JPH04501763A - 回路試験 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ｊ賎 技術分野 本発明は電気回路試験に間し、特に試験プローブが試験すべき回路と接触してい るかどうかの検出に間する。

背景技術 少なくとも１つの試験プローブを用いて、！気回路を試験するための各種の方法 が知られている。例えば、そのような少なくとも１つのプローブは、アース面に 対するキャパシタンス（静電容量）値の点検や抵抗値の点検あるいはこれら両点 検の組合せに基づき、開回路故障及び／又は短絡回路故障について導電路を試験 することによって、部品の実装前にプリント回路板を自動的に試験するのに使え る。

しかし、プローブが導を路やそのような導電路の端子へ適切に接触しないと、プ ローブからの読取エラーが生じてしまう。

発明の開示 本発明の一態様によれば、試験プローブが試験すべき電気回路と接触しているか どうかを検出する方法において、前記プローブと基準間のインピーダンス値の大 きさを得、該大きさを、前記プローブを回路と接触させずに得られたインピーダ ンスの大きさと比較することを含む方法が提供される。

本発明の別のｌ！Ｊ様によれば、試験プローブが試験すべき７１１％回路と接触 しているかどうかを検出する装置において、前記プローブと基準間のインピーダ ンス値の大きさを得る手段、及び該大きさを、前記プローブを回路と接触させず に得られたインピーダンスの大きさと比較する手段を備えた装置が提供される。

図面の簡単な説明 添付の図面は、本発明による装置の一実施例の概略図である。

発明を実施するための最良の形態 以下本発明を、本発明による装置の実施例の概略図である添付の図面を参照し一 例としてのみ説明する。

添付の図面を参照すれば、参照符号Ｐは回路Ｕの試験のため、試験下の回路Ｕと 接触するのに使われる試験プローブを示す、プローブＰに近接してキャパシタン ス測定回路Ｍが位置し、このキャパシタンス測定回路ＭはリレーＲＬＩを介して プローブＰと接続可能であるが、コンデンサｃｙによってリレーＲＬＩから隔絶 されている。リレーＲＬＩは、その端子１と２または端子３と２のいずれかを接 続する接点子を有する。

リレーＲＬＩの端子３とアース（Ｇ）との間にリレーＲＬ２が接続され、リレー ＲＬ２は通常その両端子１と２の間に開回路を与える。試験の目的でプローブＰ へ至る通常の電路は、人力ＳとリレーＲＬＩの両端子ｌと２及び接点子を介して 形成される。

使用中プローブＰが実際に試験下の回路と接触しているかどうかに間する二次点 検を可能とするため、まず、プローブが試験下に置かれる回路から外される。次 いで、回路Ｔの制御下で、リレーＲＬＩの接点子が・　その両端子２と３を接続 し、キャパシタンス測定回路ＭがコンデンサＣｙを介してプローブＰに接続され る状態にリレーＲＬＩが置かれる。その後、回路Ｍが回路Ｔの制御下でキャパシ タンスの測定を行う、この測定はコンデンサＣｙと、プローブＰ及び付設配線の 漂遊キャパシタンス（Ｃｐ）とを反映しており、その結果が出力Ｒを介し＋ＩＩ Ｊｉ１１回路Ｔ内に基そして回路Ｍによってキャパシタンス測定（Ｃｍ）が行わ れ、このときの測定値はコンデンサＣｙと、プローブＰ及び付設配線の漂遊キャ パシタンスＣｐと、さらに試験下の回路にプローブＰを接触させたことによる追 加のミス的効果が存在すればそれとを反映したものとなる。試験下の回路から７ −スＧに至るその他の直接的な接続が存在しなければ、試験下の回路によフて付 加されるキャパシタンスはＣｘだけて表され、次の式が成り立つ： デンサＣｙとプローブＰ及びｉｔ設ｒｆ？、線の漂遊キャパシタンスＣｐとを反 映した基４測定値が、回路ＴによってＣｍと自動的に比較される０両者が同し値 であれば、プローブＰは試験下の回路に接触されていないと考えられる。Ｃｌ１ ｌか基準測定値と異なれば（この実施例では大きい）、ブ自−ブＰは試験下の回 路に接触されていると考えられる。つまりこの実施例において、試験下の回路が アースに対して複合インピーダンスを表す部品を有していれば、プローブＰが試 験下の回路と接触することで、ＣｍはＣｙどＣｐだけが直列に接続されたものよ り大きくなる。また試験下の回路がアースに短絡していれば、Ｃｍ＝Ｃｙとなる 。

この際、一方においてコンデンサＣｙは、キャパシタンス測定回路Ｍを試験下の 回路に存在するかもしれない電圧から促護し、また他方においてコンデンサＣｙ は、試験下の回路をキャパシタンス測定回路Ｍの作用によって生しるかもしれな い信号から侃謹する。

キャパシタンス測定を行うとぎプローブＰに存在する電圧は、プローブ先端での キャパシタンスについて行われる有効な測定を妨げない。

回路Ｔの制御によりてプローブＰが試験下の回路に接触していることが確かめら れたら、リレーＲＬＩの接点子がその両端子１と２を接続してプローブを入力Ｓ に接続する状態にリレーＲＬＩが置かれ、試験すべき回路の試験を行う。また、 リレーＲＬ２の接点子がその両端子ｌと２を接続する状態にリレーＲＬ２が置か れ、試験下の回路を損傷する恐れのあるコンデンサｃｙの電圧を放電させろ。

各リレーＲＬＩとＲＬ　２は、機械的なスイッチあるいはｔ路を指定可能な任意 の半導体手段で置き換えてもよい。

キャパシタンス測定回路Ｍは、試験下の回路を充電するのにかかる時間を、２つ の所定電圧限界の間で一定または半一定の電流によって測定する構成にすること もてきる。

プローブＰは、人手であるいは電気、油圧、空圧またはその他任意の動力手段に よって自動的に達成可能な電気的接触を果たすように設計された任意の機械的装 置とし得る。

プローブＰの移動によるキャパシタンス変化は、試験下の回路に対して通常接触 される位置となる位置にプローブを置いて基準測定を行うことで、試験下の回路 を物理的に全く正確にその位置へ置かなくてもゼロにできる。

試験下の回路の導電性表面を、容量、誘導または抵抗手段によフて他の！気部品 へ電気的に接続してもよい。また接触の点検を行うとき、導電性表面は電気的に 「活性」てあってもよい。

産業上の利用分野 本発明によれば、試験プローブが試験すべき電気回路と接触しているかどうかを 、試験すべき回路や測定回路を損傷することなく検出できる方法及び装置が得ら れる。

国際調査報告 国際調査報告 ＧＢ　８９００９５９ Ｓ＾　３０７７３

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. １．試験プローブが試験すべき電気回路と接触しているかどうかを検出する方法 において、前記プローブと基準間のインピーダンス値の大きさを得、該大きさを 、前記プローブを回路と接触させずに得られたインピーダンスの大きさと比較す ることを含む方法。
2. ２．前記インピーダンス値がキャパシタンス値である請求の範囲第１項記載の方 法。
3. ３．試験プローブが試験すべき電気回路と接触しているかどうかを検出する装置 において、前記プローブと基準間のインピーダンス値の大きさを得る手段、及び 該大きさを、前記プローブを回路と接触させずに得られたインピーダンスの大き さと比較する手段を備えた装置。
4. ４．前記インピーダンス値を得る手段が、前記プローブと前記基準間のキャパシ タンス値の大きさを得る手段からなる請求の範囲第３項記載の装置。
5. ５．前記比較手段が、前記プローブと基準間のインピーダンス値の大きさとのそ の後の比較のため、前記プローブを回路と接触させずに得られたインピーダンス の大きさを記憶する請求の範囲第３または４項記載の装置。
6. ６．下記を備えた構成： （ａ）電気回路の試験に使われる試験プローブ；及び（ｂ）前記プローブが試験 すべき電気回路と接触しているかどうかを検出する装置、 前記構成において、前記装置が： （ｉ）キャパシタンス測定手段； （ｉｉ）前記測定手段と前記プローブとの間に位置するスイッチ手段で、前記プ ローブを前記測定手段に接続する第１の状態と、前記プローブを試験入力へ接続 する第２の状態とを有するスイッチ手段；及び （ｉｉｉ）前記測定手段に接続され、比較手段と記憶手段を備えた制御手段、を 備えており、前記スイッチ手段が第１の状態にあり且つ前記プローブが試験下の 回路に接触していないとき、前記測定手段が前記プローブと基準との間のキャパ シタンス値を測定可能で、該キャパシタンス値が前記記憶手段に記憶された後、 前記スイッチ手段が第１の状態にあり且つ前記プローブが試験下の回路に接触し ていると考えられる位置にあるとき、前記測定手段が前記プローブと前記基準と の間のキャパシタンス値を測定可能で、該キャパシタンス値が前記記憶されたキ ャパシタンス値と前記記憶手段によって比較されるようになされている。