JPH0222707Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0222707Y2 JPH0222707Y2 JP20105682U JP20105682U JPH0222707Y2 JP H0222707 Y2 JPH0222707 Y2 JP H0222707Y2 JP 20105682 U JP20105682 U JP 20105682U JP 20105682 U JP20105682 U JP 20105682U JP H0222707 Y2 JPH0222707 Y2 JP H0222707Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- resistor
- contact
- measurement
- probe
- Prior art date
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- Expired
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 20
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 7
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(1) 考案の技術分野
本考案は抵抗器等の抵抗値を測定する回路に関
する。
する。
(2) 技術の背景
第１図は従来の抵抗測定回路図例を示す。製造
された抵抗器の抵抗値が所定の値になつているか
否か検査するために第１図に示す如く抵抗測定回
路が使用されている。被測定抵抗器１のリード
２、３に対し測定プローブ４，５を当てて、リレ
ー接点ｒを動作させて判定回路６へ引き込む。判
定回路６では抵抗器１の抵抗値が所定の値になつ
ているか否か判定し、一般には図示されていない
表示回路によつて結果を表示するようになつてい
る。
された抵抗器の抵抗値が所定の値になつているか
否か検査するために第１図に示す如く抵抗測定回
路が使用されている。被測定抵抗器１のリード
２、３に対し測定プローブ４，５を当てて、リレ
ー接点ｒを動作させて判定回路６へ引き込む。判
定回路６では抵抗器１の抵抗値が所定の値になつ
ているか否か判定し、一般には図示されていない
表示回路によつて結果を表示するようになつてい
る。
(3) 従来技術と問題点
ところで第１図に示す測定回路で抵抗値を測定
する場合に、測定回路のプローブ４，５と被測定
抵抗器１のリード２，３は確実に接続されている
事が必要である。万一抵抗器１のリード２，３と
プローブ４，５との接続がされていない場合、ま
たは接触していてもリード２，３にゴミ等が不着
していたり、金属の酸化等があると確実な電気的
接続が得られず正確な抵抗値の測定ができない。
このため本来良品とすべき抵抗器が不良品と判定
される可能性がある。
する場合に、測定回路のプローブ４，５と被測定
抵抗器１のリード２，３は確実に接続されている
事が必要である。万一抵抗器１のリード２，３と
プローブ４，５との接続がされていない場合、ま
たは接触していてもリード２，３にゴミ等が不着
していたり、金属の酸化等があると確実な電気的
接続が得られず正確な抵抗値の測定ができない。
このため本来良品とすべき抵抗器が不良品と判定
される可能性がある。
(4) 考案の目的
本考案の目的は以上説明した従来の抵抗器の測
定回路の問題点を解決するものである。
定回路の問題点を解決するものである。
(5) 考案の構成
そしてこの考案の目的は抵抗器のリードに測定
用プローブを接触させて、該抵抗器の抵抗値を測
定する回路において、前記測定用プローブの他に
接触チエツク用プローブを設け、該リードを介し
て測定用プローブと接触チエツク用プローブ間の
導通を試験する接触チエツク回路を設けた事を特
徴とする抵抗測定回路により達成される。
用プローブを接触させて、該抵抗器の抵抗値を測
定する回路において、前記測定用プローブの他に
接触チエツク用プローブを設け、該リードを介し
て測定用プローブと接触チエツク用プローブ間の
導通を試験する接触チエツク回路を設けた事を特
徴とする抵抗測定回路により達成される。
(6) 考案の実施例
次に図面により本考案の詳細を説明する。第２
図は本考案の実施例による抵抗値測定回路図を示
す。本考案の回路では従来の測定プローブ４，５
の外に接触チエツク用プローブ８，９を設ける。
抵抗値の測定を始める前に、まずリレーＲ１を動
作させて、その接点ｒ１を切換えて、測定用プロ
ーブ４，５および接触チエツク用プローブ８，９
の回路を接触チエツク回路７へ引き込む。
図は本考案の実施例による抵抗値測定回路図を示
す。本考案の回路では従来の測定プローブ４，５
の外に接触チエツク用プローブ８，９を設ける。
抵抗値の測定を始める前に、まずリレーＲ１を動
作させて、その接点ｒ１を切換えて、測定用プロ
ーブ４，５および接触チエツク用プローブ８，９
の回路を接触チエツク回路７へ引き込む。
ここで測定用プローブ４→リード２→接触チエ
ツク用プローブ８の経路に電流が流れるか否か、
つまり導通があるか否かを接触チエツク回路７内
のフオトカプラ７−１で検出する。同様に測定用
プローブ５→リード３→接触チエツク用プローブ
９の経路に導通があるか否かをフオトカプラ７−
２で検出する。フオトカプラ７−１およびフオト
カプラ７−２が共にオンとなる（つまり測定用プ
ローブ４，５が確実にリード２，３に接触してい
る）とアンドゲート７−３がオンとなり、その信
号を判定回路６へ送る。
ツク用プローブ８の経路に電流が流れるか否か、
つまり導通があるか否かを接触チエツク回路７内
のフオトカプラ７−１で検出する。同様に測定用
プローブ５→リード３→接触チエツク用プローブ
９の経路に導通があるか否かをフオトカプラ７−
２で検出する。フオトカプラ７−１およびフオト
カプラ７−２が共にオンとなる（つまり測定用プ
ローブ４，５が確実にリード２，３に接触してい
る）とアンドゲート７−３がオンとなり、その信
号を判定回路６へ送る。
判定回路６はこの信号を受けるリレーＲ１を復
旧させ、その接点ｒ１を元にもどす。
旧させ、その接点ｒ１を元にもどす。
ここで測定用プローブ４，５の回路は判定回路
６側へ引き込まれ、抵抗器１の抵抗値が所定の値
になつているか否か判定する。
６側へ引き込まれ、抵抗器１の抵抗値が所定の値
になつているか否か判定する。
この際に判定回路６では接触チエツク回路７か
らの出力信号を考慮し、接触チエツク回路７の出
力が“否”とされた場合は再度測定を行なう。判
定回路６では接触チエツク回路７からの出力が
“良”で、かつ抵抗器１の値が所定の値になつて
いる時のみ“良”と判定する。
らの出力信号を考慮し、接触チエツク回路７の出
力が“否”とされた場合は再度測定を行なう。判
定回路６では接触チエツク回路７からの出力が
“良”で、かつ抵抗器１の値が所定の値になつて
いる時のみ“良”と判定する。
なお本実施例ではフオトカプラ７−１，７−２
を使用して導通チエツクを行つたが、これに限る
ものではなく、要は導通のチエツクが出来ればよ
いので他の回路素子を使用してもよい。
を使用して導通チエツクを行つたが、これに限る
ものではなく、要は導通のチエツクが出来ればよ
いので他の回路素子を使用してもよい。
(7) 考案の効果
以上説明したように本考案によれば、抵抗器の
抵抗値測定試験において、被測定抵抗器のリード
とプローブが接触していない場合とか、リードと
接触していてもリードの酸化、よごれがある場合
に誤つて不良品と判定することがなくなり抵抗器
の測定試験の信頼度を向上することができる。
抵抗値測定試験において、被測定抵抗器のリード
とプローブが接触していない場合とか、リードと
接触していてもリードの酸化、よごれがある場合
に誤つて不良品と判定することがなくなり抵抗器
の測定試験の信頼度を向上することができる。
第１図は従来の抵抗器測定回路図例、第２図は
本考案の実施例による抵抗器測定回路図を示す。 図において、１は抵抗器、２，３はリード、
４，５は測定用プローブ、８，９は接触チエツク
用プローブ、６は判定回路、７は接触チエツク回
路を示す。
本考案の実施例による抵抗器測定回路図を示す。 図において、１は抵抗器、２，３はリード、
４，５は測定用プローブ、８，９は接触チエツク
用プローブ、６は判定回路、７は接触チエツク回
路を示す。
Claims (1)
- 抵抗器のリードに測定用プローブを接触させ
て、該抵抗器の抵抗値を測定する回路において、
前記測定用プローブの他に接触チエツク用プロー
ブを設け、該リードを介して測定用プローブと接
触チエツク用プローブ間の導通を試験する接触チ
エツク回路を設けた事を特徴とする抵抗測定回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20105682U JPS59103288U (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 抵抗測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20105682U JPS59103288U (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 抵抗測定回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59103288U JPS59103288U (ja) | 1984-07-11 |
| JPH0222707Y2 true JPH0222707Y2 (ja) | 1990-06-19 |
Family
ID=30426564
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20105682U Granted JPS59103288U (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 抵抗測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59103288U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AU2003206667A1 (en) * | 2002-01-07 | 2003-07-24 | Capres A/S | Electrical feedback detection system for multi-point probes |
-
1982
- 1982-12-27 JP JP20105682U patent/JPS59103288U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59103288U (ja) | 1984-07-11 |
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