CN106771622A - 一种测试产品绝缘电阻的测试方法和测试系统 - Google Patents
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Abstract
一种测试产品绝缘电阻的测试系统和测试方法,该测试系统包括:低阻计,用于通过电流回路测试功能来检测低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好;高阻计,用于测量产品的两个待测端之间的绝缘电阻;转换器,连接低阻计和高阻计,用于切换低阻计和高阻计择一进行工作;控制系统,连接转换器,控制系统先控制转换器切换到低阻计对测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好进行检测,当检测到低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好之后,控制转换器切换到高阻计,对产品的两个待测端之间的绝缘电阻进行测量。本发明能提高产品的绝缘电阻测试的准确性和可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及电子元器件测试,特别是涉及一种测试产品绝缘电阻的测试方法和测试系统。
背景技术
现在,随着电子信息系统的迅猛发展,各种元器件得到广泛的应用。其中不少元器件要求其绝缘性能很高,那么这些元器件在生产企业中出厂检测时多数是通过设备进行自动化测试生产,故在自动化测试过程中势必会遇到测试端子与产品之间接触不良的情况发生,导致测试错误,从而导致不良品当做良品流出,不能满足市场对产品性能的要求。
市面上可用于绝缘电阻(Cross IR)测试的测试仪器均是通过检测线路电容大小的方式来避免接触不良,然而,这种方式检测存在两个最大的弊端:
1.电容检测的精度范围受到限制,通常只能检测到电容量大于等于0.5PF的产品,针对小于此电容量的产品无法使用这种方式来检查测试端子与产品之间是否存在接触不良的问题;
2.在实际生产过程中动态状态下测试产品绝缘电阻,通过检测电容量的方式来检查测试端子与产品之间是否存在接触不良存在弊端,易出现误检查,最终导致仪器测试的是空气的绝缘电阻,影响测试结果的准确性。
发明内容
本发明的主要目的在于克服现有技术的不足,提供一种测试产品绝缘电阻的测试系统、测试方法及测试设备,提高产品的绝缘电阻测试的准确性和可靠性。
为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:
一种测试产品绝缘电阻的测试系统,包括:
低阻计,用于通过电流回路测试功能来检测低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好;
高阻计,用于测量产品的两个待测端之间的绝缘电阻;
转换器,所述转换器连接所述低阻计和所述高阻计,用于切换所述低阻计和所述高阻计择一进行工作;
控制系统,所述控制系统连接转换器,所述控制系统先控制所述转换器切换到所述低阻计对测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好进行检测,当检测到所述低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好之后,控制所述转换器切换到所述高阻计,对产品的两个待测端之间的绝缘电阻进行测量。
进一步地:
所述低阻计为毫欧表。
所述控制系统与所述低阻计之间通过检测信号反馈通路相连,所述低阻计检测到低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好时,将检测信号反馈到所述控制系统,当所述控制系统判断反馈的信号结果在预设的合格范围内时,所述控制系统控制所述转换器切换到所述高阻计进行工作。
一种使用所述的测试系统测试产品绝缘电阻的测试方法,包括以下步骤:
S1、所述控制系统先控制所述转换器切换到所述低阻计对测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好进行检测;
S2、当所述低阻计检测到所述低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好之后,所述控制系统控制所述转换器切换到所述高阻计以对产品的两个待测端之间的绝缘电阻进行测量;
S3、所述高阻计测量产品的绝缘电阻值并输出测试结果。
进一步地:
步骤S2中,所述控制系统接收所述低阻计通过检测信号反馈通路反馈的检测信号,判断所述低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好,是则控制所述转换器切换到所述高阻计再进入步骤S3,否则不切换到所述高阻计。
步骤S1中,用所述低阻计的两对测试端子分别在待测产品的两个待测端上进行电流回路测试。
一种测试产品绝缘电阻的测试设备,包括:
低阻测量模块,用于通过电流回路测试功能来检测低阻测量模块的测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好;
高阻测量模块,用于测量产品的两个待测端之间的绝缘电阻;
转换器,所述转换器连接所述低阻测量模块和所述高阻测量模块,用于切换所述低阻测量模块和所述高阻测量模块择一进行工作;
控制模块,所述控制模块连接转换器,所述控制模块先控制所述转换器切换到所述低阻测量模块对测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好进行检测,当检测到所述低阻测量模块的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好之后,控制所述转换器切换到所述高阻测量模块,对产品的两个待测端之间的绝缘电阻进行测量。
进一步地:
所述低阻测量模块为能够测毫欧级电阻的测量模块。
所述控制模块与所述低阻测量模块之间通过检测信号反馈通路相连,所述低阻测量模块检测到低阻测量模块的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好时,将检测信号反馈到所述控制模块,当所述控制模块判断反馈的信号结果在预设的合格范围内时,所述控制模块控制所述转换器切换到所述高阻测量模块进行工作。
所述低阻测量模块、所述高阻测量模块、所述转换器和所述控制模块集成在一个设备壳体内并通过对应的信号线相连,所述低阻测量模块和所述高阻测量模块的测试端子引出到所述设备壳体外。
本发明的有益效果:
本发明的测试系统包括低阻计(传统的具有电流回路测试功能的电阻计类,如毫欧表等)、高阻计(可用于测量绝缘电阻的电阻计)、转换器、控制系统,利用转换器的切换,先使低阻计工作,用电流回路测试的方式来检测低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好;检测到接触良好时,再切换到高阻计工作,通过高阻计测量产品的两个待测端之间的绝缘电阻,按照这种测试方式,避免了使用高阻计通过检测线路电容大小的方式来判断是否接触不良而容易测量出错的问题,也解决了电容检测的精度范围受到产品的电容量过小的限制,导致无法准确检查出测试端子与产品之间是否存在接触不良的问题,从而,本发明能够十分可靠地检测出测试端子与待测产品是否接触不良,从而避免接触不良导致的绝缘电阻测试错误或偏差过大。
与现有高阻计通过电容检查接触性的方案相比,本发明采用上述测试系统、测试设备、测试方法,优点在于通过电流回路判断接触性更可靠、更准确,能更好的提高测试准确性和可靠性。
采用本发明的测试系统、测试设备、测试方法,可很好地杜绝在测试端子与产品之间接触不良的情况下错误地测试绝缘电阻,显著提高绝缘电阻测试的准确性和可靠性。
附图说明
图1为本发明测试产品绝缘电阻的测试系统一种实施例的结构示意图。
具体实施方式
以下对本发明的实施方式作详细说明。应该强调的是,下述说明仅仅是示例性的,而不是为了限制本发明的范围及其应用。
参阅图1,在一种实施例中,一种测试产品绝缘电阻的测试系统,包括低阻计、高阻计、转换器和控制系统。低阻计用于通过电流回路测试功能来检测低阻计的测试端子2与待测产品的两个待测端1之间是否接触良好;高阻计用于测量产品的两个待测端1之间的绝缘电阻;所述转换器连接所述低阻计和所述高阻计,用于切换所述低阻计和所述高阻计择一进行工作;所述控制系统连接转换器,所述控制系统先控制所述转换器切换到所述低阻计对测试端子2与待测产品的两个待测端1之间是否接触良好进行检测,当检测到所述低阻计的测试端子2与待测产品的两个待测端1之间接触良好之后,控制所述转换器切换到所述高阻计,对产品的两个待测端1之间的绝缘电阻进行测量。
在具体实施例中,所述低阻计可以为传统的具有电流回路测试功能的电阻计类,如毫欧表等。优选地,低阻计有两对测试端子2,测试是否接触良好时,可以用低阻计的两对测试端子2分别在待测产品的两个待测端1上进行电流回路测试,通过检查各自电流回路的通断来检查测试端子2与两个待测端1是否接触良好。
在优选实施例中,所述控制系统与所述低阻计之间通过检测信号反馈通路相连,所述低阻计检测到低阻计的测试端子2与待测产品的两个待测端1之间接触良好时,将检测信号反馈到所述控制系统,当所述控制系统判断反馈的信号结果在预设的合格范围内时,所述控制系统控制所述转换器切换到所述高阻计进行工作。
参阅图1,在另一种实施例中,一种使用所述的测试系统测试产品绝缘电阻的测试方法,包括以下步骤:
S1、所述控制系统先控制所述转换器切换到所述低阻计对测试端子2与待测产品的两个待测端1之间是否接触良好进行检测;
S2、当所述低阻计检测到所述低阻计的测试端子2与待测产品的两个待测端1之间接触良好之后,所述控制系统控制所述转换器切换到所述高阻计以对产品的两个待测端1之间的绝缘电阻进行测量;
S3、所述高阻计测量产品的绝缘电阻值并输出测试结果。
在优选实施例中,步骤S2中,所述控制系统接收所述低阻计通过检测信号反馈通路反馈的检测信号,判断所述低阻计的测试端子2与待测产品的两个待测端1之间是否接触良好,是则控制所述转换器切换到所述高阻计再进入步骤S3,否则不切换到所述高阻计。
在另一实施例中,步骤S2中,也可以在人工读取到低阻计的检测结果显示接触良好时,再由人工触发控制系统发出控制信号,控制所述转换器切换到所述高阻计进行工作。
如图1所示,在一种具体实施例中,步骤S1中,用所述低阻计的两对测试端子2分别在待测产品的两个待测端1上进行电流回路测试。
参考图1,在另一种实施例中,一种测试产品绝缘电阻的测试设备,包括低阻测量模块、高阻测量模块、转换器以及控制模块。低阻测量模块用于通过电流回路测试功能来检测低阻测量模块的测试端子2与待测产品的两个待测端1之间是否接触良好;高阻测量模块用于测量产品的两个待测端1之间的绝缘电阻;转换器连接所述低阻测量模块和所述高阻测量模块,用于切换所述低阻测量模块和所述高阻测量模块择一进行工作;所述控制模块连接转换器,所述控制模块先控制所述转换器切换到所述低阻测量模块对测试端子2与待测产品的两个待测端1之间是否接触良好进行检测,当检测到所述低阻测量模块的测试端子2与待测产品的两个待测端1之间接触良好之后,控制所述转换器切换到所述高阻测量模块,对产品的两个待测端1之间的绝缘电阻进行测量。
在具体实施例中,所述低阻测量模块为能够测毫欧级电阻的测量模块。
在优选实施例中,所述控制模块与所述低阻测量模块之间通过检测信号反馈通路相连,所述低阻测量模块检测到低阻测量模块的测试端子2与待测产品的两个待测端1之间接触良好时,将检测信号反馈到所述控制模块,当所述控制模块判断反馈的信号结果在预设的合格范围内时,所述控制模块控制所述转换器切换到所述高阻测量模块进行工作。
在优选实施例中,所述低阻测量模块、所述高阻测量模块、所述转换器和所述控制模块集成在一个设备壳体内并通过对应的信号线相连,所述低阻测量模块和所述高阻测量模块的测试端子2引出到所述设备壳体外。
以下进一步描述如图1所示的测试系统的具体工作流程:
首先由控制系统控制转换器切换到低阻计进行工作,低阻计通过自身所具有的电流回路测试功能来侦测测试端与产品端是否接触良好,当电阻计仪器反馈的信号结果在所设定的合格范围内时,控制器控制转换器切换到高阻计进行工作,测试产品的绝缘电阻值并输出测试结果。整个切换过程中,测试端子与产品端不分离,接触良好。
本发明可避免测试仪器在测试产品绝缘电阻时,由于测试端子与产品之间的接触不良而导致测试偏差过大的问题,特别是能够杜绝在自动化测试(非人工手动测试)过程中设备无法准确判断接触是否良好的问题。
以上内容是结合具体/优选的实施方式对本发明所作的进一步详细说明,不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,其还可以对这些已描述的实施方式做出若干替代或变型,而这些替代或变型方式都应当视为属于本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种测试产品绝缘电阻的测试系统,其特征在于,包括:
低阻计,用于通过电流回路测试功能来检测低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好;
高阻计,用于测量产品的两个待测端之间的绝缘电阻;
转换器,所述转换器连接所述低阻计和所述高阻计,用于切换所述低阻计和所述高阻计择一进行工作;
控制系统,所述控制系统连接转换器,所述控制系统先控制所述转换器切换到所述低阻计对测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好进行检测,当检测到所述低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好之后,控制所述转换器切换到所述高阻计,对产品的两个待测端之间的绝缘电阻进行测量。
2.如权利要求1所述测试系统,其特征在于,所述低阻计为毫欧表。
3.如权利要求1所述测试系统,其特征在于,所述控制系统与所述低阻计之间通过检测信号反馈通路相连,所述低阻计检测到低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好时,将检测信号反馈到所述控制系统,当所述控制系统判断反馈的信号结果在预设的合格范围内时,所述控制系统控制所述转换器切换到所述高阻计进行工作。
4.一种使用权利要求1至3任一项所述的测试系统测试产品绝缘电阻的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、所述控制系统先控制所述转换器切换到所述低阻计对测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好进行检测;
S2、当所述低阻计检测到所述低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好之后,所述控制系统控制所述转换器切换到所述高阻计以对产品的两个待测端之间的绝缘电阻进行测量;
S3、所述高阻计测量产品的绝缘电阻值并输出测试结果。
5.如权利要求4所述测试系统,其特征在于,步骤S2中,所述控制系统接收所述低阻计通过检测信号反馈通路反馈的检测信号,判断所述低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好,是则控制所述转换器切换到所述高阻计再进入步骤S3,否则不切换到所述高阻计。
6.如权利要求4或5所述测试系统,其特征在于,步骤S1中,用所述低阻计的两对测试端子分别在待测产品的两个待测端上进行电流回路测试。
7.一种测试产品绝缘电阻的测试设备,其特征在于,包括:
低阻测量模块,用于通过电流回路测试功能来检测低阻测量模块的测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好;
高阻测量模块,用于测量产品的两个待测端之间的绝缘电阻;
转换器,所述转换器连接所述低阻测量模块和所述高阻测量模块,用于切换所述低阻测量模块和所述高阻测量模块择一进行工作;
控制模块,所述控制模块连接转换器,所述控制模块先控制所述转换器切换到所述低阻测量模块对测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好进行检测,当检测到所述低阻测量模块的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好之后,控制所述转换器切换到所述高阻测量模块,对产品的两个待测端之间的绝缘电阻进行测量。
8.如权利要求7所述测试设备,其特征在于,所述低阻测量模块为能够测毫欧级电阻的测量模块。
9.如权利要求7或8所述测试设备,其特征在于,所述控制模块与所述低阻测量模块之间通过检测信号反馈通路相连,所述低阻测量模块检测到低阻测量模块的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好时,将检测信号反馈到所述控制模块,当所述控制模块判断反馈的信号结果在预设的合格范围内时,所述控制模块控制所述转换器切换到所述高阻测量模块进行工作。
10.如权利要求7至9任一项所述测试设备,其特征在于,所述低阻测量模块、所述高阻测量模块、所述转换器和所述控制模块集成在一个设备壳体内并通过对应的信号线相连,所述低阻测量模块和所述高阻测量模块的测试端子引出到所述设备壳体外。
Priority Applications (1)
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