JP2016125847A - チップ電子部品検査選別装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】チップ電子部品検査選別装置の固定電極端子と可動電極端子とからなる検査用電極端子セットと検査器との接続切替システムのリレースイッチ手段として、筐体に収容したMOS FETを用い、このMOS FETを収容した筐体を、検査用の固定電極端子と可動電極端子のそれぞれに隣接配置し、固定電極端子と可動電極端子にMOS FETをコネクタを介して接続させる。
【選択図】図11
Description
11 チップ電子部品搬送円盤
11a 透孔
12a、12b、12c、12d、12e、12f 固定電極端子
13a、13b、13c、13d、13e、13f 可動電極端子
14a、14b 検査器
15 制御器
19 チップ電子部品(チップキャパシタ)
19a、19b、19c チップ電子部品(チップキャパシタ)
19d、19e、19f チップ電子部品(チップキャパシタ)
20 水銀リレースイッチ
21 キャパシタ本体
22a、22b 電極
23 筐体(電極端子接続用)
24 MOS FET
25 コネクタ
26 電極端子ユニット(可動電極端子ユニット)
31 チップ電子部品供給口
32 バケット
33 仕切り壁
41 基台
42 中心軸
43 回転駆動装置
45 ベース板(基準台)
101 チップ電子部品供給収容部(供給収容域)
102 チップ電子部品電気的特性検査部(検査域)
103 チップ電子部品電子部品分類部(分類域)
Claims (3)
- 基台、基台に回転可能に軸支されたチップ電子部品搬送円盤、但し、該チップ電子部品搬送円盤には、対向する端面のそれぞれに電極を有するチップ電子部品を一時的に収容することのできる複数の透孔がその円周に沿って複数列形成されている、そして該搬送円盤の回転経路に沿って順に設けられた、該搬送円盤の透孔にチップ電子部品を供給し収容させるチップ電子部品供給収容部、チップ電子部品の電気的特性の検査を行う固定電極端子と可動電極端子とからなる検査用電極端子セットが複数組備えられた電気的特性検査部、そして検査済みのチップ電子部品を検査結果に基づいて分類する分類部を含み、上記の固定電極端子と可動電極端子のそれぞれにはリレースイッチ手段を介して電気的特性検査器が接続されているチップ電子部品検査選別装置であって、上記リレースイッチ手段として筐体に収容したMOS FETを用い、このMOS FETとその駆動回路を収容した筐体を、上記検査用電極端子セットの固定電極端子と可動電極端子のそれぞれに隣接配置し、該固定電極端子と該可動電極端子に上記MOS FETをコネクタを介して接続させたことを特徴とするチップ電子部品検査選別装置。
- 上記コネクタが筐体の端面に備えられている請求項1に記載のチップ電子部品検査選別装置。
- 上記MOS FETが、ON抵抗が500mΩ以下、OFF容量が20pF以下のMOS FETである請求項1に記載のチップ電子部品検査選別装置。
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