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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7007257B2 (ja) 2016-03-18 2022-01-24 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置、モジュール、および電子機器
KR102769490B1 (ko) 2018-06-21 2025-02-17 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 촬상 장치 및 그 동작 방법, 및 전자 기기
CN118922006A (zh) 2018-07-17 2024-11-08 索尼半导体解决方案公司 摄像元件、层叠型摄像元件和固态摄像装置
JP7298373B2 (ja) * 2019-07-31 2023-06-27 株式会社リコー 光電変換装置、画像読取装置、及び画像形成装置
JP7693550B2 (ja) * 2019-09-11 2025-06-17 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置
WO2021048683A1 (ja) 2019-09-13 2021-03-18 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置、撮像モジュール、電子機器及び撮像方法
JP2021072313A (ja) * 2019-10-29 2021-05-06 キオクシア株式会社 半導体記憶装置
JP7414569B2 (ja) * 2020-02-12 2024-01-16 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像素子
JP2024139129A (ja) * 2023-03-27 2024-10-09 株式会社ジャパンディスプレイ マトリックス基板及び画像表示装置

Family Cites Families (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100456441B1 (ko) * 2002-01-18 2004-11-09 주식회사 휴맥스 저장 매체에 저장된 서비스의 중지 시점부터 서비스를제공하는 방법 및 장치
JP4146654B2 (ja) * 2002-02-28 2008-09-10 株式会社リコー 画像処理回路、複合画像処理回路、および、画像形成装置
JP3810419B2 (ja) * 2004-12-07 2006-08-16 松下電器産業株式会社 再構成可能な信号処理プロセッサ
JP4450737B2 (ja) * 2005-01-11 2010-04-14 富士通株式会社 半導体集積回路
JP4536618B2 (ja) * 2005-08-02 2010-09-01 富士通セミコンダクター株式会社 リコンフィグ可能な集積回路装置
JP5064747B2 (ja) 2005-09-29 2012-10-31 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、電気泳動表示装置、表示モジュール、電子機器、及び半導体装置の作製方法
EP3614442A3 (en) 2005-09-29 2020-03-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having oxide semiconductor layer and manufactoring method thereof
JP5078246B2 (ja) 2005-09-29 2012-11-21 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、及び半導体装置の作製方法
CN100477743C (zh) * 2006-04-03 2009-04-08 索尼株式会社 摄像装置及其光源推断装置
JP2008233122A (ja) * 2007-03-16 2008-10-02 Sony Corp 表示装置、表示装置の駆動方法および電子機器
US7863930B2 (en) * 2007-11-13 2011-01-04 Panasonic Corporation Programmable device, control method of device and information processing system
CN102301413A (zh) * 2009-02-02 2011-12-28 松下电器产业株式会社 影像信号处理装置、影像信号处理系统及影像信号处理方法
KR101645680B1 (ko) 2009-11-06 2016-08-04 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치
EP2887395B1 (en) 2009-11-20 2019-05-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Nonvolatile latch circuit and logic circuit, and semiconductor device using the same
JP5508836B2 (ja) * 2009-12-24 2014-06-04 株式会社メガチップス 設定制御装置、および設定制御装置の動作方法
KR102459005B1 (ko) 2009-12-25 2022-10-27 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 메모리 장치, 반도체 장치, 및 전자 장치
KR101473684B1 (ko) 2009-12-25 2014-12-18 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치
WO2011089808A1 (en) * 2010-01-20 2011-07-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
TWI525614B (zh) 2011-01-05 2016-03-11 半導體能源研究所股份有限公司 儲存元件、儲存裝置、及信號處理電路
JP5883699B2 (ja) * 2011-04-13 2016-03-15 株式会社半導体エネルギー研究所 プログラマブルｌｓｉ
KR101818671B1 (ko) * 2011-04-19 2018-02-28 삼성전자주식회사 불휘발성 메모리 장치, 불휘발성 메모리 시스템 및 그것의 랜덤 데이터 읽기 방법
TWI536502B (zh) 2011-05-13 2016-06-01 半導體能源研究所股份有限公司 記憶體電路及電子裝置
US8669781B2 (en) * 2011-05-31 2014-03-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
TWI639150B (zh) * 2011-11-30 2018-10-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. 半導體顯示裝置
JP6046514B2 (ja) 2012-03-01 2016-12-14 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
US8754693B2 (en) 2012-03-05 2014-06-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Latch circuit and semiconductor device
JP6227890B2 (ja) 2012-05-02 2017-11-08 株式会社半導体エネルギー研究所 信号処理回路および制御回路
US8785928B2 (en) 2012-05-31 2014-07-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US9343120B2 (en) 2012-06-01 2016-05-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. High speed processing unit with non-volatile register
JP6185311B2 (ja) * 2012-07-20 2017-08-23 株式会社半導体エネルギー研究所 電源制御回路、及び信号処理回路
WO2014061761A1 (en) 2012-10-17 2014-04-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Microcontroller and method for manufacturing the same
JP5604700B2 (ja) * 2012-10-29 2014-10-15 弘一 関根 動き検出用撮像装置、動き検出カメラおよび動き検出システム
KR102112364B1 (ko) * 2012-12-06 2020-05-18 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치
US20150008428A1 (en) * 2013-07-08 2015-01-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device
KR20150014007A (ko) * 2013-07-25 2015-02-06 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 이를 포함하는 촬상 장치
JP6541360B2 (ja) 2014-02-07 2019-07-10 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP6489757B2 (ja) * 2014-04-08 2019-03-27 キヤノン株式会社 画像処理装置、その制御方法及びプログラム
JP2016127471A (ja) * 2015-01-06 2016-07-11 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置、及びそれを備える電気機器
US9912897B2 (en) 2015-05-11 2018-03-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging device and electronic device
CN205193998U (zh) * 2015-10-30 2016-04-27 重庆金鑫智慧科技有限公司 一种物联网的家居警报装置
US20170365209A1 (en) 2016-06-17 2017-12-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, display device, and electronic device

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