JPS6222077A

JPS6222077A - 電子部品測定装置

Info

Publication number: JPS6222077A
Application number: JP60161620A
Authority: JP
Inventors: Muneji Kuwabara; 桑原　宗二
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1985-07-22
Filing date: 1985-07-22
Publication date: 1987-01-30

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】本発明は複数のリードが並設された電子部品の電気的特
性を測定すると共に、リード曲りを検出して製品の良・
否の判別を行なう電子部品測定装置に関する。

〔発明の技術的背景とその問題点〕

添付図面の第３図および第４図を参照して、従来装置を
説明する。

第３図は電子部品の電気的特性を測定する従来装置の平
面図である。この測定装置はテスタ１と、す、−ド線２
によってテスタ１と接続される触子３とを有しており、
また触子３には複数の接触ピンが突出形成されるでいる
。ＤＩＰ（デュアルインラインパッケージ）のように複
数のリード６が並設された電子部品５は、搬送路７によ
って触子３の位置まで移送される。そして、各リード６
に触子３の接触ピン４が接触し、テスタ１からの測定信
号で電気的特性が測定される。この測定によって製品（
電子部品）の良・否判別が行なわれ、振分装置８によっ
て良品ステージ９と不良品ステージ１０にそれぞれ分け
られる。

第４図は触子３による測定状態を示す図である。

ガラスエポキシ樹脂からなる基板３ａに複数の接触ピン
４が並行して植設され、この接触ピン４が電子部品５の
各リード６に接触している。

このような従来装置では電子部品の電気的特性の測定を
するだけであり、リードが曲った状態までチェックする
ことができない。このため、従来は電気的特性の他に、
リード曲りを検査する工程が別途必要となっている。こ
のようなリード曲り測定装置は光センサあるいはＣＯＤ
カメラ等の光学的手段を有している。検出された曲りリ
ードについてはリード修正機によって曲りの修正処理が
行なわれる。

このように従来は、電子部品の電気的特性の測定工程と
リード曲りの検出工程が異なる種類の装置により行なわ
れて６６ため、検査に多大６時間を要している。又、そ
れぞれの検査に別個の機構を必要とし、このため検査装
置の数が増し、取付スペースの拡大と設備費の増大を招
いている。

〔発明の目的〕

本発明は上記の事情を考慮してなされたもので、電子部
品の電気的特性の測定とリード曲りの検査とを単一の装
置で容易かつ迅速に行なうことができる電子部品測定装
置を提供することを目的とする。

〔発明の概要〕

上記の目的を達成するため本発明は、複数のり一ドが並
設された電子部品の電気的特性を測定するための測定信
号を発するテスタと、この測定信　　　　　「号を出力
する出力端子に接続され電子部品のり一ドに接触される
触子とを備え、上記触子は、電子部品の複数のリードに
それぞれ接触するように並設され出力端子にそれぞれ接
続された複数の接触ピンと、複数のリード中の曲ったリ
ードと接触するよう複数の接触ピンと所定の間隔をあけ
てこれら接触ピンと交互に配設された複数の曲り検出ピ
ンと、複数の接触ピンのいづれかひとつと複数の曲り検
出ピンを電気的に接続する接続部材とを有する電子部品
測定装置を提供するものである。

〔発明の実施例〕

以下、第１図および第２図を参照゛して本発明の詳細な
説明する。

第１図は一実施例によって曲りリードが発生していない
正常な電子部品を検査する状態を示す図、第２図は曲り
リードが発生している場合の状態を示す図である。なお
、これらの図において、テスタ、搬送路、振分器等は従
来装置と同様であるため省略しである。

テスタ（図示せず）に接続される触子１１はガラスエポ
キシ樹脂等からなる基板１２と、接触ピン１３ａ、１３
ｂ、１３ｄと、曲り検出ピン１４ａ、１４ｂ〜１４ｅと
からなっている。接触ピン１３ａ〜１３ｄと曲り検出ピ
ン１４８〜１４ｅはいづれも銅のような導電性素材がら
なっており、各接触ピン１３８〜１３ｄの間に曲り検出
ピン１４ａ〜１４ｅが一本ずつ配設されている。

すなわち、曲り検出ピン１４ａ、接触ピン１３ａ、曲り
検出ピン゛１４ｂ、接触ピン１３ｂ・・・のように接触
ピンと曲りピンとが交互に位置するものである。

接触ピン１３ａ〜１３ｄと隣接する曲り検出ピン１４ａ
〜１４ｅの間には絶縁層１５が介挿され、相互の電気的
接触が防止されている。ここで、接触ピン１３ａ〜１３
ｄは電子部品５の各リード６ａ〜６ｄに接触して電子部
品５の電気的特性を測定するためのものであり、各接触
ピン１３８〜１３ｄはリード線（図示せず）によってテ
スタの測定信号出力端子と接続されている。又、曲り検
出ピン１４ａ〜１４ｄはり−゛ド曲を検出するものであ
る。この検出は電気的に行なうようになっており、この
ため曲り検出ピン１４ａ〜１４ｅは接触ピン１３ａ〜１
３ｄ中のいずれか−のピン（図示の実施例では接触ピン
１３ｄ）と内部リード線１６によって接続されている。

そして、曲りリード（図示の実施例ではリード６ａ）と
接触すると、その曲りリード６ａと−の接触ピン１３ｄ
とがショートするようになっている。

電子部品５にリード曲りが発生していない場合は、第１
図のように電子部品５の各リード６ａ〜６ｄは対応する
接触ピン１３ａ〜１３ｄと接触し、曲り検出ピン１４ａ
、１４ｂ・・・とリード６ａ。

６ｂ・・・とが接触することはない。このため、テスタ
からの信号で電子部品の電気的特性の測定が行なわれる
。

電子部品にリード曲りが発生している場合には、第２図
のように曲りリード６ａは対応する接触ピン１３ａに接
触するだけでなく、絶縁層１５を乗り越えてその曲り方
向に位置する曲り検出ピン１４ａにも接触する。ここで
曲りピン１４ａ〜１４ｅは−の接触ピン１３ｄと電気的
に接続されているので、曲りピン６ａは接触ピン１３ｄ
とショートしてリード曲りの検出が行なわれる。

本発明は上記実施例に限定されず、種々の変形が可能で
ある。

〔発明の効果〕

以上の通り本発明に°よれば、曲り検出ピン°を接触ピ
ンの間に配設したので電子部品の電気的特性の測定の際
にリード曲りも同時に検出することができ、従って電子
部品の検査工程を短縮でき、能率を向上できる電子部品
測定装置が得られる。

又、−の装置で電気的特性とリード曲りとを検査できる
ので、装置の数の減少、設置スペースの縮少が可能とな
る。さらに、従来装置にもそのまま使用できるから１、
取付および操作性も良好である。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図はそれぞれ本発明の一実施例により
電子部品を検査する様子の説明図、第３　　　　　「図
は従来装置の全体構成を示す平面図、第４図は従来装置
により電子部品を検査する様子の説明図である。１・・・テスタ、５・・・電子部品、６ａ〜６ｄ・・・
リード、１１・・・触子、１３ａ〜１３ｄ・・・接触ピ
ン、１４ａ〜１４ｅ・・・曲り検出ピン、１５・・・絶
縁層。出願人代理人　　佐　　藤　　−雄も　１　閉昆２　口

Claims

【特許請求の範囲】１、複数のリードが並設された電子部品の電気的特性を
測定するための測定信号を発するテスタと、このテスタ
からの前記測定信号を出力する出力端子に接続され前記
電子部品のリードに接触される触子とを備え、前記電子
部品の電気的特性を測定する電子部品測定装置において
、前記触子は、前記電子部品の複数のリードにそれぞれ接
触するように並設され前記出力端子にそれぞれ接続され
た複数の接触ピンと、前記複数のリード中の曲ったリー
ドと接触するよう前記複数の接触ピンと所定の間隔をあ
けてこれら接触ピンと交互に配設された複数の曲り検出
ピンと、前記複数の接触ピンのいずれかひとつと前記複
数の曲り検出ピンとを電気的に接続する接続部材とを有
することを特徴とする電子部品測定装置。２、前記接触ピンおよび曲り検出ピンが銅で形成される
特許請求の範囲第１項記載の電子部品測定装置。３、前記接触ピンと曲り検出ピンの間に絶縁物が設けら
れている特許請求の範囲第１項又は第２項記載の電子部
品測定装置。