JP4345522B2 - X線による材料の加工方法 - Google Patents
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Description
本実施形態では、透過孔301の長径が最も小さく、次に透過孔302、303、304、305の順に長径が大きくなっている。したがって、各透過孔へのX線ビーム6の傾斜角は透過孔301に対して最も小さく(マスク30の法線方向に最も近い)、透過孔305に対する傾斜角が最も大きくなる。なお、以下では、X線ビーム6の基板20およびレジスト層21の法線方向に対する傾き角を、単にX線ビーム6の傾斜角θという。
12…A−B軸ステージ、13…X−Z軸ステージ、14…Y軸ステージ、
15…θ軸ステージ、20…基板(Si)、21…レジスト層(SU−8)、
21a…露光部、21b…未露光部、23…マスタ金型、
26…部品(多孔噴孔チップ)、30…マスク、31…メンブレン、
32…X線吸収体(Au膜)、33…フレーム、301〜306…透過孔。
Claims (3)
- 材料(21)の被加工部へマスク(30)を透過したX線ビーム(6)を照射することによって、前記マスク形状に応じた前記被加工部の材料を除去したり、前記被加工部の材料の物理的、化学的性質を変化させるX線による材料の加工方法において、
前記マスクの面方向と前記材料の面方向とを平行とし、前記マスクおよび材料の法線方向より前記X線のビーム方向を傾斜角(θ)分傾斜させて、前記X線を照射するとき、前記被加工部の前記ビーム方向における直角断面形状を所望の形状とするよう、前記マスクにおいて前記X線のビームを透過させる透過部(301〜305)を複数の前記傾斜角に応じて複数形成し、
前記マスクとの平行関係を保持した前記材料を、互いに直交するX軸、Y軸、Z軸に対して平行移動可能なXYZステージ(12、13、14)により3次元において平行移動させ、Z軸方向に一致する回転軸θを持つθ軸ステージ(15)により前記材料の面方向に平行なθ軸回りに回転させると共に、材料の法線方向を回転軸αとするα軸ステージ(11)により前記材料の法線方向回りに回転させることにより、前記直角断面形状を所望の形状とするための前記傾斜角および前記透過部に変更することを特徴とするX線による材料の加工方法。 - 前記透過部は、前記マスクにおいて、同一の傾斜角に対して同一のグループとして形成されるとともに、前記同一グループの透過部と隣接する他のグループの透過部との前記マスク上の距離は、前記X線のビームの前記マスク上での大きさよりも大きいことを特徴とする請求項1に記載のX線による材料の加工方法。
- 前記被加工部の直角断面形状は円形であるとともに、前記透過部の前記マスク上における形状は楕円であることを特徴とする請求項1または2に記載のX線による材料の加工方法。
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