JP2019176073A - 固体電解コンデンサ又はハイブリッド電解コンデンサ用セパレータ及び固体電解コンデンサ又はハイブリッド電解コンデンサ。 - Google Patents
固体電解コンデンサ又はハイブリッド電解コンデンサ用セパレータ及び固体電解コンデンサ又はハイブリッド電解コンデンサ。 Download PDFInfo
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Abstract
Description
回路基板に搭載される部品の一つにアルミニウム電解コンデンサがあるが、アルミニウム電解コンデンサの中でも、陰極材料に導電性高分子を用いたアルミニウム固体電解コンデンサ(以下、固体電解コンデンサ)は、陰極材料に電解液を用いる通常のアルミニウム非固体電解コンデンサ(以下、「非固体電解コンデンサ」と称す。)と比べ、周波数特性に優れ、等価直列抵抗(以下、「ESR」と称す。)が小さく、高周波特性が要求されるCPU周辺にも使用されている。
このようなセルロース系セパレータの課題を解決するため、非炭化で使用可能なセパレータとして、合成樹脂繊維を用いたもの、セルロース系繊維と合成樹脂繊維とを混合し用いたもの等が提案されている。
また、近年、固体電解コンデンサおよびハイブリッド電解コンデンサの適用範囲拡大に伴い、固体電解コンデンサおよびハイブリッド電解コンデンサには、一層の信頼性向上が求められている。
即ち、一対の電極の間に介在するアルミニウム電解コンデンサ用セパレータであって、合成樹脂繊維を含有し、空隙率が65〜85%、平均孔径が0.5〜25.0μm、クラークこわさが1〜10cm3/100であることを特徴とする。
また例えば、前記合成樹脂繊維はフィブリル化繊維であることを特徴とする。
セパレータとして、上記のセパレータを用いたことを特徴とするアルミニウム電解コンデンサ。
そして例えば、
前記アルミニウム電解コンデンサは、陰極材料に導電性高分子を用いたことを特徴とする。
本願発明者らは、固体電解コンデンサおよびハイブリッド電解コンデンサを耐熱性および耐振動性が要求される用途を模して試験していたとき、特許文献1〜5のような従来のセパレータを用いた固体電解コンデンサおよびハイブリッド電解コンデンサでは、試験後に抵抗が増大するリスクがあることが明らかとなった。
曲げ剛性を最適に制御することにより、適度なしなやかさを有したセパレータを得ることができた。
セパレータのクラークこわさが10cm3/100を超過する程高いと、セパレータは曲げに対し剛直であることを意味し、巻回状態において内側から外側へ向けて反発する力が強すぎて、緩衝材の役割を果たさず、高温や高振動環境下で導電性高分子が崩落し、導電性高分子層の連続性が低下する。
空隙率が65%未満では、繊維同士の間隙が過度に緻密になり、導電性高分子の重合液や分散液の含浸性が悪化し、固体電解コンデンサおよびハイブリッド電解コンデンサとしたときのESRを低減できない。また、セパレータの見かけ密度が上がることになり、クラークこわさが高くなる傾向がある。
平均孔径が0.5μm未満では、セパレータが過度に緻密であるため、導電性高分子の基を含浸させにくく、導電性高分子の連続性を担保しにくくなり、初期ESRを十分に低減できない。また、平均孔径が25.0μmを超過すると、セパレータの緻密性が不足し、電極箔のバリ等がセパレータを貫通しやすくなるため、ショート不良を低減できない。
そして、本実施の形態のアルミニウム電解コンデンサは、セパレータとして上記構成のセパレータを用いて、一対の電極の間にセパレータを介在させ、陰極材料として導電性高分子を使用した。
本実施の形態のセパレータの各特性の具体的な測定は、以下の条件および方法で行った。
〔厚さ〕
「JIS C 2300−2 『電気用セルロース紙−第2部:試験方法』 5.1 厚さ」に規定された、「5.1.1 測定器および測定方法 a外側マイクロメータを用いる場合」のマイクロメータを用いて、「5.1.3 紙を折り重ねて厚さを測る場合」の10枚に折り重ねる方法で、セパレータの厚さを測定した。
「JIS C 2300−2 『電気用セルロース紙-第2部:試験方法』 7.0A 密度」のB法に規定された方法で、絶乾状態のセパレータの密度を測定した。
以下の式1により、セパレータの空隙率を求めた。
(セパレータの真比重−セパレータ密度)/セパレータの真比重×100(%) 式1
例えば、密度0.4g/cm3のセルロースのみからなるセパレータの空隙率は、以下のようにして求めた。
(1.5−0.4)/1.5×100=73.3(%)となる。
また例えば、比重1.2の合成樹脂繊維を30質量%、比重1.5のセルロース繊維を70質量%含有する密度0.45g/cm3のセパレータでは、セパレータの比重は1.5×0.7+1.2×0.3= 1.41となる。そして上記式1にあてはめ、空隙率は(1.41−0.45)/1.41×100=68.1(%)となる。
CFP−1200−AEXL−ESA(Porous Materials,Inc.社製)を用いてバブルポイント法(ASTM F316−86、JIS K3832)により測定される孔径分布から、セパレータの平均孔径(μm)を求めた。なお、試験液としてGALWICK(Porous Materials,Inc社製)を用いている。
「JIS P 8143 『紙−こわさ試験方法−クラークこわさ試験方法』」に規定された方法で、セパレータのクラークこわさを測定した。試験片は、セパレータが製造される方向(MD)を長辺とし、長さ250mm、幅30mmとした。
長さ加重平均繊維長および0.1〜1.2mmの繊維の含有割合は、「JIS P 8226−2『パルプ−光学的自動分析法による繊維長測定方法 第2部:非偏光法』(ISO16065−2『Pulps−Determination of Fiber length by automated optical analysis−Part2:Unpolarized light method』)」に記載された装置、ここではkajaaniFiberLab(メッツォオートメーション株式会社製)を用いて長さ荷重平均繊維長を測定し、更に0.05〜7.6mmの範囲での長さ加重平均繊維長分布から0.1〜1.2mmの繊維の含有割合を算出した。
以下に示す各実施例、比較例、従来例のセパレータを用いて定格電圧35V、静電容量100μF、直径10.0mm×高さ10.0mmと、定格電圧80V、静電容量47μF、直径10.0mm×高さ10.0mmとの二種類の固体電解コンデンサを作製した。
エッチング処理および酸化皮膜形成処理を行った陽極箔と陰極箔とが接触しないようにセパレータを介在させて巻回し、テープで固定してコンデンサ素子を作製した。作製したコンデンサ素子は、再化成処理後、乾燥した。
次に、所定のケースにコンデンサ素子を入れ、開口部を封口後、エージングを行い、それぞれの固体電解コンデンサを得た。
各実施例、比較例、従来例のセパレータを用いて定格電圧35V、静電容量270μF、直径10.0mm×高さ10.5mmと、定格電圧125V、静電容量10μF、直径10.0mm×高さ10.5mmとの二種類のハイブリッド電解コンデンサを作製した。
エッチング処理および酸化皮膜形成処理を行った陽極箔と陰極箔とが接触しないようにセパレータを介在させて巻回し、テープで固定してコンデンサ素子を作製した。作製したコンデンサ素子は、再化成処理後、乾燥した。
続けて、上記コンデンサ素子に駆動用電解液を含浸させ、所定のケースにコンデンサ素子を入れ、開口部を封口後、エージングを行い、それぞれのハイブリッド電解コンデンサを得た。
本実施の形態のアルミニウム電解コンデンサの具体的な性能評価は、以下の条件および方法で行った。
〔初期ESR〕
作製したコンデンサ素子のESRは、温度20℃、周波数100kHzの条件にてLCRメータを用いて測定した。
ショート不良率は、巻回したコンデンサ素子を用いて、エージング中に生じたショート不良数を計数し、ショート不良となった素子数を、エージングを実施したコンデンサ素子数で除して、百分率をもってショート不良率とした。
〔高温負荷試験後のESR上昇率〕
高温負荷試験後ESRは、150℃、500時間加熱処理した後に、温度20℃、周波数100kHzの条件にてLCRメータを用いて測定した。
この高温負荷試験後ESRを、高温負荷試験前のESRで除して、高温負荷試験後のESR上昇率を算出した。
「JIS C 60068‐2‐6 4.17 『環境試験方法‐電気・電子‐2‐6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)』」を参考に、振動試験後ESRは、周波数10〜2000Hz、全振幅1.5mm、振動方向は互いに直角な3方向に各2時間、合計6時間の振動試験を実施した後に、温度20℃、周波数100kHzの条件にてLCRメータを用いて測定した。
この振動試験後ESRを、振動試験前のESRで除して、振動試験後のESR上昇率を算出した。
以下、本発明に係る実施の形態におけるセパレータの具体的な実施例等について説明する。
〔実施例1〕
フィブリル化アラミド繊維60質量%と、フィブリル化ポリアリレート繊維25質量%と、ポリビニルアルコール15質量%とを混合した原料を用いて円網抄紙し、実施例1のセパレータを得た。
完成した実施例1のセパレータ厚さは60μm、密度は0.200g/cm3、空隙率は85.0%、平均孔径は12.0μm、クラークこわさは2.0cm3/100であった。
フィブリル化アラミド繊維70質量%と、フィブリル化ポリアミドイミド繊維20質量%と、ポリアクリルアミド10質量%とを混合した原料を用いて円網抄紙し、実施例2のセパレータを得た。
完成した実施例2のセパレータ厚さは40μm、密度は0.484g/cm3、空隙率は65.0%、平均孔径は10.0μm、クラークこわさは8.0cm3/100であった。
フィブリル化アラミド繊維40質量%と、フィブリル化ポリパラフェニレンベンズオキサゾール繊維35質量%と、ポリビニルアルコール25質量%とを混合した原料を用いて円網抄紙し、実施例3のセパレータを得た。
完成した実施例3のセパレータ厚さは35μm、密度は0.284g/cm3、空隙率は80.0%、平均孔径は17.0μm、クラークこわさは4.0cm3/100であった。
フィブリル化アラミド繊維100質量%の原料を用いて円網抄紙し、実施例4のセパレータを得た。
完成した実施例4のセパレータ厚さは30μm、密度は0.420g/cm3、空隙率は70.0%、平均孔径は8.0μm、クラークこわさは7.5cm3/100であった。
フィブリル化アラミド繊維40質量%と、フィブリル化アクリル繊維60質量%とを混合した原料を用いて円網抄紙し、実施例5のセパレータを得た。
完成した実施例5のセパレータ厚さは50μm、密度は0.215g/cm3、空隙率は83.0%、平均孔径は25.0μm、クラークこわさは9.0cm3/100であった。
フィブリル化アラミド繊維85質量%と、ポリアクリルアミド15質量%とを混合した原料を用いて円網抄紙し、実施例6のセパレータを得た。
完成した実施例6のセパレータ厚さは45μm、密度は0.405g/cm3、空隙率は70.4%、平均孔径は0.5μm、クラークこわさは5.0cm3/100であった。
フィブリル化アラミド繊維40質量%と、フィブリル化アクリル繊維40質量%と、ポリビニルアルコール20質量%とを混合した原料を用いて円網抄紙し、実施例7のセパレータを得た。
完成した実施例7のセパレータ厚さは70μm、密度は0.378g/cm3、空隙率は70.6%、平均孔径は20.0μm、クラークこわさは10.0cm3/100であった。
フィブリル化アラミド繊維50質量%と、フィブリル化セルロース繊維45質量%と、ポリビニルアルコール5質量%とを混合した原料を用いて円網抄紙し、実施例8のセパレータを得た。
完成した実施例8のセパレータ厚さは20μm、密度は0.269g/cm3、空隙率は81.3%、平均孔径は12.0μm、クラークこわさは1.0cm3/100であった。
フィブリル化アラミド繊維30質量%と、フィブリル化セルロース繊維70質量%とを混合した原料を用いて円網抄紙し、実施例9のセパレータを得た。
完成した実施例9のセパレータ厚さは40μm、密度は0.354g/cm3、空隙率は75.9%、平均孔径は5.0μm、クラークこわさは7.0cm3/100であった。
フィブリル化アラミド繊維70質量%と、ポリビニルアルコール30質量%とを混合した原料を用いて円網抄紙し、実施例10のセパレータを得た。
完成した実施例10のセパレータ厚さは30μm、密度は0.304g/cm3、空隙率は77.6%、平均孔径は2.0μm、クラークこわさは1.5cm3/100であった。
フィブリル化アラミド繊維65質量%と、ポリビニルアルコール35質量%とを混合した原料を用いて円網抄紙し、参考例のセパレータを得た。
完成した参考例のセパレータ厚さは30μm、密度は0.325g/cm3、空隙率は75.9%、平均孔径は1.8μm、クラークこわさは2.0cm3/100であった。
フィブリル化アラミド繊維50質量%と、フィブリル化セルロース繊維45質量%と、ポリビニルアルコール5質量%とを混合した原料を用いて円網抄紙し、比較例1のセパレータを得た。
完成した比較例1のセパレータ厚さは50μm、密度は0.246g/cm3、空隙率は82.9%、平均孔径は30.0μm、クラークこわさは5.0cm3/100であった。
フィブリル化アラミド繊維85質量%と、ポリアクリルアミド15質量%とを混合した原料を用いて円網抄紙し、比較例2のセパレータを得た。
完成した比較例2のセパレータ厚さは15μm、密度は0.303g/cm3、空隙率は78.0%、平均孔径は0.1μm、クラークこわさは0.5cm3/100であった。
フィブリル化アラミド繊維20質量%と、フィブリル化セルロース繊維80質量%とを混合した原料を用いて円網抄紙し、比較例3のセパレータを得た。
完成した比較例3のセパレータ厚さは75μm、密度は0.421g/cm3、空隙率は71.6%、平均孔径は22.0μm、クラークこわさは15.0cm3/100であった。
特許文献1の実施例1に記載の方法と同様の方法で製造したセパレータを作製し、従来例1のセパレータとした。
従来例1のセパレータはポリエチレンテレフタレート繊維100質量%からなり、厚さは40μm、密度は0.450g/cm3、空隙率は67.4%、平均孔径は27.0μm、クラークこわさは0.8cm3/100であった。
特許文献2の実施例1に記載の方法と同様の方法で製造したセパレータを作製し、従来例2のセパレータとした。
従来例2のセパレータはフィブリル化アクリル繊維90質量%と、ホモアクリル繊維10質量%とを含有し、厚さは40μm、密度は0.550g/cm3、空隙率は53.4%、平均孔径は3.0μm、クラークこわさは11.0cm3/100であった。
特許文献3の実施例1に記載の方法と同様の方法で製造したセパレータを作製し、従来例3のセパレータとした。
従来例3のセパレータはナイロン9MT繊維70質量%と、ポリビニルアルコール30質量%とを含有し、厚さは40μm、密度は0.273g/cm3、空隙率は79.7%、平均孔径は26.0μm、クラークこわさは13.0cm3/100であった。
特許文献4の実施例1に記載の方法と同様の方法で製造したセパレータを作製し、従来例4のセパレータとした。
従来例4のセパレータはアラミド繊維100質量%からなり、厚さは40μm、密度は0.180g/cm3、空隙率は87.1%、平均孔径は18.0μm、クラークこわさは14.0cm3/100であった。
表1は以上に説明した実施例1〜10、参考例、比較例1〜3、従来例1〜4の各セパレータの原材料と配合例である。
また、ハイブリッド電解コンデンサとして低電圧用の定格電圧35Vのコンデンサと、高電圧用の定格電圧125Vのコンデンサとを作製した。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが22mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.3%、振動試験後のESRの変化率が1.7%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが44mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.8%、振動試験後のESRの変化率が1.8%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが23mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が4.0%、振動試験後のESRの変化率が1.5%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが88mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が3.2%、振動試験後のESRの変化率が1.2%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが23mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.1%、振動試験後のESRの変化率が4.4%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが45mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.1%、振動試験後のESRの変化率が3.6%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが23mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.0%、振動試験後のESRの変化率が3.1%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが87mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が3.0%、振動試験後のESRの変化率が4.3%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが19mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が4.0%、振動試験後のESRの変化率が1.5%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが40mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.4%、振動試験後のESRの変化率が1.3%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが20mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.8%、振動試験後のESRの変化率が1.8%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが80mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が3.5%、振動試験後のESRの変化率が1.1%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが20mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.8%、振動試験後のESRの変化率が2.0%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが39mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.6%、振動試験後のESRの変化率が1.2%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが20mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.6%、振動試験後のESRの変化率が1.4%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが79mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が2.8%、振動試験後のESRの変化率が1.4%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが22mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.7%、振動試験後のESRの変化率が4.9%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが44mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.1%、振動試験後のESRの変化率が4.3%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが22mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.3%、振動試験後のESRの変化率が4.1%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが87mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が3.0%、振動試験後のESRの変化率が4.3%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが20mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.6%、振動試験後のESRの変化率が1.6%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが40mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.8%、振動試験後のESRの変化率が1.5%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが19mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.5%、振動試験後のESRの変化率が1.5%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが80mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が3.1%、振動試験後のESRの変化率が1.6%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが19mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.6%、振動試験後のESRの変化率が4.6%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが40mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.8%、振動試験後のESRの変化率が4.3%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが20mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.9%、振動試験後のESRの変化率が4.5%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが79mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が3.2%、振動試験後のESRの変化率が4.2%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが22Ω、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.3%、振動試験後のESRの変化率が3.4%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが44mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.8%、振動試験後のESRの変化率が3.8%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが22mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.8%、振動試験後のESRの変化率が3.5%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが87mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が3.9%、振動試験後のESRの変化率が4.2%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが19mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.1%、振動試験後のESRの変化率が1.8%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが39mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.8%、振動試験後のESRの変化率が2.0%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが19mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.6%、振動試験後のESRの変化率が1.0%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが79mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が3.1%、振動試験後のESRの変化率が1.9%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが19mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.5%、振動試験後のESRの変化率が1.5%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが39mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.0%、振動試験後のESRの変化率が1.6%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが19mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.4%、振動試験後のESRの変化率が1.5%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが79mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が2.1%、振動試験後のESRの変化率が1.0%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが25mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.3%、振動試験後のESRの変化率が1.3%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが48mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.9%、振動試験後のESRの変化率が1.9%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが26mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.5%、振動試験後のESRの変化率が1.1%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが95mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が2.5%、振動試験後のESRの変化率が1.8%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが23mΩ、ショート不良率が1.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.7%、振動試験後のESRの変化率が1.4%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが45mΩ、ショート不良率が1.2%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.7%、振動試験後のESRの変化率が1.5%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが23mΩ、ショート不良率が1.1%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.8%、振動試験後のESRの変化率が1.1%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが88mΩ、ショート不良率が1.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が2.1%、振動試験後のESRの変化率が1.9%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが28mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.4%、振動試験後のESRの変化率が15.0%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが52mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.1%、振動試験後のESRの変化率が18.1%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが29mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.6%、振動試験後のESRの変化率が23.7%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが104mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が3.6%、振動試験後のESRの変化率が16.1%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが20mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.9%、振動試験後のESRの変化率が15.7%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが40mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.1%、振動試験後のESRの変化率が16.2%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが20mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.4%、振動試験後のESRの変化率が22.4%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが80mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が3.8%、振動試験後のESRの変化率が23.9%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが20mΩ、ショート不良率が1.1%、高温負荷試験後のESRの変化率が17.0%、振動試験後のESRの変化率が15.3%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが40mΩ、ショート不良率が1.1%、高温負荷試験後のESRの変化率が23.2%、振動試験後のESRの変化率が15.7%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが20mΩ、ショート不良率が1.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が17.2%、振動試験後のESRの変化率が20.6%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが80mΩ、ショート不良率が1.2%、高温負荷試験後ESR上昇率が23.3%、振動試験後のESRの変化率が20.3%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが28mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が15.6%、振動試験後のESRの変化率が14.5%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが53mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が19.4%、振動試験後のESRの変化率が16.2%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが28mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後のESRの変化率が23.9%、振動試験後のESRの変化率が17.4%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが105mΩ、ショート不良率が0.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が20.8%、振動試験後のESRの変化率が19.3%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが25mΩ、ショート不良率が0.5%、高温負荷試験後のESRの変化率が10.3%、振動試験後のESRの変化率が14.4%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが48mΩ、ショート不良率が0.5%、高温負荷試験後のESRの変化率が10.5%、振動試験後のESRの変化率が19.2%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが26mΩ、ショート不良率が0.5%、高温負荷試験後のESRの変化率が10.8%、振動試験後のESRの変化率が15.2%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが96mΩ、ショート不良率が0.5%、高温負荷試験後ESR上昇率が10.6%、振動試験後のESRの変化率が17.0%であった。
固体電解コンデンサ
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが20mΩ、ショート不良率が1.2%、高温負荷試験後のESRの変化率が2.3%、振動試験後のESRの変化率が19.3%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが40mΩ、ショート不良率が1.1%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.6%、振動試験後のESRの変化率が15.1%であった。
定格電圧35Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが20mΩ、ショート不良率が1.2%、高温負荷試験後のESRの変化率が3.4%、振動試験後のESRの変化率が20.1%であった。
定格電圧80Vの固体電解コンデンサは、初期ESRが80mΩ、ショート不良率が1.0%、高温負荷試験後ESR上昇率が3.7%、振動試験後のESRの変化率が15.7%であった。
すなわち、セパレータに遮蔽性を維持させたまま、導電性高分子層を連続的に形成させることができるため、コンデンサの初期ESR特性およびショート不良率を改善し、かつ、過酷な使用環境であっても特性の劣化を抑制することが可能となる。
Claims (5)
- 一対の電極の間に介在するアルミニウム電解コンデンサ用セパレータであって、
合成樹脂繊維を含有し、空隙率が65〜85%、平均孔径が0.5〜25.0μm、クラークこわさが1〜10cm3/100であることを特徴とするアルミニウム電解コンデンサ用セパレータ。 - 前記合成樹脂繊維がポリアミド繊維であることを特徴とする、請求項1に記載のアルミニウム電解コンデンサ用セパレータ。
- 前記合成樹脂繊維はフィブリル化繊維であることを特徴とする請求項1または請求項2記載のアルミニウム電解コンデンサ用セパレータ。
- 請求項1乃至請求項3のいずれかに記載のセパレータを用いたことを特徴とするアルミニウム電解コンデンサ。
- 陰極材料に導電性高分子を用いたことを特徴とする請求項4記載のアルミニウム電解コンデンサ。
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