JP2015531806A - 放射線硬化型用表面制御助剤ならびにその製造方法および応用 - Google Patents
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Abstract
Description
mは0〜400の整数、nは1〜500の整数である;
xは0〜800の整数、pは0〜600の整数、qは1〜800の整数である;
R4、R5はHまたはCH3である;
R6はHまたは炭素数1〜18の直鎖もしくは分岐鎖のアルキル基または炭素数2〜5のアシル基である。
前記成分Bは、次の構造式を有するアリルポリエーテルである;
前記成分Cはキノン系、フェノール系または芳香族アミン系重合禁止剤であり、添加量は全成分の0.01〜1wt%である;
前記成分Dは、アクリル酸アリルまたはメタクリル酸アリルである。
(2)全ブロック型:構造が、アリル基を先ず1種の酸化オレフィン単位(エチレンオキシドまたはプロピレンオキシド)に接続した後、さらに別の酸化オレフィン単位に接続するものである;
(3)混成ブロック型:構造が、アリル基を先ず2種の酸化オレフィンの混合単位に接続した後、さらにある種の単一の酸化オレフィン単位に接続する(または、順序が前記とは逆になる)ものである;
(4)全ヘテリック型:構造が、アリル基を先ず所定の割合の2種の酸化オレフィンの混合単位に接続した後、さらに割合が異なる同様の混合単位または割合が同じであるが酸化オレフィンが異なる混合単位と接続するものであり、両者がいずれも異なる混合単位である可能性もある。
窒素ガス保護下で、ヘキサメチルジシロキサン7.92重量部、水素含有シリコーンオイル202(SiH含有量は1.5%,国産)26.0重量部およびオクタメチルシクロテトラシロキサン66.08重量部を投入し、50〜60℃まで昇温し、10%トリフルオロメタンスルホン酸酢酸ブチル溶液0.88重量部を投入し、8時間保温した後、トリエチルアミン0.1重量部を投入して1時間中和した後、12時間静置し、ろ過し、自製のポリシロキサンA1を得た。生成物の平均構造式の一般式は次のとおりである。
窒素ガス保護下で、テトラメチルジシロキサン8.0重量部、水素含有シリコーンオイル202(SiH含有量は1.5%,国産)24.0重量部およびオクタメチルシクロテトラシロキサン68.0重量部を投入し、50〜60℃まで昇温し、10%トリフルオロメタンスルホン酸酢酸ブチル溶液0.88重量部を投入し、8時間保温した後、トリエチルアミン0.1重量部を投入して1時間中和した後、12時間静置し、ろ過し、自製のポリシロキサンA2を得た。平均構造式は次のとおりである。
窒素ガス保護下で、ヘキサメチルジシロキサン8.12重量部、水素含有シリコーンオイル202(SiH含有量は1.5%,国産)20.0重量部およびオクタメチルシクロテトラシロキサン71.88重量部を投入し、50〜60℃まで昇温し、10%トリフルオロメタンスルホン酸酢酸ブチル溶液0.88重量部を投入し、8時間保温した後、トリエチルアミン0.1重量部を投入して1時間中和した後、12時間静置し、ろ過し、自製のポリシロキサンA3を得た。平均構造式は次のとおりである。
四口フラスコに水素含有ポリシロキサンA1 41.37重量部および2%の塩化白金酸酢酸ブチル溶液0.06重量部を投入し、100℃まで昇温し、撹拌しながら2時間以内にアリルポリエーテル(Mw=600,PO:EO=3:1,末端はOCH3)48.46重量部を滴下し、100〜120℃で6時間保温し、SiH特徴ピークに明らかな変化がなくなった後、温度を60〜80℃まで下げ、ヒドロキノン0.04重量部を投入し、15分間撹拌した後、3時間以内にメタクリル酸アリル15重量部およびヒドロキノン0.06部の予混合物を滴加し、滴加終了後にSiHのIR特徴ピークが消失するまで保温を継続し、固形分(120℃)≧98%になるまで80℃で真空引きし、黄色の低粘液体、すなわち本発明の目的生成物を得た。図1は、この生成物の赤外スペクトルである。平均構造の一般式は次のとおりである。
四口フラスコに水素含有ポリシロキサンA2 37.56重量部および2%の塩化白金酸酢酸ブチル溶液0.06重量部を投入し、100℃まで昇温し、撹拌しながら2時間以内にアリルポリエーテル(Mw=570,PO:EO=1:3,すなわち末端はO(CH2)3CH3))51.13重量部を滴下し、100〜120℃で6時間保温し、SiHのIR特徴ピークに明らかな変化がなくなったら、温度を60〜80℃まで下げ、ヒドロキノン0.04部を投入し、15分間撹拌した後、3時間以内にメタクリル酸アリル15部およびヒドロキノン0.06部の予混合物を滴加し、滴加終了後にSiHのIR特徴ピークが消失するまで保温を継続し、固形分(120℃)≧98%になるまで80℃で真空引きし、黄色の低粘液体を得た。この生成物の平均構造の一般式は次のとおりである。
四口フラスコに水素含有ポリシロキサンA3 39.24重量部および2%の塩化白金酸酢酸ブチル溶液0.06重量部を投入し、100℃まで昇温し、撹拌しながら2時間以内にアリルポリエーテル(Mw=800,EO,末端はOCH3)52.29重量部を滴下し、100〜120℃で6時間保温し、SiHのIR特徴ピークに明らかな変化がなくなったら、温度を60〜80℃まで下げ、ヒドロキノン0.04重量部を投入し、15分間撹拌した後、3時間以内にメタクリル酸アリル10部およびヒドロキノン0.06部の予混合物を滴加し、滴加終了後にSiHのIR特徴ピークが消失するまで保温を継続し、固形分(120℃)≧96%になるまで80℃で真空引きし、黄色の低粘液体を得た。この生成物の平均構造の一般式は次のとおりである。
本発明の実施例で得られた表面制御助剤の性能を評価するため、一定の添加量でUV塗料に添加し、ブリキ板またはプラスチック基材に吹付け、UV硬化装置に入れて硬化させ、その均展、平滑度および塗膜平滑度の持久性を観察した。
消泡測定:目視,1は消泡が非常に迅速であったことを、2は消泡が迅速であったことを、3は消泡が普通であったことを、4は消泡が比較的遅かったことを、5は消泡が遅かったことを示す;
均展測定:目視,1は塗膜が連続し、平坦であったことを、2は塗膜が比較的連続していたが、よく観察すると少し平坦でない部分があったことを、3は塗膜表面があまり滑らかでなく、縞があったことを、4は塗膜にゆず肌模様、みかん肌現象があったことを、5は塗膜に引け巣があったことを示す;
平滑度測定:触感測定,1は塗膜が非常に滑らかであり、触感に阻害がなかったことを、2は塗膜の触感にある程度の抵抗力があったことを、3は塗膜が一般に滑らかで、触感があまりよくなかったことを、4は塗膜が滑らかでなく、触感が悪かったことを、5は塗膜の触感の抵抗力が大きく、滑らかな感じがなかったことを示す。
Claims (8)
- 次の構造式を有することを特徴とする放射線硬化型用表面制御助剤:
mは0〜400の整数、nは1〜500の整数である。
xは0〜800の整数、pは0〜600の整数、qは1〜800の整数である。
R4、R5はHまたはCH3である。
R6はHまたは炭素数1〜18の直鎖もしくは分岐鎖のアルキル基または炭素数2〜5のアシル基である。) - R6はメチル基、エチル基、nーブチル基、イソブチル基またはアセチル基であることを特徴とする請求項1に記載の表面制御助剤。
- 先ず、成分Aと成分Bを反応器に入れ、全成分の0.02〜0.2wt%を占める2%の塩化白金酸酢酸ブチル溶液を触媒として投入し、100〜120℃で4〜8時間反応させ、ヒドロシリル化反応付加を行い、成分Bを成分Aにおける1〜90%のケイ素水素基と反応させ、次いで、反応系を60〜80℃まで降温し、成分Cおよび成分Dを加えて、Si−H基のIR特徴ピークが消失するまで2〜6時間さらに反応させ、成分Cの用量は全成分の0.01〜1wt%を占め、成分Dを成分Aにおける1〜90%のSi−H基と反応させ、最後に、70〜100℃の真空引きで揮発分を除去し、前記放射線硬化型用表面制御助剤を得るステップを含み、前記成分Aは、数平均分子量が200〜100000の水素含有ポリシロキサンであり、構造式は次のとおりであることを特徴とする請求項1または2に記載の放射線硬化型用表面制御助剤の製造方法。
前記成分Bは、次の構造式を有するアリルポリエーテルである。
前記成分Cはキノン系、フェノール系または芳香族アミン系重合禁止剤であり、添加量は全成分の0.01〜1wt%である。
前記成分Dは、アクリル酸アリルまたはメタクリル酸アリルである。) - 前記成分Aの数平均分子量は500〜20000であり、前記R6はメチル基、エチル基、ブチル基、イソブチル基またはアセチル基であり、前記成分Bの数平均分子量は300〜10000であることを特徴とする請求項3に記載の製造方法。
- 前記成分Aの数平均分子量は1000〜3000、前記成分Bの数平均分子量は400〜3000であることを特徴とする請求項4に記載の製造方法。
- 前記成分BのHLB値は1〜17であることを特徴とする請求項3〜5のいずれかに記載の製造方法。
- 前記成分Cはp−メトキシフェノール、ヒドロキノン、フェノチアジン、4−tert−ブチルピロカテコール、4−メトキシフェノールまたはジブチルヒドロキシトルエンであることを特徴とする請求項6に記載の製造方法。
- 前記表面制御助剤は、均展制御助剤として、UV/EB塗料またはインクに用いられることを特徴とする請求項1または2に記載の放射線硬化型用表面制御助剤の応用。
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