JPS6063474A - インサ−キット・テスタ− - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ＋ａ）発明の技術分野 本発明はプリント板パンケージの製作に際して使用され
る所謂インサーキット・テスターの改良に関す。

（ｂ）技術の背景 各種電子機器の構成に各種電子部品を搭載した単層、あ
るいは多層のプリント板、所謂プリント板パッケージが
広く使用されている。

このパッケージの製作に際しては、各種電子部品が夫々
所定の場所に正しく搭載接続されているかどうかの試験
が行われる。

このために使用される所謂インザーキソ１−・テスター
は、被試験プリント板パッケージと該パッケージ背面に
露出している被測定接続個所と接触する接触ピンを介し
て電気的に接続されるカベこの接触ピン数は数百にも及
ぶため、両者の総ての接触を完全にするために真空吸引
による手段が使用されている。

又被測定電子部品は回路上単独に接続されていることは
少ないため、インサーキット・テスターでは個々の部品
素子を精度よく測定するために、該素子に直接接触して
いるピンのほかに、所謂ガーデイング・ビンを設定して
使用される。即６１個の部品素子の測定に少なくとも３
個の接触ピンの使用が必要であり、その一つが接触不良
でも正確な測定ができない。

（Ｃ）従来技術と問題点 第１図は従来のインサーキット・テスターｌＣＴに於け
る抵抗素子Ｒｘの測定回路構成部分を示すもので、ＲＩ
ＳＲ２は被測定回路を構成する他の抵抗素子、Ｒｆはテ
スター中の基準抵抗、ＯＡはオペレーション・アンプで
被測定素子Ｒｘの両端の接触ピンＰ１、Ｒ２の他に更に
ガーディング・ビンＰ３が使用されている。

図示のように直流電源ＥＤの電圧ｅｉが付与された場合
の出力電圧ｅｏは ｅｏ＝−Ｒｘ／Ｒｆ−ｅｉ となり、入力電圧ｅｉおよび基準抵抗Ｒｆが一定である
故に、出力電圧ｅｏより被測定素子Ｒｘがめられること
公知の通りである。

被測定素子Ｒｘがコンデンサーのようなりアクタンスの
場合は、定電流交流電源が使用される。

然しこの際接触ピンＰ１あるいはＲ２の接触不良の場合
は測定値は無限大となり、被測定素子Ｒｘの不良との区
別がつかない。又ガーディング・ピンＰ３の接触不良の
場合も、他の素子Ｒ１、Ｒ２の影響で誤差を含んで被測
定素子Ｒｘの不良との区別がつかない。

しかも既述のように接触ピンの接触不良の機会がかなり
多く、屡正市な電子部品が不良と見なされる恐れがあっ
た。

（ｄ１発明の目的 本発明は上記従来のインサーキソレテスターにおける接
触ピンの接触不良に基づく測定結果の不確実性を除去す
ることをその目的とする。

＋ｅ１発明の構成 上記本発明の目的は、正規の測定回路の他に切り換え手
段による個々の接触ピンに対する導通試験回路が設けら
れ、無限大の測定値に際して該切り換え手段によって該
素子の不良か、使用された接触ピンの接触不良がを判別
する機能を備えた本発明による構成のインサーキ・２ト
・テスターによって達成される。

導通試験回路による試験のだめの電源としてインサーキ
ット・テスターに使用される電源がその゛ま一使用でき
るので、特別の電源を準備する必要はない。テスターに
使用される交流、直流、両型源のうち交流電源を使用す
れば、被測定素子が抵抗の場合でもリアクタンスの場合
でも使用できる故に有利である。

又この際接触ピンの接触機能の良否を判別するのに、該
接触ピンを経る回路の導通の有無を確認すればよく、導
通電流値を測定する必要はないので回路構成は簡単であ
る。

（ｆ）発明の実施例 以下第２図に示す実施例により本発明の要旨を具体的に
説明する。全図を通じ同一符号は同一対象物を示す。

第２図の実施例は第１図の従来の正規の測定回路構成に
本発明による接触ピンのための導通を付加したものであ
る。

接触ピンＰ１、Ｒ２およびＢ３のリード線は、夫々切り
換えスイッチＳｌ、ｓ２およびＢ３によって、正規の測
定回路のための接点Ｂ１、Ｂ２およびＢ３より導通回路
のための接点Ｍ１、Ｍ２およびＭ３に切り換えられるよ
う構成されている。

導通は該接点Ｍ１、Ｍ２およびＭ３と交流電源ＥＡ、電
流計ＩＡを介する回路で構成されている。

従ワて今抵抗Ｒｘの測定に際して無限大の値が示された
とすれば、切り換えスイッチ３１を動作させて接点をＢ
１からＭｌに切り換え、接触ピンＰ１に交流電源ＥＡの
電圧を印加する。この際電流計ＩＡが振れなければ、真
の接触不良であり、電流が流れ＼ば接触ピンＰ３との間
にながれたこと＼なり、接触性は良である。

次に切り換えスイッチＳ２を動作させて接点をＢ２から
Ｍ２に切り換えることによって接触ピンＰ２に交流電圧
を加え、同様にしてその接触性が判別される。

最後に切り換えスイッチＳ３を動作させて接点をＢ３か
らＭ３に切り換え、接触ピンＰ３の接触性が試験される
。

かくて測定に使用している総ての接触ピンの接触性の良
否が確認でき、被測定素子の良否との相違が明らかとな
る。

（ｇ１発明の詳細 な説明のように本発明によるインサーキット・テスター
にあっては、被測定電子部品の不良表示に際して、測定
回路から導通試験回路へ切り換え試験することにより、
接触ピンの接触不良ニ起因するかどうかの判別が容易に
可能となすことができる、著しい工業的効果をそなえて
いる。

【図面の簡単な説明】

第１図は公知のインサーキット・テスターにおける抵抗
素子測定回路の１例を示し、第２図は本発明によるイン
サーキット・テスターの構成を公知測定回路に適用した
実施例を示す。 図において、ＩＣＴはインサーキット・テスター、Ｐｌ
、Ｐ２およびＰ３は接触ピン、Ｒｘは被測定抵抗素子、
Ｒｆは基準抵抗、ＯＡはオペレーション・アンプ、ＥＤ
は直流電源、ＥＡは交流電源、ＩＡは交流電流針を示す
。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. プリント板パッケージに搭載された個々の電子部品素子
   が、夫々所定の接続ランドに正しく接続されているかど
   うかの試験において、正規の測定回路のほかに切り換え
   手段による個々の接触ピンに対する導通試験回路が設け
   られ、無限大の測定値に際して該切り換え手段によって
   該素子の不良か、使用された接触ピンの接触不良かを判
   別する機能を備えてなることを特徴とするプリント板パ
   ッケージ試験のためのインサーキット・テスタＯ