JP5959293B2 - 絶縁抵抗測定装置および絶縁抵抗測定方法 - Google Patents
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Description
2 測定部
2a,2b コンタクトプローブ
3 操作部
4 表示部
5 記憶部
6 処理部
10 絶縁抵抗測定処理
Da,Db 測定データ
Dc 抵抗値データ
R1,r2・・ 絶縁抵抗値
t1,t2・・ 時点
X 測定対象
Claims (4)
- 絶縁抵抗値を測定する測定処理を予め規定された時間間隔で実行し、かつ当該測定処理の都度、測定した前記絶縁抵抗値を含むNa個(Naは、予め規定された2以上の自然数)の前記絶縁抵抗値のうちのNb個(Nbは、Na以下の予め規定された自然数)の当該絶縁抵抗値を移動平均法によって平均化処理して第1の平均値を取得し、かつ当該Na個の前記絶縁抵抗値を測定するまでの間においてはそのときまでに測定した当該絶縁抵抗値に基づいて平均化処理した平均値を前記第1の平均値として取得する第1の平均値取得処理を実行すると共に、当該第1の平均値に基づく測定結果を報知する第1の測定結果報知処理を実行する測定処理部を備えた絶縁抵抗測定装置であって、
前記測定処理部は、前記測定処理の都度、測定した前記絶縁抵抗値と直前の測定処理において測定した前記絶縁抵抗値とを比較すると共に、当該測定した絶縁抵抗値が当該直前の測定処理において測定した絶縁抵抗値よりも小さいとの条件がM回(Mは、予め規定された自然数)満たされたときに、当該測定した絶縁抵抗値および当該直前の測定処理において測定した絶縁抵抗値のいずれか予め規定された一方を前記Na個の絶縁抵抗値のうちの最初の1個とする前記第1の平均値取得処理を開始する絶縁抵抗測定装置。 - 前記測定処理部は、前記条件がM回満たされるまで、前記測定処理の都度、測定した前記絶縁抵抗値を含むLa個(Laは、予め規定された2以上の自然数)の前記絶縁抵抗値のうちのLb個(Lbは、Na以下であって、かつ(Nb−1)以下の予め規定された自然数)の当該絶縁抵抗値を移動平均法によって平均化処理して第2の平均値を取得する第2の平均値取得処理を実行すると共に、当該第2の平均値に基づく測定結果を報知する第2の測定結果報知処理を実行する請求項1記載の絶縁抵抗測定装置。
- 絶縁抵抗値を測定する測定処理を予め規定された時間間隔で実行し、かつ当該測定処理の都度、測定した前記絶縁抵抗値を含むNa個(Naは、予め規定された2以上の自然数)の前記絶縁抵抗値のうちのNb個(Nbは、Na以下の予め規定された自然数)の当該絶縁抵抗値を移動平均法によって平均化処理して第1の平均値を取得し、かつ当該Na個の前記絶縁抵抗値を測定するまでの間においてはそのときまでに測定した当該絶縁抵抗値に基づいて平均化処理した平均値を前記第1の平均値として取得する第1の平均値取得処理を実行すると共に、当該第1の平均値に基づく測定結果を報知する第1の測定結果報知処理を実行する絶縁抵抗測定方法であって、
前記測定処理の都度、測定した前記絶縁抵抗値と直前の測定処理において測定した前記絶縁抵抗値とを比較すると共に、当該測定した絶縁抵抗値が当該直前の測定処理において測定した絶縁抵抗値よりも小さいとの条件がM回(Mは、予め規定された自然数)満たされたときに、当該測定した絶縁抵抗値および当該直前の測定処理において測定した絶縁抵抗値のいずれか予め規定された一方を前記Na個の絶縁抵抗値のうちの最初の1個とする前記第1の平均値取得処理を開始する絶縁抵抗測定方法。 - 前記条件がM回満たされるまで、前記測定処理の都度、測定した前記絶縁抵抗値を含むLa個(Laは、予め規定された2以上の自然数)の前記絶縁抵抗値のうちのLb個(Lbは、Na以下であって、かつ(Nb−1)以下の予め規定された自然数)の当該絶縁抵抗値を移動平均法によって平均化処理して第2の平均値を取得する第2の平均値取得処理を実行すると共に、当該第2の平均値に基づく測定結果を報知する第2の測定結果報知処理を実行する請求項3記載の絶縁抵抗測定方法。
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JP2012101989A JP5959293B2 (ja) | 2012-04-27 | 2012-04-27 | 絶縁抵抗測定装置および絶縁抵抗測定方法 |
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JP4290940B2 (ja) * | 2002-08-02 | 2009-07-08 | 株式会社山武 | 計測器 |
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