JP2519900Y2 - 電子時計のテストパターン構造 - Google Patents
電子時計のテストパターン構造Info
- Publication number
- JP2519900Y2 JP2519900Y2 JP1989069781U JP6978189U JP2519900Y2 JP 2519900 Y2 JP2519900 Y2 JP 2519900Y2 JP 1989069781 U JP1989069781 U JP 1989069781U JP 6978189 U JP6978189 U JP 6978189U JP 2519900 Y2 JP2519900 Y2 JP 2519900Y2
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- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- switch
- switches
- circuit board
- check
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Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は時計機能のチェックを容易化させる電子回路
のテストパターンの配置構造に関する。
のテストパターンの配置構造に関する。
近年、クロノグラフ時計や針式のカレンダー表示時計
など表示針を多数有し、外部操作部も数個有しているよ
うな多機能時計への要求が高まりつつある。そして、こ
れらの時計の各表示部の作動はプッシュボタンなどの外
部操作部材の操作により電気的スイッチがON/OFFするこ
とにより行なわれる構造が多く、また、電池交換などに
際して時計回路を初期化すための動作を行うオールリセ
ット機能を備える必要がある。このような時計において
は外部操作部材を有する外装の装着前に前述の数個の電
気的スイッチを同時にONすることで時計機能のチェック
を行わなければならないことが多い。
など表示針を多数有し、外部操作部も数個有しているよ
うな多機能時計への要求が高まりつつある。そして、こ
れらの時計の各表示部の作動はプッシュボタンなどの外
部操作部材の操作により電気的スイッチがON/OFFするこ
とにより行なわれる構造が多く、また、電池交換などに
際して時計回路を初期化すための動作を行うオールリセ
ット機能を備える必要がある。このような時計において
は外部操作部材を有する外装の装着前に前述の数個の電
気的スイッチを同時にONすることで時計機能のチェック
を行わなければならないことが多い。
次に従来技術を図面を用いて説明する。
第２図は従来の完成時計の裏ブタを取りはずした状態
の平面図であり、第３図がその断面図、第４図が完成時
計の上面図、第５図が第２図の状態とくらべ、外装部材
をいまだ取りつけていない状態を示す平面図である。第
２図、第３図において１は回路基板であり、回路基板１
には時計用電子部品である水晶振動子20やトリマーコン
デンサー21あるいはチップコンデンサー22とともにIC6
が搭載され、その電極部（図示せず）が回路基板１の上
に形成されたパターンＡスイッチ部３、パターンＢスイ
ッチ部４、パターンＣスイッチ部５とそれぞれ電気的に
導通するようにパターン配置されている。なお、３ケの
プッシュボタン８は１つ１つが第４図に示すＡ表示部2
3、Ｂ表示部24、Ｃ表示部25をそれぞれ作動させる機能
をもつ。第２図、第３図において、外装９に支持され、
押し込み可能であるプッシュボタン８を押し込む操作を
すると（＋）電極に導通しているそれぞれの戻しばね２
のばね曲げ部２′を押すこととなり、これを前記各パタ
ーンスイッチ部に接触させることで（＋）電極へ導通さ
せスイッチONさせることになる。そしてプッシュボタン
８を押す操作を終えると戻しばね２のばね力により、プ
ッシュボタン８が押し込み状態からもとの位置へもどさ
れることになる。なお、各パターンスイッチ部よりIC6
へつながっているパターンにはそれぞれパターンＡチェ
ック部３′、パターンＢチェック部４′、パターンＣチ
ェック部５′が設けられ、この各パターンチェック部を
（＋）電極に導通させると前述のようにプッシュボタン
８を操作しなくてもそのスイッチがONすることになる。
また、前記戻しばね２は後述の下受11に植設される位置
決めピン７によりおのおのの平面方向が支持され、断面
的には下受11とモジュール部13とによって挟持されてい
る。なお、モジュール部13には電池、歯車列、ステップ
モーター、切替機構等の時計として必要な機構が収納さ
れており、下受11とモジュール部13と回路基板１はネジ
止め等の方法で一体に固定されており（図示せず）これ
を文字板14とともに外装９の中へ収納することで前述の
プッシュボタン８の有効な操作が可能となる。そして、
このような多機能時計においては第５図に示すように外
装部品を装着する前の段階で行なう各種機能の検査のう
ちで、例えばオールリセット機能の検査として前述のパ
ターンチェック部（３′、４′、５′）の３つを同時に
スイッチONさせて、第４図におけるＡ表示部23、Ｂ表示
部24、Ｃ表示部25を作動させることで、電気的な機能チ
ェックを行なうことが多い。パターンチェック部が必要
な理由は、第２図の如く外装９に組込んだ状態では３ケ
のプッシュボタン８を同時押しすれば良いが、第５図の
如き回路基板１単体の状態では３ケのパターンスイッチ
部３、４、５を同時に触れることは困難だからである。
の平面図であり、第３図がその断面図、第４図が完成時
計の上面図、第５図が第２図の状態とくらべ、外装部材
をいまだ取りつけていない状態を示す平面図である。第
２図、第３図において１は回路基板であり、回路基板１
には時計用電子部品である水晶振動子20やトリマーコン
デンサー21あるいはチップコンデンサー22とともにIC6
が搭載され、その電極部（図示せず）が回路基板１の上
に形成されたパターンＡスイッチ部３、パターンＢスイ
ッチ部４、パターンＣスイッチ部５とそれぞれ電気的に
導通するようにパターン配置されている。なお、３ケの
プッシュボタン８は１つ１つが第４図に示すＡ表示部2
3、Ｂ表示部24、Ｃ表示部25をそれぞれ作動させる機能
をもつ。第２図、第３図において、外装９に支持され、
押し込み可能であるプッシュボタン８を押し込む操作を
すると（＋）電極に導通しているそれぞれの戻しばね２
のばね曲げ部２′を押すこととなり、これを前記各パタ
ーンスイッチ部に接触させることで（＋）電極へ導通さ
せスイッチONさせることになる。そしてプッシュボタン
８を押す操作を終えると戻しばね２のばね力により、プ
ッシュボタン８が押し込み状態からもとの位置へもどさ
れることになる。なお、各パターンスイッチ部よりIC6
へつながっているパターンにはそれぞれパターンＡチェ
ック部３′、パターンＢチェック部４′、パターンＣチ
ェック部５′が設けられ、この各パターンチェック部を
（＋）電極に導通させると前述のようにプッシュボタン
８を操作しなくてもそのスイッチがONすることになる。
また、前記戻しばね２は後述の下受11に植設される位置
決めピン７によりおのおのの平面方向が支持され、断面
的には下受11とモジュール部13とによって挟持されてい
る。なお、モジュール部13には電池、歯車列、ステップ
モーター、切替機構等の時計として必要な機構が収納さ
れており、下受11とモジュール部13と回路基板１はネジ
止め等の方法で一体に固定されており（図示せず）これ
を文字板14とともに外装９の中へ収納することで前述の
プッシュボタン８の有効な操作が可能となる。そして、
このような多機能時計においては第５図に示すように外
装部品を装着する前の段階で行なう各種機能の検査のう
ちで、例えばオールリセット機能の検査として前述のパ
ターンチェック部（３′、４′、５′）の３つを同時に
スイッチONさせて、第４図におけるＡ表示部23、Ｂ表示
部24、Ｃ表示部25を作動させることで、電気的な機能チ
ェックを行なうことが多い。パターンチェック部が必要
な理由は、第２図の如く外装９に組込んだ状態では３ケ
のプッシュボタン８を同時押しすれば良いが、第５図の
如き回路基板１単体の状態では３ケのパターンスイッチ
部３、４、５を同時に触れることは困難だからである。
尚、10は裏ブタである。
検査等の理由により外装９が装着される前の状態で前
述の３つのスイッチをONさせるためにはパターンＡチェ
ック部３′、パターンＢチェック部４′、パターンＣチ
ェック部５′の３箇所を同時に（＋）電極に導通すれば
よいのであるが、これをやるには３箇所のテストパター
ンをそれぞれ（＋）電極へ導通させる端子のようなもの
が３つ、あるいはその３つが１セットになっているよう
なものが必要であり、またこのため検査作業等が複雑に
なるという欠点がある。
述の３つのスイッチをONさせるためにはパターンＡチェ
ック部３′、パターンＢチェック部４′、パターンＣチ
ェック部５′の３箇所を同時に（＋）電極に導通すれば
よいのであるが、これをやるには３箇所のテストパター
ンをそれぞれ（＋）電極へ導通させる端子のようなもの
が３つ、あるいはその３つが１セットになっているよう
なものが必要であり、またこのため検査作業等が複雑に
なるという欠点がある。
本考案は上記欠点を解消させ、数個のスイッチを容易
な方法で同時にONさせることができるような電子時計の
テストパターン構造を提供することを目的とする。
な方法で同時にONさせることができるような電子時計の
テストパターン構造を提供することを目的とする。
上記目的を達成するための本考案の要旨は、複数のス
イッチと、ICを搭載し前記複数のスイッチの各々に対応
するスイッチパターン並びに該スイッチパターンと前記
ICとを接続する配線パターンを有する回路基板とを備
え、前記複数のスイッチの同時押しにより前記ICの初期
化動作を行う電子時計において、前記各々のスイッチパ
ターンと導通する同時押しパターンを前記回路基板上に
近接して設け、前記同時押しパターンを一つの接触端子
で同時に接触させることにより前記ICの初期化動作を行
うように構成したことを特徴とする。
イッチと、ICを搭載し前記複数のスイッチの各々に対応
するスイッチパターン並びに該スイッチパターンと前記
ICとを接続する配線パターンを有する回路基板とを備
え、前記複数のスイッチの同時押しにより前記ICの初期
化動作を行う電子時計において、前記各々のスイッチパ
ターンと導通する同時押しパターンを前記回路基板上に
近接して設け、前記同時押しパターンを一つの接触端子
で同時に接触させることにより前記ICの初期化動作を行
うように構成したことを特徴とする。
以上の構成によって外装装着前の状態で多数のスイッ
チを同時にONさせるに際して、近接させて配置したテス
トパターンの集合である同時押しパターンに１つの
（＋）電極に導通した接触端子を接触させることで、多
数のスイッチパターンを同時に（＋）電極へ導通させる
ことができる。
チを同時にONさせるに際して、近接させて配置したテス
トパターンの集合である同時押しパターンに１つの
（＋）電極に導通した接触端子を接触させることで、多
数のスイッチパターンを同時に（＋）電極へ導通させる
ことができる。
以下本考案の実施例を図面に基づき詳述する。
第１図は本考案の実施例による平面図であり第２図同
様に時計の裏ブタを取りはずした状態の図である。第６
図は本考案の回路基板を示し、（Ａ）は平面図、（Ｂ）
は検査状態を示す断面図である。第２図、第３図と同一
の部番については説明を省略する。第６図（Ｂ）はスイ
ッチONの際の操作を示すものであり、19は接触端子であ
る。第１図において回路基板上に形成された３つのパタ
ーンスイッチ部３、４、５からそれぞれIC6の対応する
電極部（図示せず）に導通する配線パターンを形成し、
さらにこれらのそれぞれの配線パターンから枝分かれさ
せて形成したテストパターンであるパターンＡチェック
部16、パターンＢチェック部17、パターンＣチェック部
18の３つを近接させた位置に配置して、同時押しパター
ンであるパターンチェック部12を形成する。IC6からは
従来技術と同様に水晶振動子20やトリマーコンデンサー
21、あるいはチップコンデンサー22へ各２本づつの配線
パターンが形成されている。また、３個のパターンスイ
ッチ部のうちパターンＡスイッチ部３とパターンＣスイ
ッチ部５は、プッシュボタン８の操作性の関係で、IC6
とチップコンデンサー22を結ぶ配線パターンに対し互い
に反対側に配設されている。しかし、３個のパターンチ
ェック部16、17、18を１ケ所にまとめて配設したので、
本実施例においてはパターンＣスイッチ部５とパターン
Ｃチェック部18の導通はスルーホール15を介し、IC6と
チップコンデンサー22を結ぶ配線パターンをまたぐよう
にして、一部回路基板１の裏面上のパターンを形成して
実現している。尚、スルーホール15でなくても、配線パ
ターンの上に絶縁膜を形成しそのうえをまたぐようにし
てパターンを形成して実現しても良い。
様に時計の裏ブタを取りはずした状態の図である。第６
図は本考案の回路基板を示し、（Ａ）は平面図、（Ｂ）
は検査状態を示す断面図である。第２図、第３図と同一
の部番については説明を省略する。第６図（Ｂ）はスイ
ッチONの際の操作を示すものであり、19は接触端子であ
る。第１図において回路基板上に形成された３つのパタ
ーンスイッチ部３、４、５からそれぞれIC6の対応する
電極部（図示せず）に導通する配線パターンを形成し、
さらにこれらのそれぞれの配線パターンから枝分かれさ
せて形成したテストパターンであるパターンＡチェック
部16、パターンＢチェック部17、パターンＣチェック部
18の３つを近接させた位置に配置して、同時押しパター
ンであるパターンチェック部12を形成する。IC6からは
従来技術と同様に水晶振動子20やトリマーコンデンサー
21、あるいはチップコンデンサー22へ各２本づつの配線
パターンが形成されている。また、３個のパターンスイ
ッチ部のうちパターンＡスイッチ部３とパターンＣスイ
ッチ部５は、プッシュボタン８の操作性の関係で、IC6
とチップコンデンサー22を結ぶ配線パターンに対し互い
に反対側に配設されている。しかし、３個のパターンチ
ェック部16、17、18を１ケ所にまとめて配設したので、
本実施例においてはパターンＣスイッチ部５とパターン
Ｃチェック部18の導通はスルーホール15を介し、IC6と
チップコンデンサー22を結ぶ配線パターンをまたぐよう
にして、一部回路基板１の裏面上のパターンを形成して
実現している。尚、スルーホール15でなくても、配線パ
ターンの上に絶縁膜を形成しそのうえをまたぐようにし
てパターンを形成して実現しても良い。
本実施例のようにすれば第６図（Ｂ）に示すように多
数のスイッチのテストパターンの集合であるパターンチ
ェック部12を１つの接触端子19で同時に触れることがで
きるため多数のスイッチを同時にONさせることができ、
回路基板１単体の動作チェックが非常に容易となる。
数のスイッチのテストパターンの集合であるパターンチ
ェック部12を１つの接触端子19で同時に触れることがで
きるため多数のスイッチを同時にONさせることができ、
回路基板１単体の動作チェックが非常に容易となる。
以上の説明から明らかな如く、複数のスイッチパター
ンから分岐させてテストパターンを設け、これらテスト
パターンを近接させて配置したことで、プッシュボタン
を有する外装を装着する前の状態において、１つの接触
端子を使用するだけで多数のスイッチを同時にONさせる
ことができ、検査作業等も簡単にすることが可能であ
る。
ンから分岐させてテストパターンを設け、これらテスト
パターンを近接させて配置したことで、プッシュボタン
を有する外装を装着する前の状態において、１つの接触
端子を使用するだけで多数のスイッチを同時にONさせる
ことができ、検査作業等も簡単にすることが可能であ
る。
第１図は本考案の電子回路のスイッチパターン配置を示
す平面図、第２図は従来の電子回路のスイッチパターン
配置を示す平面図、第３図は第２図の断面図、第４図は
完成多機能時計の上面外観図、第５図は外装装着前の平
面図、第６図は本考案の回路基板を示し、（Ａ）は平面
図、（Ｂ）は検査状態を示す断面図である。 １……回路基板、２……戻しばね、２′……ばね曲げ
部、３……パターンＡスイッチ部、３′、16……パター
ンＡチェック部、４……パターンＢスイッチ部、４′、
17……パターンＢチェック部、５……パターンＣスイッ
チ部、５′、18……パターンＣチェック部、６……IC、
７……位置決めピン、８……プッシュボタン、９……外
装、10……裏ブタ、11……下受、12……パターンチェッ
ク部、13……モジュール部、14……文字板、15……スル
ーホール、19……接触端子。
す平面図、第２図は従来の電子回路のスイッチパターン
配置を示す平面図、第３図は第２図の断面図、第４図は
完成多機能時計の上面外観図、第５図は外装装着前の平
面図、第６図は本考案の回路基板を示し、（Ａ）は平面
図、（Ｂ）は検査状態を示す断面図である。 １……回路基板、２……戻しばね、２′……ばね曲げ
部、３……パターンＡスイッチ部、３′、16……パター
ンＡチェック部、４……パターンＢスイッチ部、４′、
17……パターンＢチェック部、５……パターンＣスイッ
チ部、５′、18……パターンＣチェック部、６……IC、
７……位置決めピン、８……プッシュボタン、９……外
装、10……裏ブタ、11……下受、12……パターンチェッ
ク部、13……モジュール部、14……文字板、15……スル
ーホール、19……接触端子。
Claims (1)
- 【請求項１】複数のスイッチと、ICを搭載し前記複数の
スイッチの各々に対応するスイッチパターン並びに該ス
イッチパターンと前記ICとを接続する配線パターンを有
する回路基板とを備え、前記複数のスイッチの同時押し
により前記ICの初期化動作を行う電子時計において、前
記各々のスイッチパターンと導通する同時押しパターン
を前記回路基板上に近接して設け、前記同時押しパター
ンを一つの接触端子で同時に接触させることにより前記
ICの初期化動作を行うように構成したことを特徴とする
電子時計のテストパターン構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989069781U JP2519900Y2 (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 電子時計のテストパターン構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989069781U JP2519900Y2 (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 電子時計のテストパターン構造 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0310292U JPH0310292U (ja) | 1991-01-31 |
| JP2519900Y2 true JP2519900Y2 (ja) | 1996-12-11 |
Family
ID=31605382
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1989069781U Expired - Lifetime JP2519900Y2 (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 電子時計のテストパターン構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2519900Y2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0642589B2 (ja) * | 1985-02-14 | 1994-06-01 | キヤノン株式会社 | プリント基板 |
| JPH0743672Y2 (ja) * | 1987-03-05 | 1995-10-09 | セイコーエプソン株式会社 | 電子時計 |
-
1989
- 1989-06-16 JP JP1989069781U patent/JP2519900Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0310292U (ja) | 1991-01-31 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |