JP2017157939A - スイッチドキャパシタ入力回路及びスイッチドキャパシタアンプ及びスイッチドキャパシタ電圧比較器 - Google Patents

スイッチドキャパシタ入力回路及びスイッチドキャパシタアンプ及びスイッチドキャパシタ電圧比較器 Download PDF

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Abstract

【課題】大信号シングルエンド入力においても低電源電圧動作可能なスイッチドキャパシタ入力回路と、この入力回路を用いたスイッチドキャパシタアンプを提供する。
【解決手段】ダブルサンプル用の第一のコンデンサCsaを有した第一のスイッチドキャパシタ入力回路40と、ダブルサンプル用の第二のコンデンサCsbを有し、第一のスイッチドキャパシタ入力回路と逆相で動作する第二のスイッチドキャパシタ入力回路90を備え、第一のコンデンサと第二のコンデンサは異なる値として、信号が減衰されるように第二のコンデンサの値を調整する構成とした。
【選択図】図1

Description

本発明は、スイッチドキャパシタ入力回路に関し、特に大信号シングルエンド入力に対して、低電源電圧動作に好適なスイッチドキャパシタ入力回路および該入力回路を用いたスイッチドキャパシタアンプに関する。
大信号のシングルエンド入力を受けて動作するスイッチドキャパシタアンプの入力回路としては、図6に示すダブルサンプル型のスイッチドキャパシタ入力回路が知られている。スイッチドキャパシタ入力回路の一つの目的は、シングルエンド入力信号を同相電圧が一定となる差動入力信号に変換することで、完全差動アンプへの入力を容易にすることにある。
図6のスイッチドキャパシタ入力回路40は、入力信号Vin、Vrを交互に入力する為のスイッチと、信号をサンプルする一組のコンデンサCsaで構成され、基準電圧Vrを基準として入力信号Vinが所期の基準電圧Vcm に対してサンプルされる。スイッチドキャパシタ入力回路40は、大信号のシングルエンド入力の同相電圧は入力信号に依存して大きく変動するが、サンプル後出力される差動の信号Vop、Vonの同相電圧を一定に保つダブルサンプルを行う。
先ず、上側のコンデンサCsaには入力Vinが、下側のコンデンサCsaにはVrが入力され、出力Vop、Vonは基準電圧Vcmにバイアスされる。次いで、出力Vop、Vonは基準電圧Vcmから切り離されて、上側のコンデンサCsaにはVrが、下側のコンデンサCsaにはVinが入力される。これにより出力には、VinとVrの差電圧の2倍が出力され、出力同相電圧は基準電圧Vcmとなり、一定に保たれる。
図7は、従来のスイッチドキャパシタアンプを示す回路図である。従来のスイッチドキャパシタアンプは、スイッチドキャパシタ入力回路40に入出力間に帰還コンデンサを持つ完全差動アンプ20が接続された構成である。スイッチドキャパシタアンプの利得は2×Csa/Cfbとなり、ダブルサンプル方式を用いない通常のスイッチドキャパシタアンプ利得の2倍となり、微小信号を増幅することを目的とする場合には好適な手法である。
米国特許第6909388号明細書
しかしながら、大信号入力でアンプの動作電源電圧が小さい場合には、寧ろ信号を減衰させる必要がある。減衰させる為には、アンプの帰還コンデンサを入力コンデンサCsaより大きくすることで可能であるが、ダブルサンプル手法を採る場合には、2倍に増幅されることから、帰還コンデンサは更に大きくする必要がある。従って、回路規模が大きくなる、と言う課題がある。また、帰還コンデンサCfbを大きくすることは、アンプの負荷を大きくすることになり、結果として動作電流が大きくなるという問題も生じる。
本発明のダブルサンプル型のスイッチドキャパシタ入力回路は、大信号のシングルエンド入力に対して、後段の回路をより小さい回路規模で実現することを目的としている。
これらの課題を解決するため、本発明のスイッチドキャパシタ入力回路は、ダブルサンプル方式のスイッチドキャパシタ入力回路40と、スイッチドキャパシタ入力回路40と逆相で動作するダブルサンプル方式のスイッチドキャパシタ入力回路90を備えた。スイッチドキャパシタ入力回路40のダブルサンプル用のコンデンサCsaと、スイッチドキャパシタ入力回路90のダブルサンプル用のコンデンサCsbは異なる値とする。そして、信号減衰となるよう、即ち利得を1以下となる様にコンデンサCsbの値を調整する。
本発明のスイッチドキャパシタ入力回路に寄れば、スイッチドキャパシタアンプを構成した場合に、帰還コンデンサを大きくすること無く信号減衰を図ることができるので、アンプの帰還コンデンサを従来のスイッチドキャパシタアンプの場合と比べ、小さくすることが出来る。従って、スイッチドキャパシタアンプは、回路規模が小さくなり、且つアンプの負荷が抑えられ、消費電力が小さくなると言う効果がある。
本発明のスイッチドキャパシタ入力回路を示す回路図である。 本発明のスイッチドキャパシタ入力回路を用いたスイッチドキャパシタアンプを示す回路図である。 本発明のスイッチドキャパシタ入力回路を用いたスイッチドキャパシタアンプの他の例を示す回路図である。 本発明のスイッチドキャパシタ入力回路を用いたスイッチドキャパシタアンプの他の例を示す回路図である。 本発明のスイッチドキャパシタ入力回路を用いた電圧比較器を示す回路図である。 従来のスイッチドキャパシタ入力回路を示す回路図である。 従来のスイッチドキャパシタ入力回路を用いたスイッチドキャパシタアンプを示す回路図である。
図1は、実施形態のスイッチドキャパシタ入力回路である。
スイッチドキャパシタ入力回路10は、入力信号Vinと基準電圧Vrが入力される一対の入力端子と、出力電圧Vop及びVonが出力される一対の出力端子と、各出力端子に基準電圧Vcmを印加する基準電圧端子と、各基準電圧端子と各出力端子の間に接続されたスイッチと、一対の入力端子と一対の出力端子の間に接続されたダブルサンプル方式のスイッチドキャパシタ入力回路40と、一対の入力端子と一対の出力端子の間に接続されたダブルサンプル方式のスイッチドキャパシタ入力回路90と、を備える。
スイッチドキャパシタ入力回路40のサンプル用のコンデンサCsaと、スイッチドキャパシタ入力回路90のサンプル用のコンデンサCsbは異なる値とする。また、同一記号のスイッチは同時にオン・オフ動作し、異なる記号のスイッチのオン・オフは逆動作となる。尚、逆動作する一対のスイッチは、同時にオンすることが無いようにする。
基準電圧Vrを基準とする入力信号Vinのサンプル時、上側のサンプルコンデンサCsa、Csbには、それぞれVin、Vrが基準電圧Vcmに対してサンプルされ、他方、下側のサンプルコンデンサCsa、Csbには、それぞれVr、Vinがサンプルされる。ホールド時、出力端を基準電圧Vcmに接続するスイッチはオフとなり、上側のサンプルコンデンサCsa、Csbには、それぞれVr、Vinが入力され、下側のサンプルコンデンサCsa、Csbには、それぞれVin、Vrが入力される。
出力端の差電圧は、
Vop−Von=−2{(1−α)/(1+α)}(Vin−Vr)・・・(1)
α≡Csb/Csa≧0
となる。Csb=0とした場合が、従来のスイッチドキャパシタ入力回路特性で利得が−2倍となるが、0<α<1となるようCsbを調整することで、即ち、0<Csb<Csaとすることで、利得を−2<利得<0とすることができ、従来回路より信号を減衰させることができる。
図2は、スイッチドキャパシタ入力回路10を用いたスイッチドキャパシタアンプの一例である。
スイッチドキャパシタアンプ50は、スイッチドキャパシタ入力回路10と、完全差動アンプ20と、完全差動アンプ20の各入出力間に接続された帰還コンデンサCfbと、を備えている。
スイッチドキャパシタアンプ50の出力差電圧Vop及びVonは、
Vop−Von=2(1−α)(Csa/Cfb)(Vin−Vr)・・・(2)
α≡Csb/Csa≧0
となる。α=0とした場合が、サンプルコンデンサCsbの無い従来のスイッチドキャパシタアンプとなり、利得Gainは、
Gain=2(Csa/Cfb)
となり、ダブルサンプルにより入力コンデンサと帰還コンデンサの比の2倍となる。
式2に於いて、0<α<1とした場合、0<1−α<1となり利得を小さくでき、信号減衰させることができる。例えば、α=1/2とした場合には、利得Gain=Csa/Cfbとすることができ、従来のスイッチドキャパシタアンプの利得の半分とすることが出来る。従って、利得1倍とした場合、α=1/2、即ち、Csb=Csa/2とするとCfb=Csaとすることが出来る。従い、従来のアンプでは、全体のコンデンサは、6・Csa相当で、本実施形態の場合に於いては、5・Csa相当となり小さくなる。より大きな減衰を得ようとした場合には、さらに小さくすることが可能である。本実施形態によれば、スイッチドキャパシタアンプの帰還コンデンサを小さくすることができるため、アンプの負荷も軽減され、消費電力を低減することが出来る。また、必要なコンデンサも小さくすることができ、回路規模低減に効果がある。
図3は、スイッチドキャパシタアンプの他の例を示す回路図である。本実施形態のスイッチドキャパシタアンプは、グランド基準の入力信号Vinに対して、所期のオフセット分をレベルシフトすることも目的とした。本実施形態のスイッチドキャパシタアンプは、スイッチドキャパシタアンプ50と、スイッチドキャパシタアンプ50にオフセット加算する為に所期電圧Vosのスイッチドキャパシタ回路60と、を備える。スイッチドキャパシタ回路60は、一対のサンプル用のコンデンサCosを備える。
本実施形態のスイッチドキャパシタアンプの出力差電圧Vop及びVonは、
Vop−Von=2(Csa/Cfb){(1−α)Vin−βVos}・・・(3)
α≡Csb/Csa>0、β≡Cos/Csa
となる。
例えば、利得を1倍とし、オフセット加算を同じとした場合で比較する。α=1/2の場合と、α=0、即ち、従来の場合とを比較すると、オフセット電圧サンプル用コンデンサCosが、α=1/2とした場合、Cosは従来の場合の1/2となり、オフセットサンプル用コンデンサCosも従来の場合より小さく出来ることになる。
図4は、スイッチドキャパシタアンプの他の例を示す回路図である。本実施形態のスイッチドキャパシタアンプは、スイッチドキャパシタアンプ50と、1bitのコンデンサ型のデジタル/アナログ変換機能を実現したスイッチとコンデンサよりなるスイッチドキャパシタ回路70と、を備えている。スイッチドキャパシタ回路70は、一対のサンプル用のコンデンサCdaを備えている。
本実施形態のスイッチドキャパシタアンプの出力差電圧Vop及びVonは、
Vop−Von=2(Csa/Cfb){(1−α)Vin−βDdaVrf}・・・(4)
α≡Csb/Csa>0、β≡Cda/Csa
φda:Highの場合 Dda=1
φda:Lowの場合Dda=−1
となる。0<α<1とすることで、信号減衰が実現され、Cdaを従来に比べ小さいコンデンサとすることができる。
尚、オフセット加算とデジタル/アナログ変換機能の両方を合わせたスイッチドキャパシタアンプも図3及び図4に示したオフセット加算用のスイッチドキャパシタ回路60、デジタルアナログ変換機能用のスイッチドキャパシタ回路70の両方を合わせることで容易に実現できることは明らかである。
図5は、本実施形態の電圧比較器を示す回路図である。本実施形態の電圧比較器は、入力電圧Vinと基準差基準電圧Vrfとの大小を判定するスイッチドキャパシタ型電圧比較器である。
本実施形態の電圧比較器は、スイッチドキャパシタ入力回路10と、基準電圧Vrf/2が入力される入力端子と、基準電圧−Vrf/2が入力される入力端子と、基準電圧Vrf/2及び−Vrf/2が入力されるスイッチドキャパシタ回路80と、入力電圧Vinと差基準電圧Vrfとの合成電圧を入力として、その電圧の政府に応じて“0”、“1”判定を行う電圧比較アンプ30と、を備えている。
電圧比較アンプ30の入力差電圧ΔVinは、
ΔVin= {2(1−α)Vin+βVrf}/(1+α+β)・・・(5)
α≡Csb/Csa、β≡Crf/Csa
となる。
式5は、分子の正負により電圧の大小が判定される。
従来のスイッチドキャパシタ入力回路40は、入力信号Vinと基準電圧Vrfの大小を比較することとすると、Crf=2*Csaとなる。他方、スイッチドキャパシタ入力回路10によれば、例えば、Csb=Csa/2とするとα=1/2となり、Crf=Csaとすることができる。
よって0<α<1とすることで、信号減衰を行うことができ、コンデンサCrfを小さくすることが可能となる。
以上の述べてきた実施形態のスイッチドキャパシタ入力回路によれば、スイッチドキャパシタ入力回路の後段の回路や付属の回路において、大信号の入力信号を減衰させるのに必要となるコンデンサを小さくすることができる。従って、スイッチドキャパシタ入力回路の後段の回路や付属の回路の回路規模の低減を図ることができる。また、スイッチドキャパシタ入力回路の後段のアンプの負荷低減も図ることが可能となり、消費電力の低減に効果がある。
なお、スイッチドキャパシタ入力回路10の一対の入力端子は、入力信号Vinと基準電圧Vrが入力される、として説明したが、基準電圧Vrは入力信号であっても良い。即ち、スイッチドキャパシタ入力回路10の一対の入力端子は、第一の入力信号Vin1と第二の入力信号Vin2が入力されていも良い。
また、スイッチドキャパシタ入力回路10の一対の出力端子は、基準電圧Vcmが入力される、として説明したが、完全差動アンプの出力端子の信号が夫々に入力されても良い。
10、40、90 スイッチドキャパシタ入力回路
20 完全差動アンプ
30 電圧比較アンプ
50 スイッチドキャパシタアンプ
60、70、80 スイッチドキャパシタ回路

Claims (4)

  1. 第一の入力信号が入力される第一の入力端子と、
    第二の入力信号が入力される第二の入力端子と、
    第一の出力信号が出力される第一の出力端子と、
    第二の出力信号が出力される第二の出力端子と、
    前記第一の入力端子及び前記第二の入力端子と前記第一の出力端子及び前記第二の出力端子との間に接続されたダブルサンプル方式の第一のスイッチドキャパシタ入力回路と、
    前記第一の入力端子及び前記第二の入力端子と前記第一の出力端子及び前記第二の出力端子との間に接続されたダブルサンプル方式の第二のスイッチドキャパシタ入力回路と、
    前記第一の出力端子に第一の基準電圧を印加する第一の基準電圧端子と、
    前記第一の基準電圧端子と前記第一の出力端子の間に接続された第一のスイッチと、
    前記第二の出力端子に第二の基準電圧を印加する第二の基準電圧端子と、
    前記第二の基準電圧端子と前記第二の出力端子の間に接続された第二のスイッチと、を備え、
    前記第二のスイッチドキャパシタ入力回路のサンプル用のコンデンサの容量は、前記第一のスイッチドキャパシタ入力回路のサンプル用のコンデンサより小さい
    ことを特徴とするスイッチドキャパシタ入力回路。
  2. 請求項1記載のスイッチドキャパシタ入力回路と、
    前記スイッチドキャパシタ入力回路の前記第一の出力端子及び前記第二の出力端子が一対の入力端子に接続された完全差動アンプと、
    前記完全差動アンプの一対の出力端子と前記一対の入力端子の夫々の間に接続された第一及び第2の帰還コンデンサと、を備えた
    ことを特徴とするスイッチドキャパシタアンプ。
  3. 前記完全差動アンプの前記一対の入力端子の夫々に接続され、オフセット信号を加算及び減算するスイッチドキャパシタ回路を備えた
    ことを特徴とする請求項2記載のスイッチドキャパシタアンプ。
  4. 請求項1記載のスイッチドキャパシタ入力回路と、
    前記スイッチドキャパシタ入力回路の前記第一の出力端子及び前記第二の出力端子が一対の入力端子に接続された電圧比較アンプと、
    前記電圧比較アンプの一対の入力端子に接続され、第三の基準電圧を印加するスイッチドキャパシタ回路を備えた
    ことを特徴とするスイッチドキャパシタ電圧比較器。
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US15/442,008 US10277175B2 (en) 2016-02-29 2017-02-24 Switched-capacitor input circuit, switched-capacitor amplifier, and switched-capacitor voltage comparator
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10333529B1 (en) 2018-08-24 2019-06-25 Semiconductor Components Industries, Llc Method of forming a conversion circuit and structure therefor

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107968653A (zh) * 2017-12-18 2018-04-27 深圳大学 一种降低开关电容电路非线性误差的时钟优化电路
US10291252B1 (en) 2018-05-31 2019-05-14 Shenzhen GOODIX Technology Co., Ltd. Successive approximation register (SAR) analog to digital converter (ADC) dynamic range extension
CN109639261B (zh) * 2018-11-16 2022-12-30 无锡芯朋微电子股份有限公司 比较电路、延时消除方法
US10897592B1 (en) * 2019-09-16 2021-01-19 Foveon, Inc. Combined programmable gain amplifier and comparator for low power and low area readout in image sensor
JP2022148473A (ja) * 2021-03-24 2022-10-06 株式会社ミツトヨ フロントエンド回路及びエンコーダ
TWI768965B (zh) * 2021-06-11 2022-06-21 瑞昱半導體股份有限公司 用以改進準位提升的切換電容放大裝置及方法
US20240048870A1 (en) * 2022-08-05 2024-02-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Analog-digital converting circuit including comparator, and image sensor including the analog-digital converting circuit

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1155121A (ja) * 1997-07-31 1999-02-26 Asahi Kasei Micro Syst Kk D/a変換器およびデルタシグマ型d/a変換器
US7102558B2 (en) * 2004-08-20 2006-09-05 Microchip Technology Incorporated Five-level feed-back digital-to-analog converter for a switched capacitor sigma-delta analog-to-digital converter
US20060279449A1 (en) * 2005-06-09 2006-12-14 Stmicroelectronics S.R.L. Single-loop switched-capacitor analog-to-digital sigma-delta converter
JP2007208924A (ja) * 2006-02-06 2007-08-16 Seiko Instruments Inc スイッチドキャパシタアンプ及びスイッチドキャパシタアンプの動作方法
US20110012765A1 (en) * 2009-07-16 2011-01-20 Yi-Bin Hsieh Comparator for a pipelined analog-to-digital converter and related signal sampling method
US8810283B2 (en) * 2012-05-22 2014-08-19 Analog Devices, Inc. CMOS transistor linearization method
US8907829B1 (en) * 2013-05-17 2014-12-09 Cirrus Logic, Inc. Systems and methods for sampling in an input network of a delta-sigma modulator

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9224238D0 (en) * 1992-11-19 1993-01-06 Vlsi Technology Inc Pipelined analog to digital converters and interstage amplifiers for such converters
US5392043A (en) * 1993-10-04 1995-02-21 General Electric Company Double-rate sampled signal integrator
GB2299472B (en) * 1995-03-25 1999-10-27 Motorola Inc Switched capacitor differential circuits
US6169427B1 (en) * 1998-12-10 2001-01-02 National Semiconductor Corporation Sample and hold circuit having single-ended input and differential output and method
JP4694687B2 (ja) * 2000-11-24 2011-06-08 セイコーNpc株式会社 サンプル・ホールド回路およびa/d変換器
JP3497495B2 (ja) * 2001-11-21 2004-02-16 株式会社半導体理工学研究センター サンプルホールド回路
US6744394B2 (en) * 2002-05-10 2004-06-01 02Micro International Limited High precision analog to digital converter
US7046046B2 (en) * 2004-03-23 2006-05-16 Microchip Technology Incorporated Switched capacitor signal scaling circuit
US6909388B1 (en) 2004-06-23 2005-06-21 Microchip Technology Incorporated Fractal sequencing schemes for offset cancellation in sampled data acquisition systems
US6972705B1 (en) * 2004-12-14 2005-12-06 Cirrus Logic, Inc. Signal processing system having an ADC delta-sigma modulator with single-ended input and feedback signal inputs
US7002506B1 (en) * 2004-12-23 2006-02-21 Texas Instruments Incorporated Providing pipe line ADC with acceptable bit error and power efficiency combination
CN100386964C (zh) * 2005-03-04 2008-05-07 清华大学 开关电容电路中用交流电源供电的放大器
CN1928766A (zh) * 2005-09-07 2007-03-14 株式会社瑞萨科技 参考电压产生电路、半导体集成电路及其装置
JP4654998B2 (ja) * 2005-11-08 2011-03-23 株式会社デンソー サンプルホールド回路およびマルチプライングd/aコンバータ
US7446602B2 (en) * 2006-02-06 2008-11-04 Seiko Instruments Inc. Switched capacitor amplifier circuit and method for operating a switched capacitor amplifier circuit
DE102006014925B3 (de) * 2006-03-30 2007-09-27 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung mit einer Abtast-Halte-Einrichtung und Verfahren zur Signalverarbeitung in einer Abtast-Halte-Einrichtung
CN101295983B (zh) * 2007-04-25 2010-06-09 中国科学院微电子研究所 一种双采样全差分采样保持电路
JP2009284338A (ja) * 2008-05-23 2009-12-03 Toshiba Corp サンプルホールド回路及びアナログ−デジタル変換器
JP5503271B2 (ja) * 2009-12-09 2014-05-28 キヤノン株式会社 入力回路及びそれを備えたアナログ/デジタルコンバータ
US8599053B2 (en) * 2010-12-22 2013-12-03 Microchip Technology Incorporated Switched-capacitance gain amplifier with improved input impedance
US8680915B1 (en) * 2011-11-29 2014-03-25 Agilent Technologies, Inc. Techniques to reduce memory effect or inter-symbol interference (ISI) in circuits using op-amp sharing

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1155121A (ja) * 1997-07-31 1999-02-26 Asahi Kasei Micro Syst Kk D/a変換器およびデルタシグマ型d/a変換器
US7102558B2 (en) * 2004-08-20 2006-09-05 Microchip Technology Incorporated Five-level feed-back digital-to-analog converter for a switched capacitor sigma-delta analog-to-digital converter
US20060279449A1 (en) * 2005-06-09 2006-12-14 Stmicroelectronics S.R.L. Single-loop switched-capacitor analog-to-digital sigma-delta converter
JP2007208924A (ja) * 2006-02-06 2007-08-16 Seiko Instruments Inc スイッチドキャパシタアンプ及びスイッチドキャパシタアンプの動作方法
US20110012765A1 (en) * 2009-07-16 2011-01-20 Yi-Bin Hsieh Comparator for a pipelined analog-to-digital converter and related signal sampling method
US8810283B2 (en) * 2012-05-22 2014-08-19 Analog Devices, Inc. CMOS transistor linearization method
US8907829B1 (en) * 2013-05-17 2014-12-09 Cirrus Logic, Inc. Systems and methods for sampling in an input network of a delta-sigma modulator

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10333529B1 (en) 2018-08-24 2019-06-25 Semiconductor Components Industries, Llc Method of forming a conversion circuit and structure therefor

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