JPH05226225A - 投影露光装置及び偏光子 - Google Patents

投影露光装置及び偏光子

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JPH05226225A
JPH05226225A JP4023743A JP2374392A JPH05226225A JP H05226225 A JPH05226225 A JP H05226225A JP 4023743 A JP4023743 A JP 4023743A JP 2374392 A JP2374392 A JP 2374392A JP H05226225 A JPH05226225 A JP H05226225A
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    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70483Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
    • G03F7/7055Exposure light control in all parts of the microlithographic apparatus, e.g. pulse length control or light interruption
    • G03F7/70566Polarisation control
    • GPHYSICS
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    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/30Polarising elements
    • G02B5/3025Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state

Abstract

(57)【要約】 【目的】 定在波の発生によるレジスト寸法精度の劣化
を防止する。 【構成】 投影レンズ19の瞳面上に配置された偏光子
21が光源11〜13から発した照明光をその光軸に対
して放射状の偏光面を有する偏光に変換することによ
り、ウエハ20の表面に収束する光束はウエハ20の主
面に対してP偏光となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、LSIの製造に要す
る微細パターンを形成する投影露光装置及びこれに用い
られる偏光子に関する。
【0002】
【従来の技術】図8に従来の投影露光装置の光学系を示
す。ランプハウス1の前方にミラー2を介してフライア
イレンズ3が配置されている。フライアイレンズ3の前
方にはアパーチャー部材4が位置し、さらにリレーレン
ズ5A、ブラインド6、ミラー7及び集光レンズ5Bを
介して回路パターンが形成されたフォトマスク8が配置
されている。マスク8の前方には投影レンズ9を介して
ウエハ10が位置している。
【0003】ランプハウス1から発した光は、ミラー2
を介してフライアイレンズ3に至り、フライアイレンズ
3を構成する個々のレンズ3aの領域に分割される。各
レンズ3aを通過した光は、アパーチャー部材4の開口
部4a、リレーレンズ5A、ブラインド6、ミラー7及
び集光レンズ5Bを介してそれぞれマスク8の露光領域
の全面を照射する。このため、マスク8面上では、フラ
イアイレンズ3の個々のレンズ3aからの光が重なり合
い、均一な照明がなされる。このようにしてマスク8を
通過した光は投影レンズ9を介してウエハ10に至る。
ウエハ10の表面上には予めレジスト膜が形成されてお
り、このレジスト膜が照明光で露光されることにより回
路パターンの焼き付けが行われる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このようにしてウエハ
10の表面にレジストパターンが形成されるが、ウエハ
10に照明光を照射すると、レジスト膜を透過した後に
ウエハ10の表面で反射する光が存在し、この反射光に
よってレジストの膜厚に応じた定在波が生じる。このた
め、レジストパターンの寸法がレジストの膜厚に応じて
変動し、レジスト寸法精度が劣化するという問題点があ
った。この発明はこのような問題点を解消するためにな
されたもので、定在波の発生によるレジスト寸法精度の
劣化を防止することのできる投影露光装置を提供するこ
とを目的とする。また、この発明は定在波の発生を防止
するための偏光子を提供することも目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の投影露
光装置は、光源と、光源から発した照明光を回路パター
ンが形成されたマスク上に照射させる集光レンズと、マ
スクを通過した照明光をウエハ表面に収束させる投影レ
ンズと、投影レンズの瞳面上に配置されると共にウエハ
表面に収束する照明光をその光軸に対して放射状の偏光
面を有する偏光に変換する偏光子とを備えたものであ
る。請求項2に記載の投影露光装置は、光源と、光源か
ら発した照明光を回路パターンが形成されたマスク上に
照射させる集光レンズと、マスクを通過した照明光をウ
エハ表面に収束させる投影レンズと、ウエハ表面に収束
する照明光をその光軸に対して放射状の偏光面を有する
偏光に変換する偏光子と、偏光子を投影レンズの瞳面上
に着脱自在に位置させる切り換え装置とを備えたもので
ある。また、請求項3に記載の偏光子は、凹状の第1の
コーンレンズと、第1のコーンレンズとは屈折率の異な
る材質からなり且つ第1のコーンレンズの凹部内に嵌合
する凸状の第2のコーンレンズとを備え、第1及び第2
のコーンレンズの軸と平行に入射した光をその軸に対し
て放射状の偏光面を有する偏光に変換するものである。
請求項4に記載の偏光子は、それぞれ所定の中心角の扇
形を有し且つ共通の中心のまわりに放射状に配列される
ことにより全体として円板形状をなすと共にその半径方
向の偏光面を有する偏光を透過させる複数の直線偏光フ
ィルタを備え、共通の中心を通り且つ円板に垂直な中心
軸と平行に入射した光をその中心軸に対して放射状の偏
光面を有する偏光に変換するものである。
【0006】
【作用】請求項1の投影露光装置においては、投影レン
ズの瞳面上に配置された偏光子がウエハ表面に収束する
照明光をその光軸に対して放射状の偏光面を有する偏光
に変換する。請求項2の投影露光装置では、ウエハ表面
に収束する照明光をその光軸に対して放射状の偏光面を
有する偏光に変換する偏光子が切り換え装置により必要
に応じて投影レンズの瞳面上に配置される。また、請求
項3の偏光子では、凸状の第2のコーンレンズが凹状の
第1のコーンレンズの凹部内に嵌合され、これにより第
1及び第2のコーンレンズの軸と平行に入射する光が軸
に対して放射状の偏光面を有する偏光に変換される。請
求項4の偏光子では、全体として円板形状をなすように
複数の扇形の直線偏光フィルタが共通の中心のまわりに
放射状に配列され、これにより円板に垂直な中心軸と平
行に入射する光がその中心軸に対して放射状の偏光面を
有する偏光に変換される。
【0007】
【実施例】以下、この発明の実施例を添付図面に基づい
て説明する。図1はこの発明の第1実施例に係る投影露
光装置の光学系を示す図である。照明光を発するランプ
ハウス11の前方にミラー12を介してフライアイレン
ズ13が配置されている。フライアイレンズ13の前方
にアパーチャー部材14が位置し、さらにリレーレンズ
15A、ブラインド16、ミラー17及び集光レンズ1
5Bを介して回路パターンが形成されたフォトマスク1
8が配置されている。マスク18の前方には投影レンズ
19を介してウエハ20が位置している。 また、投影
レンズ19の瞳面上には、照明光を光軸に対して放射状
の偏光面を有する偏光に変換するための偏光子21が配
置されている。ランプハウス11、ミラー12及びフラ
イアイレンズ13により光源が形成されている。
【0008】次に、この実施例の動作について説明す
る。まず、ランプハウス11から発した照明光はミラー
12を介してフライアイレンズ13に至り、フライアイ
レンズ13を構成する個々のレンズ13aの領域に分割
される。各レンズ13aから出射された光はアパーチャ
ー部材21の開口部を通過した後、リレーレンズ15
A、ブラインド16、ミラー17及び集光レンズ15B
を介してそれぞれマスク18の露光領域の全面を照射す
る。このため、マスク18面上では、フライアイレンズ
13の個々のレンズ13aからの光が重なり合い、均一
な照明がなされる。このようにしてマスク18を通過し
た光は投影レンズ19内の瞳面上に配置された偏光子2
1によって偏光に変換された後、ウエハ20に至る。ウ
エハ20の表面上には予めレジスト膜が形成されてお
り、このレジスト膜が照明光で露光されることにより回
路パターンの焼き付けが行われる。
【0009】図2に偏光子21の平面図を示す。照明光
がこの偏光子21を通過することにより矢印Aで示され
るように放射状の偏光面を有する偏光に変換される。な
お、偏光子21は投影レンズ19の瞳面上に位置するた
め、マスク18の回路パターンが解像限界付近の平行線
パターンを有する場合には、偏光子21の上に図2に示
されるような0次光源像Sと±1次光源像S及びS
とが形成される。このようにして偏光子21で偏光に
変換された照明光の光束は、図3に示されるように、光
軸Lに対して放射状の偏光面を有しながらウエハ20上
に収束される。従って、照明光はウエハ20の主面20
aに対してP偏光となるように入射することになる。
【0010】ここで、入射角がθi、透過角がθtのと
きのP偏光の反射率Rp及びS偏光の反射率Rsはそれ
ぞれ、Rp=tan2(θi−θt)/tan2(θi+
θt)、Rs=sin2(θi−θt)/sin2(θi
+θt)で与えられることが知られており、図4に屈折
率n=1.68のレジストからなる斜面に光が入射した
ときの入射角に対するP偏光及びS偏光の反射率の関係
を示す。P偏光はS偏光に比べて全体的に反射率が小さ
く、特に入射角がブリュースター角となったときにP偏
光の反射率は0となる。図4の例では、60度付近にブ
リュースター角が存在する。なお、図4の破線は、無偏
光状態における反射率を示している。また、図1の投影
露光装置では、照明光は約30度の収束角をもってウエ
ハ20の表面上の一点に入射するため、例えばウエハ2
0の表面上に40度の角度の斜面が存在するものとする
と、この斜面に対する実際の光の入射角は約10〜70
度となる。従って、図4において反射率を示す曲線を入
射角10度から70度まで積分することにより得られる
面積は、角度40度の斜面で反射する光の光量に相当し
たものとなる。すなわち、P偏光のみで露光した場合に
は図4の斜線部の面積に相当する光量のみが斜面から反
射されることとなり、破線で示される無偏光状態に比べ
て反射光量が半分以下となる。
【0011】上述したように、この実施例では偏光子2
1を配置することにより照明光がウエハ20の主面20
aに対してP偏光となるように入射するので、ウエハ2
0の表面からの反射光の光量が減少する。その結果、反
射光による定在波の発生が抑制され、レジストの膜厚に
応じてレジスト寸法が変動することが防止される。
【0012】なお、放射状の偏光を得るための偏光子と
して、図5に示されるような偏光子41を用いることが
できる。この偏光子41は、凹状の第1のコーンレンズ
42と凸状の第2のコーンレンズ43からなっている。
第1のコーンレンズ42は円錐形の凹部42aを有して
おり、この凹部42a内に円錐形の第2のコーンレンズ
43が嵌合されている。また、第1のコーンレンズ42
と第2のコーンレンズ43とは互いに異なる屈折率の材
質から形成されている。このため、第1及び第2のコー
ンレンズ42及び43の中心軸Bと平行に光L1及びL
2が入射すると、これらの光L1及びL2はそれぞれ双
方のコーンレンズ42及び43の接触面でP偏光とS偏
光とに分離され、P偏光はそのまま直進し、S偏光は円
錐の半径方向に反射される。すなわち、この偏光子41
は偏光ビームスプリッタとして作用する。ただし、コー
ンレンズ42及び43の接触面が円錐形状を有すること
から、中心軸Bに平行に入射してこの偏光子41内を直
進した光は中心軸Bに対して放射状の偏光面を有する偏
光に変換される。
【0013】また、図6に示されるような偏光子51を
用いることもできる。この偏光子51は扇形の複数の直
線偏光フィルタ52を有しており、これらのフィルタ5
2が共通の中心Cのまわりに放射状に配列され、これに
より全体として円板形状をなしている。各フィルタ52
は、図6に矢印で示す半径方向の偏光面を有する偏光を
透過するように配置されている。これにより、共通の中
心Cを通り且つ円板に垂直な中心軸と平行に入射した光
は、その中心軸に対して放射状の偏光面を有する偏光に
変換される。
【0014】偏光子を投影レンズ19の瞳面上に固定せ
ずに、着脱自在に配置することもできる。図7はこのた
めに用いられる切り換え装置を示すもので、円板形状の
基板30に第1及び第2の開口部30a及び30bが形
成されており、第1の開口部30aに放射状の偏光を得
るための偏光子31が取り付けられている。一方、第2
の開口部30bには何も取り付けられていない。基板3
0はその中心部32を中心として回転自在に設けられて
おり、基板30を回転することにより二つの開口部30
a及び30bのうちの一方を選択的に照明光の光路上に
位置させることができる。すなわち、開口部30aを選
択することにより光軸に対して放射状の偏光面を有する
偏光が得られ、開口部30bを選択すれば照明光は無偏
光状態のまま通過することとなる。従って、露光工程に
応じて偏光あるいは無偏光を選択して露光することがで
きる。
【0015】また、上記の各偏光子21、31、41及
び51の表面にそれぞれ反射防止膜を形成すれば、定在
波の発生がなお一層抑制され、レジスト寸法精度が向上
する。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に記載の
投影露光装置は、光源と、光源から発した照明光を回路
パターンが形成されたマスク上に照射させる集光レンズ
と、マスクを通過した照明光をウエハ表面に収束させる
投影レンズと、投影レンズの瞳面上に配置されると共に
ウエハ表面に収束する照明光をその光軸に対して放射状
の偏光面を有する偏光に変換する偏光子とを備えている
ので、定在波の発生によるレジスト寸法精度の劣化を防
止することができる。請求項2に記載の投影露光装置
は、光源と、光源から発した照明光を回路パターンが形
成されたマスク上に照射させる集光レンズと、マスクを
通過した照明光をウエハ表面に収束させる投影レンズ
と、ウエハ表面に収束する照明光をその光軸に対して放
射状の偏光面を有する偏光に変換する偏光子と、偏光子
を投影レンズの瞳面上に着脱自在に位置させる切り換え
装置とを備えているので、切り換え装置により必要に応
じて偏光子を投影レンズの瞳面上に配置し、レジスト寸
法精度の劣化を防止することができる。また、請求項3
に記載の偏光子は、凹状の第1のコーンレンズと、第1
のコーンレンズとは屈折率の異なる材質からなり且つ第
1のコーンレンズの凹部内に嵌合する凸状の第2のコー
ンレンズとを備えているので、第1及び第2のコーンレ
ンズの軸と平行に光を入射することにより放射状の偏光
面を有する偏光が得られる。請求項4に記載の偏光子
は、それぞれ所定の中心角の扇形を有し且つ共通の中心
のまわりに放射状に配列されることにより全体として円
板形状をなすと共にその半径方向の偏光面を有する偏光
を透過させる複数の直線偏光フィルタを備えているの
で、円板に垂直に光を入射することにより放射状の偏光
面を有する偏光が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施例に係る投影露光装置の
光学系を示す図である。
【図2】第1の実施例で用いられた偏光子を示す平面図
である。
【図3】第1の実施例において照明光がウエハ上に収束
される状態を示す図である。
【図4】入射角に対するP偏光及びS偏光の反射率の関
係を示す図である。
【図5】第2の実施例で用いられた偏光子を示す斜視図
である。
【図6】第3の実施例で用いられた偏光子を示す平面図
である。
【図7】第4の実施例で用いられた切り換え装置を示す
図である。
【図8】従来の投影露光装置の光学系を示す図である。
【符号の説明】
11 ランプハウス 12 ミラー 13 フライアイレンズ 14 アパーチャー部材 15A リレーレンズ 15B 集光レンズ 16 ブラインド 17 ミラー 18 フォトマスク 19 投影レンズ 20 ウエハ 21、31、41、51 偏光子 30 基板 42 第1のコーンレンズ 43 第2のコーンレンズ 52 直線偏光フィルタ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源と、前記光源から発した照明光を回
    路パターンが形成されたマスク上に照射させる集光レン
    ズと、 マスクを通過した照明光をウエハ表面に収束させる投影
    レンズと、 前記投影レンズの瞳面上に配置されると共にウエハ表面
    に収束する照明光をその光軸に対して放射状の偏光面を
    有する偏光に変換する偏光子とを備えたことを特徴とす
    る投影露光装置。
  2. 【請求項2】 光源と、前記光源から発した照明光を回
    路パターンが形成されたマスク上に照射させる集光レン
    ズと、 マスクを通過した照明光をウエハ表面に収束させる投影
    レンズと、 ウエハ表面に収束する照明光をその光軸に対して放射状
    の偏光面を有する偏光に変換する偏光子と、 前記偏光子を前記投影レンズの瞳面上に着脱自在に位置
    させる切り換え装置とを備えたことを特徴とする投影露
    光装置。
  3. 【請求項3】 凹状の第1のコーンレンズと、 前記第1のコーンレンズとは屈折率の異なる材質からな
    り且つ前記第1のコーンレンズの凹部内に嵌合する凸状
    の第2のコーンレンズとを備え、前記第1及び第2のコ
    ーンレンズの軸と平行に入射した光をその軸に対して放
    射状の偏光面を有する偏光に変換することを特徴とする
    偏光子。
  4. 【請求項4】 それぞれ所定の中心角の扇形を有し且つ
    共通の中心のまわりに放射状に配列されることにより全
    体として円板形状をなすと共にその半径方向の偏光面を
    有する偏光を透過させる複数の直線偏光フィルタを備
    え、 共通の中心を通り且つ円板に垂直な中心軸と平行に入射
    した光をその中心軸に対して放射状の偏光面を有する偏
    光に変換することを特徴とする偏光子。
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