JP2015111623A - 実装ユニット - Google Patents
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- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 94
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 94
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims description 78
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 4
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 16
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 235000013372 meat Nutrition 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
【課題】電子部品をリードフレームに接合する接合部に欠けを生じ難くすることができる実装ユニットを提供する。【解決手段】実装ユニット3は、成形樹脂4と、成形樹脂4に支持されたリードフレーム5と、リードフレーム5に実装された電子部品6とを備える。リードフレーム5は、リードフレーム5の一方の経路を形成する第1リードフレーム13と、リードフレーム5の他方の経路を形成する第2リードフレーム14とを備える。一対のフレーム片15,16は、成形樹脂4に形成された空洞部7において、同じ辺20から延ばして配置される。フレーム片15,16は、例えば平行配置される。【選択図】図1
Description
本発明は、成形樹脂に支持されたリードフレームに電子部品が実装された実装ユニットに関する。
従来、一対のリードフレームに電子部品を実装するにあたって、両者の接合部に発生し得る機械的応力を緩和することができる接合構造が周知である(特許文献1等参照)。機械的応力は、例えばリードフレームを支持する成形樹脂の膨張や収縮により、リードフレームと電子部品とを接合するはんだ部に加わることが知られている。特許文献1は、リードフレームの所定部分を薄い板厚とすることによって、はんだ部に加わる機械的応力を緩和し、はんだ部に欠け(クラック)を発生し難くしている。
機械的応力は、例えばリードフレームの長さやリードフレームの配列パターンなどにより、膨張収縮方向が異なる。すなわち、リードフレームの形状や配列のパターンによって、はんだ部に加わる機械的応力の大きさは様々である。よって、リードフレームの所定部分を薄い板厚とするだけでは、十分な耐機械的応力を確保することができず、はんだ部の欠けに対する対策が十分でない問題があった。
本発明の目的は、電子部品をリードフレームに接合する接合部に欠けを生じ難くすることができる実装ユニットを提供することにある。
前記問題点を解決する実装ユニットは、成形樹脂と、当該成形樹脂に支持されたリードフレームと、前記リードフレームの複数のフレーム片のランドに電気接続された電子部品とを備えた構成において、複数の前記フレーム片を前記成形樹脂の同一辺に配置することにより、これらを並び配置した。
本構成によれば、電子部品が実装される複数のフレーム片を成形樹脂の同一辺から延ばすようにしたので、成形樹脂が膨張収縮したとき、複数設けられたフレーム片が、例えば互いに異なる方向に動いたり、ねじれ方向に動いたりする状況が生じ難くなる。このため、電子部品をフレーム片に接合する接合部に、欠けを誘発するような機械的応力が発生し難くなる。よって、電子部品がフレーム片から脱落する状況を生じ難くすることが可能となる。
前記実装ユニットにおいて、複数の前記フレーム片は、平行配置されていることが好ましい。この構成によれば、複数のフレーム片を平行配置したので、成形樹脂が膨張収縮したときには、膨張収縮の力が各フレーム片において同じ方向にかかる。すなわち、成形樹脂の膨張収縮時、接合部には、機械的応力が同一の方向に発生するので、機械的応力が接合部の欠けに寄与し難くなる。よって、成形樹脂の膨張収縮時、接合部を欠け難くするのに一層有利となる。
前記実装ユニットにおいて、前記成形樹脂には、前記ランドを当該成形樹脂に触れさせないように空洞部が形成されていることが好ましい。この構成によれば、成形樹脂に樹脂のない空洞部を設けたので、成形樹脂が膨張収縮したときには、膨張収縮の力がフレーム片に直にかかり難くなる。よって、接合部に発生する機械的応力を、より低く抑えることが可能となる。
前記実装ユニットにおいて、それぞれの前記フレーム片は、根元が前記成形樹脂に埋没され、当該根元に、相手側のフレーム片に接近するような延出部を設けることにより、相手との距離間隔が短く形成されていることが好ましい。この構成によれば、フレーム片の根元に、互いに接近する形状の延出部を設けたので、成形樹脂においてフレーム片の根元を支持する部分の樹脂量を減らすことが可能となる。このため、仮に成形樹脂が膨張収縮したとしても、フレーム片には、膨張収縮の力がかかり難くなる。よって、接合部に発生する機械的応力を、より低く抑えることが可能となる。
前記実装ユニットにおいて、前記成形樹脂は、前記フレーム片の根元を支持する支持部において、表と裏とが同じ厚さに形成されていることが好ましい。この構成によれば、成形樹脂においてフレーム片の根元を支持する支持部の厚さを、裏表ともに同じ厚みとしたので、成形樹脂が膨張収縮したとき、成形樹脂には、その厚み方向の表裏の一方に偏ってしまう力が発生し難くなる。よって、接合部に欠けを生じ難くするのに有利となる。
前記実装ユニットにおいて、前記成形樹脂には、前記フレーム片の根元を支持する支持部の隣に貫通孔が形成されていることが好ましい。この構成によれば、成形樹脂においてフレーム片の根元付近に貫通孔を形成したので、成形樹脂が膨張収縮したとき、膨張収縮の力をフレーム片にかけ難くすることが可能となる。よって、接合部に欠けを生じ難くするのに有利となる。
本発明によれば、電子部品をリードフレームに接合する接合部に欠けを生じ難くすることができる。
以下、実装ユニットの一実施形態を図1〜図8に従って説明する。
図1に示すように、例えばアンテナ装置等の機器1は、機器1の主部分をなす機器本体部2と、機器本体部2に取り付けられた実装ユニット3とを備える。機器本体部2は、例えばボビンにアンテナ線が複数周巻回されたアンテナ部品であることが好ましい。実装ユニット3は、成形樹脂4と、成形樹脂4に支持されたリードフレーム5と、リードフレーム5に実装された電子部品6とを備える。実装ユニット3は、例えばリードフレーム5が機器本体部2のアンテナ線に電気接続される。成形樹脂4及びリードフレーム5は、例えば樹脂成型によって一体形成される。
図1に示すように、例えばアンテナ装置等の機器1は、機器1の主部分をなす機器本体部2と、機器本体部2に取り付けられた実装ユニット3とを備える。機器本体部2は、例えばボビンにアンテナ線が複数周巻回されたアンテナ部品であることが好ましい。実装ユニット3は、成形樹脂4と、成形樹脂4に支持されたリードフレーム5と、リードフレーム5に実装された電子部品6とを備える。実装ユニット3は、例えばリードフレーム5が機器本体部2のアンテナ線に電気接続される。成形樹脂4及びリードフレーム5は、例えば樹脂成型によって一体形成される。
図2に示すように、成形樹脂4の例えば中央には、電子部品6の配置スペース(配置空間)となる空洞部7が貫設されている。空洞部7は、成形樹脂4の厚さ方向(図2のZ軸方向)に貫設された孔であることが好ましい。成形樹脂4には、空洞部7の隣位置において成形樹脂4の厚さ方向に貫通された貫通孔8が形成されることが好ましい。貫通孔8は、リードフレーム5を切断するのに使用される他、成形樹脂4に発生し得る幅方向(図2のY軸方向)の膨張収縮を抑制する役目もある。
成形樹脂4には、空洞部7を挟んで貫通孔8の反対側の位置に、リードフレーム5を切断するための肉抜き部9が形成されることが好ましい。なお、肉抜き部9の隣の円形状の肉抜き部10は、実装ユニット3を機器本体部2に組み付けるときの位置決め孔である。成形樹脂4の側部には、肉抜きにより凹部11が形成されている。成形樹脂4の底部にも、肉抜きにより凹部12が形成されている。
図3に示すように、リードフレーム5は、リードフレーム5の一方の経路を形成する第1リードフレーム13と、リードフレーム5の他方の経路を形成する第2リードフレーム14とを備えることが好ましい。第1リードフレーム13には、電子部品6が実装される複数(本例は2つ)のフレーム片15,16が突設されている。フレーム片15,16は、空洞部7に配置されることにより、成形樹脂4の壁面から離されて配置されることが好ましい。フレーム片15,16の先端にランド17,18が各々形成され、一対のランド17,18を橋渡しするように電子部品6が実装される。電子部品6は、例えばはんだ等の接合部19によってランド17,18に実装される。接合部19は、電子部品6を各ランド17,18に実装することにより、一対設けられる。
フレーム片15,16は、成形樹脂4の同一の辺20に配置されることにより、並び配置されている。辺20は、空洞部7の1内壁面であるともいえる。フレーム片15,16は、例えば平行配置されることが好ましい。フレーム片15,16を同一辺20から平行するように配置するのは、成形樹脂4が膨張収縮したとき、膨張収縮の力がフレーム片15,16に同じ方向(図3の矢印A方向や矢印B方向)でかかるようにするためである。
一方の第1フレーム片15には、成形樹脂4に埋没されている根元21において、他方の第2フレーム片16に向かって延びる第1延出部22が形成されることが好ましい。また、第2フレーム片16には、成形樹脂4に埋没されている根元23において、第1フレーム片15に向かって延びる第2延出部24が形成されることが好ましい。このように、第1延出部22及び第2延出部24を形成するのは、フレーム片15,16を支持する成形樹脂4の支持部25において樹脂体積を減らすことにより、支持部25の反りを抑えるためである。貫通孔8は、成形樹脂4において例えば支持部25の隣に配置される。
図4及び図5に示すように、成形樹脂4は、フレーム片15,16の根元21,23を支持する支持部25において、表と裏とが同じ厚さに形成されることが好ましい。すなわち、図4に示すように、支持部25の表側の厚さW1と裏側の厚さW2とが、同じ値に設定されるとよい。この厚さ関係に設定するのは、支持部25における成形樹脂4の厚さ方向の膨張収縮を少なく抑えるためである。
次に、図6〜図8を用いて、実装ユニット3の作用を説明する。
図6に、フレーム片15,16をフレーム片15,16の延設方向に対向配置した例を図示する。この配列パターンの場合、成形樹脂4が膨張(図6の矢印A’方向の力が発生する状態)、又は伸縮(図6の矢印B’方向の力が発生する状態)すると、膨張時及び収縮時の各シチュエーションにおいて、ベクトルが反対方向の機械的応力が接合部19に加わるので、接合部19に欠け(クラック)が発生し易くなると想定される。すなわち、接合部19に発生する機械的応力が大きいと言え、これは接合部19の接合状態に支障を来すと思われる。
図6に、フレーム片15,16をフレーム片15,16の延設方向に対向配置した例を図示する。この配列パターンの場合、成形樹脂4が膨張(図6の矢印A’方向の力が発生する状態)、又は伸縮(図6の矢印B’方向の力が発生する状態)すると、膨張時及び収縮時の各シチュエーションにおいて、ベクトルが反対方向の機械的応力が接合部19に加わるので、接合部19に欠け(クラック)が発生し易くなると想定される。すなわち、接合部19に発生する機械的応力が大きいと言え、これは接合部19の接合状態に支障を来すと思われる。
図7に、フレーム片15,16を90度傾き配置した例を図示する。この配列パターンの場合、成形樹脂4が膨張収縮すると、電子部品6ひいては接合部19に、ねじり方向(図7の矢印C方向)の応力が発生するので、このときも接合部19に欠け(クラック)が発生し易くなると想定される。すなわち、フレーム片15,16を90度傾き配置した配列パターンの場合も、成形樹脂4が膨張収縮したときには、接合部19に発生する機械的応力が大きいと言え、接合部19の接合状態に支障を来すと思われる。
図8に、フレーム片15,16を成形樹脂4の同一辺20から延ばして平行配置した例を図示する。この配列パターンの場合、成形樹脂4が膨張収縮したときに接合部19にかかる機械的応力の方向は同じベクトルの向きになる。すなわち、成形樹脂4が膨張したときは、フレーム片15,16には、ともに同図の矢印A方向の力がかかり、成形樹脂4が収縮したときは、フレーム片15,16には、ともに同図の矢印B方向の力がかかる。このため、成形樹脂4が膨張収縮しても、接合部19には、ベクトルが反対方向の力やねじりの力がかからないので、接合部19にかかる機械的応力が緩和される。よって、接合部19が欠け難くなり、接合部19の接合について信頼性が確保される。
本実施形態の構成によれば、以下に記載の効果を得ることができる。
(1)電子部品6が実装される一対のフレーム片15,16は、成形樹脂4の同じ辺20から延ばして配置される。これにより、成形樹脂4が膨張収縮したとき、これらフレーム片15,16が、例えば互いに異なる方向に動いたり、ねじれ方向に動いたりする状況が生じ難くなる。このため、電子部品6をフレーム片15,16に接合する接合部19に、欠けを誘発するような機械的応力が発生し難くなる。よって、電子部品6がフレーム片15,16から脱落する状況を生じ難くすることができる。
(1)電子部品6が実装される一対のフレーム片15,16は、成形樹脂4の同じ辺20から延ばして配置される。これにより、成形樹脂4が膨張収縮したとき、これらフレーム片15,16が、例えば互いに異なる方向に動いたり、ねじれ方向に動いたりする状況が生じ難くなる。このため、電子部品6をフレーム片15,16に接合する接合部19に、欠けを誘発するような機械的応力が発生し難くなる。よって、電子部品6がフレーム片15,16から脱落する状況を生じ難くすることができる。
(2)成形樹脂4の同一辺20に配置された一対のフレーム片15,16は、平行するように配置される。これにより、成形樹脂4が膨張収縮したときには、膨張収縮の力が各フレーム片15,16において同じ方向(図3や図8の矢印A方向や矢印B方向)にかかる。すなわち、成形樹脂4の膨張収縮時、接合部19には、機械的応力が同一方向に発生するので、機械的応力が接合部19の欠けに寄与し難くなる。よって、成形樹脂4の膨張収縮時、接合部19を欠け難くするのに一層有利となる。
(3)成形樹脂4に樹脂のない空洞部7を設けたので、成形樹脂4が膨張収縮したときには、膨張収縮の力がフレーム片15,16に直にかかり難くなる。よって、接合部19に発生する機械的応力を、より低く抑えることができる。
(4)フレーム片15,16の根元21,23には、互いに接近する形状を呈する第1延出部22及び第2延出部24が設けられる。これにより、フレーム片15,16の根元21,23を支持する成形樹脂4の支持部25は、樹脂量が少なく済む。このため、仮に成形樹脂4が膨張収縮したとしても、フレーム片15,16には、膨張収縮の力がかかり難くなる。すなわち、成形樹脂4の支持部25に反りを生じ難くすることができる。よって、接合部19に発生する機械的応力を、より低く抑えることができる。
(5)フレーム片15,16を支持する支持部25の樹脂量は、表側の厚さW1と裏側の厚さW2とが同じに設定されている。これにより、成形樹脂4が膨張収縮したとき、膨張収縮による力が、成形樹脂4の厚み方向の表裏の一方に偏って発生してしまうことがない。すなわち、成形樹脂4の高さ方向(図1や図3のZ軸方向)の膨張収縮を少なく抑えることができる。よって、接合部19を欠け難くするのに一層有利となる。
(6)成形樹脂4には、フレーム片15,16の根元21,23の付近に貫通孔8が形成される。これにより、成形樹脂4が膨張収縮したとき、成形樹脂4の幅方向の膨張収縮を少なく抑えることができる。よって、成形樹脂4の膨張収縮時、接合部19を欠け難くするのに一層有利となる。
なお、実施形態はこれまでに述べた構成に限らず、以下の態様に変更してもよい。
・接合部19は、はんだ部に限定されず、接合の方法に応じた他の部材に変更可能である。
・接合部19は、はんだ部に限定されず、接合の方法に応じた他の部材に変更可能である。
・成形樹脂4の材質は、種々のものが採用可能である。
・リードフレーム5の形状、個数、配置位置、配列パターンなどは、適宜変更してもよい。
・リードフレーム5の形状、個数、配置位置、配列パターンなどは、適宜変更してもよい。
・電子部品6は、例えばキャパシタやICなどの種々の素子を採用可能である。
・フレーム片15,16が並設される成形樹脂4の一辺は、孔の壁面であることに限定されず、成形樹脂4に存在する壁であれば、どこでもよい。
・フレーム片15,16が並設される成形樹脂4の一辺は、孔の壁面であることに限定されず、成形樹脂4に存在する壁であれば、どこでもよい。
・フレーム片15,16は、きっちりと平行配置されることに限らず、若干傾いていてもよい。
・電子部品6及びフレーム片15,16の組は、複数組み設けてもよい。
・電子部品6及びフレーム片15,16の組は、複数組み設けてもよい。
・空洞部7は、貫通した孔に限らず、底を有する穴でもよい。
・貫通孔8は、省略することも可能である。
・成形樹脂4の形状は、実施形態以外の他の形状に変更可能である。すなわち、孔や突などが成形樹脂4のどこに形成されていてもよい。
・貫通孔8は、省略することも可能である。
・成形樹脂4の形状は、実施形態以外の他の形状に変更可能である。すなわち、孔や突などが成形樹脂4のどこに形成されていてもよい。
・実装ユニット3は、種々の機器や装置に適用可能である。
3…実装ユニット、4…成形樹脂、5…リードフレーム、6…電子部品、7…空洞部、8…貫通孔、13…第1リードフレーム、14…第2リードフレーム、15,16…フレーム片、17,18…ランド、19…接合部、20…辺(同一辺)、21,23…根元、22…延出部(第1延出部)、24…延出部(第2延出部)、25…支持部、
Claims (6)
- 成形樹脂と、当該成形樹脂に支持されたリードフレームと、前記リードフレームの複数のフレーム片のランドに電気接続された電子部品とを備えた実装ユニットにおいて、
複数の前記フレーム片を前記成形樹脂の同一辺に配置することにより、これらを並び配置した
ことを特徴とする実装ユニット。 - 複数の前記フレーム片は、平行配置されている
ことを特徴とする請求項1に記載の実装ユニット。 - 前記成形樹脂には、前記ランドを当該成形樹脂に触れさせないように空洞部が形成されている
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の実装ユニット。 - それぞれの前記フレーム片は、根元が前記成形樹脂に埋没され、当該根元に、相手側のフレーム片に接近するような延出部を設けることにより、相手との距離間隔が短く形成されている
ことを特徴とする請求項1〜3のうちいずれか一項に記載の実装ユニット。 - 前記成形樹脂は、前記フレーム片の根元を支持する支持部において、表と裏とが同じ厚さに形成されている
ことを特徴とする請求項1〜4のうちいずれか一項に記載の実装ユニット。 - 前記成形樹脂には、前記フレーム片の根元を支持する支持部の隣に貫通孔が形成されている
ことを特徴とする請求項1〜5のうちいずれか一項に記載の実装ユニット。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013253103A JP2015111623A (ja) | 2013-12-06 | 2013-12-06 | 実装ユニット |
CN201480066038.7A CN105793981A (zh) | 2013-12-06 | 2014-11-27 | 安装单元 |
PCT/JP2014/081300 WO2015083596A1 (ja) | 2013-12-06 | 2014-11-27 | 実装ユニット |
EP14868131.5A EP3079169A4 (en) | 2013-12-06 | 2014-11-27 | Mounting unit |
US15/033,273 US20160293527A1 (en) | 2013-12-06 | 2014-11-27 | Mounting unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013253103A JP2015111623A (ja) | 2013-12-06 | 2013-12-06 | 実装ユニット |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015111623A true JP2015111623A (ja) | 2015-06-18 |
Family
ID=53273359
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013253103A Pending JP2015111623A (ja) | 2013-12-06 | 2013-12-06 | 実装ユニット |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20160293527A1 (ja) |
EP (1) | EP3079169A4 (ja) |
JP (1) | JP2015111623A (ja) |
CN (1) | CN105793981A (ja) |
WO (1) | WO2015083596A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7265443B2 (ja) * | 2019-07-31 | 2023-04-26 | 日本航空電子工業株式会社 | 配線板組立体 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59144154A (ja) * | 1983-02-07 | 1984-08-18 | Hitachi Ltd | 樹脂封止形電子装置 |
JPH10261847A (ja) * | 1997-03-19 | 1998-09-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品搭載用放熱基板 |
JP2002374058A (ja) * | 2001-06-13 | 2002-12-26 | Yazaki Corp | 電子部品の実装構造 |
JP2011151368A (ja) * | 2009-12-24 | 2011-08-04 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 射出成形基板と実装部品との取付構造 |
JP2011228335A (ja) * | 2010-04-15 | 2011-11-10 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6339191B1 (en) * | 1994-03-11 | 2002-01-15 | Silicon Bandwidth Inc. | Prefabricated semiconductor chip carrier |
TW200614548A (en) * | 2004-07-09 | 2006-05-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Light-emitting device |
JP4640214B2 (ja) | 2006-02-28 | 2011-03-02 | 株式会社デンソー | 電子部品の接続構造 |
JP5293469B2 (ja) * | 2009-07-13 | 2013-09-18 | 大日本印刷株式会社 | 半導体装置用複合配線部材および樹脂封止型半導体装置 |
-
2013
- 2013-12-06 JP JP2013253103A patent/JP2015111623A/ja active Pending
-
2014
- 2014-11-27 US US15/033,273 patent/US20160293527A1/en not_active Abandoned
- 2014-11-27 EP EP14868131.5A patent/EP3079169A4/en not_active Withdrawn
- 2014-11-27 WO PCT/JP2014/081300 patent/WO2015083596A1/ja active Application Filing
- 2014-11-27 CN CN201480066038.7A patent/CN105793981A/zh active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3079169A1 (en) | 2016-10-12 |
EP3079169A4 (en) | 2017-07-19 |
US20160293527A1 (en) | 2016-10-06 |
CN105793981A (zh) | 2016-07-20 |
WO2015083596A1 (ja) | 2015-06-11 |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A02 | Decision of refusal |
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