JP4694687B2 - サンプル・ホールド回路およびa/d変換器 - Google Patents

サンプル・ホールド回路およびa/d変換器 Download PDF

Info

Publication number
JP4694687B2
JP4694687B2 JP2000357698A JP2000357698A JP4694687B2 JP 4694687 B2 JP4694687 B2 JP 4694687B2 JP 2000357698 A JP2000357698 A JP 2000357698A JP 2000357698 A JP2000357698 A JP 2000357698A JP 4694687 B2 JP4694687 B2 JP 4694687B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
output
circuit
input terminal
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2000357698A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002163894A (ja
Inventor
悟 宮部
泰博 杉本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko NPC Corp
Original Assignee
Seiko NPC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko NPC Corp filed Critical Seiko NPC Corp
Priority to JP2000357698A priority Critical patent/JP4694687B2/ja
Priority to US09/992,334 priority patent/US6437608B1/en
Publication of JP2002163894A publication Critical patent/JP2002163894A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4694687B2 publication Critical patent/JP4694687B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C27/00Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
    • G11C27/02Sample-and-hold arrangements
    • G11C27/024Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element
    • G11C27/026Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element associated with an amplifier

Landscapes

  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、サンプル・ホールド回路及びこれを用いたA/D(Analog to Digital)変換器に関し、特に完全差動型演算増幅回路を用いたサンプル・ホールド回路及びこれを用いたA/D変換器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
現在、A/D(Analog to Digital)変換器にあっては、完全差動型演算増幅回路を含むサンプル・ホールド回路が用いたものがある。例えば、パイプライン方式のA/D変換器において用いられている。パイプライン方式のA/D変換器は、図4に示すように、nビットのPCM(Pulse Code Modulation)データのMSB(Most Significant Bit)からLSB(Least Significant Bit)までのビット毎にA/D変換セルSn〜S1で順次値を特定するものである。各ビット毎のA/D変換セルSk(k=n,n−1,n−2・・・1)はそれぞれ特定したビットの値を順次シフトさせるラッチlk1、・・lkk-1、lkkを備え、各ビット毎のA/D変換セルの最終段のラッチlnn、ln-1n-1、・・・、l11からMSB〜LSBの各ビットの値を出力する。
【0003】
各A/D変換セルSkの構成を機能ブロックで示すと、1ビットADC(Analog to Digital Converter)をなすコンパレータCOと、コンパレータCOの判定結果“1”、“0”に対応した電圧分を入力から減算する減算器d0と、減算器d0の出力電圧をサンプルしてその2倍値を出力するサンプル・ホールド回路sh0とからなっている。1段目のA/D変換セルSnのコンパレータCOで所定の基準電圧と入力電圧とを比較し、入力電圧が大のときはMSBを“1”としてラッチln1に与え、減算器d1にてMSB“1”に対応する電圧分を入力電圧から減算し、減算器d0の出力をサンプル・ホールド回路sh0で2倍して減算器d0の出力を1ビット桁上げしたことに相当する出力電圧を次段のA/D変換セルSn-1に与える。同様に次段以降のA/D変換セルSn-1、Sn-2、・・・S1でMSBより下位のビットが定められる。所定のサンプリングクロックに従ってA/D変換セルSn、Sn-1、・・・S1で定まる値は、図示しないサンプリングクロックに従ってそれぞれのラッチ段でシフトされ、最終段からMSB〜LSBの各ビットの値が出力されるのである。
【0004】
実際のA/D変換セルでは、完全差動型演算増幅回路を備えたサンプル・ホールド回路を用い、減算器d0とサンプル・ホールド回路sh0との機能を兼ねた構成をとっている。これは、図5に示すように完全差動型演算増幅回路51の負入力端子である第1の入力端子IN1と正出力端子である第1の出力端子OUT1との間に第1のスイッチ容量網CS1を設け、第1の入力端子IN1と第1の出力端子OUT1との間に第1のリセットスイッチRS1を設けてある。第1のスイッチ容量網CS1は一方の端子を第1の入力端子IN1に接続した容量C1、C2と、容量C1の他方の端子をサンプル・ホールド回路の入力端子IN0と基準電圧端子Refと第1の出力端子OUT1とに選択的に接続するスイッチSW1と、容量C2の他方の端子をサンプル・ホールド回路sh1の入力端子IN0と基準電圧端子Ref’と完全差動型演算増幅回路51の正出力端子である第1の出力端子OUT1とに選択的に接続するスイッチSW2とよりなる。完全差動型演算増幅回路51の正入力端子としての第2の入力端子IN2と負出力端子としての第2の出力端子OUT2との間には、第1のスイッチ容量網CS1と同様の第2のスイッチ容量網CS2を設け、第2の入力端子と第2の出力端子との間に第2のリセットスイッチRS2が設けられる。第2のスイッチ容量網CS2は、一方の端子を第2の入力端子IN2に接続した等しい容量値の容量C1’、C2’と、容量C1’の他方の端子をサンプル・ホールド回路の差動入力端子の他方である入力端子IN0’と基準電圧端子Ref’と第2の出力端子OUT2とに選択的に接続するスイッチSW3と、容量C2’の他方の端子をサンプル・ホールド回路sh1の差動入力端子の他方のである入力端子IN0’と基準電圧端子Refと完全差動型演算増幅回路1の負出力端子である第2の出力端子OUT2とに選択的に接続するスイッチSW4とからなる。
【0005】
図6に示すように、サンプル・ホールド回路sh1は、その入力端子IN0、IN0’にコンパレータCOの入力端子を接続してA/D変換セルSkを構成してある。後述するホールド期間において、コンパレータCOの出力により第1のスイッチ容量網CS1のスイッチSW1、SW2、第2のスイッチ容量網CS2のスイッチSW3、SW4を制御することにより、上述の減算動作を可能としてある。サンプル・ホールド回路sh1の出力端子OUT1、OUT2に、同様のA/D変換セルSk-1のサンプル・ホールド回路sh1の入力端子IN0、IN0’および、コンパレータCOを接続して、A/D変換セルSkは後段のA/D変換セルSk-1に接続され、図4に示したパイプライン方式のA/D変換器が構成される。
【0006】
サンプル・ホールド回路sh1の動作の詳細は次の通りである。
サンプル期間では、図7(a)に示すように第1、第2のリセットスイッチRS1、RS2をオンとし、第1のスイッチ容量網CS1において、入力端子IN0と入力端子INとの間に容量C1、C2を並列に導通させる。第2のスイッチ容量網CS2においても同様に接続する。入力端子IN1の電圧をVtとし、入力端子IN0に入力される入力電圧をVinとし、容量C1、C2の容量値を等しくCとすると、容量C1、C2に蓄積される電荷の総和Qは、
【式1】
Figure 0004694687
と表せる。
【0007】
ホールド期間では、図7(b)に示すように第1、第2のリセットスイッチRS1、RS2をオフとし、第1のスイッチ容量網CS1において、コンパレータCOの出力に応じて、容量C1の他方の端子を入力端子IN0から遮断して基準電圧端子Refに導通させ、容量C2の他方の端子を入力端子IN0から遮断して第1の出力端子OUT1に導通させるか、あるいは容量C2の他方の端子を入力端子IN0から遮断して基準電圧端子Ref’に導通させ、容量C1の他方の端子を入力端子IN0から遮断して第1の出力端子OUT1に導通させる。第2のスイッチ容量網CS2も同様に接続する。基準電圧端子Refの電圧をVref、第1の出力端子OUT1の電圧をVoutとすると、容量C1、C2に蓄積される電荷の総和Qは、
【式2】
Figure 0004694687
と表せる。サンプル期間、ホールド期間での電荷の総和は保存されており、
【式3】
Figure 0004694687
であり、Vref=0とすれば、2Vin=Voutとし、サンプルした値の2倍値を出力する。これは、コンパレータCOの出力が“0”であって減算器d0による減算を要しない場合に相当する。コンパレータCOの出力が“1”であって減算器d0による減算を必要とする場合は、Vrefを適当な値のVref’にすることによって減算動作が実現される。すなわち、基準電圧端子Refに代わって、その電圧をVref’とした基準電圧端子Ref’の側にスイッチSW2をオンとする。第2の入力端子IN2、第2の出力端子OUT2の間における第2のスイッチ容量網CS2、第2のリセットスイッチRS2についても、これと同様の動作であるが、極性の違いから、ホールド期間において、コンパレータCOの出力が“0”の場合に容量C1’の他方の端子はRef’に接続されてVref’が印加され、コンパレータCOの出力が“1”の場合には、容量C2’の他方の端子はRefに接続されてVrefが印加される。なお、実際には完全差動型演算増幅回路は出力はオフセットを有してあり、Vref、Vref’はオフセットを相殺する値(例えば、Vref=0.5V、Vref’=1.5V)とされる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
さて、完全差動型演算増幅回路51は、1組の差動入力端子である第1、第2の入力端子IN1、IN2に入力された入力信号の差を増幅して出力する第1の出力端子OUT1と、上記入力信号の差を反転増幅して出力する第2の出力端子OUT2とからなる、1組の差動出力端子を持っている。上記差動入力端子は、1組の入力信号の相対的な差のみを信号成分として取り出す。他方、上記差動出力端子は、上記1組の入力信号の相対的な差を増幅した結果を、1組の出力信号の相対的な差において出力する。しかし、このままでは上記1組の差動出力信号の中心値(絶対値)は、一意には決まらない。そこで、図5に示されるように第1の出力端子OUT1と第2の出力端子との間は、同相帰還回路52が設けられ、制御端子clに発生する出力バイアス制御信号によって完全差動型演算増幅回路51の内部の出力バイアス回路を制御し、上記1組の差動出力信号の中心値が一意に保つ。
【0009】
図8は完全差動型演算増幅回路51内の出力部を例示したものである。出力部はカスコード増幅回路81からなり、その出力バイアス回路82に与えられる出力バイアス制御信号によって上記1組の差動出力信号の中心値が制御される。同相帰還回路52は、完全差動型演算増幅回路51の1組の差動出力信号である出力端子OUT1、OUT2からの出力を受けて、上記1組の差動出力信号の中心値の変動を抑制し一定の値に保つように作用する出力バイアス制御信号を、完全差動型演算増幅回路51の出力バイアス回路82に対して帰還している。
【0010】
図9、図10及び図11は同相帰還回路の例を示している。これらは共通して、完全差動型演算増幅回路の1組の差動出力電圧(便宜上、Vx、Vyとする。)を、同相帰還回路の入力としている。図9の回路が同相帰還回路52として用いられている場合の、回路動作を考える。この帰還系における完全差動型演算増幅回路の差動出力信号の中心値の平衡点を、(Vx+Vy)/2≡V0とし、このときMOSトランジスタM1、M2を流れる電流の和をI0とする。いま、上記差動出力信号の中心値がV0からΔVだけ上昇したとすると、M1、M2を流れる電流の和はI0に対しΔI増加する。この電流増加は、トランジスタM3と出力バイアス回路とで構成されるカレントミラーを介して、完全差動型演算増幅回路の出力引き込み電流値の増加となり、上記差動出力信号の中心値を引き下げようとする。同様に、V0からΔVだけ下降した場合には、上記帰還系は差動出力信号の中心値を引き上げようとする。
【0011】
このように、図9の回路を同相帰還回路52として用いることによって、完全差動型演算増幅回路の差動出力信号の中心値の変動を抑制し一定の値に保つ効果が得られる。
【0012】
しかしながら、図9の同相帰還回路の構成は次のような問題点を有している。すなわち差動出力信号Vx=(V0+v)、Vy=(V0−v)において、差動出力振幅vが大きくなると(Vx+Vy)/2=V0であるにもかかわらず、M1、M2を流れる電流の和は、vに依存してI0からずれていく。この問題点は次のように説明される。トランジスタM1、M2のドレイン電圧はM1、M2のゲート電圧Vx、Vyよりも高いので、M1、M2は飽和領域にある。このとき、M1、M2のゲート・ソース間電圧をそれぞれVgs1、 Vgs2、ドレイン電流をそれぞれIds1、Ids2とすると、
【式4】
Figure 0004694687
(βは定数、Vthはトランジスタのしきい値電圧)
である。出力中心値がV0で、かつ、Vgs1=Vgs2≡Vgsの時の、電流の総和をI0とすると、
【式5】
Figure 0004694687
となる。いま、Vgs1=Vgs+ΔV、Vgs1=Vgs−ΔVとすると、中心値はΔVによっては変化せず、したがってV0であるが、このときの電流は、
【式6】
Figure 0004694687
となる。これは、完全差動型演算増幅回路の差動出力信号の振幅が大きいとき、上記差動出力信号の中心値がV0であっても、M1、M2を流れる電流の和がI0からずれてしまうことを示している。この電流変化は完全差動型演算増幅回路の出力バイアス回路に帰還されて、中心電圧値V0の変化を引き起こす。このように、図2において図3の同相帰還回路を用いた場合、出力振幅によって平衡点が変動するという問題点を有していることが分かる。
【0013】
図10の構成では、上記差動出力信号の中心値V0を外部印加電圧VCMによって制御するために、図9に示した同相帰還回路にトランジスタM4、M5、M6および2つの電流源を追加して、差動構成にしたものである。ただし、差動構成にするために、M1、M2、M4、M5はM3、M6に対して逆極性のMOSトランジスタとなっている。この極性の反転に対応して、M3ではなくM6が出力バイアス回路への帰還路を与えている。この回路構成においても、M1、M2のゲート電圧変化とM1、M2を流れる電流の和との関係は、図3の回路における議論と本質的に同じであり、図10の構成においても出力振幅によって平衡点が変動するという問題点を有している。
【0014】
図11の構成では、同相帰還回路のさらに他の構成を示している。この構成では、完全差動型演算増幅回路の差動出力信号Vx、Vyに対して、MOSトランジスタM1、M2のドレイン電圧は十分に低く、したがってM1、M2は線形領域で動作している。線形領域におけるMOSトランジスタの出力抵抗Rは、
【式7】
Figure 0004694687
と表されるから、ゲート・ソース間電圧がそれぞれVx、VyであるMOSトランジスタM1,M2の共通のドレインから見た出力抵抗値R0は、M1、M2それぞれの出力抵抗の並列接続によって得られ、
【式8】
Figure 0004694687
と表される。いま、上記差動出力信号をVx=(V0+v)、Vy=(V0−v)とおくと、振幅vの大きさによらず、
【式9】
Figure 0004694687
となる。この出力抵抗値を、上記完全差動型演算増幅回路の出力バイアス回路のソース抵抗値として帰還させることにより、上記完全差動型演算増幅回路の差動出力信号の中心値を平衡点に保つことができる。すなわち、たとえば上記差動出力信号の中心値が上昇するとR0が減少し、出力バイアス回路のソース抵抗値R0が下がることによって、引き込み電流が増加して上記差動出力信号の中心値の上昇を抑制する。図11の同相帰還回路は、図9、図10の同相帰還回路と比較して、上記差動出力信号の振幅vに対する依存性がきわめて小さく、R0の近似式においては振幅vに対する依存性は無視できる。
【0015】
しかしながら、低電源電圧において図11の回路を用いる場合、(Vx+Vy―2Vth)はVdsに対して十分大きいとはいえない。M1、M2のドレイン電圧Vdsは出力バイアス回路のソース電圧でもあり、このソース電圧は上記差動出力信号の振幅の影響を受ける。上記ドレイン電圧Vdsが変化すると、R0が変化して差動出力信号の中心値を変化させるが、この変化は(Vx+Vy)の値の変化としてR0に帰還され、R0をさらに変動させることになる。このように、図11の同相帰還回路においても、完全差動型演算増幅回路の差動出力信号の振幅によって上記差動出力信号の中心値の平衡点が変動するという問題点を有していることが分かる。
【0016】
以上のことから、サンプル・ホールドsh1においては次のような問題が生じる。まず、完全差動型演算増幅回路51の差動出力信号の振幅によって上記差動出力信号の中心値の平衡点が変動しない場合を考える。サンプル期間中の容量C1、C2は、互いに並列接続されてなる2つの端子の両方に直流電流路を与えられている。このため、容量C1、C2は、上記2つの端子の電位差に応じた電荷を蓄積する。ホールド期間になると容量C1、C2は、それぞれの一方の端子を、直流電流路のない完全差動型演算増幅回路の第1の入力端子に接続される。このため、ホールド期間においては、容量C1、C2に蓄積された電荷の総和が保存される。上述したように容量C1、C2に蓄積された電荷の総和Qは、
【式10】
Figure 0004694687
と表せる。
【0017】
次に、完全差動型演算増幅回路の差動出力信号の振幅によって上記差動出力信号の中心値の平衡点がΔV0だけ変動する場合を考える。サンプル期間中の回路の結線状態はΔV0がゼロのときと同じくリセット状態にあるので、式10で表したのと同じだけの電荷が蓄積される。ホールド期間においては、上記差動出力信号の振幅に依存して平衡点がΔV0変動する。この時の上記完全差動型演算増幅回路の第1の入力端子の電圧をVt'とすると、容量C1、C2に蓄積されている電荷の総和Q'は、
【式11】
Figure 0004694687
となる。
【0018】
サンプル期間中に蓄えられた、最終的な電荷の総量は、ホールド期間において保存されるから、Q=Q'でなくてはならない。式10と式11とから、
【式12】
Figure 0004694687
が導かれる。これは、完全差動型演算増幅回路51の出力振幅に依存する、出力中心値の平衡点の変動が、ホールド期間中に完全差動型演算増幅回路51の第1の入力端子IN1に正帰還されることを示している。すなわち、サンプル・ホールド回路sh1において、リセットスイッチまたは容量C1または容量C2による帰還接続方法、および出力中心値を所定の平衡点に安定させるための同相帰還回路による帰還接続方法が、すべて負帰還接続であるにもかかわらず、平衡点自身の変動は必ず正帰還になることが分かる。この正帰還は、上記完全差動型演算増幅回路51の第2の入力端子IN2にも同様に与えられるので、大部分は差動増幅動作によって除去されるため、直ちに悪影響を及ぼすわけではないが、帰還系の安定面からいって好ましくない。加えて、上記差動出力信号の中心値の平衡点の変動は、後段のコンパレータの判定を誤らせる原因となる。
【0019】
このように、図5に示すように第1、第2の出力端子OUT1、OUT2間に同相帰還回路を接続する完全差動型演算増幅回路を用いた、従来のサンプル・ホールド回路には、安定面と精度面において、問題を有していた。
【0020】
【課題を解決するための手段】
本発明では、完全差動型演算増幅回路と、上記完全差動型演算増幅回路の差動入力端子の一方をなす第1の入力端子と上記完全差動型演算増幅回路の差動出力端子の一方をなす第1の出力端子との間に接続された第1のリセットスイッチと、
上記完全差動型演算増幅回路の差動入力端子の他方をなす第2の入力端子と上記完全差動型演算増幅回路の差動出力端子の他方をなす第2の出力端子との間に接続された第2のリセットスイッチと、上記第1の入力端子と上記第1の出力端子との間に接続されかつ第3の入力端子を持つ第1のスイッチ容量網と、上記第2の入力端子と上記第2の出力端子との間に接続されかつ第4の入力端子を持つ第2のスイッチ容量網とを備え、上記第3および第4の入力端子を1組の差動入力端子とし、上記第1および第2の出力端子を1組の差動出力端子とするサンプル・ホールド回路であって、上記第1の入力端子、上記第2の入力端子にそれぞれ接続した第1および第2の同相帰還用ホールド容量を有し、上記第1および第2の入力端子の電圧に応じて上記第1および第2の出力端子の出力電圧の中心値を所定の値に維持する同相帰還回路を設ける。
【0021】
上記同相帰還回路は、上記第1の入力端子を第1のMOSトランジスタのゲート端子および上記第1の同相帰還用ホールド容量に接続し、上記第1の同相帰還用ホールド容量の他端を接地し、上記第1のMOSトランジスタのソース端子を接地または電源端子に接続するとともに、上記第2の入力端子を、第2のMOSトランジスタのゲート端子および上記第2の同相帰還用ホールド容量に接続し、上記第2の同相帰還用ホールド容量の他端を接地し、上記第2のMOSトランジスタのソース端子を接地または電源端子に接続するとともに、上記第1のMOSトランジスタのドレイン端子と上記第2のMOSトランジスタのドレイン端子とを接続して制御端子として当該制御端子からの出力に応じて上記第1および第2の出力端子の出力電圧の中心値を所定の値に維持することが好ましい。
【0022】
本発明のA/D変換器では、上記サンプル・ホールド回路の複数個を、前段のサンプル・ホールド回路の差動出力端子を後段のサンプル・ホールド回路の差動入力端子として接続し、当該接続点の出力を所定の基準値と比較してPCMデータの各ビットの値として得るパイプライン方式のA/D変換器を構成することも好ましい。
【0023】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を実施例に基づき詳細に説明する。図1は本発明の実施例のサンプル・ホールド回路の構成を示す回路図である。完全差動型演算増幅回路1の負入力端子である第1の入力端子IN1と正出力端子である第1の出力端子OUT1との間に第1のスイッチ容量網CS1を設け、第1の入力端子IN1と第1の出力端子OUT1との間に第1のリセットスイッチRS1が設けられる。第2の入力端子IN2と第2の出力端子OUT2との間に第2のスイッチ容量網CS2を設け、第2の入力端子IN2と第2の出力端子OUT2との間に第2のリセットスイッチRS2が設けられる。
【0024】
第1のスイッチ容量網CS1は一方の端子を第1の入力端子IN1に接続した等しい容量値の容量C1、C2と、容量C1の他方の端子をサンプル・ホールド回路の差動入力端子の一方である入力端子IN0と基準電圧端子Refと第1の出力端子OUT1とに選択的に接続するスイッチSW1と、容量C2の他方の端子をサンプル・ホールド回路の差動入力端子の一方である入力端子IN0と基準電圧端子Ref’と完全差動型演算増幅回路1の正出力端子である第1の出力端子OUT1とに選択的に接続するスイッチSW2とからなる。
【0025】
第2のスイッチ容量網CS2は、一方の端子を第2の入力端子IN2に接続した等しい容量値の容量C1’、C2’と、容量C1’の他方の端子をサンプル・ホールド回路の差動入力端子の他方である入力端子IN0’と基準電圧端子Ref’と第2の出力端子OUT2とに選択的に接続するスイッチSW3と、容量C2’の他方の端子をサンプル・ホールド回路の差動入力端子の他方のである入力端子IN0’と基準電圧端子Refと完全差動型演算増幅回路1の負出力端子である第2の出力端子OUT2とに選択的に接続するスイッチSW4とからなる。
【0026】
同相帰還(コモン・フィードバック)回路2は、完全差動型演算増幅回路1の第1の入力端子IN1と第2の入力端子IN2との間に設けられる。同相帰還回路2は、第1の入力端子IN1と電源端子VSS(0V)との間に設けられた第1の同相帰還用ホールド容量CF1と、第2の入力端子IN2と電源端子VSSとの間に設けられた第2の同相帰還用ホールド容量CF2と、ソース端子を電源端子VSSに接続し、ゲート端子を第1の入力端子IN1に接続したNチャネル型のMOSトランジスタ21と、ソース端子を電源端子VSSに接続し、ゲート端子を第2の入力端子IN2に接続したNチャネル型のMOSトランジスタ22とからなり、MOSトランジスタ21、22の互いのドレイン端子を接続して制御端子CLとしてある。制御端子CLは、図8に示したものと同様に完全差動型演算増幅回路1の出力部の出力バイアス回路に接続され、これに第1、第2の出力端子OUT1、OUT2からの差動出力信号の中心値を一意に保つ出力バイアス制御信号を与える。
【0027】
本例では、第1、第2のスイッチ容量網および第1、第2のリセットスイッチを完全差動型演算増幅回路の互いに極性の異なる入力端子、出力端子間に設ける点等のサープル・ホールド機能に係わる基本的な構成及び動作については図5に示した従来のサンプル・ホールド回路sh1と同様のものであり、図2に示すように、本例のサンプル・ホールド回路SHにおいても、その入力端子IN0、IN0’にコンパレータCOの入力端子を接続して図4に示すA/D変換セルSkを構成し、その出力端子OUT1、OUT2を同様のA/D変換セルSk-1のサンプル・ホールド回路SHの入力端子IN0、IN0’及びコンパレータCOに接続してパイプライン方式のA/D変換器を構成する。しかしながら、本例では、同相帰還回路の接続位置が、完全差動型演算増幅回路の出力端子間ではなく、完全差動型演算増幅回路の入力端子間である点と、同相帰還用ホールド容量が同相帰還回路の入力端子に接続されている点とにおいて、従来のものと異なっている。これらを設けたことによる作用、効果について以下の本例の動作説明にて述べる。
【0028】
次に本例の動作について、特に同相帰還回路2の動作について説明する。
まず、サンプル期間においては、図3(a)に示すように、第1、第2のリセットスイッチRS1、RS2をオンとし、第1のスイッチ容量網CS1において、スイッチSW1、SW2をそれぞれ入力端子IN0の側にオンとし、入力端子IN0と完全差動型演算増幅回路1の第1の入力端子IN1との間に容量C1、C2を並列に導通させ、これらに入力電圧Vinを与える。第2のスイッチ容量網CS2において、スイッチSW3、SW4をそれぞれ入力端子IN0’の側にオンとし、入力端子IN0’と完全差動型演算増幅回路1の第2の入力端子IN2との間に容量C1’、C2’を並列に導通させ、これらに入力電圧Vin’を与える。
【0029】
リセットスイッチRS1、RS2が導通状態にあるため、同相帰還回路2は、正しく完全差動演算増幅回路1の差動出力信号を受けて、完全差動演算増幅回路1の出力バイアス回路に、上記差動出力信号の中心値を平衡点に保つような制御信号を帰還させている。このときの完全差動型演算増幅回路1の入力端子IN1、IN2の電圧値をVtとすると、完全差動型演算増幅回路1はリセットスイッチRS1、RS2による全帰還状態にあって、差動出力振幅がゼロのときの平衡点V0を出力しているので、Vt=V0である。
【0030】
次に、ホールド期間においては、図3(b)に示すように、第1、第2のリセットスイッチRS1、RS2をオフとする。第1のスイッチ容量網CS1において、スイッチSW1を基準電圧端子Refの側にオンとし、容量のC1の他方の端子を基準電圧端子Refに導通させて電圧Vrefを与え、スイッチSW2を第1の出力端子OUT1の側にオンとして容量のC2の他方の端子を出力端子OUT1に導通させるか、あるいはスイッチSW2を基準電圧端子Ref’の側にオンとし、容量C2の他方の端子を基準電圧端子Ref’に導通させて電源Vref’を与え、スイッチSW1を第1の出力端子OUT1の側にオンとして容量C1の他方の端子を出力端子OUT1に導通させる。第2のスイッチ容量網CS2において、スイッチSW3を基準電圧端子Ref’の側にオンとし、容量C1’の他方の端子を基準電圧端子Ref’に導通させて電圧Vref’を与え、スイッチSW4を第2の出力端子OUT2の側にオンとして容量のC2’の他方の端子を出力端子OUT2に導通させるか、あるいはスイッチSW4を基準電圧端子Refの側にオンとし、容量C2’の他方の端子を基準電圧端子Refに導通させて電源Vrefを与え、スイッチSW3を第2の出力端子OUT2の側にオンとして容量C1’の他方の端子を出力端子OUT2に導通させる。これにより、出力端子OUT1より、2Vin−Vref=Voutあるいは2Vin−Vref’=Voutが出力され、出力端子OUT2より、2Vin’−Vref’=Vout’あるいは2Vin’−Vref=Vout’が出力される。
【0031】
ここで、リセットスイッチRS1、RS2が遮断状態にあるので同相帰還回路は作動せず、ホールド期間における出力電圧振幅のいかんにかかわらず、完全差動型演算増幅回路1の入力端子IN1、IN2は、同相帰還用ホールド容量CF1、CF2によって、サンプル期間中の入力電圧Vt=V0を保持している。図5に示す従来のもののようにホールド期間中に上記完全差動型演算増幅回路の第1の入力端子に正帰還されることはない。したがって、ホールド期間の差動出力信号の中心値が不安定に変化することはない。
【0032】
以上のように本例においては、ホールド期間中に回路動作を不安定にするような正帰還は起こらず、また、差動出力信号の中心値の平衡点の変動をなくすことができ、後段の回路の誤作動を抑えることができる。
【0033】
本例のサンプル・ホールド回路を用いてパイプライン方式のA/D変換器を構成した場合、後段のコンパレータの誤動作を抑えることができ、安定性においても精度においても優れたパイプライン方式のA/D変換器を実現可能となる。
【0034】
【発明の効果】
本発明によれば、完全差動型演算増幅回路を用いたサンプル・ホールド回路において、回路素子を増大させることなく、完全差動型演算増幅回路が必要とする同相帰還回路を、サンプル・ホールド回路動作に悪影響を及ぼさないように構成することができ、安定性においても精度においても優れたサンプル・ホールド回路を提供することができる。
【0035】
すなわち、ホールド期間中における正帰還をなくすことができ、回路動作を安定化させることが可能となるとともに、差動出力信号の振幅によらず差動出力信号の中心値の平衡点の変動を抑えることができ、後段の回路の誤作動を抑えることが可能となる。
【0036】
また、本発明のサンプル・ホールド回路を用いてパイプライン方式のA/D変換器を構成した場合、後段のコンパレータの誤動作を抑えることができ、安定性においても精度においても優れたパイプライン方式のA/D変換器を実現可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のサンプル・ホールド回路の構成を示す回路図。
【図2】図1のサンプル・ホールド回路を用いたパイプライン方式のA/D変換器のA/D変換セルの構成を示すブロック図。
【図3】図1のサンプル・ホールド回路の動作説明のための回路図。
【図4】パイプライン方式のA/D変換器の構成を示すブロック図。
【図5】従来のサンプル・ホールド回路の構成を示す回路図。
【図6】図5のサンプル・ホールド回路を用いたパイプライン方式のA/D変換器のA/D変換セルの構成を示すブロック図。
【図7】図5のサンプル・ホールド回路の動作説明のための回路図。
【図8】図5のサンプル・ホールド回路の出力部の構成を示すブロック図。
【図9】図5のサンプル・ホールド回路の同相帰還回路の構成の一例を示す回路図。
【図10】図5のサンプル・ホールド回路の同相帰還回路の構成の他の例を示す回路図。
【図11】図5のサンプル・ホールド回路の同相帰還回路の構成のさらに他の例を示す回路図。
【符号の説明】
1 完全差動型演算増幅回路
2 同相帰還回路
RS1 第1のリセットスイッチ
RS2 第2のリセットスイッチ
CS1 第1のスイッチ容量網
CS2 第2のスイッチ容量網
CF1、CF2 同相帰還用ホールド容量
SH サンプル・ホールド回路

Claims (2)

  1. 完全差動型演算増幅回路と、
    上記完全差動型演算増幅回路の差動入力端子の一方をなす第1の入力端子と上記完全差動型演算増幅回路の差動出力端子の一方をなす第1の出力端子との間に接続された第1のリセットスイッチと、
    上記完全差動型演算増幅回路の差動入力端子の他方をなす第2の入力端子と上記完全差動型演算増幅回路の差動出力端子の他方をなす第2の出力端子との間に接続された第2のリセットスイッチと、
    上記第1の入力端子と上記第1の出力端子との間に接続されかつ第3の入力端子を持つ第1のスイッチ容量網と、
    上記第2の入力端子と上記第2の出力端子との間に接続されかつ第4の入力端子を持つ第2のスイッチ容量網とを備え、
    上記第3および第4の入力端子を1組の差動入力端子とし、上記第1および第2の出力端子を1組の差動出力端子とするサンプル・ホールド回路であって、
    上記第1の入力端子、上記第2の入力端子にそれぞれ接続した第1および第2の同相帰還用ホールド容量を有し、
    上記第1の入力端子を第1のMOSトランジスタのゲート端子および上記第1の同相帰還用ホールド容量に接続し、上記第1の同相帰還用ホールド容量の他端を接地し、上記第1のMOSトランジスタのソース端子を接地または電源端子に接続するとともに、
    上記第2の入力端子を第2のMOSトランジスタのゲート端子および上記第2の同相帰還用ホールド容量に接続し、上記第2の同相帰還用ホールド容量の他端を接地し、上記第2のMOSトランジスタのソース端子を接地または電源端子に接続するとともに、
    上記第1のMOSトランジスタのドレイン端子と上記第2のMOSトランジスタのドレイン端子とを接続して制御端子として当該制御端子からの出力に応じて上記第1および第2の出力端子の出力電圧の中心値を所定の値に維持する同相帰還回路を設けたことを特徴とするサンプル・ホールド回路。
  2. 請求項1に記載のサンプル・ホールド回路の複数個を、前段のサンプル・ホールド回路の差動出力端子を後段のサンプル・ホールド回路の差動入力端子として接続し、当該接続点の出力を所定の基準値と比較してPCMデータの各ビットの値として得ることを特徴とするパイプライン方式のA/D変換器。
JP2000357698A 2000-11-24 2000-11-24 サンプル・ホールド回路およびa/d変換器 Expired - Lifetime JP4694687B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000357698A JP4694687B2 (ja) 2000-11-24 2000-11-24 サンプル・ホールド回路およびa/d変換器
US09/992,334 US6437608B1 (en) 2000-11-24 2001-11-06 Sample-and-hold circuit and A/D converter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000357698A JP4694687B2 (ja) 2000-11-24 2000-11-24 サンプル・ホールド回路およびa/d変換器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002163894A JP2002163894A (ja) 2002-06-07
JP4694687B2 true JP4694687B2 (ja) 2011-06-08

Family

ID=18829716

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000357698A Expired - Lifetime JP4694687B2 (ja) 2000-11-24 2000-11-24 サンプル・ホールド回路およびa/d変換器

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6437608B1 (ja)
JP (1) JP4694687B2 (ja)

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030016070A1 (en) * 2001-07-17 2003-01-23 Wenhua Yang Bootstrap module for multi-stage circuit
JP3628636B2 (ja) * 2001-07-30 2005-03-16 シャープ株式会社 スイッチトキャパシタ回路
US6700523B2 (en) * 2001-10-25 2004-03-02 Oki Electric Industry Co., Ltd. Analog to digital converter selecting reference voltages in accordance with feedback from prior stages
JP2004146403A (ja) * 2002-10-21 2004-05-20 Advantest Corp 伝送回路、cmos半導体デバイス、及び設計方法
US6795006B1 (en) * 2003-07-18 2004-09-21 Zarlink Semiconductor Ab Integrator reset mechanism
ATE413757T1 (de) * 2004-03-25 2008-11-15 Ibm Empfänger und verfahren mit ausgleich von leitungsungleichheiten
US7224213B2 (en) * 2004-05-07 2007-05-29 Lattice Semiconductor Corporation Switched capacitor ripple-smoothing filter
US7002418B2 (en) 2004-05-07 2006-02-21 Lattice Semiconductor Corporation Control signal generation for a low jitter switched-capacitor frequency synthesizer
JP2006033304A (ja) * 2004-07-15 2006-02-02 Daio Denki Kk スイッチトキャパシタ回路及びパイプラインa/d変換器
US7221605B2 (en) * 2004-08-31 2007-05-22 Micron Technology, Inc. Switched capacitor DRAM sense amplifier with immunity to mismatch and offsets
US7176719B2 (en) * 2004-08-31 2007-02-13 Micron Technology, Inc. Capacitively-coupled level restore circuits for low voltage swing logic circuits
JP2006121480A (ja) * 2004-10-22 2006-05-11 Sony Corp サンプルホールド回路及びそれを用いたパイプラインad変換器
JP2006121307A (ja) * 2004-10-20 2006-05-11 Sony Corp サンプルホールド回路又はそれを用いたad変換器
TW200629738A (en) * 2004-10-12 2006-08-16 Sony Corp Sample hold circuit, and pipeline ad converter using the circuit
US8035148B2 (en) 2005-05-17 2011-10-11 Analog Devices, Inc. Micromachined transducer integrated with a charge pump
US7148833B1 (en) * 2005-08-26 2006-12-12 Micron Technology, Inc. Sharing operational amplifier between two stages of pipelined ADC and/or two channels of signal processing circuitry
US7408496B2 (en) * 2006-08-21 2008-08-05 Micron Technology, Inc. Method, apparatus and system sharing an operational amplifier between two stages of pipelined ADC and/or two channels of signal processing circuitry
US7432844B2 (en) * 2006-12-04 2008-10-07 Analog Devices, Inc. Differential input successive approximation analog to digital converter with common mode rejection
JP2009177446A (ja) * 2008-01-24 2009-08-06 Oki Semiconductor Co Ltd パイプライン型アナログ・デジタル変換器
JP2009267607A (ja) * 2008-04-23 2009-11-12 Renesas Technology Corp 半導体集積回路装置
WO2010064338A1 (ja) * 2008-12-02 2010-06-10 パナソニック株式会社 比較器およびa/d変換器
US8026760B1 (en) * 2010-07-29 2011-09-27 Freescale Semiconductor, Inc. Gain enhanced switched capacitor circuit and method of operation
JP5457990B2 (ja) * 2010-10-15 2014-04-02 旭化成エレクトロニクス株式会社 スイッチトキャパシタ回路
KR101398322B1 (ko) * 2011-12-05 2014-05-23 엘지디스플레이 주식회사 터치 스크린의 센싱 장치 및 방법
KR101926605B1 (ko) * 2012-02-27 2018-12-07 삼성전자 주식회사 멀티 입력채널을 가지는 샘플 앤 홀드 회로 및 이를 이용한 아날로그 디지털 변환기
EP2634589B1 (en) * 2012-02-28 2014-10-29 Dialog Semiconductor GmbH Battery wake-up
US9679509B2 (en) * 2014-05-01 2017-06-13 Samsung Display Co., Ltd. Positive feedback enhanced switching equalizer with output pole tuning
TWI739796B (zh) * 2016-02-12 2021-09-21 日商半導體能源硏究所股份有限公司 半導體裝置及電子裝置及半導體晶圓
JP6675882B2 (ja) * 2016-02-29 2020-04-08 エイブリック株式会社 スイッチドキャパシタ入力回路及びスイッチドキャパシタアンプ及びスイッチドキャパシタ電圧比較器
EP3217550B1 (en) * 2016-03-11 2024-01-10 Socionext Inc. Circuitry for use in comparators

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06275093A (ja) * 1993-03-25 1994-09-30 Mitsubishi Electric Corp サンプルホールド装置
JPH11298262A (ja) * 1998-04-09 1999-10-29 Sanyo Electric Co Ltd 演算増幅回路およびアナログ−デジタル変換回路

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5220286A (en) * 1991-06-28 1993-06-15 International Business Machines Corporation Single ended to fully differential converters
JP3671431B2 (ja) * 1994-04-08 2005-07-13 株式会社ルネサステクノロジ サンプルホールド回路
JP3216490B2 (ja) * 1995-09-07 2001-10-09 ヤマハ株式会社 スイッチドキャパシタフィルタ
JPH09181604A (ja) * 1995-12-25 1997-07-11 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置およびその雑音低減方法
US5736895A (en) * 1996-01-16 1998-04-07 Industrial Technology Research Institute Biquadratic switched-capacitor filter using single operational amplifier
JPH1051247A (ja) * 1996-07-29 1998-02-20 Toshiba Corp 全差動型アナログ回路
US5805019A (en) * 1996-09-24 1998-09-08 Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. Voltage gain amplifier for converting a single input to a differential output
US6169427B1 (en) * 1998-12-10 2001-01-02 National Semiconductor Corporation Sample and hold circuit having single-ended input and differential output and method

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06275093A (ja) * 1993-03-25 1994-09-30 Mitsubishi Electric Corp サンプルホールド装置
JPH11298262A (ja) * 1998-04-09 1999-10-29 Sanyo Electric Co Ltd 演算増幅回路およびアナログ−デジタル変換回路

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002163894A (ja) 2002-06-07
US20020135402A1 (en) 2002-09-26
US6437608B1 (en) 2002-08-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4694687B2 (ja) サンプル・ホールド回路およびa/d変換器
US6480132B1 (en) A/D converter with higher speed and accuracy and lower power consumption
EP0849883B1 (en) Analog-to-digital converter
JP3103657B2 (ja) 電圧保持回路及び容量結合網を有するa/d変換器
US20110205099A1 (en) Successive approximation type a/d converter circuit
JP2006115003A (ja) サンプルホールド回路およびそれを用いたパイプラインad変換器
JP2008067143A (ja) 差動増幅回路、サンプルホールド回路
US8519793B2 (en) Operational amplifier circuit
US7312741B2 (en) Analog-to-digital converter circuit and reference circuit
KR100459086B1 (ko) 의사 차동 증폭회로 및 이를 사용한 아날로그-디지털 변환기
US7714264B2 (en) Semiconductor integrated circuit device
US11476859B1 (en) Compensated digital-to-analog converter (DAC)
US7405625B1 (en) Common-mode control structures and signal converter systems for use therewith
US6407592B2 (en) Sample-and-hold circuit
EP0722632B1 (en) Folding stage for a folding analog-to-digital converter
JPH08307167A (ja) 補償オフセット電圧を必要としない電圧コンパレータ
JP4047824B2 (ja) 半導体集積回路
JP5616781B2 (ja) スイッチトキャパシタ型積分器
JP5462604B2 (ja) スイッチトキャパシタ型積分器
JP4569027B2 (ja) サンプルホールド回路と該回路を用いたad変換器
JPH025324B2 (ja)
JPH10112654A (ja) 電流セグメント方式ディジタル・アナログ変換器
JP4635612B2 (ja) サンプル・ホールド回路
JP2674368B2 (ja) A/d変換器
JP3803649B2 (ja) D/a変換器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101013

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101201

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101208

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110215

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110224

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140304

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4694687

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term