JP2016514323A - マルチダイnandメモリメモリデバイスのための自動中断動作および自動再開動作 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (27)
- マルチダイメモリの少なくとも1つのダイによって、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断する段階と、
前記後のメモリ動作が、高電流メモリ動作である場合、前記少なくとも1つのダイによって、一時中断動作モードに自動的に入る段階と、
再開動作イベントに応答して、前記少なくとも1つのダイによって、動作を再開する段階と、
前記高電流メモリ動作を実行する段階と、を備える方法。 - 前記少なくとも1つのダイによって、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断する段階は、後のメモリが、前記少なくとも1つのダイのチャージポンプを有効にするための動作であるかどうか、前記少なくとも1つのダイのビットラインをチャージするための動作であるかどうか、もしくはプログラム/消去のループ動作であるかどうか、またはそれらの組み合わせであるかどうかを判断する段階を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記少なくとも1つのダイによって、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断する段階はさらに、前記マルチダイメモリに、後の前記高電流メモリ動作について指示を出力する段階を含む、請求項1または2に記載の方法。
- さらに、
後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断するモードに入るためのコマンドを、前記マルチダイメモリのコントローラから受信する段階と、
前記コマンドの受信に応答して、マルチダイメモリの前記少なくとも1つのダイによって、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断する段階と、を備える、請求項1から3のいずれか一項に記載の方法。 - さらに、
前記少なくとも1つのダイに特定して宛てられた、再開動作イベントを含む再開コマンドを前記コントローラから受信する段階と、
前記少なくとも1つのダイに特定して宛てられた前記再開コマンドに応答して、前記少なくとも1つのダイによって前記再開動作を実行する段階と、
前記高電流メモリ動作を実行する段階と、を備える、請求項4に記載の方法。 - さらに、
前記マルチダイメモリの別のダイから、前記別のダイは、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であると判断したとの第1の指示を受信する段階と、
前記別のダイからの前記第1の指示の受信に応答して、前記マルチダイメモリの前記少なくとも1つのダイによる、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかの判断を実行する段階と、
前記別のダイから、前記第1の指示を終了させる、前記再開動作イベントを含む、第2の指示を受信する段階と、
前記少なくとも1つのダイによって、前記高電流メモリ動作を実行する段階と、を備える、請求項1から5のいずれか一項に記載の方法。 - 前記少なくとも1つのダイによって、前記高電流メモリ動作を実行する段階は、前記第2の指示を受信後、前記高電流メモリ動作を実行する前に、予め定められた時間遅延させる段階を含む、請求項6に記載の方法。
- さらに、
前記マルチダイメモリのコントローラから、カウンタリセット信号を受信する段階と、
前記カウンタリセット信号に応答して、内部ダイのカウンタをリセットする段階と、
前記内部ダイのカウンタを使用して、第1のクロック信号をカウントする段階と、
前記内部ダイのカウンタによる、予め定められたカウントに応答して、前記少なくとも1つのダイによる前記動作を再開する段階と、
前記高電流メモリ動作を実行する段階と、を備えており、
前記内部ダイのカウンタの前記予め定められたカウントは、前記再開動作イベントを含む、請求項1から7のいずれか一項に記載の方法。 - さらに、
後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断するモードに入るためのコマンドを、前記マルチダイメモリのコントローラから受信する段階と、
前記少なくとも1つのダイによる、後のメモリ動作が高電流メモリであるかどうかの前記判断に応答して、信号ラインを切り替える段階と、
前記信号ラインが切り替わる予め定められた回数に応答して、前記少なくとも1つのダイによる前記再開動作を実行する段階と、
前記高電流メモリ動作を実行する段階と、かつ、
前記高電流メモリ動作の実行に応答して、前記信号ラインを切り替える段階と、を備えており、
前記信号ラインが切り替わる前記予め定められた回数は、前記再開動作イベントを含む、請求項1から8のいずれか一項に記載の方法。 - 前記マルチダイメモリは、ソリッドステートドライブを含む、請求項1から9のいずれか一項に記載の方法。
- ソリッドステートドライブにおけるピーク電流条件を制御する方法であって、
前記ソリッドステートドライブの少なくとも1つのダイによって、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断する段階と、
前記後のメモリ動作が高電流メモリ動作である場合、前記少なくとも1つのダイによる一時中断動作モードに入る段階と、
再開動作イベントに応答して、前記少なくとも1つのダイによる動作を再開する段階と、
前記高電流メモリ動作を実行する段階と、を備えており、
前記高電流メモリは、前記少なくとも1つのダイのチャージポンプを有効にするための動作、前記少なくとも1つのダイのビットラインをチャージするための動作、もしくはプログラム/消去のループ動作、またはそれらの組み合わせを含む、方法。 - さらに、
後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断するためのコマンドを、前記ソリッドステートドライブのコントローラから受信する段階と、
前記コマンドの受信に応答して、マルチダイメモリの前記少なくとも1つのダイによって、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断する段階と、を備える、請求項11に記載の方法。 - さらに、
前記少なくとも1つのダイに特定して宛てられた、再開動作イベントを含む再開コマンドを、前記ソリッドステートドライブの前記コントローラから受信する段階と、
前記再開コマンドに応答して、前記少なくとも1つのダイに特定して宛てられた前記再開コマンドに応答して、前記少なくとも1つのダイによって前記再開動作を実行する段階と、
前記高電流メモリ動作を実行する段階と、を備える、請求項12に記載の方法。 - さらに、
前記ソリッドステートドライブの別のダイから、前記別のダイは、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であると判断したとの第1の指示を受信する段階と、
前記別のダイからの前記第1の指示の受信に応答して、マルチダイメモリの前記少なくとも1つのダイによる、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかの判断を実行する段階と、
前記別のダイから、前記第1の指示を終了させる、前記再開動作イベントを含む、第2の指示を受信する段階と、
前記少なくとも1つのダイの前記高電流メモリ動作を実行する段階と、を備える、請求項11から13のいずれか一項に記載の方法。 - 前記少なくとも1つのダイによって、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断する段階はさらに、マルチダイメモリに、後の高電流メモリ動作について指示を出力する段階を含む、請求項11から14のいずれか一項に記載の方法。
- さらに、
前記ソリッドステートドライブのコントローラから、カウンタリセット信号を受信する段階と、
前記カウンタリセット信号に応答して、内部ダイのカウンタをリセットする段階と、
前記内部ダイのカウンタを使用して、第1のクロック信号をカウントする段階と、
前記内部ダイのカウンタによる、予め定められたカウントに応答して、前記少なくとも1つのダイによる前記動作を再開する段階と、
前記高電流メモリ動作を実行する段階と、を備えており、
前記内部ダイのカウンタの前記予め定められたカウントは、前記再開動作イベントを含む、請求項11から15のいずれか一項に記載の方法。 - さらに、
後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断するモードに入るためのコマンドを、前記ソリッドステートドライブのコントローラから受信する段階と、
前記少なくとも1つのダイによる、後のメモリ動作が高電流メモリであるかどうかを判断する段階に応答して、信号ラインを切り替える段階と、
前記信号ラインが切り替わる予め定められた回数に応答して、前記少なくとも1つのダイによる前記再開動作を実行する段階と、
前記高電流メモリ動作を実行する段階と、
前記高電流メモリ動作の実行に応答して、前記信号ラインを切り替える段階と、を備えており、
前記信号ラインが切り替わる前記予め定められた回数は、前記再開動作イベントを含む、請求項11から16のいずれか一項に記載の方法。 - マルチダイメモリの少なくとも1つのダイを備える装置であって、
前記少なくとも1つのダイは、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断し、
前記高電流メモリ動作は、前記少なくとも1つのダイのチャージポンプを有効にするための動作、前記少なくとも1つのダイのビットラインをチャージするための動作、もしくはプログラム/消去のループ動作、またはそれらの組み合わせを含み、
前記少なくとも1つのダイはさらに、
前記後のメモリ動作が高電流メモリ動作である場合、前記少なくとも1つのダイによる一時中断動作モードに入り、
前記少なくとも1つのダイによる、後のメモリ動作が高電流メモリであるかどうかの判断に応答して、信号ラインを切り替え、
前記信号ラインが切り替わる予め定められた回数に応答して、前記マルチダイメモリの複数の他のダイによる動作を再開し、
前記高電流メモリ動作を実行し、かつ、
前記高電流メモリ動作の実行に応答して、前記信号ラインを切り替え、
前記信号ラインが切り替わる前記予め定められた回数は、再開動作イベントを含む、装置。 - 前記少なくとも1つのダイはさらに、前記マルチダイメモリのコントローラから、カウンタリセット信号を受信し、かつ、前記カウンタリセット信号の受信に応答して、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断する、請求項18に記載の装置。
- 前記マルチダイメモリは、ソリッドステートドライブを含む、請求項18または19に記載の装置。
- ソリッドステートドライブにおけるピーク電流条件を制御するための装置であって、
前記ソリッドステートドライブの少なくとも1つのダイによって、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断するための手段と、
前記後のメモリ動作が高電流メモリ動作である場合、前記少なくとも1つのダイによる一時中断動作モードに入るための手段と、
再開動作イベントに応答して、前記少なくとも1つのダイによる動作を再開するための手段と、かつ、
前記高電流メモリ動作を実行するための手段と、を備えており、
前記高電流メモリは、前記少なくとも1つのダイのチャージポンプを有効にするための動作、前記少なくとも1つのダイのビットラインをチャージするための動作、もしくはプログラム/消去のループ動作、またはそれらの組み合わせを含む、装置。 - さらに、
後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断するためのコマンドを、前記ソリッドステートドライブのコントローラから受信するための手段と、
前記コマンドの受信に応答して、マルチダイメモリの前記少なくとも1つのダイによって、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断するための手段と、を備える、請求項21に記載の装置。 - さらに、
前記少なくとも1つのダイに特定して宛てられた、再開動作イベントを含む再開コマンドを、前記ソリッドステートドライブの前記コントローラから受信するための手段と、
前記再開コマンドに応答して、前記少なくとも1つのダイに特定して宛てられた前記再開コマンドに応答して、前記少なくとも1つのダイによる前記再開動作を実行するための手段と、
前記高電流メモリ動作を実行するための手段と、を備える、請求項22に記載の装置。 - さらに、
前記ソリッドステートドライブの別のダイから、前記別のダイは、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であると判断したとの第1の指示を受信するための手段と、
前記別のダイからの前記第1の指示の受信に応答して、マルチダイメモリの前記少なくとも1つのダイによる、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかの判断を実行するための手段と、
前記別のダイから、前記第1の指示を終了させる、前記再開動作イベントを含む、第2の指示を受信するための手段と、
前記少なくとも1つのダイの前記高電流メモリ動作を実行するための手段と、を備える、請求項21から23のいずれか一項に記載の装置。 - 前記少なくとも1つのダイによって、後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断するための前記手段はさらに、マルチダイメモリに、後の高電流メモリ動作について指示を出力するための手段を含む、請求項21から24のいずれか一項に記載の装置。
- さらに、
前記ソリッドステートドライブのコントローラから、カウンタリセット信号を受信するための手段と、
前記カウンタリセット信号に応答して、内部ダイのカウンタをリセットするための手段と、
前記内部ダイのカウンタを使用して、第1のクロック信号をカウントするための手段と、
前記内部ダイのカウンタによる、予め定められたカウントに応答して、前記少なくとも1つのダイによる前記動作を再開するための手段と、
前記高電流メモリ動作を実行するための手段と、を備えており、
前記内部ダイのカウンタの前記予め定められたカウントは、前記再開動作イベントを含む、請求項21から25のいずれか一項に記載の装置。 - さらに、
後のメモリ動作が高電流メモリ動作であるかどうかを判断するモードに入るためのコマンドを、前記ソリッドステートドライブのコントローラから受信するための手段と、
前記少なくとも1つのダイによる、後のメモリ動作が高電流メモリであるかどうかの判断に応答して、信号ラインを切り替えるための手段と、
前記信号ラインが切り替わる予め定められた回数に応答して、前記少なくとも1つのダイによる前記再開動作を実行するための手段と、
前記高電流メモリ動作を実行するための手段と、
前記高電流メモリ動作の実行に応答して、前記信号ラインを切り替えるための手段と、を備えており、
前記信号ラインが切り替わる前記予め定められた回数は、前記再開動作イベントを含む、請求項21から26のいずれか一項に記載の装置。
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