JP2021034725A5 - 基板処理システム - Google Patents
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Description
本開示の一の態様によれば、少なくとも一つのガス供給口及び少なくとも一つのガス排気口を有するチャンバと、前記ガス供給口に接続され、前記チャンバの内部に処理ガスを供給するように構成されたガス供給部と、前記チャンバの内部の圧力を制御するように構成された圧力制御装置と、制御部と、を備える基板処理システムであって、前記圧力制御装置は、第1の排気ラインと、第2の排気ラインとを有し、前記第1の排気ラインは、一端が前記ガス排気口に接続された第1の管と、前記第1の管の第1位置に配置された第1の排気装置と、前記第1の管において前記チャンバ及び前記第1の排気装置の間に配置された第1の圧力制御器と、前記第1の管の他端に接続された第2の排気装置と、前記第1の管において前記第1の排気装置及び前記第2の排気装置の間に配置された第1の遮蔽バルブと、を有し、前記第2の排気ラインは、一端が前記ガス排気口に接続され、前記第1の管よりも断面積が小さい第2の管と、前記第2の管の第2位置に配置された第2の遮蔽バルブと、前記第2の管に接続された前記第2の排気装置と、前記第2の管において前記第2の遮蔽バルブ及び前記第2の排気装置の間に配置された第2の圧力制御器と、を有し、前記制御部は、プロセッサ及びメモリを含み、前記メモリは、(a)前記ガス供給部により前記チャンバ内に前記処理ガスを供給する工程と(b)前記第1の遮蔽バルブ及び前記第1の圧力制御器を開放し、前記第2の遮蔽バルブ及び前記第2の圧力制御器を閉鎖し、前記チャンバ内の圧力を前記第1の圧力制御器によって制御しながら、前記第1の排気装置及び前記第2の排気装置によって前記第1の排気ラインから前記チャンバ内の排気を行うことにより、前記チャンバ内の圧力を第1の圧力に制御する工程と、(c)前記第1の遮蔽バルブ及び前記第1の圧力制御器を閉鎖し、前記第2の遮蔽バルブ及び前記第2の圧力制御器を開放し、前記チャンバ内の圧力を前記第2の圧力制御器によって制御しながら、前記第2の排気装置によって前記第2の排気ラインから前記チャンバ内の排気を行うことにより、前記チャンバ内の圧力を前記第1の圧力よりも高い第2の圧力に制御する工程と、(d)前記(b)と、前記(c)とを切り替える工程と、を含むプログラム命令を記憶する、基板処理システムが提供される。
Claims (18)
- 少なくとも一つのガス供給口及び少なくとも一つのガス排気口を有するチャンバと、
前記ガス供給口に接続され、前記チャンバの内部に処理ガスを供給するように構成されたガス供給部と、
前記チャンバの内部の圧力を制御するように構成された圧力制御装置と、
制御部と、を備える基板処理システムであって、
前記圧力制御装置は、第1の排気ラインと、第2の排気ラインとを有し、
前記第1の排気ラインは、一端が前記ガス排気口に接続された第1の管と、前記第1の管の第1位置に配置された第1の排気装置と、前記第1の管において前記チャンバ及び前記第1の排気装置の間に配置された第1の圧力制御器と、前記第1の管の他端に接続された第2の排気装置と、前記第1の管において前記第1の排気装置及び前記第2の排気装置の間に配置された第1の遮蔽バルブと、を有し、
前記第2の排気ラインは、一端が前記ガス排気口に接続され、前記第1の管よりも断面積が小さい第2の管と、前記第2の管の第2位置に配置された第2の遮蔽バルブと、前記第2の管に接続された前記第2の排気装置と、前記第2の管において前記第2の遮蔽バルブ及び前記第2の排気装置の間に配置された第2の圧力制御器と、を有し、
前記制御部は、プロセッサ及びメモリを含み、
前記メモリは、
(a)前記ガス供給部により前記チャンバ内に前記処理ガスを供給する工程と
(b)前記第1の遮蔽バルブ及び前記第1の圧力制御器を開放し、前記第2の遮蔽バルブ及び前記第2の圧力制御器を閉鎖し、前記チャンバ内の圧力を前記第1の圧力制御器によって制御しながら、前記第1の排気装置及び前記第2の排気装置によって前記第1の排気ラインから前記チャンバ内の排気を行うことにより、前記チャンバ内の圧力を第1の圧力に制御する工程と、
(c)前記第1の遮蔽バルブ及び前記第1の圧力制御器を閉鎖し、前記第2の遮蔽バルブ及び前記第2の圧力制御器を開放し、前記チャンバ内の圧力を前記第2の圧力制御器によって制御しながら、前記第2の排気装置によって前記第2の排気ラインから前記チャンバ内の排気を行うことにより、前記チャンバ内の圧力を前記第1の圧力よりも高い第2の圧力に制御する工程と、
(d)前記(b)と、前記(c)とを切り替える工程と、
を含むプログラム命令を記憶する、基板処理システム。 - 前記プログラム命令は、更に、前記(a)の前に、前記チャンバ内の圧力を測定する工程を含む、請求項1に記載の基板処理システム。
- 前記プログラム命令は、更に、前記(c)の前に、前記チャンバ内の圧力P1と、前記第2の管内における前記第2の圧力制御器よりも前記第2の排気装置に近い第3の位置の圧力P2とを測定する工程を備え、
前記圧力P2が前記圧力P1よりも小さい場合に、前記(c)を実行する、
請求項1又は2に記載の基板処理システム。 - 前記(b)の後に第1の処理を実行し、前記(c)の後に第2の処理を実行する、請求項1~3のいずれか一項に記載の基板処理システム。
- 前記第1の処理はエッチング処理又は成膜処理であり、前記第2の処理はアッシング処理又はクリーニング処理である、請求項4に記載の基板処理システム。
- 前記(b)では、前記チャンバ内の圧力を800mTorr以下に制御し、
前記(c)では、前記チャンバ内の圧力を800mTorrよりも高く制御する、
請求項1~5のいずれか一項に記載の基板処理システム。 - 前記(c)では、前記チャンバ内の圧力を1Torr~100Torrの範囲に制御する、
請求項6に記載の基板処理システム。 - 前記処理ガスを所定圧力で貯留可能なタンクをさらに備え、
前記(d)において、前記プログラム命令は、更に、前記(b)から前記(c)へ切り替える際に、前記ガス供給部及び前記タンクから前記チャンバ内に前記処理ガスを供給することにより、前記チャンバ内を昇圧する、請求項1~7のいずれか一項に記載の基板処理システム。 - 前記タンクは、前記チャンバ及び前記ガス供給部に接続するガス供給ラインのバイパスガスラインに設けられ、前記バイパスガスラインは、前記ガス供給ラインから分岐している、請求項8に記載の基板処理システム。
- 前記タンクは、前記チャンバ及び前記ガス供給部に接続するガス供給ラインのバイパスガスラインに設けられ、前記バイパスガスラインは、前記ガス供給ラインとは別に配置されている、請求項8に記載の基板処理システム。
- 前記(d)において、前記プログラム命令は、更に、前記(b)から前記(c)に切り替える際に、前記(b)の制御圧力に達するまで又は前記制御圧力に達する直前まで、前記ガス供給部から供給される前記処理ガスのガス流量を、前記制御圧力に達した後の処理ガスのガス流量よりも多くすることにより、前記チャンバ内を昇圧する、請求項1~10のいずれか一項に記載の基板処理システム。
- 前記圧力制御装置は、更に、前記チャンバの内部の圧力を測定する少なくとも一つの圧力センサを含む、請求項1~11のいずれか一項に記載の基板処理システム。
- 前記圧力制御装置は、更に、前記圧力P1をそれぞれ測定するように構成された第1の圧力センサ及び第2の圧力センサを含む、請求項3に記載の基板処理システム。
- 前記圧力制御装置は、更に、前記圧力P2を測定するように構成された第3の圧力センサを含む、請求項3に記載の基板処理システム。
- 前記第2の管の直径は、前記第1の管の直径の1/8以上であって1/6以下である、請求項1~14のいずれか一項に記載の基板処理システム。
- 前記第2の管の他端は、連結部で前記第1の管に接続されている、請求項1~15のいずれか一項に記載の基板処理システム。
- 前記第1の排気装置は、ターボ分子ポンプ、メカニカルブースターポンプ、クライオポンプの少なくともいずれかである、請求項1~16のいずれか一項に記載の基板処理システム。
- 前記第2の排気装置は、ドライポンプ又はメカニカルブースターポンプである、請求項1~17のいずれか一項に記載の基板処理システム。
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