JP2001519923A - 光学スペクトルに含まれるスペクトル光線を多重化解除する装置 - Google Patents
光学スペクトルに含まれるスペクトル光線を多重化解除する装置Info
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Abstract
(57)【要約】
本発明は、光学スペクトルに含まれるスペクトル線を多重化解除する装置に関する。この装置は、エネルギー分離器(2a、2b、2c)と選択的波長光反射器(12)とを備え、各選択的波長光反射器は、1本のスペクトル線に関連するスペクトル領域を含み、したがって、この特定のスペクトル線のみを反射する波長帯域を有する。本発明は、建物や航空機などの構造の調査に適用される。
Description
【発明の詳細な説明】
光学スペクトルに含まれるスペクトル光線を
多重化解除する装置発明の分野
本発明は、光学スペクトルに含まれるスペクトル線を多重化解除する装置に関
する。
この装置は、光通信の分野の応用例に使用することができる。
本発明は、特に光ファイバ・センサ網における応用例に使用することができる
。
文書(1)ないし(4)を参照する。これらの文書は、以下で引用する他の文
書と同様に、本明細書の説明の終りの部分に列挙されている。
この種のセンサ網は、建築、公共事業、交通、航空、航空宇宙業界の各分野で
構造を調査するために使用される。背景技術
光集積回路で多重化解除を行うための4つの技法が知られている。第1の技法
は、エッチングされた格子を使用し、第2の技法はマッハ・ツェンダー干渉計を
使用し、第3の技法は位相網またはPHASAR網(すなわち、PHASe−A
ray)を使用し、第4の技法は、平衡マッハ・ツェンダー干渉計または100
%カプラを、2つのアーム上の同様にフォトエッチングされたブラッグ格子と共
に使用する(「ADD−DROPマルチプレクサ」)。
第1の技法は、高レベルにエッチングされブレージングされた円形の出力フィ
ールドまたは平坦な出力フィールドを有する凹面格子による光回折を使用する。
シリコン上にシリカ・ガイドがあるときは垂直エッチングが可能であり、それ
によって深さ25μmに達することができる。
この主題に関する他の情報については文書(6)を参照することができる。
この場合、デマルチプレクサ構成要素は、エッチングされた回折格子の方向へ
光を送る平面ガイドに接続された入力ファイバからなる。
円形出力フィールド格子の例では、入射光線と、様々な入力角で再合焦された
回折光とが、ローランド円上に位置する。
平坦フィールド格子の例(文書(6)参照)では、波長ごとに分散された無収
差点が、反射ビームに直交するように整列する。
格子は、反射を使用して動作する場合は、金属被覆される。
格子エッチングの形状は、文書(7)に示されたように、いくつかの楕円で構
成することができる。
回折ビームは、たとえば、文書(6)に示されたようにモード直径が9μmで
間隔が16μmの単一モード・ガイド上、または文書(5)に示されたようにス
トリップを形成するフォトダイオード上で再合焦される。
格子は好ましくは、文書(6)の4から文書(5)の50までの範囲の高オー
ダーの回折で動作し、通信用の高密度多重化解除を行う。
第2の技法は、直列接続されたいくつかのマッハ・ツェンダー干
渉計または同様な干渉計に基づく技法である。これらの干渉計はすべて、光路が
特性非平衡値を有するので非平衡的である。
この主題に関する他の情報については文書(8)を参照することができる。
4チャネル・デマルチプレクサの場合、たとえば、非平衡がそれぞれ、ΔL1
およびΔL2=ΔL1+λ/4nである2つの干渉計と、7.5nmのチャネルと1
550nmのチャネルを分離するために非平衡ΔL3が2・ΔL1(通常は50μ
mないし100μm程度)に等しい第3の干渉計が使用される。この場合、Nは
モードの有効指数である。
第3の技法は、2つの平坦な入力ガイドおよび出力ガイドを円形界面に接続す
るいくつかの並列単一モード移相器ガイドを備える光学フェーズ・アレイ格子を
使用する。
この主題に関する他の情報については文書(9)を参照することができる。
入力ガイドおよび出力ガイドは、平坦なガイドの他の円形界面に接続される。
入力ガイドから射出された光は、平坦な入力ガイド内で分散され、界面に位置
するすべての移相器ガイドを覆う。
平坦なガイドの出口から出た光線が、凹斜面回折格子から反射された場合と同
様に互いに干渉するように、各移相器ガイドの間には長さの一定の差がある。
移相器ガイドによって誘導される光路内の移相は、界面に対する光波の立上り
の勾配と同じ効果を与える。
PHASARは、透過によって動作し、したがって、オーダーが
非常に高く(約50ないし100)、かつ多重化能力の高い凹面回折格子と同様に
動作する。
この主題に関する他の情報については文書(10)を参照することができる。
より優れたスペクトル画定は、多数の移相器ガイドを使用して行われる。
たとえば、文書(11)では、60個の移相器ガイドが使用される。
回路の偏光に対する依存性をなくすために、移相器ガイドで構成された光学回
路の中央に半波回路を挿入することができる。
第4の技法は、平衡マッハ・ツェンダー干渉計または100%カプラを、2つ
のアーム上で同様にフォトエッチングされたブラッグ格子と共に使用する。ブラ
ッグ波長のすべての異なる波長に関して、光はポート1に入射され、ポート3か
ら放出され(100%結合)、ブラッグ波長光はポート2で選択的に反射される。
上記の参照符号は文書(29)からとったものであるが、この主題に関する他の
情報についてはこの文書を参照することができる。
上記の4つの技法で使用される構成要素を作製するために、ガラス、シリカ・
オン・シリコン、およびInPまたは同様な半導体の3種類の材料が使用される
。
特に、エッチングされた格子およびPHASARはシリコン上の光学集積回路
を使用して作製され、それに対して干渉計を有するデマルチプレクサは、シリコ
ンまたはガラス上の光学集積回路を使用して作製されている。
これらの既知の技法のうちで、ブラッグ波長を十分な精度で直接
求めることを可能にする技法はない。
また、これらの技法では、クロス・トークと占有されるスペクトル空間との兼
ね合せを図る必要がある。
クロス・トーク、すなわち、各出力の間の光の結合によって波長の測定が不正
確になるので、クロス・トークは最小限に抑えるべきである。
通常、−25dBないし−30dBのクロス・トークが好ましく、その結果、
スペクトル占有空間が低減される。
回折格子がシリコン上の光学集積回路を使用するとき、ガイド内の拡散によっ
て各出力の間の光結合が誘導され、エッチングが不完全であるために各出力の間
の光結合が誘導され、かつ出力ガイド同士が互いに近すぎるときの出力ガイドの
間の結合によって各出力の間の光結合が誘導される。
クロス・トークは一般に、2つの隣接するスペクトル・チャネルの中心の間で
は−20dBないし−35dB程度であり、それに対して、これらのチャネルの
伝達動作の交差点、すなわち、スペクトル周期の中点では−10dBないし−1
5dBの範囲に過ぎない。
PHASARは、いくらかの最良のクロス・トーク特性および占有スペクトル
空間特性を実現する。
一般に、文書(11)では−30dBよりも良好なクロス・トークが実現され
、この場合、占有スペクトルが0.8nm、周期が2nmであり、60個の移相
器ガイドが使用され、回折のオーダーは60である。
マッハ・ツェンダー干渉計では、クロス・トークは3dB分離カプラの設定の
精度に依存する。
一例を挙げると、文書(8)は、3dBカプラではなく3.1dBカプラを備
える3つの干渉計で構成され、かつ約−20dBのクロス・トークを特徴とする
デマルチプレクサについて説明している。
文書(4)も、分析すべき光用のコリメーション装置と、縦続状に組み立てら
れ光検出器に関連付けされた一連の帯域フィルタとを含むデマルチプレクサにつ
いて説明している。
このデマルチプレクサの主要な欠陥は、開放空間で動作するように構成される
ことである。
このため、測定の再現性および信頼性と、このデマルチプレクサの頑丈さおよ
び統合性が、マイクロシステム応用例で使用するのに不十分なものになる。
さらに、このデマルチプレクサを用いて得ることの可能な最小クロス・トーク
は、通常は−20dB反射防止堆積物を備える使用される帯域フィルタの反射に
依存し、かつ分析される光の偏光にも強く依存する(フィルタは45°の角度に
位置する)。
最後に、この種のデマルチプレクサは、産業センサ市場の要件を満たすように
産業的に作成するのに適していない。発明の開示
本発明の目的は、優れた波長除去機能を有し、クロス・トークを大幅に(−3
0dBよりも低く)低減し、かつ一致する波長を調整することが可能なため作製
に関して融通の利く多重化解除装置を提供することによって上記の欠点を解消す
ることである。
詳細には、本発明は、光学スペクトルを構成し、それぞれのスペ
クトル線が特定のスペクトル領域で変動することのできる、複数のスペクトル線
用の波長多重化解除装置であって、
− 光学スペクトルを受け取るための入力と、それぞれの出力が光学スペクト
ル光エネルギーの一部を供給するように構成された複数の出力とを含むエネルギ
ー分離器と、
− それぞれの出力に接続され、各反射器が、1条の光線に関連するスペクト
ル領域を含み、したがって、この特定の光線のみを反射する波長帯域を有する、
複数の選択的波長光反射器とを備える装置に関する。
Corning社から市販されているような既知の種類のエネルギー分離器を
使用することができる。エネルギー分離器は、縦続状に、すなわち木形状に組み
立てられ、木構造を有する分離器ジャンクションのアセンブリでよい。
各分離器ジャンクションはマルチモードでよいが、特に、多重化解除すべき光
学スペクトルが、分離器ジャンクション・アセンブリの入力に接続された光ファ
イバによって送られるときには単一モードであることが好ましい。
これらの分離器ジャンクションは、各出力チャネルが入射光線エネルギーの2
分の1を送るようなカプラ、たとえば3dBカプラでよい。
しかし、これを可能にするには、波長に従ってカプラと結合された2つのガイ
ドの間結合長および空間を、正確に調整しなければならない。
このため、本発明では、Yジャンクションで構成された分離器ジャンクション
を使用することが好ましい。
このようなYジャンクションは、アクロマティックであり、かつ偏光に依存しな
いという利点を有する。
本発明の装置の好ましい1実施形態によれば、各選択的反射器は、それから反
射された光線を伝搬させるように構成された光学ウェーブガイドに接続される。
本発明の装置の好ましい1実施形態によれば、エネルギー分離器と選択的反射
器は同じ基板に集積される。
基板はガラスまたはシリコンでよい。
好ましくは、選択的反射器はブラッグ格子を備える。
ブラッグ格子はフォトカッティングするか、あるいはフォトエッチングするこ
とができる。
さらに、ブラッグ格子は、チャープされた格子でよい。
最大反射率を有する固定周期格子を使用することもできる。これはたとえば、
非常に強力な光束の下でフォトカッティングを使用してスペクトル応答の幅を広
げることによって得られる。図面の簡単な説明
本発明は、以下の詳細な説明からよりよく理解されよう。この説明は、非制限
的な例の説明であり、添付の図面を参照するものである。
図1は、本発明の多重化解除装置の特定の実施形態の概略図である。
図2は、この格子を使用したスペクトル多重化解除の原則を示す概略図である
。
図3は、算盤型のスペクトル多重化を示す図である。
図4および図5は、2つの多重化解除可能性を示す概略図である。特定の実施形態の詳細な開示
本発明による多重化解除装置は、図1に概略的に示されており、光学スペクト
ルを構成し、かつそれぞれのスペクトル線が所与のスペクトル領域で変動するこ
とのできる、複数のスペクトル線、たとえば8本のスペクトル線の波長多重化解
除のための装置である。
図1に示す装置は、縦続状に組み立てられたエネルギー分離器ジャンクション
2a、2b、2cを備える。
すべてのこれらの分離器ジャンクションは、様々なスペクトル線を含む光6を
受け取るための入力4と、それぞれの出力が光学スペクトル光エネルギーの一部
を供給するように構成された複数の出力8とを有する。
図の例では、光6は、様々なスペクトル線を含み、分離器ジャンクション・ア
センブリの入力4に光学的に結合された単一モード光ファイバ10によって送ら
れる。
ファイバ10が単一モードである場合、分離器ジャンクションも単一モードで
ある。
8本のスペクトル線を分離するので、図は、縦続式に組み立てられた使用中の
7つの分離器ジャンクションを示している。これらのジャンクションのうちの1
つを2aと呼び、2つのジャンクションを2bと呼び、4つのジャンクションを
2cと呼ぶ。
したがって、すべての分離器ジャンクション用に合計で8つの出力8がある。
好ましくは、分離器ジャンクションとしてY個のジャンクションが使用される
。
Yジャンクションは、入力ガイドと、通常は数度に過ぎない角度を形成する2
つの出力ガイドとで構成される。
図1は、ジャンクション2aの入力アームが、光ファイバ10に光学的に結合
され、ジャンクション・アセンブリの入力4を構成することを示す。
ジャンクション2aの2つの出力アームはそれぞれ、2つのジャンクション2
bの入出力アームに結合される。
これらのジャンクション2bの各出力アームは、4つのジャンクション2cの
うちの1つの入力アームと結合される。
これらのジャンクション2cの8つの出力アームは、ジャンクション・アセン
ブリの出力8を構成し、それぞれ、8つのブラッグ格子12と結合される。
これらのブラッグ格子12はそれぞれ、選択的波長光反射器を構成する。
この光反射器は、8本のスペクトル線のうちの1本が変動することのできるス
ペクトル領域を含む波長通過幅を有する。
したがって、このブラッグ格子はこの光線を反射するに過ぎない。
各ブラッグ格子12はジャンクション・アセンブリ2a、2b、2cの出力の
うちの1つと一方の側で結合されるだけでなく、光16、すなわち、実際にはブ
ラッグ格子から反射された光線を伝搬させるための光学ウェーブガイド14とも
同じ側で結合される。
図1は、同じ平坦な基板18で一体化されるジャンクション2a
、2b、2cおよびブラッグ格子12も示す。
この基板18は、Yジャンクションおよびブラッグ格子の製造を容易にするた
めにガラスまたはシリコンで構成される。
図1の垂直スケールと水平スケールは異なるスケールとして表わされている。
非制限的な例として、ブラッグ格子12は同じ方向Dに沿って延び、この方向
に沿った図1中の寸法は70ミリメートル程度であり、これに対して、この方向
に垂直な方向に沿った寸法は5ミリメートル程度である。
各Yジャンクションの入力アームを介してこのジャンクションに到達した光エ
ネルギーの2分の1が、一方の出力アームに入り、残りの2分の1が他方の出力
アームに入る。
一方、Yジャンクションの一方のアームに現れた光エネルギーの2分の1のみ
が、次のジャンクションの入力アームへ送られる。
残りのエネルギーは基板18へ送られる。
この主題に関する他の情報については、文書(20)を参照することができる
。
図1に示した8出力チャネル・デマルチプレクサの場合、一致する多重化解除
ブラッグ格子12から反射された後に各光学ウェーブガイド14に存在する入射
光線エネルギー6の割合は、この入射エネルギーの3%程度であり、したがって
、減衰は−15dB程度である。
図2は、図1の波長多重化解除装置の動作原則の概略図である。
分析すべき光6(図1参照)は8本のスペクトル線を含み、これらのスペクト
ル線の波長は図2ではそれぞれ、λ1ないしλ8と番
号付けされている。
これらの線のそれぞれのスペクトル幅はたとえば、0.1ナノメートル程度で
ある。
図2で、波長λは横座標上に示されナノメートル単位で表わされており、これ
に対して、光エネルギーpは縦座標上に与えられdB単位で表わされている。
多重化解除すべき光はまず、Yジャンクション・アセンブリによって光エネル
ギーに関して同様に分離される。
この主題に関する他の情報については、文書(13)を参照することができる
。
Yジャンクション・アセンブリのすべての出力は、広帯域反射器として使用さ
れるブラッグ多重化解除格子で終わる。
図2は、各ブラッグ格子が入射光線エネルギー6の光学スペクトル線のスペク
トル領域展開を含む、8つのブラッグ格子のそれぞれのスペクトル透過F(λ1
)の関数を示す(i=1ないし8)。
たとえば、(−3dBでの)スペクトル幅は3nm程度である。
2つの隣接するスペクトル透過関数によって定義される領域の交差部はかなり
小さくなる。
ブラッグ格子はフォトカッティングするか、あるいはフォトエッチングするこ
とができる。
フォトエッチング技法またはフォトカッティング技法を使用する場合、格子は
、チャープされた格子でよい。
チャープされた格子は、直列に設置された一群の隣接する波長格子とみなすこ
とができる。
フォトカッティング技法を使用する場合、非常に強い光束の下で
格子をフォトカッティングしてスペクトル応答を飽和させることができる。
多重化解除格子によって反射選択が行われた後、多重化解除装置に所期される
用途に依存する装置の方へ、多重化解除された各光線が送られる。
次に、図1に示す種類の、ガラス基板上の装置の製造を検討する。
この種の基板上での集積に使用される技法は、この装置の作製にうまく適合し
ている。
使用される技法は、場合によっては電界の助けを得て、Na+、K+,Cs+、
または同様なイオンの熱イオン交換を行う技法である。
この技法の原則は、アルカリ・イオン、たとえば、すでにガラス内に存在する
ナトリウムNa+イオンを、Ag+、T1+、またはガラスの屈折率を局部的に増
大させる同様なイオンと交換することからなる。
この技法はよく知られており、この主題に関する他の情報については、文書(
13)および(14)を参照することができる。
埋込みガイド技法を使用した場合、ガイドのファイバ/ガイド接続および減衰
による光損失はかなり低減される。
この技法は、電界の下で基板内に第1のドーパントを分散させることからなる
。
この技法を使用した場合、ほぼ円形のドーピング断面と、最適化されたモード
範囲を有する単一モード・ファイバのモードと同一のモードとを特徴とするガイ
ドが得られる。このガイドは、表面拡散
をなくすので、単位長当たり減衰も大幅に低減している。
減衰は一般に0.1dB/cmよりも低い。
次に、図1に示すこの種のシリコン基板上の装置の製造を検討する。
SiO2オンSi技法(SiO2,SiONおよびSi3N4案内層)も、この種
の装置の作製に完全に適合している。
シリコン基板で使用される技法は、気相での堆積物(基本的に気相での化学堆
積物)、または火炎水素分解および反応性イオン・エッチングを使用してパター
ンを作製することによって構成される堆積物に基づく技法である。
気相での堆積物に関する他の情報については文書(15)および(16)を参
照することができる。
火炎加水分解に関する他の情報については文書(17)を参照することができ
る。
次に、シリコン上のシリカ・ガイドを作製する技法を検討する。
この主題に関する他の情報については文書(15)を参照することができる。
この技法では、光学基板はシリカ層であり、シリコン光を絶縁するのに十分な
厚さを有する。必要な厚さは、0.8μmの波長では6μmであり、1.3μm
または1.55μmの領域内の波長では12μmである。
案内層はたとえば、厚さが波長に応じて2μmないし5μm程度の、リンでド
ープされたシリカ層である。被覆層またはスーパーストレートは、光学係数に関
しては基板と同等であり、厚さが約6μmないし10μmである。
シリコン・ベースの光集積回路の主要な利点は、単一モード光ファイバを位置
決めするために使用できるU字形溝またはV字形溝を同時にエッチングできるこ
とである。
この主題に関する他の情報については文書(15)、(18)、および(19)を
参照することができる。
シリコン・ベースの光集積回路の他の利点は、クロス・トークを生じさせる不
要な反射を制限するように、光学ガイドの端部にあるエッチング・フランクの勾
配を制御できることである。
次に、ブラッグ多重化解除格子を検討する。
上記からわかるように、このような格子をフォトカッティングするか、あるい
はフォトエッチングすることができる。
チャープされたフォトカット格子が文書(26)および(27)に記載されて
いる。
次に、当該の光線に対するブラッグ格子の透過関数Aと、この格子に隣接する
ブラッグ格子の透過関数Bを示す図3を検討する。
このチャートに表わされた波長λは、横座標上に与えられナノメートル単位で
表わされ、光エネルギーPは縦座標上に与えられdB単位で表わされる。
当該の光線のスペクトル展開ゾーンCも示されている。一例として、この光は
約1nmに相当する。
図3では、クロス・トークxは−30dBないし−40dB程度であり、波長
間隔Δλ1、Δλ2、Δλ3、Δλ4はそれぞれ、3nm、1nm、1nm、お
よび1nmに相当する。
フォトカッティングを使用する際の生産精度のマージンと、外部温度に対する
±50℃の熱ドリフトとを考慮に入れて、各光線につ
いて約3ナノメートルの多重化解除スペクトル幅が選択されている。
この場合、使用可能なスペクトル空間は約50%である。
クロス・トークは、ブラッグ格子がそこに作製される光ガイドの端末の適切さ
に依存する。
通常、シリコン・ベースの技法を使用すると、格子軸に対して傾斜した端部を
有するブラッグ格子を各ガイド軸受けに設けることによって、−40dBのクロ
ス・トークに達することができる。この場合、選択的に格子から反射されない光
は、格子が構成された基板を通過することができる。
ガラスを使用する技法の場合、選択的に反射されない光が基板を通過するよう
に、ガイドに垂直でない軸に沿ってマイクロホールを切削することができる。
平坦な基板上に多重化解除ブラッグ格子を作製するには2つの技法を使用する
ことができる。
第1の技法は、文書(21)に記載されたフォトエッチングからなる。
この技法は、深さが1μmないし2μmの、コアの近傍のスーパーストレート
の非常に厳密な機械的エッチングによって、ガイドに沿って誘導される有効指数
の変動を利用する。
良好なエッチング精細度を得るために、たとえば、スピン・コーティングを使
用して、厚さが約70nmの非常に薄い感光(フォトレジスト)樹脂層を基板に
付与する。
次いで、たとえば、文書(21)に記載されたように457.9nmアルゴン
・レーザを使用すると共に、フォトカット・ブラッグ
格子に使用されるのと同様な光学アセンブリから得られる干渉パターンを用いて
、可視領域または近紫外領域でこの感光樹脂層を分離する。
この主題に関する他の情報については文書(22)ないし(28)を参照する
ことができる。
ガラスを生成した後、たとえばトリフルオロメタン雰囲気中でアルゴン・ビー
ムを使用する反応性イオンエッチングによって、ガラスをエッチングする。
基本モードのフィールドを、エッチングされたゾーンに集中させることによっ
て格子の回折効果を高めるために、シリカよりも高い光学係数を有する80nm
アルミナ層を、一般にエッチングされたゾーンの上方に付着させる。
第2の技法はフォトカッティングからなる。
この主題に関する他の情報については文書(22)ないし(28)を参照する
ことができる。
シリカにゲルマニウムでドープする場合、ガラス作製技法は、構造欠陥をなく
し、かつかなり低減された光電感度を有するガラスを生成するアニーリング段階
を含む。
ガラスが水素雰囲気中でアニーリングされるか、あるいは大気熱で数Mpaだ
け加圧されるか、あるいは炎焼入れを使用する水素添加技法は、ガラス基板また
はシリコン・オン・シリコン基板の光電感度をかなり高める。
この主題に関する他の情報については文書(22)、(23)、および(24)を
参照することができる。
ブラッグ格子をフォトカッティングするための好ましい技法は、
位相マスクを使用する技法である。というのは、位相マスクは、標準的なフォト
リソグラフィ法を使用した基板上での複数回の切削動作に適しているからである
。
この技法の理論は、いくつかの基本的な文献に記載されている(たとえば、文
書(12)の64ページを参照されたい)。
この技法を使用する場合、マークがエッチングされた、たとえば、CORNI
NG社から販売されている種類(Corning7940)の溶融シリカのプレ
ートを使用して、マスクを作製する。
このようなマークは周期的なものであり、周期はd=λB/Nであり(この場合
、λBは格子波長を表わし、Nは、案内される基本モードの有効指数を表わす)、
このようなマークの深さは、文書(25)に記載されたように、分離波長に対す
るπの位相変調の深さに対応する。
488nmで放出し、周波数が、紫外で244nmで放出するようにレーザ・
キャビティ内部では2倍にされた、イオン化アルゴン・レーザから分離レーザ光
線を放出することができる。周波数が、266nmで放出するように4倍にされ
た、YAG−Ndレーザを使用することもできる。
249nmで放出するKrFエキシマ・レーザまたは同様なエキシマ・レーザ
を使用することもできる。
この場合、レーザ光線は主として、それぞれがエネルギーの約35%を表わす
2つのオーダー、すなわち−1および1に応じて回折され、それに対して、ゼロ
・オーダーは、実際には最小値に低減すべきであり、エネルギーの5%未満を表
わす。
各オーダーの結果として得られる2つのコヒーレント波は、周期
Λの干渉パターンを生成し、この干渉パターンが波長格子λB=2.N.Λ=N
.dを生成する。この場合、Nは、案内される基本モードの有効指数である。
格子周期は、分離波長には依存しない。このことは、KrFエキシマ・レーザ
など、コヒーレント距離の短い光源と共にこの方法を使用できることを意味する
。
チャープされた格子は有利には、一定のピッチ位相を有する一連のいくつかの
格子を使用して得られる。
この主題に関する他の情報については文書(26)を参照することができる。
この種の位相マスクは、単一の格子を作製するマスクとして、たとえばLas
iris Company、Northern Photonics Comp
any、およびQPS Tech.Companyから市販されている。
したがって、構成要素の分離マスクは、分離すべきガイドの上方で分割された
いくつかのこれらのマスクで構成される。
このマスクは構成要素上に位置決めされ、マスクと構成要素からなるアセンブ
リが、パルス・モータなどのマイクロ変位手段によりレーザ光線の下で並進移動
によって変位される。
チャープされた格子の典型的な長さは約5nmおよび10nmである。
文書(27)および(28)に記載された干渉計法を2つの波に適用すること
によって、波長の調整上の融通性を高めることができる。
この代替方法によれば、周波数がXeClエキシマ・レーザまた
は同様なエキシマ・レーザによって2倍にされポンピングされるダイ・レーザか
らビームを放出することができる。
この主題に関する他の情報については文書(28)を参照することができる。
この方法は、干渉計を修正せずにブラッグ一致波形を調整することができると
いう利点を有する。これを実現するために、分離波長は、約230nmと255
nmの間で非常にわずかに調整される。
次に、再び図1を検討する。たとえば、測定ライン上のセンサによって放出さ
れ、光ファイバ10によって送られる光6がエネルギー分離器を通過し、エネル
ギー分離器は、たとえば、同じスペクトル特性を有する8つの信号を各出力で生
成する。各出力は波長分離器ジャンクションのアームに接続され、波長分離器ジ
ャンクションは、反射を使用して動作し、フィルタされたエネルギー16をガイ
ド14内で送る。この各ジャンクション上でブラッグ格子12がフォトカッティ
ングされる。ブラッグ格子は、他の波長領域から切り離された波長領域を分離し
(図3参照)、測定ライン上の各センサごとにスペクトル多重化解除機能を確保す
る。この分離器ジャンクションを作製する2つの方法がある。
第1の解決策は、入力アーム上でフォトカッティングされた、有利には100
%反射を有するブラッグ格子12と共に、Yジャンクションを使用する(図4参
照。図4では、ジャンクションを「J」と呼ぶ)。この解決策は、Yジャンクシ
ョンの案内特性によって、偏光および光の波長に対する感度が低減されるという
利点を有する。したがって、単一のマスクのみで構成要素を作製することができ
る。この場合、デマルチプレクサを作製するときにブラッグ格子波長
しか調整されないので、非常に融通に富んだ生産が可能になる。一方、このYジ
ャンクションによって、フィルタリング動作中に、すなわち、ガイド14へ向か
う出力信号で6dBの光学損失が起こる。
第2の解決策はこの欠点を解消する。この解決策は、COカプラの2つのアー
ム上で、有利には100%反射を有する各ブラッグ格子12を同時にフォトカッ
ティングし、格子援用カプラ(図5参照)を構成することからなる。この種のカ
プラとして、有利には、結合定数Cを低減するカプラが選択され、それによって
、結合長Lc上で単一のビートが観測され、すなわち、C.Lc=π/2になり
、波長および偏光に対する依存性が最小限に抑えられる。したがって、格子援用
カプラの原則は以下のとおりである。結合長、結合間隔、および結合ガイドの特
性は、ポートIから結合ポートIIIへの総エネルギー伝達、すなわち、100
%のエネルギー伝達が得られるように選択される。反射によって動作するフォト
カット格子を両方のアーム上で使用した場合、ブラッグ格子から反射された波長
は、カプラを通過して逆方向へ進み、ポートIIと対称的なポートIVから来る
場合と同様にポートIIへ反射される。次いで、波長がフォトカット・ブラッグ
格子の特性波長と同じである信号が抽出される。この動作はたとえば、文書(3
0)に記載されている。
Yジャンクションと100%ブラッグ格子支援カプラのどちらでも、クロス・
トークを生じさせるフレネル反射をなくすために、ガイドIIIの端部(図4)
とガイドIIIおよびIVの端部(図5)は、傾斜(図4および図5では楕円E
として示されている)を付けて貫通される。
本明細書の説明では以下の文書が参照される。
【手続補正書】特許法第184条の8第1項
【提出日】平成11年4月12日(1999.4.12)
【補正内容】
さらに、このデマルチプレクサを用いて得ることの可能な最小クロス・トーク
は、通常は−20dB反射防止堆積物を備える使用される帯域フィルタの反射に
依存し、かつ分析される光の偏光にも強く依存する(フィルタは45°の角度に
位置する)。
最後に、この種のデマルチプレクサは、産業センサ市場の要件を満たすように
産業的に作成するのに適していない。発明の開示
本発明の目的は、優れた波長除去機能を有し、クロス・トークを大幅に(−3
0dBよりも低く)低減し、かつ一致する波長を調整することが可能なため作製
に関して融通の利く多重化解除装置を提供することによって上記の欠点を解消す
ることである。米国特許第5457760号は、請求の範囲第1項のプリアンブ
ルに記載の波長多重化解除装置を開示している。
詳細には、本発明は、全体で光学スペクトルを構成し、それぞれが所定のスペ
クトル領域で変動することのできる、複数(N本)のスペクトル線を有する波長
多重化解除装置であって、
−光学スペクトルを受け取るように構成された入力(4)と、各出力が光学ス
ペクトル光エネルギーのそれぞれの部分を供給するように構成された複数(N個
)の出力(8)とを有するエネルギー分離器(2a、2b、2c)と、
−各フィルタが、エネルギー分離器の特定の出力に接続され、かつ光学スペク
トルの1条の光線(λi)に関連するスペクトル領域を含み、したがって、この
特定の光線(λi)のみをフィルタする波長帯域に接続され、それぞれの異なる
光をフィルタするように構
成された、複数(N個)の光学波長フィルタ(12)とを備え、
各光学フィルタ(12)が、各選択的反射器ごとに異なる光学スペクトルの単
一の光線(λi)を反射するように構成された固有の選択的波長光反射器で構成
され、これらの選択的反射器(12)がそれぞれ、この選択的反射器への入射光
線のとる方向とは異なる方向に反射されるように光線(λi)を方向付ける手段
(14)に関連付けされることを特徴とする装置に関する。
Corning社から市販されているような既知の種類のエネルギー分離器を
使用することができる。エネルギー分離器は、縦続状に、すなわち木形状に組み
立てられ、木構造を有する分離器ジャンクションのアセンブリでよい。
各分離器ジャンクションはマルチモードであるが、特に、多重化解除すべき光
学スペクトルが、分離器ジャンクション・アセンブリの入力に接続された光ファ
イバによって送られるときは、単一モードであることが好ましい。
これらの分離器ジャンクションは、各出力チャネルが入射光線エネルギーの2
分の1を送るようなカプラ、たとえば3dBカプラでよい。
しかし、これを可能にするには、波長に従ってカプラと結合された2つのガイ
ドの間結合長および空間を、正確に調整しなければならない。
このため、本発明では、Yジャンクションで構成された分離器ジャンクション
を使用することが好ましい。
このようなYジャンクションは、アクロマティックであり、かつ偏光に依存し
ないという利点を有する。
本発明の装置の好ましい実施形態によれば、各選択的反射器に関連する手段は
、この反射器から反射された光線を拡散するための光学ウェーブガイドで構成さ
れる。
本発明の装置の好ましい1実施形態によれば、エネルギー分離器
請求の範囲
1.全体で光学スペクトル(6)を構成し、それぞれが所定のスペクトル領域
で変動することのできる、複数(N本)のスペクトル線(λ1ないしλN)を有
する波長多重化解除装置であって、
−光学スペクトル(6)を受け取るように設計された入力(4)と、各出力が
光学スペクトル光エネルギーのそれぞれの部分を供給するように構成された複数
(N個)の出力(8)とを有するエネルギー分離器(2a、2b、2c)と、
−各フィルタが、エネルギー分離器の特定の出力に接続され、かつ光学スペク
トルの1条の光線(λi)に関連するスペクトル領域を含み、したがって、この
特定の光線(λi)のみをフィルタする波長帯域に接続され、それぞれの異なる
光をフィルタするように構成された、複数(N個)の光学波長フィルタ(12)
とを備え、
各光学フィルタ(12)が、各選択的反射器ごとに異なる光学スペクトルの単
一の光線(λi)を反射するように構成された固有の選択的波長光反射器で構成
され、これらの選択的反射器(12)がそれぞれ、この選択的反射器への入射光
線のとる方向とは異なる方向に反射されるように光線(λi)を方向付ける手段
(14)に関連付けされることを特徴とする装置。
2.エネルギー分離器が分離器ジャンクション(2a、2b、2c)のアセン
ブリであることを特徴とする請求の範囲第1項に記載の装置。
3.各分離器ジャンクション(2a、2b、2c)が単一モードであることを
特徴とする請求の範囲第2項に記載の装置。
4.分離器ジャンクションがカプラであることを特徴とする請求の範囲第2項
または第3項に記載の装置。
5.分離器ジャンクションがYジャンクションであることを特徴とする請求の
範囲第2項または第3項に記載の装置。
6.各選択的反射器(12)に関連する手段(14)が、前記反射器から反射
された光線(λi)を伝搬させるように設計された光学ウェーブガイドで構成さ
れることを特徴とする請求の範囲第1項ないし第5項のいずれかに記載の装置。
7.エネルギー分離器と選択的反射器が同じ基板(18)に集積されることを
特徴とする請求の範囲第1項ないし第6項のいずれかに記載の装置。
8.基板(18)がガラス基板またはシリコン基板であることを特徴とする請
求の範囲第7項に記載の装置。
9.選択的反射器がブラッグ格子を備えることを特徴とする請求の範囲第1項
ないし第8項のいずれかに記載の装置。
10.ブラッグ格子がフォトカッティングされるか、あるいはフォトエッチン
グされることを特徴とする請求の範囲第9項に記載の装置。
11.ブラッグ格子が、チャープされた格子であることを特徴とする請求の範
囲第9項または第10項に記載の装置。
12.ブラッグ格子が、最大反射率と、非常に強い光束のフォトカッティング
のために幅の広げられたスペクトル応答とを有する固定周期格子であることを特
徴とする請求の範囲第9項または第10項に記載の装置。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 グラン ジル
フランス国,38000 グルノーブル,リュ
バルナーヴ,24番地
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.光学スペクトルを構成し、それぞれ所定のスペクトル領域で変動すること のできる、複数のスペクトル線用の波長多重化解除装置であって、 −光学スペクトルを受け取るように設計された入力(4)と、光学スペクトル 光エネルギーのそれぞれの部分を供給するように構成された複数の出力(8)と を含むエネルギー分離器と、 −それぞれの選択的波長光反射器が、出力に接続され、各選択的波長光反射器 が、1条の光線に関連するスペクトル領域を含み、したがって、この特定の光線 のみを反射する波長帯域を有する、複数の選択的波長光反射器とを備えることを 特徴とする装置。 2.エネルギー分離器が分離器ジャンクション(2a、2b、2c)のアセン ブリであることを特徴とする請求の範囲第1項に記載の装置。 3.各分離器ジャンクション(2a、2b、2c)が単一モードであることを 特徴とする請求の範囲第2項に記載の装置。 4.分離器ジャンクションがカプラであることを特徴とする請求の範囲第2項 または第3項に記載の装置。 5.分離器ジャンクションがYジャンクションであることを特徴とする請求の 範囲第2項または第3項に記載の装置。 6.各選択的反射器(12)が、前記反射器から反射された光線を伝搬させる ように構成された光学ウェーブガイド(14)に接続されることを特徴とする請 求の範囲第1項ないし第5項のいずれかに記載の装置。 7.エネルギー分離器と選択的反射器が同じ基板(18)に集積されることを 特徴とする請求の範囲第1項ないし第6項のいずれかに記載の装置。 8.基板(18)がガラス基板またはシリコン基板であることを特徴とする請 求の範囲第7項に記載の装置。 9.選択的反射器がブラッグ格子を備えることを特徴とする請求の範囲第1項 ないし第8項のいずれかに記載の装置。 10.ブラッグ格子がフォトカッティングされるか、あるいはフォトエッチン グされることを特徴とする請求の範囲第9項に記載の装置。 11.ブラッグ格子が、チャープされた格子であることを特徴とする請求の範 囲第9項または第10項に記載の装置。 12.ブラッグ格子が、最大反射率と、非常に強い光束のフォトカッティング のために幅の広げられたスペクトル応答とを有する固定周期格子であることを特 徴とする請求の範囲第9項または第10項に記載の装置。
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