JP2022173119A - 正極活物質 - Google Patents

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Susumu Saito
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辰義 高橋
Tatsuyoshi Takahashi
洋平 門馬
Yohei Monma
知弥 島田
Tomoya Shimada
邦宏 福島
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Abstract

【課題】充放電サイクルにおける放電容量の低下が抑制された正極活物質およびこれを用いた二次電池を提供する。【解決手段】放電状態と、高い電圧で充電を行った状態と、で結晶構造の変化の少ない、たとえばCoO2層のずれの少ない正極活物質を提供する。たとえば放電状態のとき、空間群R-3mの層状岩塩型の結晶構造を有し、LixCoO2中のxが0.1を超えて0.24以下の充電状態のとき、空間群P2/mに帰属する結晶構造を有し、粉末X線回折で分析すると、回折パターンは少なくとも2θ=19.47±0.10°、および2θ=45.62±0.05°にピークを有する、正極活物質を提供する。【選択図】図4

Description

本発明の一様態は、物、方法、又は、製造方法に関する。または、本発明は、プロセス、マシン、マニュファクチャ、又は、組成物(コンポジション・オブ・マター)に関する。本発明の一態様は、二次電池を含む蓄電装置、半導体装置、表示装置、発光装置、照明装置、電子機器またはそれらの製造方法に関する。
なお、本明細書中において電子機器とは、蓄電装置を有する装置全般を指し、蓄電装置を有する電気光学装置、蓄電装置を有する情報端末装置などは全て電子機器である。
近年、リチウムイオン二次電池、リチウムイオンキャパシタ、空気電池、全固体電池等、種々の蓄電装置の開発が盛んに行われている。特に高出力、高容量であるリチウムイオン二次電池は半導体産業の発展と併せて急速にその需要が拡大し、充電可能なエネルギーの供給源として現代の情報化社会に不可欠なものとなっている。
なかでもモバイル電子機器向け二次電池等では、重量あたりの放電容量が大きく、サイクル特性に優れた二次電池の需要が高い。これらの需要に応えるため、二次電池の正極が有する正極活物質の改良が盛んに行われている(例えば特許文献1乃至特許文献3)。また、正極活物質の結晶構造に関する研究も行われている(非特許文献1乃至非特許文献3)。
またX線回折(XRD)は、正極活物質の結晶構造の解析に用いられる手法の一つである。非特許文献4に紹介されているICSD(Inorganic Crystal Structure Database)を用いることにより、XRDデータの解析を行うことができる。またリートベルト法解析には、たとえば解析プログラムRIETAN-FP(非特許文献5)を用いることができる。
特開2019-179758号公報 WO2020/026078号パンフレット 特開2020-140954号公報
Toyoki Okumura et al,"Correlation of lithium ion distribution and X-ray absorption near-edge structure in O3-and O2-lithium cobalt oxides from first-principle calculation", Journal of Materials Chemistry, 2012, 22, p.17340-17348 Motohashi, T. et al,"Electronic phase diagram of the layered cobalt oxide system LixCoO2 (0.0≦x≦1.0) ", Physical Review B, 80(16) ;165114 Zhaohui Chen et al, "Staging Phase Transitions in LixCoO2", Journal of The Electrochemical Society, 2002, 149(12) A1604-A1609 Belsky, A. et al.,"New developments in the Inorganic Crystal Structure Database (ICSD): accessibility in support of materials research and design", Acta Cryst.,(2002) B58 364-369. F.Izumi and K.Momma,Solid State Phenom.,130,15-20(2007) Rasband, W.S., ImageJ, U. S. National Institutes of Health, Bethesda, Maryland, USA, http://rsb.info.nih.gov/ij/, 1997-2012. Schneider, C.A., Rasband, W.S., Eliceiri, K.W. "NIH Image to ImageJ: 25 years of image analysis". Nature Methods 9, 671-675, 2012. Abramoff, M.D., Magelhaes, P.J., Ram, S.J. "Image Processing with ImageJ". Biophotonics International, volume 11, issue 7, pp. 36-42, 2004.
リチウムイオン二次電池には、放電容量、サイクル特性、信頼性、安全性、又はコストといった様々な面で改善の余地が残されている。
そのためこれに用いられる正極活物質にも、二次電池に用いたときに、放電容量、サイクル特性、信頼性、安全性、又はコスト等の課題が改善できる材料が求められている。
本発明の一態様は、リチウムイオン二次電池に用いることができ、充放電サイクルにおける放電容量の低下が抑制された正極活物質または複合酸化物を提供することを課題の一とする。または、充放電を繰り返しても結晶構造が崩れにくい正極活物質または複合酸化物を提供することを課題の一とする。または、放電容量が大きい正極活物質または複合酸化物を提供することを課題の一とする。または、安全性又は信頼性の高い二次電池を提供することを課題の一とする。
また本発明の一態様は、正極活物質、複合酸化物、蓄電装置、又はそれらの作製方法を提供することを課題の一とする。
なお、これらの課題の記載は、他の課題の存在を妨げるものではない。なお、本発明の一態様は、これらの課題の全てを解決する必要はないものとする。なお、明細書、図面、請求項の記載から、これら以外の課題を抽出することが可能である。
上記課題を解決するため、本発明の一態様は、高い電圧で充電を行い、LiCoO中のxを小さくしても結晶構造の変化が少ない正極活物質または複合酸化物を提供することとする。
または本発明の一態様は、充電電圧が4.6V以上4.8V以下、またはLiCoO中のxが0.1を超えて0.24以下、代表的にはxが0.15以上0.17以下となる場合でも、H1-3型結晶構造と異なりCoO層のずれが抑制された結晶構造を有する正極活物質を提供することとする。
より具体的には本発明の一態様は、放電状態のとき、空間群R-3mの層状岩塩型の結晶構造を有し、LiCoO中のxが0.1を超えて0.24以下の充電状態のとき、空間群P2/m、格子定数a=4.88±0.01Å、b=2.82±0.01Å、c=4.84±0.01Å、α=90°、β=109.58±0.01°、γ=90°の結晶構造を有する、正極活物質である。
また上記において、LiCoO中のxが0.1を超えて0.24以下の充電状態のときの結晶構造は、ユニットセルにおけるコバルトと酸素の座標が、Co1(0.5,0,0.5)、Co2(0,0.5,0.5)、O1(0.232,0,0.645)、O2(0.781,0.5,0.679)、であることが好ましい。
また本発明の別の一態様は、放電状態のとき、空間群R-3mの層状岩塩型の結晶構造を有し、LiCoO中のxが0.1を超えて0.24以下の充電状態のとき、粉末X線回折で分析すると、回折パターンは少なくとも2θが19.37°以上19.57°以下と、45.57°以上45.67°以下にピークを有する、正極活物質である。
また本発明の別の一態様は、放電状態のとき、空間群R-3mの層状岩塩型の結晶構造を有し、LiCoO中のxが0.1を超えて0.24以下の充電状態のとき、粉末X線回折で分析すると、回折パターンは少なくとも2θが19.13°以上19.37°未満と、19.37°以上19.57°以下と、45.37°以上45.57°未満と、45.57°以上45.67°以下と、にピークを有する、正極活物質である。
また本発明の別の一態様は、コバルト酸リチウムを有する正極活物質であって、該正極活物質を正極に用い、リチウム金属を負極に用い、電池を作製した場合に、電池を4.7V以上の電圧で複数回CCCV充電した後、アルゴン雰囲気において電池の正極をCuKα線による粉末X線回折で分析したとき、XRDパターンは少なくとも2θ=19.47±0.10°、および2θ=45.62±0.05°に回折ピークを有する、正極活物質である。
また本発明の別の一態様は、コバルト酸リチウムを有する正極活物質であって、正極活物質を正極に用い、リチウム金属を負極に用い、1mol/Lの六フッ化リン酸リチウムと、エチレンカーボネート(EC)とジエチルカーボネート(DEC)をEC:DEC=3:7(体積比)、ビニレンカーボネート(VC)を2wt%含む混合物を電解液に用い、電池を作製した場合に、該電池を45℃環境下において4.75Vの電圧まで電流値10mA/gで定電流充電した後、アルゴン雰囲気において正極をCuKα線による粉末X線回折で分析したとき、XRDパターンは少なくとも2θ=19.47±0.10°、および2θ=45.62±0.05°に回折ピークを有する、正極活物質である。
また本発明の別の一態様は、コバルト酸リチウムを有する正極活物質であって、正極活物質を、レーザ波長532nm、出力2.5mWのラマン分光法にて分析し、各ピークの積分強度について、580cm-1乃至600cm-1をI2、665cm-1乃至685cm-1をI3としたとき、I3/I2の値が1%以上10%以下である、正極活物質である。
また上記において、正極活物質が有する遷移金属Mは、90原子%以上がコバルトであることが好ましい。
また上記において、H1-3型およびO1型結晶構造が正極活物質の50%以下であることが好ましい。
また上記において、正極活物質は、マグネシウム、ニッケルおよびアルミニウムを表層部に有することが好ましい。
また上記において、正極活物質は、エネルギー分散型X線分析による線分析結果において、マグネシウムおよびニッケルの濃度のピークは、アルミニウムの濃度のピークより正極活物質の表面側に位置することが好ましい。
本発明の一態様により、リチウムイオン二次電池に用いることができ、充放電サイクルにおける放電容量の低下が抑制された正極活物質または複合酸化物を提供することができる。または、充放電を繰り返しても結晶構造が崩れにくい正極活物質または複合酸化物を提供することができる。または、放電容量が大きい正極活物質または複合酸化物を提供することができる。または、安全性又は信頼性の高い二次電池を提供することができる。
また本発明の一態様により、正極活物質、複合酸化物、蓄電装置、又はそれらの作製方法を提供することができる。
なお、これらの効果の記載は、他の効果の存在を妨げるものではない。なお、本発明の一態様は、必ずしも、これらの効果の全てを有する必要はない。なお、これら以外の効果は、明細書、図面、請求項などの記載から、自ずと明らかとなるものであり、明細書、図面、請求項などの記載から、これら以外の効果を抽出することが可能である。
図1(A)は正極活物質の断面図、図1(B1)および図1(B2)は正極活物質の断面図の一部である。 図2は結晶の配向が概略一致しているTEM像の例である。 図3(A)は結晶の配向が概略一致しているSTEM像の例である。図3(B)は岩塩型結晶RSの領域のFFTパターン、図3(C)は層状岩塩型結晶LRSの領域のFFTパターンである。 図4は正極活物質の結晶構造を説明する図である。 図5は従来の正極活物質の結晶構造を説明する図である。 図6(A1)および図6(A2)は正極活物質の断面図の一部である。図6(B1)乃至図6(C)は、コバルト酸リチウムの結晶面とマグネシウムの分布について計算した結果である。 図7(A)および図7(B)は正極活物質の断面図、図7(C1)および図7(C2)は正極活物質の断面図の一部である。 図8は結晶構造から計算されるXRDパターンを示す図である。 図9は結晶構造から計算されるXRDパターンを示す図である。 図10(A)および図10(B)は結晶構造から計算されるXRDパターンを示す図である。 図11(A)乃至図11(C)はXRDから算出される格子定数である。 図12(A)乃至図12(C)はXRDから算出される格子定数である。 図13は正極活物質の断面図である。 図14は正極活物質の断面図である。 図15(A)乃至図15(C)は正極活物質の作製方法を説明する図である。 図16は正極活物質の作製方法を説明する図である。 図17(A)乃至図17(C)は正極活物質の作製方法を説明する図である。 図18(A)および図18(B)は導電材としてグラフェンまたはグラフェン化合物を用いた場合の活物質層の断面図である。 図19(A)および図19(B)は二次電池の例を説明する図である。 図20(A)乃至図20(C)は二次電池の例を説明する図である。 図21(A)および図21(B)は二次電池の例を説明する図である。 図22(A)および図22(B)はコイン型二次電池を説明する図である。図22(C)は二次電池の充放電を説明する図である。 図23(A)乃至図23(D)は円筒型二次電池を説明する図である。 図24(A)および図24(B)は蓄電装置の例を説明する図である。 図25(A)乃至図25(D)は蓄電装置の例を説明する図である。 図26(A)および図26(B)は二次電池の例を説明する図である。 図27は二次電池の例を説明する図である。 図28(A)乃至図28(C)はラミネート型の二次電池を説明する図である。 図29(A)および図29(B)はラミネート型の二次電池を説明する図である。 図30は二次電池の外観を示す図である。 図31は二次電池の外観を示す図である。 図32(A)乃至図32(C)は二次電池の作製方法を説明する図である。 図33(A)乃至図33(H)は電子機器の一例を説明する図である。 図34(A)乃至図34(C)は電子機器の一例を説明する図である。 図35は電子機器の一例を説明する図である。 図36(A)乃至図36(D)は電子機器の一例を説明する図である。 図37(A)乃至図37(C)は、電子機器の一例を示す図である。 図38(A)乃至図38(C)は車両の一例を説明する図である。 図39(A)乃至図39(F)は正極活物質の表面SEM像である。 図40(A)乃至図40(H)は正極活物質の表面SEM像である。 図41(A)および図41(B)は正極活物質のHAADF-STEM像である。 図42(A)および図42(B)は正極活物質のHAADF-STEM像である。 図43(A)および図43(B)は正極活物質のHAADF-STEM像である。 図44(A)および図44(B)は極微電子線回折パターンである。 図45(A)および図45(B)は極微電子線回折パターンである。 図46(A)および図46(B)は極微電子線回折パターンである。 図47(A)は正極活物質HAADF-STEM像、図47(B)はコバルトマッピング像、図47(C)は酸素マッピング像、図47(D)はマグネシウムマッピング像、図47(E)はアルミニウムマッピング像、図47(F)はシリコンマッピング像である。 図48(A)はSTEM-EDX線分析のスキャン方法を示す図、図48(B)はSTEM-EDX線分析のプロファイルである。 図49は、図48(B)の一部を拡大した図である。 図50(A)および図50(B)は正極活物質のHAADF-STEM像である。 図51(A)および図51(B)は極微電子線回折パターンである。 図52(A)および図52(B)は極微電子線回折パターンである。 図53(A)および図53(B)は極微電子線回折パターンである。 図54(A)は正極活物質HAADF-STEM像、図54(B)はシリコンマッピング像、図54(C)は酸素マッピング像、図54(D)はマグネシウムマッピング像、図54(E)はアルミニウムマッピング像、図54(F)はニッケルマッピング像である。 図55(A)はSTEM-EDX線分析のスキャン方法を示す図、図55(B)はSTEM-EDX線分析のプロファイルである。 図56は、図55(B)の一部を拡大した図である。 図57(A)および図57(B)は正極活物質のHAADF-STEM像である。 図58(A)および図58(B)は正極活物質の粒度分布の測定結果である。 図59(A)乃至図59(C)は正極活物質の表面SEM像である。 図60(A)乃至図60(C)は正極活物質のグレースケール値の分布を示すグラフである。 図61(A)乃至図61(C)は正極活物質の輝度ヒストグラムである。 図62(A)乃至図62(D)は二次電池のサイクル特性を示すグラフである。 図63(A)乃至図63(D)は二次電池のサイクル特性を示すグラフである。 図64(A)乃至図64(D)は二次電池のサイクル特性を示すグラフである。 図65(A)乃至図65(D)は二次電池のサイクル特性を示すグラフである。 図66(A)および図66(B)は二次電池のサイクル特性を示すグラフである。 図67(A)はペレットの写真である。図67(B)および図67(C)は正極活物質の表面SEM像である。 図68(A)は正極活物質の表面SEM像、図68(B)は正極活物質の断面STEM像である。 図69(A1)および図69(B1)は正極活物質の断面HAADF-STEM像である。図69(A2)乃至図69(A4)および図69(B2)乃至図69(B4)はEDXマッピング像である。 図70は二次電池のdQ/dVvsV曲線である。 図71は二次電池のdQ/dVvsV曲線である。 図72は二次電池のdQ/dVvsV曲線である。 図73は二次電池のdQ/dVvsV曲線である。 図74は正極のXRDパターンである。 図75(A)および図75(B)は図74の一部を拡大したXRDパターンである。 図76は正極のXRDパターンである。 図77(A)および図77(B)は図76の一部を拡大したXRDパターンである。 図78は正極のXRDパターンである。 図79(A)および図79(B)は図78の一部を拡大したXRDパターンである。 図80は正極のXRDパターンである。 図81(A)および図81(B)は図80の一部を拡大したXRDパターンである。 図82は正極のXRDパターンである。 図83(A)および図83(B)は図82の一部を拡大したXRDパターンである。 図84は正極のXRDパターンである。 図85(A)および図85(B)は図84の一部を拡大したXRDパターンである。 図86は正極のXRDパターンである。 図87(A)および図87(B)は図86の一部を拡大したXRDパターンである。 図88は正極のXRDパターンである。 図89(A)および図89(B)は図88の一部を拡大したXRDパターンである。 図90は正極のXRDパターンである。 図91(A)および図91(B)は図90の一部を拡大したXRDパターンである。 図92は粉体抵抗測定に関する図である。 図93は電流休止法測定の放電カーブを示すグラフである。 図94は電流休止法測定の解析方法を示す図である。 図95(A)及び図95(B)は電流休止法測定の解析結果を示す図である。 図96は電流休止法測定の解析結果を示す図である。 図97(A)および図97(B)は正極活物質のラマンスペクトルである。 図98(A)は正極活物質のラマンスペクトル、図98(B)は正極のラマンスペクトルである。
以下では、本発明を実施するための形態例について図面等を用いて説明する。ただし、本発明は以下の形態例に限定して解釈されるものではない。本発明の趣旨を逸脱しない範囲で発明を実施する形態を変更することは可能である。
本明細書等では空間群は国際表記(またはHermann-Mauguin記号)のShort notationを用いて表記する。またミラー指数を用いて結晶面及び結晶方向を表記する。結晶面を示す個別面は( )を用いて表記する。空間群、結晶面、および結晶方向の表記は、結晶学上、数字に上付きのバーを付すが、本明細書等では書式の制約上、数字の上にバーを付す代わりに、数字の前に-(マイナス符号)を付して表現する場合がある。また、結晶内の方向を示す個別方位は[ ]で、等価な方向すべてを示す集合方位は< >で、結晶面を示す個別面は( )で、等価な対称性を有する集合面は{ }でそれぞれ表現する。また空間群R-3mで表される三方晶は、構造の理解のしやすさのため、一般に六方晶の複合六方格子で表され、ミラー指数として(hkl)だけでなく(hkil)を用いることがある。ここでiは-(h+k)である。
なお本明細書等において、粒子とは球形(断面形状が円)のみを指すことに限定されず、個々の粒子の断面形状が楕円形、長方形、台形、三角形、角が丸まった四角形、非対称の形状などが挙げられ、さらに個々の粒子は不定形であってもよい。
また正極活物質の理論容量とは、正極活物質が有する挿入脱離可能なリチウムが全て脱離した場合の電気量をいう。例えば、LiCoOの理論容量は274mAh/g、LiNiOの理論容量は274mAh/g、LiMnの理論容量は148mAh/gである。
また正極活物質中に挿入脱離可能なリチウムがどの程度残っているかを、組成式中のx、たとえばLiCoO中のxで示す。二次電池中の正極活物質の場合、x=(理論容量-充電容量)/理論容量とすることができる。たとえばLiCoOを正極活物質に用いた二次電池を219.2mAh/g充電した場合、Li0.2CoOまたはx=0.2ということができる。LiCoO中のxが小さいとは、たとえば0.1<x≦0.24をいう。
正極に用いる前の、適切に合成したコバルト酸リチウムが化学量論比をおよそ満たす場合、LiCoOでありx=1である。また放電が終了した二次電池に含まれるコバルト酸リチウムも、LiCoOでありx=1といってよい。ここでいう放電が終了したとは、たとえば100mAh以下の電流で、電圧が3.0Vまたは2.5V以下となった状態をいう。
LiCoO中のxの算出に用いる充電容量および/または放電容量は、短絡および/または電解液等の分解の影響がないか、少ない条件で計測することが好ましい。たとえば短絡とみられる急激な容量の変化が生じた二次電池のデータはxの算出に使用してはならない。
また結晶構造の空間群はXRD、電子線回折、中性子線回折等によって同定されるものである。そのため本明細書等において、ある空間群に帰属する、ある空間群に属する、またはある空間群であるとは、ある空間群に同定されると言い換えることができる。
また陰イオンがABCABCのように3層が互いにずれて積み重なる構造であれば、立方最密充填構造と呼ぶこととする。そのため陰イオンは厳密に立方格子でなくてもよい。同時に現実の結晶は必ず欠陥を有するため、分析結果が必ずしも理論通りでなくてもよい。たとえば電子線回折パターンまたはTEM像等のFFT(高速フーリエ変換)パターンにおいて、理論上の位置と若干異なる位置にスポットが現れてもよい。たとえば理論上の位置との方位が5度以下、または2.5度以下であれば立方最密充填構造をとるといってよい。
また均質とは、複数の元素(例えばA,B,C)からなる固体において、ある元素(例えばA)が特定の領域に同様の特徴を有して分布する現象をいう。なお特定の領域同士の元素の濃度が実質的に同一であればよい。たとえば特定領域同士の元素濃度の差が10%以内であればよい。特定の領域としてはたとえば表層部、表面、凸部、凹部、内部などが挙げられる。
また添加元素が添加された正極活物質を複合酸化物、正極材、正極材料、二次電池用正極材、等と表現する場合がある。また本明細書等において、本発明の一態様の正極活物質は、化合物を有することが好ましい。また本明細書等において、本発明の一態様の正極活物質は、組成物を有することが好ましい。また本明細書等において、本発明の一態様の正極活物質は、複合体を有することが好ましい。
また、以下の実施の形態等で正極活物質の個別の粒子の特徴について述べる場合、必ずしも全ての粒子がその特徴を有していなくてもよい。たとえばランダムに3個以上選択した正極活物質の粒子のうち50%以上、好ましくは70%以上、より好ましくは90%以上がその特徴を有していれば、十分に正極活物質およびそれを有する二次電池の特性を向上させる効果があるということができる。
二次電池の充電電圧の上昇に伴い、正極の電圧は一般的に上昇する。本発明の一態様の正極活物質は、高い電圧においても安定な結晶構造を有する。充電状態において正極活物質の結晶構造が安定であることにより、充放電の繰り返しに伴う充放電容量の低下を抑制することができる。
また、二次電池のショートは二次電池の充電動作および/または放電動作における不具合を引き起こすのみでなく、発熱および発火を招く恐れがある。安全な二次電池を実現するためには、高い充電電圧においてもショート電流が抑制されることが好ましい。本発明の一態様の正極活物質は、高い充電電圧においてもショート電流が抑制される。そのため高い放電容量と安全性と、を両立した二次電池とすることができる。
なお特に言及しない限り、二次電池が有する材料(正極活物質、負極活物質、電解質、セパレータ等)は、劣化前の状態について説明するものとする。なお二次電池製造段階におけるエージング処理およびバーンイン処理によって放電容量が減少することは劣化とは呼ばないとする。たとえば、リチウムイオン二次単電池およびリチウムイオン二次組電池(以下、リチウムイオン二次電池という)の定格容量の97%以上の放電容量を有する場合は、劣化前の状態と言うことができる。定格容量は、ポータブル機器用リチウムイオン二次電池の場合JIS C 8711:2019に準拠する。これ以外のリチウムイオン二次電池の場合、上記JIS規格に限らず電動車両推進用、産業用などの各JIS、IEC規格等に準拠する。
なお、本明細書等において、二次電池が有する材料の劣化前の状態を、初期品、または初期状態と呼称し、劣化後の状態(二次電池の定格容量の97%未満の放電容量を有する場合の状態)を、使用中品または使用中の状態、あるいは使用済み品または使用済み状態と呼称する場合がある。
(実施の形態1)
本実施の形態では、図1乃至図14を用いて本発明の一態様の正極活物質100について説明する。
図1(A)は本発明の一態様である正極活物質100の断面図である。図1(A)中のA-B付近を拡大した図を図1(B1)および図1(B2)に示す。
図1(A)乃至図1(B2)に示すように、正極活物質100は、表層部100aと、内部100bを有する。これらの図中に破線で表層部100aと内部100bの境界を示す。また図1(A)に一点破線で結晶粒界101の一部を示す。
本明細書等において、正極活物質100の表層部100aとは、例えば、表面から内部に向かって50nm以内、より好ましくは表面から内部に向かって35nm以内、さらに好ましくは表面から内部に向かって20nm以内、最も好ましくは表面から内部に向かって、表面から垂直または略垂直に10nm以内の領域をいう。なお略垂直とは、80°以上100°以下とする。ひびおよび/またはクラックにより生じた面も表面といってよい。表層部100aは、表面近傍、表面近傍領域またはシェルと同義である。
また正極活物質の表層部100aより深い領域を、内部100bと呼ぶ。内部100bは、内部領域またはコアと同義である。
正極活物質100の表面とは、上記表層部100aおよび内部100bを含む複合酸化物の表面をいうこととする。そのため正極活物質100は、酸化アルミニウム(Al)をはじめとする充放電に寄与しうるリチウムサイトを有さない金属酸化物が付着したもの、正極活物質の作製後に化学吸着した炭酸塩、ヒドロキシ基等は含まないとする。なお付着した金属酸化物とは、たとえば内部100bと結晶構造が一致しない金属酸化物をいう。
また正極活物質100に付着した電解質、有機溶剤、バインダ、導電材、またはこれら由来の化合物も含まないとする。
正極活物質100はリチウムの挿入脱離が可能な遷移金属と酸素を有する化合物であるため、リチウムの挿入脱離に伴い酸化還元する遷移金属M(たとえばCo、Ni、Mn、Fe等)および酸素が存在する領域と、存在しない領域の界面を、正極活物質の表面とする。スリップ、ひびおよび/またはクラックにより生じた面も正極活物質の表面といってよい。正極活物質を分析に供する際、表面に保護膜を付ける場合があるが、保護膜は正極活物質には含まれない。保護膜としては、炭素、金属、酸化物、樹脂などの単層膜または多層膜が用いられる場合がある。
そのためSTEM-EDX線分析等における正極活物質の表面とは、上記遷移金属Mが、内部の検出量の平均値MAVEと、バックグラウンドの平均値MBGとの和の50%になる点、および酸素が、内部の検出量の平均値OAVEと、バックグラウンドの平均値OBGとの和の50%になる点とする。なお、上記遷移金属Mと酸素で、内部とバックグラウンドの和の50%の点が異なる場合は、表面に付着する酸素を含む金属酸化物、炭酸塩等の影響と考えられるため、上記遷移金属Mの内部の検出量の平均値MAVEと、バックグラウンドの平均値MBGとの和の50%の点を採用することができる。また遷移金属Mを複数有する正極活物質の場合、内部100bにおけるカウント数が最も多い元素のMAVEおよびMBGを用いて表面を求めることができる。
上記遷移金属Mのバックグラウンドの平均値MBGは、たとえば遷移金属Mの検出量が増加を始める近辺を避けて外側の2nm以上、好ましくは3nm以上の範囲を平均して求めることができる。また内部の検出量の平均値MAVEは、遷移金属Mおよび酸素のカウントが飽和し安定した領域、たとえば遷移金属Mの検出量が増加を始める領域から深さ30nm以上、好ましくは50nmを超える部分で、2nm以上、好ましくは3nm以上の範囲を平均して求めることができる。酸素のバックグラウンドの平均値OBGおよび酸素の内部の検出量の平均値OAVEも同様に求めることができる。
また断面STEM(走査型透過電子顕微鏡)像等における正極活物質100の表面とは、正極活物質の結晶構造に由来する像が観察される領域と、観察されない領域の境界であって、正極活物質を構成する金属元素の中でリチウムより原子番号の大きな金属元素の原子核に由来する原子カラムが確認される領域の最も外側とする。またはSTEM像の、表面からバルクに向かった輝度のプロファイルに引いた接線と、深さ方向の軸の交点とする。STEM像等における表面は、より空間分解能の高い分析と併せて判断してもよい。
また、STEM-EDXの空間分解能は1nm程度である。そのため添加元素プロファイルの最大値は1nm程度ずれることがあり得る。たとえば上記で求めた表面より外側にマグネシウム等の添加元素プロファイルの最大値があっても、最大値と表面の差が1nm未満であれば、誤差とみなすことができる。
またSTEM-EDX線分析におけるピークとは、各元素プロファイルにおける検出強度、または元素毎の特性X線の最大値をいうこととする。なおSTEM-EDX線分析におけるノイズとしては、空間分解能(R)以下、たとえばR/2以下の半値幅の測定値などが考えられる。
同一箇所を同一条件で複数回スキャンすることでノイズの影響を軽減できる。たとえば6スキャン測定した積算値を各元素のプロファイルとすることができる。スキャン回数は6に限られず、それ以上行って、その平均を各元素のプロファイルとすることもできる。
STEM-EDX線分析は、たとえば以下のように行うことができる。まず正極活物質の表面に保護膜を蒸着する。たとえばイオンスパッタ装置(日立ハイテク製MC1000)にて、炭素を蒸着することができる。
次に正極活物質を薄片化しSTEM断面試料を作製する。たとえばFIB-SEM装置(日立ハイテク製XVision200TBS)にて薄片化加工を行うことができる。その際ピックアップはMPS(マイクロプロービングシステム)で行い、仕上げ加工の条件はたとえば加速電圧10kVとすることができる。
STEM-EDX線分析は、たとえばSTEM装置(日立ハイテク製HD-2700)を用いて、EDX検出器は、EDAXのOctane T Ultra W(2本差し)を使用することができる。EDX線分析時は、STEM装置のエミッション電流が6μA以上10μA以下になるよう設定し、薄片化した試料のうち奥行きおよび凹凸の少ない箇所を測定する。倍率はたとえば15万倍程度とする。EDX線分析の条件は、ドリフト補正有り、線幅42nm、ピッチ0.2nm、フレーム数6回以上とすることができる。
また結晶粒界101とは、たとえば正極活物質100の粒子同士が固着している部分、正極活物質100内部で結晶方位が変わる部分、つまりSTEM像等における明線と暗線の繰り返しが不連続になった部分、結晶欠陥を多く含む部分、結晶構造が乱れている部分等をいう。また結晶欠陥とは断面TEM(透過型電子顕微鏡)、断面STEM像等で観察可能な欠陥、つまり格子間に他の原子が入り込んだ構造、空洞等をいうこととする。結晶粒界101は、面欠陥の一つといえる。また結晶粒界101の近傍とは、結晶粒界101から10nm以内の領域をいうこととする。
<含有元素>
正極活物質100は、リチウムと、コバルトと、酸素と、添加元素と、を有する。または正極活物質100はコバルト酸リチウム(LiCoO)に添加元素が加えられたものを有することができる。ただし本発明の一態様の正極活物質100は後述する結晶構造を有すればよい。そのためコバルト酸リチウムの組成が厳密にLi:Co:O=1:1:2に限定されるものではない。
リチウムイオン二次電池の正極活物質は、リチウムイオンが挿入脱離しても電荷中性を保つために、酸化還元が可能な遷移金属を有する必要がある。本発明の一態様の正極活物質100は酸化還元反応を担う遷移金属として主にコバルトを用いることが好ましい。コバルトに加えて、ニッケルおよびマンガンから選ばれる少なくとも一または二を用いてもよい。正極活物質100が有する遷移金属のうち、コバルトが75原子%以上、好ましくは90原子%以上、さらに好ましくは95原子%以上であると、合成が比較的容易で取り扱いやすく優れたサイクル特性を有するなど利点が多く好ましい。
また正極活物質100の遷移金属のうちコバルトが75原子%以上、好ましくは90原子%以上、さらに好ましくは95原子%以上であると、ニッケル酸リチウム(LiNiO)等のニッケルが遷移金属の過半を占めるような複合酸化物と比較して、LiCoO中のxが小さいときの安定性がより優れる。これはニッケルよりもコバルトの方が、ヤーン・テラー効果による歪みの影響が小さいためと考えられる。遷移金属化合物におけるヤーン・テラー効果は、遷移金属のd軌道の電子の数により、その効果の強さが異なる。ニッケル酸リチウム等の8面体配位の低スピンニッケル(III)が遷移金属の過半を占めるような層状岩塩型の複合酸化物は、ヤーン・テラー効果の影響が大きく、ニッケルと酸素の8面体からなる層に歪みが生じやすい。そのため充放電サイクルにおいて結晶構造の崩れが生じる懸念が高まる。またニッケルイオンはコバルトイオンと比較して大きく、リチウムイオンの大きさに近い。そのためニッケル酸リチウムのようにニッケルが遷移金属の過半を占めるような層状岩塩型の複合酸化物ではニッケルとリチウムのカチオンミキシングが生じやすいという課題がある。
正極活物質100が有する添加元素としては、マグネシウム、フッ素、ニッケル、アルミニウム、チタン、ジルコニウム、バナジウム、鉄、マンガン、クロム、ニオブ、ヒ素、亜鉛、ケイ素、硫黄、リン、ホウ素、臭素、及びベリリウムから選ばれた一または二以上を用いることが好ましい。また添加元素のうち遷移金属の和は、25原子%未満が好ましく、10原子%未満がより好ましく、5原子%未満がさらに好ましい。
つまり正極活物質100は、マグネシウムおよびフッ素が添加されたコバルト酸リチウム、マグネシウム、フッ素およびチタンが添加されたコバルト酸リチウム、マグネシウム、フッ素およびアルミニウムが添加されたコバルト酸リチウム、マグネシウム、フッ素およびニッケルが添加されたコバルト酸リチウム、マグネシウム、フッ素、ニッケルおよびアルミニウムが添加されたコバルト酸リチウム、等を有することができる。
添加元素は、正極活物質100に固溶していることが好ましい。そのため例えば、STEM-EDXの線分析を行った際に、添加元素が検出される量が増加する深さは、遷移金属Mが検出される量が増加する深さよりも、深い位置、すなわち正極活物質100の内部側に位置していることが好ましい。
なお本明細書等において、STEM-EDXの線分析においてある元素が検出される量が増加する深さとは、強度および空間分解能等の観点でノイズでないと判断できる測定値が、連続して得られるようになる深さ、をいうこととする。
これらの添加元素が、後述するように正極活物質100が有する結晶構造をより安定化させる。なお本明細書等において添加元素は混合物、原料の一部と同義である。
なお添加元素として、必ずしもマグネシウム、フッ素、ニッケル、アルミニウム、チタン、ジルコニウム、バナジウム、鉄、マンガン、クロム、ニオブ、ヒ素、亜鉛、ケイ素、硫黄、リン、ホウ素、臭素、またはベリリウムを含まなくてもよい。
たとえばマンガンを実質的に含まない正極活物質100とすると、合成が比較的容易で取り扱いやすく、優れたサイクル特性を有するといった上記の利点がより大きくなる。正極活物質100に含まれるマンガンの重量はたとえば600ppm以下、より好ましくは100ppm以下であることが好ましい。
<結晶構造>
≪LiCoO中のxが1のとき≫
本発明の一態様の正極活物質100は放電状態、つまりLiCoO中のx=1の場合に、空間群R-3mに帰属する層状岩塩型の結晶構造を有することが好ましい。層状岩塩型の複合酸化物は、放電容量が高く、二次元的なリチウムイオンの拡散経路を有しリチウムイオンの挿入/脱離反応に適しており、二次電池の正極活物質として優れる。そのため特に、正極活物質100の体積の大半を占める内部100bが層状岩塩型の結晶構造を有することが好ましい。図4に層状岩塩型の結晶構造をR-3m O3を付して示す。
一方、本発明の一態様の正極活物質100の表層部100aは、充電により正極活物質100からリチウムが抜けても、内部100bのコバルトと酸素の8面体からなる層状構造が壊れないよう補強する機能を有することが好ましい。または表層部100aが正極活物質100のバリア膜として機能することが好ましい。または正極活物質100の外周部である表層部100aが正極活物質100を補強することが好ましい。ここでいう補強とは、酸素の脱離をはじめとする正極活物質100の表層部100aおよび内部100bの構造変化を抑制すること、および/または電解質が正極活物質100の表面で酸化分解されることを抑制することをいう。
そのため表層部100aは、内部100bと異なる結晶構造を有していることが好ましい。また表層部100aは、内部100bよりも室温(25℃)で安定な組成および結晶構造であることが好ましい。例えば、本発明の一態様の正極活物質100の表層部100aの少なくとも一部が、岩塩型の結晶構造を有することが好ましい。または表層部100aは、層状岩塩型と岩塩型の結晶構造の両方の結晶構造を有していることが好ましい。または表層部100aは、層状岩塩型と岩塩型の結晶構造の両方の特徴を有することが好ましい。
表層部100aは充電時にリチウムイオンが最初に脱離する領域であり、内部100bよりもリチウム濃度が低くなりやすい領域である。また表層部100aが有する正極活物質100の粒子の表面の原子は、一部の結合が切断された状態ともいえる。そのため表層部100aは不安定になりやすく、結晶構造の劣化が始まりやすい領域といえる。一方で表層部100aを十分に安定にできれば、LiCoO中のxが小さいときでも、たとえばxが0.24以下でも内部100bのコバルトと酸素の8面体からなる層状構造を壊れにくくすることができる。さらには、内部100bのコバルトと酸素の8面体からなる層のずれを抑制することができる。
表層部100aを安定な組成および結晶構造とするために、表層部100aは添加元素を有することが好ましく、添加元素を複数有することがより好ましい。また表層部100aは内部100bよりも添加元素から選ばれた一または二以上の濃度が高いことが好ましい。また正極活物質100が有する添加元素から選ばれた一または二以上は濃度勾配を有していることが好ましい。また正極活物質100は添加元素によって分布が異なっていることがより好ましい。たとえば添加元素によって濃度ピークの表面からの深さが異なっていることがより好ましい。ここでいう濃度ピークとは、表層部100aまたは表面から50nm以下における濃度の極大値をいうこととする。
たとえば添加元素の一部、マグネシウム、フッ素、ニッケル、チタン、ケイ素、リン、ホウ素、カルシウム等は図1(B1)にグラデーションで示すように、内部100bから表面に向かって高くなる濃度勾配を有することが好ましい。このような濃度勾配を有する添加元素を添加元素Xと呼ぶこととする。
別の添加元素、たとえばアルミニウム、マンガン等は図1(B2)にハッチの濃さで示すように、濃度勾配を有しかつ添加元素Xよりも深い領域に濃度のピークを有することが好ましい。濃度のピークは表層部100aに存在してもよいし、表層部100aより深くてもよい。たとえば表面から内部に向かって5nm以上30nm以下の領域にピークを有することが好ましい。このような濃度勾配を有する添加元素を添加元素Yと呼ぶこととする。
〔マグネシウム〕
たとえば添加元素Xの一つであるマグネシウムは2価で、マグネシウムイオンは層状岩塩型の結晶構造におけるコバルトサイトよりもリチウムサイトに存在する方が安定であるため、リチウムサイトに入りやすい。マグネシウムが表層部100aのリチウムサイトに適切な濃度で存在することで、層状岩塩型の結晶構造を保持しやすくできる。これはリチウムサイトに存在するマグネシウムが、CoO層同士を支える柱として機能するためと推測される。またマグネシウムが存在することで、LiCoO中のxがたとえば0.24以下の状態においてマグネシウムの周囲の酸素の脱離を抑制することができる。またマグネシウムが存在することで正極活物質100の密度が高くなることが期待できる。また表層部100aのマグネシウム濃度が高いと、電解液が分解して生じたフッ酸に対する耐食性が向上することも期待できる。
マグネシウムは、適切な濃度であれば充放電に伴うリチウムの挿入および脱離に悪影響を及ぼさず上記のメリットを享受できる。しかしマグネシウムが過剰であるとリチウムの挿入および脱離に悪影響が出る恐れがある。さらに結晶構造の安定化への効果が小さくなってしまう場合がある。これはマグネシウムが、リチウムサイトに加えてコバルトサイトにも入るようになるためと考えられる。加えて、リチウムサイトにもコバルトサイトにも置換しない、不要なマグネシウム化合物(酸化物およびフッ化物等)が正極活物質の表面等に偏析し、二次電池の抵抗成分となる恐れがある。また正極活物質のマグネシウム濃度が高くなるのに伴って正極活物質の放電容量が減少することがある。これはリチウムサイトにマグネシウムが入りすぎ、充放電に寄与するリチウム量が減少するためと考えられる。
そのため、正極活物質100全体が有するマグネシウムが適切な量であることが好ましい。たとえばマグネシウムの原子数はコバルトの原子数の0.002倍以上0.06倍以下が好ましく、0.005倍以上0.03倍以下がより好ましく、0.01倍程度がさらに好ましい。ここでいう正極活物質100全体が有するマグネシウムの量とは、例えばGD-MS、ICP-MS等を用いて正極活物質100の全体の元素分析を行った値であってもよいし、正極活物質100の作製の過程における原料の配合の値に基づいたものであってもよい。
〔ニッケル〕
また添加元素Xの一つであるニッケルは、コバルトサイトとリチウムサイトのどちらにも存在しうる。コバルトサイトに存在する場合、コバルトと比較して酸化還元電位が低くなるため放電容量増加につながり好ましい。
またニッケルがリチウムサイトに存在する場合、コバルトと酸素の8面体からなる層状構造のずれが抑制されうる。また充放電に伴う体積の変化が抑制される。また弾性係数が大きくなる、つまり硬くなる。これはリチウムサイトに存在するニッケルも、CoO層同士を支える柱として機能するためと推測される。そのため特に高温、たとえば45℃以上での充電状態において結晶構造がより安定になることが期待でき好ましい。
また酸化ニッケル(NiO)の陽イオンと陰イオン間の距離は、MgOおよびCoOよりも、LiCoOの陽イオンと陰イオン間の距離の平均に近く、LiCoOと配向が一致しやすい。
またマグネシウム、アルミニウム、コバルト、ニッケルの順でイオン化傾向が小さい。そのため充電時にニッケルは上記の他の元素より電解液に溶出しにくいと考えられる。そのため充電状態において表層部の結晶構造を安定化させる効果が高いと考えられる。
さらにニッケルはNi2+、Ni3+、Ni4+のうちNi2+が最も安定であり、ニッケルはコバルトと比較して3価のイオン化エネルギーが大きい。そのためニッケルと酸素のみではスピネル型の結晶構造を取らないことが知られている。そのためニッケルは、層状岩塩型からスピネル型の結晶構造への相変化を抑制する効果があると考えられる。
一方でニッケルが過剰であるとヤーン・テラー効果による歪みの影響が強まり好ましくない。またニッケルが過剰であるとリチウムの挿入および脱離に悪影響が出る恐れがある。
そのため正極活物質100全体が有するニッケルが適切な量であることが好ましい。たとえば正極活物質100が有するニッケルの原子数は、コバルトの原子数の0%を超えて7.5%以下が好ましく、0.05%以上4%以下が好ましく、0.1%以上2%以下が好ましく、0.2%以上1%以下がより好ましい。または0%を超えて4%以下が好ましい。または0%を超えて2%以下が好ましい。または0.05%以上7.5%以下が好ましい。または0.05%以上2%以下が好ましい。または0.1%以上7.5%以下が好ましい。または0.1%以上4%以下が好ましい。ここで示すニッケルの量は例えば、GD-MS、ICP-MS等を用いて正極活物質の全体の元素分析を行った値であってもよいし、正極活物質の作製の過程における原料の配合の値に基づいてもよい。
〔アルミニウム〕
また添加元素Yの一つであるアルミニウムは層状岩塩型の結晶構造におけるコバルトサイトに存在しうる。アルミニウムは3価の典型元素であり価数が変化しないため、充放電の際もアルミニウム周辺のリチウムは移動しにくい。そのためアルミニウムとその周辺のリチウムが柱として機能し、結晶構造の変化を抑制しうる。またアルミニウムは周囲のコバルトの溶出を抑制し、連続充電耐性を向上する効果がある。またAl-Oの結合はCo-O結合よりも強いため、アルミニウムの周囲の酸素の脱離を抑制することができる。これらの効果により、熱安定性が向上する。そのため添加元素としてアルミニウムを有すると、二次電池に正極活物質100を用いたときの安全性を向上できる。また充放電を繰り返しても結晶構造が崩れにくい正極活物質100とすることができる。
一方でアルミニウムが過剰であるとリチウムの挿入および脱離に悪影響が出る恐れがある。
そのため正極活物質100全体が有するアルミニウムが適切な量であることが好ましい。たとえば正極活物質100の全体が有するアルミニウムの原子数は、コバルトの原子数の0.05%以上4%以下が好ましく、0.1%以上2%以下が好ましく、0.3%以上1.5%以下がより好ましい。または0.05%以上2%以下が好ましい。または0.1%以上4%以下が好ましい。ここでいう正極活物質100全体が有する量とはたとえば、GD-MS、ICP-MS等を用いて正極活物質100の全体の元素分析を行った値であってもよいし、正極活物質100の作製の過程における原料の配合の値に基づいてもよい。
〔フッ素〕
また添加元素Xの一つであるフッ素は1価の陰イオンであり、表層部100aにおいて酸素の一部がフッ素に置換されていると、リチウム脱離エネルギーが小さくなる。これは、リチウム脱離に伴うコバルトイオンの酸化還元電位が、フッ素の有無によって異なることによる。つまりフッ素を有さない場合は、リチウム脱離に伴いコバルトイオンは3価から4価に変化する。一方フッ素を有する場合は、リチウム脱離に伴いコバルトイオンは2価から3価に変化する。両者で、コバルトイオンの酸化還元電位が異なる。そのため正極活物質100の表層部100aにおいて酸素の一部がフッ素に置換されていると、フッ素近傍のリチウムイオンの脱離および挿入がスムースに起きやすいと言える。そのため正極活物質100を二次電池に用いたときに充放電特性、大電流特性等を向上させることができる。また電解液に接する部分である表面を有する表層部100aにフッ素が存在することで、フッ酸に対する耐食性を効果的に向上させることができる。また後の実施の形態で述べるが、フッ化リチウムをはじめとするフッ化物の融点が、他の添加元素源の融点より低い場合、その他の添加元素源の融点を下げる融剤(フラックス剤ともいう)として機能しうる。
また添加元素Xの一つであるチタンの酸化物は超親水性を有することが知られている。そのため、表層部100aにチタン酸化物を有する正極活物質100とすることで、極性の高い溶媒に対して濡れ性がよくなる可能性がある。二次電池としたときに正極活物質100と、極性の高い電解液との界面の接触が良好となり、内部抵抗の上昇を抑制できる可能性がある。
また添加元素Xの一つであるリンを表層部100aに有すると、LiCoO中のxが小さい状態を保持した場合において、ショートを抑制できる場合があり好ましい。たとえばリンと酸素を含む化合物として表層部100aに存在することが好ましい。
正極活物質100がリンを有する場合には、電解液または電解質の分解により発生したフッ化水素とリンが反応し、電解質中のフッ化水素濃度を低下できる可能性があり好ましい。
電解質がLiPFを有する場合、加水分解により、フッ化水素が発生する恐れがある。また、正極の構成要素として用いられるポリフッ化ビニリデン(PVDF)とアルカリとの反応によりフッ化水素が発生する恐れもある。電解質中のフッ化水素濃度が低下することにより、集電体の腐食および/または被覆部104のはがれを抑制できる場合がある。また、PVDFのゲル化および/または不溶化による接着性の低下を抑制できる場合がある。
正極活物質100がマグネシウムと共にリンを有すると、LiCoO中のxが小さい状態における安定性が極めて高くなり好ましい。正極活物質100がリンを有する場合、リンの原子数は、コバルトの原子数の1%以上20%以下が好ましく、2%以上10%以下がより好ましく、3%以上8%以下がさらに好ましい。または1%以上10%以下が好ましい。または1%以上8%以下が好ましい。または2%以上20%以下が好ましい。または2%以上8%以下が好ましい。または3%以上20%以下が好ましい。または3%以上10%以下が好ましい。加えてマグネシウムの原子数は、コバルトの原子数の0.1%以上10%以下が好ましく、0.5%以上5%以下がより好ましく、0.7%以上4%以下がより好ましい。または0.1%以上5%以下が好ましい。または0.1%以上4%以下が好ましい。または0.5%以上10%以下が好ましい。または0.5%以上4%以下が好ましい。または0.7%以上10%以下が好ましい。または0.7%以上5%以下が好ましい。ここで示すリンおよびマグネシウムの濃度は例えば、GC-MS、ICP-MS等を用いて正極活物質100の全体の元素分析を行った値であってもよいし、正極活物質100の作製の過程における原料の配合の値に基づいてもよい。
また正極活物質100がクラックを有する場合、クラックを表面とした正極活物質の内部、たとえば埋め込み部102にリン、より具体的には例えばリンと酸素を含む化合物が存在することにより、クラックの進行が抑制されうる。
〔複数の元素の相乗効果〕
さらに表層部100aにマグネシウムとニッケルを併せて有する場合、2価のマグネシウムの近くでは2価のニッケルがより安定に存在できる可能性がある。そのためLiCoO中のxが小さい状態でもマグネシウムの溶出が抑制されうる。そのため表層部100aの安定化に寄与しうる。
同様の理由で、作製工程においては、コバルト酸リチウムに添加元素を加える際、マグネシウムはニッケルよりも前の工程で添加されることが好ましい。またはマグネシウムとニッケルは同じ工程で添加されることが好ましい。マグネシウムはイオン半径が大きく、どの工程で添加してもコバルト酸リチウムの表層部に留まりやすいのに対して、ニッケルはマグネシウムが存在しない場合、コバルト酸リチウムの内部に広く拡散しうる。そのためマグネシウムの前にニッケルが添加されると、ニッケルがコバルト酸リチウムの内部に拡散してしまい、表層部に好ましい量で残らない懸念がある。
また添加元素Xと添加元素Yのように分布が異なる添加元素を併せて有すると、より広い領域の結晶構造を安定化でき好ましい。たとえば正極活物質100は添加元素Xの一部であるマグネシウムおよびニッケルと、添加元素Yの一であるアルミニウムと、を共に有すると、添加元素Xと添加元素Yの一方しか有さない場合よりも広い領域の結晶構造を安定化できる。このように正極活物質100が添加元素Xと添加元素Yを併せて有する場合は、表面の安定化はマグネシウム、ニッケル等の添加元素Xによって十分に果たせるため、アルミニウムなどの添加元素Yは表面に必須ではない。むしろアルミニウムはより深い領域に広く分布することが好ましい。たとえば表面から深さ方向1nm以上25nm以下の領域では連続的にアルミニウムが検出されることが好ましい。表面から0nm以上100nm以下の領域、好ましくは表面から0.5nm以上50nm以内の領域に広く分布する方が、より広い領域の結晶構造を安定化でき好ましい。
上記のように複数の添加元素を有すると、それぞれの添加元素の効果が相乗し表層部100aのさらなる安定化に寄与しうる。特にマグネシウム、ニッケルおよびアルミニウムを有すると安定な組成および結晶構造とする効果が高く好ましい。
ただし表層部100aが添加元素と酸素の化合物のみで占められると、リチウムの挿入脱離が難しくなってしまうため好ましくない。たとえば表層部100aが、MgO、MgOとNiO(II)が固溶した構造、および/またはMgOとCoO(II)が固溶した構造のみで占められるのは好ましくない。そのため表層部100aは少なくともコバルトを有し、放電状態においてはリチウムも有し、リチウムの挿入脱離の経路を有している必要がある。
十分にリチウムの挿入脱離の経路を確保するために、表層部100aはマグネシウムよりもコバルトの濃度が高いことが好ましい。たとえばマグネシウムの原子数Mgとコバルトの原子数Coの比Mg/Coは0.62以下であることが好ましい。また表層部100aはニッケルよりもコバルトの濃度が高いことが好ましい。また表層部100aはアルミニウムよりもコバルトの濃度が高いことが好ましい。また表層部100aはフッ素よりもコバルトの濃度が高いことが好ましい。
さらにニッケルが多すぎるとリチウムの拡散を阻害する恐れがあるため、表層部100aはニッケルよりもマグネシウムの濃度が高いことが好ましい。たとえばニッケルの原子数はマグネシウムの原子数の1/6以下であることが好ましい。
また添加元素の一部、特にマグネシウム、ニッケルおよびアルミニウムは、内部100bよりも表層部100aの濃度が高いことが好ましいものの、内部100bにもランダムかつ希薄に存在することが好ましい。マグネシウムおよびアルミニウムが内部100bのリチウムサイトに適切な濃度で存在すると、上記と同様に層状岩塩型の結晶構造を保持しやすくできるといった効果がある。またニッケルが内部100bに適切な濃度で存在すると、上記と同様にコバルトと酸素の8面体からなる層状構造のずれが抑制されうる。またマグネシウムとニッケルを併せて有する場合も上記と同様にマグネシウムの溶出を抑制する相乗効果が期待できる。
また上述のような添加元素の濃度勾配に起因して、内部100bから、表面に向かって結晶構造が連続的に変化することが好ましい。または表層部100aと内部100bの結晶の配向が概略一致していることが好ましい。
たとえば層状岩塩型の内部100bから、岩塩型、または岩塩型と層状岩塩型の両方の特徴を有する表面および表層部100aに向かって結晶構造が連続的に変化することが好ましい。または岩塩型、または岩塩型と層状岩塩型の両方の特徴を有する表層部100aと、層状岩塩型の内部100bの配向が概略一致していることが好ましい。
なお本明細書等において、リチウムとコバルトをはじめとする遷移金属を含む複合酸化物が有する、空間群R-3mに帰属する層状岩塩型の結晶構造とは、陽イオンと陰イオンが交互に配列する岩塩型のイオン配列を有し、遷移金属とリチウムが規則配列して二次元平面を形成するため、リチウムの二次元的拡散が可能である結晶構造をいう。なお陽イオンまたは陰イオンの欠損等の欠陥があってもよい。また、層状岩塩型結晶構造は、厳密に言えば、岩塩型結晶の格子が歪んだ構造となっている場合がある。
また岩塩型の結晶構造とは、空間群Fm-3mをはじめとする立方晶系の結晶構造を有し、陽イオンと陰イオンが交互に配列している構造をいう。なお陽イオンまたは陰イオンの欠損があってもよい。
また層状岩塩型と岩塩型の結晶構造の特徴の両方を有することは、電子線回折、TEM像、断面STEM像等によって判断することができる。
岩塩型は陽イオンのサイトに区別がないが、層状岩塩型は結晶構造の陽イオンのサイトが2種あり、1つはリチウムが大半を占有し、もう1つは遷移金属が占有する。陽イオンの二次元平面と陰イオンの二次元平面とが交互に配列する積層構造は、岩塩型も層状岩塩型も同じである。この二次元平面を形成する結晶面に対応する電子線回折パターンの輝点の中で、中心のスポット(透過斑点)を原点000とした際、中心のスポットに最も近い輝点は、理想的な状態の岩塩型ではたとえば(111)面、層状岩塩型ではたとえば(003)面になる。たとえば岩塩型MgOと層状岩塩型LiCoOの電子線回折パターンを比較する場合、LiCoOの(003)面の輝点間の距離は、MgOの(111)面の輝点間の距離のおよそ半分程度の距離に観察される。そのため分析領域に、たとえば岩塩型MgOと層状岩塩型LiCoOの2相を有する場合、電子線回折パターンでは、強い輝度の輝点と、弱い輝度の輝点とが交互に配列する面方位が存在する。岩塩型と層状岩塩型で共通する輝点は強い輝度となり、層状岩塩型のみで生じる輝点は弱い輝度となる。
また断面STEM像等では、層状岩塩型の結晶構造をc軸に垂直な方向から観察したとき、強い輝度で観察される層と、弱い輝度で観察される層が交互に観察される。岩塩型は陽イオンのサイトに区別がないためこのような特徴はみられない。岩塩型と層状岩塩型の両方の特徴を有する結晶構造の場合、特定の結晶方位から観察すると、断面STEM像等では強い輝度で観察される層と、弱い輝度で観察される層が交互に観察され、さらに弱い輝度の層、すなわちリチウム層の一部にリチウムより原子番号の大きい金属が存在する。
層状岩塩型結晶、および岩塩型結晶の陰イオンは立方最密充填構造(面心立方格子構造)をとる。後述するO3’型および単斜晶O1(15)結晶も、陰イオンは立方最密充填構造をとると推定される。そのため層状岩塩型結晶と岩塩型結晶が接するとき、陰イオンにより構成される立方最密充填構造の向きが揃う結晶面が存在する。
または、以下のように説明することもできる。立方晶の結晶構造の{111}面における陰イオンは三角格子を有する。層状岩塩型は空間群R-3mであって、菱面体構造であるが、構造の理解を容易にするため一般に複合六方格子で表現され、層状岩塩型の(0001)面は六角格子を有する。立方晶{111}面の三角格子は、層状岩塩型の(0001)面の六角格子と同様の原子配列を有する。両者の格子が整合性を持つことを、立方最密充填構造の向きが揃うということができる。
ただし、層状岩塩型結晶およびO3’型結晶の空間群はR-3mであり、岩塩型結晶の空間群Fm-3m(一般的な岩塩型結晶の空間群)とは異なるため、上記の条件を満たす結晶面のミラー指数は層状岩塩型結晶およびO3’型結晶と、岩塩型結晶では異なる。本明細書では、層状岩塩型結晶、O3’型および岩塩型結晶において、陰イオンにより構成される立方最密充填構造の向きが揃うとき、結晶の配向が概略一致する、と言う場合がある。また、結晶の配向が概略一致するような三次元的な構造上の類似性を有すること、または結晶学的に同じ配向であることをトポタキシ(topotaxy)という。
二つの領域の結晶の配向が概略一致することは、TEM(Transmission Electron Microscope、透過電子顕微鏡)像、STEM(Scanning Transmission Electron Microscope、走査透過電子顕微鏡)像、HAADF-STEM(High-angle Annular Dark Field Scanning TEM、高角散乱環状暗視野走査透過電子顕微鏡)像、ABF-STEM(Annular Bright-Field Scanning Transmission Electron Microscope、環状明視野走査透過電子顕微鏡)像、電子線回折パターン、TEM像およびSTEM像等のFFTパターン等から判断することができる。XRD(X-ray Diffraction、X線回折)、電子線回折、中性子線回折等も判断の材料にすることができる。
図2に、層状岩塩型結晶LRSと岩塩型結晶RSの配向が概略一致しているTEM像の例を示す。TEM像、STEM像、HAADF-STEM像、ABF-STEM像等では、結晶構造を反映した像が得られる。
たとえばTEMの高分解能像等では、結晶面に由来するコントラストが得られる。電子線の回折および干渉によって、たとえば層状岩塩型の複合六方格子のc軸と垂直に電子線が入射した場合、(0003)面に由来するコントラストが明るい帯(明るいストリップ)と暗い帯(暗いストリップ)の繰り返しとして得られる。そのためTEM像において明線と暗線の繰り返しが観察され、明線同士(たとえば図2に示すLRSとLLRS)の角度が5度以下、または2.5度以下である場合、結晶面が概略一致している、すなわち結晶の配向が概略一致していると判断することができる。同様に、暗線同士の角度が5度以下、または2.5度以下である場合も、結晶の配向が概略一致していると判断することができる。
またHAADF-STEM像では、原子番号に比例したコントラストが得られ、原子番号が大きい元素ほど明るく観察される。たとえば空間群R-3mに属する層状岩塩型のコバルト酸リチウムの場合、コバルト(原子番号27)が最も原子番号が大きいため、コバルト原子の位置で電子線が強く散乱され、コバルト原子の配列が明線もしくは強い輝度の点の配列として観察される。そのため層状岩塩型の結晶構造を有するコバルト酸リチウムをc軸と垂直に観察した場合、c軸と垂直にコバルト原子の配列が明線もしくは強い輝度の点の配列として観察され、リチウム原子、酸素原子の配列は暗線もしくは輝度の低い領域として観察される。コバルト酸リチウムの添加元素としてフッ素(原子番号9)およびマグネシウム(原子番号12)を有する場合も同様である。
そのためHAADF-STEM像において、結晶構造の異なる二つの領域で明線と暗線の繰り返しが観察され、明線同士の角度が5度以下、または2.5度以下である場合、原子の配列が概略一致している、すなわち結晶の配向が概略一致していると判断することができる。同様に、暗線同士の角度が5度以下、または2.5度以下である場合も、結晶の配向が概略一致していると判断することができる。
なおABF-STEMでは原子番号が小さい元素ほど明るく観察されるが、原子番号に応じたコントラストが得られる点ではHAADF-STEMと同様であるため、HAADF-STEM像と同様に結晶の配向を判断することができる。
図3(A)に層状岩塩型結晶LRSと岩塩型結晶RSの配向が概略一致しているSTEM像の例を示す。岩塩型結晶RSの領域のFFTパターンを図3(B)に、層状岩塩型結晶LRSの領域のFFTパターンを図3(C)に示す。図3(B)および図3(C)の左に組成、JCPDSのカードナンバー、およびこれから計算されるd値および角度を示す。右に実測値を示す。Oを付したスポットは0次回折である。
図3(B)でAを付したスポットは立方晶の11-1反射に由来するものである。図3(C)でAを付したスポットは層状岩塩型の0003反射に由来するものである。図3(B)および図3(C)から、立方晶の11-1反射の方位と、層状岩塩型の0003反射の方位と、が概略一致していることがわかる。すなわち図3(B)のAOを通る直線と、図3(C)のAOを通る直線と、が概略平行であることがわかる。ここでいう概略一致および概略平行とは、角度が5度以下、または2.5度以下であることをいう。
このようにFFTパターンおよび電子線回折パターンでは、層状岩塩型結晶と岩塩型結晶の配向が概略一致していると、層状岩塩型の〈0003〉方位と、岩塩型の〈11-1〉方位と、が概略一致する場合がある。このとき、これらの逆格子点はスポット状であること、つまり他の逆格子点と連続していないことが好ましい。逆格子点がスポット状で、他の逆格子点と連続していないことは、結晶性が高いことを意味する。
また、上述のように立方晶の11-1反射の方位と、層状岩塩型の0003反射の方位と、が概略一致している場合、電子線の入射方位によっては、層状岩塩型の0003反射の方位とは異なる逆格子空間上に、層状岩塩型の0003反射由来ではないスポットが観測されることがある。例えば図3(C)でBを付したスポットは、層状岩塩型の1014反射に由来するものである。これは、層状岩塩型の0003反射由来の逆格子点(図3(C)のA)の方位から、52°以上56°以下の角度であり(すなわち∠AOBが52°以上56°以下であり)、dが0.19nm以上0.21nm以下の箇所に観測されることがある。なおこの指数は一例であり、必ずしもこれに一致している必要は無い。例えば、0003と1014と等価な逆格子点でも良い。
同様に立方晶の11-1反射が観測された方位とは別の逆格子空間上に、立方晶の11-1反射由来ではないスポットが観測されることがある。例えば、図3(B)でBを付したスポットは、立方晶の200反射に由来するものである。これは、立方晶の11-1由来の反射(図3(B)のA)の方位から、54°以上56°以下の角度である(すなわち∠AOBが54°以上56°以下である)箇所に回折スポットが観測されることがある。なおこの指数は一例であり、必ずしもこれに一致している必要は無い。例えば、11-1と200と等価な逆格子点でも良い。
なお、コバルト酸リチウムをはじめとする層状岩塩型の正極活物質は、(0003)面およびこれと等価な面、並びに(10-14)面およびこれと等価な面が結晶面として現れやすいことが知られている。そのため正極活物質の形状をSEM等でよく観察することで、(0003)面が観察しやすいように、たとえばTEM等において電子線が[12-10]入射となるように観察サンプルをFIB等で薄片加工することが可能である。結晶の配向の一致について判断したいときは、層状岩塩型の(0003)面が観察しやすいよう薄片化することが好ましい。
≪LiCoO中のxが小さい状態≫
本発明の一態様の正極活物質100は、放電状態において上述のような添加元素の分布および/または結晶構造を有することに起因して、LiCoO中のxが小さい状態での結晶構造が、従来の正極活物質と異なる。なおここでxが小さいとは、0.1<x≦0.24をいうこととする。
図4乃至図8を用いて、LiCoO中のxの変化に伴う結晶構造の変化について、従来の正極活物質と本発明の一態様の正極活物質100を比較しながら説明する。
従来の正極活物質の結晶構造の変化を図5に示す。図5に示す従来の正極活物質は、特に添加元素を有さないコバルト酸リチウム(LiCoO)である。特に添加元素を有さないコバルト酸リチウムの結晶構造の変化は非特許文献1乃至非特許文献3等に述べられている。
図5にR-3m O3を付してLiCoO中のx=1のコバルト酸リチウムが有する結晶構造を示す。この結晶構造はリチウムが8面体(Octahedral)サイトを占有し、ユニットセル中にCoO層が3層存在する。そのためこの結晶構造をO3型結晶構造と呼ぶ場合がある。なお、CoO層とはコバルトに酸素が6配位した8面体構造が、稜共有の状態で平面に連続した構造をいうこととする。これをコバルトと酸素の8面体からなる層、という場合もある。
また従来のコバルト酸リチウムは、x=0.5程度のときリチウムの対称性が高まり、単斜晶系の空間群P2/mに帰属する結晶構造を有することが知られている。この構造はユニットセル中にCoO層が1層存在する。そのためO1型、または単斜晶O1型と呼ぶ場合がある。
またx=0のときの正極活物質は、三方晶系の空間群P-3m1の結晶構造を有し、やはりユニットセル中にCoO層が1層存在する。そのためこの結晶構造を、O1型、または三方晶O1型と呼ぶ場合がある。また三方晶を複合六方格子に変換し、六方晶O1型と呼ぶ場合もある。
またx=0.12程度のときの従来のコバルト酸リチウムは、空間群R-3mの結晶構造を有する。この構造は、三方晶O1型のようなCoOの構造と、R-3m O3のようなLiCoOの構造と、が交互に積層された構造ともいえる。そのためこの結晶構造を、H1-3型結晶構造と呼ぶ場合がある。なお、実際のリチウムの挿入脱離が正極活物質内で均一に生じるとは限らず、リチウムの濃度がまだらになりうるため、実験的にはx=0.25程度からH1-3型結晶構造が観測される。また実際にはH1-3型結晶構造は、ユニットセルあたりのコバルト原子の数が他の構造の2倍となっている。しかし図5をはじめ本明細書では、他の結晶構造と比較しやすくするためH1-3型結晶構造のc軸をユニットセルの1/2にした図で示すこととする。
H1-3型結晶構造は一例として、非特許文献3に記載があるように、ユニットセルにおけるコバルトと酸素の座標を、Co(0,0,0.42150±0.00016)、O1(0,0,0.27671±0.00045)、O2(0,0,0.11535±0.00045)と表すことができる。O1およびO2はそれぞれ酸素原子である。正極活物質が有する結晶構造をいずれのユニットセルを用いて表すべきかは、例えばXRDパターンのリートベルト解析により判断することができる。この場合はGOF(goodness of fit)の値が小さくなるユニットセルを採用すればよい。
LiCoO中のxが0.24以下になるような充電と、放電とを繰り返すと、従来のコバルト酸リチウムはH1-3型結晶構造と、放電状態のR-3m O3の構造と、の間で結晶構造の変化(つまり非平衡な相変化)を繰り返すことになる。
しかしながら、これらの2つの結晶構造は、CoO層のずれが大きい。図5に点線および矢印で示すように、H1-3型結晶構造では、CoO層が放電状態のR-3m O3から大きくずれている。このようなダイナミックな構造変化は、結晶構造の安定性に悪影響を与えうる。
さらにこれらの2つの結晶構造は体積の差も大きい。同数のコバルト原子あたりで比較した場合、H1-3型結晶構造と放電状態のR-3m O3型結晶構造の体積の差は3.5%を超え、代表的には3.9%以上である。
加えて、H1-3型結晶構造が有する、三方晶O1型のようにCoO層が連続した構造は不安定である可能性が高い。
そのため、xが0.24以下になるような充放電を繰り返すと従来のコバルト酸リチウムの結晶構造は崩れていく。結晶構造の崩れが、サイクル特性の悪化を引き起こす。これは、結晶構造が崩れることで、リチウムが安定して存在できるサイトが減少し、またリチウムの挿入脱離が難しくなるためである。
一方図4に示す本発明の一態様の正極活物質100では、LiCoO中のxが1の放電状態と、xが0.24以下の状態における結晶構造の変化が従来の正極活物質よりも少ない。より具体的には、xが1の状態と、xが0.24以下の状態におけるCoO層のずれを小さくすることができる。またコバルト原子あたりで比較した場合の体積の変化を小さくすることができる。よって、本発明の一態様の正極活物質100は、xが0.24以下になるような充放電を繰り返しても結晶構造が崩れにくく、優れたサイクル特性を実現することができる。また、本発明の一態様の正極活物質100は、LiCoO中のxが0.24以下の状態において従来の正極活物質よりも安定な結晶構造を取り得る。よって、本発明の一態様の正極活物質100は、LiCoO中のxが0.24以下の状態を保持した場合において、ショートが生じづらい。そのような場合には二次電池の安全性がより向上し好ましい。
LiCoO中のxが1、0.2程度および0.15程度のときに正極活物質100の内部100bが有する結晶構造を図4に示す。内部100bは正極活物質100の体積の大半を占め、充放電に大きく寄与する部分であるため、CoO層のずれおよび体積の変化が最も問題となる部分といえる。
正極活物質100はx=1のとき、従来のコバルト酸リチウムと同じR-3m O3の結晶構造を有する。
しかし正極活物質100は、従来のコバルト酸リチウムがH1-3型結晶構造となるようなxが0.24以下、たとえば0.2程度および0.15程度のとき、これと異なる構造の結晶を有する。
x=0.2程度のときの本発明の一態様の正極活物質100は、三方晶系の空間群R-3mに帰属される結晶構造を有する。これはCoO層の対称性がO3と同じである。よって、この結晶構造をO3’型結晶構造と呼ぶこととする。図4にR-3m O3’を付してこの結晶構造を示す。
O3’型の結晶構造は、ユニットセルにおけるコバルトと酸素の座標を、Co(0,0,0.5)、O(0,0,x)、0.20≦x≦0.25の範囲内で示すことができる。またユニットセルの格子定数は、a軸は2.797≦a≦2.837(Å)が好ましく、2.807≦a≦2.827(Å)がより好ましく、代表的にはa=2.817(Å)である。c軸は13.681≦c≦13.881(Å)が好ましく、13.751≦c≦13.811(Å)がより好ましく、代表的にはc=13.781(Å)である。
またx=0.15程度のときの本発明の一態様の正極活物質100は、単斜晶系の空間群P2/mに帰属される結晶構造を有する。これはユニットセル中にCoO層が1層存在する。またこのとき正極活物質100中に存在するリチウムは放電状態の15原子%程度である。よってこの結晶構造を単斜晶O1(15)型結晶構造と呼ぶこととする。図4にP2/m 単斜晶O1(15)を付してこの結晶構造を示す。
単斜晶O1(15)型の結晶構造は、ユニットセルにおけるコバルトと酸素の座標を、
Co1(0.5,0,0.5)、
Co2(0,0.5,0.5)、
O1(XO1,0,ZO1)、
0.23≦XO1≦0.24、0.61≦ZO1≦0.65、
O2(XO2,0.5,ZO2)、
0.75≦XO2≦0.78、0.68≦ZO2≦0.71、の範囲内で示すことができる。またユニットセルの格子定数は、
a=4.880±0.05Å、
b=2.817±0.05Å、
c=4.839±0.05Å、
α=90°、
β=109.6±0.1°、
γ=90°である。
なおこの結晶構造は、ある程度の誤差を許容すれば空間群R-3mでも格子定数を示すことが可能である。この場合のユニットセルにおけるコバルトと酸素の座標は、
Co(0,0,0.5)、
O(0,0,Z)、
0.21≦Z≦0.23、の範囲内で示すことができる。
またユニットセルの格子定数は、
a=2.817±0.02Å、
c=13.68±0.1Åである。
O3’型および単斜晶O1(15)型結晶構造のいずれも、コバルト、ニッケル、マグネシウム等のイオンが酸素6配位位置を占める。なおリチウムおよびマグネシウムなどの軽元素は酸素4配位位置を占める場合がありうる。
図4中に点線で示すように、放電状態のR-3m O3と、O3’および単斜晶O1(15)型結晶構造とではCoO層のずれがほとんどない。
また放電状態のR-3m O3と、O3’型結晶構造の同数のコバルト原子あたりの体積の差は2.5%以下、より詳細には2.2%以下、代表的には1.8%である。
また放電状態のR-3m O3と、単斜晶O1(15)型結晶構造の同数のコバルト原子あたりの体積の差は3.3%以下、より詳細には3.0%以下、代表的には2.5%である。
表1に、放電状態のR-3m O3と、O3’、単斜晶O1(15)、H1-3型および三方晶O1のコバルト原子1つあたりの体積の差を示す。表1の算出に用いた各結晶構造の格子定数は、放電状態のR-3m O3および三方晶O1については文献値を参照することができる(ICSD coll.code.172909および88721)。H1-3については非特許文献3を参照することができる。O3’、単斜晶O1(15)についてはXRDの実験値から算出することができる。
Figure 2022173119000002
このように本発明の一態様の正極活物質100では、LiCoO中のxが小さいとき、つまり多くのリチウムが脱離したときの結晶構造の変化が、従来の正極活物質よりも抑制されている。また同数のコバルト原子あたりで比較した場合の体積の変化も抑制されている。そのため正極活物質100は、xが0.24以下になるような充放電を繰り返しても結晶構造が崩れにくい。そのため、正極活物質100は充放電サイクルにおける充放電容量の低下が抑制される。また従来の正極活物質よりも多くのリチウムを安定して利用できるため、正極活物質100は重量あたりおよび体積あたりの放電容量が大きい。そのため正極活物質100を用いることで、重量あたりおよび体積あたりの放電容量の高い二次電池を作製できる。
なお正極活物質100は、LiCoO中のxが0.15以上0.24以下のときO3’型の結晶構造を有する場合があることが確認され、xが0.24を超えて0.27以下でもO3’型の結晶構造を有すると推定されている。またLiCoO中のxが0.1を超えて0.2以下、代表的にはxが0.15以上0.17以下のとき単斜晶O1(15)型の結晶構造を有する場合があることが確認されている。しかし結晶構造はLiCoO中のxだけでなく充放電サイクル数、充放電電流、温度、電解質等の影響を受けるため、必ずしも上記のxの範囲に限定されない。
そのため正極活物質100はLiCoO中のxが0.1を超えて0.24以下のとき、O3’型のみを有してもよいし、単斜晶O1(15)型のみを有してもよいし、両方の結晶構造を有してもよい。また正極活物質100の内部100bの粒子のすべてがO3’型および/または単斜晶O1(15)型の結晶構造でなくてもよい。他の結晶構造を含んでいてもよいし、一部が非晶質であってもよい。
またLiCoO中のxが小さい状態にするには、一般的には高い充電電圧で充電する必要がある。そのためLiCoO中のxが小さい状態を、高い充電電圧で充電した状態と言い換えることができる。たとえばリチウム金属の電位を基準として4.6V以上の電圧で、25℃の環境でCC/CV充電すると、従来の正極活物質ではH1-3型結晶構造が現れる。そのためリチウム金属の電位を基準として4.6V以上の充電電圧は高い充電電圧ということができる。また本明細書等において、特に言及しない場合、充電電圧はリチウム金属の電位を基準として表すとする。
そのため本発明の一態様の正極活物質100は、高い充電電圧、たとえば25℃において4.6V以上の電圧で充電しても、R-3m O3の対称性を有する結晶構造を保持できるため好ましい、と言い換えることができる。またより高い充電電圧、例えば25℃において4.65V以上4.7V以下の電圧で充電したときO3’型の結晶構造を取り得るため好ましい、と言い換えることができる。さらに高い充電電圧、例えば25℃において4.7Vを超えて4.8V以下の電圧で充電したとき単斜晶O1(15)型の結晶構造を取り得るため好ましい、と言い換えることができる。
正極活物質100でもさらに充電電圧を高めるとようやく、H1-3型結晶が観測される場合がある。また上述したように結晶構造は充放電サイクル数、充放電電流、温度、電解質等の影響を受けるため、充電電圧がより低い場合、たとえば充電電圧が25℃において4.5V以上4.6V未満でも、本発明の一態様の正極活物質100はO3’型結晶構造を取り得る場合が有る。同様に25℃において4.65V以上4.7V以下の電圧で充電したときに単斜晶O1(15)型の結晶構造を取り得る場合がある。
なお、二次電池において例えば負極活物質として黒鉛を用いる場合、上記よりも黒鉛の電位の分だけ二次電池の電圧が低下する。黒鉛の電位はリチウム金属の電位を基準として0.05V乃至0.2V程度である。そのため負極活物質として黒鉛を用いた二次電池の場合は、上記の電圧から黒鉛の電位を差し引いた電圧のとき同様の結晶構造を有する。
また図4のO3’および単斜晶O1(15)ではリチウムが全てのリチウムサイトに等しい確率で存在するように示したが、これに限らない。一部のリチウムサイトに偏って存在していてもよいし、たとえば図5に示す単斜晶O1(Li0.5CoO)のような対称性を有していてもよい。リチウムの分布は、たとえば中性子線回折により分析することができる。
またO3’および単斜晶O1(15)型の結晶構造は、層間にランダムにリチウムを有するもののCdCl型の結晶構造に類似する結晶構造であるということもできる。このCdCl型に類似した結晶構造は、ニッケル酸リチウムをLi0.06NiOまで充電したときの結晶構造と近いが、純粋なコバルト酸リチウム、またはコバルトを多く含む層状岩塩型の正極活物質では通常CdCl型の結晶構造を取らないことが知られている。
また添加元素の濃度勾配は、正極活物質100の表層部100aの複数個所において同じような勾配であることが好ましい。つまり添加元素に由来する補強が表層部100aに均質に存在することが好ましい。表層部100aの一部に補強があっても、補強のない部分が存在すれば、ない部分に応力が集中する恐れがある。正極活物質100の一部に応力が集中すると、そこからクラック等の欠陥が生じ、正極活物質の割れおよび放電容量の低下につながる恐れがある。
ただし必ずしも、正極活物質100の表層部100a全てにおいて添加元素が同じような濃度勾配を有していなくてもよい。図1(A)中のC-D付近を拡大した図を図6(A1)および図6(A2)に示す。図1(A)のC-D付近の添加元素Xの分布の例を図6(A1)に、C-D付近の添加元素Yの分布の例を図6(A2)に示す。
ここで、C-D付近はR-3mの層状岩塩型の結晶構造を有し、表面は(001)配向であるとする。(001)配向した表面は、その他の表面と添加元素の分布が異なっていてもよい。たとえば、(001)配向した表面とその表層部100aは、添加元素Xおよび添加元素Yから選ばれた一または二以上の濃度ピークの分布が、(001)配向以外の表面と比較して表面から浅い部分に限定されていてもよい。または、(001)配向した表面とその表層部100aは、(001)配向以外の表面と比較して添加元素Xおよび添加元素Yから選ばれた一または二以上の濃度が低くてもよい。または、(001)配向した表面とその表層部100aは、添加元素Xおよび添加元素Yから選ばれた一または二以上の濃度が検出下限以下であってもよい。
R-3mの層状岩塩型の結晶構造では、(001)面に平行に陽イオンが配列している。これはCoO層と、リチウム層と、が(001)面と平行に交互に積層した構造であるということができる。そのためリチウムイオンの拡散経路も(001)面に平行に存在する。
CoO層は比較的安定であるため、正極活物質100の表面は(001)配向である方が安定である。(001)面には充放電におけるリチウムイオンの主な拡散経路は露出していない。
一方、(001)配向以外の表面ではリチウムイオンの拡散経路が露出している。そのため(001)配向以外の表面および表層部100aは、リチウムイオンの拡散経路を保つために重要な領域であると同時に、リチウムイオンが最初に脱離する領域であるため不安定になりやすい。そのため(001)配向以外の表面および表層部100aを補強することが、正極活物質100全体の結晶構造を保つために極めて重要である。
そのため本発明の別の一態様の正極活物質100では、(001)配向以外の表面およびその表層部100aの添加元素の分布が図1(B1)または図1(B2)に示すような分布となっていることが重要である。添加元素の中でも特にニッケルが(001)配向以外の表面およびその表層部100aに検出されることが好ましい。一方、(001)配向した表面およびその表層部100aでは上述のように添加元素の濃度は低くてもよいし、またはなくてもよい。
たとえば、(001)配向した表面とその表層部100aにおけるマグネシウムの分布は、その半値幅が10nm以上200nm以下であることが好ましく、50nm以上150nm以下であることがより好ましく、80nm以上120nm以下であるとさらに好ましい。また(001)配向でない表面とその表層部100aにおけるマグネシウムの分布は、その半値幅が200nmを超えて500nm以下であることが好ましく、200nmを超えて300nm以下であることがより好ましく、230nm以上270nm以下であることがさらに好ましい。
また(001)配向でない表面とその表層部100aにおけるニッケルの分布は、その半値幅が30nm以上150nm以下であることが好ましく、50nm以上130nm以下であることがより好ましく、70nm以上110nm以下であることがさらに好ましい。
後の実施の形態で説明する、純度の高いLiCoOを作製した後に、添加元素を後から混合して加熱する作製方法は、主にリチウムイオンの拡散経路を介して添加元素が広がる。そのため(001)配向以外の表面およびその表層部100aの添加元素の分布を好ましい範囲にしやすい。
図6(B1)乃至図6(C)を用いて、純度の高いLiCoOを作製した後に、添加元素を混合して加熱した場合の添加元素の分布ついて計算した結果について説明する。
図6(B1)は、(104)配向している表面およびその表層部100aについて計算した結果である。古典的分子動力学法で計算した。系の下部にLiCoO(LCO)を、系の上部にマグネシウム源、リチウム源およびフッ素源としてLiFとMgFを配した。アンサンブルはNVT、初期構造の密度は1.8g/cm、系の温度は2000K、経過時間は100psec、ポテンシャルはLCO結晶構造にて最適化しその他の原子はUFFとの混合、系の原子数は約1万個、系の電荷は中性とした。図を簡潔にするため、Co原子とMg原子を抜粋して示す。
図6(B2)は同様に200psec、図6(B3)は1200psecまで計算した結果である。
以上の計算から、下記のような過程でマグネシウムが拡散している様子が推察される。(1)熱でリチウムがLCOから脱離する。(2)マグネシウムがLCOのリチウム層に入り、内部へ拡散する。(3)LiF由来のリチウムがLCOのリチウム層に入り、(1)で脱離したリチウムが補完される。
100psec経過した図6(B1)からマグネシウム原子がLCO内に拡散している様子が明らかである。コバルト原子の配列に沿ってマグネシウム原子が拡散していき、1200psec経過した図6(B3)では、系の上部に用意したマグネシウム原子がほぼ全てLCOに取り込まれる。
図6(C)は、(001)配向とした他は図6(B1)と同様に計算した結果である。図6(C)では、マグネシウム原子はLCOの表面にとどまっている様子がわかる。ただし図6(C)は100psec経過した場合の計算結果である。実際の正極活物質100ではたとえば2時間以上の加熱を行い作製するため、マグネシウム原子はLCOの内部にゆっくりと拡散すると考えられる。
このように純度の高いLiCoOを作製した後に、添加元素を混合して加熱する作製方法により、(001)面よりも、(001)配向以外の表面およびその表層部100aの添加元素を好ましい分布にすることができる。
また後述する初期加熱を経る作製方法では、初期加熱により表層部100aのリチウムがLiCoOから脱離することが期待できるため、さらにマグネシウムをはじめとする添加元素を高濃度に表層部に分布させやすくなる。
また、正極活物質100の表面はなめらかで凹凸が少ないことが好ましいが、必ずしも、正極活物質100が有する表面の全てがそうでなくてもよい。R-3mの層状岩塩型の結晶構造を有する複合酸化物は、(001)面に平行な面、たとえばリチウムが配列した面においてスリップが生じやすい。たとえば図7(A)のように、(001)面が存在する場合は、プレス等の工程を経ることで図7(B)中に矢印で示したように(001)面と平行にスリップが起こり、変形する場合がある。
この場合、スリップした結果新たに生じた表面およびその表層部100aには、添加元素が存在しないか、濃度が検出下限以下である場合がある。図7(B)中のE-Fはスリップした結果新たに生じた表面およびその表層部100aの例である。E-F付近を拡大した図を図7(C1)および図7(C2)に示す。図7(C1)および図7(C2)では、図1(B1)乃至図1(B2)と異なり添加元素Xおよび添加元素Yが分布しない。
しかしスリップは(001)面に平行に生じやすいため、新たに生じた表面およびその表層部100aは(001)配向となりやすい。この場合リチウムイオンの拡散経路が露出せず、比較的安定であるため、添加元素が存在しないか、濃度が検出下限以下であっても問題がほとんどない。
なお上述のように、組成がLiCoO、結晶構造がR-3mの層状岩塩型を有する複合酸化物では、(001)面と平行にコバルト原子が配列する。またHAADF-STEM像では、LiCoOのうち原子番号の最も大きいコバルトの輝度が最も高くなる。そのためHAADF-STEM像において、輝度の高い原子の配列はコバルト原子の配列と考えてよい。この輝度の高い配列の繰り返しは、結晶縞または格子縞と同義である。
≪結晶粒界≫
本発明の一態様の正極活物質100が有する添加元素は、上記のような分布に加え、少なくとも一部は結晶粒界101およびその近傍に偏在していることがより好ましい。
なお本明細書等において、偏在とはある領域における元素の濃度が他の領域と異なることをいう。偏析、析出、不均一、偏り、または濃度が高い箇所と濃度が低い箇所が混在する、と同義である。
たとえば正極活物質100の結晶粒界101およびその近傍のマグネシウム濃度が、内部100bの他の領域よりも高いことが好ましい。また結晶粒界101およびその近傍のフッ素濃度も内部100bの他の領域より高いことが好ましい。また結晶粒界101およびその近傍のニッケル濃度も内部100bの他の領域より高いことが好ましい。また結晶粒界101およびその近傍のアルミニウム濃度も内部100bの他の領域より高いことが好ましい。
結晶粒界101は面欠陥の一つである。そのため粒子表面と同様不安定になりやすく結晶構造の変化が始まりやすい。そのため、結晶粒界101およびその近傍の添加元素濃度が高ければ、結晶構造の変化をより効果的に抑制することができる。
また、結晶粒界101およびその近傍のマグネシウム濃度およびフッ素濃度が高い場合、本発明の一態様の正極活物質100の結晶粒界101に沿ってクラックが生じた場合でも、クラックにより生じた表面の近傍でマグネシウム濃度およびフッ素濃度が高くなる。そのためクラックが生じた後の正極活物質においてもフッ酸に対する耐食性を高めることができる。
<粒径>
本発明の一態様の正極活物質100の粒径は、大きすぎるとリチウムの拡散が難しくなる、集電体に塗工したときに活物質層の表面が粗くなりすぎる、等の問題がある。一方、小さすぎると、集電体への塗工時に活物質層を担持しにくくなる、電解液との反応が過剰に進む等の問題点も生じる。そのため、メディアン径(D50)が、1μm以上100μm以下が好ましく、2μm以上40μm以下であることがより好ましく、5μm以上30μm以下がさらに好ましい。または1μm以上40μm以下が好ましい。または1μm以上30μm以下が好ましい。または2μm以上100μm以下が好ましい。または2μm以上30μm以下が好ましい。または5μm以上100μm以下が好ましい。または5μm以上40μm以下が好ましい。
<分析方法>
ある正極活物質が、LiCoO中のxが小さいときO3’型および/または単斜晶O1(15)型の結晶構造を有する本発明の一態様の正極活物質100であるか否かは、LiCoO中のxが小さい正極活物質を有する正極を、XRD、電子線回折、中性子線回折、電子スピン共鳴(ESR)、核磁気共鳴(NMR)等を用いて解析することで判断できる。
特にXRDは、正極活物質が有するコバルト等の遷移金属の対称性を高分解能で解析できる、結晶性の高さおよび結晶の配向性を比較できる、格子の周期性歪みおよび結晶子サイズの解析ができる、二次電池を解体して得た正極をそのまま測定しても十分な精度を得られる、等の点で好ましい。XRDのなかでも粉末XRDでは、正極活物質100の体積の大半を占める正極活物質100の内部100bの結晶構造を反映した回折ピークが得られる。
なお粉末XRDで結晶子サイズを解析する場合、加圧等による配向の影響を除いて測定することが好ましい。たとえば二次電池を解体して得た正極から正極活物質を取り出し、粉末サンプルとしてから測定することが好ましい。
本発明の一態様の正極活物質100は、これまで述べたようにLiCoO中のxが1のときと、0.24以下のときで結晶構造の変化が少ないことが特徴である。高電圧で充電したとき、結晶構造の変化が大きな結晶構造が50%以上を占める材料は、高電圧の充放電に耐えられないため好ましくない。
また添加元素を添加するだけではO3’型または単斜晶O1(15)型の結晶構造をとらない場合があることに注意が必要である。例えばマグネシウムおよびフッ素を有するコバルト酸リチウム、またはマグネシウムおよびアルミニウムを有するコバルト酸リチウム、という点で共通していても、添加元素の濃度および分布次第で、LiCoO中のxが0.24以下でO3’型および/または単斜晶O1(15)型の結晶構造が60%以上になる場合と、H1-3型結晶構造が50%以上を占める場合と、がある。
また本発明の一態様の正極活物質100でも、xが0.1以下など小さすぎる場合、または充電電圧が4.9Vを超えるような条件ではH1-3型または三方晶O1型の結晶構造が生じる場合もある。そのため、本発明の一態様の正極活物質100であるか否かを判断するには、XRDをはじめとする結晶構造についての解析と、充電容量または充電電圧等の情報が必要である。
ただし、xが小さい状態の正極活物質は、大気に触れると結晶構造の変化を起こす場合がある。例えばO3’型および単斜晶O1(15)型の結晶構造からH1-3型結晶構造に変化する場合がある。そのため、結晶構造の分析に供するサンプルはすべてアルゴン雰囲気等の不活性雰囲気でハンドリングすることが好ましい。
またある正極活物質が有する添加元素の分布が、上記で説明したような状態であるか否かは、たとえばXPS、エネルギー分散型X線分光法(EDX:Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)、EPMA(電子プローブ微小分析)等を用いて解析することで判断できる。
また表層部100a、結晶粒界101等の結晶構造は、正極活物質100の断面の電子線回折等で分析することができる。
≪充電方法≫
ある複合酸化物が、本発明の一態様の正極活物質100であるか否かを判断するための充電は、例えば対極リチウムでコインセル(CR2032タイプ、直径20mm高さ3.2mm)を作製して充電することができる。
より具体的には、正極には、正極活物質、導電材およびバインダを混合したスラリーを、アルミニウム箔の正極集電体に塗工したものを用いることができる。
対極にはリチウム金属を用いることができる。なお対極にリチウム金属以外の材料を用いたときは、二次電池の電位と正極の電位が異なる。本明細書等における電圧および電位は、特に言及しない場合、正極の電位である。
電解液が有する電解質には、1mol/Lの六フッ化リン酸リチウム(LiPF)を用い、電解液には、エチレンカーボネート(EC)とジエチルカーボネート(DEC)がEC:DEC=3:7(体積比)、ビニレンカーボネート(VC)が2wt%で混合されたものを用いることができる。
セパレータには厚さ25μmのポリプロピレン多孔質フィルムを用いることができる。
正極缶及び負極缶には、ステンレス(SUS)で形成されているものを用いることができる。
上記条件で作製したコインセルを、任意の電圧(たとえば4.5V、4.55V、4.6V、4.65V、4.7V、4.75Vまたは4.8V)で充電する。任意の電圧で十分に時間をかけて充電できれば充電方法は特に限定されない。たとえばCCCVで充電する場合、CC充電における電流は、20mA/g以上100mA/g以下で行うことができる。CV充電は2mA/g以上10mA/g以下で終了することができる。正極活物質の相変化を観測するためには、このような小さい電流値で充電を行うことが望ましい。温度は25℃または45℃とする。このようにして充電した後に、コインセルをアルゴン雰囲気のグローブボックス中で解体して正極を取り出せば、任意の充電容量の正極活物質を得られる。この後に各種分析を行う際、外界成分との反応を抑制するため、アルゴン雰囲気で密封することが好ましい。例えばXRDは、アルゴン雰囲気の密閉容器内に封入して行うことができる。また充電完了後、速やかに正極を取り出し分析に供することが好ましい。具体的には充電完了後1時間以内が好ましく、30分以内がより好ましい。
また複数回充放電した後の充電状態の結晶構造を分析する場合、該複数回の充放電条件は上記の充電条件と異なっていてもよい。たとえば充電は任意の電圧(たとえば4.6V、4.65V、4.7V、4.75Vまたは4.8V)まで、電流値20mA/g以上100mA/g以下で定電流充電し、その後電流値が2mA/g以上10mA/g以下となるまで定電圧充電し、放電は2.5V、20mA/g以上100mA/g以下で定電流放電とすることができる。
さらに複数回充放電した後の放電状態の結晶構造を分析する場合も、たとえば2.5V、電流値20mA/g以上100mA/g以下で定電流放電とすることができる。
≪XRD≫
XRD測定の装置および条件は特に限定されない。たとえば下記のような装置および条件で測定することができる。
XRD装置 :Bruker AXS社製、D8 ADVANCE
X線源 :CuKα
出力 :40kV、40mA
発散角 :Div.Slit、0.5°
検出器:LynxEye
スキャン方式 :2θ/θ連続スキャン
測定範囲(2θ) :15°以上90°以下
ステップ幅(2θ) :0.01°設定
計数時間 :1秒間/ステップ
試料台回転 :15rpm
測定サンプルが粉末の場合は、ガラスのサンプルホルダーに入れる、またはグリースを塗ったシリコン無反射板にサンプルを振りかける、等の手法でセッティングすることができる。測定サンプルが正極の場合は、正極を基板に両面テープで貼り付け、正極活物質層を装置の要求する測定面に合わせてセッティングすることができる。
O3’型の結晶構造と、単斜晶O1(15)型の結晶構造と、H1-3型結晶構造のモデルから計算される、CuKα線による理想的な粉末XRDパターンを図8、図9、図10(A)および図10(B)に示す。また比較のためLiCoO中のx=1のLiCoO O3と、x=0の三方晶O1の結晶構造から計算される理想的なXRDパターンも示す。図10(A)および図10(B)は、O3’型結晶構造、単斜晶O1(15)型結晶構造とH1-3型結晶構造のXRDパターンを併記したものであり、図10(A)は2θの範囲が18°以上21°以下の領域、図10(B)は2θの範囲が42°以上46°以下の領域について拡大したものである。なお、LiCoO(O3)およびCoO(O1)のパターンはICSD(Inorganic Crystal Structure Database)(非特許文献4参照)より入手した結晶構造情報からMaterials Studio(BIOVIA)のモジュールの一つである、Reflex Powder Diffractionを用いて作成した。2θの範囲は15°から75°とし、Step size=0.01、波長λ1=1.540562×10-10m、λ2は設定なし、Monochromatorはsingleとした。H1-3型結晶構造のパターンは非特許文献3に記載の結晶構造情報から同様に作成した。O3’型および単斜晶O1(15)型の結晶構造のパターンは本発明の一態様の正極活物質のXRDパターンから結晶構造を推定し、TOPAS ver.3(Bruker社製結晶構造解析ソフトウェア)を用いてフィッティングし、他と同様にXRDパターンを作成した。
図8、図10(A)および図10(B)に示すように、O3’型の結晶構造では、2θ=19.25±0.12°(19.13°以上19.37°未満)、および2θ=45.47±0.10°(45.37°以上45.57°未満)に回折ピークが出現する。
また単斜晶O1(15)型の結晶構造では、2θ=19.47±0.10°(19.37°以上19.57°以下)、および2θ=45.62±0.05°(45.57°以上45.67°以下)に回折ピークが出現する。
しかし図9、図10(A)および図10(B)に示すように、H1-3型結晶構造および三方晶O1ではこれらの位置にピークは出現しない。そのため、LiCoO中のxが小さい状態で19.13°以上19.37°未満および/または19.37°以上19.57°以下、並びに45.37°以上45.57°未満および/または45.57°以上45.67°以下にピークが出現することは、本発明の一態様の正極活物質100の特徴であるといえる。
これは、x=1と、x≦0.24の結晶構造で、XRDの回折ピークが出現する位置が近いということもできる。より具体的には、x=1と、x≦0.24の結晶構造の主な回折ピークのうち2θが42°以上46°以下に出現するピークについて、2θの差が、0.7°以下、より好ましくは0.5°以下であるということができる。
なお、本発明の一態様の正極活物質100はLiCoO中のxが小さいときO3’型および/または単斜晶O1(15)型の結晶構造を有するが、粒子のすべてがO3’型および/または単斜晶O1(15)型の結晶構造でなくてもよい。他の結晶構造を含んでいてもよいし、一部が非晶質であってもよい。ただし、XRDパターンについてリートベルト解析を行ったとき、O3’型および/または単斜晶O1(15)型の結晶構造が50%以上であることが好ましく、60%以上であることがより好ましく、66%以上であることがさらに好ましい。O3’型および/または単斜晶O1(15)型の結晶構造が50%以上、より好ましくは60%以上、さらに好ましくは66%以上あれば、十分にサイクル特性に優れた正極活物質とすることができる。
また、測定開始から100サイクル以上の充放電を経ても、リートベルト解析を行ったときO3’型および/または単斜晶O1(15)型の結晶構造が35%以上であることが好ましく、40%以上であることがより好ましく、43%以上であることがさらに好ましい。
また、同様にリートベルト解析を行ったとき、H1-3型およびO1型結晶構造が50%以下であることが好ましい。
またXRDパターンにおける回折ピークの鋭さは結晶性の高さを示す。そのため、充電後の各回折ピークは鋭い、すなわち半値幅、たとえば半値全幅が狭い方が好ましい。半値幅は、同じ結晶相から生じたピークでも、XRDの測定条件および2θの値によっても異なる。上述した測定条件の場合は、2θ=43°以上46°以下に観測されるピークにおいて、半値全幅は例えば0.2°以下が好ましく、0.15°以下がより好ましく、0.12°以下がさらに好ましい。なお必ずしも全てのピークがこの要件を満たしていなくてもよい。一部のピークがこの要件を満たせば、その結晶相の結晶性が高いことがいえる。このような高い結晶性は、十分に充電後の結晶構造の安定化に寄与する。
また、正極活物質100が有するO3’型および単斜晶O1(15)の結晶構造の結晶子サイズは、放電状態のLiCoO(O3)の1/20程度までしか低下しない。そのため、充放電前の正極と同じXRDの測定条件であっても、LiCoO中のxが小さいとき明瞭なO3’型および/または単斜晶O1(15)の結晶構造のピークが確認できる。一方従来のLiCoOでは、一部がO3’型および/または単斜晶O1(15)の結晶構造に似た構造を取りえたとしても、結晶子サイズが小さくなり、ピークはブロードで小さくなる。結晶子サイズは、XRDピークの半値幅から求めることができる。
本発明の一態様の正極活物質100においては、前述の通りヤーン・テラー効果の影響が小さいことが好ましい。ヤーン・テラー効果の影響が小さい範囲であれば、コバルトの他に添加元素としてニッケル、マンガン等の遷移金属を有してもよい。
正極活物質において、XRD分析を用いて、ヤーン・テラー効果の影響が小さいと推測されるニッケルおよびマンガンの割合および格子定数の範囲について考察する。
図11は、本発明の一態様の正極活物質100が層状岩塩型の結晶構造を有し、コバルトとニッケルを有する場合において、XRDを用いてa軸およびc軸の格子定数を算出した結果を示す。図11(A)がa軸、図11(B)がc軸の結果である。なお、これらの算出に用いたXRDパターンは、正極活物質の合成を行った後の粉体であり、正極に組み込む前のものである。横軸のニッケル濃度は、コバルトとニッケルの原子数の和を100%とした場合のニッケルの濃度を示す。正極活物質は、アルミニウム源を用いない他は図15の作製方法に準じて作製した。
図12には、本発明の一態様の正極活物質100が層状岩塩型の結晶構造を有し、コバルトとマンガンを有する場合において、XRDを用いてa軸およびc軸の格子定数を見積もった結果を示す。図12(A)がa軸、図12(B)がc軸の結果である。なお、図12に示す格子定数は、正極活物質の合成を行った後の粉体であり、正極に組み込む前に測定したXRDによるものである。横軸のマンガン濃度は、コバルトとマンガンの原子数の和を100%とした場合のマンガンの濃度を示す。正極活物質は、ニッケル源に代えてマンガン源を用い、さらにアルミニウム源を用いない他は図15の作製方法に準じて作製した。
図11(C)には、図11(A)および図11(B)に格子定数の結果を示した正極活物質について、a軸の格子定数をc軸の格子定数で割った値(a軸/c軸)を示す。図12(C)には、図12(A)および図12(B)に格子定数の結果を示した正極活物質について、a軸の格子定数をc軸の格子定数で割った値(a軸/c軸)を示す。
図11(C)より、ニッケル濃度が5%と7.5%ではa軸/c軸が顕著に変化する傾向がみられ、ニッケル濃度7.5%ではa軸の歪みが大きくなっている。この歪みは三価のニッケルのヤーン・テラー歪みに起因する可能性がある。ニッケル濃度が7.5%未満において、ヤーン・テラー歪みの小さい、優れた正極活物質が得られることが示唆される。
次に、図12(A)より、マンガン濃度が5%以上においては、格子定数の変化の挙動が異なり、ベガード則に従わないことが示唆される。よって、マンガン濃度が5%以上では結晶構造が異なることが示唆される。よって、マンガンの濃度は例えば、4%以下が好ましい。
なお、上記のニッケル濃度およびマンガン濃度の範囲は、表層部100aにおいては必ずしもあてはまらない。すなわち、表層部100aにおいては、上記の濃度より高くてもよい。
以上より、格子定数の好ましい範囲について考察を行ったところ、本発明の一態様の正極活物質において、XRDパターンから推定できる、充放電を行わない状態、あるいは放電状態の正極活物質100が有する層状岩塩型の結晶構造において、a軸の格子定数が2.814×10-10mより大きく2.817×10-10mより小さく、かつc軸の格子定数が14.05×10-10mより大きく14.07×10-10mより小さいことが好ましいことがわかった。充放電を行わない状態とは例えば、二次電池の正極を作製する前の粉体の状態であってもよい。
あるいは、充放電を行わない状態、あるいは放電状態の正極活物質100が有する層状岩塩型の結晶構造において、a軸の格子定数をc軸の格子定数で割った値(a軸/c軸)が0.20000より大きく0.20049より小さいことが好ましい。
あるいは、充放電を行わない状態、あるいは放電状態の正極活物質100が有する層状岩塩型の結晶構造において、XRD分析をしたとき、2θが18.50°以上19.30°以下に第1のピークが観測され、かつ2θが38.00°以上38.80°以下に第2のピークが観測される場合がある。
≪XPS≫
X線光電子分光(XPS)では、無機酸化物の場合で、X線源として単色アルミニウムのKα線を用いると、表面から2乃至8nm程度(通常5nm以下)の深さまでの領域の分析が可能であるため、表層部100aの深さに対して約半分の領域について、各元素の濃度を定量的に分析することができる。また、ナロースキャン分析をすれば元素の結合状態を分析することができる。なおXPSの定量精度は多くの場合±1原子%程度、検出下限は元素にもよるが約1原子%である。
本発明の一態様の正極活物質100は、添加元素から選ばれた一または二以上の濃度が内部100bよりも表層部100aにおいて高いことが好ましい。これは表層部100aにおける添加元素から選ばれた一または二以上の濃度が、正極活物質100全体の平均よりも高いことが好ましい、と同義である。そのためたとえば、XPS等で測定される表層部100aから選ばれた一または二以上の添加元素の濃度が、ICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析)、あるいはGD-MS(グロー放電質量分析法)等で測定される正極活物質100全体の平均の添加元素の濃度よりも高いことが好ましい、ということができる。たとえばXPS等で測定される表層部100aの少なくとも一部のマグネシウムの濃度が、正極活物質100全体のマグネシウム濃度よりも高いことが好ましい。また表層部100aの少なくとも一部のニッケルの濃度が、正極活物質100全体のニッケル濃度よりも高いことが好ましい。また表層部100aの少なくとも一部のアルミニウムの濃度が、正極活物質100全体のアルミニウム濃度よりも高いことが好ましい。また表層部100aの少なくとも一部のフッ素の濃度が、正極活物質100全体のフッ素濃度よりも高いことが好ましい。
なお本発明の一態様の正極活物質100の表面および表層部100aには、正極活物質100作製後に化学吸着した炭酸塩、ヒドロキシ基等は含まないとする。また正極活物質100の表面に付着した電解液、バインダ、導電材、またはこれら由来の化合物も含まないとする。そのため正極活物質が有する元素を定量するときは、XPSをはじめとする表面分析で検出されうる炭素、水素、過剰な酸素、過剰なフッ素等を除外する補正をしてもよい。例えば、XPSでは結合の種類を解析で分離することが可能であり、バインダ由来のC-F結合を除外する補正をおこなってもよい。
さらに各種分析に供する前に、正極活物質の表面に付着した電解液、バインダ、導電材、またはこれら由来の化合物を除くために、正極活物質および正極活物質層等の試料に対して洗浄等を行ってもよい。このとき洗浄に用いる溶媒等にリチウムが溶け出す場合があるが、たとえその場合であっても、添加元素は溶け出しにくいため、添加元素の原子数比に影響があるものではない。
また添加元素の濃度は、コバルトとの比で比較してもよい。コバルトとの比を用いることにより、正極活物質を作製後に化学吸着した炭酸塩等の影響を減じて比較することができ好ましい。たとえばXPSの分析によるマグネシウムとコバルトの原子数の比Mg/Coは、0.4以上1.5以下であることが好ましい。一方ICP-MSの分析によるMg/Coは0.001以上0.06以下であることが好ましい。
同様に正極活物質100は、十分にリチウムの挿入脱離の経路を確保するために、表層部100aにおいて各添加元素よりもリチウムおよびコバルトの濃度が高いことが好ましい。これはXPS等で測定される表層部100aが有する添加元素から選ばれた一または二以上の各添加元素の濃度よりも、表層部100aのリチウムおよびコバルトの濃度が高いことが好ましい、ということができる。たとえばXPS等で測定される表層部100aの少なくとも一部のマグネシウムの濃度よりも、XPS等で測定される表層部100aの少なくとも一部のコバルトの濃度が高いことが好ましい。同様にマグネシウムの濃度よりも、リチウムの濃度が高いことが好ましい。またニッケルの濃度よりも、コバルトの濃度が高いことが好ましい。同様にニッケルの濃度よりも、リチウムの濃度が高いことが好ましい。またアルミニウムよりもコバルトの濃度が高いことが好ましい。同様にアルミニウムの濃度よりも、リチウムの濃度が高いことが好ましい。またフッ素よりもコバルトの濃度が高いことが好ましい。同様にフッ素よりもリチウムの濃度が高いことが好ましい。
さらにアルミニウムをはじめとする添加元素Yは深い領域、たとえば表面からの深さが5nm以上50nm以内の領域に広く分布する方がより好ましい。そのため、ICP-MS、GD-MS等を用いた正極活物質100全体の分析ではアルミニウムをはじめとする添加元素Yが検出されるものの、XPS等ではこれの濃度が検出下限以下であると、より好ましい。
さらに本発明の一態様の正極活物質100についてXPS分析をしたとき、コバルトの原子数に対して、マグネシウムの原子数は0.4倍以上1.2倍以下が好ましく、0.65倍以上1.0倍以下がより好ましい。またコバルトの原子数に対して、ニッケルの原子数は0.15倍以下が好ましく、0.03倍以上0.13倍以下がより好ましい。またコバルトの原子数に対して、アルミニウムの原子数は0.12倍以下が好ましく、0.09倍以下がより好ましい。またコバルトの原子数に対して、フッ素の原子数は0.3倍以上0.9倍以下が好ましく、0.1倍以上1.1倍以下がより好ましい。上記のような範囲であることは、これらの添加元素が正極活物質100の表面の狭い範囲に付着するのではなく、正極活物質100の表層部100aに好ましい濃度で広く分布していることを示すといえる。
XPS分析を行う場合には例えば、X線源として単色化アルミニウムKα線を用いることができる。また、取出角は例えば45°とすればよい。たとえば下記の装置および条件で測定することができる。
測定装置 :PHI 社製QuanteraII
X線源 :単色化Al Kα(1486.6eV)
検出領域 :100μmφ
検出深さ :約4~5nm(取出角45°)
測定スペクトル :ワイドスキャン,各検出元素のナロースキャン
また本発明の一態様の正極活物質100についてXPS分析したとき、フッ素と他の元素の結合エネルギーを示すピークは682eV以上685eV未満であることが好ましく、684.3eV程度であることがさらに好ましい。これは、フッ化リチウムの結合エネルギーである685eV、およびフッ化マグネシウムの結合エネルギーである686eVのいずれとも異なる値である。つまり、本発明の一態様の正極活物質100がフッ素を有する場合、フッ化リチウムおよびフッ化マグネシウム以外の結合であることが好ましい。
さらに、本発明の一態様の正極活物質100についてXPS分析したとき、マグネシウムと他の元素の結合エネルギーを示すピークは、1302eV以上1304eV未満であることが好ましく、1303eV程度であることがさらに好ましい。これは、フッ化マグネシウムの結合エネルギーである1305eVと異なる値であり、酸化マグネシウムの結合エネルギーに近い値である。つまり、本発明の一態様の正極活物質100がマグネシウムを有する場合、フッ化マグネシウム以外の結合であることが好ましい。
≪EDX≫
正極活物質100が有する添加元素から選ばれた一または二以上は濃度勾配を有していることが好ましい。また正極活物質100は添加元素によって、濃度ピークの表面からの深さが異なっていることがより好ましい。添加元素の濃度勾配はたとえば、FIB(Focused Ion Beam)等により正極活物質100の断面を露出させ、その断面をエネルギー分散型X線分光法(EDX:Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)、EPMA(電子プローブ微小分析)等を用いて分析することで評価できる。
EDX測定のうち、領域内を走査しながら測定し、領域内を2次元に評価することをEDX面分析と呼ぶ。また線状に走査しながら測定し、原子濃度について正極活物質内の分布を評価することを線分析と呼ぶ。さらにEDXの面分析から、線状の領域のデータを抽出したものを線分析と呼ぶ場合もある。またある領域について走査せずに測定することを点分析と呼ぶ。
EDX面分析(例えば元素マッピング)により、正極活物質100の表層部100a、内部100bおよび結晶粒界101近傍等における、添加元素の濃度を定量的に分析することができる。また、EDX線分析により、添加元素の濃度分布および最大値を分析することができる。またSTEM-EDXのようにサンプルを薄片化する分析は、奥行き方向の分布の影響を受けずに、特定の領域における正極活物質の表面から中心に向かった深さ方向の濃度分布を分析でき、より好適である。
そのため本発明の一態様の正極活物質100についてEDX面分析またはEDX点分析したとき、表層部100aの各添加元素、特に添加元素Xの濃度が、内部100bのそれよりも高いことが好ましい。
たとえば添加元素としてマグネシウムを有する正極活物質100についてEDX面分析またはEDX点分析したとき、表層部100aのマグネシウム濃度が、内部100bのマグネシウム濃度よりも高いことが好ましい。またEDX線分析をしたとき、表層部100aのマグネシウム濃度のピークは、正極活物質100の表面から中心に向かった深さ3nmまでに存在することが好ましく、深さ1nmまでに存在することがより好ましく、深さ0.5nmまでに存在することがさらに好ましい。またマグネシウムの濃度はピークトップから深さ1nmの点でピークの60%以下に減衰することが好ましい。またピークトップから深さ2nmの点でピークの30%以下に減衰することが好ましい。なおここでいう濃度のピークとは、濃度の極大値をいうこととする。
また添加元素としてマグネシウムおよびフッ素を有する正極活物質100では、フッ素の分布は、マグネシウムの分布と重畳することが好ましい。たとえばフッ素濃度のピークと、マグネシウム濃度のピークの深さ方向の差が10nm以内であると好ましく、3nm以内であるとより好ましく、1nm以内であるとさらに好ましい。
またEDX線分析をしたとき、表層部100aのフッ素濃度のピークは、正極活物質100の表面から中心に向かった深さ3nmまでに存在することが好ましく、深さ1nmまでに存在することがより好ましく、深さ0.5nmまでに存在することがさらに好ましい。またフッ素濃度のピークはマグネシウムの濃度のピークよりもわずかに表面側に存在すると、フッ酸への耐性が増してより好ましい。たとえばフッ素濃度のピークはマグネシウムの濃度のピークよりも0.5nm以上表面側であるとより好ましく、1.5nm以上表面側であるとさらに好ましい。
また添加元素としてニッケルを有する正極活物質100では、表層部100aのニッケル濃度のピークは、正極活物質100の表面から中心に向かった深さ3nmまでに存在することが好ましく、深さ1nmまでに存在することがより好ましく、深さ0.5nmまでに存在することがさらに好ましい。またマグネシウムおよびニッケルを有する正極活物質100では、ニッケルの分布は、マグネシウムの分布と重畳することが好ましい。たとえばニッケル濃度のピークと、マグネシウム濃度のピークの深さ方向の差が10nm以内であると好ましく、3nm以内であるとより好ましく、1nm以内であるとさらに好ましい。
また正極活物質100が添加元素としてアルミニウムを有する場合は、EDX線分析をしたとき、表層部100aのアルミニウム濃度のピークよりも、マグネシウム、ニッケルまたはフッ素の濃度のピークが表面に近いことが好ましい。例えばアルミニウム濃度のピークは正極活物質100の表面から中心に向かった深さ0.5nm以上50nm以下に存在することが好ましく、深さ5nm以上50nm以下に存在することがより好ましい。
また正極活物質100についてEDX線分析、面分析または点分析をしたとき、マグネシウム濃度のピークにおけるマグネシウムMgとコバルトCoの原子数の比(Mg/Co)は0.05以上0.6以下が好ましく、0.1以上0.4以下がより好ましい。アルミニウム濃度のピークにおけるアルミニウムAlとコバルトCoの原子数の比(Al/Co)は0.05以上0.6以下が好ましく、0.1以上0.45以下がより好ましい。ニッケル濃度のピークにおけるニッケルNiとコバルトCoの原子数の比(Ni/Co)は0以上0.2以下が好ましく、0.01以上0.1以下がより好ましい。フッ素濃度のピークにおけるフッ素FとコバルトCoの原子数の比(F/Co)は0以上1.6以下が好ましく、0.1以上1.4以下がより好ましい。
なおEDX線分析結果における正極活物質100の表面は、たとえば以下のように推定することができる。正極活物質100の内部100bにおいて均一に存在する元素、たとえば酸素またはコバルトについて、内部100bの検出量の1/2となった点を表面とする。
正極活物質100は複合酸化物であるので、酸素の検出量を用いて表面を推定することができる。具体的には、まず内部100bの酸素の検出量が安定している領域から酸素濃度の平均値Oaveを求める。このとき明らかに表面より外と判断できる領域に化学吸着またはバックグラウンドによると考えられる酸素Obgが検出される場合は、測定値からObgを減じて酸素濃度の平均値Oaveとすることができる。この平均値Oaveの1/2の値、つまり1/2Oaveに最も近い測定値を示した測定点を、正極活物質の表面であると推定することができる。
またコバルトの検出量を用いても上記と同様に表面を推定することができる。または複数の遷移金属の検出量の和を用いて同様に推定することもできる。コバルトをはじめとする遷移金属の検出量は化学吸着の影響を受けにくい点で、表面の推定に好適である。
また正極活物質100について線分析または面分析をしたとき、結晶粒界101近傍における添加元素AとコバルトCoの原子数の比(A/Co)は0.020以上0.50以下が好ましい。さらには0.025以上0.30以下が好ましい。さらには0.030以上0.20以下が好ましい。または0.020以上0.30以下が好ましい。または0.020以上0.20以下が好ましい。または0.025以上0.50以下が好ましい。または0.025以上0.20以下が好ましい。または0.030以上0.50以下が好ましい。または0.030以上0.30以下が好ましい。
たとえば添加元素がマグネシウムのとき、正極活物質100について線分析または面分析をしたとき、結晶粒界101近傍におけるマグネシウムとコバルトの原子数の比(Mg/Co)は、0.020以上0.50以下が好ましい。さらには0.025以上0.30以下が好ましい。さらには0.030以上0.20以下が好ましい。または0.020以上0.30以下が好ましい。または0.020以上0.20以下が好ましい。または0.025以上0.50以下が好ましい。または0.025以上0.20以下が好ましい。または0.030以上0.50以下が好ましい。または0.030以上0.30以下が好ましい。また正極活物質100の複数個所、たとえば3箇所以上において上記の範囲であると、添加元素が正極活物質100の表面の狭い範囲に付着するのではなく、正極活物質100の表層部100aに好ましい濃度で広く分布していることを示しているといえる。
≪EPMA≫
EPMA(電子プローブ微小分析)も元素の定量が可能である。面分析ならば各元素の分布を分析することができる。
本発明の一態様の正極活物質100の断面についてEPMA面分析をしたとき、EDXの分析結果と同様に、添加元素から選ばれた一または二以上は濃度勾配を有していることが好ましい。また添加元素によって、濃度ピークの表面からの深さが異なっていることがより好ましい。各添加元素の濃度ピークの好ましい範囲も、EDXの場合と同様である。
ただしEPMAでは表面から1μm程度の深さまでの領域を分析する。そのため、各元素の定量値が他の分析法を用いた測定結果と異なる場合がある。たとえば正極活物質100の表面分析をEPMAで行ったとき、表層部100aに存在する各添加元素の濃度が、XPSの結果より低くなる場合がある。
≪充電曲線とdQ/dVvsV曲線≫
本発明の一態様の正極活物質100は、充電していくとき特徴的な電圧の変化が表れることがある。電圧の変化は、充電曲線の容量(Q)を電圧(V)で微分(dQ/dV)することで得られるdQ/dVvsV曲線から読み取ることができる。たとえばdQ/dVvsV曲線におけるピークの前後では、非平衡な相変化が起き、結晶構造が大きく変わっていると考えられる。なお本明細書等において、非平衡な相変化とは、物理量の非線形変化を起こす現象をいうこととする。
本発明の一態様の正極活物質100は、dQ/dVvsV曲線において、4.55V付近にブロードなピークを有する場合がある。4.55V付近のピークは、O3型結晶構造からO3’型結晶構造へと相変化する際の電圧の変化を反映している。そのためこのピークがブロードであることは、ピークが鋭い場合よりもリチウムが引き抜かれるのに必要なエネルギーの変化が少ない、すなわち結晶構造の変化が少ないことを意味する。これらの変化は少ない方が、CoO層のずれおよび体積の変化の影響が少なく、好ましい。
より具体的には、充電曲線のdQ/dVvsV曲線において、4.5V以上4.6V以下に現れる最大値を第1のピークとしたとき、第1のピークの半値全幅が0.10V以上であると十分にブロードであるといえ、好ましい。本明細書等において第1のピークの半値全幅は、4.3V以上4.5V以下に現れるdQ/dV値の最小値を第1の最小値としたときの、第1のピークと第1の最小値との平均値HWHMと、4.6V以上4.8V以下に現れるdQ/dV値の最小値を第2の最小値としたときの第1のピークと第2の最小値との平均値HWHMと、の差とする。
dQ/dVvsV曲線を取得する際の充電は、たとえば4.9Vまで10mA/gで定電流充電とすることができる。また初回充電のdQ/dVを取得するときは、測定前に20mA/g以上100mA/g以下で2.5Vまで放電したのちに上記充電を開始することが好ましい。
充電時のデータ取り込み間隔の設定は、たとえば1秒間隔または1mVの電圧変動があったときの電圧および電流を取り込む設定とすることができる。電流値と時間を積算した値を充電容量とする。
上記充電容量のデータの、n番目とn+1番目データの差分を、容量の変化dQのn番目の値とする。同様に上記電圧データの、n番目とn+1番目データの差分を、電圧の変化dVのn番目の値とする。
ただし上記のデータを用いると微細なノイズの影響が大きいため、電圧および充電容量の差分について、ある区間数の移動平均からdQ/dV値を求めてもよい。区間数はたとえば500とすることができる。
具体的には、dQのn番目からn+500番目までの平均値を算出し、同様にdVのn番目からn+500番目までの平均値を算出する。dQ(500個平均)/dV(500個平均)を、dQ/dV値とすることができる。dQ/dVvsVグラフにおける横軸の電圧も、同じように区間数500の移動平均の値を用いることができる。なお上記のような区間数500の移動平均を用いる場合は、最後から501番目のデータから最後のデータはノイズの影響が大きくなるため、dQ/dVvsVグラフには用いないことが好ましい。
また複数回充放電した後のdQ/dVvsV曲線を分析する場合、該複数回の充放電条件は上記の充電条件と異なっていてもよい。たとえば充電は任意の電圧(たとえば4.6V、4.65V、4.7V、4.75Vまたは4.8V)、20mA/g以上100mA/g以下で定電流充電し、その後電流値が2mA/g以上10mA/g以下となるまで定電圧充電し、放電は2.5V、20mA/g以上100mA/g以下で定電流放電とすることができる。
なお、4.55V付近においてO3型結晶構造からO3’型結晶構造へと相変化するが、このときのO3型結晶構造はLiCoO中のxが0.3程度である。これは図5で説明したx=1のO3型結晶構造と同じ対称性を有するが、CoO層間の距離は若干異なる。本明細書等において、xの大きさの異なるO3型結晶構造を区別する場合、x=1のO3型結晶構造をO3(2θ=18.85)、x=0.3程度のO3型結晶構造をO3(2θ=18.57)ということとする。これは、XRD測定において2θが19°付近に現れるピークの位置が、CoO層間距離と対応するためである。
≪放電曲線とdQ/dVvsV曲線≫
また、本発明の一態様の正極活物質100は、高電圧で充電した後、たとえば40mA/g以下の低い電流で放電すると、放電終了間近に特徴的な電圧の変化が表れることがある。この変化は、放電曲線から求めたdQ/dVvsV曲線において、3.9V前後に出現するピークよりも低電圧で、3.5Vまでの範囲に、少なくとも1つのピークが存在することで明瞭に確かめることができる。
≪ESR≫
本発明の一態様の正極活物質100はコバルトを有し、添加元素としてニッケルおよびマグネシウムを有することが好ましい。その結果一部のCo3+がNi3+に置換され、また一部のLiがMg2+に置換されることが好ましい。LiがMg2+に置換されることに伴い、当該Ni3+は還元されて、Ni2+になることがある。また、一部のLiがMg2+に置換され、それに伴いMg2+近傍のCo3+が還元されてCo2+になる場合がある。また、一部のCo3+がMg2+に置換され、それに伴いMg2+近傍のCo3+が酸化されてCo4+になる場合がある。
したがって正極活物質100は、Ni2+、Ni3+、Co2+及びCo4+のいずれか一以上を有することが好ましい。また、正極活物質100の重量当たりのNi2+、Ni3+、Co2+及びCo4+のいずれか一以上に起因するスピン密度が、2.0×1017spins/g以上1.0×1021spins/g以下であることが好ましい。前述のスピン密度を有する正極活物質100とすることで、特に充電状態での結晶構造が安定となり好ましい。なお、マグネシウム濃度が高すぎると、Ni2+、Ni3+、Co2+及びCo4+のいずれか一以上に起因するスピン密度が低くなる場合がある。
正極活物質中のスピン密度は、例えば、電子スピン共鳴法(ESR:Electron Spin Resonance)などを用いて分析することができる。
≪表面粗さと比表面積≫
本発明の一態様の正極活物質100は、表面がなめらかで凹凸が少ないことが好ましい。表面がなめらかで凹凸が少ないことは、後述する融剤の効果が十分に発揮されて、添加元素源とコバルト酸リチウムの表面が溶融したことを示す。そのため表層部100aにおける添加元素の分布が良好であることを示す一つの要素である。
表面がなめらかで凹凸が少ないことは、たとえば正極活物質100の断面SEM像または断面TEM像、正極活物質100の比表面積等から判断することができる。
たとえば以下のように、正極活物質100の断面SEM像から表面のなめらかさを数値化することができる。
まず正極活物質100をFIB等により加工して断面を露出させる。このとき保護膜、保護剤等で正極活物質100を覆うことが好ましい。次に保護膜等と正極活物質100との界面のSEM像を撮影する。該SEM像に画像処理ソフトでノイズ処理を行う。たとえばガウスぼかし(σ=2)を行った後、二値化を行う。さらに画像処理ソフトで界面抽出を行う。さらに自動選択ツール等で保護膜等と正極活物質100との界面ラインを選択し、データを表計算ソフト等に抽出する。表計算ソフト等の機能を用いて、回帰曲線(二次回帰)から補正を行い、傾き補正後データからラフネス算出用パラメータを求め、標準偏差を算出した二乗平均平方根表面粗さ(RMS)を求める。また、この表面粗さは、正極活物質は少なくとも粒子外周の400nmにおける表面粗さである。
本実施の形態の正極活物質100の粒子表面においては、ラフネスの指標である二乗平均平方根(RMS)表面粗さは3nm未満、好ましくは1nm未満、さらに好ましくは0.5nm未満の二乗平均平方根表面粗さ(RMS)であることが好ましい。
なおノイズ処理、界面抽出等を行う画像処理ソフトについては特に限定されないが、たとえば非特許文献6乃至非特許文献8に記載の「ImageJ」を用いることができる。また表計算ソフト等についても特に限定されないが、たとえばMicrosoft Office Excelを用いることができる。
またたとえば、定容法によるガス吸着法にて測定した実際の比表面積Sと、理想的な比表面積Sとの比からも、正極活物質100の表面のなめらかさを数値化することができる。
理想的な比表面積Sは、すべての粒子の直径がD50と同じであり、重量が同じであり、形状は理想的な球であるとして計算して求める。
メディアン径D50は、レーザ回折・散乱法を用いた粒度分布計等によって測定することができる。比表面積は、たとえば定容法によるガス吸着法を用いた比表面積測定装置等によって測定することができる。
本発明の一態様の正極活物質100は、メディアン径D50から求めた理想的な比表面積Sと、実際の比表面積Sの比S/Sが2.1以下であることが好ましい。
または、下記のような方法によっても正極活物質100の断面SEM像から表面のなめらかさを数値化することができる。
まず正極活物質100の表面SEM像を取得する。このとき観察前処理として導電性コーティングを施してもよい。観察面は電子線と垂直であることが好ましい。複数のサンプルを比較する場合は測定条件および観察面積を同じとする。
次に画像処理ソフト(たとえば「ImageJ」)を用いて上記のSEM像をたとえば8ビットに変換した画像(これをグレースケール画像と呼ぶ)を取得する。グレースケール画像は輝度(明るさ情報)を含んでいる。たとえば8ビットのグレースケール画像では、輝度を2の8乗=256階調で表すことができる。暗い部分は階調数が低くなり、明るい部分は階調数が高くなる。階調数と関連付けて輝度変化を数値化することができる。当該数値をグレースケール値と呼ぶ。グレースケール値を取得することで正極活物質の凹凸を数値として評価することが可能となる。
さらに対象領域の輝度変化をヒストグラムで表すことも可能となる。ヒストグラムとは対象領域における階調分布を立体的に示したもので、輝度ヒストグラムとも呼ぶ。輝度ヒストグラムを取得することで正極活物質の凹凸を視覚的にわかりやすく、評価することが可能となる。
本発明の一態様の正極活物質100は、上記グレースケール値の最大値と最小値との差が120以下であることが好ましく、115以下であることがより好ましく、70以上115以下であることがさらに好ましい。またグレースケール値の標準偏差は、11以下となることが好ましく、8以下であることがより好ましく、4以上8以下であることがさらに好ましい。
≪電流休止法≫
本発明の一態様の正極活物質100が表層部に有するマグネシウムをはじめとする添加元素は、充放電を繰り返す過程で分布が若干変化する場合がある。たとえば添加元素の分布がより良好になり、電子伝導抵抗が低下する場合がある。そのため充放電サイクルの初期において電気的な抵抗、すなわち電流休止法により測定される応答が速い抵抗成分R(0.1s)が下がる場合がある。
たとえばn(nは1より大きい自然数)回目の充電と、n+1回目の充電を比較したとき、電流休止法により測定される応答が速い抵抗成分R(0.1s)がn回目よりもn+1回目で低くなる場合がある。これに伴い、n回目の放電容量よりも、n+1回目の放電容量が高い場合がある。nが1の場合、つまり初回充電と2回目の充電を比較したとき、2回目の充電容量が大きくなることは、特に添加元素を含まない正極活物質でもありうるため、nはたとえば2以上10以下であることが好ましい。ただし充放電サイクルの初期であればこれに限らない。定格容量と同程度、たとえば定格容量の97%以上の充放電容量を有する場合は充放電サイクルの初期ということができる。
≪ラマン分光法≫
本発明の一態様の正極活物質100は、上述したように、表層部100aの少なくとも一部が、岩塩型の結晶構造を有することが好ましい。そのため、正極活物質100およびこれを有する正極をラマン分光法で分析したとき、層状岩塩の結晶構造と共に、岩塩型をはじめとする立方晶系の結晶構造も観測されることが好ましい。後述するSTEM像および極微電子線回折パターンでは、観察時の奥行き方向にある程度の頻度でリチウム位置に置換したコバルト、および酸素4配位位置に存在するコバルト等が無いと、STEM像および極微電子線回折パターンの輝点として検出することができない。一方で、ラマン分光法はCo-Oなどの結合の振動モードをとらえる分析であるため、該当するCo-O結合の存在量が少なくても、対応する振動モードの波数のピークが観測できる場合がある。さらに、ラマン分光法は、表層部の面積数μm、深さ1μmくらいの範囲を測定できるため、粒子表面にのみ存在する状態を感度よく捉えることができる。
たとえばレーザ波長532nmのとき、層状岩塩型のLiCoOでは、470cm-1乃至490cm-1、580cm-1乃至600cm-1にピーク(振動モード:E、A1g)が観測される。一方、立方晶系CoO(0<x<1)(岩塩型Co1-yO(0<y<1)またはスピネル型Co)では、665cm-1乃至685cm-1にピーク(振動モード:A1g)が観測される。
そのため、各ピークの積分強度を470cm-1乃至490cm-1をI1、580cm-1乃至600cm-1をI2、665cm-1乃至685cm-1をI3としたとき、I3/I2の値が1%以上10%以下であることが好ましく、3%以上9%以下であることがより好ましい。
上記のような範囲で岩塩型をはじめとする立方晶系の結晶構造が観測されれば、正極活物質100の表層部100aに好ましい範囲で岩塩型の結晶構造を有しているといえる。
≪極微電子線回折パターン≫
ラマン分光法と同様に極微電子線回折パターンでも、層状岩塩の結晶構造と共に、岩塩型の結晶構造の特徴も観察されることが好ましい。ただしSTEM像および極微電子線回折パターンにおいては、上述の感度の違いも踏まえ、表層部100a、なかでも最表面(たとえば表面から深さ1nm)において岩塩型の結晶構造の特徴が強くなりすぎないことが好ましい。最表面が岩塩型の結晶構造で覆われるよりも、層状岩塩型の結晶構造を有したままリチウム層にマグネシウム等の添加元素が存在する方が、リチウムの拡散経路を確保でき、かつ結晶構造を安定化させる機能がより強くなるためである。
そのためたとえば表面から深さ1nm以下の領域の極微電子線回折パターンと、深さ3nm以上10nm以下までの領域の極微電子線回折パターンとを取得したとき、これらから算出される格子定数の差が小さい方が好ましい。
たとえば表面から深さ1nm以下の測定箇所と、深さ3nm以上10nm以下までの測定箇所から算出される格子定数の差は、a軸について0.1Å以下であると好ましく、c軸について1.0Å以下であると好ましい。またa軸について0.05Å以下であるとより好ましく、c軸について0.6Å以下であるとより好ましい。またa軸について0.04Å以下であるとさらに好ましく、c軸について0.3Å以下であるとさらに好ましい。
<追加の特徴>
正極活物質100は凹部、クラック、窪み、断面V字形などを有する場合がある。これらは欠陥の一つであり、充放電を繰り返すとこれらからコバルトの溶出、結晶構造の崩れ、正極活物質100の割れ、酸素の脱離などが生じる恐れがある。しかこれらを埋め込むように図1(A)に示すような埋め込み部102が存在すると、コバルトの溶出などを抑制することができる。そのため信頼性およびサイクル特性の優れた正極活物質100とすることができる。
上述したように正極活物質100が有する添加元素は、過剰であるとリチウムの挿入および脱離に悪影響が出る恐れがある。また正極活物質100を二次電池に用いたときに内部抵抗の上昇、充放電容量の低下等を招く恐れもある。一方、不足であると表層部100a全体に分布せず、結晶構造の劣化を抑制する効果が不十分になる恐れがある。このように添加元素は正極活物質100において適切な濃度である必要があるが、その調整は容易ではない。
そのため正極活物質100が、添加元素が偏在する領域を有していると、過剰な添加元素の原子の一部が正極活物質100の内部100bから除かれ、内部100bにおいて適切な添加元素濃度とすることができる。これにより二次電池としたときの内部抵抗の上昇、充放電容量の低下等を抑制することができる。二次電池の内部抵抗の上昇を抑制できることは、特に大電流での充放電、たとえば400mA/g以上での充放電において極めて好ましい特性である。
また添加元素が偏在している領域を有する正極活物質100では、作製工程においてある程度過剰に添加元素を混合することが許容される。そのため生産におけるマージンが広くなり好ましい。
また正極活物質100の表面の少なくとも一部に、被覆部が付着していてもよい。図13に被覆部104が付着した正極活物質100の例を示す。
被覆部104はたとえば充放電に伴い電解質および有機電解液の分解物が堆積して形成されたものであることが好ましい。特にLiCoO中のxが0.24以下となるような充電を繰り返す場合、正極活物質100の表面に電解液由来の被覆部を有することで、充放電サイクル特性が向上することが期待される。これは正極活物質表面のインピーダンスの上昇を抑制する、またはコバルトの溶出を抑制する、等の理由による。被覆部104はたとえば炭素、酸素およびフッ素を有することが好ましい。さらに電解液にLiBOB、および/またはSUN(スベロニトリル)を用いた場合などは良質な被覆部を得られやすい。そのため、ホウ素、窒素、硫黄およびフッ素から選ばれた一または二以上を有する被覆部104は良質な被覆部である場合があり好ましい。また被覆部104は正極活物質100の全てを覆っていなくてもよい。たとえば、正極活物質100の表面の50%以上を覆っていればよく、70%以上であればより好ましく、90%以上であればさらに好ましい。
また正極活物質は、4.5V以上で充電するような条件、または高温、たとえば45℃以上の環境で充放電することにより、表面から内部に向かって深くまで進む進行性の欠陥が生じる場合がある。正極活物質において欠陥が進行して穴を形成する現象を孔食(Pitting Corrosion)とも呼ぶことができ、この現象で発生した穴を本明細書ではピットとも呼ぶ。
図14にピットを有する正極活物質51の断面模式図を示す。陽イオンの配列と平行な結晶面55を併せて示した。図14は断面図であるためピット54およびピット58を穴として示しているが、これらの開口形状は円ではなく奥行きがあり溝のような形状を有する。またピット54およびピット58に示すように、凹部52と異なりリチウムイオンの配列と平行に生じやすい。
また正極活物質51のうち添加元素の存在する表層部を53および56で示す。ピットが生じた表層部は添加元素が53および56よりも少ないか濃度が検出下限以下であり、バリア膜の機能が減じていると予想される。またピットができる近傍ではコバルト酸リチウムの結晶構造が崩れ、層状岩塩型とは異なった結晶構造になると考えられる。結晶構造が崩れるとキャリアイオンであるリチウムイオンの拡散及び放出を阻害するため、ピットはサイクル特性劣化の要因と考えられる。
ピットの発生源は点欠陥の可能性がある。正極活物質が有する点欠陥が充放電を繰り返すことで変化し、周囲の電解質等によって化学的または電気化学的に侵食されるか、若しくは材質が劣化してピットが生じると考えられる。この劣化は、正極活物質の表面で均一に発生するのではなく、局部的に集中して生じる。
また、図14のクラック57に示すように、充放電による正極活物質の膨張および収縮によりクラック(割れ目とも呼ぶ)などの欠陥が発生する場合もある。本明細書において、クラックとピットは異なる。正極活物質の作製直後にクラックは存在してもピットは存在しない。ピットは、たとえば4.5V以上の高電圧条件または高温(45℃以上)下で充放電することにより、コバルトおよび酸素が何層分か抜けた穴とも言え、コバルトが溶出した箇所ともいえる。クラックはたとえば物理的な圧力が加えられることで生じる新たな面、或いは結晶粒界101が起因となって生じた割れ目を指す。充放電による正極活物質の膨張および収縮によりクラックが発生する場合もある。また、クラックおよび/または正極活物質内部の空洞からピットが発生する場合もある。
本実施の形態は、他の実施の形態と組み合わせ用いることができる。
(実施の形態2)
本実施の形態では、本発明を実施する一形態である正極活物質100の作製方法の例について説明する。
先の実施の形態で説明したような添加元素の分布、組成、および/または結晶構造を有する正極活物質100を作製するためには、添加元素の加え方が重要である。同時に内部100bの結晶性が良好であることも重要である。
そのため正極活物質100の作製工程において、まずコバルト酸リチウムを合成し、その後添加元素源を混合して加熱処理を行うことが好ましい。
コバルト源と、リチウム源と同時に添加元素源を混合して、添加元素を有するコバルト酸リチウムを合成する方法では、表層部100aの添加元素濃度を高めることが難しい。またコバルト酸リチウムを合成した後、添加元素源を混合するのみで加熱を行わなければ、添加元素はコバルト酸リチウムに固溶することなく付着するのみである。十分な加熱を経なければ、やはり添加元素を良好に分布させることが難しい。そのためコバルト酸リチウムを合成してから添加元素源を混合し、加熱処理を行うことが好ましい。この添加元素源を混合した後の加熱処理をアニールという場合がある。
しかしながらアニールの温度が高すぎると、カチオンミキシングが生じて添加元素、たとえばマグネシウムがコバルトサイトに入る可能性が高まる。コバルトサイトに存在するマグネシウムは、LiCoO中のxが小さいときR-3mの層状岩塩型の結晶構造を保つ効果がない。さらに、加熱処理の温度が高すぎると、コバルトが還元されて2価になってしまう、リチウムが蒸散するなどの悪影響も懸念される。
そこで添加元素源と共に、融剤として機能する材料を混合することが好ましい。コバルト酸リチウムより融点が低ければ、融剤として機能する材料といえる。たとえばフッ化リチウムをはじめとするフッ素化合物が好適である。融剤を加えることで、添加元素源と、コバルト酸リチウムの融点降下が起こる。融点降下させることでカチオンミキシングが生じにくい温度で、添加元素を良好に分布させることが容易となる。
〔初期加熱〕
さらにコバルト酸リチウムを合成した後、添加元素を混合する前にも加熱を行うとより好ましい。この加熱を初期加熱という場合がある。
初期加熱により、コバルト酸リチウムの表層部100aの一部からリチウムが脱離する影響で、添加元素の分布がさらに良好になる。
より詳細には以下のような機序で、初期加熱により添加元素によって分布を異ならせやすくなると考えられる。まず初期加熱により表層部100aの一部からリチウムが脱離する。次にこのリチウムが欠乏した表層部100aを有するコバルト酸リチウムと、ニッケル源、アルミニウム源、マグネシウム源をはじめとする添加元素源を混合し加熱する。添加元素のうちマグネシウムは2価の典型元素であり、ニッケルは遷移金属であるが2価のイオンになりやすい。そのため表層部100aの一部に、Mg2+およびNi2+と、リチウムの欠乏により還元されたCo2+と、を有する岩塩型の相が形成される。ただし、この相が形成されるのは表層部100aの一部であるため、STEMなどの電子顕微鏡像および電子線回折パターンにおいて明瞭に確認できない場合もある。
添加元素のうちニッケルは、表層部100aが層状岩塩型のコバルト酸リチウムの場合は固溶しやすく内部100bまで拡散するが、表層部100aの一部が岩塩型の場合は表層部100aにとどまりやすい。そのため、初期加熱を行うことでニッケルをはじめとする2価の添加元素を表層部100aに留まりやすくすることができる。この初期加熱の効果は特に正極活物質100の(001)配向以外の表面およびその表層部100aにおいて大きい。
またこれらの岩塩型では、金属Meと酸素の結合距離(Me-O距離)が層状岩塩型よりも長くなる傾向にある。
たとえば岩塩型Ni0.5Mg0.5OにおけるMe-O距離は2.09Å、岩塩型MgOにおけるMe-O距離は2.11Åである。また仮に表層部100aの一部にスピネル型の相が形成されたとしても、スピネル型NiAlのMe-O距離は2.0125Å、スピネル型MgAlのMe-O距離は2.02Åである。いずれもMe-O距離は2Åを超える。なお1Å=10-10mである。
一方、層状岩塩型では、リチウム以外の金属と酸素の結合距離は上記より短い。たとえば層状岩塩型LiAlOにおけるAl-O距離は1.905Å(Li-O距離は2.11Å)である。また層状岩塩型LiCoOにおけるCo-O距離は1.9224Å(Li-O距離は2.0916Å)である。
なおシャノンのイオン半径(Shannon et al., Acta A 32 (1976) 751.)によれば、6配位のアルミニウムのイオン半径は0.535Å、6配位の酸素のイオン半径は1.4Åであり、これらの和は1.935Åである。
以上から、アルミニウムは、岩塩型よりも層状岩塩型のリチウム以外のサイトでより安定に存在すると考えられる。そのため、アルミニウムは表層部100aの中でも岩塩型の相を有する表面に近い領域よりも、層状岩塩型を有するより深い領域、および/または内部100bに分布しやすい。
また初期加熱により、内部100bの層状岩塩型の結晶構造の結晶性を高める効果も期待できる。
そのため、特にLiCoO中のxがたとえば0.15以上0.17以下のときに単斜晶O1(15)型結晶構造を有する正極活物質100を作製するには、この初期加熱を行うことが好ましい。
しかし、必ずしも初期加熱は行わなくてもよい。他の加熱工程、たとえばアニールにおいて、雰囲気、温度、時間等を制御することで、LiCoO中のxが小さいときにO3’型および/または単斜晶O1(15)型を有する正極活物質100を作製できる場合がある。
《正極活物質の作製方法1》
アニールおよび初期加熱を経る正極活物質100の作製方法1について、図15(A)乃至図15(C)を用いて説明する。
<ステップS11>
図15(A)に示すステップS11では、出発材料であるリチウム及び遷移金属の材料として、それぞれリチウム源(Li源)及びコバルト源(Co源)を準備する。
リチウム源としては、リチウムを有する化合物を用いると好ましく、例えば炭酸リチウム、水酸化リチウム、硝酸リチウム、又はフッ化リチウム等を用いることができる。リチウム源は純度が高いと好ましく、例えば純度が99.99%以上の材料を用いるとよい。
コバルト源としては、コバルトを有する化合物を用いると好ましく、例えば酸化コバルト、水酸化コバルト等を用いることができる。
コバルト源は純度が高いと好ましく、例えば純度が3N(99.9%)以上、好ましくは4N(99.99%)以上、より好ましくは4N5(99.995%)以上、さらに好ましくは5N(99.999%)以上の材料を用いるとよい。高純度の材料を用いることで、正極活物質の不純物を制御することができる。その結果、二次電池の容量が高まり、及び/または二次電池の信頼性が向上する。
加えて、コバルト源の結晶性が高いと好ましく、例えば単結晶粒を有するとよい。コバルト源の結晶性の評価としては、TEM(透過電子顕微鏡)像、STEM(走査透過電子顕微鏡)像、HAADF-STEM(高角散乱環状暗視野走査透過電子顕微鏡)像、ABF-STEM(環状明視野走査透過電子顕微鏡)像等による評価、またはX線回折(XRD)、電子線回折、中性子線回折等の評価がある。なお、上記の結晶性の評価に関する手法は、コバルト源だけではなく、その他の結晶性の評価にも適用することができる。
<ステップS12>
次に、図15(A)に示すステップS12として、リチウム源及びコバルト源を粉砕及び混合して、混合材料を作製する。粉砕及び混合は、乾式または湿式で行うことができる。湿式はより小さく解砕することができるため好ましい。湿式で行う場合は、溶媒を準備する。溶媒としてはアセトン等のケトン、エタノール及びイソプロパノール等のアルコール、エーテル、ジオキサン、アセトニトリル、N-メチル-2-ピロリドン(NMP)等を用いることができる。リチウムと反応が起こりにくい、非プロトン性溶媒を用いることがより好ましい。本実施の形態では、純度が99.5%以上の脱水アセトンを用いることとする。水分含有量を10ppm以下まで抑えた、純度が99.5%以上の脱水アセトンにリチウム源及びコバルト源を混合して、粉砕及び混合を行うと好適である。上記のような純度の脱水アセトンを用いることで、混入しうる不純物を低減することができる。
粉砕及び混合の手段にはボールミル、またはビーズミル等を用いることができる。ボールミルを用いる場合は、粉砕メディアとして酸化アルミニウムボール又は酸化ジルコニウムボールを用いるとよい。酸化ジルコニウムボールは不純物の排出が少なく好ましい。また、ボールミル、またはビーズミル等を用いる場合、メディアからのコンタミネーションを抑制するために、周速を、100mm/s以上2000mm/s以下とするとよい。本実施の形態では、周速838mm/s(回転数400rpm、ボールミルの直径40mm)として実施する。
<ステップS13>
次に、図15(A)に示すステップS13として、上記混合材料を加熱する。加熱は、800℃以上1100℃以下で行うことが好ましく、900℃以上1000℃以下で行うことがより好ましく、950℃程度がさらに好ましい。温度が低すぎると、リチウム源及びコバルト源の分解及び溶融が不十分となるおそれがある。一方温度が高すぎると、リチウム源からリチウムが蒸散する、及び/またはコバルトが過剰に還元される、などが原因となり欠陥が生じるおそれがある。例えばコバルトが3価から2価へ変化し、酸素欠陥などが誘発されることがある。
加熱時間は短すぎるとコバルト酸リチウムが合成されないが、長すぎると生産性が低下する。たとえば加熱時間は1時間以上100時間以下とするとよく、2時間以上20時間以下とすることがさらに好ましい。
昇温レートは、加熱温度の到達温度によるが、80℃/h以上250℃/h以下がよい。たとえば1000℃で10時間加熱する場合、昇温レートは200℃/hとするとよい。
加熱は、乾燥空気等の水が少ない雰囲気で行うことが好ましく、例えば露点が-50℃以下、より好ましくは露点が-80℃以下の雰囲気がよい。本実施の形態においては、露点-93℃の雰囲気にて、加熱を行うこととする。また材料中に混入しうる不純物を抑制するためには、加熱雰囲気におけるCH、CO、CO、及びH等の不純物濃度が、それぞれ5ppb(parts per billion)以下にするとよい。
加熱雰囲気として酸素を有する雰囲気が好ましい。例えば反応室に乾燥空気を導入し続ける方法がある。この場合、乾燥空気の流量は10L/minとすることが好ましい。酸素を反応室へ導入し続け、酸素が反応室内を流れている方法をフローと呼ぶ。
加熱雰囲気を、酸素を有する雰囲気とする場合、フローさせないやり方でもよい。例えば反応室を減圧してから酸素を充填し(パージし、といってもよい)、当該酸素が反応室から出入りしないようにする方法でもよい。たとえば反応室を-970hPaまで減圧してから、50hPaまで酸素を充填すればよい。
加熱後の冷却は自然放冷でよいが、規定温度から室温までの降温時間が10時間以上50時間以下に収まると好ましい。ただし、必ずしも室温までの冷却は要せず、次のステップが許容する温度まで冷却されればよい。
本工程の加熱は、ロータリーキルン又はローラーハースキルンによる加熱を行ってもよい。ロータリーキルンによる加熱は、連続式、バッチ式いずれの場合でも攪拌しながら加熱することができる。
加熱の際に用いる、るつぼは酸化アルミニウムのるつぼが好ましい。酸化アルミニウムのるつぼは不純物を放出しにくい材質である。本実施の形態においては、純度が99.9%の酸化アルミニウムのるつぼを用いる。るつぼには蓋を配して加熱すると好ましい。材料の揮発を防ぐことができる。
またるつぼは新品のものよりも、中古のものを用いることが好ましい。本明細書等において新品のるつぼとは、リチウム、遷移金属M、および/または添加元素を含む材料を入れて加熱する工程が2回以下のものをいうこととする。また中古のるつぼとは、リチウム、遷移金属Mおよび/または添加元素を含む材料を入れて加熱する工程を3回以上経たものということとする。これは新品のるつぼを用いると、加熱の際にフッ化リチウムをはじめとする材料の一部がさやに吸収、拡散、移動および/または付着する恐れがあるためである。これらにより材料の一部が失われると、特に正極活物質の表層部の元素の分布が好ましい範囲にならない懸念が高まる。一方で中古のるつぼではこの恐れが少ない。
加熱が終わったあと、必要に応じて粉砕し、さらにふるいを実施してもよい。加熱後の材料を回収する際に、るつぼから乳鉢へ移動させたのち回収してもよい。また、当該乳鉢は酸化アルミニウムの乳鉢を用いると好適である。酸化アルミニウムの乳鉢は不純物を放出しにくい材質である。具体的には、純度が90%以上、好ましくは純度が99%以上の酸化アルミニウムの乳鉢を用いる。なお、ステップS13以外の後述の加熱の工程においても、ステップS13と同等の加熱条件を適用できる。
<ステップS14>
以上の工程により、図15(A)に示すステップS14で示すコバルト酸リチウム(LiCoO)を合成することができる。
ステップS11乃至ステップS14のように固相法で複合酸化物を作製する例を示したが、共沈法で複合酸化物を作製してもよい。また水熱法で複合酸化物を作製してもよい。
<ステップS15>
次に、図15(A)に示すステップS15としてコバルト酸リチウムを加熱する。コバルト酸リチウムに対する最初の加熱のため、ステップS15の加熱を初期加熱と呼ぶことがある。または以下に示すステップS20の前に加熱するものであるため、予備加熱又は前処理と呼ぶことがある。
初期加熱により、上述したようにコバルト酸リチウムの表層部100aの一部からリチウムが脱離する。また内部100bの結晶性を高める効果が期待できる。またステップS11等で準備したリチウム源および/またはコバルト源には、不純物が混入していることがある。ステップS14で完成したコバルト酸リチウムから不純物を低減させることが、初期加熱によって可能である。
さらに初期加熱を経ることで、コバルト酸リチウムの表面がなめらかになる効果がある。表面がなめらかとは、凹凸が少なく、複合酸化物が全体的に丸みを帯び、さらに角部が丸みを帯びる様子をいう。さらに、表面へ付着した異物が少ない状態をなめらかと呼ぶ。異物は凹凸の要因となると考えられ、表面へ付着しない方が好ましい。
この初期加熱には、リチウム化合物源を用意しなくてよい。または、添加元素源を用意しなくてよい。または、融剤として機能する材料を用意しなくてよい。
本工程の加熱時間は短すぎると十分な効果が得られないが、長すぎると生産性が低下する。たとえばステップS13で説明した加熱条件から選択して実施することができる。当該加熱条件に補足すると、本工程の加熱温度は、複合酸化物の結晶構造を維持するため、ステップS13の温度より低くするとよい。また本工程の加熱時間は、複合酸化物の結晶構造を維持するため、ステップS13の時間より短くするとよい。例えば700℃以上1000℃以下の温度で、2時間以上20時間以下の加熱を行うとよい。
また内部100bの結晶性を高める効果とは、たとえばステップS13で作製したコバルト酸リチウムが有する収縮差等に由来する歪み、ずれ等を緩和する効果である。
コバルト酸リチウムは、ステップS13の加熱によって、コバルト酸リチウムの表面と内部に温度差が生じることがある。温度差が生じると収縮差が誘発されることがある。温度差により、表面と内部の流動性が異なるため収縮差が生じるとも考えられる。収縮差に関連するエネルギーは、コバルト酸リチウムに内部応力の差を与えてしまう。内部応力の差は歪みとも称され、当該エネルギーを歪みエネルギーと呼ぶことがある。内部応力はステップS15の初期加熱により除去され、別言すると歪みエネルギーはステップS15の初期加熱により均質化されると考えられる。歪みエネルギーが均質化されるとコバルト酸リチウムの歪みが緩和される。これに伴いコバルト酸リチウムの表面がなめらかになる可能性がある。表面が改善されたとも称する。別言すると、ステップS15を経るとコバルト酸リチウムに生じた収縮差が緩和され、複合酸化物の表面がなめらかになると考えられる。
また収縮差は上記コバルト酸リチウムにミクロなずれ、例えば結晶のずれを生じさせることがある。当該ずれを低減するためにも、本工程を実施するとよい。本工程を経ると、上記複合酸化物のずれを均一化させることが可能である。ずれが均一化されると、複合酸化物の表面がなめらかになる可能性がある。結晶粒の整列が行われたとも称する。別言すると、ステップS15を経ると複合酸化物に生じた結晶等のずれが緩和され、複合酸化物の表面がなめらかになると考えられる。
表面がなめらかなコバルト酸リチウムを正極活物質として用いると、二次電池として充放電した際の劣化が少なくなり、正極活物質の割れを防ぐことができる。
なお、ステップS14としてあらかじめ合成されたコバルト酸リチウムを用いてもよい。この場合、ステップS11乃至ステップS13を省略することができる。あらかじめ合成されたコバルト酸リチウムに対してステップS15を実施することで、表面がなめらかなコバルト酸リチウムを得ることができる。
<ステップS20>
次にステップS20に示すように、初期加熱を経たコバルト酸リチウムに添加元素Aを加えることが好ましい。初期加熱を経たコバルト酸リチウムに添加元素Aを加えると、添加元素Aをムラなく添加することができる。よって、初期加熱後に添加元素Aを添加する順が好ましい。添加元素Aを添加するステップについて、図15(B)、及び図15(C)を用いて説明する。
<ステップS21>
図15(B)に示すステップS21では、コバルト酸リチウムに添加する添加元素A源(A源)を用意する。添加元素A源と合わせて、リチウム源を準備してもよい。
添加元素Aとしては、先の実施の形態で説明した添加元素、たとえば添加元素Xおよび添加元素Yを用いることができる。具体的にはマグネシウム、フッ素、ニッケル、アルミニウム、チタン、ジルコニウム、バナジウム、鉄、マンガン、クロム、ニオブ、ヒ素、亜鉛、ケイ素、硫黄、リンおよびホウ素から選ばれた一または二以上を用いることができる。また臭素、及びベリリウムから選ばれた一または二を用いることもできる。
添加元素にマグネシウムを選んだとき、添加元素源はマグネシウム源と呼ぶことができる。当該マグネシウム源としては、フッ化マグネシウム、酸化マグネシウム、水酸化マグネシウム、又は炭酸マグネシウム等を用いることができる。また上述したマグネシウム源を複数用いてもよい。
添加元素にフッ素を選んだとき、添加元素源はフッ素源と呼ぶことができる。当該フッ素源としては、例えばフッ化リチウム(LiF)、フッ化マグネシウム(MgF)、フッ化アルミニウム(AlF)、フッ化チタン(TiF)、フッ化コバルト(CoF、CoF)、フッ化ニッケル(NiF)、フッ化ジルコニウム(ZrF)、フッ化バナジウム(VF)、フッ化マンガン、フッ化鉄、フッ化クロム、フッ化ニオブ、フッ化亜鉛(ZnF)、フッ化カルシウム(CaF)、フッ化ナトリウム(NaF)、フッ化カリウム(KF)、フッ化バリウム(BaF)、フッ化セリウム(CeF、CeF)、フッ化ランタン(LaF)、又は六フッ化アルミニウムナトリウム(NaAlF)等を用いることができる。なかでも、フッ化リチウムは融点が848℃と比較的低く、後述する加熱工程で溶融しやすいため好ましい。
フッ化マグネシウムはフッ素源としてもマグネシウム源としても用いることができる。またフッ化リチウムはリチウム源としても用いることができる。ステップS21に用いられるその他のリチウム源は炭酸リチウムがある。
またフッ素源は気体でもよく、フッ素(F)、フッ化炭素、フッ化硫黄、又はフッ化酸素(OF、O、O、O、O、O、OF)等を用い、後述する加熱工程において雰囲気中に混合させてもよい。また上述したフッ素源を複数用いてもよい。
本実施の形態では、フッ素源としてフッ化リチウム(LiF)を準備し、フッ素源及びマグネシウム源としてフッ化マグネシウム(MgF)を準備する。フッ化リチウムとフッ化マグネシウムは、LiF:MgF=65:35(モル比)程度で混合すると融点を下げる効果が最も高くなる。一方、フッ化リチウムが多くなると、リチウムが過剰になりすぎサイクル特性が悪化する懸念がある。そのため、フッ化リチウムとフッ化マグネシウムのモル比は、LiF:MgF=x:1(0≦x≦1.9)であることが好ましく、LiF:MgF=x:1(0.1≦x≦0.5)がより好ましく、LiF:MgF=x:1(x=0.33近傍)がさらに好ましい。なお本明細書等において近傍とは、その値の0.9倍より大きく1.1倍より小さい値とする。
<ステップS22>
次に、図15(B)に示すステップS22では、マグネシウム源及びフッ素源を粉砕及び混合する。本工程は、ステップS12で説明した粉砕及び混合の条件から選択して実施することができる。
<ステップS23>
次に、図15(B)に示すステップS23では、上記で粉砕、混合した材料を回収して、添加元素A源(A源)を得ることができる。なお、ステップS23に示す添加元素A源は、複数の出発材料を有するものであり、混合物と呼ぶことができる。
上記混合物の粒径は、D50(メディアン径)が600nm以上10μm以下であることが好ましく、1μm以上5μm以下であることがより好ましい。添加元素源として、一種の材料を用いた場合においても、D50(メディアン径)が600nm以上10μm以下であることが好ましく、1μm以上5μm以下であることがより好ましい。
このような微粉化された混合物(添加元素が1種の場合も含む)であると、後の工程でコバルト酸リチウムと混合したときに、コバルト酸リチウムの粒子の表面に混合物を均一に付着させやすい。コバルト酸リチウムの粒子の表面に混合物が均一に付着していると、加熱後に複合酸化物の表層部100aに均一に添加元素を分布又は拡散させやすいため好ましい。
<ステップS21>
図15(B)とは異なる工程について図15(C)を用いて説明する。図15(C)に示すステップS21では、コバルト酸リチウムに添加する添加元素源を4種用意する。すなわち図15(C)は図15(B)とは添加元素源の種類が異なる。添加元素源と合わせて、リチウム源を準備してもよい。
4種の添加元素源として、マグネシウム源(Mg源)、フッ素源(F源)、ニッケル源(Ni源)、及びアルミニウム源(Al源)を準備する。なお、マグネシウム源及びフッ素源は図15(B)で説明した化合物等から選択することができる。ニッケル源としては、酸化ニッケル、水酸化ニッケル等を用いることができる。アルミニウム源としては、酸化アルミニウム、水酸化アルミニウム、等を用いることができる。
<ステップS22及びステップS23>
図15(C)に示すステップS22及びステップS23は、図15(B)で説明したステップと同様である。
<ステップS31>
次に、図15(A)に示すステップS31では、コバルト酸リチウムと、添加元素A源(A源)とを混合する。コバルト酸リチウム中のコバルトの原子数Coと、添加元素A源が有するマグネシウムの原子数Mgとの比は、Co:Mg=100:y(0.1≦y≦6)であることが好ましく、M:Mg=100:y(0.3≦y≦3)であることがより好ましい。
ステップS31の混合は、コバルト酸リチウムの粒子の形状を破壊させないためにステップS12の混合よりも穏やかな条件とすることが好ましい。例えば、ステップS12の混合よりも回転数が少ない、または時間が短い条件とすることが好ましい。また湿式よりも乾式のほうが穏やかな条件であると言える。混合には例えばボールミル、ビーズミル等を用いることができる。ボールミルを用いる場合は、例えばメディアとして酸化ジルコニウムボールを用いることが好ましい。
本実施の形態では、直径1mmの酸化ジルコニウムボールを用いたボールミルで、150rpm、1時間、乾式で混合することとする。また該混合は、露点が-100℃以上-10℃以下のドライルームで行うこととする。
<ステップS32>
次に、図15(A)のステップS32において、上記で混合した材料を回収し、混合物903を得る。回収の際、必要に応じて解砕した後にふるいを実施してもよい。
なお図15(A)乃至図15(C)では、初期加熱を経た後にのみ添加元素を加える作製方法について説明しているが、本発明は上記方法に限定されない。添加元素は他のタイミングで加えてもよいし、複数回にわたって加えてもよい。元素によってタイミングを変えてもよい。
たとえばステップS11の段階、つまり複合酸化物の出発材料の段階で添加元素をリチウム源及びコバルト源へ添加してもよい。その後ステップS13で添加元素を有するコバルト酸リチウムを得ることができる。この場合は、ステップS11乃至ステップS14の工程と、ステップS21乃至ステップS23の工程を分ける必要がない。簡便で生産性が高い方法であるといえる。
また、あらかじめ添加元素の一部を有するコバルト酸リチウムを用いてもよい。たとえばマグネシウム及びフッ素が添加されたコバルト酸リチウムを用いれば、ステップS11乃至ステップS14、およびステップS20の一部の工程を省略することができる。簡便で生産性が高い方法であるといえる。
また、あらかじめマグネシウム及びフッ素が添加されたコバルト酸リチウムに対して、ステップS15の加熱を行った後、ステップS20のようにマグネシウム源及びフッ素源、又はマグネシウム源、フッ素源、ニッケル源、及びアルミニウム源を添加してもよい。
<ステップS33>
次に、図15(A)に示すステップS33では、混合物903を加熱する。ステップS13で説明した加熱条件から選択して実施することができる。加熱時間は2時間以上が好ましい。
ここで加熱温度について補足する。ステップS33の加熱温度の下限は、コバルト酸リチウムと添加元素源との反応が進む温度以上である必要がある。反応が進む温度とは、コバルト酸リチウムと添加元素源との有する元素の相互拡散が起きる温度であればよく、これらの材料の溶融温度よりも低くてもよい。酸化物を例にして説明するが、溶融温度Tの0.757倍(タンマン温度T)から固相拡散が起こることがわかっている。そのため、ステップS33における加熱温度としては、650℃以上であればよい。
勿論、混合物903が有する材料から選ばれた一または二以上が溶融する温度以上であると、より反応が進みやすい。例えば、添加元素源として、LiF及びMgFを有する場合、LiFとMgFの共融点は742℃付近であるため、ステップS33の加熱温度の下限は742℃以上とすると好ましい。
また、LiCoO:LiF:MgF=100:0.33:1(モル比)となるように混合して得られた混合物903は、示差走査熱量測定(DSC測定)において830℃付近に吸熱ピークが観測される。よって、加熱温度の下限は830℃以上がより好ましい。
加熱温度は高い方が反応が進みやすく、加熱時間が短く済み、生産性が高く好ましい。
加熱温度の上限はコバルト酸リチウムの分解温度(1130℃)未満とする。分解温度の近傍の温度では、微量ではあるがコバルト酸リチウムの分解が懸念される。そのため、1000℃以下であるとより好ましく、950℃以下であるとさらに好ましく、900℃以下であるとさらに好ましい。
これらを踏まえると、ステップS33における加熱温度としては、650℃以上1130℃以下が好ましく、650℃以上1000℃以下がより好ましく、650℃以上950℃以下がさらに好ましく、650℃以上900℃以下がさらに好ましい。また、742℃以上1130℃以下が好ましく、742℃以上1000℃以下がより好ましく、742℃以上950℃以下がさらに好ましく、742℃以上900℃以下がさらに好ましい。また、800℃以上1100℃以下、830℃以上1130℃以下が好ましく、830℃以上1000℃以下がより好ましく、830℃以上950℃以下がさらに好ましく、830℃以上900℃以下がさらに好ましい。なおステップS33における加熱温度は、ステップS13よりも高いとよい。
さらに混合物903を加熱する際、フッ素源等に起因するフッ素またはフッ化物の分圧を適切な範囲に制御することが好ましい。
本実施の形態で説明する作製方法では、一部の材料、例えばフッ素源であるLiFが融剤として機能する場合がある。この機能により加熱温度をコバルト酸リチウムの分解温度未満、例えば742℃以上950℃以下にまで低温化でき、表層部にマグネシウムをはじめとする添加元素を分布させ、良好な特性の正極活物質を作製できる。
しかし、LiFは酸素よりも気体状態での比重が軽いため、加熱によりLiFが揮発する可能性があり、揮発すると混合物903中のLiFが減少してしまう。すると融剤としての機能が弱くなってしまう。よって、LiFの揮発を抑制しつつ、加熱する必要がある。なお、フッ素源等としてLiFを用いなかったとしても、LiCoO表面のLiとフッ素源のFが反応して、LiFが生じ、揮発する可能性もある。そのため、LiFより融点が高いフッ化物を用いたとしても、同じように揮発の抑制が必要である。
そこで、LiFを含む雰囲気で混合物903を加熱すること、すなわち、加熱炉内のLiFの分圧が高い状態で混合物903を加熱することが好ましい。このような加熱により混合物903中のLiFの揮発を抑制することができる。
本工程の加熱は、混合物903の粒子同士が固着しないように加熱すると好ましい。加熱中に混合物903粒子同士が固着すると、雰囲気中の酸素との接触面積が減る、及び添加元素(例えばフッ素)が拡散する経路を阻害することにより、表層部への添加元素(例えばマグネシウム及びフッ素)の分布が悪化する可能性がある。
また、添加元素(例えばフッ素)が表層部に均一に分布するとなめらかで凹凸が少ない正極活物質を得られると考えられている。そのため本工程でステップS15の加熱を経た、表面がなめらかな状態を維持する又はより一層なめらかになるためには、混合物903の粒子同士が固着しない方がよい。
また、ロータリーキルンによって加熱する場合は、キルン内の酸素を含む雰囲気の流量を制御して加熱することが好ましい。例えば酸素を含む雰囲気の流量を少なくする、最初に雰囲気をパージしキルン内に酸素雰囲気を導入した後は雰囲気のフローはしない、等が好ましい。酸素をフローするとフッ素源が蒸散する可能性があり、表面のなめらかさを維持するためには好ましくない。
ローラーハースキルンによって加熱する場合は、例えば混合物903の入った容器に蓋を配することでLiFを含む雰囲気で混合物903を加熱することができる。
加熱時間について補足する。加熱時間は、加熱温度、ステップS14のコバルト酸リチウムの大きさ、及び組成等の条件により変化する。コバルト酸リチウムが小さい場合は、大きい場合よりも低い温度または短い時間がより好ましい場合がある。
図15(A)のステップS14のコバルト酸リチウムのメディアン径(D50)が12μm程度の場合、加熱温度は、例えば650℃以上950℃以下が好ましい。加熱時間は例えば3時間以上60時間以下が好ましく、10時間以上30時間以下がより好ましく、20時間程度がさらに好ましい。なお、加熱後の降温時間は、例えば10時間以上50時間以下とすることが好ましい。
一方、ステップS14のコバルト酸リチウムのメディアン径(D50)が5μm程度の場合、加熱温度は例えば650℃以上950℃以下が好ましい。加熱時間は例えば1時間以上10時間以下が好ましく、5時間程度がより好ましい。なお、加熱後の降温時間は、例えば10時間以上50時間以下とすることが好ましい。
<ステップS34>
次に、図15(A)に示すステップS34では、加熱した材料を回収し、必要に応じて解砕して、正極活物質100を得る。このとき、回収された粒子をさらに、ふるいにかけると好ましい。以上の工程により、本発明の一形態の正極活物質100を作製することができる。本発明の一形態の正極活物質は表面がなめらかである。
《正極活物質の作製方法2》
次に、本発明を実施する一形態であって、正極活物質の作製方法1とは異なる正極活物質の作製方法2について、図16乃至図17(C)を用いて説明する。正極活物質の作製方法2は主に添加元素を加える回数および混合方法が作製方法1とは異なる。その他の記載は作製方法1の記載を参酌することができる。
図16において、図15(A)と同様にステップS11乃至S15までを行い、初期加熱を経たコバルト酸リチウムを準備する。
<ステップS20a>
次にステップS20aに示すように、初期加熱を経たコバルト酸リチウムに添加元素A1を加えることが好ましい。
<ステップS21>
図17(A)に示すステップS21では、第1の添加元素源を準備する。第1の添加元素源としては、図15(B)に示すステップS21で説明した添加元素Aの中から選択して用いることができる。例えば、添加元素A1としては、マグネシウム、フッ素、及びカルシウムの中から選ばれるいずれか一または複数を好適に用いることができる。図17(A)では第1の添加元素源として、マグネシウム源(Mg源)、及びフッ素源(F源)を用いる場合を例示する。
図17(A)に示すステップS21乃至ステップS23については、図15(B)に示すステップS21乃至ステップS23と同様の条件で行うことができる。その結果、ステップS23で添加元素源(A1源)を得ることができる。
また、図16に示すステップS31乃至S33については、図15(A)に示すステップS31乃至S33と同様の工程にて行うことができる。
<ステップS34a>
次に、ステップS33で加熱した材料を回収し、添加元素A1を有するコバルト酸リチウムを作製する。ステップS14の複合酸化物と区別するため第2の複合酸化物とも呼ぶ。
<ステップS40>
図16に示すステップS40では、添加元素A2を添加する。図17(B)及び図17(C)も参照しながら説明する。
<ステップS41>
図17(B)に示すステップS41では、第2の添加元素源を準備する。第2の添加元素源としては、図15(B)に示すステップS21で説明した添加元素Aの中から選択して用いることができる。例えば、添加元素A2としては、ニッケル、チタン、ホウ素、ジルコニウム、及びアルミニウムの中から選ばれるいずれか一または複数を好適に用いることができる。図17(B)では第2の添加元素源として、ニッケル源(Ni源)、及びアルミニウム源(Al源)を用いる場合を例示する。
図17(B)に示すステップS41乃至ステップS43については、図15(B)に示すステップS21乃至ステップS23と同様の条件で行うことができる。その結果、ステップS43で添加元素源(A2源)を得ることができる。
また、図17(C)には、図17(B)を用いて説明したステップの変形例を示す。図17(C)に示すステップS41ではニッケル源(Ni源)、及びアルミニウム源(Al源)を準備し、ステップS42aではそれぞれ独立に粉砕する。その結果、ステップS43では、複数の第2の添加元素源(A2源)を準備することとなる。図17(C)のステップは、ステップS42aにて添加元素を独立に粉砕していることが図17(B)と異なる。
<ステップS51乃至ステップS53>
次に、図16に示すステップS51乃至ステップS53は、図15(A)に示すステップS31乃至ステップS34と同様の条件にて行うことができる。加熱工程に関するステップS53の条件はステップS33より低い温度且つ短い時間でよい。以上の工程により、ステップS54では、本発明の一形態の正極活物質100を作製することができる。本発明の一形態の正極活物質は表面がなめらかである。
図16及び図17に示すように、作製方法2では、コバルト酸リチウムへの添加元素を添加元素A1と、添加元素A2とに分けて導入する。分けて導入することにより、各添加元素の深さ方向のプロファイルを変えることができる。例えば、添加元素A1を内部に比べて表層部で高い濃度となるようにプロファイルし、添加元素A2を表層部に比べて内部で高い濃度となるようにプロファイルすることも可能である。
本実施の形態で示した初期加熱を経ると表面がなめらかな正極活物質を得ることができる。
本実施の形態で示した初期加熱は、コバルト酸リチウムに対して実施する。よって初期加熱は、コバルト酸リチウムを得るための加熱温度よりも低く、かつコバルト酸リチウムを得るための加熱時間よりも短い条件が好ましい。コバルト酸リチウムに添加元素を添加する工程は、初期加熱後が好ましい。当該添加工程は2回以上に分けることが可能である。このような工程順に従うと、初期加熱で得られた表面のなめらかさは維持されるため好ましい。
本実施の形態は、他の実施の形態と組み合わせて用いることができる。
(実施の形態3)
本実施の形態では、図18乃至図21を用いて本発明の一態様の二次電池の例について説明する。
<二次電池の構成例1>
以下に、正極、負極および電解液が、外装体に包まれている二次電池を例にとって説明する。
〔正極〕
正極は、正極活物質層および正極集電体を有する。正極活物質層は正極活物質を有し、導電材(導電助剤と同義)およびバインダを有していてもよい。正極活物質には、先の実施の形態で説明した作製方法を用いて作製した正極活物質を用いる。
また先の実施の形態で説明した正極活物質と、他の正極活物質を混合して用いてもよい。
他の正極活物質としてはたとえばオリビン型の結晶構造、層状岩塩型の結晶構造、またはスピネル型の結晶構造を有する複合酸化物等がある。例えば、LiFePO、LiFeO、LiNiO、LiMn、V、Cr、MnO等の化合物があげられる。
また、他の正極活物質としてLiMn等のマンガンを含むスピネル型の結晶構造を有するリチウム含有材料に、ニッケル酸リチウム(LiNiOまたはLiNi1-x(0<x<1)(M=Co、Al等))を混合すると好ましい。該構成とすることによって、二次電池の特性を向上させることができる。
また、他の正極活物質として、組成式LiMnで表すことができるリチウムマンガン複合酸化物を用いることができる。ここで、元素Mは、リチウム、マンガン以外から選ばれた金属元素、またはシリコン、リンを用いることが好ましく、ニッケルであることがさらに好ましい。また、リチウムマンガン複合酸化物の粒子全体を測定する場合、放電時に0<a/(b+c)<2、かつc>0、かつ0.26≦(b+c)/d<0.5を満たすことが好ましい。なお、リチウムマンガン複合酸化物の粒子全体の金属、シリコン、リン等の組成は、例えばICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析計)を用いて測定することができる。またリチウムマンガン複合酸化物の粒子全体の酸素の組成は、例えばEDX(エネルギー分散型X線分析法)を用いて測定することが可能である。また、ICP-MS分析と併用して、融解ガス分析、XAFS(X線吸収微細構造)分析の価数評価を用いることで求めることができる。なお、リチウムマンガン複合酸化物とは、少なくともリチウムとマンガンとを含む酸化物をいい、クロム、コバルト、アルミニウム、ニッケル、鉄、マグネシウム、モリブデン、亜鉛、インジウム、ガリウム、銅、チタン、ニオブ、シリコン、およびリンなどからなる群から選ばれた一または二以上の元素を含んでいてもよい。
以下に一例として、活物質層200に導電材としてグラフェンまたはグラフェン化合物を用いる場合の断面構成例を説明する。
図18(A)に、活物質層200の縦断面図を示す。活物質層200は、粒状の正極活物質100と、導電材としてのグラフェンまたはグラフェン化合物201と、バインダ(図示せず)と、を含む。
本明細書等においてグラフェン化合物201とは、多層グラフェン、マルチグラフェン、酸化グラフェン、多層酸化グラフェン、マルチ酸化グラフェン、還元された酸化グラフェン、還元された多層酸化グラフェン、還元されたマルチ酸化グラフェン、グラフェン量子ドット等を含む。グラフェン化合物とは、炭素を有し、平板状、シート状等の形状を有し、炭素6員環で形成された二次元的構造を有するものをいう。該炭素6員環で形成された二次元的構造は炭素シートと呼ぶ場合がある。グラフェン化合物は官能基を有してもよい。またグラフェン化合物は屈曲した形状を有することが好ましい。またグラフェン化合物は丸まってカーボンナノファイバーのようになっていてもよい。
本明細書等において酸化グラフェンとは、炭素と、酸素を有し、シート状の形状を有し、官能基、特にエポキシ基、カルボキシ基またはヒドロキシ基を有するものをいう。
本明細書等において還元された酸化グラフェンとは、炭素と、酸素を有し、シート状の形状を有し、炭素6員環で形成された二次元的構造を有するものをいう。還元された酸化グラフェンは1枚でも機能するが、複数枚が積層されていてもよい。還元された酸化グラフェンは、炭素の濃度が80atomic%より大きく、酸素の濃度が2atomic%以上15atomic%以下である部分を有することが好ましい。このような炭素濃度および酸素濃度とすることで、少量でも導電性の高い導電材として機能することができる。また還元された酸化グラフェンは、ラマンスペクトルにおけるGバンドとDバンドの強度比G/Dが1以上であることが好ましい。このような強度比である還元された酸化グラフェンは、少量でも導電性の高い導電材として機能することができる。
グラフェン化合物は、高い導電性を有するという優れた電気特性と、高い柔軟性および高い機械的強度を有するという優れた物理特性と、を有する場合がある。また、グラフェン化合物はシート状の形状を有する。グラフェン化合物は、湾曲面を有する場合があり、接触抵抗の低い面接触を可能とする。また、薄くても導電性が非常に高い場合があり、少ない量で効率よく活物質層内で導電パスを形成することができる。そのため、グラフェン化合物を導電材として用いることにより、活物質と導電材との接触面積を増大させることができる。グラフェン化合物は活物質の80%以上の面積を覆っているとよい。なお、グラフェン化合物が活物質粒子の少なくとも一部にまとわりついていると好ましい。また、グラフェン化合物が活物質粒子の少なくとも一部の上に重なっていると好ましい。また、グラフェン化合物の形状が活物質粒子の形状の少なくとも一部に一致していると好ましい。該活物質粒子の形状とは、たとえば、単一の活物質粒子が有する凹凸、または複数の活物質粒子によって形成される凹凸をいう。また、グラフェン化合物が活物質粒子の少なくとも一部を囲んでいることが好ましい。また、グラフェン化合物は穴が空いていてもよい。
粒子径の小さい活物質粒子、例えば1μm以下の活物質粒子を用いる場合には、活物質粒子の比表面積が大きく、活物質粒子同士を繋ぐ導電パスがより多く必要となる。このような場合には、少ない量でも効率よく導電パスを形成することができるグラフェン化合物を用いると好ましい。
上述のような性質を有するため、急速充電および急速放電が要求される二次電池には、グラフェン化合物を導電材として用いることが特に有効である。例えば2輪または4輪の車両用二次電池、ドローン用二次電池などは急速充電および急速放電特性が要求される場合がある。またモバイル電子機器などでは急速充電特性が要求される場合がある。急速充放電とは、たとえば200mA/g、400mA/g、または1000mA/g以上の充電および放電をいうこととする。
活物質層200の縦断面においては、図18(B)に示すように、活物質層200の内部において概略均一にシート状のグラフェンまたはグラフェン化合物201が分散する。図18(B)においてはグラフェンまたはグラフェン化合物201を模式的に太線で表しているが、実際には炭素分子の単層又は多層の厚みを有する薄膜である。複数のグラフェンまたはグラフェン化合物201は、複数の粒状の正極活物質100を一部覆うように、あるいは複数の粒状の正極活物質100の表面上に張り付くように形成されているため、互いに面接触している。
ここで、複数のグラフェンまたはグラフェン化合物同士が結合することにより、網目状のグラフェン化合物シート(以下グラフェン化合物ネットまたはグラフェンネットと呼ぶ)を形成することができる。活物質をグラフェンネットが被覆する場合に、グラフェンネットは活物質同士を結合するバインダとしても機能することができる。よって、バインダの量を少なくすることができる、又は使用しないことができるため、電極体積および電極重量に占める活物質の比率を向上させることができる。すなわち、二次電池の放電容量を増加させることができる。
ここで、グラフェンまたはグラフェン化合物201として酸化グラフェンを用い、活物質と混合して活物質層200となる層を形成後、還元することが好ましい。つまり完成後の活物質層は還元された酸化グラフェンを有することが好ましい。グラフェンまたはグラフェン化合物201の形成に、極性溶媒中での分散性が極めて高い酸化グラフェンを用いることにより、グラフェンまたはグラフェン化合物201を活物質層200の内部において概略均一に分散させることができる。均一に分散した酸化グラフェンを含有する分散媒から溶媒を揮発除去し、酸化グラフェンを還元するため、活物質層200に残留するグラフェンまたはグラフェン化合物201は部分的に重なり合い、互いに面接触する程度に分散していることで三次元的な導電パスを形成することができる。なお、酸化グラフェンの還元は、例えば熱処理により行ってもよいし、還元剤を用いて行ってもよい。
従って、活物質と点接触するアセチレンブラック等の粒状の導電材と異なり、グラフェンまたはグラフェン化合物201は接触抵抗の低い面接触を可能とするものであるから、通常の導電材よりも少量で粒状の正極活物質100とグラフェンまたはグラフェン化合物201との電気伝導性を向上させることができる。よって、正極活物質100の活物質層200における比率を増加させることができる。これにより、二次電池の放電容量を増加させることができる。
また、予め、スプレードライ装置を用いることで、活物質の表面全体を覆って導電材であるグラフェン化合物を被覆部として形成し、さらに活物質同士間をグラフェン化合物で導電パスを形成することもできる。
またグラフェン化合物と共に、グラフェン化合物を形成する際に用いる材料を混合して活物質層200に用いてもよい。たとえばグラフェン化合物を形成する際の触媒として用いる粒子を、グラフェン化合物と共に混合してもよい。グラフェン化合物を形成する際の触媒としてはたとえば、酸化ケイ素(SiO、SiO(x<2))、酸化アルミニウム、鉄、ニッケル、ルテニウム、イリジウム、プラチナ、銅、ゲルマニウム等を有する粒子が挙げられる。該粒子はメディアン径(D50)が1μm以下であると好ましく、100nm以下であることがより好ましい。
[バインダ]
バインダとしては、例えば、スチレン-ブタジエンゴム(SBR)、スチレン-イソプレン-スチレンゴム、アクリロニトリル-ブタジエンゴム、ブタジエンゴム、エチレン-プロピレン-ジエン共重合体などのゴム材料を用いることが好ましい。またバインダとして、フッ素ゴムを用いることができる。
また、バインダとしては、例えば水溶性の高分子を用いることが好ましい。水溶性の高分子としては、例えば多糖類などを用いることができる。多糖類としては、カルボキシメチルセルロース(CMC)、メチルセルロース、エチルセルロース、ヒドロキシプロピルセルロース、ジアセチルセルロース、再生セルロースなどのセルロース誘導体、澱粉などのうち一以上を用いることができる。また、これらの水溶性の高分子を、前述のゴム材料と併用して用いると、さらに好ましい。
または、バインダとしては、ポリスチレン、ポリアクリル酸メチル、ポリメタクリル酸メチル(ポリメチルメタクリレート、PMMA)、ポリアクリル酸ナトリウム、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリエチレンオキシド(PEO)、ポリプロピレンオキシド、ポリイミド、ポリ塩化ビニル、ポリテトラフルオロエチレン、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリイソブチレン、ポリエチレンテレフタレート、ナイロン、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)、ポリアクリロニトリル(PAN)、エチレンプロピレンジエンポリマー、ポリ酢酸ビニル、ニトロセルロース等の材料を用いることが好ましい。
バインダは上記のうち複数を組み合わせて使用してもよい。
例えば粘度調整効果の特に優れた材料と、他の材料とを組み合わせて使用してもよい。例えばゴム材料等は接着力および/または弾性力に優れる反面、溶媒に混合した場合に粘度調整が難しい場合がある。このような場合には例えば、粘度調整効果の特に優れた材料と混合することが好ましい。粘度調整効果の特に優れた材料としては、例えば水溶性高分子を用いるとよい。また、粘度調整効果に特に優れた水溶性高分子としては、前述の多糖類、例えばカルボキシメチルセルロース(CMC)、メチルセルロース、エチルセルロース、ヒドロキシプロピルセルロースおよびジアセチルセルロース、再生セルロースなどのセルロース誘導体、澱粉などを用いることができる。
なお、カルボキシメチルセルロースなどのセルロース誘導体は、例えばカルボキシメチルセルロースのナトリウム塩およびアンモニウム塩などの塩とすることにより溶解度が上がり、粘度調整剤としての効果を発揮しやすくなる。溶解度が高くなることにより電極のスラリーを作製する際に活物質および他の構成要素との分散性を高めることもできる。本明細書においては、電極のバインダとして使用するセルロースおよびセルロース誘導体としては、それらの塩も含むものとする。
水溶性高分子は水に溶解することにより粘度を安定化させ、また活物質およびバインダとして組み合わせる他の材料、例えばスチレンブタジエンゴムなどを、水溶液中に安定して分散させることができる。また、官能基を有するために活物質表面に安定に吸着しやすいことが期待される。また、例えばカルボキシメチルセルロースなどのセルロース誘導体は、例えば水酸基およびカルボキシル基などの官能基を有する材料が多く、官能基を有するために高分子同士が相互作用し、活物質表面を広く覆って存在することが期待される。
活物質表面を覆う、または表面に接するバインダが膜を形成する場合には、不動態膜としての役割を果たして電解液の分解を抑える効果も期待される。ここで、不動態膜とは、電気の伝導性のない膜、または電気伝導性の極めて低い膜であり、例えば活物質の表面に不動態膜が形成された場合には、電池反応電位において、電解液の分解を抑制することができる。また、不動態膜は、電気の伝導性を抑えるとともに、リチウムイオンは伝導できるとさらに望ましい。
[集電体]
集電体としては、ステンレス、金、白金、アルミニウム、チタン等の金属、及びこれらの合金など、導電性が高い材料をもちいることができる。また正極集電体に用いる材料は、正極の電位で溶出しないことが好ましい。また、シリコン、チタン、ネオジム、スカンジウム、モリブデンなどの耐熱性を向上させる元素が添加されたアルミニウム合金を用いることができる。また、シリコンと反応してシリサイドを形成する金属元素で形成してもよい。シリコンと反応してシリサイドを形成する金属元素としては、ジルコニウム、チタン、ハフニウム、バナジウム、ニオブ、タンタル、クロム、モリブデン、タングステン、コバルト、ニッケル等がある。集電体は、箔状、板状、シート状、網状、パンチングメタル状、エキスパンドメタル状等の形状を適宜用いることができる。集電体は、厚みが5μm以上30μm以下のものを用いるとよい。
〔負極〕
負極は、負極活物質層および負極集電体を有する。また、負極活物質層は、導電材およびバインダを有していてもよい。
[負極活物質]
負極活物質としては、例えば合金系材料および/または炭素系材料等を用いることができる。
負極活物質として、リチウムとの合金化・脱合金化反応により充放電反応を行うことが可能な元素を用いることができる。例えば、シリコン、スズ、ガリウム、アルミニウム、ゲルマニウム、鉛、アンチモン、ビスマス、銀、亜鉛、カドミウム、インジウム等から選ばれた一または二以上を含む材料を用いることができる。このような元素は炭素と比べて充放電容量が大きく、特にシリコンは理論容量が4200mAh/gと高い。このため、負極活物質にシリコンを用いることが好ましい。また、これらの元素を有する化合物を用いてもよい。例えば、SiO、MgSi、MgGe、SnO、SnO、MgSn、SnS、VSn、FeSn、CoSn、NiSn、CuSn、AgSn、AgSb、NiMnSb、CeSb、LaSn、LaCoSn、CoSb、InSb、SbSn等がある。ここで、リチウムとの合金化・脱合金化反応により充放電反応を行うことが可能な元素、および該元素を有する化合物等を合金系材料と呼ぶ場合がある。
本明細書等において、SiOは例えば一酸化シリコンを指す。あるいはSiOは、SiOと表すこともできる。ここでxは1近傍の値を有することが好ましい。例えばxは、0.2以上1.5以下が好ましく、0.3以上1.2以下がより好ましい。または0.2以上1.2以下が好ましい。または0.3以上1.5以下が好ましい。
炭素系材料としては、黒鉛、易黒鉛化性炭素(ソフトカーボン)、難黒鉛化性炭素(ハードカーボン)、カーボンナノチューブ、グラフェン、カーボンブラック等を用いればよい。
黒鉛としては、人造黒鉛、天然黒鉛等が挙げられる。人造黒鉛としては例えば、メソカーボンマイクロビーズ(MCMB)、コークス系人造黒鉛、ピッチ系人造黒鉛等が挙げられる。ここで人造黒鉛として、球状の形状を有する球状黒鉛を用いることができる。例えば、MCMBは球状の形状を有する場合があり、好ましい。また、MCMBはその表面積を小さくすることが比較的容易であり、好ましい場合がある。天然黒鉛としては例えば、鱗片状黒鉛、球状化天然黒鉛等が挙げられる。
黒鉛は、リチウムイオンが黒鉛に挿入されたとき(リチウム-黒鉛層間化合物の生成時)にリチウム金属と同程度に低い電位を示す(0.05V以上0.3V以下 vs.Li/Li)。これにより、リチウムイオン二次電池は高い作動電圧を示すことができる。さらに、黒鉛は、単位体積当たりの充放電容量が比較的高い、体積膨張が比較的小さい、安価である、リチウム金属に比べて安全性が高い等の利点を有するため、好ましい。
また、負極活物質として、二酸化チタン(TiO)、リチウムチタン酸化物(LiTi12)、リチウム-黒鉛層間化合物(Li)、五酸化ニオブ(Nb)、酸化タングステン(WO)、酸化モリブデン(MoO)等の酸化物を用いることができる。
また、負極活物質として、リチウムと遷移金属の複窒化物である、LiN型構造をもつLi3-xN(M=Co、Ni、Cu)を用いることができる。例えば、Li2.6Co0.4は大きな充放電容量(900mAh/g、1890mAh/cm)を示し好ましい。
リチウムと遷移金属の複窒化物を用いると、負極活物質中にリチウムイオンを含むため、正極活物質としてリチウムイオンを含まないV、Cr等の材料と組み合わせることができ好ましい。なお、正極活物質にリチウムイオンを含む材料を用いる場合でも、あらかじめ正極活物質に含まれるリチウムイオンを脱離させることで、負極活物質としてリチウムと遷移金属の複窒化物を用いることができる。
また、コンバージョン反応が生じる材料を負極活物質として用いることもできる。例えば、酸化コバルト(CoO)、酸化ニッケル(NiO)、酸化鉄(FeO)等の、リチウムとの合金を作らない遷移金属酸化物を負極活物質に用いてもよい。コンバージョン反応が生じる材料としては、さらに、Fe、CuO、CuO、RuO、Cr等の酸化物、CoS0.89、NiS、CuS等の硫化物、Zn、CuN、Ge等の窒化物、NiP、FeP、CoP等のリン化物、FeF、BiF等のフッ化物でも起こる。
負極活物質層が有することのできる導電材およびバインダとしては、正極活物質層が有することのできる導電材およびバインダと同様の材料を用いることができる。
[負極集電体]
負極集電体には、正極集電体と同様の材料を用いることができる。なお負極集電体は、リチウム等のキャリアイオンと合金化しない材料を用いることが好ましい。
〔電解液〕
電解液は、溶媒と電解質を有する。電解液の溶媒としては、非プロトン性有機溶媒が好ましく、例えば、エチレンカーボネート(EC)、プロピレンカーボネート(PC)、ブチレンカーボネート、クロロエチレンカーボネート、ビニレンカーボネート、γ-ブチロラクトン、γ-バレロラクトン、ジメチルカーボネート(DMC)、ジエチルカーボネート(DEC)、エチルメチルカーボネート(EMC)、ギ酸メチル、酢酸メチル、酢酸エチル、プロピオン酸メチル、プロピオン酸エチル、プロピオン酸プロピル、酪酸メチル、1,3-ジオキサン、1,4-ジオキサン、ジメトキシエタン(DME)、ジメチルスルホキシド、ジエチルエーテル、メチルジグライム、アセトニトリル、ベンゾニトリル、テトラヒドロフラン、スルホラン、スルトン等の1種、又はこれらのうちの2種以上を任意の組み合わせおよび比率で用いることができる。
また、電解液の溶媒として、難燃性および難揮発性であるイオン液体(常温溶融塩)を一つ又は複数用いることで、二次電池の内部短絡または過充電等によって内部温度が上昇しても、二次電池の破裂および/または発火などを防ぐことができる。イオン液体は、カチオンとアニオンからなり、有機カチオンとアニオンとを含む。電解液に用いる有機カチオンとして、四級アンモニウムカチオン、三級スルホニウムカチオン、および四級ホスホニウムカチオン等の脂肪族オニウムカチオン、イミダゾリウムカチオンおよびピリジニウムカチオン等の芳香族カチオンが挙げられる。また、電解液に用いるアニオンとして、1価のアミド系アニオン、1価のメチド系アニオン、フルオロスルホン酸アニオン、パーフルオロアルキルスルホン酸アニオン、テトラフルオロボレートアニオン、パーフルオロアルキルボレートアニオン、ヘキサフルオロホスフェートアニオン、またはパーフルオロアルキルホスフェートアニオン等が挙げられる。
また、上記の溶媒に溶解させる電解質としては、例えばLiPF、LiClO、LiAsF、LiBF、LiAlCl、LiSCN、LiBr、LiI、LiSO、Li10Cl10、Li12Cl12、LiCFSO、LiCSO、LiC(CFSO、LiC(CSO、LiN(CFSO、LiN(CSO)(CFSO)、LiN(CSO等のリチウム塩を一種、又はこれらのうちの二種以上を任意の組み合わせおよび比率で用いることができる。
二次電池に用いる電解液は、粒状のごみまたは電解液の構成元素以外の元素(以下、単に「不純物」ともいう。)の含有量が少ない高純度化された電解液を用いることが好ましい。具体的には、電解液に対する不純物の重量比を1%以下、好ましくは0.1%以下、より好ましくは0.01%以下とすることが好ましい。
また、電解液にビニレンカーボネート、プロパンスルトン(PS)、tert-ブチルベンゼン(TBB)、フルオロエチレンカーボネート(FEC)、リチウムビス(オキサレート)ボレート(LiBOB)、またスクシノニトリル、アジポニトリル等のジニトリル化合物などの添加剤を添加してもよい。添加する材料の濃度は、例えば溶媒全体に対して0.1wt%以上5wt%以下とすればよい。VCまたはLiBOBは良好な被覆部を形成しやすく、特に好ましい。
また、ポリマーを電解液で膨潤させたポリマーゲル電解質を用いてもよい。
ポリマーゲル電解質を用いることで、漏液性等に対する安全性が高まる。また、二次電池の薄型化および軽量化が可能である。
ゲル化されるポリマーとして、シリコーンゲル、アクリルゲル、アクリロニトリルゲル、ポリエチレンオキサイド系ゲル、ポリプロピレンオキサイド系ゲル、フッ素系ポリマーのゲル等を用いることができる。
ポリマーとしては、例えばポリエチレンオキシド(PEO)などのポリアルキレンオキシド構造を有するポリマー、PVDF、およびポリアクリロニトリル等、およびそれらを含む共重合体等を用いることができる。例えばPVDFとヘキサフルオロプロピレン(HFP)の共重合体であるPVDF-HFPを用いることができる。また、形成されるポリマーは、多孔質形状を有してもよい。
また、電解液の代わりに、硫化物系または酸化物系等の無機物材料を有する固体電解質、PEO(ポリエチレンオキシド)系等の高分子材料を有する固体電解質等を用いることができる。固体電解質を用いる場合には、セパレータおよび/またはスペーサの設置が不要となる。また、電池全体を固体化できるため、漏液のおそれがなくなり安全性が飛躍的に向上する。
〔セパレータ〕
また二次電池は、セパレータを有することが好ましい。セパレータとしては、例えば、紙、不織布、ガラス繊維、セラミックス、或いはナイロン(ポリアミド)、ビニロン(ポリビニルアルコール系繊維)、ポリエステル、アクリル、ポリオレフィン、ポリウレタンを用いた合成繊維等で形成されたものを用いることができる。セパレータはエンベロープ状に加工し、正極または負極のいずれか一方を包むように配置することが好ましい。
セパレータは多層構造であってもよい。例えばポリプロピレン、ポリエチレン等の有機材料フィルムに、セラミック系材料、フッ素系材料、ポリアミド系材料、またはこれらを混合したもの等をコートすることができる。セラミック系材料としては、例えば酸化アルミニウム粒子、酸化シリコン粒子等を用いることができる。フッ素系材料としては、例えばPVDF、ポリテトラフルオロエチレン等を用いることができる。ポリアミド系材料としては、例えばナイロン、アラミド(メタ系アラミド、パラ系アラミド)等を用いることができる。
セラミック系材料をコートすると耐酸化性が向上するため、高電圧充放電の際のセパレータの劣化を抑制し、二次電池の信頼性を向上させることができる。またフッ素系材料をコートするとセパレータと電極が密着しやすくなり、出力特性を向上させることができる。ポリアミド系材料、特にアラミドをコートすると、耐熱性が向上するため、二次電池の安全性を向上させることができる。
例えばポリプロピレンのフィルムの両面に酸化アルミニウムとアラミドの混合材料をコートしてもよい。また、ポリプロピレンのフィルムの、正極と接する面に酸化アルミニウムとアラミドの混合材料をコートし、負極と接する面にフッ素系材料をコートしてもよい。
多層構造のセパレータを用いると、セパレータ全体の厚さが薄くても二次電池の安全性を保つことができるため、二次電池の体積あたりの放電容量を大きくすることができる。
〔外装体〕
二次電池が有する外装体としては、例えばアルミニウムなどの金属材料および/または樹脂材料を用いることができる。また、フィルム状の外装体を用いることもできる。フィルムとしては、例えばポリエチレン、ポリプロピレン、ポリカーボネート、アイオノマー、ポリアミド等の材料からなる膜上に、アルミニウム、ステンレス、銅、ニッケル等の可撓性に優れた金属薄膜を設け、さらに該金属薄膜上に外装体の外面としてポリアミド系樹脂、ポリエステル系樹脂等の絶縁性合成樹脂膜を設けた三層構造のフィルムを用いることができる。
<二次電池の構成例2>
以下に、二次電池の構成の一例として、固体電解質層を用いた二次電池の構成について説明する。
図19(A)に示すように、本発明の一態様の二次電池400は、正極410、固体電解質層420および負極430を有する。
正極410は正極集電体413および正極活物質層414を有する。正極活物質層414は正極活物質411および固体電解質421を有する。正極活物質411には、先の実施の形態で説明した作製方法を用いて作製した正極活物質を用いる。また正極活物質層414は、導電材およびバインダを有していてもよい。
固体電解質層420は固体電解質421を有する。固体電解質層420は、正極410と負極430の間に位置し、正極活物質411および負極活物質431のいずれも有さない領域である。
負極430は負極集電体433および負極活物質層434を有する。負極活物質層434は負極活物質431および固体電解質421を有する。また負極活物質層434は、導電材およびバインダを有していてもよい。なお、負極430に金属リチウムを用いる場合は、図19(B)のように、固体電解質421を有さない負極430とすることができる。負極430に金属リチウムを用いると、二次電池400のエネルギー密度を向上させることができ好ましい。
固体電解質層420が有する固体電解質421としては、例えば硫化物系固体電解質、酸化物系固体電解質、ハロゲン化物系固体電解質等を用いることができる。
硫化物系固体電解質には、チオリシコン系(Li10GeP12、Li3.25Ge0.250.75等)、硫化物ガラス(70LiS・30P、30LiS・26B・44LiI、63LiS・36SiS・1LiPO、57LiS・38SiS・5LiSiO、50LiS・50GeS等)、硫化物結晶化ガラス(Li11、Li3.250.95等)が含まれる。硫化物系固体電解質は、高い伝導度を有する材料がある、低い温度で合成可能、また比較的やわらかいため充放電を経ても導電経路が保たれやすい等の利点がある。
酸化物系固体電解質には、ペロブスカイト型結晶構造を有する材料(La2/3-xLi3xTiO等)、NASICON型結晶構造を有する材料(Li1-xAlTi2-x(PO等)、ガーネット型結晶構造を有する材料(LiLaZr12等)、LISICON型結晶構造を有する材料(Li14ZnGe16等)、LLZO(LiLaZr12)、酸化物ガラス(LiPO-LiSiO、50LiSiO・50LiBO等)、酸化物結晶化ガラス(Li1.07Al0.69Ti1.46(PO、Li1.5Al0.5Ge1.5(PO等)が含まれる。酸化物系固体電解質は、大気中で安定であるといった利点がある。
ハロゲン化物系固体電解質には、LiAlCl、LiInBr、LiF、LiCl、LiBr、LiI等が含まれる。また、これらハロゲン化物系固体電解質を、ポーラス酸化アルミニウムおよび/またはポーラスシリカの細孔に充填したコンポジット材料も固体電解質として用いることができる。
また、異なる固体電解質を混合して用いてもよい。
中でも、NASICON型結晶構造を有するLi1+xAlTi2-x(PO(0<x<1)(以下、LATP)は、アルミニウムとチタンという、本発明の一態様の二次電池400に用いる正極活物質が有してもよい元素を含むため、サイクル特性の向上について相乗効果が期待でき好ましい。また、工程の削減による生産性の向上も期待できる。なお本明細書等において、NASICON型結晶構造とは、M(XO(M:遷移金属、X:S、P、As、Mo、W等)で表される化合物であり、MO8面体とXO四面体が頂点を共有して3次元的に配列した構造を有するものをいう。
〔外装体と二次電池の形状〕
本発明の一態様の二次電池400の外装体には、様々な材料および形状のものを用いることができるが、正極、固体電解質層および負極を加圧する機能を有することが好ましい。
例えば図20は、全固体電池の材料を評価するセルの一例である。
図20(A)は評価セルの断面模式図であり、評価セルは、下部部材761と、上部部材762と、それらを固定する固定ねじまたは蝶ナット764を有し、押さえ込みねじ763を回転させることで電極用プレート753を押して評価材料を固定している。ステンレス材料で構成された下部部材761と、上部部材762との間には絶縁体766が設けられている。また上部部材762と、押さえ込みねじ763の間には密閉するためのOリング765が設けられている。
評価材料は、電極用プレート751に載せられ、周りを絶縁管752で囲み、上方から電極用プレート753で押されている状態となっている。この評価材料周辺を拡大した斜視図が図20(B)である。
評価材料としては、正極750a、固体電解質層750b、負極750cの積層の例を示しており、断面図を図20(C)に示す。なお、図20(A)乃至図20(C)において同じ箇所には同じ符号を用いる。
正極750aと電気的に接続される電極用プレート751および下部部材761は、正極端子に相当するということができる。負極750cと電気的に接続される電極用プレート753および上部部材762は、負極端子に相当するということができる。電極用プレート751および電極用プレート753を介して評価材料に押圧をかけながら電気抵抗などを測定することができる。
また、本発明の一態様の二次電池の外装体には、気密性に優れたパッケージを使用することが好ましい。例えばセラミックパッケージおよび/または樹脂パッケージを用いることができる。また、外装体を封止する際には、外気を遮断し、密閉した雰囲気下、例えばグローブボックス内で行うことが好ましい。
図21(A)に、図20と異なる外装体および形状を有する本発明の一態様の二次電池の斜視図を示す。図21(A)の二次電池は、外部電極771、772を有し、複数のパッケージ部材を有する外装体で封止されている。
図21(A)中の一点破線で切断した断面の一例を図21(B)に示す。正極750a、固体電解質層750bおよび負極750cを有する積層体は、平板に電極層773aが設けられたパッケージ部材770aと、枠状のパッケージ部材770bと、平板に電極層773bが設けられたパッケージ部材770cと、で囲まれて封止された構造となっている。パッケージ部材770a、770b、770cには、絶縁材料、例えば樹脂材料および/またはセラミックを用いることができる。
外部電極771は、電極層773aを介して正極750aと電気的に接続され、正極端子として機能する。また、外部電極772は、電極層773bを介して負極750cと電気的に接続され、負極端子として機能する。
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせて用いることができる。
(実施の形態4)
本実施の形態では、先の実施の形態で説明した正極を有する二次電池の形状の例について説明する。本実施の形態で説明する二次電池に用いる材料は、先の実施の形態の記載を参酌することができる。
<コイン型二次電池>
まずコイン型の二次電池の一例について説明する。図22(A)はコイン型(単層偏平型)の二次電池の外観図であり、図22(B)は、その断面図である。コイン型の二次電池は主に小型の電子機器に用いられる。本明細書等において、コイン型電池は、ボタン型電池を含む。
コイン型の二次電池300は、正極端子を兼ねた正極缶301と負極端子を兼ねた負極缶302とが、ポリプロピレン等で形成されたガスケット303で絶縁シールされている。正極304は、正極集電体305と、これと接するように設けられた正極活物質層306により形成される。また、負極307は、負極集電体308と、これに接するように設けられた負極活物質層309により形成される。
なお、コイン型の二次電池300に用いる正極304および負極307は、それぞれ活物質層は片面のみに形成すればよい。
正極缶301、負極缶302には、電解液に対して耐食性のあるニッケル、アルミニウム、チタン等の金属、又はこれらの合金および/またはこれらと他の金属との合金(例えばステンレス鋼等)を用いることができる。また、電解液による腐食を防ぐため、ニッケルおよび/またはアルミニウム等を被覆することが好ましい。正極缶301は正極304と、負極缶302は負極307とそれぞれ電気的に接続する。
これら負極307、正極304およびセパレータ310を電解質に含浸させ、図22(B)に示すように、正極缶301を下にして正極304、セパレータ310、負極307、負極缶302をこの順で積層し、正極缶301と負極缶302とをガスケット303を介して圧着してコイン形の二次電池300を製造する。
正極304に、先の実施の形態で説明した正極活物質を用いることで、放電容量が高くサイクル特性に優れたコイン型の二次電池300とすることができる。
ここで図22(C)を用いて二次電池の充電時の電流の流れを説明する。リチウムを用いた二次電池を一つの閉回路とみなした時、リチウムイオンの動きと電流の流れは同じ向きになる。なお、リチウムを用いた二次電池では、充電と放電でアノード(陽極)とカソード(陰極)が入れ替わり、酸化反応と還元反応とが入れ替わることになるため、反応電位が高い電極を正極と呼び、反応電位が低い電極を負極と呼ぶ。したがって、本明細書においては、充電中であっても、放電中であっても、逆パルス電流を流す場合であっても、充電電流を流す場合であっても、正極は「正極」または「+極(プラス極)」と呼び、負極は「負極」または「-極(マイナス極)」と呼ぶこととする。酸化反応および還元反応に関連したアノード(陽極)およびカソード(陰極)という用語を用いると、充電時と放電時とでは、逆になってしまい、混乱を招く可能性がある。したがって、アノード(陽極)およびカソード(陰極)という用語は、本明細書においては用いないこととする。仮にアノード(陽極)およびカソード(陰極)という用語を用いる場合には、充電時か放電時かを明記し、正極(プラス極)と負極(マイナス極)のどちらに対応するものかも併記することとする。
図22(C)に示す2つの端子には充電器が接続され、二次電池300が充電される。二次電池300の充電が進めば、電極間の電位差は大きくなる。
<円筒型二次電池>
次に円筒型の二次電池の例について図23を参照して説明する。円筒型の二次電池600の外観図を図23(A)に示す。図23(B)は、円筒型の二次電池600の断面を模式的に示した図である。図23(B)に示すように、円筒型の二次電池600は、上面に正極キャップ(電池蓋)601を有し、側面および底面に電池缶(外装缶)602を有している。これら正極キャップ601と電池缶(外装缶)602とは、ガスケット(絶縁パッキン)610によって絶縁されている。
中空円柱状の電池缶602の内側には、帯状の正極604と負極606とがセパレータ605を間に挟んで捲回された電池素子が設けられている。図示しないが、電池素子はセンターピンを中心に捲回されている。電池缶602は、一端が閉じられ、他端が開いている。電池缶602には、電解液に対して耐腐食性のあるニッケル、アルミニウム、チタン等の金属、又はこれらの合金および/またはこれらと他の金属との合金(例えば、ステンレス鋼等)を用いることができる。また、電解液による腐食を防ぐため、ニッケルおよび/またはアルミニウム等を電池缶602に被覆することが好ましい。電池缶602の内側において、正極、負極およびセパレータが捲回された電池素子は、対向する一対の絶縁板608、609により挟まれている。また、電池素子が設けられた電池缶602の内部は、非水電解液(図示せず)が注入されている。非水電解液は、コイン型の二次電池と同様のものを用いることができる。
円筒型の蓄電池に用いる正極および負極は捲回するため、集電体の両面に活物質を形成することが好ましい。正極604には正極端子(正極集電リード)603が接続され、負極606には負極端子(負極集電リード)607が接続される。正極端子603および負極端子607は、ともにアルミニウムなどの金属材料を用いることができる。正極端子603は安全弁機構612に、負極端子607は電池缶602の底にそれぞれ抵抗溶接される。安全弁機構612は、PTC素子(Positive Temperature Coefficient)611を介して正極キャップ601と電気的に接続されている。安全弁機構612は電池の内圧の上昇が所定の閾値を超えた場合に、正極キャップ601と正極604との電気的な接続を切断するものである。また、PTC素子611は温度が上昇した場合に抵抗が増大する熱感抵抗素子であり、抵抗の増大により電流量を制限して異常発熱を防止するものである。PTC素子には、チタン酸バリウム(BaTiO)系半導体セラミックス等を用いることができる。
また、図23(C)のように複数の二次電池600を、導電板613および導電板614の間に挟んでモジュール615を構成してもよい。複数の二次電池600は、並列接続されていてもよいし、直列接続されていてもよいし、並列に接続された後さらに直列に接続されていてもよい。複数の二次電池600を有するモジュール615を構成することで、大きな電力を取り出すことができる。
図23(D)はモジュール615の上面図である。図を明瞭にするために導電板613を点線で示した。図23(D)に示すようにモジュール615は、複数の二次電池600を電気的に接続する導線616を有していてもよい。導線616上に導電板を重畳して設けることができる。また複数の二次電池600の間に温度制御装置617を有していてもよい。二次電池600が過熱されたときは、温度制御装置617により冷却し、二次電池600が冷えすぎているときは温度制御装置617により加熱することができる。そのためモジュール615の性能が外気温に影響されにくくなる。温度制御装置617が有する熱媒体は絶縁性と不燃性を有することが好ましい。
正極604に、先の実施の形態で説明した正極活物質を用いることで、放電容量が高くサイクル特性に優れた円筒型の二次電池600とすることができる。
<二次電池を含む蓄電装置の構造例>
二次電池を含む蓄電装置の別の構造例について、図24乃至図28を用いて説明する。
図24(A)及び図24(B)は、電池パックの外観図を示す図である。電池パックは、二次電池913と、回路基板900と、を有する。二次電池913は、回路基板900を介して、アンテナ914に接続されている。また、二次電池913には、ラベル910が貼られている。さらに、図24(B)に示すように、二次電池913は、端子951と、端子952と、に接続されている。また回路基板900は、シール915で固定されている。
回路基板900は、端子911と、回路912と、を有する。端子911は、端子951、端子952、アンテナ914、及び回路912に接続される。なお、端子911を複数設けて、複数の端子911のそれぞれを、制御信号入力端子、電源端子などとしてもよい。
回路912は、回路基板900の裏面に設けられていてもよい。なお、アンテナ914は、コイル状に限定されず、例えば線状、板状であってもよい。また、平面アンテナ、開口面アンテナ、進行波アンテナ、EHアンテナ、磁界アンテナ、誘電体アンテナ等のアンテナを用いてもよい。又は、アンテナ914は、平板状の導体でもよい。この平板状の導体は、電界結合用の導体の一つとして機能することができる。つまり、コンデンサの有する2つの導体のうちの一つの導体としてアンテナ914を機能させてもよい。これにより、電磁界、磁界だけでなく、電界で電力のやり取りを行うこともできる。
電池パックは、アンテナ914と、二次電池913との間に層916を有する。層916は、例えば二次電池913による電磁界を遮蔽することができる機能を有する。層916としては、例えば磁性体を用いることができる。
なお、電池パックの構造は、図24に限定されない。
例えば、図25(A)及び図25(B)に示すように、図24(A)及び図24(B)に示す二次電池913のうち、対向する一対の面のそれぞれにアンテナを設けてもよい。図25(A)は、上記一対の面の一方を示した外観図であり、図25(B)は、上記一対の面の他方を示した外観図である。なお、図24(A)及び図24(B)に示す二次電池と同じ部分については、図24(A)及び図24(B)に示す二次電池の説明を適宜援用できる。
図25(A)に示すように、二次電池913の一対の面の一方に層916を挟んでアンテナ914が設けられ、図25(B)に示すように、二次電池913の一対の面の他方に層917を挟んでアンテナ918が設けられる。層917は、例えば二次電池913による電磁界を遮蔽することができる機能を有する。層917としては、例えば磁性体を用いることができる。
上記構造にすることにより、アンテナ914及びアンテナ918の両方のサイズを大きくすることができる。アンテナ918は、例えば、外部機器とのデータ通信を行うことができる機能を有する。アンテナ918には、例えばアンテナ914に適用可能な形状のアンテナを適用することができる。アンテナ918を介した二次電池と他の機器との通信方式としては、NFC(近距離無線通信)など、二次電池と他の機器との間で用いることができる応答方式などを適用することができる。
又は、図25(C)に示すように、図24(A)及び図24(B)に示す二次電池913に表示装置920を設けてもよい。表示装置920は、端子911に電気的に接続される。なお、表示装置920が設けられる部分にラベル910を設けなくてもよい。なお、図24(A)及び図24(B)に示す二次電池と同じ部分については、図24(A)及び図24(B)に示す二次電池の説明を適宜援用できる。
表示装置920には、例えば充電中であるか否かを示す画像、蓄電量を示す画像などを表示してもよい。表示装置920としては、例えば電子ペーパー、液晶表示装置、エレクトロルミネセンス(ELともいう)表示装置などを用いることができる。例えば、電子ペーパーを用いることにより表示装置920の消費電力を低減することができる。
又は、図25(D)に示すように、図24(A)及び図24(B)に示す二次電池913にセンサ921を設けてもよい。センサ921は、端子922を介して端子911に電気的に接続される。なお、図24(A)及び図24(B)に示す二次電池と同じ部分については、図24(A)及び図24(B)に示す二次電池の説明を適宜援用できる。
センサ921としては、例えば、変位、位置、速度、加速度、角速度、回転数、距離、光、液、磁気、温度、化学物質、音声、時間、硬度、電場、電流、電圧、電力、放射線、流量、湿度、傾度、振動、におい、又は赤外線を測定することができる機能を有すればよい。センサ921を設けることにより、例えば、二次電池が置かれている環境を示すデータ(温度など)を検出し、回路912内のメモリに記憶しておくこともできる。
さらに、二次電池913の構造例について図26及び図27を用いて説明する。
図26(A)に示す二次電池913は、筐体930の内部に端子951と端子952が設けられた捲回体950を有する。捲回体950は、筐体930の内部で電解液に含浸される。端子952は、筐体930に接し、端子951は、絶縁材などを用いることにより筐体930に接していない。なお、図26(A)では、便宜のため、筐体930を分離して図示しているが、実際は、捲回体950が筐体930に覆われ、端子951及び端子952が筐体930の外に延在している。筐体930としては、金属材料(例えばアルミニウムなど)又は樹脂材料を用いることができる。
なお、図26(B)に示すように、図26(A)に示す筐体930を複数の材料によって形成してもよい。例えば、図26(B)に示す二次電池913は、筐体930aと筐体930bが貼り合わされており、筐体930a及び筐体930bで囲まれた領域に捲回体950が設けられている。
筐体930aとしては、有機樹脂など、絶縁材料を用いることができる。特に、アンテナが形成される面に有機樹脂などの材料を用いることにより、二次電池913による電界の遮蔽を抑制できる。なお、筐体930aによる電界の遮蔽が小さければ、筐体930aの内部にアンテナ914などのアンテナを設けてもよい。筐体930bとしては、例えば金属材料を用いることができる。
さらに、捲回体950の構造について図27に示す。捲回体950は、負極931と、正極932と、セパレータ933と、を有する。捲回体950は、セパレータ933を挟んで負極931と、正極932が重なり合って積層され、該積層シートを捲回させた捲回体である。なお、負極931と、正極932と、セパレータ933と、の積層を、さらに複数重ねてもよい。
負極931は、端子951及び端子952の一方を介して図24に示す端子911に接続される。正極932は、端子951及び端子952の他方を介して図24に示す端子911に接続される。
正極932に、先の実施の形態で説明した正極活物質を用いることで、放電容量が高くサイクル特性に優れた二次電池913とすることができる。
<ラミネート型二次電池>
次に、ラミネート型の二次電池の例について、図28乃至図32(A)を参照して説明する。ラミネート型の二次電池は、可撓性を有する構成とすれば、可撓性を有する部位を少なくとも一部有する電子機器に実装すれば、電子機器の変形に合わせて二次電池も曲げることもできる。
図28を用いて、ラミネート型の二次電池980について説明する。ラミネート型の二次電池980は、図28(A)に示す捲回体993を有する。捲回体993は、負極994と、正極995と、セパレータ996と、を有する。捲回体993は、図27で説明した捲回体950と同様に、セパレータ996を挟んで負極994と、正極995とが重なり合って積層され、該積層シートを捲回したものである。
なお、負極994、正極995およびセパレータ996からなる積層の積層数は、必要な充放電容量と素子体積に応じて適宜設計すればよい。負極994はリード電極997およびリード電極998の一方を介して負極集電体(図示せず)に接続され、正極995はリード電極997およびリード電極998の他方を介して正極集電体(図示せず)に接続される。
図28(B)に示すように、外装体となるフィルム981と、凹部を有するフィルム982とを熱圧着などにより貼り合わせて形成される空間に上述した捲回体993を収納することで、図28(C)に示すように二次電池980を作製することができる。捲回体993は、リード電極997およびリード電極998を有し、フィルム981と、凹部を有するフィルム982との内部で電解液に含浸される。
フィルム981と、凹部を有するフィルム982は、例えばアルミニウムなどの金属材料および/または樹脂材料を用いることができる。フィルム981および凹部を有するフィルム982の材料として樹脂材料を用いれば、外部から力が加わったときにフィルム981と、凹部を有するフィルム982を変形させることができ、可撓性を有する蓄電池を作製することができる。
また、図28(B)および図28(C)では2枚のフィルムを用いる例を示しているが、1枚のフィルムを折り曲げることによって空間を形成し、その空間に上述した捲回体993を収納してもよい。
正極995に、先の実施の形態で説明した正極活物質を用いることで、放電容量が高くサイクル特性に優れた二次電池980とすることができる。
また図28では外装体となるフィルムにより形成された空間に捲回体を有する二次電池980の例について説明したが、例えば図29のように、外装体となるフィルムにより形成された空間に、短冊状の複数の正極、セパレータおよび負極を有する二次電池としてもよい。
図29(A)に示すラミネート型の二次電池500は、正極集電体501および正極活物質層502を有する正極503と、負極集電体504および負極活物質層505を有する負極506と、セパレータ507と、電解液508と、外装体509と、を有する。外装体509内に設けられた正極503と負極506との間にセパレータ507が設置されている。また、外装体509内は、電解液508で満たされている。電解液508には、実施の形態3で示した電解液を用いることができる。
図29(A)に示すラミネート型の二次電池500において、正極集電体501および負極集電体504は、外部との電気的接触を得る端子の役割も兼ねている。そのため、正極集電体501および負極集電体504の一部は、外装体509から外側に露出するように配置してもよい。また、正極集電体501および負極集電体504を、外装体509から外側に露出させず、リード電極を用いてそのリード電極と正極集電体501、或いは負極集電体504と超音波接合させてリード電極を外側に露出するようにしてもよい。
ラミネート型の二次電池500において、外装体509には、例えばポリエチレン、ポリプロピレン、ポリカーボネート、アイオノマー、ポリアミド等の材料からなる膜上に、アルミニウム、ステンレス、銅、ニッケル等の可撓性に優れた金属薄膜を設け、さらに該金属薄膜上に外装体の外面としてポリアミド系樹脂、ポリエステル系樹脂等の絶縁性合成樹脂膜を設けた三層構造のラミネートフィルムを用いることができる。
また、ラミネート型の二次電池500の断面構造の一例を図29(B)に示す。図29(A)では簡略のため、2つの集電体で構成する例を示しているが、実際は、図29(B)に示すように、複数の電極層で構成する。
図29(B)では、一例として、電極層数を16としている。なお、電極層数を16としても二次電池500は、可撓性を有する。図29(B)では負極集電体504が8層と、正極集電体501が8層の合計16層の構造を示している。なお、図29(B)は負極の取り出し部の断面を示しており、8層の負極集電体504を超音波接合させている。勿論、電極層数は16に限定されず、多くてもよいし、少なくてもよい。電極層数が多い場合には、より多くの放電容量を有する二次電池とすることができる。また、電極層数が少ない場合には、薄型化でき、可撓性に優れた二次電池とすることができる。
ここで、ラミネート型の二次電池500の外観図の一例を図30及び図31に示す。図30及び図31は、正極503、負極506、セパレータ507、外装体509、正極リード電極510及び負極リード電極511を有する。
図32(A)は正極503及び負極506の外観図を示す。正極503は正極集電体501を有し、正極活物質層502は正極集電体501の表面に形成されている。また、正極503は正極集電体501が一部露出する領域(以下、タブ領域という)を有する。負極506は負極集電体504を有し、負極活物質層505は負極集電体504の表面に形成されている。また、負極506は負極集電体504が一部露出する領域、すなわちタブ領域を有する。正極及び負極が有するタブ領域の面積および形状は、図32(A)に示す例に限られない。
<ラミネート型二次電池の作製方法>
ここで、図30に外観図を示すラミネート型二次電池の作製方法の一例について、図32(B)、(C)を用いて説明する。
まず、負極506、セパレータ507及び正極503を積層する。図32(B)に積層された負極506、セパレータ507及び正極503を示す。ここでは負極を5組、正極を4組使用する例を示す。次に、正極503のタブ領域同士の接合と、最表面の正極のタブ領域への正極リード電極510の接合を行う。接合には、例えば超音波溶接等を用いればよい。同様に、負極506のタブ領域同士の接合と、最表面の負極のタブ領域への負極リード電極511の接合を行う。
次に外装体509上に、負極506、セパレータ507及び正極503を配置する。
次に、図32(C)に示すように、外装体509を破線で示した部分で折り曲げる。その後、外装体509の外周部を接合する。接合には例えば熱圧着等を用いればよい。この時、後に電解液508を入れることができるように、外装体509の一部(または一辺)に接合されない領域(以下、導入口という)を設ける。
次に、外装体509に設けられた導入口から、電解液508(図示しない。)を外装体509の内側へ導入する。電解液508の導入は、減圧雰囲気下、或いは不活性雰囲気下で行うことが好ましい。そして最後に、導入口を接合する。このようにして、ラミネート型の二次電池500を作製することができる。
正極503に、先の実施の形態で説明した正極活物質を用いることで、放電容量が高くサイクル特性に優れた二次電池500とすることができる。
全固体電池においては、積層した正極および負極の積層方向に所定の圧力を加えることで、内部における界面の接触状態を良好に保つことができる。正極および負極の積層方向に所定の圧力を加えることで、全固体電池の充放電によって積層方向に膨張することを抑えることができ、全固体電池の信頼性を向上させることができる。
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせて用いることができる。
(実施の形態5)
本実施の形態では、本発明の一態様である二次電池を電子機器に実装する例について説明する。
まず、先の実施の形態で説明した、曲げることのできる二次電池を電子機器に実装する例を、図33(A)乃至図33(G)に示す。曲げることのできる二次電池を適用した電子機器として、例えば、テレビジョン装置(テレビ、又はテレビジョン受信機ともいう)、コンピュータ用などのモニタ、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、デジタルフォトフレーム、携帯電話機(携帯電話、携帯電話装置ともいう)、携帯型ゲーム機、携帯情報端末、音響再生装置、パチンコ機などの大型ゲーム機などが挙げられる。
また、フレキシブルな形状を備える二次電池を、家屋、ビル等の内壁または外壁、自動車の内装または外装の曲面に沿って組み込むことも可能である。
図33(A)は、携帯電話機の一例を示している。携帯電話機7400は、筐体7401に組み込まれた表示部7402の他、操作ボタン7403、外部接続ポート7404、スピーカ7405、マイク7406などを備えている。なお、携帯電話機7400は、二次電池7407を有している。上記の二次電池7407に本発明の一態様の二次電池を用いることで、軽量で長寿命な携帯電話機を提供できる。
図33(B)は、携帯電話機7400を湾曲させた状態を示している。携帯電話機7400を外部の力により変形させて全体を湾曲させると、その内部に設けられている二次電池7407も湾曲される。また、その時、曲げられた二次電池7407の状態を図33(C)に示す。二次電池7407は薄型の蓄電池である。二次電池7407は曲げられた状態で固定されている。なお、二次電池7407は集電体と電気的に接続されたリード電極を有している。例えば、集電体は銅箔であり、一部ガリウムと合金化させて、集電体と接する活物質層との密着性を向上し、二次電池7407が曲げられた状態での信頼性が高い構成となっている。
図33(D)は、バングル型の表示装置の一例を示している。携帯表示装置7100は、筐体7101、表示部7102、操作ボタン7103、及び二次電池7104を備える。また、図33(E)に曲げられた二次電池7104の状態を示す。二次電池7104は曲げられた状態で使用者の腕への装着時に、筐体が変形して二次電池7104の一部または全部の曲率が変化する。なお、曲線の任意の点における曲がり具合を相当する円の半径の値で表したものを曲率半径と呼び、曲率半径の逆数を曲率と呼ぶ。具体的には、曲率半径が40mm以上150mm以下の範囲内で筐体または二次電池7104の主表面の一部または全部が変化する。二次電池7104の主表面における曲率半径が40mm以上150mm以下の範囲であれば、高い信頼性を維持できる。上記の二次電池7104に本発明の一態様の二次電池を用いることで、軽量で長寿命な携帯表示装置を提供できる。
図33(F)は、腕時計型の携帯情報端末の一例を示している。携帯情報端末7200は、筐体7201、表示部7202、バンド7203、バックル7204、操作ボタン7205、入出力端子7206などを備える。
携帯情報端末7200は、移動電話、電子メール、文章閲覧及び作成、音楽再生、インターネット通信、コンピュータゲームなどの種々のアプリケーションを実行することができる。
表示部7202はその表示面が湾曲して設けられ、湾曲した表示面に沿って表示を行うことができる。また、表示部7202はタッチセンサを備え、指またはスタイラスなどで画面に触れることで操作することができる。例えば、表示部7202に表示されたアイコン7207に触れることで、アプリケーションを起動することができる。
操作ボタン7205は、時刻設定のほか、電源のオン、オフ動作、無線通信のオン、オフ動作、マナーモードの実行及び解除、省電力モードの実行及び解除など、様々な機能を持たせることができる。例えば、携帯情報端末7200に組み込まれたオペレーティングシステムにより、操作ボタン7205の機能を自由に設定することもできる。
また、携帯情報端末7200は、通信規格された近距離無線通信を実行することが可能である。例えば無線通信可能なヘッドセットと相互通信することによって、ハンズフリーで通話することもできる。
また、携帯情報端末7200は入出力端子7206を備え、他の情報端末とコネクタを介して直接データのやりとりを行うことができる。また入出力端子7206を介して充電を行うこともできる。なお、充電動作は入出力端子7206を介さずに無線給電により行ってもよい。
携帯情報端末7200の表示部7202には、本発明の一態様の二次電池を有している。本発明の一態様の二次電池を用いることで、軽量で長寿命な携帯情報端末を提供できる。例えば、図33(E)に示した二次電池7104を、筐体7201の内部に湾曲した状態で、またはバンド7203の内部に湾曲可能な状態で組み込むことができる。
携帯情報端末7200はセンサを有することが好ましい。センサとして例えば、指紋センサ、脈拍センサ、体温センサ等の人体センサ、タッチセンサ、加圧センサ、加速度センサ、等が搭載されることが好ましい。
図33(G)は、腕章型の表示装置の一例を示している。表示装置7300は、表示部7304を有し、本発明の一態様の二次電池を有している。また、表示装置7300は、表示部7304にタッチセンサを備えることもでき、また、携帯情報端末として機能させることもできる。
表示部7304はその表示面が湾曲しており、湾曲した表示面に沿って表示を行うことができる。また、表示装置7300は、通信規格された近距離無線通信などにより、表示状況を変更することができる。
また、表示装置7300は入出力端子を備え、他の情報端末とコネクタを介して直接データのやりとりを行うことができる。また入出力端子を介して充電を行うこともできる。なお、充電動作は入出力端子を介さずに無線給電により行ってもよい。
表示装置7300が有する二次電池として本発明の一態様の二次電池を用いることで、軽量で長寿命な表示装置を提供できる。
また、先の実施の形態で示したサイクル特性のよい二次電池を電子機器に実装する例を図33(H)、図34および図35を用いて説明する。
日用電子機器に二次電池として本発明の一態様の二次電池を用いることで、軽量で長寿命な製品を提供できる。例えば、日用電子機器として、電動歯ブラシ、電気シェーバー、電動美容機器などが挙げられ、それらの製品の二次電池としては、使用者の持ちやすさを考え、形状をスティック状とし、小型、軽量、且つ、放電容量の大きな二次電池が望まれている。
図33(H)はタバコ収容喫煙装置(電子タバコ)とも呼ばれる装置の斜視図である。図33(H)において電子タバコ7500は、加熱素子を含むアトマイザ7501と、アトマイザに電力を供給する二次電池7504と、液体供給ボトルおよびセンサなどを含むカートリッジ7502で構成されている。安全性を高めるため、二次電池7504の過充電および/または過放電を防ぐ保護回路を二次電池7504に電気的に接続してもよい。図33(H)に示した二次電池7504は、充電機器と接続できるように外部端子を有している。二次電池7504は持った場合に先端部分となるため、トータルの長さが短く、且つ、重量が軽いことが望ましい。本発明の一態様の二次電池は放電容量が高く、良好なサイクル特性を有するため、長期間に渡って長時間の使用ができる小型であり、且つ、軽量の電子タバコ7500を提供できる。
次に、図34(A)および図34(B)に、2つ折り可能なタブレット型端末の一例を示す。図34(A)および図34(B)に示すタブレット型端末9600は、筐体9630a、筐体9630b、筐体9630aと筐体9630bを接続する可動部9640、表示部9631aと表示部9631bを有する表示部9631、スイッチ9625乃至スイッチ9627、留め具9629、操作スイッチ9628、を有する。表示部9631には、可撓性を有するパネルを用いることで、より広い表示部を有するタブレット端末とすることができる。図34(A)は、タブレット型端末9600を開いた状態を示し、図34(B)は、タブレット型端末9600を閉じた状態を示している。
また、タブレット型端末9600は、筐体9630aおよび筐体9630bの内部に蓄電体9635を有する。蓄電体9635は、可動部9640を通り、筐体9630aと筐体9630bに渡って設けられている。
表示部9631は、全て又は一部の領域をタッチパネルの領域とすることができ、また当該領域に表示されたアイコンを含む画像、文字、入力フォームなどに触れることでデータ入力をすることができる。例えば、筐体9630a側の表示部9631aの全面にキーボードボタンを表示させて、筐体9630b側の表示部9631bに文字、画像などの情報を表示させて用いてもよい。
また、筐体9630b側の表示部9631bにキーボードを表示させて、筐体9630a側の表示部9631aに文字、画像などの情報を表示させて用いてもよい。また、表示部9631にタッチパネルのキーボード表示切り替えボタンを表示するようにして、当該ボタンに指またはスタイラスなどで触れることで表示部9631にキーボードを表示するようにしてもよい。
また、筐体9630a側の表示部9631aのタッチパネルの領域と筐体9630b側の表示部9631bのタッチパネルの領域に対して同時にタッチ入力することもできる。
また、スイッチ9625乃至スイッチ9627は、タブレット型端末9600を操作するためのインターフェースだけでなく、様々な機能の切り替えを行うことができるインターフェースとしてもよい。例えば、スイッチ9625乃至スイッチ9627から選ばれた一または二以上は、タブレット型端末9600の電源のオン・オフを切り替えるスイッチとして機能してもよい。また、例えば、スイッチ9625乃至スイッチ9627から選ばれた一または二以上は、縦表示又は横表示などの表示の向きを切り替える機能、又は白黒表示とカラー表示を切り替える機能を有してもよい。また、例えば、スイッチ9625乃至スイッチ9627から選ばれた一または二以上は、表示部9631の輝度を調整する機能を有してもよい。また、表示部9631の輝度は、タブレット型端末9600に内蔵している光センサで検出される使用時の外光の光量に応じて最適なものとすることができる。なお、タブレット型端末は光センサだけでなく、ジャイロ、加速度センサ等の傾きを検出するセンサなどの他の検出装置を内蔵させてもよい。
また、図34(A)では筐体9630a側の表示部9631aと筐体9630b側の表示部9631bの表示面積とがほぼ同じ例を示しているが、表示部9631a及び表示部9631bのそれぞれの表示面積は特に限定されず、一方のサイズと他方のサイズが異なっていてもよく、表示の品質も異なっていてもよい。例えば一方が他方よりも高精細な表示を行える表示パネルとしてもよい。
図34(B)は、タブレット型端末9600を2つ折りに閉じた状態であり、タブレット型端末9600は、筐体9630、太陽電池9633、DCDCコンバータ9636を含む充放電制御回路9634を有する。また、蓄電体9635として、本発明の一態様に係る蓄電体を用いる。
なお、上述の通り、タブレット型端末9600は2つ折りが可能であるため、非使用時に筐体9630aおよび筐体9630bを重ね合せるように折りたたむことができる。折りたたむことにより、表示部9631を保護できるため、タブレット型端末9600の耐久性を高めることができる。また、本発明の一態様の二次電池を用いた蓄電体9635は放電容量が高く、良好なサイクル特性を有するため、長期間に渡って長時間の使用ができるタブレット型端末9600を提供できる。
また、この他にも図34(A)および図34(B)に示したタブレット型端末9600は、様々な情報(静止画、動画、テキスト画像など)を表示する機能、カレンダー、日付又は時刻などを表示部に表示する機能、表示部に表示した情報をタッチ入力操作又は編集するタッチ入力機能、様々なソフトウェア(プログラム)によって処理を制御する機能、等を有することができる。
タブレット型端末9600の表面に装着された太陽電池9633によって、電力をタッチパネル、表示部、又は映像信号処理部等に供給することができる。なお、太陽電池9633は、筐体9630の片面又は両面に設けることができ、蓄電体9635の充電を効率的に行う構成とすることができる。なお蓄電体9635としては、リチウムイオン電池を用いると、小型化を図れる等の利点がある。
また、図34(B)に示す充放電制御回路9634の構成、および動作について図34(C)にブロック図を示し説明する。図34(C)には、太陽電池9633、蓄電体9635、DCDCコンバータ9636、コンバータ9637、スイッチSW1乃至SW3、表示部9631について示しており、蓄電体9635、DCDCコンバータ9636、コンバータ9637、スイッチSW1乃至SW3が、図34(B)に示す充放電制御回路9634に対応する箇所となる。
まず外光により太陽電池9633により発電がされる場合の動作の例について説明する。太陽電池で発電した電力は、蓄電体9635を充電するための電圧となるようDCDCコンバータ9636で昇圧又は降圧がなされる。そして、表示部9631の動作に太陽電池9633からの電力が用いられる際にはスイッチSW1をオンにし、コンバータ9637で表示部9631に必要な電圧に昇圧又は降圧をすることとなる。また、表示部9631での表示を行わない際には、SW1をオフにし、SW2をオンにして蓄電体9635の充電を行う構成とすればよい。
なお太陽電池9633については、発電手段の一例として示したが、特に限定されず、圧電素子(ピエゾ素子)および熱電変換素子(ペルティエ素子)などの他の発電手段による蓄電体9635の充電を行う構成であってもよい。例えば、無線(非接触)で電力を送受信して充電する無接点電力伝送モジュール、さらに他の充電手段を組み合わせて行う構成としてもよい。
図35に、他の電子機器の例を示す。図35において、表示装置8000は、本発明の一態様に係る二次電池8004を用いた電子機器の一例である。具体的に、表示装置8000は、TV放送受信用の表示装置に相当し、筐体8001、表示部8002、スピーカ部8003、二次電池8004等を有する。本発明の一態様に係る二次電池8004は、筐体8001の内部に設けられている。表示装置8000は、商用電源から電力の供給を受けることもできるし、二次電池8004に蓄積された電力を用いることもできる。よって、停電などにより商用電源から電力の供給が受けられない時でも、本発明の一態様に係る二次電池8004を無停電電源として用いることで、表示装置8000の利用が可能となる。
表示部8002には、液晶表示装置、有機EL素子などの発光素子を各画素に備えた発光装置、電気泳動表示装置、DMD(Digital Micromirror Device)、PDP(Plasma Display Panel)、FED(Field Emission Display)などの、半導体表示装置を用いることができる。
なお、表示装置には、TV放送受信用の他、パーソナルコンピュータ用、広告表示用など、全ての情報表示用表示装置が含まれる。
図35において、据え付け型の照明装置8100は、本発明の一態様に係る二次電池8103を用いた電子機器の一例である。具体的に、照明装置8100は、筐体8101、光源8102、二次電池8103等を有する。図35では、二次電池8103が、筐体8101及び光源8102が据え付けられた天井8104の内部に設けられている場合を例示しているが、二次電池8103は、筐体8101の内部に設けられていても良い。照明装置8100は、商用電源から電力の供給を受けることもできるし、二次電池8103に蓄積された電力を用いることもできる。よって、停電などにより商用電源から電力の供給が受けられない時でも、本発明の一態様に係る二次電池8103を無停電電源として用いることで、照明装置8100の利用が可能となる。
なお、図35では天井8104に設けられた据え付け型の照明装置8100を例示しているが、本発明の一態様に係る二次電池は、天井8104以外、例えば側壁8105、床8106、窓8107等に設けられた据え付け型の照明装置に用いることもできるし、卓上型の照明装置などに用いることもできる。
また、光源8102には、電力を利用して人工的に光を得る人工光源を用いることができる。具体的には、白熱電球、蛍光灯などの放電ランプ、LEDおよび有機EL素子などの発光素子が、上記人工光源の一例として挙げられる。
図35において、室内機8200及び室外機8204を有するエアコンディショナーは、本発明の一態様に係る二次電池8203を用いた電子機器の一例である。具体的に、室内機8200は、筐体8201、送風口8202、二次電池8203等を有する。図35では、二次電池8203が、室内機8200に設けられている場合を例示しているが、二次電池8203は室外機8204に設けられていても良い。或いは、室内機8200と室外機8204の両方に、二次電池8203が設けられていても良い。エアコンディショナーは、商用電源から電力の供給を受けることもできるし、二次電池8203に蓄積された電力を用いることもできる。特に、室内機8200と室外機8204の両方に二次電池8203が設けられている場合、停電などにより商用電源から電力の供給が受けられない時でも、本発明の一態様に係る二次電池8203を無停電電源として用いることで、エアコンディショナーの利用が可能となる。
なお、図35では、室内機と室外機で構成されるセパレート型のエアコンディショナーを例示しているが、室内機の機能と室外機の機能とを1つの筐体に有する一体型のエアコンディショナーに、本発明の一態様に係る二次電池を用いることもできる。
図35において、電気冷凍冷蔵庫8300は、本発明の一態様に係る二次電池8304を用いた電子機器の一例である。具体的に、電気冷凍冷蔵庫8300は、筐体8301、冷蔵室用扉8302、冷凍室用扉8303、二次電池8304等を有する。図35では、二次電池8304が、筐体8301の内部に設けられている。電気冷凍冷蔵庫8300は、商用電源から電力の供給を受けることもできるし、二次電池8304に蓄積された電力を用いることもできる。よって、停電などにより商用電源から電力の供給が受けられない時でも、本発明の一態様に係る二次電池8304を無停電電源として用いることで、電気冷凍冷蔵庫8300の利用が可能となる。
なお、上述した電子機器のうち、電子レンジ等の高周波加熱装置、電気炊飯器などの電子機器は、短時間で高い電力を必要とする。よって、商用電源では賄いきれない電力を補助するための補助電源として、本発明の一態様に係る二次電池を用いることで、電子機器の使用時に商用電源のブレーカーが落ちるのを防ぐことができる。
また、電子機器が使用されない時間帯、特に、商用電源の供給元が供給可能な総電力量のうち、実際に使用される電力量の割合(電力使用率と呼ぶ)が低い時間帯において、二次電池に電力を蓄えておくことで、上記時間帯以外において電力使用率が高まるのを抑えることができる。例えば、電気冷凍冷蔵庫8300の場合、気温が低く、冷蔵室用扉8302、冷凍室用扉8303の開閉が行われない夜間において、二次電池8304に電力を蓄える。そして、気温が高くなり、冷蔵室用扉8302、冷凍室用扉8303の開閉が行われる昼間において、二次電池8304を補助電源として用いることで、昼間の電力使用率を低く抑えることができる。
本発明の一態様により、二次電池のサイクル特性が良好となり、信頼性を向上させることができる。また、本発明の一態様によれば、放電容量が高い二次電池とすることができ、よって、二次電池の特性を向上することができ、よって、二次電池自体を小型軽量化することができる。そのため本発明の一態様である二次電池を、本実施の形態で説明した電子機器に搭載することで、より長寿命で、より軽量な電子機器とすることができる。
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせて実施することが可能である。
(実施の形態6)
本実施の形態では、先の実施の形態で説明した二次電池を用いた電子機器の例について図36(A)乃至図37(C)を用いて説明する。
図36(A)は、ウェアラブルデバイスの例を示している。ウェアラブルデバイスは、電源として二次電池を用いる。また、使用者が生活または屋外で使用する場合において、防沫性能、耐水性能または防塵性能を高めるため、接続するコネクタ部分が露出している有線による充電だけでなく、無線充電も行えるウェアラブルデバイスが望まれている。
例えば、図36(A)に示すような眼鏡型デバイス4000に本発明の一態様である二次電池を搭載することができる。眼鏡型デバイス4000は、フレーム4000aと、表示部4000bを有する。湾曲を有するフレーム4000aのテンプル部に二次電池を搭載することで、軽量であり、且つ、重量バランスがよく継続使用時間の長い眼鏡型デバイス4000とすることができる。本発明の一態様である二次電池を備えることで、筐体の小型化に伴う省スペース化に対応できる構成を実現することができる。
また、ヘッドセット型デバイス4001に本発明の一態様である二次電池を搭載することができる。ヘッドセット型デバイス4001は、少なくともマイク部4001aと、フレキシブルパイプ4001bと、イヤフォン部4001cを有する。フレキシブルパイプ4001b内および/またはイヤフォン部4001c内に二次電池を設けることができる。本発明の一態様である二次電池を備えることで、筐体の小型化に伴う省スペース化に対応できる構成を実現することができる。
また、身体に直接取り付け可能なデバイス4002に本発明の一態様である二次電池を搭載することができる。デバイス4002の薄型の筐体4002aの中に、二次電池4002bを設けることができる。本発明の一態様である二次電池を備えることで、筐体の小型化に伴う省スペース化に対応できる構成を実現することができる。
また、衣服に取り付け可能なデバイス4003に本発明の一態様である二次電池を搭載することができる。デバイス4003の薄型の筐体4003aの中に、二次電池4003bを設けることができる。本発明の一態様である二次電池を備えることで、筐体の小型化に伴う省スペース化に対応できる構成を実現することができる。
また、ベルト型デバイス4006に本発明の一態様である二次電池を搭載することができる。ベルト型デバイス4006は、ベルト部4006aおよびワイヤレス給電受電部4006bを有し、ベルト部4006aの内部に、二次電池を搭載することができる。本発明の一態様である二次電池を備えることで、筐体の小型化に伴う省スペース化に対応できる構成を実現することができる。
また、腕時計型デバイス4005に本発明の一態様である二次電池を搭載することができる。腕時計型デバイス4005は表示部4005aおよびベルト部4005bを有し、表示部4005aまたはベルト部4005bに、二次電池を設けることができる。本発明の一態様である二次電池を備えることで、筐体の小型化に伴う省スペース化に対応できる構成を実現することができる。
表示部4005aには、時刻だけでなく、メールおよび電話の着信等、様々な情報を表示することができる。
また、腕時計型デバイス4005は、腕に直接巻きつけるタイプのウェアラブルデバイスであるため、使用者の脈拍、血圧等を測定するセンサを搭載してもよい。使用者の運動量および健康に関するデータを蓄積し、健康を管理することができる。
図36(B)に腕から取り外した腕時計型デバイス4005の斜視図を示す。
また、側面図を図36(C)に示す。図36(C)には、内部に二次電池913を内蔵している様子を示している。二次電池913は実施の形態4に示した二次電池である。二次電池913は表示部4005aと重なる位置に設けられており、小型、且つ、軽量である。
図36(D)はワイヤレスイヤホンの例を示している。ここでは一対の本体4100aおよび本体4100bを有するワイヤレスイヤホンを図示するが、必ずしも一対でなくてもよい。
本体4100aおよび4100bは、ドライバユニット4101、アンテナ4102、二次電池4103を有する。表示部4104を有していてもよい。また無線用IC等の回路が載った基板、充電用端子等を有することが好ましい。またマイクを有していてもよい。
ケース4110は、二次電池4111を有する。また無線用IC、充電制御IC等の回路が載った基板、充電用端子を有することが好ましい。また表示部、ボタン等を有していてもよい。
本体4100aおよび4100bは、スマートフォン等の他の電子機器と無線で通信することができる。これにより他の電子機器から送られた音データ等を本体4100aおよび4100bで再生することができる。また本体4100aおよび4100bがマイクを有すれば、マイクで取得した音を他の電子機器に送り、該電子機器により処理をした後の音データを再び本体4100aおよび4100bに送って再生することができる。これにより、たとえば翻訳機として用いることもできる。
またケース4110が有する二次電池4111から、本体4100aが有する二次電池4103に充電を行うことができる。二次電池4111および二次電池4103としては先の実施の形態のコイン型二次電池、円筒形二次電池等を用いることができる。実施の形態1で得られる正極活物質100を正極に用いた二次電池は高エネルギー密度であり、二次電池4103および二次電池4111に用いることで、ワイヤレスイヤホンの小型化に伴う省スペース化に対応できる構成を実現することができる。
図37(A)は、掃除ロボットの一例を示している。掃除ロボット6300は、筐体6301上面に配置された表示部6302、側面に配置された複数のカメラ6303、ブラシ6304、操作ボタン6305、二次電池6306、各種センサなどを有する。図示されていないが、掃除ロボット6300には、タイヤ、吸い込み口等が備えられている。掃除ロボット6300は自走し、ゴミ6310を検知し、下面に設けられた吸い込み口からゴミを吸引することができる。
例えば、掃除ロボット6300は、カメラ6303が撮影した画像を解析し、壁、家具または段差などの障害物の有無を判断することができる。また、画像解析により、配線などブラシ6304に絡まりそうな物体を検知した場合は、ブラシ6304の回転を止めることができる。掃除ロボット6300は、その内部に本発明の一態様に係る二次電池6306と、半導体装置または電子部品を備える。本発明の一態様に係る二次電池6306を掃除ロボット6300に用いることで、掃除ロボット6300を稼働時間が長く信頼性の高い電子機器とすることができる。
図37(B)は、ロボットの一例を示している。図37(B)に示すロボット6400は、二次電池6409、照度センサ6401、マイクロフォン6402、上部カメラ6403、スピーカ6404、表示部6405、下部カメラ6406および障害物センサ6407、移動機構6408、演算装置等を備える。
マイクロフォン6402は、使用者の話し声及び環境音等を検知する機能を有する。また、スピーカ6404は、音声を発する機能を有する。ロボット6400は、マイクロフォン6402およびスピーカ6404を用いて、使用者とコミュニケーションをとることが可能である。
表示部6405は、種々の情報の表示を行う機能を有する。ロボット6400は、使用者の望みの情報を表示部6405に表示することが可能である。表示部6405は、タッチパネルを搭載していてもよい。また、表示部6405は取り外しのできる情報端末であっても良く、ロボット6400の定位置に設置することで、充電およびデータの受け渡しを可能とする。
上部カメラ6403および下部カメラ6406は、ロボット6400の周囲を撮像する機能を有する。また、障害物センサ6407は、移動機構6408を用いてロボット6400が前進する際の進行方向における障害物の有無を察知することができる。ロボット6400は、上部カメラ6403、下部カメラ6406および障害物センサ6407を用いて、周囲の環境を認識し、安全に移動することが可能である。
ロボット6400は、その内部に本発明の一態様に係る二次電池6409と、半導体装置または電子部品を備える。本発明の一態様に係る二次電池をロボット6400に用いることで、ロボット6400を稼働時間が長く信頼性の高い電子機器とすることができる。
図37(C)は、飛行体の一例を示している。図37(C)に示す飛行体6500は、プロペラ6501、カメラ6502、および二次電池6503などを有し、自律して飛行する機能を有する。
例えば、カメラ6502で撮影した画像データは、電子部品6504に記憶される。電子部品6504は、画像データを解析し、移動する際の障害物の有無などを察知することができる。また、電子部品6504によって二次電池6503の蓄電容量の変化から、バッテリ残量を推定することができる。飛行体6500は、その内部に本発明の一態様に係る二次電池6503を備える。本発明の一態様に係る二次電池を飛行体6500に用いることで、飛行体6500を稼働時間が長く信頼性の高い電子機器とすることができる。
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせて実施することが可能である。
(実施の形態7)
本実施の形態では、車両に本発明の一態様である二次電池を搭載する例を示す。
二次電池を車両に搭載すると、ハイブリッド車(HV)、電気自動車(EV)、又はプラグインハイブリッド車(PHV)等の次世代クリーンエネルギー自動車を実現できる。
図38において、本発明の一態様である二次電池を用いた車両を例示する。図38(A)に示す自動車8400は、走行のための動力源として電気モーターを用いる電気自動車である。または、走行のための動力源として電気モーターとエンジンを適宜選択して用いることが可能なハイブリッド自動車である。本発明の一態様を用いることで、航続距離の長い車両を実現することができる。また、自動車8400は二次電池を有する。二次電池は、車内の床部分に対して、図23(C)および図23(D)に示した二次電池のモジュールを並べて使用すればよい。また、図26に示す二次電池を複数組み合わせた電池パックを車内の床部分に対して設置してもよい。二次電池は電気モーター8406を駆動するだけでなく、ヘッドライト8401およびルームライト(図示せず)などの発光装置に電力を供給することができる。
また、二次電池は、自動車8400が有するスピードメーター、タコメーターなどの表示装置に電力を供給することができる。また、二次電池は、自動車8400が有するナビゲーションシステムなどの半導体装置に電力を供給することができる。
図38(B)に示す自動車8500は、自動車8500が有する二次電池にプラグイン方式および/または非接触給電方式等により外部の充電設備から電力供給を受けて、充電することができる。図38(B)に、地上設置型の充電装置8021から自動車8500に搭載された二次電池8024に、ケーブル8022を介して充電を行っている状態を示す。充電に際しては、充電方法およびコネクタの規格等はCHAdeMO(登録商標)またはコンボ等の所定の方式で適宜行えばよい。充電装置8021は、商用施設に設けられた充電ステーションでもよく、また家庭の電源であってもよい。例えば、プラグイン技術によって、外部からの電力供給により自動車8500に搭載された二次電池8024を充電することができる。充電は、ACDCコンバータ等の変換装置を介して、交流電力を直流電力に変換して行うことができる。
また、図示しないが、受電装置を車両に搭載し、地上の送電装置から電力を非接触で供給して充電することもできる。この非接触給電方式の場合には、道路および/または外壁に送電装置を組み込むことで、停車中に限らず走行中に充電を行うこともできる。また、この非接触給電の方式を利用して、車両どうしで電力の送受信を行ってもよい。さらに、車両の外装部に太陽電池を設け、停車時および/または走行時に二次電池の充電を行ってもよい。このような非接触での電力の供給には、電磁誘導方式および/または磁界共鳴方式を用いることができる。
また、図38(C)は、本発明の一態様の二次電池を用いた二輪車の一例である。図38(C)に示すスクータ8600は、二次電池8602、サイドミラー8601、方向指示灯8603を備える。二次電池8602は、方向指示灯8603に電気を供給することができる。
また、図38(C)に示すスクータ8600は、座席下収納8604に、二次電池8602を収納することができる。二次電池8602は、座席下収納8604が小型であっても、座席下収納8604に収納することができる。二次電池8602は、取り外し可能となっており、充電時には二次電池8602を屋内に持って運び、充電し、走行する前に収納すればよい。
本発明の一態様によれば、二次電池のサイクル特性が良好となり、二次電池の放電容量を大きくすることができる。よって、二次電池自体を小型軽量化することができる。二次電池自体を小型軽量化できれば、車両の軽量化に寄与するため、航続距離を向上させることができる。また、車両に搭載した二次電池を車両以外の電力供給源として用いることもできる。この場合、例えば電力需要のピーク時に商用電源を用いることを回避することができる。電力需要のピーク時に商用電源を用いることを回避できれば、省エネルギー、および二酸化炭素の排出の削減に寄与することができる。また、サイクル特性が良好であれば二次電池を長期に渡って使用できるため、コバルトをはじめとする希少金属の使用量を減らすことができる。
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせて実施することが可能である。
本実施例では、本発明の一態様の正極活物質100を作製し、その特徴を分析した。
<正極活物質の作製>
図16および図17に示す作製方法を参照しながら本実施例で作製したサンプルについて説明する。
図16のステップS14のLiCoOとして、遷移金属Mとしてコバルトを有し、添加元素を特に有さない市販のコバルト酸リチウム(日本化学工業株式会社製、セルシードC-10N)を用意した。ステップS15の初期加熱として、このコバルト酸リチウムをるつぼに入れ、蓋をし、850℃、2時間、マッフル炉にて加熱した。マッフル炉内は酸素雰囲気とした後、フローしなかった(Oパージ)。初期加熱後の回収量を確認すると重量がやや減少していることがわかった。コバルト酸リチウムから炭酸リチウム等の不純物が除去されたため重量が減少した可能性がある。
図17(A)および図17(B)で示したステップS21およびステップS41に従って、添加元素としてMg,F,Ni,Alを分けて添加した。図17(A)で示したステップS21に従って、F源としてLiFを用意し、Mg源としてMgFを用意した。LiF:MgFを1:3(モル比)となるように秤量した。次に脱水アセトン中にLiF,及びMgFを混合して、400rpmの回転速度で12時間攪拌して添加元素源(A1源)を作製した。混合にはボールミルを用い、粉砕メディアとして酸化ジルコニウムボールを用いた。混合用ボールミルの容量45mLに対し、脱水アセトン20mL、酸化ジルコニウムボール(1mmφ)22gと共に合計約9gのF源およびMg源を入れて混合した。その後300μmの目を有するふるいでふるい、A1源を得た。
次にステップS31として、A1源がコバルトの1原子%となるように秤量して、初期加熱後のコバルト酸リチウムと乾式で混合した。このとき150rpmの回転速度で1時間攪拌した。これはA1源を得るときの攪拌より緩やかな条件である。最後に300μmの目を有するふるいでふるい、粒径の揃った混合物903を得た(ステップS32)。
次にステップS33として、混合物903を加熱した。加熱条件は、900℃及び20時間とした。加熱の際、混合物903をいれたるつぼに蓋を配した。るつぼ内は酸素を有する雰囲気とし、当該酸素の出入りは遮断した(パージ)。加熱によりMg,及びFを有する複合酸化物を得た(ステップS34a)。
次にステップS51として、複合酸化物と添加元素源(A2源)を混合した。図17(B)で示したステップS41に従って、Ni源として水酸化ニッケルを用意し、Al源として水酸化アルミニウムを用意した。水酸化ニッケルがコバルトの0.5原子%となり、水酸化アルミニウムがコバルトの0.5原子%となるように秤量して、複合酸化物と乾式で混合した。このとき150rpmの回転速度で1時間攪拌した。混合にはボールミルを用い、粉砕メディアとして酸化ジルコニウムボールを用いた。混合用ボールミルの容量45mLに対し、酸化ジルコニウムボール(1mmφ)22gと共に合計約7.5gのNi源およびAl源を入れて混合した。これはA1源を得るときの攪拌より緩やかな条件である。最後に300μmの目を有するふるいでふるい、粒径の揃った混合物904を得た(ステップS52)。
次にステップS53として、混合物904を加熱した。加熱条件は、850℃及び10時間とした。加熱の際、混合物904をいれたるつぼに蓋を配した。るつぼ内は酸素を有する雰囲気とし、当該酸素の出入りは遮断した(パージ)。加熱によりMg,F、Ni、及びAlを有するコバルト酸リチウムを得た(ステップS54)。このようにして得た正極活物質(複合酸化物)をサンプル1-1とした。
また、ステップS15の加熱時間を10時間とした他はサンプル1-1と同様に作製したものを、サンプル1-2とした。
また、ステップS15の加熱温度を750℃とした他はサンプル1-1と同様に作製したものを、サンプル1-3とした。
また、ステップS15の加熱温度を900℃とした他はサンプル1-1と同様に作製したものを、サンプル1-4とした。
また、ステップS15の加熱温度を950℃とした他はサンプル1-1と同様に作製したものを、サンプル1-5とした。
また、ステップS15の加熱を行わなかったものをサンプル2とした。サンプル2ではステップS53の加熱を酸素流量10L/分とした。
また比較例として、特に処理を行わないコバルト酸リチウム(日本化学工業株式会社製、セルシードC-10N)をサンプル10とした。
またコバルト酸リチウムにステップS15の加熱を行っただけのものをサンプル11とした。
サンプル1-1、1-2、1-3、1-4、1-5、2、10および11の作製条件を表2に示す。表2からも明らかなように、サンプル1-1乃至サンプル1-5はいずれも、特に添加元素を有さないLiCoOに初期加熱した後、マグネシウム源、フッ素源、ニッケル源およびアルミニウム源を添加し加熱したものである点が共通しているため、共通点を有さないサンプルと区別する上でこれらを全てサンプル1と呼んでもよい。
Figure 2022173119000003
<SEM>
図39にSEM(Scanning Electron Microscope)観察結果を示す。本実施例のSEM観察は、日立ハイテク社製走査電子顕微鏡装置SU8030を用い、測定条件は、加速電圧5kV、倍率5000倍及び2万倍とした。
図39(A)及び図39(B)は、あらかじめ合成されたコバルト酸リチウム(LCO)であるサンプル10(日本化学工業株式会社製のセルシードC-10N)のSEM像である。図39(A)ではLCOの全体像が確認できる。図39(B)は図39(A)と同じLCOを拡大したもので、LCOの一部が確認できる。いずれの観察結果からもLCO表面がざらざらし、異物が付着しているような様子が確認できる。あらかじめ合成されたLCO表面は凹凸が多いことがわかる。
図39(C)及び図39(D)は、サンプル11(上記セルシードC-10Nに対して加熱処理を行ったLCO)のSEM像である。図39(C)ではLCO全体像が確認できる。図39(D)は図39(C)を拡大したものでありLCOの一部が確認できる。いずれの観察結果からもLCO表面がなめらかになった様子が確認できる。初期加熱を実施したLCO表面は凹凸が少なくなることがわかる。
図39(E)及び図39(F)には、サンプル1-1(上記セルシードC-10Nに対して加熱処理を行い、添加元素としてMg,F、Ni及びAlを有するLCO)のSEM像である。図39(E)ではLCO全体像が確認できる。図39(F)は図39(E)を拡大したものでありLCOの一部が確認できる。いずれの観察結果からもLCO表面がなめらかになった様子が確認できる。初期加熱のみを実施したLCOよりもなめらかなものとなった。初期加熱を実施し、添加元素を添加したLCO表面は凹凸が少なくなることがわかる。
SEM観察結果から、初期加熱によりLCO表面がなめらかになることが分かった。初期加熱によりLCO表面が改善され、さらに結晶のずれなども緩和されたため、表面がなめらかになったと考えられる。初期加熱後、LCOに添加元素が添加された場合においても表面のなめらかさは維持される、又はより一層なめらかになることが分かった。
次にLCOとして完成した粉体の状態から、プレス前、プレス後、サイクル試験後の様子についてSEM観察した。まず粉体の様子を説明する。図40(A)には初期加熱を実施したサンプル1-1のSEM像を示す。これは図39(F)に対応したものである。図40(B)には初期加熱を実施しなかったサンプル10を示す。図40(A)及び図40(B)より、初期加熱を実施したサンプル1-1の表面がなめらかであり、異物の付着が少ないことがわかる。
次にプレス前の様子を説明する。プレス前とは活物質及び導電材等を所定の条件で混合して得られたスラリーから溶媒を揮発させたLCOであって、集電体へ塗工した状態のものを指す。条件は、活物質として粉体のLCOと、導電材であるアセチレンブラック(AB)と、バインダであるPVDFとを、LCO:AB:PVDF=95:3:2(wt%)の割合とし、2000rpmで混合してスラリーを作製した。スラリーの溶媒はNMPを用い、アルミニウムの集電体にスラリーを塗工した後に、溶媒を揮発させた。図40(C)には初期加熱を実施したサンプル1-1のプレス前のSEM像を示す。図40(D)には初期加熱を実施しなかったサンプル10のプレス前のSEM像を示す。図40(C)及び図40(D)より、混合したことでLCO表面等にひびが入ったことが確認できる。
次にプレス後の様子を説明する。プレス後とは、スラリー溶媒が揮発した後に、集電体上に形成された正極層に対してプレスした状態のものを指す。プレス条件はロールプレス機を用いて上下のロール温度を120℃とし、先に210kN/mで加圧を行い、その後1467kN/mで加圧を行った。図40(E)には初期加熱を実施したサンプル1-1のプレス後のSEM像を示す。図40(F)には初期加熱を実施しなかったサンプル10のプレス後のSEM像を示す。図40(E)及び図40(F)より、プレスしたことでLCO表面等にスリップが入ったことが確認できる。
<スリップ>
スリップとは、積層欠陥とも呼び、プレスによってLCOが格子縞方向(ab面方向)に沿って変形した様子をいう。変形には格子縞同士が前後にずれることが含まれる。格子縞同士が前後にずれると、格子縞に対して垂直方向(c軸方向)の粒子表面には、段差が生じる。表面の段差が、図40(E)及び図40(F)では写真の左右を横切る線状に確認できる。
次にサイクル試験後の様子を説明する。サイクル試験は上記プレス後のLCOを有するハーフセルを作製して測定を行った。
ハーフセルに用いる電解液として、エチレンカーボネート(EC)とジエチルカーボネート(DEC)をEC:DEC=3:7(体積比)で混合したものに、添加剤としてビニレンカーボネート(VC)を2wt%加えたものを用意した。電解液が有する電解質には、1mol/Lの六フッ化リン酸リチウム(LiPF)を用いた。
ハーフセルに用いるセパレータにはポリプロピレンを用いた。ハーフセルに用いる対極にはリチウム金属を用意した。このようにしてコイン型のハーフセルを形成し、サイクル特性を測定した。
作製したハーフセルに対して、充電及び放電電流100mA/g、充放電電圧4.6Vかつ測定温度が25℃となるようにして、充放電を50サイクル行った。図40(G)には初期加熱を実施したサンプル1-1の50サイクル後のSEM像を示す。図40(H)には初期加熱を実施しなかったサンプル10の50サイクル後のSEM像を示す。図40(G)及び図40(H)を比較し、サイクル試験後のスリップの様子に着目した。図40(G)のサンプル1-1は、図40(H)のサンプル10よりもスリップが進行せずに、プレス後と差があまりないことがわかる。一方、図40(H)の初期加熱を実施しなかったサンプル10ではスリップが進行し、段差が増したため、線状の模様が鮮明に確認できる。
SEM観察結果から、初期加熱により表面がなめらかになったLCOはプレス後からサイクル試験後にて、スリップの進行が抑えられることが分かった。サイクル試験後にスリップが進行すると考えられ、当該スリップ等の欠陥は劣化要因であると考えられる。初期加熱は少なくともスリップの進行を抑えることができ好ましい。
<STEMおよびEDX(エネルギー分散型X線分析)>
次にサンプル10、サンプル11およびサンプル1-1についてSTEM-EDXによる面分析(たとえば元素マッピング)および電子線回折を行った。またサンプル2について電子線回折を行った。
分析に供する前の前処理として、各サンプルをFIB法(μ-サンプリング法)によって薄片化した。
STEMおよびEDXは下記の装置および条件で行った。
≪STEM観察≫
走査透過電子顕微鏡 : 日本電子製 JEM-ARM200F
観察条件 加速電圧 : 200kV
倍率精度 : ±10%
≪EDX≫
分析手法 : エネルギー分散型X線分光法(EDX)
走査透過電子顕微鏡 : 日本電子製 JEM-ARM200F
加速電圧 : 200kV
ビーム径 : 約0.1nmφ
元素分析装置 : JED-2300T
X線検出器 : Siドリフト検出器
エネルギー分解能 : 約140eV
X線取出角 : 21.9°
立体角 : 0.98sr
取込画素数 : 128×128
サンプル10のHAADF-STEM像を図41(A)および図41(B)に示す。図41(A)は(001)配向である表面および表層部、図41(B)は(001)配向以外の表面および表層部である。いずれも層状岩塩型の結晶構造を有することが観察された。図中のPoint1-1乃至Point1-3、およびPoint2-1乃至Point2-3で極微電子線回折パターンを取得した。そのd値、面角度、および空間群R-3mとして算出した格子定数を表3に示す。
同様に、サンプル11のHAADF-STEM像を図42(A)および図42(B)に示す。図42(A)は(001)配向である表面および表層部、図42(B)は(001)配向以外の表面および表層部である。いずれも層状岩塩型の結晶構造を有することが観察された。図中のPoint3-1乃至Point3-3、およびPoint4-1乃至Point4-3で極微電子線回折パターンを取得した。そのd値、面角度、および空間群R-3mとして算出した格子定数を表3に示す。
サンプル1-1の(001)配向である表面および表層部のHAADF-STEM像を図43(A)に示す。図43(A)中の極微電子線回折パターンの取得箇所を図43(B)にPoint3-1乃至Point3-3で示す。
図44(A)に図43(B)中のPoint3-1の極微電子線回折パターンを示し、d値および面角度を求めるのに用いた回折スポットを図44(B)に丸で囲って示す。併せてコバルト酸リチウムの文献値を示す。また図45(A)に図43(B)中のPoint3-2の極微電子線回折パターンを示し、d値および面角度を求めるのに用いた回折スポットを図45(B)に丸で囲って示す。また図46(A)に図43(B)中のPoint3-3の極微電子線回折パターンを示し、d値および面角度を求めるのに用いた回折スポットを図46(B)に丸で囲って示す。これらのd値、面角度、および空間群R-3mとして算出した格子定数を表3に示す。
図47(A)にサンプル1-1の(001)配向である表面および表層部のHAADF-STEM像を示す。この領域についてEDX面分析を行ったところ、C,O,F,Mg,Al,Si,Ca,CoおよびGaが検出された。GaはFIB加工由来と考えられた。SiおよびCaは、ステップS14で用いたLiCoOに微量含まれていたものが表面に偏在してきたと考えられた。主要な元素であるコバルトおよび酸素、並びに顕著な偏在が確認されたマグネシウム、アルミニウムおよびシリコンについて、マッピング像を図47(B)乃至図47(F)に示す。
また図48(A)にサンプル1-1の(001)配向である表面および表層部のHAADF-STEM像を示し、STEM-EDX線分析のスキャン方向を矢印で示す。図48(B)に該領域のSTEM-EDX線分析のプロファイルを示す。図49に、図48(B)を縦軸方向に拡大した図を示す。
図48(B)および図49のプロファイルから、表面は距離7.95nmの点と推測した。具体的には、コバルトの検出量が増加を始める近辺を避けた領域を図48(B)および図49の距離0.25乃至3.49nmとした。またコバルトおよび酸素のカウントが飽和し安定した領域を距離56.1乃至59.3nmとした。遷移金属MであるCoを採用し、MAVEとMBGとの和の50%の点を計算すると1408.1Countsとなり、回帰直線を求めて見積もると表面は7.95nmとなった。前後1nmは誤差とみなす。
次にサンプル1-1の(001)配向でない表面および表層部のHAADF-STEM像を図50(A)に示す。図50(A)中の極微電子線回折パターンの取得箇所を図50(B)にPoint4-1乃至Point4-3で示す。
図51(A)に図50(B)中のPoint4-1の極微電子線回折パターンを示し、d値および面角度を求めるのに用いた回折スポットを図51(B)に丸で囲って示す。併せてコバルト酸リチウムの文献値を示す。また図52(A)に図50(B)中のPoint4-2の極微電子線回折パターンを示し、d値および面角度を求めるのに用いた回折スポットを図52(B)に丸で囲って示す。また図53(A)に図50(B)中のPoint4-3の極微電子線回折パターンを示し、d値および面角度を求めるのに用いた回折スポットを図53(B)に丸で囲って示す。これらのd値、面角度、および空間群R-3mとして算出した格子定数を表3に示す。
図54(A)にサンプル1-1の(001)配向でない表面および表層部のHAADF-STEM像を示す。この領域についてEDX面分析を行ったところ、C,O,F,Mg,Al,Si,Co,NiおよびGaが検出された。主要な元素であるコバルト、並びに顕著な偏在が確認されたシリコン、マグネシウム、アルミニウムおよびニッケルについて、マッピング像を図54(B)乃至図54(F)に示す。
また図55(A)にサンプル1-1の(001)配向でない表面および表層部のHAADF-STEM像を示し、STEM-EDX線分析のスキャン方向を矢印で示す。図55(B)に該領域のSTEM-EDX線分析のプロファイルを示す。図56に、図55(B)を縦軸方向に拡大した図を示す。
図55(B)および図56のプロファイルから、表面は距離7.45nmと推測した。具体的には、コバルトの検出量が増加を始める近辺を避けた領域を図55(B)および図56の0.25乃至3.49nmとした。またコバルトおよび酸素のカウントが飽和し安定した領域を距離56.1乃至59.3nmとした。遷移金属MであるCoを採用し、MAVEとMBGとの和の50%の点を計算すると1749.0 Countsとなり、回帰直線を求めて見積もると表面は7.45nmとなった。前後1nmは誤差とみなす。
以上の(001)配向である面および(001)配向でない面を比較すると、下記のことが明らかとなった。
ニッケルは(001)配向である面では検出されず、(001)配向でない面では検出された。またマンガンおよびアルミニウムと、コバルトと、の比は(001)配向である面と、(001)配向でない面で差があった。
より具体的には添加元素と、コバルトと、の強度比は(001)配向である面でMg/Co=0.07、Al/Co=0.06であった。またマグネシウムの分布の半値幅は1.38nmであった。
一方で(001)配向でない面では強度比がMg/Co=0.14、Al/Co=0.04、Ni/Co=0.05であった。またマグネシウムの分布の半値幅は1.90nm、ニッケルの分布の半値幅は1.67nmであった。
また(001)配向でない面ではアルミニウムよりもニッケル、ニッケルよりもマグネシウムが、より表面側に分布していた。
また(001)配向であるよりも、(001)配向でない面の方がAl/Coの強度比が小さいため、(001)配向でない面ではアルミニウムが正極活物質の内部に拡散したと推測された。
またいずれの配向の表面でも、アルミニウムよりもマグネシウムが表面側に分布していた。また上記半値幅でも明らかなように、マグネシウムの分布はアルミニウムの分布よりもシャープな形状であった。またいずれの配向の表面でも、フッ素は表面に検出された。
次にサンプル2の(001)配向である表面および表層部のHAADF-STEM像を図57(A)および図57(B)に示す。これらの図中に、極微電子線回折パターンの取得箇所をPoint1およびPoint2で示す。また図示しないが、サンプル2の内部の領域からも極微電子線回折パターンを取得した。これらから得られたd値、面角度、および空間群R-3mとして算出した格子定数を表3に示す。
Figure 2022173119000004
≪極微電子線回折パターン≫
なお表3に示した格子定数は、極微電子線回折パターンから算出されたものであり、XRDパターンから算出した格子定数と直接比較はできない。しかし、極微電子線回折パターンから算出した格子定数同士の比較は可能であり、各サンプルの特徴を示しているといえる。
表3に示すように、サンプル2のうち最も表面に近いPoint1で格子定数が大きかった。そのため、最も表面に近い測定箇所と、より内部の測定箇所で格子定数の差が大きかった。これは表層部に酸化マグネシウムをはじめとする岩塩型の結晶構造の特徴が強くみられるためと考えられた。
一方サンプル1-1はいずれの測定箇所でも格子定数に大きな差はみられず、最も表面に近い測定箇所でも極微電子線回折パターンでは層状岩塩型の特徴が強かった。これは初期加熱によって、岩塩型の酸化コバルト(CoO)などが層状岩塩型の結晶構造に修復されたためと推測された。
より具体的には、サンプル2では、Point1(表面から深さ1nm以下の測定箇所)の方が、Point2(深さ3nm以上10nm以下の測定箇所)よりもa軸について0.13Å、c軸について1.14Å、格子定数が大きかった。
一方でサンプル1-1は表面から深さ1nm以下の測定箇所と、深さ3nm以上10nm以下までの測定箇所における格子定数の差は、a軸について0.04Å以下、c軸について0.3Å以下であった。
サンプル1-1のように表面から深さ1nm以下の領域の極微電子線回折パターンにおいても、内部と同様の格子定数および層状岩塩型の結晶構造の特徴を保つことで、表層部の結晶構造を安定化させる機能がより強くなることが示された。これは表層部のリチウムサイトに、マグネシウムをはじめとする添加元素が効果的に挿入されているためと推測された。
<粒度分布および比表面積>
次に、初期加熱の前後で粒度分布を測定した結果を図58(A)および図58(B)に示す。レーザ回折・散乱法を用いた粒度分布計によって測定した。図58(A)に頻度、図58(B)に積算の結果を示す。点線があらかじめ合成されたコバルト酸リチウム(LCO)であるサンプル10(日本化学工業株式会社製のセルシードC-10N)、実線がサンプル11(上記セルシードC-10Nに対して加熱処理を行ったLCO)である。
次に、サンプル10およびサンプル11について比表面積を測定した結果を表4に示す。定容法によるガス吸着法を用いた比表面積測定装置によって測定した。測定には窒素ガスを用いた。
Figure 2022173119000005
粒度分布から、加熱を経ることでメディアン径が大きくなることが明らかとなった。また加熱を経ることで比表面積が小さくなっていることから、表面がなめらかになり、凹凸が減少したことが明らかとなった。これらの結果は、SEMによる観察結果と一致するものである。
<活物質表面の凹凸>
本実施例では、活物質の表面のなめらかさについて、サンプル1-1、サンプル10およびサンプル11の表面の凹凸を、以下の方法により測定して評価した。
まずサンプル1-1、サンプル10およびサンプル11のSEM(Scanning Electron Microscope)画像を取得した。このときサンプル1-1、サンプル10およびサンプル11に対するSEMの測定条件を同じにした。測定条件としては加速電圧および倍率が挙げられる。本実施例のSEM観察では、観察前処理としてサンプルに導電性コーティングを施した。具体的には白金スパッタリングを20秒行った。日立ハイテク社製走査電子顕微鏡装置SU8030を用いて観察を行った。測定条件は、加速電圧5kV、倍率5000倍とし、その他の測定条件としてワーキングディスタンス5.0mm、エミッション電流9~10.5μA、引き出し電圧5.8kV、SE(U)モード(Upper secondary electron detector)、ABCモード(Auto Brightness Contrast Control)も同じになるようにし、オートフォーカスで観察した。
図59(A)にサンプル1-1、図59(B)にサンプル11、図59(C)にサンプル10のSEM像をそれぞれ示す。図59(A)乃至(C)のSEM像では、次に行う画像解析の対象領域に四角を付している。対象領域の面積は4μm×4μmであり、全ての正極活物質で同じ面積とした。対象領域内はSEM観察面として水平になるようにした。
図59(A)及び図59(B)は初期加熱を実施した正極活物質であり、図59(C)の初期加熱を行わなかったものと比べて表面の凹凸が少ないことがわかる。さらに凹凸の要因ともなりうる表面に付着した異物が少ないことも確認できる。さらに図59(A)及び図59(B)のサンプル1-1およびサンプル11は角部に丸みを帯びているように見える。これらより初期加熱を行ったサンプルは、表面がなめらかになると理解できる。またサンプル1-1は初期加熱後に添加元素を添加したサンプルであるが、初期加熱による表面のなめらかさが維持されていることがわかる。
これらより初期加熱を行った正極活物質は、表面がなめらかになると理解できる。
ここで本発明者等は図59(A)乃至図59(C)に示す画像において、正極活物質の表面状態は輝度変化を伴って撮影されることに着目した。輝度変化を利用することで、画像解析によって表面の凹凸に関する情報を数値化できるのはないかと考えた。
そこで本実施例では図59(A)乃至図59(C)に示す画像を、画像処理ソフト「ImageJ」を用いて解析し、正極活物質の表面なめらかさについて数値化することを試みた。なお、当該解析を実施する画像処理ソフトとして「ImageJ」は例示であって、「ImageJ」に限定されるものではない。
まず「ImageJ」を用いて、図59(A)乃至図59(C)に示す画像をそれぞれ、8ビットに変換した画像(これをグレースケール画像と呼ぶ)を取得する。グレースケール画像は、1画素を8ビットで表したものであり、輝度(明るさ情報)を含んでいる。たとえば8ビットのグレースケール画像では、輝度を2の8乗=256階調で表すことができる。暗い部分は階調数が低くなり、明るい部分は階調数が高くなる。階調数と関連付けて輝度変化を数値化することを試みた。当該数値をグレースケール値と呼ぶ。グレースケール値を取得することで正極活物質の凹凸を数値として評価することが可能となる。
さらに対象領域の輝度変化をヒストグラムで表すことも可能となる。ヒストグラムとは対象領域における階調分布を立体的に示したもので、輝度ヒストグラムとも呼ぶ。輝度ヒストグラムを取得することで正極活物質の凹凸を視覚的にわかりやすく、評価することが可能となる。
上記に従ってサンプル1-1、サンプル10およびサンプル11の画像から8ビットのグレースケール画像を取得し、さらにグレースケール値、及び輝度ヒストグラムを取得した。
図60(A)乃至図60(C)にサンプル1-1、サンプル10およびサンプル11のグレースケール値を示す。x軸はグレースケール値を示し、y軸はカウント数を示す。カウント数は、x軸に示すグレースケール値の存在割合に対応した値である。カウント数はログスケールで示した。
上述したようにグレースケール値は表面の凹凸に関連した数値である。よってグレースケール値から、正極活物質の表面は、サンプル1-1、サンプル11およびサンプル10の順に平坦であると示唆される。初期加熱を実施したサンプル1-1は表面が最もなめらかであるとわかる。また初期加熱を実施したサンプル11は初期加熱を実施していないサンプル10よりも表面がなめらかであるとわかる。
各サンプルにおけるグレースケール値の最小値及び最大値を含む範囲がわかる。サンプル1-1の最大値は206、最小値は96であった。サンプル11の最大値は206、最小値は82であった。サンプル10の最大値は211、最小値は99であった。
最大値と最小値との差が最も小さいサンプル1-1は表面の凹凸差が小さいことを示している。サンプル11はサンプル10と比較すると表面の凹凸差が小さいことがわかる。サンプル1-1、11の表面凹凸差が小さく、初期加熱の実施により表面がなめらかになることが理解できる。
さらにグレースケール値について標準偏差を評価した。標準偏差とはデータのばらつきを表す指標の一つであり、グレースケール値のばらつきが小さいと、標準偏差は小さな値となる。グレースケール値は凹凸に対応と考えられるため、グレースケール値のばらつきが小さいことは凹凸ばらつきが少なく、平坦であることに関連する。当該標準偏差は、サンプル1-1が5.816、サンプル11が7.218、サンプル10が11.514であった。標準偏差から正極活物質の表面の凹凸のばらつきが小さいのは、サンプル1-1、サンプル11、サンプル10の順であると示唆される。初期加熱を実施したサンプル1-1は表面凹凸のばらつきが小さく、なめらかであるとわかる。また初期加熱を実施したサンプル11は初期加熱を実施していないサンプル10よりも表面凹凸のばらつきが小さく、なめらかであるとわかる。
以下の表5に、最小値、最大値、最大値と最小値の差(最大値-最小値)、及び標準偏差を一覧にして示す。
Figure 2022173119000006
上記結果より表面がなめらかなサンプル1-1およびサンプル11はグレースケール値の最大値と最小値との差が120以下となることが分かる。当該差は好ましくは、115以下であり、さらに好ましくは70以上115以下である。また表面がなめらかなサンプル1-1およびサンプル11はグレースケール値の標準偏差が11以下となることが分かる。標準偏差は好ましくは8以下である。
また図61(A)乃至図61(C)にサンプル1-1、サンプル11およびサンプル10の輝度ヒストグラムを示す。
輝度ヒストグラムは、対象範囲を平坦な面に見立てて、グレースケール値に基づく凹凸を立体的に表すことができる。正極活物質の凹凸を直接観察するよりも、凹凸の様子を把握しやすい。図61(A)乃至図61(C)に示す輝度ヒストグラムから、正極活物質の表面は、サンプル1-1、サンプル11およびサンプル10の順に平坦であると示唆される。初期加熱を実施したサンプル1-1は表面が最もなめらかであるとわかる。また初期加熱を実施したサンプル11は初期加熱を実施していないサンプル10よりも表面がなめらかであるとわかる。
サンプル1-1、サンプル11およびサンプル10につき、同じ条件で作製された別のサンプルを8つ選んで、本実施例と同様な画像解析を行った。8つのサンプルを検証しても、上記サンプル1-1、サンプル11およびサンプル10と同様な傾向がわかった。
このような画像解析によりなめらかな様子を定量化して確認することができる。初期加熱を行った正極活物質は表面に凹凸が少なく、なめらかとなることがわかった。
<ハーフセル充放電サイクル特性>
本実施例では、本発明の一形態である正極活物質を用いて、ハーフセルを組み立ててサイクル特性を評価した。ハーフセルに対するサイクル特性評価により正極単体の性能を把握する。
まず上記サンプル1-1およびサンプル1-2を正極活物質として、ハーフセルを組み立てた。以下にハーフセルの条件を説明する。
上記正極活物質を用意し、導電材にアセチレンブラック(AB)を用意し、バインダにポリフッ化ビニリデン(PVDF)を用意し、正極活物質:AB:PVDF=95:3:2(重量比)で混合してスラリーを作製し、該スラリーをアルミニウムの集電体に塗工した。スラリーの溶媒としてNMPを用いた。
集電体にスラリーを塗工した後、溶媒を揮発させた電極を、ロールプレス機を用いて上下のロール温度を120℃とし、先に210kN/mで加圧を行い、その後1467kN/mで加圧を行った。以上の工程により、正極を得た。正極の活物質担持量はおよそ7mg/cmとした。
電解液には、エチレンカーボネート(EC)とジエチルカーボネート(DEC)をEC:DEC=3:7(体積比)で混合したものに、添加剤としてビニレンカーボネート(VC)を2wt%加えたものを用い、電解液が有する電解質には、1mol/Lの六フッ化リン酸リチウム(LiPF)を用いた。セパレータにはポリプロピレンを用いた。
対極にはリチウム金属を用意して、上記正極等を備えたコイン型のハーフセルを形成し、サイクル特性を測定した。
サイクル特性を図62(A)乃至図63(D)に示す。
図62(A)乃至図62(D)は充電をCC/CV(100mA/g,4.6Vor4.7V,10mA/gcut)、放電をCC(100mA/g,2.5Vcut)、次の充電まで休止10分のサイクルで充放電を行ったサイクル特性結果を示す。測定温度は25℃または45℃とした。図62(A)は充放電電圧4.6Vかつ測定温度25℃の結果、図62(B)は充放電電圧4.6Vかつ測定温度45℃の結果、図62(C)は充放電電圧4.7Vかつ測定温度25℃の結果、図62(D)は充放電電圧4.7Vかつ測定温度45℃の結果である。いずれの結果も、サイクル回数に対する放電容量の変化を示すグラフであり、グラフの横軸はサイクル回数を示し、縦軸は放電容量(mAh/g)を示し、サンプル1-1の結果を実線で示し、サンプル1-2の結果を破線で示す。
図63(A)乃至図63(D)は図62(A)乃至図62(D)に対応した放電容量維持率を示す。図63(A)は充放電電圧4.6Vかつ測定温度25℃の結果、図63(B)は充放電電圧4.6Vかつ測定温度45℃の結果、図63(C)は充放電電圧4.7Vかつ測定温度25℃の結果、図63(D)は充放電電圧4.7Vかつ測定温度45℃の結果である。いずれの結果も、サイクル回数に対する放電容量維持率の変化を示すグラフであり、グラフの横軸はサイクル回数を示し、縦軸は放電容量維持率(%)を示し、サンプル1-1の結果を実線で示し、サンプル1-2の結果を破線で示す。
サンプル1-1及びサンプル1-2において、測定温度25℃での結果は充放電電圧が4.6V及び4.7Vのとき、測定温度45℃と比べて、放電容量及び放電容量維持率ともに良好であった。サンプル1-1及びサンプル1-2のサイクル特性結果から、初期加熱条件の違いである加熱時間によらず、本発明の正極活物質はサイクル特性が良好になることが示された。すなわち2時間以上10時間以下の初期加熱でサイクル特性が向上することが予想され、2時間以上の比較的短時間の範囲の加熱からでも初期加熱の効果を得られることがわかる。
サンプル1-1の最大放電容量は測定温度25℃、充放電電圧が4.6Vのとき、215.0mAh/gであり、測定温度25℃、充放電電圧が4.7Vのとき、222.5mAh/gであった。
サンプル1-1及びサンプル1-2において、測定温度45℃での結果は充放電電圧が4.6Vのとき4.7Vと比べて、放電容量維持率が良好であった。サンプル1-1及びサンプル1-2のサイクル特性結果から、初期加熱条件の違いである加熱時間によらず、本発明の正極活物質はサイクル特性が良好になることが示された。すなわち2時間以上10時間以下の初期加熱でサイクル特性が向上し、短時間の加熱でも初期加熱の効果を得られることがわかる。
放電容量について具体的に考察する。例えば充放電電圧4.6Vかつ測定温度25℃にてサンプル1-1の放電容量は200mAh/g以上220mAh/g以下となることが分かった。このように放電容量の値及び範囲は図62(A)乃至図62(D)からそれぞれ読み取ることができる。
放電容量維持率について具体的に考察する。例えば充放電電圧4.6Vかつ測定温度25℃にてサンプル1-1の放電容量維持率は94%以上となることが分かった。このように放電容量維持率の値及び範囲は図63(A)乃至図63(D)からそれぞれ読み取ることができる。
上記で作製したサンプル1-1、サンプル1-3乃至サンプル1-5を正極活物質として、ハーフセルを組み立てた。ハーフセルの条件は上述した通りである。当該ハーフセルに対して、充放電特性を測定した。
サイクル特性を図64(A)乃至図65(D)に示す。
図64(A)乃至図64(D)は充電及び放電電流100mA/gで充放電を行ったサイクル特性結果を示す。図64(A)は充放電電圧4.6Vかつ測定温度25℃の結果、図64(B)は充放電電圧4.6Vかつ測定温度45℃の結果、図64(C)は充放電電圧4.7Vかつ測定温度25℃の結果、図64(D)は充放電電圧4.7Vかつ測定温度45℃の結果である。いずれの結果も、サイクル回数に対する放電容量の変化を示すグラフであり、グラフの横軸はサイクル回数を示し、縦軸は放電容量(mAh/g)を示し、サンプル1-1の結果を実線で示し、サンプル1-3の結果を二点鎖線で示し、サンプル1-4の結果を一点鎖線で示し、サンプル1-5の結果を破線で示す。
図65(A)乃至図65(D)は図64(A)乃至図64(D)に対応した放電容量維持率を示す。図65(A)は充放電電圧4.6Vかつ測定温度25℃の結果、図65(B)は充放電電圧4.6Vかつ測定温度45℃の結果、図65(C)は充放電電圧4.7Vかつ測定温度25℃の結果、図65(D)は充放電電圧4.7Vかつ測定温度45℃の結果である。いずれの結果も、サイクル回数に対する放電容量維持率の変化を示すグラフであり、グラフの横軸はサイクル回数を示し、縦軸は放電容量維持率(%)を示し、サンプル1-1の結果を実線で示し、サンプル1-3の結果を二点鎖線で示し、サンプル1-4の結果を一点鎖線で示し、サンプル1-5の結果を破線で示す。
サンプル1-1、サンプル1-3乃至サンプル1-5において、測定温度25℃での結果は充放電電圧が4.6V及び4.7Vのとき、測定温度45℃と比べて、放電容量維持率が良好であった。サンプル1-1、サンプル1-3乃至サンプル1-5のサイクル特性結果から、初期加熱条件の違いである加熱温度によらず、本発明の正極活物質はサイクル特性が良好になることが示された。すなわち750℃以上950℃以下の初期加熱でサイクル特性が向上することが予想され、初期加熱の効果を得られることがわかる。初期加熱の効果が得られたサンプル同士を比較すると、サンプル1-1は、サンプル1-3乃至サンプル1-5と比べて好ましかった。
サンプル1-1、サンプル1-3乃至サンプル1-5において、測定温度45℃での結果は充放電電圧が4.6Vのとき4.7Vと比べて、放電容量及び放電容量維持率ともに良好であった。サンプル1-1、サンプル1-3乃至サンプル1-5のサイクル特性結果から、初期加熱条件の違いである加熱温度によらず、本発明の正極活物質はサイクル特性が良好になることが示された。すなわち750℃以上950℃以下の初期加熱でサイクル特性が向上することが予想され、初期加熱の効果を得られることがわかる。初期加熱の効果が得られたサンプル同士を比較すると、サンプル1-1は、サンプル1-3乃至サンプル1-5と比べて好ましかった。
放電容量について具体的な値を考察する。例えば充放電電圧4.6Vかつ測定温度25℃にてサンプル1-1の放電容量は200mAh/g以上220mAh/g以下となることが分かった。このように放電容量の値及び範囲は図64(A)乃至図64(D)からそれぞれ読み取ることができる。
放電容量維持率について具体的な値を考察する。例えば充放電電圧4.6Vかつ測定温度25℃にてサンプル1-1の放電容量維持率は94%以上となることが分かった。このように放電容量維持率の値及び範囲は図65(A)乃至図65(D)からそれぞれ読み取ることができる。
<フルセル充放電サイクル特性>
次に本実施例では、本発明の一形態である正極活物質を用いて、フルセルを組み立ててサイクル特性を評価した。フルセルに対するサイクル特性評価により二次電池としての性能を把握する。
まず上記サンプル1-1を正極活物質として、フルセルを組み立てた。フルセルの条件は、負極として黒鉛を用いた他は上述したハーフセル条件と同様に作製した。負極において黒鉛以外にVGCF(登録商標)、カルボキシメチルセルロース(CMC)、及びスチレンブタジエンゴム(SBR)を添加した。CMCは粘度を高めるために添加し、SBRはバインダとして添加した。なお黒鉛:VGCF:CMC:SBR=96:1:1:2(重量比)となるように混合した。このように作製したスラリーを銅の集電体に塗工した後に、溶媒を揮発させた。
サイクル特性を図66(A)乃至図66(B)に示す。
図66(A)は充電及び放電電流40mA/gで充放電を行った、充放電電圧4.5Vかつ測定温度25℃の放電容量維持率結果を示す。図66(B)は充電及び放電電流100mA/gで充放電を行った、充放電電圧4.6Vかつ測定温度45℃の放電容量維持率結果を示す。いずれの放電容量維持率ともに良好であった。
また測定温度25℃における最大放電容量は192.1mAh/gであり、測定温度45℃における最大放電容量は198.5mAh/gであった。初期加熱を行ったことで放電容量維持率及び放電容量ともに良好であった。
なおフルセルは負極に黒鉛を用いているため、ハーフセルのように対極リチウムを用いた場合の充放電電圧から約0.1V低くなっている。すなわち、フルセルにおける充放電電圧4.5Vは、ハーフセルにおける充放電電圧4.6V相当である。
<同一箇所の観察>
次に、添加元素混合後の加熱の前後において、同一箇所の正極活物質の表面および表層部を観察した。
通常の作製方法では同一箇所の観察が困難であるため、ペレット化してから添加元素を混合し加熱する方法で行った。具体的には下記の工程の通り行った。
まず添加元素を特に有さない市販のコバルト酸リチウム(日本化学工業株式会社製、セルシードC-10N)を用意し、ペレットダイスで圧粉してから加熱して成型した。ペレットダイスによる圧粉は20kN、5分とした。加熱は900℃、10時間、酸素流量5L/分とした。該加熱は初期加熱としての機能も有する。これにより、図67(A)に示す、直径10mm、厚さ2mmのLCOを含むペレット(以下LCOペレットと呼ぶ)を得た。観察箇所を記録しやすくするためマーカーを付した。
該LCOペレットについてSEM観察を行った。図67(B)にSEM像を示す。ペレット化のための加熱を経てはいるものの、表面に細かい段差を有する様子が観察された。段差は縞状に見えた。図中の矢印は段差の一部を指している。
次にLCOペレットに、添加元素源としてLiFとMgFを混合した。LiF:MgF=1:3(モル比)となるよう混合したものを、LCOペレットの両面にまぶした。これを900℃、20時間加熱した。マッフル炉内は酸素雰囲気とした後、フローしなかった(Oパージ)。このように作製したものサンプル3とした。サンプル3の作製条件を表6に示す。
Figure 2022173119000007
添加元素を混合し加熱した後のSEM像を図67(C)に示す。これは図67(B)と同一箇所である。図67(B)ではみられた縞状の段差がなくなり、なめらかになっている様子が観察された。一方新たな段差が、別の場所に発生していた。当該段差は図67(B)でみられた段差より小さなものであった。図中の矢印は新たな段差の一部を指している。
次にサンプル3について断面STEM-EDX測定を行った。図68(A)に断面加工をした箇所をX-X’で示す。これは加熱前に縞状の段差が存在していたがなめらかになった箇所と、新たな段差の箇所をどちらも含む断面である。
図68(B)に、X-X’の断面STEM像を示す。図68(B)のAを付した四角付近は、新たな段差が発生した箇所であり、表面がへこんでいる様子が観察でき、これが新たな段差として確認されたと考えられる。図68(B)のBを付した四角付近は、縞状の段差がなめらかになった箇所である。ほぼ表面が平坦である様子が観察できる。
図68(B)のAを付した四角付近を拡大したHAADF-STEM像を図69(A1)に示す。図69(A1)より段差、つまり断面視において凹部と凸部の差は、10nm以下、好ましくは3nm以下、さらに好ましくは1nm以下であるとわかる。また図68(B)中にBを付した四角付近を拡大したHAADF-STEM像を図69(B1)に示す。図69(B1)より段差、つまり断面視において凹部と凸部の差は、1nm以下であるとわかる。
図69(A1)と同じ領域のコバルトマッピング像を図69(A2)に、マグネシウムマッピング像を図69(A3)に、フッ素マッピング像を図69(A4)に示す。同様に、図69(B1)と同じ領域のコバルトマッピング像を図69(B2)に、マグネシウムマッピング像を図69(B3)に、フッ素マッピング像を図69(B4)に示す。
いずれの領域でも、表層部にマグネシウムが偏在している様子が観察された。マグネシウムは表面の形状に沿って概ね同じ厚みで分布していた。またフッ素の濃度はいずれの領域でも定量下限以下であった。
いずれの領域でもマグネシウムがLCOの表面の形状に沿って分布していたことから、加熱前に存在していた縞状の段差は、LCO自体が溶融しCoが移動することにより消失し、なめらかになったことが示唆される。
本実施例では、本発明の一態様の正極活物質100を作製し、その充電曲線のdQ/dVvsV曲線と、充電後結晶構造について分析した。
<正極活物質とハーフセルの作製>
実施例1の初期加熱を行ったサンプル1-1、初期加熱を行わなかったサンプル2および比較例サンプル10と同様に正極活物質を作製し、ハーフセルを作製した。正極を作製する際、プレスは行わなかった。
<充電dQ/dVvsV>
上記で作製したハーフセルを充電し、充電曲線を取得し、充電曲線からdQ/dVvsV曲線を求めた。具体的には、充放電制御装置から経時変化する電圧(V)と充電容量(Q)を取得し、電圧の差分と充電容量の差分を求めた。そして微細なノイズの影響を抑制するため、電圧および充電容量の差分について、区間数500の移動平均を求めた。そして充電容量の差分の移動平均を、電圧の差分の移動平均で微分(dQ/dV)した。これを横軸が電圧となるグラフとし、dQ/dVvsV曲線とした。
測定温度は25℃とし、4.9Vまで10mA/gで充電した。初回の充電の場合は、測定開始前に100mA/gで2.5Vまで放電してからdQ/dV測定を開始した。複数回目の充電の場合、充放電サイクルはCCCV充電(100mA/g、4.7V、10mA/gcut)、CC放電(2.5V、100mA/gcut)とした。
図70にサンプル1-1の初回、図71にサンプル2の初回、図72にサンプル2の4回目、図73にサンプル10の初回の充電dQ/dVvsV曲線を示す。
図70に示すように、初期加熱を行ったサンプル1-1のdQ/dVvsV曲線は、4.55V付近にブロードなピークを有した。より詳細には、4.5V以上4.6V以下の領域における最大値は4.57Vでの201.2mAh/gVであった。これを第1のピークとした。また4.3V以上4.5V以下の領域における最小値は4.43Vでの130.7mAh/gVであり、これを第1の最小値とした。また4.6V以上4.8V以下の領域における最小値は4.73Vでの56.6mAh/gVであり、これを第2の最小値とした。第1の最小値および第2の最小値を図中に上向きの矢印で示す。
第1のピークと第1の最小値との平均値HWHMは4.49Vでの166.7mAh/gVであった。第1のピークと第2の最小値との平均値HWHMは4.63Vでの128.3mAh/gVであった。HWHMおよびHWHMを図中に点線で示す。そのため、HWHMとHWHMの差、すなわち本明細書等でいう第1のピークの半値全幅は0.14Vとなり、0.10Vを上回った。
また4.2V付近にも鋭いピークを有した。より詳細には、4.15V以上4.25V以下の領域における最大値は4.19Vでの403.2mAh/gVであった。これを第2のピークとした。第1のピーク/第2のピークは0.50となり、0.8を下回った。
一方、図71に示すように、初期加熱を行わなかったサンプル2のdQ/dVvsV曲線の4.55V付近のピークは、サンプル1-1よりもシャープであった。より詳細には、4.5V以上4.6V以下の領域における最大値は4.56Vでの271.0mAh/gVであった。これを第1のピークとした。また4.3V以上4.5V以下の領域における最小値は4.37Vでの141.1mAh/gVであり、これを第1の最小値とした。また4.6V以上4.8V以下の領域における最小値は4.72Vでの43.5mAh/gVであり、これを第2の最小値とした。
第1のピークと第1の最小値との平均値HWHMは4.51Vでの206.4mAh/gVであった。第1のピークと第2の最小値との平均値HWHMは4.60Vでの157.7mAh/gVであった。HWHMとHWHMの差、すなわち第1のピークの半値全幅は0.09Vとなり、0.10Vを下回った。
また4.2V付近にも鋭いピークを有した。より詳細には、4.15V以上4.25V以下の領域における最大値は4.19Vでの313.1mAh/gVであった。これを第2のピークとした。第1のピーク/第2のピークは0.87となり、0.8を上回った。
また図72に示すように、サンプル2の4回目の充電dQ/dVvsV曲線の4.55V付近のピークは、初回充電よりさらにシャープになった。より詳細には、4.5V以上4.6V以下の領域における最大値は4.56Vでの389.9mAh/gVであった。これを第1のピークとした。また4.3V以上4.5V以下の領域における最小値は4.43Vでの142.5mAh/gVであり、これを第1の最小値とした。また4.6V以上4.8V以下の領域における最小値は4.74Vでの42.8mAh/gVであり、これを第2の最小値とした。
第1のピークと第1の最小値との平均値HWHMは4.53Vでの266.2mAh/gVであった。第1のピークと第2の最小値との平均値HWHMは4.59Vでの216.3mAh/gVであった。HWHMとHWHMの差、すなわち第1のピークの半値全幅は0.06Vとなり、0.10Vを下回った。
また図73に示すように、特に添加元素を有さないサンプル10のdQ/dVvsV曲線の4.55V付近のピークも、サンプル1-1よりもシャープであった。より詳細には、4.5V以上4.6V以下の領域における最大値は4.56Vでの402.8mAh/gVであった。これを第1のピークとした。また4.3V以上4.5V以下の領域における最小値は4.36Vでの136.2mAh/gVであり、これを第1の最小値とした。また4.6V以上4.8V以下の領域における最小値は4.71Vでの55.9mAh/gVであり、これを第2の最小値とした。
第1のピークと第1の最小値との平均値HWHMは4.53Vでの271.0mAh/gVであった。第1のピークと第2の最小値との平均値HWHMは4.62Vでの223.2mAh/gVであった。HWHMとHWHMの差、すなわち第1のピークの半値全幅は0.09Vとなり、これも0.10Vを下回った。
以上から、初期加熱を行ったサンプル1-1では、4.55V付近の第1のピークの半値全幅が0.10V以上と十分にブロードであるため、4.55V付近でのリチウム引き抜きに要するエネルギーの変化が少なく、結晶構造の変化が少ないことが示された。そのためCoO層のずれおよび体積の変化の影響が少なく、LiCoO中のxが小さくても比較的安定である正極活物質であることが示された。
<XRD>
次に実施例1と同様に作製したサンプル1-1およびサンプル2のハーフセルを用いて、充電後のXRD測定を行った。
初回充電(1st)後の測定の充電条件は、充電電圧は4.5V、4.55V、4.6V、4.7V、4.75Vまたは4.8Vとした。充電温度は25℃または45℃とした。充電方法はCC(10mA/g、各電圧)とした。
5回目の充電(5th)後の測定の充放電条件は、まず充放電サイクルを4回行った。充電はCCCV(100mA/g、4.7V、10mA/gcut)、放電はCC(2.5V、100mA/gcut)とし、次の充電の前に10分の休止時間を設けた。次に5回目の充電として、CC(10mA/g、各電圧)で充電した。
15回目の充電(15th)および50回目の充電(50th)後の測定も同様に、充放電サイクルを14回または49回、充電はCCCV(100mA/g、4.7V、10mA/gcut)、放電はCC(2.5V、100mA/gcut)、次の充電の前に10分の休止時間として行った後、CC(10mA/g、各電圧)で充電した。
いずれも充電完了後速やかに、充電状態のハーフセルをアルゴン雰囲気のグローブボックス内で解体して正極を取り出し、DMC(ジメチルカーボネート)で洗浄して電解液を取り除いた。取り出した正極を平坦な基板に両面テープで貼り付け、アルゴン雰囲気にて専用のセルに封入した。正極活物質層を装置の要求する測定面に合わせてセッティングした。充電時の温度に関わらず、XRD測定は室温で行った。
XRD測定の装置および条件は下記の通りとした。
XRD装置 :Bruker AXS社製、D8 ADVANCE
X線源 :CuKα
出力 :40kV、40mA
発散角 :Div.Slit、0.5°
検出器 :LynxEye
スキャン方式 :2θ/θ連続スキャン
測定範囲(2θ) :15°以上75°以下
ステップ幅(2θ) :0.01°設定
計数時間 :1秒間/ステップ
試料台回転 :15rpm
図74は25℃、初回充電後のサンプル1-1の各充電電圧のXRDパターンである。18°≦2θ≦21.5°を拡大したパターンを図75(A)に、36°≦2θ≦47°を拡大したパターンを図75(B)に示す。比較のためO1、H1-3、O3’およびLiCoO(O3)のXRDパターンを併せて示す。
図76は25℃、5回目の充電後のサンプル1-1の各充電電圧のXRDパターンである。18°≦2θ≦21.5°を拡大したパターンを図77(A)に、36°≦2θ≦47°を拡大したパターンを図77(B)に示す。比較のためO3’、O1、H1-3およびLi0.35CoOのXRDパターンを併せて示す。
図74乃至図77(B)から、25℃、充電電圧4.6Vの場合、5回目の充電後にO3’型の結晶構造を有することが示された。充電電圧4.7Vの場合、初回充電後にO3’型の結晶構造が現れ、5回目の充電後ではO3’型の結晶構造と共に2θ=19.47±0.10°と2θ=45.62±0.05°にピークを有する単斜晶O1(15)型の結晶構造を有することが示唆された。充電電圧4.8Vの場合、初回充電後にO3’型の結晶構造が現れ、5回目の充電後では主に単斜晶O1(15)型の結晶構造を有することが示唆された。図77(A)および図77(B)の2θ=19.47±0.10°と2θ=45.62±0.05°のピークに矢印を付した。
図78は45℃、初回充電後のサンプル1-1の各充電電圧のXRDパターンである。18°≦2θ≦21.5°を拡大したパターンを図79(A)に、36°≦2θ≦47°を拡大したパターンを図79(B)に示す。比較のためO1、H1-3、O3’およびLiCoO(O3)のXRDパターンを併せて示す。
図80は45℃、5回目の充電後のサンプル1-1の各充電電圧のXRDパターンである。18°≦2θ≦21.5°を拡大したパターンを図81(A)に、36°≦2θ≦47°を拡大したパターンを図81(B)に示す。比較のためO3’、O1、H1-3およびLiCoO(O3)のXRDパターンを併せて示す。
図78乃至図81(B)から、45℃、充電電圧4.6Vの場合、初回充電後にO3’型の結晶構造が現れ、5回目の充電後では単斜晶O1(15)型とH1-3型の結晶構造が現れていることが示された。充電電圧4.7Vの場合、5回目の充電後ではH1-3型の結晶構造の割合がより多くなっていることが示唆された。充電電圧4.75Vでは初回充電後に単斜晶O1(15)型の結晶構造が現れ、5回目の充電後ではO1型の結晶構造を有することが示唆された。図79(A)および図79(B)の2θ=19.47±0.10°と2θ=45.62±0.05°のピークに矢印を付した。
図88は25℃、充電電圧4.7Vのサンプル1-1の初回、5回目または50回目の充電後のXRDパターンである。18°≦2θ≦21.5°を拡大したパターンを図89(A)に、36°≦2θ≦47°を拡大したパターンを図89(B)に示す。比較のためO1、H1-3、O3’のXRDパターンを併せて示す。
図90は45℃、充電電圧4.7Vのサンプル1-1の初回、5回目、15回目または50回目の充電後のXRDパターンである。18°≦2θ≦21.5°を拡大したパターンを図91(A)に、36°≦2θ≦47°を拡大したパターンを図91(B)に示す。比較のためO1、H1-3、O3’のXRDパターンを併せて示す。
45℃、充電電圧4.7Vでは、50回目の充電ではLi0.68CoOの結晶構造が主となり、十分に充電できていないことが示唆された。
また図74乃至図80のXRDパターンの一部について、代表的な逆格子点(hkl)とそれに対応するピーク位置(2θ(degree))、および各ピークの半値全幅(FWHM)を求めたものを、表7および表8に示す。
Figure 2022173119000008
Figure 2022173119000009
図82は25℃、初回充電後のサンプル1-1のXRDパターンである。18°≦2θ≦21.5°を拡大したパターンを図83(A)に、36°≦2θ≦47°を拡大したパターンを図83(B)に示す。比較のためLiCoO(O3)、Li0.68CoO、Li0.5CoO単斜晶、Li0.35CoO、O3’、H1-3、O1、およびLi0.5CoOスピネルのXRDパターンを併せて示す。
図82乃至図83(B)から、25℃、充電電圧4.7Vの場合、初回充電後にO3’型の結晶構造が現れることが示された。
図84は45℃、初回充電後のサンプル1-1のXRDパターンである。18°≦2θ≦21.5°を拡大したパターンを図85(A)に、36°≦2θ≦47°を拡大したパターンを図85(B)に示す。比較のためLiCoO(O3)、Li0.68CoO、Li0.5CoO単斜晶、Li0.35CoO、O3’、H1-3、O1、およびLi0.5CoOスピネルのXRDパターンを併せて示す。
図86は45℃、5回目の充電後のサンプル2のXRDパターンである。18°≦2θ≦21.5°を拡大したパターンを図87(A)に、36°≦2θ≦47°を拡大したパターンを図87(B)に示す。比較のためO1、H1-3およびO3’のXRDパターンを併せて示す。
図84乃至図85(B)から、サンプル1-1では、45℃、充電電圧4.7Vの場合、初回充電後にO3’型の結晶構造が現れ、5回充電後にはH1-3型結晶構造が現れることが示された。図88乃至図89(B)から、サンプル2では、充電電圧4.7Vの場合は初回の充電からすでにH1-3型結晶構造が現れ、5回充電後にはO3’および単斜晶O1(15)構造がほとんどみられなかった。また、図88乃至図89(B)から、サンプル2では、充電電圧4.8Vの場合は初回の充電からO1構造が現れた。
以上に示すように、初期加熱を行わなかったサンプル2よりも、初期加熱を行って作製したサンプル1-1の方が、高電圧の充電および/または高温、つまりLiCoO中のxが0.24以下となるような充放電を行っても、H1-3型結晶構造になりにくく、結晶構造を保ちやすい正極活物質であることが示された。
またサンプル1-1では、一部の充電条件、たとえば25℃、充電電圧4.8V、5回目の充電後、および45℃、充電電圧4.75V、初回充電後等に、主に単斜晶O1(15)型の結晶構造を有することが示唆された。
<リートベルト解析>
次に上記のサンプル1-1のXRDパターンから、リートベルト法による解析を行った。
リートベルト法による解析には、解析プログラムRIETAN-FP(F.Izumi and K.Momma,Solid State Phenom.,130,15-20(2007)参照、非特許文献5)を用いた。
リートベルト法による解析では、各々のサンプルが有するO3構造、O3’構造、H1-3構造及びO1構造の存在量、を明らかにするために多相解析を行った。ここで、充放電サイクルを実施していないサンプル1-1が有する非晶質部の存在量をゼロとした。サンプル1-1が有するO3構造、O3’構造、H1-3構造及びO1構造の存在量の総和から、充電後の正極におけるO3構造、O3’構造、H1-3構造及びO1構造の存在量の総和、を引き、残った値を、充電後の正極における非晶質部の存在量とした。このとき、充電後の正極における非晶質部の存在量は、充放電サイクルによって発生又は増加した非晶質部の存在量、と考えることができる。
上記のリートベルト法による解析において、尺度因子(scale factor)はRIETAN-FPから出力された数値を使用した。O3構造、O3’構造、H1-3構造及びO1構造の存在比は、各結晶構造の多重度因子及び単位胞に含まれる化学式単位の数から、各結晶構造の存在比をモル分率で算出した。本実施例におけるリートベルト法による解析では、本実施例のXRD測定において有意なシグナルが存在しない範囲(2θ=23°以上27°以下)のホワイトノイズで各サンプルを規格化しており、各々の存在量は絶対値ではなく相対値である。
充放電サイクルを実施していないサンプル1-1と、サンプル1-1のハーフセルの1回目の充電後または5回目の充電後の正極が有するO3構造、O3’構造、H1-3構造、O1構造及び非晶質部の存在比率を、100分率として表9に示す。充放電の際の温度は25℃または45℃とした。
Figure 2022173119000010
表9から、45℃で5回以上充電を行った場合ではXRDパターンがブロードになり、非晶質の領域が増えていることが示された。
本実施例では、実施例1の初期加熱を行ったサンプル1-1と、サンプル10(比較例)の抵抗成分について分析した。
<粉体抵抗測定>
実施例1の初期加熱を行ったサンプル1-1と、サンプル10(比較例)と、に関して、粉体抵抗測定を実施した。測定装置は、三菱化学アナリテック社製のMCP-PD51を用い、4探針法の機器部分はロレスタ-GPとハイレスタ-GPを使い分けた。図92に粉体抵抗測定の結果を示す。
図92に示すとおり、サンプル10よりもサンプル1-1の方が、粉体抵抗が高い結果であった。活物質粒子の表層部に添加元素を有することがサンプル1-1とサンプル10との違いの1つであるため、表層部に添加元素を有する場合に粉体抵抗が高くなる可能性が考えられる。
<電流休止法>
実施例1の初期加熱を行ったサンプル1-1と、サンプル10(比較例)と、に関して、ハーフセルを作製し、電流休止法の測定をおこなった。正極及びハーフセルは、実施例1のハーフセルと同様に作製した。ただし正極を作製する際のプレス条件はロール温度を120℃とし、210kN/mとした。
電流休止法の測定条件を以下に示す。測定装置には、北斗電工株式会社製の電池充放電装置HJ1010 SD8を用いた。充電は4.70Vまで100mA/gの電流にて定電流充電した後、充電電流が10mA/gを下回るまで4.70Vでの定電圧充電をおこなう定電流定電圧(CCCV)の充電方法とした。放電は、10分間の100mA/gの定電流放電と、2分間の休止(充電及び放電のいずれも行わない)と、を放電電圧が2.50Vに達するまで繰り返す放電方法とした。上記の充電方法と放電方法と、を38サイクル繰り返した。サンプル1-1の25サイクル分の放電カーブを重畳したグラフを図93に示す。
図94は、内部抵抗の解析方法を説明する図である。休止期間の直前の電池電圧と、休止期間が始まって0.1秒後の電池電圧と、の差をΔV(0.1s)とする。また、休止期間が始まって0.1秒後の電池電圧と、休止期間が始まって120秒後の電池電圧(休止期間終了時の電池電圧)と、の差をΔV(0.1~120s)とする。次に、ΔV(0.1s)を定電流放電の電流値で除した値を、応答が速い抵抗成分R(0.1s)とし、ΔV(0.1~120s)を定電流放電の電流値で除した値を、応答が遅い抵抗成分R(0.1~120s)とする。応答が速い抵抗成分R(0.1s)は、主に電気的な抵抗(電子伝導抵抗)と電解液中のリチウムイオンの移動に由来し、応答が遅い抵抗成分R(0.1~120s)は、主に活物質粒子内のリチウム拡散抵抗に由来すると考えられる。
次に電流休止法の解析結果を以下に示す。図93において矢印で示した第2休止期間について、図94にて説明した解析方法を用いて、応答が速い抵抗成分R(0.1s)と、応答が遅い抵抗成分R(0.1~120s)を解析した。サンプル1-1及びサンプル10の解析結果について、図95(A)に25サイクルまでの放電容量の推移、図95(B)に応答が速い抵抗成分R(0.1s)の推移を示す。いずれも丸いマーカーはサンプル1-1、三角のマーカーはサンプル10のハーフセルのグラフである。
図95(A)に示すように、充放電サイクルの進行とともに、サンプル1-1では放電容量が、増加した後に減少する傾向がある。図95(B)に示すとおり、サンプル1-1では応答が速い抵抗成分R(0.1s)は、減少した後に増加する傾向があり、サンプル1-1の放電容量の変化傾向と応答が速い抵抗成分R(0.1s)の変化傾向には関係があると考えられる。つまり、サンプル1-1は、応答が速い抵抗成分R(0.1s)が減少することに伴い、放電容量が増加している、と考えることができる。なお、サンプル10の放電容量は減少方向のみの変化であり、応答が速い抵抗成分R(0.1s)は増加方向のみの変化である。サンプル1-1とサンプル10と、の違いの1つとして、活物質粒子の表層部に添加元素を有することが挙げられるが、図95(B)で示した応答が速い抵抗成分R(0.1s)の減少傾向は、添加元素を有する表層部の変化を反映している可能性が考えられる。図95(B)では、7回目の充放電までサンプル1-1の応答が速い抵抗成分R(0.1s)が減少傾向であった。
次に、サンプル1-1における、38サイクルまでの、応答が速い抵抗成分R(0.1s)及び応答が遅い抵抗成分R(0.1~120s)の推移を、図96に示す。四角いマーカーは応答が遅い抵抗成分R(0.1~120s)の推移、丸いマーカーは応答が速い抵抗成分R(0.1s)の推移のグラフである。
図96に示すように、応答が速い抵抗成分R(0.1s)よりも、応答が遅い抵抗成分R(0.1~120s)の方が大きく変化していた。応答が遅い抵抗成分R(0.1~120s)は、20サイクル付近から急増し、27サイクル目以降はほぼ一定の傾向であった。よって、サンプル1-1が4.70V、45℃の充放電サイクル条件において大きく劣化した状態は、応答が遅い抵抗成分R(0.1~120s)の主要因であるリチウム拡散抵抗が非常に大きい状態であることが推察される。
本実施例では、本発明の一態様の正極活物質100を作製しその特徴を分析した。また正極活物質の作製段階および二次電池として使用した後についても合わせて分析した。
Figure 2022173119000011
≪ラマン分光≫
表10に示すように、比較例のサンプル10、作成段階の複合酸化物であるサンプル11、本発明の一態様の正極活物質サンプル1-1、および本発明の一態様の正極活物質を使用した二次電池をエージング処理したサンプル1-10を、ラマン分光法にて分析した。
エージング処理は以下の条件とした。まず実施例1と同様にサンプル1-1を有するハーフセルを作製した。そして充電をCC/CV(20mA/g,4.3V,2mA/gcut)、放電をCC(20mA/g,2.5Vcut)、次の充電まで休止10分のサイクルで、2回充放電を行った。測定温度は25℃とした。
測定装置 :ブルカージャパン社製、顕微ラマン分光システム SENTERRA II
測定・解析ソフトウェア :OPUS Version 8.7
対物鏡 :50xRaman
レーザ波長 :532nm
レーザ出力 :2.5mW
アパーチャ :50μm
波数分解能 :4cm-1
ビニング :1
積算回数 :50
露光時間 :5000ms
粉末はくぼみのあるガラスプレート上に乗せて測定した。電極はガラスプレートに貼り付けて測定した。本測定前に光学顕微鏡で焦点を合わせた。
スペクトル解析は以下のように行った。まず50cm-1乃至4250cm-1の波数領域について、下記の条件でベースライン補正を行った。
メソッド :Concave rubberband補正
ベースラインポイント :64
インタラクティブモード
Iteration :3
ベースライン補正したスペクトルのうち300cm-1乃至800cm-1の波数領域を用いて、下記の手順でピーク分離を行った。
470cm-1乃至490cm-1、580cm-1乃至600cm-1、665cm-1乃至685cm-1の各領域にシングルピークの分布を1つずつ初期値として設定した。各分布の形状はLorentz+Gauss混合分布とし、混合の割合はフィッティングによって最適化されるようにした。メソッドはLevenberg-Marquardtを選択してフィッティングを行った。
665cm-1乃至685cm-1に設定したピークの波数位置がフィッティングによりこの範囲から外れた場合は、このピークを除外して2本の曲線で再度フィッティングを行った。
サンプル10およびサンプル11を測定した結果を図97(A)および図97(B)に示す。
サンプル1-1を3点測定した結果を図98(A)に示す。各ピークの積分強度を470cm-1乃至490cm-1をI1、580cm-1乃至600cm-1をI2、665cm-1乃至685cm-1をI3としたとき、I3/I2の値は3.1%、4.1%、8.1%であった。
サンプル1-10を6点測定したうち、3点を抜粋して図98(B)に示す。同様にI3/I2の値は3.6%、4.4%、4.7%、7.2%、7.2%、8.8%であった。
以上から、本発明の一態様の正極活物質は、I3/I2の値は1%以上10%以下、より詳細には3%以上9%以下となることが示された。
本実施例では、加熱に用いるるつぼの条件を変えて作製したサンプル1-1と、サンプル2を作製し、XPSを用いて分析を行った。XPSは表面から2乃至8nm程度(通常5nm以下)の深さまでの領域の分析が可能であるため、表面及び表層部の各元素の濃度を定量的に分析することができる。
サンプル1-1aおよびサンプル1-1cは加熱工程において、全て中古(used)の酸化アルミニウムのるつぼを用いた。サンプル1-1bは加熱工程において、全て新品(new)の酸化アルミニウムのるつぼを用いた。サンプル2は全て中古(used)の酸化アルミニウムのるつぼを用いた。いずれも他の条件は実施例1と同様に作製した。
≪XPS≫
上記の条件で作製した正極活物質について、XPSを用いて定量分析を行った。結果を表11に示す。また表11から求めた主要な元素比を表12に示す。またこれらの正極活物質を用い実施例1と同様に作製したハーフセルの、最大放電容量および50サイクル時点での放電容量維持率を併せて表12に示す。
Figure 2022173119000012
Figure 2022173119000013
表11および表12から、るつぼが新品であるか中古であるかにより、50サイクル時点での放電容量維持率に差が生じることが明らかとなった。
また、マグネシウムの比率が高いと、サイクル特性がよいことが明らかとなった。マグネシウムにより表層部が安定化していると推測できる。たとえばMg/Liは1.07以上1.12以下であることが好ましい。またMg/Coが0.76以上0.95以下であることが好ましい。
また、アルミニウムの比率が低いと、サイクル特性がよいことが明らかとなった。アルミニウムを有するにもかかわらずXPSで検出されるアルミニウムの比率が低いことは、アルミニウムがより正極活物質の深くまで表面から拡散して固溶していることを示唆する。たとえばAl/Liが0.6以下であることが好ましい。またAl/Coが0.5以下であることが好ましい。
また、フッ素の比率が高いと、サイクル特性がよいことが明らかとなった。フッ素が十分に検出されることは、フッ化物が融剤として効果的に機能し、コバルト酸リチウムの表面に濡れ広がったことを示唆する。たとえばF/Liが0.69以上0.79以下であることが好ましい。またF/Coが0.53以上0.61以下であることが好ましい。
また、ニッケルが検出されると、サイクル特性がよい傾向があった。ニッケルが検出可能な濃度で存在することで、表層部の結晶構造を安定化する機能が強くなっていると推測できる。
上記の特徴を複数満たすことで、良好なサイクル特性を示す正極活物質が作製できることが示された。
100 正極活物質
100a 表層部
100b 内部
101 結晶粒界
102 埋め込み部
104 被覆部

Claims (12)

  1. LiCoO中のxが1のとき、空間群R-3mの層状岩塩型の結晶構造を有し、
    LiCoO中のxが0.1を超えて0.24以下の充電状態のとき、
    空間群P2/m、
    格子定数a=4.88±0.01Å、
    b=2.82±0.01Å、
    c=4.84±0.01Å、
    α=90°、
    β=109.58±0.01°
    γ=90°の結晶構造を有する、正極活物質。
  2. 請求項1において、
    LiCoO中のxが0.1を超えて0.24以下の充電状態のときの結晶構造は、
    ユニットセルにおけるコバルトと酸素の座標が、
    Co1(0.5,0,0.5)、
    Co2(0,0.5,0.5)、
    O1(0.232,0,0.645)、
    O2(0.781,0.5,0.679)、である正極活物質。
  3. LiCoO中のxが1のとき、空間群R-3mの層状岩塩型の結晶構造を有し、
    LiCoO中のxが0.1を超えて0.24以下の充電状態のとき、
    粉末X線回折で分析すると、回折パターンは少なくとも2θが
    19.37°以上19.57°以下と、
    45.57°以上45.67°以下にピークを有する、正極活物質。
  4. LiCoO中のxが1のとき、空間群R-3mの層状岩塩型の結晶構造を有し、
    LiCoO中のxが0.1を超えて0.24以下の充電状態のとき、粉末X線回折で分析すると、回折パターンは少なくとも2θが
    19.13以上19.37未満と、
    19.37°以上19.57°以下と、
    45.37°以上45.57°未満と、
    45.57°以上45.67°以下と、にピークを有する、正極活物質。
  5. コバルト酸リチウムを有する正極活物質であって、
    前記正極活物質を正極に用い、リチウム金属を負極に用い、電池を作製した場合に、
    前記電池を4.7V以上の電圧で複数回CCCV充電した後、
    アルゴン雰囲気において前記電池の前記正極をCuKα線による粉末X線回折で分析したとき、XRDパターンは少なくとも2θ=19.47±0.10°、および2θ=45.62±0.05°に回折ピークを有する、正極活物質。
  6. 請求項5において
    前記電池は、1mol/Lの六フッ化リン酸リチウム(LiPF)と、エチレンカーボネート(EC)とジエチルカーボネート(DEC)をEC:DEC=3:7(体積比)、ビニレンカーボネート(VC)を2wt%含む混合物を電解液に用いたものである、正極活物質。
  7. コバルト酸リチウムを有する正極活物質であって、
    前記正極活物質を正極に用い、リチウム金属を負極に用い、
    1mol/Lの六フッ化リン酸リチウム(LiPF)と、エチレンカーボネート(EC)とジエチルカーボネート(DEC)をEC:DEC=3:7(体積比)、ビニレンカーボネート(VC)を2wt%含む混合物を電解液に用い、電池を作製した場合に、
    前記電池を45℃環境下において4.75Vの電圧まで電流値10mA/gで定電流充電した後、
    アルゴン雰囲気において前記電池の前記正極をCuKα線による粉末X線回折で分析したとき、XRDパターンは少なくとも2θ=19.47±0.10°、および2θ=45.62±0.05°に回折ピークを有する、正極活物質。
  8. コバルト酸リチウムを有する正極活物質であって、
    前記正極活物質を、レーザ波長532nm、出力2.5mWのラマン分光法にて分析し、
    各ピークの積分強度について、
    580cm-1乃至600cm-1をI2、
    665cm-1乃至685cm-1をI3としたとき、
    I3/I2の値が1%以上10%以下である、正極活物質。
  9. 請求項1乃至請求項8のいずれか一において、
    前記正極活物質は遷移金属Mを有し、
    前記遷移金属Mは、90原子%以上がコバルトである、正極活物質。
  10. 請求項9において、
    H1-3型およびO1型結晶構造が正極活物質の50%以下である正極活物質。
  11. 請求項10において、
    前記正極活物質は、マグネシウム、ニッケルおよびアルミニウムを表層部に有する、正極活物質。
  12. 請求項11において、
    前記正極活物質は、エネルギー分散型X線分析による線分析結果において、
    前記マグネシウムおよび前記ニッケルの濃度のピークは、
    前記アルミニウムの濃度のピークより前記正極活物質の表面側に位置する、正極活物質。
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