JP6021518B2 - 抵抗測定装置および抵抗測定方法 - Google Patents

Description

本発明は、測定対象についての電気的パラメータを測定して抵抗値データを生成すると共に、抵抗値データの値を表示部に表示させる第１の処理と、抵抗値データの値と予め規定された比較値とを比較して比較結果を報知する第２の処理とを実行する抵抗測定装置および抵抗測定方法に関するものである。

この種の抵抗測定装置および抵抗測定方法として、出願人は、絶縁抵抗計およびその絶縁抵抗計による絶縁抵抗値の測定方法を特開２０００−２１４１９４号公報に開示している。この絶縁抵抗計による絶縁抵抗値の測定に際しては、まず、被測定電気機器（測定対象）に一対のプローブを接触させた状態において、測定開始を指示するための測定レバーをオン操作する。この際には、測定電圧発生部から被測定電気機器に定格測定電圧が印加されると共に、その状態において被測定電気機器を流れる電流が電流検出部によって検出される。また、印加電圧および検出電流がＡ／Ｄ変換部によってそれぞれディジタルデータに変換されると共に、Ａ／Ｄ変換部から出力された電圧データおよび電流データに基づいてＣＰＵによって被測定電気機器の絶縁抵抗値が算出される。これにより、ＣＰＵの演算結果（絶縁抵抗値）が表示部の測定値表示領域に表示される。

また、この絶縁抵抗計では、上記の測定処理と同様の手順に従って測定した測定値と、予め規定された基準値とを比較して比較結果を報知することができるように構成されている。具体的には、コンパレータボタンが操作されたときに、ＣＰＵは、コンパレータ処理（比較処理）を実行している旨を報知する「ＣＯＭＰ」とのマークを表示部に表示させると共に、記憶手段から基準値を読み出してその値を基準値表示領域に表示させる。次いで、測定レバーをオン操作する。この際には、上記の測定処理と同様の手順に従って被測定電気機器の絶縁抵抗値が測定されると共に、その測定値と基準値との大小関係が比較される。この場合、測定値が基準値以上のとき（測定された絶縁抵抗値が基準の絶縁抵抗値以上のとき）には、表示部のＬｏＨｉ表示領域に「Ｈｉ」とのマークが表示される。一方、測定値よりも基準値の方が大きいとき（測定された絶縁抵抗値が基準の絶縁抵抗値よりも小さいとき）には、ＬｏＨｉ表示領域に「Ｌｏ」とのマークが表示されると共に、ブザーが鳴動する。これにより、被測定電気機器が所望の絶縁状態となっているかをオペレータに認識させることができる。

特開２０００−２１４１９４号公報（第３−５頁、第１−５図）

しかしながら、出願人が開示している絶縁抵抗計およびその抵抗測定方法には、以下の改善すべき課題が存在する。すなわち、出願人が開示している絶縁抵抗計およびその抵抗測定方法では、コンパレータ処理に際して、被測定電気機器の絶縁抵抗値を測定するための測定処理と同様の手順に従って測定した絶縁抵抗値（測定値）と基準値との大小関係を比較している。この場合、この種の絶縁抵抗計において被測定電気機器の絶縁抵抗値を正確に測定するためには、被測定電気機器に印加する定格測定電圧のふらつきや、測定される電流のふらつきなどの影響を排除するために様々な処理を実行する必要がある。このため、処理を開始してから、比較すべき測定値の基となる電圧データおよび電流データがＡ／Ｄ変換部から出力されるまでにある程度長い時間を要する。したがって、単に、被測定電気機器が所望の絶縁状態となっているかを知りたいだけであっても、コンパレータ処理の結果（判定結果）が報知されるまでに長い時間を要するため、この点を改善するのが好ましい。

本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、抵抗値データの値と予め規定された比較値との比較結果を短時間で報知し得る抵抗測定装置および抵抗測定方法を提供することを主目的とする。

上記目的を達成すべく、請求項１記載の抵抗測定装置は、予め規定された開始条件が満たされたときに、測定対象についての物理量としての抵抗値を測定して抵抗値データを生成すると共に、前記抵抗値データの値を表示部に表示させる第１の処理、および前記抵抗値データの値と第１の比較値とを比較して比較結果を報知する第２の処理を実行する測定処理部を備えた抵抗測定装置であって、前記測定処理部は、予め規定された第１の時間毎に生成した前記抵抗値データを用いての前記第１の処理の実行に先立ち、当該第１の時間よりも短い第２の時間内で生成した前記抵抗値データを用いて前記第２の処理を実行し、当該第２の処理において、前記抵抗値データの値が前記第１の比較値未満のときには、不良の旨を表示させずに、前記抵抗値データの値が前記第１の比較値以上のときには、前記測定対象が良好である旨を表示し、前記第１の処理の実行後に、当該第１の処理において前記表示部に表示させた前記抵抗値データの値と前記第１の比較値よりも小さな値に規定されている第２の比較値とを比較し、前記抵抗値データの値が前記第２の比較値以上のときには、前記測定対象が良好である旨を報知し、前記抵抗値データの値が前記第２の比較値未満のときには、前記測定対象が不良である旨を報知する第３の処理を実行する。

また、請求項２記載の抵抗測定装置は、請求項１記載の抵抗測定装置において、前記測定処理部は、前記第３の処理の実行に先立ち、前記測定対象が有する容量に対する充電を完了しているか否かを判定する充電状態判定処理を実行し、当該充電状態判定処理において前記容量に対する充電を完了していないと判定したときには、前記第３の処理を実行せずに、当該充電状態判定処理において前記容量に対する充電を完了していると判定したときには、前記第３の処理を実行する。

また、請求項３記載の抵抗測定装置は、請求項２記載の抵抗測定装置において、前記測定処理部は、前記充電状態判定処理において前記第１の時間毎に生成したＮ番目（Ｎは、２以上の自然数）の前記抵抗値データの値と前記第１の時間毎に生成した（Ｎ−１）番目の前記抵抗値データの値とを比較し、前記Ｎ番目の前記抵抗値データの値が前記（Ｎ−１）番目の前記抵抗値データの値未満とする第１条件、および前記（Ｎ−１）番目の前記抵抗値データの値に対して前記Ｎ番目の前記抵抗値データの値の増加率が予め規定された所定率以下とする第２条件のうちの予め規定された少なくとも一方の条件を満たしたときには、前記容量に対する充電が完了していると判定し、前記少なくとも一方の条件を満たしていないときには、前記容量に対する充電が完了していないと判定する。

また、請求項４記載の抵抗測定装置は、請求項２または３記載の抵抗測定装置において、前記測定処理部は、前記充電状態判定処理において前記容量に対する充電を完了しない状態が予め規定した時間を継続したと判定したときには、当該充電状態判定処理を終了して前記第３の処理を実行する。

また、請求項５記載の測定装置は、請求項１から４のいずれかに記載の抵抗測定装置において、前記測定処理部は、前記第２の処理時に前記第１の比較値と比較した前記抵抗値データの値を前記表示部に表示させずに、前記第１の処理によって前記抵抗値データの値を表示させるまで当該抵抗値データの値の非表示状態を維持する。

また、請求項６記載の抵抗測定方法は、予め規定された開始条件が満たされたときに、測定対象についての物理量としての抵抗値を測定して抵抗値データを生成すると共に、前記抵抗値データの値を表示部に表示させる第１の処理、および前記抵抗値データの値と第１の比較値とを比較して比較結果を報知する第２の処理を実行する抵抗測定方法であって、予め規定された第１の時間毎に生成した前記抵抗値データを用いての前記第１の処理の実行に先立ち、当該第１の時間よりも短い第２の時間内で生成した前記抵抗値データを用いて前記第２の処理を実行し、当該第２の処理において、前記抵抗値データの値が前記第１の比較値未満のときには、不良の旨を表示させずに、前記抵抗値データの値が前記第１の比較値以上のときには、前記測定対象が良好である旨を表示し、前記第１の処理の実行後に、当該第１の処理において前記表示部に表示させた前記抵抗値データの値と前記第１の比較値よりも小さな値に規定されている第２の比較値とを比較し、前記抵抗値データの値が前記第２の比較値以上のときには、前記測定対象が良好である旨を報知し、前記抵抗値データの値が前記第２の比較値未満のときには、前記測定対象が不良である旨を報知する第３の処理を実行する。

請求項１記載の抵抗測定装置、および請求項６記載の抵抗測定方法によれば、予め規定された第１の時間毎に生成した抵抗値データを用いてその値を表示部に表示させる第１の処理の実行に先立ち、第１の時間よりも短い第２の時間内で生成した抵抗値データを用いてその値と第１の比較値とを比較して比較結果を報知する第２の処理を実行することにより、正確な抵抗値を表示させるために長い測定時間を要する第１の処理を開始する前に、十分に短い測定時間内に生成した抵抗値データと第１の比較値との比較結果が表示部に短時間で表示されるため、比較結果を短時間で認識させることができる。この場合、例えば、測定対象が容量を有する容量性負荷のときには、測定対象自体が良品であったとしても、その容量が充電されるまでの間は測定対象の抵抗値を正確に測定することができないこともある。したがって、この抵抗測定装置およびこの抵抗測定方法によれば、第２の処理において、抵抗値データの値が第１の比較値未満のときに不良の旨を表示しないことにより、測定時間が短いことに起因して良品の測定対象を不良判定とする誤った比較結果が表示部に表示されることを回避することができる結果、オペレータに対して正確な比較結果を認識させることができる。

また、この抵抗測定装置およびこの抵抗測定方法によれば、第１の処理において表示部に表示させた抵抗値データの値と第２の比較値とを比較して比較結果を報知する第３の処理を第１の処理の後に実行することにより、十分に長い測定時間内に測定された正確な抵抗値データを用いた正確な比較結果をオペレータに認識させることができる。

また、請求項２記載の抵抗測定装置によれば、測定処理部が、充電状態判定処理において、測定対象が有する容量に対する充電を完了しているか否かを判定し、容量に対する充電を完了していると判定したときに第３の処理を実行することにより、仮に、測定対象が容量性負荷であって、その容量が大きいときであっても、その容量に対する充電の未完了に起因する不良判定を行うことを回避することができる結果、正確な判定を行うことができる。

また、請求項３記載の抵抗測定装置によれば、第１の時間毎に生成したＮ番目の抵抗値データの値と第１の時間毎に生成した（Ｎ−１）番目の抵抗値データの値とを比較することにより、測定対象が有する容量に対して充電が完了しているか否かを確実に判定することができる。

さらに、請求項４記載の抵抗測定装置によれば、測定処理部が、充電状態判定処理において測定対象が有する容量に対する充電を完了しない状態が予め規定した時間を継続したと判定したときには、充電状態判定処理を終了して第３の処理を実行することにより、長時間に亘って比較結果が表示されないという事態を回避することができる。

また、請求項５記載の抵抗測定装置によれば、第２の処理時に第１の比較値と比較した抵抗値データの値を表示部に表示させずに第１の処理によって抵抗値データの値を表示させるまで抵抗値データの値の非表示状態を維持することにより、測定時間が短いことに起因して不正確となる可能性がある抵抗値データの値が表示部に表示されて不正確な値がオペレータによって認識される事態を好適に回避することができる。

絶縁抵抗計１の構成図である。 絶縁抵抗計１において実行される絶縁抵抗測定処理１０のフローチャートである。 絶縁抵抗測定処理１０における比較処理Ａ２０のフローチャートである。 絶縁抵抗測定処理１０における比較処理Ｂ３０のフローチャートである。

以下、添付図面を参照して、抵抗測定装置および抵抗測定方法の実施の形態について説明する。

図１に示す絶縁抵抗計１は、「抵抗測定装置」の一例であって、測定対象Ｘにおける任意の２点間の絶縁抵抗値を測定可能に構成されている。具体的には、絶縁抵抗計１は、測定部２、操作部３、表示部４、記憶部５および処理部６を備えて構成されている。測定部２は、処理部６と相まって「測定処理部」を構成する。この測定部２は、コンタクトプローブ２ａ，２ｂを介して測定対象Ｘに測定用電圧を印加する測定電圧発生部（図示せず）や、測定対象Ｘに印加している測定用電圧や測定対象Ｘに流れる電流を検出して測定データＤａ（電圧値データ）および測定データＤｂ（電流値データ）を出力するＡ／Ｄ変換部（図示せず）などを備えて構成されている。

操作部３は、図示しない測定開始／停止スイッチや、絶縁抵抗計１の動作条件（測定条件）を設定するための各種操作スイッチを備え、スイッチ操作に応じて操作信号を出力する。表示部４は、一例として、ＬＥＤバックライトを有する液晶表示器で構成されて、処理部６の制御に従って、測定結果や、後述する比較処理の結果を表示する。なお、表示部４を備えた「抵抗測定装置」の例について説明するが、「表示部」を備えずに、外部装置としての「表示部」に測定結果等を表示させる構成を採用することもできる。記憶部５は、後述する比較処理に際して処理部６が使用する判定値Ｒａ，Ｒｂ（「第１の比較値」および「第２の比較値」の一例）、処理部６の動作プログラム、および処理部６によって演算された抵抗値データＤｃなどを記憶する。

処理部６は、絶縁抵抗計１を総括的に制御する。具体的には、処理部６は、操作部３の測定開始／停止スイッチが操作されたとき（「予め規定された開始条件が満たされたとき」の一例）に、測定部２を制御して、測定対象Ｘに対する測定用電圧の印加、および測定データＤａ，Ｄｂの生成を開始させる。また、処理部６は、測定部２から出力された測定データＤａ，Ｄｂに基づいて測定対象Ｘにおいてコンタクトプローブ２ａ，２ｂが接触させられている２点間の絶縁抵抗値を演算して抵抗値データＤｃ（「抵抗値データ」の一例）を生成し（後述する絶縁抵抗測定処理１０におけるステップ１３，１５：図２参照）、生成した抵抗値データＤｃを記憶部５に記憶させる。

さらに、処理部６は、生成した抵抗値データＤｃの値を数値やグラフによって表示部４に表示させる測定結果表示処理（「第１の処理」の一例：絶縁抵抗測定処理１０におけるステップ１６）を実行する。また、処理部６は、生成した抵抗値データＤｃの値と、記憶部５に記憶されている判定値Ｒａとを比較して、その比較結果に応じて表示部４に測定対象Ｘが良好である旨を表示することで比較結果を報知する比較結果報知処理（「第２の処理」の一例：絶縁抵抗測定処理１０における比較処理Ａ２０：図３参照）を実行すると共に、生成した抵抗値データＤｃの値と、記憶部５に記憶されている判定値Ｒｂとを比較して、その比較結果に応じて表示部４に測定対象Ｘが良好である旨または不良の旨を表示することで比較結果を報知する比較結果報知処理（「第３の処理」の一例：絶縁抵抗測定処理１０における比較処理Ｂ３０：図４参照）を実行する。

この絶縁抵抗計１の使用に際しては、まず、コンタクトプローブ２ａ，２ｂを測定対象Ｘ，Ｘ上の任意の各点にそれぞれ接触させると共に、図示しない電源スイッチを投入する。この際には、処理部６が記憶部５に記憶されている動作プログラムに従い、図２に示す絶縁抵抗測定処理１０を開始する。この絶縁抵抗測定処理１０では、処理部６は、まず、操作部３の測定開始／停止スイッチが操作されたか否かの監視を開始する（ステップ１１）。

また、処理部６は、操作部３からの操作信号に基づいて測定開始／停止スイッチが操作されたと判別したときに、測定部２を制御して、測定対象Ｘに対する測定用電圧の印加を開始してから測定データＤａ，Ｄｂが出力されるまでの時間（以下、「測定時間」ともいう）を時間Ｔａ（「第２の時間」の一例：例えば、１０ｍｓ）に設定して、測定データＤａ，Ｄｂを生成する処理を開始させる（ステップ１２）。この際に、測定部２は、処理部６の制御に従い、コンタクトプローブ２ａ，２ｂを介して測定対象Ｘへの測定用電圧の印加を開始すると共に、印加している測定用電圧、および測定用電圧を印加している状態において測定対象Ｘ，Ｘ間を流れる電流を検出して測定データＤａ，Ｄｂを生成し、生成した測定データＤａ，Ｄｂを処理部６に出力する。

この場合、この種の「測定装置」では、測定対象Ｘが容量を有している容量性負荷のときには、測定用電圧の印加を開始してから、その電圧値が所望の電圧値（定格の電圧値）に達するまでには、その容量が充電される必要があるため、ある程度の時間を要する。したがって、この絶縁抵抗計１では、一例として、測定用電圧の印加を開始してから数十ｍｓ程度の時間が経過して測定用電圧の電圧値がある程度上昇した時点において、Ａ／Ｄ変換部が測定データＤａ，Ｄｂの生成を開始する構成が採用されている。また、Ａ／Ｄ変換部は、測定用電圧の電圧値が規定の電圧値に達した後に、処理部６によって設定された上記の「測定時間」内に複数回のサンプリング処理を実行すると共に、各サンプリング値の平均化処理やフィルタリング処理等を行うことにより、設定された「測定時間」内に、１つの測定データＤａおよび１つの測定データＤｂを生成して出力する。

一方、処理部６は、測定部２から出力された測定データＤａ，Ｄｂに基づき、コンタクトプローブ２ａ，２ｂが接触させられている２点間の絶縁抵抗値を演算して抵抗値データＤｃ（「抵抗値データ」の一例）を生成して（ステップ１３）、記憶部５に記憶させる。次いで、処理部６は、図３に示す比較処理Ａ２０を開始する。この比較処理Ａ２０では、処理部６は、まず、生成した抵抗値データＤｃの値（上記の２点間の絶縁抵抗値）が、記憶部５に記憶されている判定値Ｒａ（「第１の比較値」の一例）以上であるか否かを判別する（ステップ２１）。

この際に、抵抗値データＤｃの値が判定値Ｒａ以上のとき（判定値Ｒａが抵抗値データＤｃの値以下のとき）には、処理部６は、表示部４にＰＡＳＳ判定表示をさせる（「測定対象Ｘが良好であるとの比較結果」を報知する一例であって、表示部４にＰＡＳＳ判定を表示させることで比較結果（判定結果）を報知する例：ステップ２２）。これにより、ＰＡＳＳ判定が表示された画面を視認したオペレータは、コンタクトプローブ２ａ，２ｂを接触させている２点間が、規定された絶縁抵抗値以上の絶縁状態で良好に絶縁されているのを直感的に認識する。

一方、抵抗値データＤｃの値が判定値Ｒａよりも小さかったとき（判定値Ｒａが抵抗値データＤｃの値よりも大きかったとき）には、この時点では、処理部６は、測定対象Ｘが不良である旨を表示部４に表示させずに、この比較処理Ａ３０を終了する。これにより、例えば、測定対象Ｘが容量性負荷である場合において、測定対象Ｘ自体が良品であったときに、その容量が充電されるまでの間は、測定対象Ｘが不良である旨の比較結果が表示されることを避けることができるため、測定対象Ｘの良否に関しての誤判定を回避することができる結果、正確な判定を行うことができる。

なお、この例では、上記の比較処理Ａ２０におけるステップ２１，２２の処理が「第２の処理」に相当する。この場合、短い「測定時間」内に測定された測定データＤａ，Ｄｂに基づいて算出された絶縁抵抗値は、容量性負荷を測定対象Ｘとしたとき、および測定用電圧の電圧値や測定対象Ｘを流れる電流の電流値にふらつきが生じているときなどの原因に起因して、十分に正確な値ではない可能性がある。したがって、この絶縁抵抗計１では、上記のステップ１３において演算された絶縁抵抗値については、その値を表示部４に表示させずに、後述するステップ１６（図２参照）において正確な絶縁抵抗値を表示するまで、絶縁抵抗値の非表示状態を維持する構成が採用されている。

一方、絶縁抵抗値等を正確に測定するには、上記の原因に起因して不正確な測定値が演算されることのないように、「測定時間」を十分に長く規定する必要がある。したがって、この絶縁抵抗計１では、上記したように、２点間の絶縁状態を報知するための上記の各ステップにおいては、「良品」との比較結果（判定結果）を迅速に報知するために、「測定時間」をある程度短い時間Ｔａ（この例では、１０ｍｓ）に設定して測定処理を実行するのに対して、正確な絶縁抵抗値を表示させるための以降のステップにおいては、「測定時間」を、時間Ｔａよりも長い時間Ｔｂ（一例として、３００ｍｓ：「第１の時間」の一例）に設定して測定処理を実行する。

具体的には、処理部６は、比較結果（判定結果）を報知して上記の比較処理Ａ２０を終了した後に、「測定時間」を３００ｍｓの時間Ｔｂに設定して、測定データＤａ，Ｄｂを生成する処理を開始させる（ステップ１４）。具体的には、測定部２は、処理部６の制御に従い、コンタクトプローブ２ａ，２ｂを介して測定対象Ｘの２点間に測定用電圧を印加すると共に、印加している測定用電圧、および測定用電圧を印加している状態において測定対象Ｘを流れる電流を検出して測定データＤａ，Ｄｂを生成し、生成した測定データＤａ，Ｄｂを処理部６に出力する。

この際には、上記の比較結果（判定結果）の報知に際して実行される測定処理時よりも十分に長い時間に亘って複数回のサンプリング処理が実行されると共に、各サンプリング値の平均化処理やフィルタリング処理等が実行されて、３００ｍｓ毎に各１つの測定データＤａ，Ｄｂが生成されて出力される。また、処理部６は、測定部２から出力された測定データＤａ，Ｄｂに基づき、コンタクトプローブ２ａ，２ｂが接触させられている２点間の絶縁抵抗値を演算して抵抗値データＤｃ（「抵抗値データ」の一例）を生成して（ステップ１５）、記憶部５に記憶させる。次いで、処理部６は、表示部４を制御して、生成した抵抗値データＤｃの値を表示させる（「第１の処理」の一例：ステップ１６）。これにより、十分に正確な測定結果が表示される。

次いで、処理部６は、図４に示す比較処理Ｂ３０を開始する。この比較処理Ｂ３０では、処理部６は、まず、Ｎ番目に生成した抵抗値データＤｃの値（３００ｍｓの「測定時間」内に測定された測定データＤａ，Ｄｂに基づく絶縁抵抗値：「第１の処理において表示部に表示させた抵抗値データの値」の一例）と（Ｎ−１）番目に生成した抵抗値データＤｃの値を比較し、測定対象Ｘが有する容量の充電を完了しているかを判定する充電状態判定処理（ステップ３１）を行う。ここで、測定対象Ｘが容量性負荷であり、その容量が大きい場合、測定開始からの時間が短いときには、その容量の充電が完了する前に良否判定が行われることになり、測定対象Ｘが充電を完了する前に不良判定を行うこととなる。したがって、測定対象Ｘの良否判定を行う前に、上記した充電状態判定処理（ステップ３１）を行う必要がある。

この場合、一般的に、容量を充電しているときは、生成される抵抗値データＤｃの値（絶縁抵抗値）は常に上昇するため、Ｎ番目の測定値が（Ｎ−１）番目の測定値よりも大きくなる。したがって、処理部６は、この充電状態判定処理（ステップ３１）において、Ｎ番目の抵抗値データＤｃの値が（Ｎ−１）番目の抵抗値データＤｃ未満とする第１条件、および（Ｎ−１）番目の抵抗値データＤｃの値に対してＮ番目の抵抗値データＤｃの値の増加率が予め規定された所定率以下（一例として、数％程度）とする第２条件の両方を共に満たさないときには、測定対象Ｘの容量が充電を完了していないと判定して、比較処理Ｂ３０を終了する。なお、本例では、第２条件を「（Ｎ−１）番目の抵抗値データＤｃの値に対してＮ番目の抵抗値データＤｃの値の増加率が予め規定された所定率以下」と定めているが、これに代えて、「（Ｎ−１）番目の抵抗値データＤｃの値に対してＮ番目の抵抗値データＤｃの値の変動率が予め規定された所定率以下」若しくは「（Ｎ−１）番目の抵抗値データＤｃの値に対してＮ番目の抵抗値データＤｃの値の減少率が予め規定された所定率以上」などと規定することもできる。

また、処理部６は、充電状態判定処理（ステップ３１）において測定対象Ｘの容量に対する充電を完了しない状態が予め規定した時間を継続（以下、「規定時間」ともいう。一例として、５秒間等）したと判定したときには、充電状態判定処理（ステップ３１）を終了して、後述するステップ３２を実行する。

一方、処理部６は、上記の第１条件および第２条件のうちの少なくとも一方の条件を満たしたときには、測定対象Ｘの容量に対する充電が完了していると判定する。

次いで、処理部６は、測定対象Ｘの容量に対する充電が完了していると判定したとき、およびその充電を完了しない状態が規定時間を継続したと判定したときには、生成した抵抗値データＤｃの値が、記憶部５に記憶されている判定値Ｒｂ（「第２の比較値」の一例）以上であるか否かを判別する（ステップ３２）。この際に、処理部６は、抵抗値データＤｃの値が判定値Ｒｂ以上のとき（判定値Ｒｂが抵抗値データＤｃの値以下のとき）には、比較結果の報知の一例として、ＰＡＳＳ判定を表示部４に表示する（ステップ３３）。これにより、オペレータは、ＰＡＳＳ判定表示画面を視認してコンタクトプローブ２ａ，２ｂを接触させている２点間が、規定された絶縁抵抗値以上の絶縁状態で良好に絶縁されていることを認識する。

一方、処理部６は、抵抗値データＤｃの値が判定値Ｒｂよりも小さかったとき（判定値Ｒｂが抵抗値データＤｃの値よりも大きかったとき）には、比較結果の報知の一例として、ＦＡＩＬ判定を表示部４に表示する（ステップ３４）。これにより、オペレータは、ＦＡＩＬ判定表示画面を視認して、コンタクトプローブ２ａ，２ｂを接触させている２点間が規定された絶縁抵抗値未満の絶縁状態で、絶縁状態が不良であることを認識する。

この場合、前述したように、短い「測定時間」内に測定された測定データＤａ，Ｄｂに基づいて算出された絶縁抵抗値は、十分に正確な値ではない可能性がある。したがって、この絶縁抵抗計１では、上記の比較処理Ａ２０において、上記の比較処理Ｂ３０時に使用する判定値Ｒｂ（２点間の絶縁状態に応じた絶縁抵抗値として好ましい値）よりも十分に大きな値（一例として、判定値Ｒｂの２倍から５倍程度大きい値）に規定されている判定値Ｒａと抵抗値データＤｃの値と比較することで、２点間の絶縁状態を判定する構成が採用されている。これにより、「測定時間」が短いことに起因して、仮に、絶縁状態が良好ではない２点間の絶縁抵抗値が実際の絶縁抵抗値よりも大きな値であると測定されたとしても、十分に大きな値に規定されている判定値Ｒａとの比較結果を報知することで、絶縁状態が良好であると誤って報知される事態が回避されている。

一方、上記の比較処理Ｂ３０では、十分に長い「測定時間」内に測定された正確な測定データＤａ，Ｄｂに基づいて演算された絶縁抵抗値を比較対象としているため、比較の基準となる判定値Ｒｂは、２点間の絶縁状態に応じた絶縁抵抗値として好ましい値（絶縁状態が良好であるか否かを正確に比較（判定）し得る値）に規定されている。これにより、絶縁状態が良好であるにも拘わらず、過剰に大きな値に規定された判定値と比較されることで絶縁状態が良好ではないと誤って報知される事態が回避されている。なお、この例では、上記の比較処理Ｂ３０におけるステップ３２，３３、またはステップ３２，３４の処理が「第３の処理」に相当する。

続いて、処理部６は、終了条件（一例として、測定開始／停止スイッチの操作によって測定終了を指示されたとき、または、予め設定された時間に亘って絶縁抵抗値の測定を実行したとき）が満たされたか否かを判別する（ステップ１７）。この際に、終了条件が満たされていないと判別したときには、処理部６は、上記のステップ１５に戻って、測定データＤａ，Ｄｂに基づく絶縁抵抗値の演算（ステップ１５）、演算した絶縁抵抗値の表示（ステップ１６：「第１の処理」）および比較処理Ｂ３０（「第３の処理」）をこの順で実行すると共に、終了条件が満たされたか否かを再び判別する（ステップ１７）。また、終了条件が満たされたとき（例えば、測定開始／停止スイッチの操作されたとき）に、処理部６は、この絶縁抵抗測定処理１０を終了する。

このように、この絶縁抵抗計１、および絶縁抵抗計１による抵抗測定方法によれば、予め規定された「第１の時間（この例では、時間Ｔｂ＝３００ｍｓ）」毎に生成した抵抗値データＤｃを用いてその値を表示部４に表示させる「第１の処理（この例では、上記の絶縁抵抗測定処理１０におけるステップ１６）」の実行に先立ち、「第１の時間（この例では、３００ｍｓ）」よりも短い「第２の時間（この例では、時間Ｔａ＝１０ｍｓ）」内で生成した抵抗値データＤｃを用いてその値と予め規定された判定値Ｒａとを比較して比較結果（良好である旨）を報知する「第２の処理（この例では、上記の絶縁抵抗測定処理１０における比較処理Ａ２０）」を実行することにより、正確な絶縁抵抗値を表示させるために長い「測定時間」を要する「第１の処理」を開始する前に、十分に短い「測定時間」内に生成した抵抗値データＤｃと判定値Ｒａとの比較結果（判定結果）が表示部４に短時間で表示されるため、比較結果を短時間で認識させることができる。

また、測定対象Ｘが容量を有する容量性負荷のときには、測定対象Ｘ自体が良品であったとしても、その容量が充電されるまでの間は測定対象Ｘの絶縁抵抗値を正確に測定することができないこともある。したがって、この絶縁抵抗計１、および絶縁抵抗計１による抵抗測定方法によれば、第２の処理において、抵抗値データＤｃの値が第１の比較値未満のときに不良の旨を表示しないことにより、測定時間が短いことに起因して良品の測定対象Ｘを不良判定とする誤った比較結果が表示部４に表示されることを回避することができる結果、オペレータに対して正確な比較結果を認識させることができる。

さらに、この絶縁抵抗計１、および絶縁抵抗計１による抵抗測定方法によれば、「第１の処理」において表示部４に表示させた抵抗値データＤｃの値と予め規定された判定値Ｒｂとを比較して比較結果を報知する「第３の処理（この例では、上記の絶縁抵抗測定処理１０における比較処理Ｂ３０）」を「第１の処理」の後に実行することにより、十分に長い「測定時間」内に測定された正確な抵抗値データＤｃを用いた正確な比較結果（判定結果）をオペレータに認識させることができる。

また、この絶縁抵抗計１、および絶縁抵抗計１による抵抗測定方法によれば、「第２の処理」において判定値Ｒｂよりも大きな値に規定されている判定値Ｒａと抵抗値データＤｃの値とを比較することにより、つまり、「測定時間」が短いことに起因して不正確となる可能性がある抵抗値データＤｃと比較する「第２の処理」においては、測定対象Ｘの状態とは相違する比較結果とならないように、余裕（マージン）を持った判定値Ｒａを用いると共に、「測定時間」が長いことで十分に正確である抵抗値データＤｃと比較する「第３の処理」においては、比較結果に基づいて測定対象Ｘの状態を正確に把握できるように余裕が小さい判定値Ｒｂを用いることにより、「第２の処理」および「第３の処理」の双方において、誤った比較結果（判定結果）が報知される事態を好適に回避することができる。

さらに、この絶縁抵抗計１、および絶縁抵抗計１による抵抗測定方法によれば、充電状態判定処理（ステップ３１）において、測定対象Ｘが有する容量が充電を完了しているか否かを判定し、容量に対する充電を完了していると判定したときに第３の処理を実行することにより、仮に、測定対象Ｘが容量性負荷であって、その容量が大きいときであっても、その容量に対する充電の未完了に起因する不良判定を行うことを回避することができる結果、正確な判定を行うことができる。

また、この絶縁抵抗計１、および絶縁抵抗計１による抵抗測定方法によれば、時間Ｔｂ（第１の時間）毎に生成したＮ番目の抵抗値データＤｃの値と時間Ｔｂ（第１の時間）毎に生成した（Ｎ−１）番目の抵抗値データＤｃの値とを比較することにより、測定対象Ｘが有する容量に対して充電が完了しているか否かを確実に判定することができる。

さらに、この絶縁抵抗計１、および絶縁抵抗計１による抵抗測定方法によれば、充電状態判定処理（ステップ３１）において、測定対象Ｘが有する容量に対する充電を完了しない状態が規定時間を継続したと判定したときには、充電状態判定処理を終了して「第３の処理（この例では、上記の絶縁抵抗測定処理１０における比較処理Ｂ３０）」を実行（規定時間経過時の抵抗値データＤｃの値を表示部４に表示）することにより、長時間に亘って比較結果が表示されないという事態を回避することができる。

また、この絶縁抵抗計１、および絶縁抵抗計１による抵抗測定方法によれば、「第２の処理」時に判定値Ｒａと比較した抵抗値データＤｃの値を表示部４に表示させずに「第１の処理」によって抵抗値データＤｃの値を表示させるまで抵抗値データＤｃの値の非表示状態を維持することにより、「測定時間」が短いことに起因して不正確となる可能性がある抵抗値データＤｃの値が表示部４に表示されて不正確な絶縁抵抗値がオペレータによって認識される事態を好適に回避することができる。

なお、上記の例では、測定対象Ｘの良否判定の結果をオペレータに報知する方法として、表示部４にＰＡＳＳ判定表示若しくはＦＡＩＬ判定表示を行う構成および方法を採用しているが、表示部４にバックライトを点灯させ、その色の差異によって良否判定の結果をオペレータに報知する構成および方法を採用することもできる。

また、上記の例では、測定対象Ｘ，Ｘにおける任意の２点間の絶縁抵抗値の測定および、その良否判定について例示しているが、容量性負荷単体の抵抗測定および、その良否判定を行うこともできる。

１ 絶縁抵抗計
２ 測定部
２ａ，２ｂ コンタクトプローブ
３ 操作部
４ 表示部
５ 記憶部
６ 処理部
１０ 絶縁抵抗測定処理
２０ 比較処理Ａ
３０ 比較処理Ｂ
Ｄａ，Ｄｂ 測定データ
Ｄｃ 抵抗値データ
Ｒａ，Ｒｂ 判定値
Ｔａ，Ｔｂ 時間
Ｘ 測定対象

Claims (6)

1. 予め規定された開始条件が満たされたときに、測定対象についての物理量としての抵抗値を測定して抵抗値データを生成すると共に、前記抵抗値データの値を表示部に表示させる第１の処理、および前記抵抗値データの値と第１の比較値とを比較して比較結果を報知する第２の処理を実行する測定処理部を備えた抵抗測定装置であって、
   前記測定処理部は、予め規定された第１の時間毎に生成した前記抵抗値データを用いての前記第１の処理の実行に先立ち、当該第１の時間よりも短い第２の時間内で生成した前記抵抗値データを用いて前記第２の処理を実行し、当該第２の処理において、前記抵抗値データの値が前記第１の比較値未満のときには、不良の旨を表示させずに、前記抵抗値データの値が前記第１の比較値以上のときには、前記測定対象が良好である旨を表示し、前記第１の処理の実行後に、当該第１の処理において前記表示部に表示させた前記抵抗値データの値と前記第１の比較値よりも小さな値に規定されている第２の比較値とを比較し、前記抵抗値データの値が前記第２の比較値以上のときには、前記測定対象が良好である旨を報知し、前記抵抗値データの値が前記第２の比較値未満のときには、前記測定対象が不良である旨を報知する第３の処理を実行する抵抗測定装置。
2. 前記測定処理部は、前記第３の処理の実行に先立ち、前記測定対象が有する容量に対する充電を完了しているか否かを判定する充電状態判定処理を実行し、当該充電状態判定処理において前記容量に対する充電を完了していないと判定したときには、前記第３の処理を実行せずに、当該充電状態判定処理において前記容量に対する充電を完了していると判定したときには、前記第３の処理を実行する請求項１記載の抵抗測定装置。
3. 前記測定処理部は、前記充電状態判定処理において前記第１の時間毎に生成したＮ番目（Ｎは、２以上の自然数）の前記抵抗値データの値と前記第１の時間毎に生成した（Ｎ−１）番目の前記抵抗値データの値とを比較し、前記Ｎ番目の前記抵抗値データの値が前記（Ｎ−１）番目の前記抵抗値データの値未満とする第１条件、および前記（Ｎ−１）番目の前記抵抗値データの値に対して前記Ｎ番目の前記抵抗値データの値の増加率が予め規定された所定率以下とする第２条件のうちの予め規定された少なくとも一方の条件を満たしたときには、前記容量に対する充電が完了していると判定し、前記少なくとも一方の条件を満たしていないときには、前記容量に対する充電が完了していないと判定する請求項２記載の抵抗測定装置。
4. 前記測定処理部は、前記充電状態判定処理において前記容量に対する充電を完了しない状態が予め規定した時間を継続したと判定したときには、当該充電状態判定処理を終了して前記第３の処理を実行する請求項２または３記載の抵抗測定装置。
5. 前記測定処理部は、前記第２の処理時に前記第１の比較値と比較した前記抵抗値データの値を前記表示部に表示させずに、前記第１の処理によって前記抵抗値データの値を表示させるまで当該抵抗値データの値の非表示状態を維持する請求項１から４のいずれかに記載の抵抗測定装置。
6. 予め規定された開始条件が満たされたときに、測定対象についての物理量としての抵抗値を測定して抵抗値データを生成すると共に、前記抵抗値データの値を表示部に表示させる第１の処理、および前記抵抗値データの値と第１の比較値とを比較して比較結果を報知する第２の処理を実行する抵抗測定方法であって、
   予め規定された第１の時間毎に生成した前記抵抗値データを用いての前記第１の処理の実行に先立ち、当該第１の時間よりも短い第２の時間内で生成した前記抵抗値データを用いて前記第２の処理を実行し、当該第２の処理において、前記抵抗値データの値が前記第１の比較値未満のときには、不良の旨を表示させずに、前記抵抗値データの値が前記第１の比較値以上のときには、前記測定対象が良好である旨を表示し、前記第１の処理の実行後に、当該第１の処理において前記表示部に表示させた前記抵抗値データの値と前記第１の比較値よりも小さな値に規定されている第２の比較値とを比較し、前記抵抗値データの値が前記第２の比較値以上のときには、前記測定対象が良好である旨を報知し、前記抵抗値データの値が前記第２の比較値未満のときには、前記測定対象が不良である旨を報知する第３の処理を実行する抵抗測定方法。

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