JPH0438300Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、電子部品の特性試験装置に関し、さ
らに詳しくは、電子部品が所定の試験位置にある
か否かを検出し、前記試験位置にあるときには、
その試験位置で特性試験を開始する特性試験装置
に関する。

一般に、半導体や抵抗などの電子部品の特性試
験においては、電子部品が所定の位置に有るか否
かを検出した後に特性試験を行わねばならない
が、従来では、この検出は、特性試験装置とは別
のフオトトランジスタや市販のセンサを利用して
おり、このため、構成が複雑となつたり、取り付
けのためのスペースを必要とするなどの難点があ
る。

さらに、フオトトランジスタやセンサと、特性
試験装置の測定用端子とは別であるので、フオト
トランジスタやセンサで電子部品が検出されてい
ても、僅かの位置ずれなどによつて電子部品のリ
ード端子が特性試験装置の前記測定用端子に接触
できていない場合などがあり、かかる場合には、
特性試験装置では、電子部品が所定の試験位置に
あるものとして特性試験が行われて不良と判定さ
れてしまうことになる。

本考案は、上述の点に鑑みて為されたものであ
つて、電子部品が所定の試験位置にあつて特性試
験装置の測定用端子に接触できているか否かを簡
単な構成で簡易かつ確実に検出できるようにし、
電子部品が所定の試験位置にあるときには、その
位置で直ちに特性試験を開始できるようにした電
子部品の特性試験装置を提供することを目的とす
る。

以下、図面によつて本考案の実施例について詳
細に説明する。図は本考案の一実施例の構成を示
す回路図である。本考案に従う電子部品の特性試
験装置１は、基本的には、テスタ２とコントロー
ラ３とを含む。テスタ２は、電子部品８の一方の
端子と電気的に接続する第１端子としての第１測
定用端子４と、この第１測定用端子４が接続する
電子部品８の前記一方の端子と電気的に接続すべ
く配設された第２端子としての第２測定用端子５
とを有し、さらに、電子部品８の他の端子と電気
的にそれぞれ接続する第３、第４測定用端子６，
７とを有する。第１測定用端子４は第４測定用端
子７と、第２測定用端子５は第３測定用端子６
と、外付リレー１２を介してそれぞれ接続され
る。

さらに第１測定用端子４は、スイツチ１３を介
して第１増幅器１７に接続され、第２測定用端子
５は、スイツチ１４を介して定電流電源１９に接
続される。また、第３測定用端子６はスイツチ１
５を介して第２増幅器１８に接続され、第４測定
用端子７は、スイツチ１６を介して接地される。
第１、第２増幅器１７，１８の出力端子はコント
ローラ３に接続される。このコントローラ３は、
上述の各スイツチ１３〜１６の開閉を制御すると
ともに、外付リレー１２を制御し、第１、第２増
幅器１７，１８の出力変化に基づいて、電子部品
の有無を検出し、電子部品があるときには、その
試験位置で特性試験を開始する。

テスタ２の対をなす第１，第２測定用端子４，
５は、特定試験のために所定の試験位置に配置さ
れたときの仮想線で示された電子部品８のリード
端子９が存在すべき位置に配置され、第３、第４
測定用端子６，７は、電子部品８のリード端子１
１，１０が存在すべき位置にそれぞれ配置され
る。

このように構成された特性試験装置１におい
て、電子部品が所定の試験位置にあるか否かの検
出は次のようにして行われる。

電子部品８が所定の試験位置に配置されている
ときには、テスタ２の対をなす第１、第２測定用
端子４，５は電子部品８のリード端子９と電気的
に接触され、第３、第４測定用端子６，７は電子
部品８のリード端子１１，１０とそれぞれ電気的
に接触される。これによつて、第１、第２測定用
端子４，５は、リード端子９を介して相互に短絡
される。

したがつて、定電流電源１９は、スイツチ１
４、第２測定用端子５、リード端子９、外付リレ
ー１２、第４測定用端子７およびスイツチ１６を
介してアースに接続される。その結果第１増幅器
１７からは電圧OVが出力され、第２増幅器１８
からは同様に電圧OVが出力される。コントロー
ラ３では、第１増幅器１７、第２増幅器１８の差
電圧を算出する。この場合には、差電圧は０とな
り、コントローラ３は、電子部品８が所定の試験
位置に配置されたと判断して特性試験を開始す
る。

電子部品８が所定の試験位置に配置されていな
いときには、電子部品８のリード端子９，１０，
１１が存在しないためテスタ２の対を成す第１、
第２測定用端子４，５は相互に電気的に開放さ
れ、第３、第４測定用端子６，７も電気的に開放
される。このときには、第１増幅器１７からの出
力電圧は０となり、第２増幅器１８からは定電流
電源に対応した電圧Ｖが出力される。このときに
は、コントローラ３での差電圧がＶとなり、電子
部品が所定の試験位置にないと判断して不良とし
て表示する。

以上のように本考案によれば、所定の試験位置
に配置されたときの電子部品のリード端子が存在
すべき位置に、テスタの対を成す測定用端子を配
置し、電子部品が所定の試験位置に配置されてい
るときには、前記リード端子を介して両測定用端
子が電気的に短絡せられ、電子部品が所定の試験
位置に配置されていないときには、両測定用端子
が電気的に開放せられ、前記短絡・開放に伴うテ
スタ内部の測定出力の変化に基づいて電子部品の
前記所定の試験位置における有無を検出するよう
にしたので、簡単な構成で簡易に電子部品の有無
の試験位置における有無を検出するようにしたの
で、簡単な構成で簡易に電子部品の有無の検出が
可能となる。

さらに、特性試験装置の測定用端子を用いて電
子部品が所定の試験位置にあるか否かを検出する
ので、特性試験装置とは別のフオトトランジスタ
やセンサを用いる従来例のように、電子部品のリ
ード端子が特性試験装置の測定用端子に接触して
いないにも拘わらず特性試験を行つて不良と判定
してしまうといつた不都合も解消される。

しかも、電子部品の有無検出と特性試験とが所
定の試験位置で行われるので、両者を一挙に行う
ことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

図は本考案の一実施例の回路図である。 １……電子部品の特性試験装置、２……テス
タ、３……コントローラ、４……第１測定用端
子、５……第２測定用端子、８……電子部品、
９，１０，１１……リード端子。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 少なくとも３本のリード端子を有する電子部品
   の１本のリード端子と電気的に接続すべく配設さ
   れた第１、第２測定用端子と、他のリード端子と
   電気的にそれぞれ個別に接続すべく配設された第
   ３、第４測定用端子と、前記各測定用端子に個別
   的に対応接続するスイツチ手段と、前記スイツチ
   手段の開閉を制御するとともに、該スイツチ手段
   を介して与えられる出力に基づいて、電子部品の
   特性試験を行うコントローラと、を備える電子部
   品の特性試験装置であつて、 前記コントローラによつて制御されて第１測定
   用端子と第４測定用端子間および第２測定用端子
   と第３測定用端子間を接続遮断する手段を備え、 前記コントローラは、前記第１、第２測定用端
   子の短絡により所定の試験位置における電子部品
   の有無を検知し、電子部品が有るときには該電子
   部品の特性試験を前記所定の試験位置で開始させ
   ることを特徴とする電子部品の特性試験装置。