２または端子３と２のいずれか
を接続する接点子を有する。リレーRL1の端子３とアー
ス（Ｇ）との間にリレーRL2が接続され、リレーRL2は通
常その両端子１と２の間に開回路を与える。試験の目的
でプロープＰへ至る通常の電路は、入力ＳとリレーRL1
の両端子１と２及び接点子を介して形成される。

使用中プローブＰが実際に試験下の回路と接触してい
るかどうかに関する二次点検を可能とするため、まず、
プローブが試験下に置かれる回路から外される。次い
で、回路Ｔの制御下で、リレーRL1の接点子がその両端
子２と３を接続し、キャパシタンス測定回路Ｍがコンデ
ンサCyを介してプローブＰに接続される状態にリレーRL
1が置かれる。その後、回路Ｍが回路Ｔの制御下でキャ
パシタンスの測定を行う。この測定はコンデンサCyと、
プローブＰ及び付設配線の漂遊キャパシタンス（Cp）と
を反映しており、その結果が出力Ｒを介し制御回路Ｔ内
に基準（バックグランド）読取値として記憶される。

次に、プローブＰが試験下の回路へと移動され、その
回路に接触される。そして回路Ｍによってキャパシタン
ス測定（Cm）が行われ、このときの測定値はコンデンサ
Cyと、プローブＰ及び付設配線の漂遊キャパシタンスCp
と、さらに試験下の回路にプローブＰを接触させたこと
による追加の電気的効果が存在すればそれとを反映した
ものとなる。試験下の回路からアースＧに至るその他の
直接的な接続が存在しなければ、試験下の回路によって
付加されるキャパシタンスはCxだけで表され、次の式が
成り立つ： その後、プローブが試験下の回路と接触していない状
態におけるコンデンサCyとプローブＰ及び付設配線の漂
遊キャパシタンスCpとを反映した基準測定値が、回路Ｔ
によってCmと自動的に比較される。両者が同じ値であれ
ば、プローブＰは試験下の回路に接触されていないと考
えられる。Cmが基準測定値と異なれば（この実施例では
大きい）、プローブＰは試験下の回路に接触されている
と考えられる。つまりこの実施例において、試験下の回
路がアースに対して複合インピーダンスを表す部品を有
していれば、プローブＰが試験下の回路と接触すること
で、CmはCyとCpだけが直列に接続されたものより大きく
なる。また試験下の回路がアースに短絡していれば、Cm
＝Cyとなる。

この際、一方においてコンデンサCyは、キャパシタン
ス測定回路Ｍを試験下の回路に存在するかもしれない電
圧から保護し、また他方においてコンデンサCyは、試験
下の回路をキャパシタンス測定回路Ｍの作用によって生
じるかもしれない信号から保護する。

キャパシタンス測定を行うときプローブＰに存在する
電圧は、プローブ先端でのキャパシタンスについて行わ
れる有効な測定を妨げない。

回路Ｔの制御によってプローブＰが試験下の回路に接
触していることが確かめられたら、リレーRL1の接点子
がその両端子１と２を接続してプローブを入力Ｓに接続
する状態にリレーRL1が置かれ、比較すべき回路の試験
を行う。また、リレーRL2の接点子がその両端子１と２
を接続する状態にリレーRL2が置かれ、試験下の回路を
損傷する恐れのあるコンデンサCyの電圧を放電させる。

各リレーRL1とRL2は、機械的なスイッチあるいは電路
を指定可能な任意の半導体手段で置き換えてもよい。

キャパシタンス測定回路Ｍは、試験下の回路を充電す
るのにかかる時間を、２つの所定電圧限界の間で一定ま
たは半一定の電流によって測定する構成にすることもで
きる。

プローブＰは、人手であるいは電気、油圧、空圧また
はその他任意の動力手段によって自動的に達成可能な電
気的接触を果たすように設計された任意の機械的装置と
し得る。

プローブＰの移動によるキャパシタンス変化は、試験
下の回路に対して通常接触される位置となる位置にプロ
ーブを置いて基準測定を行うことで、試験下の回路を物
理的に全く正確にその位置へ置かなくてもゼロにでき
る。

試験下の回路の導電性表面を、容量、誘導または抵抗
手段によって他の電気部品へ電気的に接続してもよい。
また接触の点検を行うとき、導電性表面は電気的に「活
性」であってもよい。

産業上の利用分野 本発明によれば、試験プローブが試験すべき電気回路
と接触しているかどうかを、試験すべき回路や測定回路
を損傷することなく検出できる方法及び装置が得られ
る。

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】電気回路の試験に用いる試験プローブと、
   該試験プローブが試験すべき電気回路と接触しているか
   否かを検出する装置とを有したシステムにおいて、 前記装置は、 キャパシタンス値を測定する測定手段と、 前記測定手段と前記試験プローブとの間に設けられ、前
   記試験プローブを前記測定手段に接続する第１の状態と
   前記試験プローブを試験入力側に接続する第２の状態と
   を切り換える第１のスイッチ手段と、 前記測定手段に接続され、前記第１のスイッチ手段が第
   １の状態で、かつ前記試験プローブが前記電気回路に接
   触していない場合における前記試験プローブと基準電位
   との間の第１のキャパシタンス値を前記測定手段に測定
   させ、該測定結果を保持し、その後前記第１のスイッチ
   手段が第１の状態で、かつ前記試験プローブが前記電気
   回路に接触すべき位置に配置された場合における前記試
   験プローブと基準電位との間の第２のキャパシタンス値
   を前記測定手段に測定させ、該第２のキャパシタンス値
   を前記第１のキャパシタンス値と比較する制御手段と を具備したことを特徴とするシステム。
2. 【請求項２】前記第１のスイッチ手段は、リレーである
   ことを特徴とする請求項１記載のシステム。
3. 【請求項３】前記装置は、前記第１のスイッチ手段と前
   記測定手段との間にキャパシタを接続したことを特徴と
   する請求項１記載のシステム。
4. 【請求項４】前記キャパシタと基準電位との間に接続さ
   れた第２のスイッチ手段をさらに具備し、 前記第２のスイッチ手段は、前記キャパシタを前記基準
   電位に接続した閉状態と前記キャパシタを前記基準電位
   から切り離した開状態とを切り換えることを特徴とする
   請求項３記載のシステム。