JP2022512833A - 光ガイド素子を製造するために角度付けられたフォトリソグラフィを利用するシステムおよび方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本出願は、2018年11月7日に出願された米国特許出願第US16/183,728号の利益を主張し、その内容は参照により本明細書に組み込まれる。
光ガイドは、光ガイド内で光を導くように構成され得る光学素子を含み得る。これらの光学素子は、光ガイドの入力ファセットから出力ファセットに光を透過させるために、光を(全体的または部分的に)反射し得る構造を含み得る。例えば、光学素子は、光を導き得る垂直および/または角度付けられた構造であり得る。より具体的には、垂直構造は、構造の長さに沿って光を導き得る。角度付けられた構造は、光学的に反射する金属でコーティングされ得、それにより、特定の方向に入射光を反射し得るミラーとして効果的に機能する。
図1Aは、例示的な実施形態による光学素子100を示している。本明細書において説明される光学系および製造方法は、光学素子100を含み得る。場合によっては、光学素子100は、フォトレジストのようなポリマー材料から形成することができる。例えば、ポリマー材料は、SU-8ポリマー、Kloe K-CLネガフォトレジスト、Dow PHOTOPOSITネガフォトレジスト、またはJSRネガ型THBフォトレジストを含むことができる。光学素子100は、他のフォトパターン化可能なポリマー材料から形成することができることが理解されよう。
a.光学素子を造形するための例示的なシステム
上記の考察に沿って、いくつかの所望の構造は、現在のフォトリソグラフィシステムを使用して造形するのが難しい可能性がある。例えば、光源とフォトレジスト材料との間の媒体が空気である場合、いくつかの角度付けられた構造を造形することは実行可能でない場合がある。具体的には、スネルの法則によれば、光源とフォトレジスト材料との間の媒体が空気である場合、角度付けられた構造を露光するために必要なフォトレジスト材料の屈折角は達成できない場合がある。
図3Aは、例示的な実施形態による、光学素子を造形または製造する方法300を示している。一実施形態では、方法300は、図1Aを参照して図示および説明されるように、光学素子100を提供するために、図2A~図2Dに記載される造形システム200を使用することを含み得る。図3Aは、図4に関連して図示および説明される方法400に関連して説明されるブロックまたはステップのうち少なくともいくつかに関する例示的な図として役立ち得る。
図5A~図5Eは、例示的な実施形態による、光学素子を造形するための造形システムの追加の例示的な実施形態を示す。特に、各実施形態は、垂直および/または角度付けられた構造を含む光学素子を造形するように構成され得る。
本開示は、本出願に記載の特定の実施形態に関して限定されるものではなく、特定の実施形態は、様々な態様の例証として意図される。当業者には明らかなことであるが、多くの変形および変更を本開示の趣旨および範囲から逸脱することなく行うことができる。本明細書において列挙される方法および装置に加えて、本開示の範囲内の機能的に同等の方法および装置は当業者には、これまでの説明から明らかであろう。このような変形および変更は、添付の特許請求の範囲内にあることが意図されている。
Claims (21)
- システムであって、
光源によって放出された光を方向付けて、フォトレジスト材料を所望の角度で照射し、前記フォトレジスト材料内の角度付けられた構造を露光するように構成された光学構成要素であって、前記フォトレジスト材料が基板の上面の少なくとも一部に重なっている光学構成要素を備え、前記光学構成要素が、
前記所望の角度に部分的に基づいて選択される光結合材料を収容する容器と、
前記放出された光の少なくとも第1の部分を反射して、前記フォトレジスト材料を所望の角度で照射するように配置されたミラーと、を備える、システム。 - 前記光源と前記基板との間に配置されたアパーチャマスクをさらに備え、前記アパーチャマスクが、1つ以上の開口部を備え、各開口部が、前記フォトレジスト材料のそれぞれの所望の構造に対応し、各開口部を通り抜ける前記放出された光の少なくとも一部は、前記開口部が対応するそれぞれの所望の構造を露光させる、請求項1に記載のシステム。
- 前記それぞれの所望の構造が、垂直構造および角度付けられた構造のうちの1つである、請求項2に記載のシステム。
- 前記角度付けられた構造に対応する第1の開口部が、前記放出された光の第1の部分を前記ミラーに方向付ける、請求項2に記載のシステム。
- 前記光学構成要素が、前記光源から放出された光を方向付けて、前記フォトレジスト材料を実質的に垂直な角度で照射し、前記フォトレジスト材料の垂直構造を露光するようにさらに構成されており、前記垂直構造に対応する第1の開口部が、前記放出された光の第2の部分を前記フォトレジスト材料に方向付ける、請求項2に記載のシステム。
- 前記容器の上面の少なくとも一部および底面の少なくとも一部が、透明であり、前記放出された光が、前記上面の前記透明部分を通って前記容器に進入し、前記放出された光が、前記底面の前記透明部分を通して前記フォトレジスト材料を照射する、請求項1に記載のシステム。
- 前記フォトレジストの近くに配置されたフォトマスクをさらに備え、前記フォトマスクが、前記フォトレジスト内の個々の所望の構造を画定するように構成されている、請求項1に記載のシステム。
- 前記基板の前記上面に造形されたフォトマスクをさらに備え、前記フォトレジストが前記フォトマスクに重なっており、前記放出された光が、前記基板の底面を通して前記フォトレジストを照射する、請求項1に記載のシステム。
- 前記光源が、偏光フィルタを備え、前記放出された光が、p偏光であり、前記p偏光が、(i)前記基板と前記フォトレジストとの間の界面、および(ii)前記基板の底面のうちの少なくとも一方からの光反射を低減する、請求項1に記載のシステム。
- 前記光学構成要素が、前記光学構成要素内の迷光を除去するように構成されたデバイスをさらに備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記光源が、異方性コリメート光源である、請求項1に記載のシステム。
- 前記光学構成要素が、
前記光の少なくとも第2の部分を反射して、前記フォトレジスト材料を第2の所望の角度で照射するように配置された第2のミラーをさらに備える、請求項1に記載のシステム。 - 前記光結合材料が、水、グリコール、およびグリセロールのうちの少なくとも1つを含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記フォトレジスト材料が前記容器の底面に面するように前記基板が前記光結合材料に浸漬され、前記容器の前記底面の少なくとも一部が透明であり、前記光源からの前記放出された光が、前記容器の前記底面の前記透明な部分を通って前記容器に進入する、請求項1に記載のシステム。
- 前記光結合材料が、第1の光結合材料であり、前記容器が、第1の容器であり、前記基板が、前記第1の容器の上に配置された第2の容器内の第2の光結合材料に浸漬されており、前記第1および第2の容器の底面のそれぞれの部分が、透明であり、前記放出された光が、前記第1の容器の前記底面の前記透明部分を通って前記第1の容器に進入し、次に前記第2の容器の前記底面の前記透明部分を通って前記第2の容器に進入する、請求項1に記載のシステム。
- 方法であって、
基板を光学構成要素の一方の端部の近くに配置することであって、フォトレジスト材料が前記基板の上面の少なくとも一部に重なっており、前記光学構成要素が、(i)光結合材料を収容する容器と、(ii)ミラーと、を備える、配置することと、
光源によって光を前記光学構成要素内へ放出することであって、前記ミラーが、前記放出された光の少なくとも一部を反射し、前記フォトレジスト材料を所望の角度で照射し、それによって前記フォトレジスト材料内の角度付けられた構造の少なくとも一部を露光する、放出することと、を含む、方法。 - 前記所望の角度に基づいて、前記ミラーの配向角度を決定することと、
前記ミラーを前記配向角度に配向させることと、をさらに含む、請求項16に記載の方法。 - 前記方法が、
前記光学構成要素の表面近くにアパーチャマスクを重ねることをさらに含み、前記アパーチャマスクが、1つ以上の開口部を備え、各開口部が、前記フォトレジスト材料のそれぞれの所望の構造に対応し、各開口部を通り抜ける前記放出された光の少なくとも一部が、前記開口部が対応する前記それぞれの所望の構造を露光する、請求項16に記載の方法。 - 前記方法が、
前記フォトレジストの近くにフォトマスクを重ねることをさらに含み、前記フォトマスクが、前記フォトレジスト内の個々の所望の構造を画定するように構成されている、請求項16に記載の方法。 - 前記フォトレジスト材料を現像して前記フォトレジスト材料の細長い部分を前記基板上に保持することをさらに含み、前記細長い部分の第1の端部が、前記角度付けられた構造を備え、前記角度付けられた構造が、前記基板の前記上面に対してある角度で傾斜している、請求項16に記載の方法。
- 光学素子を造形する方法であって、
基板を光学構成要素の一方の端部の近くに配置するステップであって、フォトレジスト材料が前記基板の上面の少なくとも一部に重なっており、前記光学構成要素が、(i)光結合材料を収容する容器と、(ii)ミラーと、を備える、配置するステップと、
光源によって光を前記光学構成要素内へ放出するステップであって、前記ミラーが、前記放出された光の少なくとも一部を反射し、前記フォトレジスト材料を所望の角度で照射し、それによって前記フォトレジスト材料内の角度付けられた構造の少なくとも一部を露光する、放出するステップと、を含む、方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US16/183,728 US11131929B2 (en) | 2018-11-07 | 2018-11-07 | Systems and methods that utilize angled photolithography for manufacturing light guide elements |
US16/183,728 | 2018-11-07 | ||
PCT/US2019/057858 WO2020096781A1 (en) | 2018-11-07 | 2019-10-24 | Systems and methods that utilize angled photolithography for manufacturing light guide elements |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022512833A true JP2022512833A (ja) | 2022-02-07 |
JP7177925B2 JP7177925B2 (ja) | 2022-11-24 |
Family
ID=70459550
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021523072A Active JP7177925B2 (ja) | 2018-11-07 | 2019-10-24 | 光ガイド素子を製造するために角度付けられたフォトリソグラフィを利用するシステムおよび方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11131929B2 (ja) |
EP (1) | EP3857310A4 (ja) |
JP (1) | JP7177925B2 (ja) |
KR (1) | KR102596861B1 (ja) |
CN (1) | CN113272735B (ja) |
CA (1) | CA3119264C (ja) |
WO (1) | WO2020096781A1 (ja) |
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- 2019-10-24 CA CA3119264A patent/CA3119264C/en active Active
- 2019-10-24 CN CN201980086402.9A patent/CN113272735B/zh active Active
- 2019-10-24 WO PCT/US2019/057858 patent/WO2020096781A1/en unknown
- 2019-10-24 KR KR1020217016933A patent/KR102596861B1/ko active IP Right Grant
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CN113272735B (zh) | 2024-06-18 |
US20210397094A1 (en) | 2021-12-23 |
KR102596861B1 (ko) | 2023-11-02 |
KR20210070388A (ko) | 2021-06-14 |
US11131929B2 (en) | 2021-09-28 |
CA3119264A1 (en) | 2020-05-14 |
WO2020096781A1 (en) | 2020-05-14 |
US20200142312A1 (en) | 2020-05-07 |
EP3857310A1 (en) | 2021-08-04 |
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US11994802B2 (en) | 2024-05-28 |
CA3119264C (en) | 2023-09-26 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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