JPH0328391Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0328391Y2 JPH0328391Y2 JP11838082U JP11838082U JPH0328391Y2 JP H0328391 Y2 JPH0328391 Y2 JP H0328391Y2 JP 11838082 U JP11838082 U JP 11838082U JP 11838082 U JP11838082 U JP 11838082U JP H0328391 Y2 JPH0328391 Y2 JP H0328391Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- voltage
- terminals
- terminal
- constant current
- Prior art date
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- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 10
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は四端子抵抗測定回路を使用し、接点を
有する部品の接点抵抗を測定する回路に関するも
のである。
有する部品の接点抵抗を測定する回路に関するも
のである。
従来のこの種接点抵抗測定回路を第１図に示
す。図において、１は定電流源であり、被測定物
２の電流端子３，４に接触片をもつて接続してい
る。５，６は電圧端子であり、被測定物２の閉成
後、定電流源１より供給される一定電流によつて
生ずる電圧降下を検出するべく高入力インピーダ
ンスの増幅器７の入力に接続されている。この回
路でもし、電流端子３又は４が接触不良を起し一
定電流を流すことが不可能となつた場合、被測定
物２の閉成後電圧端子５，６間は電圧降下を生じ
ないためほぼ０となり、被測定物２の接点抵抗は
良品と判別され、又電圧端子５，６が接触不良と
なれば増幅器７の入力がオープンと等価になり、
雑音電圧等により接点抵抗大不良の判定となる欠
点を有していた。なお、８はコンパレータであ
る。
す。図において、１は定電流源であり、被測定物
２の電流端子３，４に接触片をもつて接続してい
る。５，６は電圧端子であり、被測定物２の閉成
後、定電流源１より供給される一定電流によつて
生ずる電圧降下を検出するべく高入力インピーダ
ンスの増幅器７の入力に接続されている。この回
路でもし、電流端子３又は４が接触不良を起し一
定電流を流すことが不可能となつた場合、被測定
物２の閉成後電圧端子５，６間は電圧降下を生じ
ないためほぼ０となり、被測定物２の接点抵抗は
良品と判別され、又電圧端子５，６が接触不良と
なれば増幅器７の入力がオープンと等価になり、
雑音電圧等により接点抵抗大不良の判定となる欠
点を有していた。なお、８はコンパレータであ
る。
本考案は、このような従来の欠点を除去し、測
定端子の接触不良を検出できるようにしたもので
ある。以下本考案の一実施例を図面により詳細に
説明する。
定端子の接触不良を検出できるようにしたもので
ある。以下本考案の一実施例を図面により詳細に
説明する。
第２図は、本考案接点抵抗測定回路の一実施例
を示す回路図で、第１図と同じ機能部品には同一
の参照符号を付した。図に示すように９，１０，
１１は連動するリレーのトランスフアー接点で、
定電流源１の２本の出力線が、そのトランスフア
ー接点９，１０のステータ側に接続され、トラン
スフアー接点９，１０のブレーク側を測定の電圧
端子５，６へ、またメーク側を測定の電流端子
３，４へ接続し、その電流端子３，４間に前記接
点に連動するブレーク接点１１を介在せしめるよ
うにしたものである。
を示す回路図で、第１図と同じ機能部品には同一
の参照符号を付した。図に示すように９，１０，
１１は連動するリレーのトランスフアー接点で、
定電流源１の２本の出力線が、そのトランスフア
ー接点９，１０のステータ側に接続され、トラン
スフアー接点９，１０のブレーク側を測定の電圧
端子５，６へ、またメーク側を測定の電流端子
３，４へ接続し、その電流端子３，４間に前記接
点に連動するブレーク接点１１を介在せしめるよ
うにしたものである。
次にその動作を説明する。
各端子３，４，５，６のトランスフアー接点を
被測定物２の端子に接触せしめた後、第２図に示
すように接点９，１０，１１を閉成せしめる。し
たがつて、すべての接点が正しく接触していれ
ば、電流は定電流源１−接点９−電圧端子５−電
流端子３−接点１１−電流端子４−電圧端子６−
接点１０−定電流源１の経路を通り、この時の電
圧端子５，６間に発生する電圧はほぼ０に等し
い。
被測定物２の端子に接触せしめた後、第２図に示
すように接点９，１０，１１を閉成せしめる。し
たがつて、すべての接点が正しく接触していれ
ば、電流は定電流源１−接点９−電圧端子５−電
流端子３−接点１１−電流端子４−電圧端子６−
接点１０−定電流源１の経路を通り、この時の電
圧端子５，６間に発生する電圧はほぼ０に等し
い。
若し、端子３，４，５，６の何れか１つ以上が
接触していないと電圧端子５，６間に発生する電
圧が定電流源１の開放電圧に等しくなる。
接触していないと電圧端子５，６間に発生する電
圧が定電流源１の開放電圧に等しくなる。
次に、接触不良の場合は、電圧端子５，６の電
圧は０から開放電圧までの値をとるが、測定に影
響する値以上を接触不良と判定するには、増幅器
７の出力ｂと一定の基準電圧ａとをコンパレータ
８で比較し、基準電圧ａ以上の出力ｂに対してコ
ンパレータ８の出力ｃを発生させれば、この目的
を達することができる。
圧は０から開放電圧までの値をとるが、測定に影
響する値以上を接触不良と判定するには、増幅器
７の出力ｂと一定の基準電圧ａとをコンパレータ
８で比較し、基準電圧ａ以上の出力ｂに対してコ
ンパレータ８の出力ｃを発生させれば、この目的
を達することができる。
また、トランスフアー接点９，１０，１１を切
換えれば連動であるから、それぞれ接点９は電流
端子３の側、接点１１は開放、接点１０は電流端
子４の側に切換わり、直ちに四端子抵抗測定回路
となり、被測定物２の接点を閉成した後の電圧端
子５，６間の電圧を測定すれば接点抵抗の値が得
られる。
換えれば連動であるから、それぞれ接点９は電流
端子３の側、接点１１は開放、接点１０は電流端
子４の側に切換わり、直ちに四端子抵抗測定回路
となり、被測定物２の接点を閉成した後の電圧端
子５，６間の電圧を測定すれば接点抵抗の値が得
られる。
このように、測定端子の接触不良が検出できる
ので真の不良と接触不良との判別がつき、良品の
中に不良品が混入することと無為に良品を捨てる
ことが無くなる。
ので真の不良と接触不良との判別がつき、良品の
中に不良品が混入することと無為に良品を捨てる
ことが無くなる。
以上詳細に説明したように、本考案によれば測
定端子の接触不良を検出する機能を有しているの
で、良品が不良と判定されることがなく、自動選
別機等、人手によらず被測定物が測定治具に装着
される装置に利用して大きな効果がある。
定端子の接触不良を検出する機能を有しているの
で、良品が不良と判定されることがなく、自動選
別機等、人手によらず被測定物が測定治具に装着
される装置に利用して大きな効果がある。
第１図は従来の接点抵抗測定回路を示す回路
図、第２図は本考案接点抵抗測定回路の一実施例
を示す回路図である。 １……定電流源、２……被測定物、３，４……
電流端子、５，６……電圧端子、７……増幅器、
８……コンパレータ、９，１０，１１……リレー
のトランスフアー接点。
図、第２図は本考案接点抵抗測定回路の一実施例
を示す回路図である。 １……定電流源、２……被測定物、３，４……
電流端子、５，６……電圧端子、７……増幅器、
８……コンパレータ、９，１０，１１……リレー
のトランスフアー接点。
Claims (1)
- 四端子抵抗測定回路を使用する接点抵抗測定回
路において、定電流源の２本の出力線をそれぞれ
リレーのトランスフアー接点のステータ側に接続
し、該トランスフアー接点のブレーク側を測定の
電圧端子へ、またメーク側を測定の電流端子へ接
続すると共に、該電流端子間に前記接点と連動す
るブレーク接点を介在させ、前記電圧端子を増幅
器へ接続し、その出力をコンパレータに入力させ
るようにしたことを特徴とする接点抵抗測定回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11838082U JPS5923671U (ja) | 1982-08-05 | 1982-08-05 | 接点抵抗測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11838082U JPS5923671U (ja) | 1982-08-05 | 1982-08-05 | 接点抵抗測定回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5923671U JPS5923671U (ja) | 1984-02-14 |
| JPH0328391Y2 true JPH0328391Y2 (ja) | 1991-06-18 |
Family
ID=30272114
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11838082U Granted JPS5923671U (ja) | 1982-08-05 | 1982-08-05 | 接点抵抗測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5923671U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5317554B2 (ja) * | 2008-07-03 | 2013-10-16 | 日置電機株式会社 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
-
1982
- 1982-08-05 JP JP11838082U patent/JPS5923671U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5923671U (ja) | 1984-02-14 |
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