JP2021034725A5 - 基板処理システム - Google Patents

基板処理システム Download PDF

Info

Publication number
JP2021034725A5
JP2021034725A5 JP2020131891A JP2020131891A JP2021034725A5 JP 2021034725 A5 JP2021034725 A5 JP 2021034725A5 JP 2020131891 A JP2020131891 A JP 2020131891A JP 2020131891 A JP2020131891 A JP 2020131891A JP 2021034725 A5 JP2021034725 A5 JP 2021034725A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pressure
chamber
processing system
substrate processing
gas
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2020131891A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2021034725A (ja
JP7433164B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to US16/990,294 priority Critical patent/US11742188B2/en
Priority to KR1020200100668A priority patent/KR20210020808A/ko
Publication of JP2021034725A publication Critical patent/JP2021034725A/ja
Publication of JP2021034725A5 publication Critical patent/JP2021034725A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7433164B2 publication Critical patent/JP7433164B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本開示の一の態様によれば、少なくとも一つのガス供給口及び少なくとも一つのガス排気口を有するチャンバと、前記ガス供給口に接続され、前記チャンバの内部に処理ガスを供給するように構成されたガス供給部と、前記チャンバの内部の圧力を制御するように構成された圧力制御装置と、制御部と、を備える基板処理システムであって、前記圧力制御装置は、第1の排気ラインと、第2の排気ラインとを有し、前記第1の排気ラインは、一端が前記ガス排気口に接続された第1の管と、前記第1の管の第1位置に配置された第1の排気装置と、前記第1の管において前記チャンバ及び前記第1の排気装置の間に配置された第1の圧力制御器と、前記第1の管の他端に接続された第2の排気装置と、前記第1の管において前記第1の排気装置及び前記第2の排気装置の間に配置された第1の遮蔽バルブと、を有し、前記第2の排気ラインは、一端が前記ガス排気口に接続され、前記第1の管よりも断面積が小さい第2の管と、前記第2の管の第2位置に配置された第2の遮蔽バルブと、前記第2の管に接続された前記第2の排気装置と、前記第2の管において前記第2の遮蔽バルブ及び前記第2の排気装置の間に配置された第2の圧力制御器と、を有し、前記制御部は、プロセッサ及びメモリを含み、前記メモリは、(a)前記ガス供給部により前記チャンバ内に前記処理ガスを供給する工程と(b)前記第1の遮蔽バルブ及び前記第1の圧力制御器を開放し、前記第2の遮蔽バルブ及び前記第2の圧力制御器を閉鎖し、前記チャンバ内の圧力を前記第1の圧力制御器によって制御しながら、前記第1の排気装置及び前記第2の排気装置によって前記第1の排気ラインから前記チャンバ内の排気を行うことにより、前記チャンバ内の圧力を第1の圧力に制御する工程と、(c)前記第1の遮蔽バルブ及び前記第1の圧力制御器を閉鎖し、前記第2の遮蔽バルブ及び前記第2の圧力制御器を開放し、前記チャンバ内の圧力を前記第2の圧力制御器によって制御しながら、前記第2の排気装置によって前記第2の排気ラインから前記チャンバ内の排気を行うことにより、前記チャンバ内の圧力を前記第1の圧力よりも高い第2の圧力に制御する工程と、(d)前記(b)と、前記(c)とを切り替える工程と、を含むプログラム命令を記憶する、基板処理システムが提供される。

Claims (18)

  1. 少なくとも一つのガス供給口及び少なくとも一つのガス排気口を有するチャンバと、
    前記ガス供給口に接続され、前記チャンバの内部に処理ガスを供給するように構成されたガス供給部と、
    前記チャンバの内部の圧力を制御するように構成された圧力制御装置と、
    制御部と、を備える基板処理システムであって、
    前記圧力制御装置は、第1の排気ラインと、第2の排気ラインとを有し、
    前記第1の排気ラインは、一端が前記ガス排気口に接続された第1の管と、前記第1の管の第1位置に配置された第1の排気装置と、前記第1の管において前記チャンバ及び前記第1の排気装置の間に配置された第1の圧力制御器と、前記第1の管の他端に接続された第2の排気装置と、前記第1の管において前記第1の排気装置及び前記第2の排気装置の間に配置された第1の遮蔽バルブと、を有し、
    前記第2の排気ラインは、一端が前記ガス排気口に接続され、前記第1の管よりも断面積が小さい第2の管と、前記第2の管の第2位置に配置された第2の遮蔽バルブと、前記第2の管に接続された前記第2の排気装置と、前記第2の管において前記第2の遮蔽バルブ及び前記第2の排気装置の間に配置された第2の圧力制御器と、を有し、
    前記制御部は、プロセッサ及びメモリを含み、
    前記メモリは、
    (a)前記ガス供給部により前記チャンバ内に前記処理ガスを供給する工程と
    (b)前記第1の遮蔽バルブ及び前記第1の圧力制御器を開放し、前記第2の遮蔽バルブ及び前記第2の圧力制御器を閉鎖し、前記チャンバ内の圧力を前記第1の圧力制御器によって制御しながら、前記第1の排気装置及び前記第2の排気装置によって前記第1の排気ラインから前記チャンバ内の排気を行うことにより、前記チャンバ内の圧力を第1の圧力に制御する工程と、
    (c)前記第1の遮蔽バルブ及び前記第1の圧力制御器を閉鎖し、前記第2の遮蔽バルブ及び前記第2の圧力制御器を開放し、前記チャンバ内の圧力を前記第2の圧力制御器によって制御しながら、前記第2の排気装置によって前記第2の排気ラインから前記チャンバ内の排気を行うことにより、前記チャンバ内の圧力を前記第1の圧力よりも高い第2の圧力に制御する工程と、
    (d)前記(b)と、前記(c)とを切り替える工程と、
    を含むプログラム命令を記憶する、基板処理システム。
  2. 前記プログラム命令は、更に、前記(a)の前に、前記チャンバ内の圧力を測定する工程を含む、請求項1に記載の基板処理システム。
  3. 前記プログラム命令は、更に、前記(c)の前に、前記チャンバ内の圧力P1と、前記第2の管内における前記第2の圧力制御器よりも前記第2の排気装置に近い第3の位置の圧力P2とを測定する工程を備え、
    前記圧力P2が前記圧力P1よりも小さい場合に、前記(c)を実行する、
    請求項1又は2に記載の基板処理システム。
  4. 前記(b)の後に第1の処理を実行し、前記(c)の後に第2の処理を実行する、請求項1~3のいずれか一項に記載の基板処理システム。
  5. 前記第1の処理はエッチング処理又は成膜処理であり、前記第2の処理はアッシング処理又はクリーニング処理である、請求項4に記載の基板処理システム。
  6. 前記(b)では、前記チャンバ内の圧力を800mTorr以下に制御し、
    前記(c)では、前記チャンバ内の圧力を800mTorrよりも高く制御する、
    請求項1~5のいずれか一項に記載の基板処理システム。
  7. 前記(c)では、前記チャンバ内の圧力を1Torr~100Torrの範囲に制御する、
    請求項6に記載の基板処理システム。
  8. 前記処理ガスを所定圧力で貯留可能なタンクをさらに備え、
    前記(d)において、前記プログラム命令は、更に、前記(b)から前記(c)へ切り替える際に、前記ガス供給部及び前記タンクから前記チャンバ内に前記処理ガスを供給することにより、前記チャンバ内を昇圧する、請求項1~7のいずれか一項に記載の基板処理システム。
  9. 前記タンクは、前記チャンバ及び前記ガス供給部に接続するガス供給ラインのバイパスガスラインに設けられ、前記バイパスガスラインは、前記ガス供給ラインから分岐している、請求項8に記載の基板処理システム。
  10. 前記タンクは、前記チャンバ及び前記ガス供給部に接続するガス供給ラインのバイパスガスラインに設けられ、前記バイパスガスラインは、前記ガス供給ラインとは別に配置されている、請求項8に記載の基板処理システム。
  11. 前記(d)において、前記プログラム命令は、更に、前記(b)から前記(c)に切り替える際に、前記(b)の制御圧力に達するまで又は前記制御圧力に達する直前まで、前記ガス供給部から供給される前記処理ガスのガス流量を、前記制御圧力に達した後の処理ガスのガス流量よりも多くすることにより、前記チャンバ内を昇圧する、請求項1~10のいずれか一項に記載の基板処理システム。
  12. 前記圧力制御装置は、更に、前記チャンバの内部の圧力を測定する少なくとも一つの圧力センサを含む、請求項1~11のいずれか一項に記載の基板処理システム。
  13. 前記圧力制御装置は、更に、前記圧力P1をそれぞれ測定するように構成された第1の圧力センサ及び第2の圧力センサを含む、請求項3に記載の基板処理システム。
  14. 前記圧力制御装置は、更に、前記圧力P2を測定するように構成された第3の圧力センサを含む、請求項3に記載の基板処理システム。
  15. 前記第2の管の直径は、前記第1の管の直径の1/8以上であって1/6以下である、請求項1~14のいずれか一項に記載の基板処理システム。
  16. 前記第2の管の他端は、連結部で前記第1の管に接続されている、請求項1~15のいずれか一項に記載の基板処理システム。
  17. 前記第1の排気装置は、ターボ分子ポンプ、メカニカルブースターポンプ、クライオポンプの少なくともいずれかである、請求項1~16のいずれか一項に記載の基板処理システム。
  18. 前記第2の排気装置は、ドライポンプ又はメカニカルブースターポンプである、請求項1~17のいずれか一項に記載の基板処理システム。
JP2020131891A 2019-08-15 2020-08-03 基板処理システム Active JP7433164B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US16/990,294 US11742188B2 (en) 2019-08-15 2020-08-11 Substrate processing method, pressure control apparatus and substrate processing system
KR1020200100668A KR20210020808A (ko) 2019-08-15 2020-08-11 기판 처리 방법, 압력 제어 장치 및 기판 처리 시스템

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019149131 2019-08-15
JP2019149131 2019-08-15

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2021034725A JP2021034725A (ja) 2021-03-01
JP2021034725A5 true JP2021034725A5 (ja) 2023-04-27
JP7433164B2 JP7433164B2 (ja) 2024-02-19

Family

ID=74677755

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020131891A Active JP7433164B2 (ja) 2019-08-15 2020-08-03 基板処理システム

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP7433164B2 (ja)
KR (1) KR20210020808A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230101649A (ko) 2021-12-29 2023-07-06 세메스 주식회사 배기 유닛을 포함하는 기판 처리 장치 및 이를 이용한 기판 처리 방법
CN115637420A (zh) * 2022-10-25 2023-01-24 拓荆科技股份有限公司 用于双腔半导体设备的排气管路以及双腔半导体设备

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3989205B2 (ja) 2000-08-31 2007-10-10 松下電器産業株式会社 Cvd膜の形成方法
JP3770870B2 (ja) 2001-12-07 2006-04-26 東京エレクトロン株式会社 基板処理方法
KR20060063188A (ko) 2004-12-07 2006-06-12 삼성전자주식회사 화학기상증착장치 및 그를 이용한 화학기상증착방법
JP5048352B2 (ja) 2007-01-31 2012-10-17 東京エレクトロン株式会社 基板処理方法及び基板処理装置
JP2012094911A (ja) 2012-02-02 2012-05-17 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置及び処理方法
JP6080506B2 (ja) 2012-11-07 2017-02-15 東京エレクトロン株式会社 真空装置、その圧力制御方法及びエッチング方法
JP6408904B2 (ja) 2014-12-25 2018-10-17 東京エレクトロン株式会社 真空引き方法及び真空処理装置
JP6638576B2 (ja) 2016-06-27 2020-01-29 東京エレクトロン株式会社 真空処理装置及び真空処理方法並びに記憶媒体

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3501524B2 (ja) 処理装置の真空排気システム
JP4335469B2 (ja) 真空排気装置のガス循環量調整方法及び装置
JP2021034725A5 (ja) 基板処理システム
JP6242393B2 (ja) 処理チャンバを排気するための方法および装置
TW201139851A (en) Vacuum exhaust device and vacuum exhaust method, and substrate treatment device
JP2022065055A5 (ja)
JP4934117B2 (ja) ガス処理装置、ガス処理方法、および記憶媒体
KR101825237B1 (ko) 진공 펌핑 시스템
JP5956754B2 (ja) 真空排気システム
KR20230096820A (ko) 고압 및 진공공정 병행 챔버장치
CN113820069B (zh) 电容式真空规稳定性测试辅助装置及测试方法
JP2708569B2 (ja) 真空装置の脱ガス方法及び脱ガス装置
JP2020028464A (ja) 蒸気滅菌装置
JP2006075850A (ja) 真空装置及び真空引き方法
JP2826479B2 (ja) ガス供給装置及びその操作方法
JP2003071270A (ja) 真空処理装置
WO2015059972A1 (ja) 容器内面の乾燥方法
JP2002257040A (ja) 真空排気装置
JP4169303B2 (ja) 単結晶引上げ設備及びその操作方法
JPH06256948A (ja) 真空処理装置
JPH0466120A (ja) 真空容器のベント方法
JP2006169576A (ja) 真空装置
CN112460285B (zh) 真空压力计的寿命提升装置和方法
TW202405921A (zh) 用於群集工具的電漿預清潔系統
JP2000161215A (ja) 真空排気システムを備えた処理チャンバ