JPS58201075A - トランスフアリ−ドスイツチの特性測定回路 - Google Patents
トランスフアリ−ドスイツチの特性測定回路Info
- Publication number
- JPS58201075A JPS58201075A JP57083195A JP8319582A JPS58201075A JP S58201075 A JPS58201075 A JP S58201075A JP 57083195 A JP57083195 A JP 57083195A JP 8319582 A JP8319582 A JP 8319582A JP S58201075 A JPS58201075 A JP S58201075A
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- voltage
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- circuit
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/3277—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
トランスファリードスイッチには、ノーマリ・クローズ
接点（以下ＮＣ接点と略記する）とノーマリ・オーブン
接点（以下Ｎｏ接点と略記する）がある。本発明は、こ
の接点の動作の検出をする回路に関するものである。
接点（以下ＮＣ接点と略記する）とノーマリ・オーブン
接点（以下Ｎｏ接点と略記する）がある。本発明は、こ
の接点の動作の検出をする回路に関するものである。
（背景技術）
従来、トランスファリードスイッチの特性測定（感動値
、開放値、接触抵抗値）は、ＮＣ接点（ノーマリ・クロ
ーズ）用の測定回路とＮＣ接点（ノーマリ・オープン）
用の測定回路を備えて、磁気バイアスを変化させること
により行なってきた。
、開放値、接触抵抗値）は、ＮＣ接点（ノーマリ・クロ
ーズ）用の測定回路とＮＣ接点（ノーマリ・オープン）
用の測定回路を備えて、磁気バイアスを変化させること
により行なってきた。
この場合、ＮＣ接点用の測定回路とＮＣ接点用の測定回
路は固定されているため、特性測定の場合、測定治具の
ＮＣ側、Ｎｏ側のそれぞれの回路に逆の接点が接続され
ると正常なる測定が不可能であった。
路は固定されているため、特性測定の場合、測定治具の
ＮＣ側、Ｎｏ側のそれぞれの回路に逆の接点が接続され
ると正常なる測定が不可能であった。
そのため、人間が目視により測定治具に対しリードスイ
ッチのそう着方向をそろえてそう着し、測定を行なって
いた。
ッチのそう着方向をそろえてそう着し、測定を行なって
いた。
しかしながら、大量に生産されるトランスファリードス
イッチの特性測定を行なう場合、このそう着方向をそろ
えてそう着することは、非常に作業効率の悪いものであ
った。
イッチの特性測定を行なう場合、このそう着方向をそろ
えてそう着することは、非常に作業効率の悪いものであ
った。
（発明の課題）
本発明は、この欠点を除去して、トランスファリードス
イッチを迅速にかつ自動的に測定すべく、測定治具にそ
う着されたリードスイッチを接点の方向に合わせて測定
を行なうために、測定回路による接点方向の検出を目的
とし、その特徴は、リードスイッチの接点部の両端に接
触する電圧プローブピン及び電流プローブピンと、一方
の電流プローブピンに電圧クランプダイオードを介して
接続される定電流回路と、他方の電流プローブピンを接
地する配線と、前記定電流回路の出力電圧が所定の値以
上か否かを測定する比較回路と、前記グローブピンに接
続され電圧利得の切替が可能な差動増幅器及びその入力
にスイッチを介して接続される電圧バイアス回路と、該
差動増幅器の出力に接続されるＡ／Ｄコンバータと、前
記比較回路及び当該Ａ／Ｄコンバータの出力に従ってリ
ードスイッチの開閉接点の良否を判定する制御回路とを
有するごときトランスファリードスイッチの特性測定回
路にある。
イッチを迅速にかつ自動的に測定すべく、測定治具にそ
う着されたリードスイッチを接点の方向に合わせて測定
を行なうために、測定回路による接点方向の検出を目的
とし、その特徴は、リードスイッチの接点部の両端に接
触する電圧プローブピン及び電流プローブピンと、一方
の電流プローブピンに電圧クランプダイオードを介して
接続される定電流回路と、他方の電流プローブピンを接
地する配線と、前記定電流回路の出力電圧が所定の値以
上か否かを測定する比較回路と、前記グローブピンに接
続され電圧利得の切替が可能な差動増幅器及びその入力
にスイッチを介して接続される電圧バイアス回路と、該
差動増幅器の出力に接続されるＡ／Ｄコンバータと、前
記比較回路及び当該Ａ／Ｄコンバータの出力に従ってリ
ードスイッチの開閉接点の良否を判定する制御回路とを
有するごときトランスファリードスイッチの特性測定回
路にある。
（発明の構成及び作用）
第１図は本発明の実施例で、１００が被測定スイッチ、
３０は絶縁物であり、 ２００，２００ａはテスト回路
を示す。電流プローブピン１０と定電流回路１２、クラ
ンプダイオード１４、電圧比較回路１６及び電圧プロー
ブピン１８と電圧利得の切替が可能な差動増幅器側、電
子スイッチ、電圧バイアス回路、Ａ／Ｄコンバータ２２
及ヒマヒマイクロコンピュータＰＵ’）から構成される
。２００ ａは上記と同様の回路であり、リードスイッ
チの図の右側の接点に関するテストを行なうものである
。
３０は絶縁物であり、 ２００，２００ａはテスト回路
を示す。電流プローブピン１０と定電流回路１２、クラ
ンプダイオード１４、電圧比較回路１６及び電圧プロー
ブピン１８と電圧利得の切替が可能な差動増幅器側、電
子スイッチ、電圧バイアス回路、Ａ／Ｄコンバータ２２
及ヒマヒマイクロコンピュータＰＵ’）から構成される
。２００ ａは上記と同様の回路であり、リードスイッ
チの図の右側の接点に関するテストを行なうものである
。
ＮＣ接点とＮＣ接点を区別するために、定電流回路の出
力に電圧比較器を接続し、電流プローブピン間で接点の
開と閉が検出できるようにする。
力に電圧比較器を接続し、電流プローブピン間で接点の
開と閉が検出できるようにする。
差動増幅器の出力電圧をＡ／Ｄコンバータ２２により読
み、定電流回路のクランプ電圧を検出して、接点の開を
検出できるようにする。差動増幅器の入力に電圧バイア
スを加えて、測定プローブピンが被測定リードスイッチ
に対して正常に接触しているかどうかの検出を行ない、
ＮＣ，ＮＣ接点の誤検出を防ぐ。電圧バイアスは、電子
スイッチを通して差動増幅器に接続され、特性測定時に
はスイッチをＯＦＦにする。定電流回路の電圧クランプ
を２■とし、差動増幅器の十入力端子に３Ｖの電圧バイ
アス、−入力端子に一１ｖの電圧バイアスを加える。差
動増幅器の利得は１とする。
み、定電流回路のクランプ電圧を検出して、接点の開を
検出できるようにする。差動増幅器の入力に電圧バイア
スを加えて、測定プローブピンが被測定リードスイッチ
に対して正常に接触しているかどうかの検出を行ない、
ＮＣ，ＮＣ接点の誤検出を防ぐ。電圧バイアスは、電子
スイッチを通して差動増幅器に接続され、特性測定時に
はスイッチをＯＦＦにする。定電流回路の電圧クランプ
を２■とし、差動増幅器の十入力端子に３Ｖの電圧バイ
アス、−入力端子に一１ｖの電圧バイアスを加える。差
動増幅器の利得は１とする。
検出方法は先ず、電圧プローブ端におけるスイッチの開
と閉を検出するために、Ａ／Ｄコンバータの出力を読む
。０．５Ｖ以下であれば閉じた接点が正常とみなし、さ
らに電流グローブ端における接触を調べる。接触は定電
流回路の出力電圧がＩＶ以内かどうかで調べられる。電
流プローブの一端は図示のごとく接地されているので、
前記出力電圧は正常時にはほぼ０である。出力電圧が１
ｖ以下ならば正常（ＮＣ接点）であり、もし定電流回路
の出力がＩＶ以上の場合、電流プローブビンがリードス
イッチに接触していないことになる。
と閉を検出するために、Ａ／Ｄコンバータの出力を読む
。０．５Ｖ以下であれば閉じた接点が正常とみなし、さ
らに電流グローブ端における接触を調べる。接触は定電
流回路の出力電圧がＩＶ以内かどうかで調べられる。電
流プローブの一端は図示のごとく接地されているので、
前記出力電圧は正常時にはほぼ０である。出力電圧が１
ｖ以下ならば正常（ＮＣ接点）であり、もし定電流回路
の出力がＩＶ以上の場合、電流プローブビンがリードス
イッチに接触していないことになる。
電圧プローブ端での電圧が０１５■以上の場合、今度は
電圧が２，５Ｖ以下であることを確認する。
電圧が２，５Ｖ以下であることを確認する。
２．５Ｖ以下ならばＮＣ接点が正常であり、２．５■以
上の場合、電圧プローブピンか電流プローブビンがリー
ドスイッチに接触していないと判断される（接触ミス）
。次に、電圧が１．５■以上であることを確認する。１
．５Ｖ以下の場合、ＮＣ接点において、プローブピンの
非接触が起きていると判断される。１．５■以上の場合
は、ＮＣ接点と判断される。
上の場合、電圧プローブピンか電流プローブビンがリー
ドスイッチに接触していないと判断される（接触ミス）
。次に、電圧が１．５■以上であることを確認する。１
．５Ｖ以下の場合、ＮＣ接点において、プローブピンの
非接触が起きていると判断される。１．５■以上の場合
は、ＮＣ接点と判断される。
図示の右側の接点の特性は、上記と同様の回路構成であ
る図示のブロック２００ａにより行なわれる。
る図示のブロック２００ａにより行なわれる。
以上で、トランスフアリ−トスインチの接点の検出及び
接触プローブピンのリードスイッチに対する接触の確認
が可能となる。特性測定回路は、ひとつのリードスイッ
チに対して中間に絶縁物を介してふたつあり、他方の接
点に対しても前記の検出を行なう。特性測定回路の入力
をリレーにて切換えられるようにすれば、回路はひとつ
で兼ねることも可能である。ふたつの接点データより、
どちらもＮｏ接点又はどちらもＮＣ接点の場合はスイッ
チの不良となる。
接触プローブピンのリードスイッチに対する接触の確認
が可能となる。特性測定回路は、ひとつのリードスイッ
チに対して中間に絶縁物を介してふたつあり、他方の接
点に対しても前記の検出を行なう。特性測定回路の入力
をリレーにて切換えられるようにすれば、回路はひとつ
で兼ねることも可能である。ふたつの接点データより、
どちらもＮｏ接点又はどちらもＮＣ接点の場合はスイッ
チの不良となる。
（発明の効果）
本発明により、トランスファリードスイッチの特性測定
が迅速に行なえる。
が迅速に行なえる。
トランスファリードスイッチの短絡、開放の不良の検出
が簡単に行なえる。
が簡単に行なえる。
測定プローブピンの接触の検出も行なうので、ピンの非
接触によるリードスイッチの不良判定が防げる。
接触によるリードスイッチの不良判定が防げる。
添付図面は本発明による測定回路を示す。
１００；被測定スイッチ
１０；電流プローブピン
１８；電圧プローブピン
特許出願人
沖電気工業株式会社
特許出願代理人
弁理士 山 本 恵 −
Claims (1)
- リードスイッチの接点部の両端に接触する電圧プローブ
ビン及び電流プローブピンと、一方の電流プローブピン
に電圧クランプダイオードを介して接続される定電流回
路と、他方の電流プローブピンを接地する配線と、前記
定電流回路の出力電 圧が所定の値以上か否かを測
定する比較回路と、前記電圧プローブピンに接続され電
圧利得の切替が可能な差動増幅器及びその入力にスイッ
チを介して接続される電圧バイアス回路と、該差動増幅
器の出力に接続されるＡ／Ｄコンバータと、前記比較回
路及び当該Ａ／Ｄコンバータの出力に従ってリードスイ
ッチの開閉接点の良否を判定する制御回路とを有するこ
とを特徴とするトランスファリードスイッチの特性測定
回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57083195A JPS58201075A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | トランスフアリ−ドスイツチの特性測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57083195A JPS58201075A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | トランスフアリ−ドスイツチの特性測定回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58201075A true JPS58201075A (ja) | 1983-11-22 |
Family
ID=13795544
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57083195A Pending JPS58201075A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | トランスフアリ−ドスイツチの特性測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58201075A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104635149A (zh) * | 2013-11-08 | 2015-05-20 | 上海电科电器科技有限公司 | 电子式断路器的自检模块 |
-
1982
- 1982-05-19 JP JP57083195A patent/JPS58201075A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104635149A (zh) * | 2013-11-08 | 2015-05-20 | 上海电科电器科技有限公司 | 电子式断路器的自检模块 |
| CN104635149B (zh) * | 2013-11-08 | 2017-09-05 | 上海电科电器科技有限公司 | 电子式断路器的自检模块 |
| US9797953B2 (en) | 2013-11-08 | 2017-10-24 | Seari Electric Technology Co., Ltd. | Self-test module of electronic circuit breaker |
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