JP2020071238A - 波長チェッカー - Google Patents

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Abstract

【課題】PONシステムの開通、故障切り分けなどにおける信号光の有無の確認などが、容易に実施できるようにする【解決手段】アレイ導波路101、入力側スラブ導波路102、出力側スラブ導波路103、入力導波路104、および出力導波路105を備える。複数の出力導波路105を横切る方向に延在して形成された溝部106と、溝部106に充填され、近赤外光を可視光に変換する変換材料から構成された光変換部107とを備える。変換材料は、例えば、近赤外光を可視光に変換するりん光体または蛍光体である。【選択図】 図1

Description

本発明は、波長チェッカーに関し、より具体的には、PONシステムの開通・故障切り分け調査における信号光の確認など行う波長チェッカーに関する。
光通信システムのアクセス系PON(Passive Optical Network)システムでは、波長1.3μmと波長1.5〜1.6μmとなど、波長が比較的離れた複数の光を同時に用いることがある。
非特許文献1によると、すでに導入されているGE−PON(G−PON)システムでは、ユーザから局舎への信号(上り信号)として、1260nm〜1360nm(G−PONにおいてはRegular帯域のみ記載)の波長が用いられている。また、G−PONシステムでは、局舎からユーザへの信号(下り信号)として、1480nm〜1500nmの波長が用いられ、下りの映像信号としては、1550nm〜1560nmの波長が用いられている。
今後、導入される予定の10G−EPON(XG−PON)システムも同様に、波長1.3μmと波長1.5〜1.6μmの波長が用いられる。最近標準化が完了したNG−PON2システムでは、上り信号が1524nm〜1544nm(Wide帯域)、下り信号が1596nm〜1603nm、下りの映像信号が1550nm〜1560nmの波長が用いられている。なお、オプションのPtPWDM(Point To Point Wavelength Division Multiplex)オーバーレイは、説明を省略する。このシステムでは、GE−PON(G−PON)、10G−EPON(XG−PON)と異なり、波長多重が行われる。これらの波長配置を、図12に示す。
ところで、GE−PONなどのPONシステムでは、開通試験において、光パワーを確認している。今後、GE−PONから10G−EPONへの移行時には、より多くの様々な波長が用いられるようになる。このような状況における試験では、波長が確認できれば信号の種類が判別でき、故障の切り分けが容易となり、作業効率を上げられる可能性がある。
特開平10−104446号公報
胡間 遼 他、「PONシステムのさらなる高速化に関する標準化動向」、NTT技術ジャーナル、2017年8月号、51−53頁。 高橋 浩 他、「WDM用アレイ導波路回折格子」、NTT R&D、 vol. 46、no. 7、685−692頁、1997年。 H. Takahashi et al., "Transmission Characteristics of Arrayed Waveguide N×N Wavelength Multiplexer", Journal of Lightwave Technology, vol. 13, no. 3, pp. 447-455, 1995.
ところで、波長を測定する手段としては、光スペクトラムアナライザがある。しかしながら、光スペクトラムアナライザは、回折格子を動かして得られる回折光を検出器で検知するための可動部分があるため、装置が大きく、重量が大きいため、可搬性に難があった。また、100V程度の比較的高い電圧の電源が必要であるといった欠点もあった。このように、従来では、PONシステムの開通・故障切り分け調査において信号光が来ているかどうかの確認などが、容易に実施できないという問題があった。
本発明は、以上のような問題点を解消するためになされたものであり、PONシステムの開通、故障切り分けなどにおける信号光の有無の確認などが、容易に実施できるようにすることを目的とする。
本発明に係る波長チェッカーは、クラッドおよびコアから構成されて基板の上に形成された複数の導波路から構成され、複数の導波路は一定の光路長差を有する複数の導波路からなるアレイ導波路と、基板の上に形成されて、アレイ導波路の光入力端に接続された入力側スラブ導波路と、基板の上に形成されて、アレイ導波路の光出力端に接続された出力側スラブ導波路と、基板の上に形成されて、入力側スラブ導波路の入力側に接続された入力導波路と、基板の上に形成されて、出力側スラブ導波路の出力側に接続された複数の出力導波路と、複数の出力導波路を横切る方向に延在して出力導波路のクラッドに形成された溝部と、溝部に充填され、近赤外光を可視光に変換する変換材料から構成された光変換部とを備える。
上記波長チェッカーの一構成例において、入力側スラブ導波路とアレイ導波路と出力側スラブ導波路とは、平面視の形状が、入力側スラブ導波路の中心と出力側スラブ導波路の中心とを結ぶ線分の中点を通り線分に垂直な直線を中心に線対称となるように形成され、入力導波路は、第1入力導波路と第2入力導波路とからなり、複数の出力導波路の出力側スラブ導波路との接続部分における導波路間隔をΔxoutとすると、第1入力導波路の入力側スラブ導波路との接続部分と第2入力導波路の入力側スラブ導波路との接続部分との間の導波路間隔はΔxout/2とされている。
上記波長チェッカーの一構成例において、変換材料は、近赤外光を可視光に変換するりん光体または蛍光体である。
以上説明したように、本発明によれば、複数の出力導波路を横切る方向に延在する溝部を設け、この溝部に近赤外光を可視光に変換する変換材料から構成された光変換部を充填して形成したので、PONシステムの開通、故障切り分けなどにおける信号光の有無の確認などが、容易に実施できるという優れた効果が得られる。
図1は、本発明の実施の形態1に係る波長チェッカーの構成を示す構成図である。 図2Aは、本発明の実施の形態1に係る波長チェッカーの一部構成を示す断面図である。 図2Bは、本発明の実施の形態1に係る波長チェッカーの一部構成を示す断面図である。 図2Cは、本発明の実施の形態1に係る波長チェッカーの一部構成を示す断面図である。 図3は、一般的なアレイ導波路格子の構成を示す構成図である。 図4は、アレイ導波路格子の透過スペクトルの計算の結果例を示す特性図である。 図5は、実施の形態1に係る波長チェッカーを用いた測定モジュールの構成を示す斜視図である。 図6Aは、本発明の実施の形態1に係る波長チェッカーの製造方法を説明するための途中の状態を示す波長チェッカーの断面図である。 図6Bは、本発明の実施の形態1に係る波長チェッカーの製造方法を説明するための途中の状態を示す波長チェッカーの断面図である。 図6Cは、本発明の実施の形態1に係る波長チェッカーの製造方法を説明するための途中の状態を示す波長チェッカーの断面図である。 図6Dは、本発明の実施の形態1に係る波長チェッカーの製造方法を説明するための途中の状態を示す波長チェッカーの断面図である。 図6Eは、本発明の実施の形態1に係る波長チェッカーの製造方法を説明するための途中の状態を示す波長チェッカーの断面図である。 図6Fは、本発明の実施の形態1に係る波長チェッカーの製造方法を説明するための途中の状態を示す波長チェッカーの断面図である。 図7は、本発明の実施の形態2に係る波長チェッカーの構成を示す構成図である。 図8Aは、本発明の実施の形態2に係る波長チェッカーの一部構成を示す平面である。 図8Bは、本発明の実施の形態2に係る波長チェッカーの一部構成を示す平面である。 図9Aは、アレイ導波路格子の透過スペクトルの計算の結果例を示す特性図である。 図9Bは、アレイ導波路格子の透過スペクトルの計算の結果例を示す特性図である。 図10は、アレイ導波路格子の透過スペクトルの計算の結果例を示す特性図である。 図11は、実施の形態2に係る波長チェッカーを用いた測定モジュールの構成を示す斜視図である。 図12は、NG−PON2、10G−EPON(XG−PON)、GE−PON(G−PON)の波長配置の関係を説明するための説明図である。
以下、本発明の実施の形態に係る波長チェッカーについて説明する。
[実施の形態1]
はじめに、本発明の実施の形態1に係る波長チェッカーについて、図1を参照して説明する。この波長チェッカーは、アレイ導波路101、入力側スラブ導波路102、出力側スラブ導波路103、入力導波路104、および出力導波路105を備える。なお、図1では、波長チェッカーの平面を示している。
アレイ導波路101は、一定の光路長差を有する複数の導波路から構成されている。アレイ導波路101は、隣り合う2つの導波路の光路長差が一定とされている。入力側スラブ導波路102は、アレイ導波路101の光入力端に接続されている。出力側スラブ導波路103は、アレイ導波路101の光出力端に接続されている。入力導波路104は、入力側スラブ導波路102の入力側に接続されている。出力導波路105は、複数設けられ、出力側スラブ導波路103の出力側に接続されている。アレイ導波路101、入力側スラブ導波路102、出力側スラブ導波路103、入力導波路104、出力導波路105により、公知のアレイ導波路格子が構成されている(特許文献1参照)。
また、この波長チェッカーは、複数の出力導波路105を横切る方向に延在して出力導波路105のクラッドに形成された溝部106と、溝部106に充填され、近赤外光を可視光に変換する変換材料から構成された光変換部107とを備える。溝部106は、出力導波路105のクラッドに、出力導波路105のコアを分断して形成されている。
変換材料は、例えば、近赤外光を可視光に変換するりん光体または蛍光体である。変換材料を、例えば、熱硬化型のシリコーン樹脂に混合し、これを溝部106に充填し、加熱して硬化させることで光変換部107とすることができる。例えば、「Lumitek International」社製のフォスファー(Phosphor)を用いることができる。例えば、変換材料には、感度が700nm〜1700nmにあるものもある。
実施の形態1における波長チェッカーによれば、アレイ導波路格子により波長毎に分波されて出力導波路105を導波する近赤外光が光変換部107に到達すると、可視光が発生する。発生した可視光は、出力導波路105の導波方向に限らず、等方的に広がり、様々な方向から目視可能である。各々の出力導波路105に、分波されて導波する近赤外光の波長は既知であるので、可視光が発生した(目視された)箇所を確認することで、波長の確認が可能となる。
ここで、図2Aに示すように、入力側スラブ導波路102は、例えばSiからなる基板111の上に形成された下部クラッド層112と、下部クラッド層112の上に形成されたコア部102aと、コア部102aの上に形成された上部クラッド層113とから構成されている。なお、図2Aは、図1のaa’線における断面を示している。
また、図2Bに示すように、アレイ導波路101は、基板111の上に形成された下部クラッド層112と、下部クラッド層112の上に形成された複数のコア部101aと、複数のコア部101aの上に形成された上部クラッド層113とから構成されている。なお、図2Bは、図1のbb’線における断面を示している。
また、図2Cに示すように、溝部106は、出力導波路105を分断するように、基板111に達して形成されている。このように上部クラッド層113および下部クラッド層112を貫通して形成されている溝部106を埋めるように、光変換部107が形成されている。なお、図2Cは、図1のcc’線における断面を示している。
ここで、アレイ導波路格子についてより詳細に説明する。以下では、アレイ導波路101が、8本の導波路から構成され、8本の出力導波路105を備える場合を例に説明する(図1では11本の導波路から構成されるように記載しているが、実際はもっと多い)。このアレイ導波路格子は、入力導波路104に入力された多重された8波長の光が、8出力に分岐される。
まず、入力導波路104に入力された多重光は、入力側スラブ導波路102で回折して広がり、これらの各々が、アレイ導波路101の各導波路に結合して導波する。アレイ導波路101は、図1の紙面上側(外側)では光路長が長く、図1の紙面下側(内側)にいくに従い、等距離で光路長が短くなっている。アレイ導波路101の終端では、アレイ導波路101の外側から内側の導波路に沿って位相差がつく。したがって、出力側スラブ導波路103に入射した際には、スラブ導波路の形状により生じた扇型の等位相面の傾きが波長によって変わり、波長ごとに、対応する出力導波路105に集光(光学的に結合)するようになる。これらの結果、アレイ導波路格子によれば、波長が多重した光を、波長毎に分岐(分波)することができる。
なお、一般に用いられているアレイ導波路格子は、図3に示すように、アレイ導波路501が、平面視で円弧のように1カ所で屈曲している。なお、図3において、符号502は、入力側スラブ導波路、符号503は、出力側スラブ導波路、符号504は、入力導波路、符号505は、出力導波路をそれぞれ示している。これに対し、実施の形態におけるアレイ導波路格子では、アレイ導波路101が、平面視で複数の箇所で屈曲し、平面視でカモメの翼のような形状としている。この点については、後述する。
以下、実施の形態におけるアレイ導波路格子の、アレイ導波路101を構成する各導波路の光路長について詳細に説明する。アレイ導波路101における隣り合う導波路の光路長差をΔLとすると、アレイ導波路格子の中心波長λ0は、以下の式(1)で表される。中心波長λ0は、通常アレイ導波路格子の出力ポートの中央のポートの透過中心波長である。なお、式(1)において、ncはアレイ導波路の実効屈折率、mは回折次数を表す。
この例では、図1の紙面上側より、最も上段の出力導波路105の出力端をポート1、2段目の出力導波路105の出力端をポート2、3段目の出力導波路105の出力端をポート3、4段目の出力導波路105の出力端をポート4、5段目の出力導波路105の出力端をポート5、6段目の出力導波路105の出力端をポート6、7段目の出力導波路105の出力端をポート7、8段目の出力導波路105の出力端をポート8とする。
また、アレイ導波路格子のフリースペクトラルレンジ(FSR)は、以下の式(2)で表される。
なお、式(1)、式(2)に関しては、非特許文献2を参照されたい。
例えば、アレイ導波路格子のフリースペクトラルレンジ(FSR)を波長1250nm〜1650nmの400nm以上にとり、中心波長λ0を1450nm、波長間隔を50nm、出力導波路105を8本に設計すると、前述したアクセス系PONシステムの全波長領域がカバーできることになる。この場合、FSRの中心波長は1450nmであるから、式(2)から、回折次数mを1〜3のいずれかに設定すればよいことになる。
ここで、(1)式より、光路長差ΔLは、μmオーダの微小な長さになり、アレイ導波路101が、1カ所のみで屈曲する円弧構造では実現できなくなる。このため、実施の形態では、アレイ導波路101を、平面視で中央部とこの両脇の部分(両脇部)との複数の箇所で屈曲する構造としている。このように、屈曲箇所を複数設けることで、アレイ導波路101の異なる屈曲箇所で、図1の紙面上側(外側)から図1の紙面した側(内側)へかけての光路長の変化を逆転させることができる。
例えば、アレイ導波路101を、中央部では、平面視で外側に凸となるように屈曲させ、中央部を挾む両脇部では、平面視で内側に凸となるように屈曲させる。この構成とすることで、アレイ導波路101の中央部では、外側(図1の紙面上側)へ行くほど光路長が長くなるが、両脇部は、外側へ行くほど光路長が短くなる。アレイ導波路101の中央部における隣り合う導波路間の光路長差と、両脇部における隣り合う光路長差とを異なる値とし、中央部と両脇部とで光路長の変化をある程度相殺させることで、アレイ導波路101の全体における微小な長さの光路長差が設定できるようになる。上述した光路長差の詳しい設計は、特許文献1に記載されている。
アレイ導波路格子の透過スペクトルの関数は、ガウス関数で表される。計算の結果例について、図4に示す。出力ポート1の透過中心波長は、1275nmである。出力ポート2の透過中心波長は、1325nmである。出力ポート3の透過中心波長は、1375nmである。出力ポート4の透過中心波長は、1425nmである。出力ポート5の透過中心波長は、1475nmである。出力ポート6の透過中心波長は、1525nmである。出力ポート7の透過中心波長は、1575nmである。出力ポート8の透過中心波長は、1625nmである。
透過スペクトルの関数について説明する。アレイ導波路格子の透過関数は、損失を無視すれば、式(3)で表すことができる(非特許文献3参照)。
式(3)において、δfは透過中心周波数からの偏差、Δxは出力側スラブ導波路103に接続している出力導波路105の中心位置の間隔、Δfは隣り合うチャンネル間の中心周波数の間隔、ω0はスポットサイズである。
ここで、δλを透過中心波長からの偏差、Δλを隣り合うチャンネル間の中心波長の間隔とすると以下の(4)式が成り立ち、式(4)を式(3)に代入すると、式(5)が得られる。周波数領域で表されている式(3)が、式(5)により波長領域で表される。
図4は、アレイ導波路格子の各チャンネルの透過スペクトルを、式(5)を用いて計算した結果を示している。なお、ガウス関数の急峻さを表すパラメータΔx/ω0は、アレイ導波路格子の設計時に調整することができ、このパラメータΔx/ω0は、実施の形態では4.5としている。
ところで、1250nm〜1650nmと波長領域が広いので、導波路を構成する石英ガラス中のOH基の吸収により、1380nm近傍の損失などがこの設計のアレイ導波路格子にはある。しかしながら、この波長帯は伝送に用いていないので、このアレイ導波路回折格子の動作特性に影響はない。図4に示す計算結果は、導波路を構成する石英ガラス中のOH基の吸収に関する計算を考慮していない。
また、上述したアレイ導波路格子は、チャンネル間隔が50nmあるが、石英系導波路を用いた干渉型のフィルタの分波波長の温度依存性は、0.01nm/℃である。屋内・屋外での使用環境温度変化が−5℃から35℃の40℃としても、上述した温度依存性より波長変動は約0.4nmに相当し、隣り合うチャンネル間隔の1/100以下であり、分波特性に影響はない。したがって、上述したアレイ導波路格子を実際に使用する際には、ペルチェ素子などを用いて温調をかける必要はない。
また、石英系導波路では、透過スペクトルのTE/TM偏波依存性が0.1〜0.2nm程度あるが、本アレイ導波路格子は、隣り合うチャンネル間隔=分解能が50nmと大きいので、偏波依存性は無視できる。
次に、実施の形態1における波長チェッカーを用いた測定モジュールについて、図5を参照して説明する。この測定モジュールは、上述した実施の形態1の波長チェッカーを形成したチップ201を、アルミニウム基板202の上に搭載し、容器203に収容している。チップ201の出力導波路の出力ポートには、近赤外光を可視光に変換する変換材料から構成された光変換部201aが設けられている。また、チップ201の入力導波路端には、ファイバーブロック204が接続されている。なお、チップ201は、ファイバーブロック204より薄いため、チップ201とこれより厚いファイバーブロック204とを接続するために、ガラス製のスペーサ板205がチップ201の端部に設けられている。
ファイバーブロック204には、確認対象の光信号を入力するためのコネクター207が設けられた光ファイバー206が接続している。なお、ファイバーブロック204とチップ201の入力導波路との調芯には、別途、コネクター付光ファイバー(不図示)が用いられる。
上述した測定モジュールのコネクター207に、測定対象のPONシステムの信号が来ているケーブルを接続すると、入力した信号波長により、各々の出力導波路105の出力ポートに分派された信号光が振り分けられ、光変換部201aにおいて、信号光が到達した出力ポートの部分で可視光が発生する。光変換部201aに到達した近赤外の信号光は主に導波方向に進むが、変換された可視光は、信号光と同じ方向に進む成分の他に、散乱や自然放出により等方的に拡散する。したがって、光変換部201aで発生する可視光は、測定モジュールの外部から、確認可能であり、また、発光場所も確認可能である。出力ポートを1mm間隔以上に空けておくと、発光が目視で確認される箇所が、出力ポート毎に識別可能である。出力ポートと波長とは対応しているので、目視で波長を確認することができる。
次に、実施の形態1における光変換部201aの製造について、図6A〜図6Fを参照して説明する。
まず、図6Aに示すように、Siからなる基板111を用意する。次に、図6Bに示すように、基板111の上に、下部クラッド層112を形成し、下部クラッド層112の上に、コア形成層301を形成する。
例えば、火炎堆積(FHD)法により、下部クラッド層112,コア形成層301が形成できる。まず、酸水素炎中に、原料ガス(主成分:四塩化シリコン)を通し、加熱加水分解したガラス微粒子を基板111の上に堆積させ、下部クラッド層112となる第1の微粒子層を形成する。引き続き、原料ガスの組成を変更する(GeO2ドーパント濃度を変える)ことで組成の異なるガラス微粒子を第1の微粒子層の上に堆積させ、コア形成層301となる第2の微粒子層を形成する。この後、例えば、電気炉などを用いて、第1の微粒子層および第2の微粒子層を加熱することで、各々を透明なガラス組成の膜とすることで、下部クラッド層112,コア形成層301とする。なお、これらの層は、化学的気相成長法により形成することもできる。
次に、半導体装置の製造に用いられる公知のリソグラフィー技術およびエッチング技術によりコア形成層301をパターニングすることで、図6Cに示すように、入力側スラブ導波路を構成するコア部102a、出力側スラブ導波路を構成するコア部103aをそれぞれ形成する。図示していないが、このとき同時に、アレイ導波路、入力導波路、出力導波路を構成するコア部も形成する。例えば、フォトリソグラフィー技術により、各コア部とする部分の上にレジストパターンをコア形成層301の上に形成する。次に、形成したレジストパターンをマスクとし、反応性イオンエッチング(RIE)によりコア形成層301をエッチングし、コア部となる部分を残して他のコア形成層を除去する。この後、レジストパターンを除去すれば、各コア部が形成できる。
次に、図6Dに示すように、コア部102a、コア部103aの上に上部クラッド層113を形成する。前述した下部クラッド層112と同様に、FHD法により、上部クラッド層113が形成できる。
次に、公知のリソグラフィー技術およびエッチング技術により上部クラッド層113および下部クラッド層112をパターニングすることで、図6Eに示すように、上部クラッド層113および下部クラッド層112を貫通して基板111に到達する溝部106を形成する。例えば、フォトリソグラフィー技術により、溝部106を形成する箇所に開口を有するレジストパターンを、上部クラッド層113の上に形成する。次に、形成したレジストパターンをマスクとし、RIEにより上部クラッド層113および下部クラッド層112をエッチングし、溝部106となる部分を除去する。この後、レジストパターンを除去すれば、溝部106が形成できる。この後、溝部106に近赤外光を可視光に変換する変換材料を充填することで、図6Fに示すように、光変換部107を形成する。
なお、石英系導波路を通る光は、コア部とクラッドとの屈折差により、主にコア部に閉じ込められて伝搬する。石英系ガラスで構成するコア部とクラッドとの比屈折率差は、0.3%程度から10%程度の間であればよい。一般に、比屈折率差が大きくなるほど、導波路の曲げ半径を小さくしても、曲げに伴う導波損失が生じなくなり、曲げ半径を小さくできる。したがって、アレイ導波路格子の小型化が可能となり、波長チェッカーの小型化が可能になる。
ただし、比屈折率差を大きくすると、導波路のシングルモード条件もしくは疑似シングルモード条件を維持するために、導波路のモードフィールド径が小さくなる。このように、モードフィールド径が小さい導波路と光ファイバーとの光学的な接続では、接続損失を防止するために、接続部分にスポットサイズ変換器などを配置することが重要となる。
[実施の形態2]
次に、本発明の実施の形態2に係る波長チェッカーについて、図7を参照して説明する。この波長チェッカーは、アレイ導波路101、入力側スラブ導波路102、出力側スラブ導波路103、および出力導波路105を備える。また、この波長チェッカーは、溝部106および光変換部107を備える。これらの構成は、前述した実施の形態1と同様であり、詳細な説明は省略する。
実施の形態2における波長チェッカーは、第1入力導波路104a,第2入力導波路104bが、入力側スラブ導波路102の入力側に接続されている。複数の出力導波路105の出力側スラブ導波路103との接続部分における導波路間隔をΔxoutとすると、第1入力導波路104aの入力側スラブ導波路102との接続部分と、第2入力導波路104bの入力側スラブ導波路102との接続部分との間の導波路間隔は,Δxout/2とされている。また、実施の形態2において、入力側スラブ導波路102とアレイ導波路101と出力側スラブ導波路103とは、平面視の形状が、入力側スラブ導波路102の中心と出力側スラブ導波路103の中心とを結ぶ線分の中点を通り線分に垂直な直線を中心に線対称とされている。入力側スラブ導波路102は、入力導波路に接している側とアレイ導波路に接している側とは同じ曲率の円弧になっている。従って、入力側スラブ導波路の中心はスラブ導波路の外形を構成している直線と円弧が交わる4つの点を対角に結んだ直線の交点となる。出力側スラブ導波路103においても同様である。
以下、より詳細に説明する。
第1入力導波路104aを入力側スラブ導波路102の中心に接続する。また出力側スラブ導波路103の中心に対し、各々の出力導波路105を導波路間隔Δxoutで接続し、出力導波路105の各々に対して透過中心波長がλ1、λ2、λ3、・・・λ8と等波長間隔で分岐されているものとする。また、第2入力導波路104bは、第1入力導波路104aに対して導波路間隔Δx=Δxoutで入力側スラブ導波路102に接続する(図8A,図8B参照)。
前述したように、入力側スラブ導波路102、アレイ導波路101、出力側スラブ導波路103の平面視の形状が線対称とされていれば(非特許文献2参照)、以下のことが成立する。
第1入力導波路104aに対して第2入力導波路104bをずらして接続すると、第2入力導波路104bに入力される波長多重光は、出力導波路105の各々に対し、透過中心波長が、λ2、λ3、λ4、・・・λ9と、等間隔に分岐される。これは、第2入力導波路104bが1個分ずれたので、アレイ導波路101に達するときの波面が傾き、この結果、出力導波路105に到達した際の波面が傾き、同じ波長は、1個分だけずれた出力導波路105に集光されることになるからである。
第1入力導波路104aと第2入力導波路104bとの導波路間隔Δx=Δxout/2とすると、隣り合うチャンネル間の中心波長間隔をΔλとして、透過中心波長がλ1+Δλ/2、λ2+Δλ/2、λ3+Δλ/2、・・・λ8+Δλ/2となる。なお、Δλ=λ2−λ1=λ3−λ2=・・・=λ9−λ8である。
実施の形態2におけるアレイ導波路格子の設計を実施の形態1の場合と同様にすると、第1入力導波路104aから入力されてアレイ導波路格子を透過するスペクトル(計算値)は,図9Aに示すように、実施の形態1の場合の透過スペクトルと同じスペクトルになる。つまり、出力導波路105の各々の透過中心波長は、1275nm、1325nm、1375nm、1425nm、1475nm、1525nm、1575nm、1625nmとなる。
一方、第2入力導波路104bから入力されてアレイ導波路格子を透過するスペクトル(計算値)は、図9Bに示すように、波長間隔の半分だけずれて、1300nm、1350nm、1400nm、1450nm、1500nm、1550nm、1600nm、1650nmとなる。つまり、第1入力導波路104aからの透過スペクトルと、第2入力導波路104bからのスペクトルとは互い違いになる。
アレイ導波路格子への入力導波路が1本ある場合に比べて、第1入力導波路104a,第2入力導波路104bがある効果は、以下の通りである。入力導波路が1本の場合、隣り合う出力導波路105の透過スペクトル間の波長の光が入力された場合に、透過率が低くなっているために、近赤外光から可視光に変換された光も弱くなっており、光変換部107における発光が認識できない場合がある。
例えば、図9Aの波長1300nmにおけるポート1、ポート2における透過光強度は、最も透過する波長(波長1275nmや1325nm)に比較して20dBも劣化してしまう。
これに対し、第1入力導波路104a,第2入力導波路104bを用いる場合、第2入力導波路104bにも信号光を入力することにより、波長1300nmにおけるポート1の透過光強度は、最も透過する波長となる。この結果、第1入力導波路104a,第2入力導波路104bを用いることにより、図9Aと図9Bを重ね合わせた図10に示すように、最も透過しない波長でも最大透過波長に比較して5dB劣化で済むことがわかる(波長1250nm周辺を除く)。
したがって、入力導波路を1本として信号光を入れても、信号光に対する透過光強度が弱いため波長がわからない場合も、第1入力導波路104a,第2入力導波路104bを用いて両者に信号光を入れることで、光変換部107におけるより強い発光が得られ、より確実な波長の認識が可能となる。
次に、実施の形態2における波長チェッカーを用いた測定モジュールについて、図11を参照して説明する。この測定モジュールは、上述した実施の形態2の波長チェッカーを形成したチップ201’を、アルミニウム基板202の上に搭載し、容器203に収容している。チップ201’の出力導波路の出力ポートには、近赤外光を可視光に変換する変換材料から構成された光変換部201aが設けられている。また、チップ201’の入力導波路端には、ファイバーブロック204が接続されている。なお、チップ201’は、薄いため、これより厚いファイバーブロック204を接続するために、ガラス製のスペーサ板205がチップ201’の端部に設けられている。
ファイバーブロック204には、確認対象の光信号を入力するためのコネクター207aが設けられた光ファイバー206aと、コネクター207bが設けられた光ファイバー206bとが接続している。なお、ファイバーブロック204とチップ201’の入力導波路との調芯には、別途、コネクター付光ファイバー(不図示)が用いられる。
以上に説明したように、本発明によれば、複数の出力導波路を横切る方向に延在する溝部を設け、この溝部に近赤外光を可視光に変換する変換材料から構成された光変換部を充填して形成したので、PONシステムの開通、故障切り分けなどにおける信号光の有無の確認などが、容易に実施できるようになる。
なお、本発明は以上に説明した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想内で、当分野において通常の知識を有する者により、多くの変形および組み合わせが実施可能であることは明白である。
101…アレイ導波路、102…入力側スラブ導波路、103…出力側スラブ導波路、104…入力導波路、105…出力導波路、106…溝部、107…光変換部。

Claims (3)

  1. クラッドおよびコアから構成されて基板の上に形成された複数の導波路から構成され、前記複数の導波路は一定の光路長差を有する複数の導波路からなるアレイ導波路と、
    前記基板の上に形成されて、前記アレイ導波路の光入力端に接続された入力側スラブ導波路と、
    前記基板の上に形成されて、前記アレイ導波路の光出力端に接続された出力側スラブ導波路と、
    前記基板の上に形成されて、前記入力側スラブ導波路の入力側に接続された入力導波路と、
    前記基板の上に形成されて、前記出力側スラブ導波路の出力側に接続された複数の出力導波路と、
    前記複数の出力導波路を横切る方向に延在して前記出力導波路のクラッドに形成された溝部と、
    前記溝部に充填され、近赤外光を可視光に変換する変換材料から構成された光変換部と
    を備えることを特徴とする波長チェッカー。
  2. 請求項1記載の波長チェッカーにおいて、
    前記入力側スラブ導波路と前記アレイ導波路と前記出力側スラブ導波路とは、
    平面視の形状が、前記入力側スラブ導波路の中心と前記出力側スラブ導波路の中心とを結ぶ線分の中点を通り前記線分に垂直な直線を中心に線対称となるように形成され、
    前記入力導波路は、第1入力導波路と第2入力導波路とからなり、
    前記複数の出力導波路の前記出力側スラブ導波路との接続部分における導波路間隔をΔxoutとすると、前記第1入力導波路の前記入力側スラブ導波路との接続部分と前記第2入力導波路路の前記入力側スラブ導波路との接続部分との間の導波路間隔はΔxout/2とされている
    ことを特徴とする波長チェッカー。
  3. 請求項1または2記載の波長チェッカーにおいて、
    前記変換材料は、近赤外光を可視光に変換するりん光体または蛍光体であることを特徴とする波長チェッカー。
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