JP2606665Y2 - 電子回路 - Google Patents

電子回路

Info

Publication number
JP2606665Y2
JP2606665Y2 JP1992014849U JP1484992U JP2606665Y2 JP 2606665 Y2 JP2606665 Y2 JP 2606665Y2 JP 1992014849 U JP1992014849 U JP 1992014849U JP 1484992 U JP1484992 U JP 1484992U JP 2606665 Y2 JP2606665 Y2 JP 2606665Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mode
signal
reset
test
state
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP1992014849U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0577788U (ja
Inventor
光章 黒川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP1992014849U priority Critical patent/JP2606665Y2/ja
Publication of JPH0577788U publication Critical patent/JPH0577788U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2606665Y2 publication Critical patent/JP2606665Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、動作確認を行うための
テストモードと、通常の動作を行うための通常モードと
を備える電子回路に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、電子回路、例えばゲートアレイ
において、ゲートアレイが正常に動作するようになって
いるかの動作テストを行うテスト端子が設けられる。
【0003】このテスト端子は、ゲートアレイが正常に
動作しているかどうかの確認を行うテストモード時に使
用されるものであり、ゲートアレイの通常の動作時にも
はや使用されないものである。
【0004】また、斯るテストモードへの切り替え時、
及びテストモードから通常の動作を行う通常モードへの
切り替え時に、ゲートアレイをリセットするためのリセ
ット信号を入力するためのリセット端子も設けられてい
る。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】上述のように、ゲート
アレイには、リセット端子とテスト端子とが必要である
が、必要とする端子数をできるだけ少なくするべく、で
きれば、通常の動作時には使用することのないテスト端
子を削除したいところである。
【0006】しかし、テスト端子をなくしてしまえば、
動作テストを行うことができなくなってしまう。
【0007】そこで、本考案は、1つの入力端子への入
力信号により、テストモードと通常モードの切り替え、
及び斯る切り替え時のリセット動作を行うようにし、入
力端子の削減を図ることを目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本考案は、通常の動作を
行うための通常モードと、動作確認を行うためのテスト
モードと、上記通常モードから上記テストモードへ切り
替わるまで及び上記テストモードから上記通常モードへ
切り替わるまでのリセットモードとを備える電子回路で
あって、上記通常モードから上記テストモードへ及び上
記テストモードから上記通常モードへのモードの切り替
え信号を入力するための1つの入力端子と、上記入力端
子に入力される上記切り替え信号とクロック信号の変化
を検出し、上記回路の上記リセットモードを開始するた
めのリセット信号を生成するリセット信号生成手段とを
備え、上記リセットモードは、2周期の上記クロック信
号の印加に伴い解除されることを特徴とする。
【0009】
【作用】本考案によれば、動作確認を行うためのテスト
モードと、通常の動作を行うための通常モードとを切り
替える切り替え信号が1つの入力端子から入力される
と、斯る切り替え信号の変化を検出し、自動的に回路を
リセットするためのリセット信号が生成される。
【0010】
【実施例】図1は本考案の一実施例の回路図を示してい
る。同回路は、例えばゲートアレイ内に設けられてい
る。1は1つの入力端子から入力されたRST信号を反
転するすると共に、その反転信号をTEST信号として
出力する第1のインバータ、2、3及び4は、直列的に
接続された第1、第2及び第3のDフリップフロップ
(以下、D−FFという)である。具体的には、第1の
D−FF2のD端子には、第1のインバータ1の出力信
号が印加され、第1のD−FF2及び第2のD−FF3
のQ端子の出力信号が、各々第2のD−FF3及び第3
のD−FF4のD端子に印加されている。また、D−F
F2、3及び4の各T端子には、CLOCK信号が印加
されている。
【0011】更に、5は第1のD−FF2及び第3のD
−FF4の各Q端子の出力信号が印加される排他的論理
和ゲート、6はこの排他的論理和ゲート5の出力を反転
し、RESET信号として図示しないゲートアレイに出
力する第2のインバータである。
【0012】図2は斯る回路図の動作のタイミングチャ
ート図を示している。
【0013】今、RST信号は、HIGH状態(以下、
H状態とする)であるとすると、第2のインバータ6の
出力、即ち、RESET信号もH状態であり、従って、
ゲートアレイは通常の動作を行う通常モードとなってい
る。
【0014】この状態から、RST信号がLOW状態
(以下、L状態とする)に変化すると、第1のインバー
タ1の出力はH状態に変化し、CLOCK信号の最初の
立ち上がりに同期して、第1のD−FF2のQ端子の出
力信号がH状態に変わる。この時、第3のフリップフロ
ップ4のQ端子の出力信号はL状態のままであるので、
排他的論理和ゲート5の出力は、H状態となる。従っ
て、第2のインバータ6の出力、即ち、RESET信号
はL状態に変化し、リセットモードが開始される。
【0015】その後、次のCLOCK信号の立ち上がり
に同期して第2のD−FF3のQ端子の出力信号がH状
態となり、更に、その次のCLOCK信号の立ち上がり
に同期して第3のD−FF4のQ端子の出力信号がH状
態となる。この時点で、排他的論理和ゲート5への2つ
の入力信号(即ち、第1及び第3のD−FF2、4のQ
端子の出力信号)が共にH状態となり、従って、第2の
インバータ6の出力であるRESET信号がH状態に変
化し、リセットモードが解除される。
【0016】これにより、ゲートアレイのリセットが行
われる。
【0017】この時、第1のインバータ1の出力信号で
あるTEST信号はH状態であり、上記リセットの後、
ゲートアレイはテストモードとなる。
【0018】次に、斯るTESTモードから通常モード
への変更は、RST信号がL状態からH状態に変化する
ことにより行われる。即ち、RST信号がH状態に変化
すると、まず、TEST信号がL状態となる。そして、
最初のCLOCK信号の立ち上がりに同期して第1のD
−FF2のQ端子の出力信号がL状態となり、排他的論
理和ゲート5の出力はH状態に変わる。よって、RES
ET信号がL状態となり、リセットモードが始まる。
【0019】その後、2つのCLOCK信号の印加に伴
い、第3のD−FF4のQ端子の出力信号がL状態に変
化し、その結果、排他的論理和ゲート5の出力信号がL
状態になってRESET信号がH状態となり、リセット
モードが解除され、通常モードとなる。
【0020】
【考案の効果】本考案によれば、通常モードからテスト
モードへ切り替わるまで及びテストモードから通常モー
ドへ切り替わるまでのリセットモードとを備える電子回
路であって、上記通常モードから上記テストモードへ及
び上記テストモードから上記通常モードへのモードの切
り替え信号を入力するための1つの入力端子と、上記入
力端子に入力される上記切り替え信号とクロック信号の
変化を検出し、上記回路の上記リセットモードを開始す
るためのリセット信号を生成するリセット信号生成手段
とを備え、上記リセットモードは、2周期の上記クロッ
ク信号の印加に伴い解除されるので、1つの入力端子に
与える信号を変化させるだけで、テストモードと通常モ
ードの切り替え、及び斯る切り替え時のリセット動作を
行うことができ、入力端子の削減を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例を示す回路図である。
【図2】本考案の回路の動作を示すタイミングチャート
図である。
【符号の説明】
1 第1のインバータ 2 第1のD−FF 3 第2のD−FF 4 第3のD−FF 5 排他的論理和ゲート 6 第2のインバータ

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 通常の動作を行うための通常モードと、
    動作確認を行うためのテストモードと、上記通常モード
    から上記テストモードへ切り替わるまで及び上記テスト
    モードから上記通常モードへ切り替わるまでのリセット
    モードとを備える電子回路であって、 上記通常モードから上記テストモードへ及び上記テスト
    モードから上記通常モードへのモードの切り替え信号を
    入力するための1つの入力端子と、上記入力端子に入力
    される上記切り替え信号とクロック信号の変化を検出
    し、上記回路の上記リセットモードを開始するためのリ
    セット信号を生成するリセット信号生成手段とを備え、 上記リセットモードは、2周期の上記クロック信号の印
    加に伴い解除されることを特徴とする電子回路。
JP1992014849U 1992-03-19 1992-03-19 電子回路 Expired - Fee Related JP2606665Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1992014849U JP2606665Y2 (ja) 1992-03-19 1992-03-19 電子回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1992014849U JP2606665Y2 (ja) 1992-03-19 1992-03-19 電子回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0577788U JPH0577788U (ja) 1993-10-22
JP2606665Y2 true JP2606665Y2 (ja) 2000-12-18

Family

ID=11872489

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1992014849U Expired - Fee Related JP2606665Y2 (ja) 1992-03-19 1992-03-19 電子回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2606665Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0577788U (ja) 1993-10-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3467975B2 (ja) 位相検出回路
US7656980B2 (en) Clock switching circuit
JP2606665Y2 (ja) 電子回路
JPH03127526A (ja) 同期化装置
JPS638612B2 (ja)
JP2713123B2 (ja) 論理回路およびその試験方法
JPH0370314A (ja) クロック断検出回路
JPS62260418A (ja) フリツプフロツプ回路
JP3011047B2 (ja) 位相比較回路
JPH0993099A (ja) エッジ検出回路
JPH0332115Y2 (ja)
JP2930083B2 (ja) パラレル/シリアル変換回路
JP2903548B2 (ja) 論理回路診断システム
JPH05206998A (ja) 信号断検出回路
JP2556169B2 (ja) クロック切替回路
JP3341421B2 (ja) 計数回路
JPH0897691A (ja) 位相比較器
JPH0754348B2 (ja) テスト回路
JPS63253272A (ja) スキャン可能なフリップフロップ回路及びスキャンクロックの設定方法
JPH04335412A (ja) クロック生成回路
JPH03171234A (ja) クロック同期式記憶回路
JPH04227164A (ja) 垂直同期信号分離回路
JPH0223092B2 (ja)
JPH01155281A (ja) 論理テスト回路
JPH06343084A (ja) 非同期・同期変換回路

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees