JP2015053271A - 保護装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】過電流および過電圧を効果的に防止する。【解決手段】基板、導電部分および第1補助媒体を含む保護装置を提供する。導電部分は基板によって支持され、この導電部分は第1電極と第2電極との間に電気的に接続された金属素子を備える。金属素子は、第1および第2電極の融点よりも低い融点を有する犠牲構造として機能する。補助媒体は金属素子と基板との間に配置され、該補助媒体は金属素子の融点よりも低い融点を有する。補助媒体は、金属素子の融解時の破断を促進する。【選択図】図1A

Description

本発明は、電子機器に適用される保護装置および特に過電流および過電圧を防止することができる保護装置に関する。
近年、情報技術(IT)開発の時流により、携帯電話、コンピュータおよび個人情報端末のようなIT製品はありふれている。それらによって、食品、衣類、住居、旅行、教育および娯楽といったさまざまな側面での要望が満たされており、人々はますますIT製品に依存している。しかしながら、最近、充電および放電中における、携帯用電子製品のバッテリーの爆発に関する報道があった。それ故、業界は、過電圧または過電流が原因で、充電および放電中にバッテリーが爆発しないように、バッテリーの充電および放電中に用いられる保護手段を強化している。
従来の技術によって提供される保護装置の保護方法によれば、保護装置の温度ヒューズはバッテリー回路と直列接続され、保護装置の温度ヒューズおよびヒーターは、例えば電界効果トランジスタ(FET)および集積回路(IC)といった制御装置に電気的に接続されている。このようなやり方では、ICが過電圧を検知すると、このICはFETを作動させるため、温度ヒューズを融解させるまで加熱する電流がヒーターに流れるように、それによってバッテリー回路を非接続とし、過電圧から保護する。加えて、過電流が生じたときには、温度ヒューズに大量の電流が流れ、温度ヒューズが融解し、それによってバッテリー回路を非接続とし、過電流からの保護がなされる。
本発明の目的は、過電流および過電圧を効果的に防止する、保護装置を提供することにある。
一態様において、本発明は、電気回路の保護装置を提供する。該保護装置は、第1電極と第2電極との間に電気的に接続された金属素子を有する導電部分を支持する基板、および金属素子と基板との間に配置された補助媒体を備え、金属素子は、第1および第2電極の融点よりも低い融点を有する犠牲構造として機能し、補助媒体は金属素子の融解時の破断を促進して、電気回路を過電圧および/または過電流から保護する。保護装置には、基板に支持された発熱素子を設けることができ、少なくとも補助媒体に対して熱を与える。発熱素子は金属素子と基板との間に支持させる、または、基板の発熱素子とは反対側に支持させることができる。
本発明の他の実施形態において、保護装置は更に金属素子と基板との間に配置される中間支持部(例えば、もう1つの電極)を備え、補助媒体は中間支持部の少なくとも一方の側面に配置する。中間支持部は更に、金属素子の融解時の破断を促進し、電子回路を保護する。中間支持部は、もしあれば、発熱素子によって熱を与えられる。
本発明の実施形態において、保護装置は金属素子と基板との間に配置される第1中間層(例えば、はんだ層)を更に備え、中間層は金属素子の融点よりも低い第1融点を有する。第1中間層は、更に金属素子と溶融し、金属素子の融解時の破断を促進し、電気回路を保護する。更に、第1融点よりも低い融点を有する第2中間層(例えば、もう1つのはんだ層)を金属素子と第1および第2電極との間に設けることができる。
本発明の更なる実施形態において、保護装置は、金属素子と第1および第2電極との間に位置する断熱部分を更に有し、中間支持部への熱伝達速度が第1および第2電極への熱伝達速度よりも高い。
本発明の更なる実施形態において、少なくとも第1電極が、金属素子に向かって延在する突起部を備え、該突起部によって融解した金属素子と更に接触させ、金属素子の溶融時の破断を促進し、回路を保護する。
本発明の実施形態において、本発明は、基板、第1電極、第2電極、補助媒体および金属素子を備えた保護装置を提供する。第1電極は、基板上に配置し、第2電極は、基板上に配置する。補助媒体は、基板上および第1電極と第2電極との間に配置する。金属素子は、第1および第2電極と接続し、補助媒体は基板と金属素子との間に配置する。
本発明の実施形態において、保護装置は、第3電極、第4電極、および発熱素子を更に備える。第3電極は、基板の第3周辺部上に配置する。第4電極は、基板の第4周辺部上に配置する。発熱素子は基板上に配置し、第3電極と第4電極との間に配置する。
本発明の実施形態において、保護装置は、基板の第1表面上に配置され、かつ金属素子を覆うハウジングを更に備える。
本発明の実施形態において、中間支持部は、金属素子と接続した中間支持部の表面上にノッチ構造を備える。
本発明の実施形態において、基板は、第1断熱ブロックおよび第1断熱ブロックと接続させた第2断熱ブロックを有し、第1断熱ブロックの熱伝導係数が第2断熱ブロックの熱伝導係数よりも大きい。
上記のように、本発明の保護装置には補助媒体を配置し、この補助媒体を金属素子と発熱素子との間に配置する。ゆえに、発熱素子が熱を発生させたとき、第1補助媒体270は、金属素子280の融解を促進する。更に、保護装置の第1電極および第2電極の少なくとも1つは突起部を有する。従って、発熱素子が熱を発生させたとき、効率的に熱せられる補助媒体が金属素子の融解を促進し、融解した金属素子が表面張力によって突起部に向かって流出し、突起部が融解した金属素子の流出領域および付着領域を増大させ、延在部分と電極とを電気的に接続する融解した金属によって短絡が生ずるのを防止することができる。加えて、本発明の保護装置は低熱伝導層を有し、発熱素子が熱を発生させたとき、その熱を、基板を介して集中的に第3電極に伝達することができるため、第3電極の上方に位置する金属素子の融解量を低減し、過電圧保護または過電流保護を達成することができる。
本発明の、上述のおよび他の特徴および特長をわかりやすくするために、いくつかの実施形態を図面と共に以下に詳細に記載する。
添付図面を本発明の更なる理解のために含め、また本明細書に加えてその一部とする。図面は本発明の実施形態を例示し、図面の説明と共に本発明の原理を説明するのに役立つ。
本発明の実施形態による保護装置の概略上面図である。 図1Aの保護装置の概略底面図である。 断面線I〜Iに沿った図1Aの保護装置の概略横断面図である。 断面線II〜IIに沿った図1Aの保護装置の概略横断面図である。 図1Aの金属素子の他の構造を示す図である。 本発明の実施形態による保護装置の製造工程を例示する上面図である。 本発明の実施形態による保護装置の製造工程を例示する上面図である。 本発明の実施形態による保護装置の製造工程を例示する上面図である。 図3A〜図3Cの保護装置の製造工程を例示する概略底面図である。 図3A〜図3Cの保護装置の製造工程を例示する概略底面図である。 図3A〜図3Cの保護装置の製造工程を例示する概略底面図である。 本発明の実施形態による保護装置の概略略上面図である。 図5Aの保護装置の概略底面図である。 断面線I〜I’に沿った図5Aの保護装置の概略横断面図である。 断面線II〜II’に沿った図5Aの保護装置の概略横断面図である。 本発明の実施形態による保護装置の概略上面図である。 図6Aの保護装置の概略底面図である。 断面I〜I’に沿った図6Aの保護装置の概略横断面図である。 本発明の実施形態による保護装置の概略上面図である。 図7Aの保護装置の概略底面図である。 断面I〜I’に沿った図7Aの保護装置の概略横断面図である。 断面II〜II’に沿った図7Aの保護装置の概略横断面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の概略上面図である。 図8Aの保護装置の概略底面図である。 断面III〜III’に沿った図8Aの保護装置の概略横断面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。 破断後の図9Aの保護装置の概略横断面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。 本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。 本発明の更に他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。 本発明の更に他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。
本発明の好適な実施形態を詳細に記し、その実施形態を添付図面に例示する。可能な限り、同じ参照番号を、図面中および説明中において、同一のまたは同様の部分を示すために用いる。
図1A〜図1Dを参照するに、本発明の実施形態において、保護装置200を提供する。本発明の保護装置200は、基板210、第1電極220、第2電極230、第3電極240、第4電極250、発熱素子260、第1補助媒体270、および導電部分を含む。第1電極220、第2電極230、第3電極240および第4電極250は、それぞれ基板210上に配置されている。ここで、導電部分は基板210に支持され、第1電極220と第2電極230との間に電気的に接続される金属素子280を含む。
詳細には、本実施形態において、基板210は、中央部分Cと、この中央部分Cを囲む、第1周辺部212、第2周辺部214、第3周辺部216および第4周辺部218を有する。第1周辺部212は、第2周辺部214に対応して配置され、第3周辺部216は、第4周辺部218に対応して配置される。第1電極220、第2電極230、第3電極240および第4電極250は、それぞれ、第1周辺部212、第2周辺部214、第3周辺部216および第4周辺部218上に配置される。基板210は、第1表面S1、および、第1表面S1と反対側の第2表面S2を有する。第1電極220、第2電極230、第3電極240および第4電極250は、第1表面S1から第2表面S2まで延在する。しかしながら、本発明はこの構成に限定されるものではなく、第1表面S1もしくは第2表面S2上での各々の電極の割り当て、または、各々の電極の有無は、必要に応じて決定される。別の実施形態において、第4電極250は、第2表面S2上のみに配置することができる。
更にまた、本実施形態によれば、中間支持部242、第3電極240の第2延在部244は、それぞれ第1表面S1および第2表面S2上に配置することができ、それぞれ中央部分C上の位置まで延在させることができる。本実施形態によれば、中間支持部242および第2延在部244は、それぞれ2つの平面上に配置する。これら2つの平面はほぼ平行であるが互いに重ならない。第4電極250の第3延在部252は、第2表面S2上に配置され、中央部分C上の位置まで延在する。中間支持部242、第2延在部244および第3延在部252は、それぞれ第1電極220と第2電極230との間に配置される。加えて、中間支持部242の形状は本発明において限定されず、中間支持部を電極との接触がない基板上で独立した部分とすることができ、金属素子の融解時の破断を促進するために良好な熱伝導率を有する材料を含むということに留意すべきである。
基板210の材料は、セラミック(例えばアルミナ)、ガラスエポキシ樹脂、酸化ジルコニウム(ZrO)、窒化ケイ素(Si)、窒化アルミニウム(AlN)、窒化ボロン(BN)または他の無機材料等を含む。第1電極220、第2電極230、第3電極240および第4電極250の材料は、例えば、銀、銅、金、ニッケル、銀白金合金、ニッケル合金および良好な電気伝導率を有する他の材料とする。
発熱素子260は、第2表面S2上に配置され、第2延在部244と第3延在部252との間に接続され、第3電極240の中間支持部242は、発熱素子260の上方に配置される(図1Cに示す)。発熱素子260の材料は、二酸化ルテニウム(RuO)、無機付着剤中にドープすることができるカーボンブラック、銅、チタン、ニッケルクロム合金およびニッケル銅合金等を含む。更に、発熱素子260を、その後の製造プロセス、周囲環境の湿度、酸度およびアルカリ度による影響から守るために、発熱素子260はフリット付着剤製またはエポキシ樹脂製の断熱層290によって覆う。
第1補助媒体270は、基板210の第1表面S1上および中間支持部242の周囲に配置され、第1補助媒体270は金属素子280と基板210の間に配置する。詳細には、本実施形態によれば、第1補助媒体270は、第1電極220、第2電極230、および中間支持部242の中に充填される。特に、第1補助媒体270は、第1電極220、中間支持部242、および基板210によって形成される第1トレンチR1の中に充填すると共に、第2電極230、中間支持部242、および基板210によって形成される第2トレンチR2の中に充填する。言い換えれば、第1補助媒体270は中間支持部242の両側に配置される。第1補助媒体270は、金属素子280の融点よりも低い融点を有し、第1補助媒体270は金属素子280の融解時の破断を促進する。第1補助媒体270は、樹脂、松脂等でできている。
金属素子280は、第1電極220、中間支持部242および第2電極230の上方に配置され、第1補助媒体270の一部を覆い、第1補助媒体270および中間支持部242は共に、発熱素子260と金属素子280との間に配置され、第1補助媒体270の融点は金属素子280の融点よりも低い。ゆえに、制御素子(例示せず)が過電圧状態を検出し、発熱素子260を作動させ、金属素子280を飛ばす(blow)ための熱を発生させると、補助媒体270は、金属素子280に覆われ、また第1電極220、第2電極230、および中間支持部242によって囲まれるため、補助媒体270は、補助媒体270の上方に配置した金属素子280を効果的に飛ばしやすくし、これにより保護装置の過電圧保護がなされる。言い換えれば、本実施形態の補助媒体270は保護装置200に組み込まれるため、補助媒体270は、金属素子280の融解および流出を容易にし、金属素子280の飛ばしを促進する。第1補助媒体270の利点は、融解した金属素子280が各々の電極上に流れて集まることができるように、融解した金属素子280と各々の電極との間のぬれ性を増大させ、融解した金属素子280自体の凝集力を高め、金属素子280を効果的に飛ばすことができることにある。
金属素子280の材料は、錫鉛合金、錫銀鉛合金、錫インジウムビスマス鉛合金、錫アンチモン合金、錫銀銅合金および低融点を有する他の合金を含む。更に、他の実施形態では、補助媒体F(図2に示す)を、金属素子280a内に埋め込んで、金属素子280aを熱によって飛ばしやすくすることができる。本発明は、過電圧保護および過電流保護を同時になすために、発熱素子を有する保護装置を用いて記載されるが、金属素子280の効果的に飛ばすことの安定性を高めるために、金属素子280の下方に第1補助媒体270を配置することをも、発熱素子を有さない構造に対しても適用して、過電流が生じ金属素子280が熱によって融解されるときに、金属素子280を飛ばすことの安定性を高めることができるということは、当業者であれば理解できるという点に留意されたい。
本実施形態では、補助媒体270が金属素子280を融解しやすくするため、金属素子280の断面積の補助媒体270と各電極との全接触領域に対する割合を適切に調節して、金属素子の飛ばしの良好な安定性を得ることが必要とされる。例えば、金属素子280の断面積の補助媒体270と各電極との間の全接触領域に対する割合は1.3未満とすることができる。特に、保護装置のサイズを小さくしてサージ保護要件は変わらないままとする場合は、補助媒体270と各電極との全接触領域を調整して、よりよい形態とすることができる。例えば、本実施形態では、金属素子280の断面積は、金属素子280中の電流方向に対して垂直な部分の面積(図1Dに示す部分)である。補助媒体270と各電極との間の全接触領域とは、それぞれが、第1電極220、中間支持部242、および第2電極230と接触している第1トレンチR1および第2トレンチR2内の補助媒体270の全表面領域(図1Aおよび図1Cに示す)のことをいう。
更に、補助媒体270は、融解した金属素子280と各電極との間のぬれ性も凝集力も増大させるため、金属素子280が飛ばされたときに、融解した金属素子280は、第1電極220、第2電極230、および中間支持部242上に集まりこれにより融解した金属が、中間支持部242、第1電極220または第2電極230を短絡するのを防止する。このようにして、更に確実に、過電圧および過電流を防止するために金属素子280を効率的に飛ばすことができる。要するに、金属素子280の断面積の補助媒体270と各電極との全接触領域に対する割合を1.3未満にすると、金属素子280を効果的に飛ばすことの信頼性が向上する。
保護装置200の製造方法を以下に詳述する。図3A〜図3Cは、本発明の1つの実施形態による保護装置を製造するための工程を例示する上面図であり、図4A〜図4Cは、図3A〜図3Cの保護装置の底面図である。図1A〜図1Dにおける各要素は、図3A〜図3Cおよび図4A〜図4Cにおけるものと同一の名称、同一の符号により表されるが、類似した素材をも表す点に留意されたい。従って、本願明細書においては詳細な説明を繰り返さない。
最初に、図3Aおよび図4Aに示すように、第1表面S1およびその反対側に第2表面S2を有する、基板210を準備する。第1電極220、第2電極230、第3電極240および第4の電極250を、基板210の上に形成し、かつ第1表面S1から第2表面S2まで延在させる。電極は、印刷、電気めっき、スパッタリングまたは他の手段によって形成する。
本実施形態では、第3電極240の中間支持部242および第2延在部分244をそれぞれ、第1表面S1および第2表面S2の上に配置する。第4電極250の第3延在部分252も第2表面S2上に配置さする。中間支持部242、第2延在部分244、および第3延在部分252はそれぞれ、第1電極220と第2電極230との間に配置する。
次に、図4Bおよび図4Cに示すように、発熱素子260を基板210の第2表面S2上に形成し、第2延在部分244および第3延在部分252に、例えば、厚膜印刷により電気的に接続する。その後、発熱素子260を、その後の製造プロセス、周囲環境の湿度、酸度およびアルカリ度による影響から守るために、発熱素子260を、断熱層290によって被覆する。
次いで、図3Bに示すように、第1電極220、第2電極230、および第3電極240の中間支持部242の上に、例えばコーティングすることによって、中間層としてのはんだ層Dを形成する。その後、補助媒体270を、第1電極220と、第2電極230と、中間支持部242との間に、基板210の上に、例えばコーティングにより形成する。はんだ層Dの素材は、錫−鉛合金、錫−銀合金、金、銀、錫、鉛、ビスマス、インジウム、ガリウム、パラジウム、ニッケル、銅、それらの合金、および他の金属素材を含み、はんだ層Dは、融解したはんだ層Dと金属素子280との間の表面張力を低減させると共に、金属素子280を膨張させて確実に飛ばすために、更に10%〜15%の補助媒体を含むことができる。しかしながら、他の実施形態では、金属素子280は、第1電極220、第2電極230、および中間支持部242に、はんだ層Dを配置することなく、超音波溶着技術を用いて固定させることができる。更に、他の実施形態では、はんだ層Dの材料が、はんだ合金と、例えば10〜15%の補助媒体材料とを含む場合に、第1補助媒体270の形成は、補助媒体材料を軟化して、第1電極220と、第2電極230と、中間支持部242との間を基板210に流れるように、はんだ層Dを加熱する(例えば120°C以上)工程を含む。補助媒体材料の量が不十分な場合には、第2補助媒体(例示せず)を選択的に加えることができる。
その後、図3Cに示すように、金属素子280を、補助媒体270が金属素子280と基板210との間に挟まれるように、第1電極220、第2電極230、および第3電極240の中間支持部242上に、はんだ層Dを介して配置する。特に、はんだ層Dは金属素子280の融点よりも低い融点を有する。これにより、基板210の下方の発熱素子260が熱を発生させるときに、基板210の上方の補助媒体270は、この補助媒体の上方に配置された金属素子280を融解しやすくする。
図5A〜図5Dには、本発明の他の実施形態の保護装置200aを示している。本実施形態の保護装置200aは、図1A〜図1Dの保護装置200と類似しているが、保護装置200aの、発熱素子260、第2延在部244、第3延在部分252、および断熱層290の全てを、基板210の第1表面S1上に配置する点が、主な相違点である。
詳細には、第2延在部分244および第3延在部分252は、第1表面S1上で、第1電極220と第2電極230との間に配置する。発熱素子260は、第2延在部244と第3延在部252との間に配置し、断熱層290は、発熱素子260、第2延在部244および第3延在部252を覆う。第3電極240の中間支持部242は、断熱層290上にまで延びて位置する。補助媒体270は、断熱層290で、中間支持部242の周囲に配置する。金属素子280は、第1補助媒体270が金属素子280と断熱層290との間に配置されるように、第1電極220および第2電極230に渡って、補助媒体270および中間支持部242を覆う。従って、発熱素子260が熱を発生させると、金属素子280を融解させるように、補助媒体270および断熱層290を経て金属素子280へ熱が伝達される。このように、金属素子280に直接接触している補助媒体270は金属素子280の融解を容易にする。本実施形態によれば、中間支持部242および第2延在部244を、ほぼ平行であるが互いに重ならない2つの平面上にそれぞれ配置する(図5Cおよび図5Dに示す)。
更に、保護装置200aの製造方法は、図1A〜図1Dに示した保護装置200の製造方法(図3A〜図3Cおよび図4A〜図4Cに示す)と類似しているが、保護装置200aの製造方法において、第2延在部分244、第3延在部分252、発熱素子260、および断熱層290を、基板210の第1表面S1上に形成する工程が最初に施され、その後断熱層290の上または上方に延在して位置する中間支持部242を形成させる工程が施される点が、相違点である。それから、補助媒体270を中間支持部242の周囲に形成し、第1電極220、中間媒体270、中間支持部242、および第2電極230を覆う金属素子280を形成する。
図6A〜図6Cは、本発明の実施形態の保護装置300aを示す。図6A〜図6Cの保護装置300aは、図1A〜図1Dに示した保護装置200と類似しているが、図6A〜図6Cの保護装置300aでは、第1電極320は第1突起部322を有し、第2突起部330は第2電極330を有する点が、主な相違点である。
より詳細には、第1突起部322および第2突起部332の両方が中間支持部342および第3電極340の間に配置され、距離Lが第1突起部322と第2突起部332との間に存在する。本実施形態において、距離Lは0.1mm〜0.4mmであることが好ましく、第1電極320と第2電極330との短絡を避けることができる。
本発明の実施形態によれば、第1電極320および第2電極330は、それぞれ、第1突起部322および第2突起部332を有するため、融解した金属素子380は表面張力の影響を受けて、第1突起部322および第2突起部330に向かって流れる。言い換えれば、第1突起部322および第2突起部332は、融解した金属素子380の流出領域および付着領域を増大させる。ゆえに、融解した金属素子380は、第1電極320と中間支持部342との間、または第2電極330と中間支持部342との間に、滞留または残存しないため、短絡現象を防止することができる。
加えて、第1電極320および第2電極330の形状は、本発明において限定されないということに留意されたい。第1電極320および第2電極330は、それぞれの一部として、第1突起部322および第2突起部332を有するが、第1電極320および第2電極330は、本明細書に示されない他の実施形態によれば、単一のまたは複数の突起部を有することができる。この実施形態も、本発明を適用することのできる技術的範囲に属し、ゆえに本発明の範囲内にある。
図7Aは、本発明の実施形態による保護装置の概略上面図である。図7Bは、図7Aの保護装置の概略底面図である。図7Cは、図7Aの断面I〜I’に沿った概略横断面図である。図7Dは、図7Aの断面II〜II’に沿った概略横断面図である。本発明のもう実施形態によれば、図7A〜図7Dの保護装置300bは図6A〜図6Cの保護装置300aと類似しているが、図7A〜図7Dの保護装置300bが、第1電極320、第2電極330、第2電極330および中間支持部342の上に中間層を有し、この中間層は金属素子380の融点よりも低い融点を有する点が、主な相違点である。
詳細には、中間層が、金属素子380と中間支持部342との間にある第1中間層382、および第1電極320と第2電極330との間に配置する第2中間層384を有する。ゆえに、発熱素子360が熱を発生させ、第1補助媒体370、金属素子380、および中間層の全てを融解状態とするとき、融解した金属素子380は、融解状態にある中間層および補助媒体370によってぬれ効果を有し、表面張力の影響を受け第1突起部322および第2突起部332に向かって流れる。言い換えれば、融解状態の中間層および補助媒体370により、融解した金属素子380が第1電極320と中間支持部342との間、または第2電極330と中間支持部342との間に滞留または残存しないため、短絡現象を防止することができる。従って、保護装置300bの信頼性は更に向上する。
加えて、中間層ははんだ材料、例えば、錫−鉛合金、錫/銀合金(96.5%錫、3.5%銀)、または、金、銀、錫、鉛、ビスマス、インジウム、ガリウム、パラジウム、ニッケルといった金属、または銅とすることができ、はんだ材料には更にフラックスを含めることができる。本実施形態では、第1中間層382および第2中間層384は、それぞれ第1融点を有する第1はんだ層および第2融点を有する第2はんだ層を含む。
特に、本発明の実施形態によれば、金属素子380の融点を第2中間層384の融点よりも高くし、第2中間層384の融点を保護装置300cが回路板(例示せず)上に集まる際の温度(集合物の融点)よりも高くする。更に、金属素子380の融点を第2中間層384の融点よりも高くし、第2中間層384の融点を第1中間層382の融点よりも高くする。
本発明の実施形態によれば、第1中間層382の融点は第2中間層384の融点よりも低い。そのため、発熱素子360が熱を発生させるときに、第1中間層382を金属素子380と溶融し、金属素子380の融点が低下し、金属素子380の融解時間が低減される。詳細には、第1中間層382の融点が、第2中間層384の融点を保護装置300cが回路板(例示せず)上に集まる際の温度(集合物の融点)よりも低い場合、保護装置300c上において第1中間層382が集まる際、第1中間層382が最初に金属素子380と溶融し、金属素子380の融点が低下し、金属素子380の融解時間を低減させる。加えて、高い融点を有する第2中間層384を第1電極320上および第2電極330上に形成し、保護装置300cが回路版(例示せず)に集まる際に、第2中間層384の融解による金属素子380の移動を防止することができ、集合後の抵抗が影響を受けないようにする。
図8A〜図8Cに示すように、本発明の実施形態によれば、図8A〜図8Cの保護装置300dは図6A〜図6Cの保護装置300aと類似しているが、図8A〜図8Cの保護装置300dでは、発熱素子360、第2延在部分344、および第3延在部分352に全てが基板310の第1表面S1上に配置する点が、主な相違点である。
より具体的には、本実施形態によれば、第2延在部分344および第3延在部分352を第1電極320および第2電極330の間に配置し、発熱素子360を基板310の第1表面S1上に配置すると共に、第2延在部分344および第3延在部分352と電気的に接続する。断熱層390を中間支持部342と第2延在部分344および第3延在部分352との間に、すなわち中間支持部342を断熱層390の一方の表面に配置し、第2延在部分344および第3延在部分352を断熱層390の反対側の表面に配置する。特に、断熱層390上の、中間支持部342、第2延在部分344および第3延在部分352の正投影が重ならない。
更に、補助媒体370を断熱層390の上に配置すると共に、中間支持部342と第1電極320との間、および中間支持部342と第2電極330の間に配置する。金属素子380によって第1電極320の一部、補助媒体370、中間支持部342、および第2電極330を覆い、補助媒体370を金属素子380と断熱層390との間に配置する。従って、発熱素子360が熱を発生させたとき、熱は断熱層390を介して補助媒体370および金属素子380に導通され、金属素子380を融解させる。一方、金属素子380と直接接触する補助媒体370も金属素子380の融解を促進する。
図9Aは、本発明の実施形態による保護装置の概略横断面図である。図9Bは、破断後の図9Aの保護装置の概略横断面図である。本実施形態において、図9Aの保護装置400aは図1A〜図1Dの保護装置200aと類似しているが、図9Aの400aが、第1断熱層510を更に有する点が、主な相違点である。
より詳細には、保護装置400aの第1断熱層510は、基板410の第1表面S1に配置され、第1低熱伝導部分512および第1低熱伝導部分512と非接触の第2低熱伝導部分514を有する。ここで、第1低熱伝導部分512を発熱素子460と第1電極420との間に位置付け、第2低熱伝導部分514を発熱素子460と第2電極430との間に位置付け、補助媒体470により第1断熱層510の少なくとも一部を覆う。具体的には、第1低熱伝導部分512を基板410と第1電極420との間に位置付け、第2低熱伝導部分514を基板410と第2電極430との間に位置付ける。第1スペースD1を第1低熱伝導部分512と第2低熱伝導部分514との間に存在させ、第3電極440の中間支持部442を基板410上の第1スペースD1に配置する。ここで、第1断熱層510の材料を、例えば、ガラス材料または高分子材料とする。第1断熱層510の熱伝導係数を基板410の熱伝導係数よりも小さくし、第1断熱層510の熱伝導係数を2W/(m・K)とすることが好ましい。例えば、ガラス材料を、SiO、Na、B、MgOまたはCaO、等とすることができる。例えば、ガラス材料の熱伝導係数は、1W/(m・K)〜1.5W/(m・K)である。高分子材料は、例えば、ポリウレタン(PU)、ポリイミド、エポキシ樹脂または紫外線硬化性樹脂である。高分子材料の熱伝導係数は0.19W/(m・K)〜0.6W/(m・K)である。
特に、基板410の熱伝導係数は、第1断熱層510の熱伝導係数よりも大きい。すなわち、第1断熱層510と比較して基板410は高熱伝導性層とみなし、発熱素子460によって発生された熱を基板410の中心部を直接通過させることができ、中間支持部442へ迅速に伝達させることができる。確かに、基板410および第1断熱層510を同一材料で作り、すなわち、基板410を低熱伝導性層とみなすことができる。しかしながら、基板410の厚さおよび第1断熱層540の厚さの合計を、実質的に基板410の厚さより大きくする。従って、発熱素子460によって発生された熱を、直接基板410の中心部を通過させることができるため、中間支持部442へ迅速に伝達させることができ、その後、中間支持部442上に配置した金属素子480を最初に融解して、図9Bに示すように、電気回路を過電圧および/または過電流から保護する。言い換えれば、基板410の材料を、本実施形態の効果に影響させることなく、実施要件に従って選択することができる。
本実施形態の保護装置400aは、第1断熱層510を有する。従って、発熱素子460が熱を発生させ、その熱を、基板410を通じて電極へ伝えるときに、発熱素子460によって発生された熱の一部は、第1断熱層510によって阻まれ、第1電極420および第2電極430に与えられる熱が低減され、発熱素子460によって発生された熱の残りは、第3電極440を通じて金属素子480に直接伝導され、第3電極440の上方に位置する金属素子480を飛ばす。すなわち金属素子480の融解量を低減させることができる。結果的に、融解した金属素子480の付着領域は、融解した金属素子480の付着領域を、効果的に制御して安定した融解時間と融解条件をつくり、発熱素子460と第3電極440との間の調整誤差を低減することができ、過電圧保護および過電流保護を得る。
他の実施形態において、金属素子480の溶融解量が低減するため、過電圧保護時における保護装置400aの作動時間が低減し、また、中間支持部442と第1電極420を、または、中間支持部442と第2電極430を、電気的に接続する融解した金属素子480によって生じた短絡現象を軽減する。このことにより、保護装置400aの信頼性も向上する。更に、中間支持部442を、第1低熱伝導部分512と第2低熱伝導部分514との間に存在する第1スペースD1に配置させるため、補助媒体470は中間支持部442の周辺部へ効果的に充填することができる。ゆえに、中間支持部442は、金属素子480を融解させるための融解時間の安定性を確保するために、より良好なぬれ効果を有することができる。
図10は、本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。本実施形態によれば、図10の保護装置400bは図9Aの防護装置400aに類似しているが、図10の保護装置400bの中間支持部442’の電極設計が異なっているという点が、主な相違点である。
詳細には、中間支持部442’の一部は、第1スペースD1’上に位置付け、中間支持部442’の残りの部分は第1低熱伝導部分512上および第2低熱伝導部分514上に位置付ける。具体的には、本実施形態では、第1スペースD1’の距離は第1スペースD1の距離よりも大きく、電極を製作する間に重力によって、中間支持部442’中にノッチ構造Cが製造される。すなわち、中間支持部442’は、第1スペースD1’に位置するノッチ構造Cを有し、同じスペースに三次元構造を形成することができる。ゆえに、融解した金属素子480の付着領域を増大させることができる。更に、ノッチ構造Cを第1補助媒体470によって充填し、中間支持部442’が融解した金属素子480を吸着するためのより良好な吸着性を有するようにすることもできる。
図11は、本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。本実施形態によれば、図11の保護装置400cは図9Aの保護装置400aと類似しているが、図9Aの保護装置400cにおいては、発熱素子460、第2延在部444および第3延在部452の全てが基盤410の第1表面S1上に配置され、また保護装置400cが第2断熱層550aを更に含むという点が、主な相違点である。ここで、第2断熱層520aの熱伝導係数は、第1断熱層510aの熱伝導係数よりも大きい。
より具体的には、本実施形態では、第2延在部分444および第3延在部分452を、第1電極420と第3電極440との間に配置し、発熱素子460を基板410の第1表面上に位置づけると共に、第2延在部分444および第3延在部分452に接続する。特に、基板410の第1表面S1上の、中間支持部442、第2延在部分444および第3延在部分452、の正投影が重ならない。
更に、本実施形態における保護装置400cの第2断熱部分520aは、発熱素子460と第3電極430の中間支持部442との間に配置する。ここで、第1低熱伝導部分512aを第2低熱伝導部分514aに接続し、発熱素子460を第2断熱層520aと第1断熱層510aとの間に位置付ける。具体的には、本実施形態における第1断熱層510aは、第3低熱伝導部分516aおよび第4低熱伝導部分518aを更に含む。第3低熱伝導部分516aを第1低熱伝導部分512aに接続すると共に、第3延在部分452まで延ばし、第4低熱伝導部分518aを第2低熱伝導部分514aに接続すると共に、第2延在部分444まで延ばす。本実施形態において、第2スペースD2は第3低熱伝導部分516aと第4低熱伝導部分518aとの間に存在し、第2断熱層520aの一部は第3低熱伝導部分516a上および第4低熱伝導部分518a上に配置される。加えて、発熱素子460によって発生された熱の大部分を、中間支持部442に伝達するために、第2断熱層520aの熱伝導係数を、第1断熱層510aの熱伝導係数の数倍大きくすることが好ましい。例えば、第2断熱層520aの材料をセラミック材料、例えば、Al、BN、AlNとすることができる。ここでAlの熱伝導係数は28W/(m・K)〜40W/(m・K)であり、BNの熱伝導係数は50W/(m・K)〜60W/(m・K)であり、AlNの熱伝導係数は160W/(m・K)〜230W/(m・K)である。第2断熱層520aの熱伝導係数は、8W/(m・K)〜80W/(m・K)とすることが好ましい。
保護装置400cの第2断熱層520aは中間支持部442と発熱素子460の間に位置する。従って、発熱素子460が熱を発生させたとき、発熱素子460によって発生された熱の大部分が中間支持部442へ直接伝達され、中間支持部442上に位置する金属素子480が迅速に飛ばされ、金属素子480の融解量を低減し、回路を遮断して効果的な過電圧保護または過電流保護がなされる。
図12は、本発明の他の実施形態による保護装置の断面図である。保護装置は図12の400dは、図12の第1断熱層510bおよび保護装置400dの第2断熱層520bが異なった位置に配置される点を除き、図11の保護装置400cと類似している。
詳細には、第3低熱伝導部分516bおよび第4低熱伝導部分518bは第2断熱層520bに配置され、第2スペースD2’は第3低熱伝導部分516bと第4低熱伝導部分518bとの間に存在し、中間支持部442は第2スペースD2’に配置される。本実施形態における保護装置400dは、第1断熱層510bと第2断熱層520bを同時に有する。従って、発熱素子460が熱を発生させたとき、発熱素子460によって発生された熱の一部は第3低熱伝導部分516bおよび第4低熱伝導部分518bによって阻まれ、これにより第3低熱伝導部分516bおよび第4低熱伝導部分518bの上方に位置する金属素子480へ伝達される熱量を減少させることができる。他の実施形態において、発熱素子460によって発生される熱の残りの部分は、第2断熱層520bおよび中間支持部442を介して金属素子480へ直接伝達され、中間支持部442の上方に位置する金属素子480を飛ばすことができる。結果的に、金属素子480の融解量を低減し、保護装置400dの過電圧保護時の作動時間を減らし、過電圧保護または過電流保護を同時に達成することができる。
図13は、本発明の他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。本実施形態によれば、図13の保護装置400eは、図13の保護装置400eの基板410aが図9Aの保護装置400aと異なっている点を除いて、図9Aの保護装置400aと類似している。
詳細には、本実施形態の基板410aは、第1の断熱ブロック412aおよび第1断熱ブロックに412aに接続している第2断熱ブロック414aを有する。ここで、第2断熱ブロック414aは第1断熱ブロック412aを囲み、第1断熱ブロック412aおよび第2断熱ブロック414aはほぼ同一平面上にある。中間支持部442は第1断熱ブロック412a上に位置付けられ、第1電極420および第2電極430は第2断熱ブロック414a上に位置する。補助媒体470は、基板410aの第1表面S1上に配置し、中間支持部442と第1電極420との間、および中間支持部442と第2電極430との間に位置付ける。ここで、補助媒体470は、第2断熱ブロック414a一部を覆う。特に、第1の断熱ブロック412aの熱伝導係数は、第2断熱ブロック414aの熱伝導係数よりも大きくする。
具体的には、本実施形態において、第1断熱ブロック412aの材料は、例えば、セラミック材料である。セラミック材料は、例えば、Al、BNまたはAlNである。第1断熱ブロック412aの熱伝導係数は、8W/(m・K)〜40W/(m・K)であることが好ましい。他の実施形態において、第2断熱ブロック414aの材料は、例えば、ガラス材料または高分子材料である。例えば、ガラス材料はSiO、Na、B、MgO、CaO等とすることができ、高分子材料はポリウレタン(PU)、ポリイミド、エポキシ樹脂または紫外線硬化性樹脂とすることができる。第2断熱ブロック414aの熱伝導係数は、2W/(m・K)未満とすることが好ましい。
発熱素子460は第1の断熱ブロック412a上に位置する。従って、発熱素子460が熱を発生させたときに、発熱素子460によって発生された熱の大部分は、第1断熱ブロック412aを介して中間支持部442へ直接伝達され、中間支持部442上に位置する金属素子480は迅速に飛ばされ、金属素子480の融解量が低減され、過電圧保護および過電流保護を得る。
図14は、本発明の更に別の実施形態による保護装置の概略横断面図である。本実施形態では、図14の保護装置400fは、図14の保護装置400fの基板410bの、第1断熱ブロック412bおよび第2断熱ブロック414bが実質的に同一平面上でない点を除いて、図13の保護装置400eと類似している。
詳細には、第1断熱ブロック412bの厚さを第2断熱ブロック414bの厚さよりも小さくし、第1断熱ブロック412bを第2断熱ブロック414bとノッチVとで囲む。中間支持部442の一部はノッチVに位置づけると共に、第1断熱ブロック412b上に位置付け、中間支持部442の他の部分は第2断熱ブロック414bに位置付ける。具体的には、本実施形態において、ノッチVは第1断熱ブロック412bと第2断熱ブロック414bの間に存在するため、電極の製作工程の間、ノッチ構造C’が重力により中間支持部442において形成される。従って、中間支持部442という同じスペースに三次元構造を形成し、融解した金属素子480の付着領域を増大させることができる。更に、ノッチ構造C’を補助媒体470で充填し、中間支持部442が融解した金属素子480を吸着するためのより良好な吸着性を有するようにすることができる。
図15は、本発明の更に他の実施形態による保護装置の概略横断面図である。本実施形態では、図15の保護装置400gは図9Aの保護装置400aと類似しているが、図15の保護装置400gはハウジング装置495を含む点が、相違点である。詳細には、ハウジング装置495を基板410の第1表面S1に配置さし、金属素子480を保護するために金属素子480を覆い、融解した金属素子480、補助媒体470、および中間層485が溢れ出すことによって生じる回路干渉といった問題を防止する。ここで、ハウジング装置495の材料は、例えば、アルミナ、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ナイロン、熱硬化性樹脂、紫外線硬化性樹脂またはフェノールホルムアルデヒド樹脂を含む。
上記実施形態は、実施形態の例示であることに留意されたい。本明細書に示されない他の実施形態において、当業者は、実施要件に従って上記構成要素を選択し、またはそれらを組み合わせて、所望の技術的効果を得ることができる。上述からみて、以下の請求項およびそれらに相当するものの範囲内にあるならば、本発明の修正変更を、本発明に包含させることを目的とする。
一態様において、本発明は、電気回路の保護装置を提供する。該保護装置は、基板と、該基板によって支持された導電部分であって、第1電極と第2電極との間に電気的に接続された金属素子を備え、該金属素子は第1および第2電極の融点よりも低い融点を有する犠牲構造として機能する、導電部分と、金属素子の融点よりも低い融点を有し、金属素子の融解時の破断を促進する第1補助媒体と、少なくとも第1補助媒体に熱を与える発熱素子と、金属素子と基板との間に配置され、発熱素子に結合された電極の延長部分を有する中間支持部と、を備え、第1電極および第2電極のうちの少なくとも一方は、金属素子の方へ延在する突起部を有する

Claims (12)

  1. 基板と、
    該基板によって支持された導電部分であって、第1電極と第2電極との間に電気的に接続された金属素子を備え、該金属素子は前記第1および第2電極の融点よりも低い融点を有する犠牲構造として機能する、導電部分と、
    前記金属素子と前記基板との間に配置され、前記金属素子の融点よりも低い融点を有し、前記金属素子の融解時の破断を促進する第1補助媒体と、
    前記基板の前記金属素子側とは反対側で支持され、少なくとも前記第1補助媒体に熱を与える発熱素子と、
    前記金属素子と前記基板との間に配置され、前記発熱素子に結合された電極の延長部分を有する中間支持部と、を備える
    保護装置。
  2. 前記第1補助媒体は前記中間支持部の少なくとも一方の側に配置される、請求項1に記載の保護装置。
  3. 前記金属素子と前記中間支持部との間に第1中間層を更に備え、該第1中間層は前記金属素子の融点よりも低い第1融点を有する、請求項2に記載の保護装置。
  4. 前記金属素子と前記第1および第2電極の間に第2中間層を更に備え、該第2中間層は前記第1中間層の融点よりも高い第2融点を有する、請求項3に記載の保護装置。
  5. 前記第1中間層は前記第1融点を有する第1はんだ材料を備え、前記第2中間層は前記第2融点を有する第2はんだ材料を備える、請求項4に記載の保護装置。
  6. 前記基板によって支持され、少なくとも前記中間支持部に熱を与える発熱素子を更に備える、請求項2に記載の保護装置。
  7. 前記発熱素子は、前記金属素子と前記基板との間に支持される、請求項6に記載の保護装置。
  8. 前記発熱素子は、前記基板の前記金属素子側とは反対側で支持される、請求項6に記載の保護装置。
  9. 前記発熱素子と、前記第1および第2電極との間に断熱部を更に備え、前記中間支持部への熱伝達速度が、前記第1および第2電極への熱伝達速度よりも高い、請求項6に記載の保護装置。
  10. 少なくとも前記第1電極は、前記金属素子の方へ延在する突起部を有し、該突起部は融解した前記金属素子と追加的に接触する、請求項1に記載の保護装置。
  11. 前記中間支持部は、前記金属素子と接触するノッチ構造を備える、請求項1に記載の保護装置。
  12. 前記基板は前記第1電極および前記第2電極の下方に第1断熱ブロックおよび第2断熱ブロックを備え、前記第1断熱ブロックの熱伝導係数は前記第2断熱ブロックの熱伝導係数よりも大きい、請求項1に記載の保護装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019026904A1 (ja) * 2017-08-01 2019-02-07 ショット日本株式会社 保護素子

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8021788B2 (en) * 2006-05-22 2011-09-20 Lg Chem, Ltd. Secondary battery having electrode for improvement of stability during overcharge
JP5130232B2 (ja) * 2009-01-21 2013-01-30 デクセリアルズ株式会社 保護素子
US9025295B2 (en) * 2009-09-04 2015-05-05 Cyntec Co., Ltd. Protective device and protective module
JP5351860B2 (ja) * 2009-09-04 2013-11-27 乾坤科技股▲ふん▼有限公司 保護装置
JP5260592B2 (ja) * 2010-04-08 2013-08-14 デクセリアルズ株式会社 保護素子、バッテリ制御装置、及びバッテリパック
JP5844669B2 (ja) * 2012-03-26 2016-01-20 デクセリアルズ株式会社 保護素子
JP6249600B2 (ja) * 2012-03-29 2017-12-20 デクセリアルズ株式会社 保護素子
DE102012211861A1 (de) * 2012-07-06 2014-01-09 Brose Fahrzeugteile Gmbh & Co. Kg, Würzburg Schutzvorrichtung und elektrische Antriebsanordnung
JP6081096B2 (ja) * 2012-08-01 2017-02-15 デクセリアルズ株式会社 保護素子及びバッテリパック
JP6324684B2 (ja) * 2013-08-21 2018-05-16 デクセリアルズ株式会社 保護素子
JP2015041546A (ja) * 2013-08-22 2015-03-02 デクセリアルズ株式会社 保護素子
JP6343201B2 (ja) * 2014-08-04 2018-06-13 デクセリアルズ株式会社 短絡素子
KR101684083B1 (ko) * 2015-03-31 2016-12-07 울산대학교 산학협력단 과전류 보호용 마이크로 퓨즈 및 그 제조 방법
JP6959964B2 (ja) * 2016-03-23 2021-11-05 デクセリアルズ株式会社 保護素子
JP6580504B2 (ja) 2016-03-23 2019-09-25 デクセリアルズ株式会社 保護素子
JP7010706B2 (ja) * 2018-01-10 2022-01-26 デクセリアルズ株式会社 ヒューズ素子
TWI731801B (zh) * 2020-10-12 2021-06-21 功得電子工業股份有限公司 保護元件及其製作方法
JP2022142545A (ja) * 2021-03-16 2022-09-30 デクセリアルズ株式会社 保護素子及びバッテリパック
JP2023127740A (ja) * 2022-03-02 2023-09-14 デクセリアルズ株式会社 保護素子

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5439846A (en) * 1977-05-28 1979-03-27 Knudsen Nordisk Elect Fuse and method of manufacture thereof
JPS6231853U (ja) * 1985-08-09 1987-02-25
JPS6243440U (ja) * 1985-09-04 1987-03-16
JPH08161990A (ja) * 1994-11-30 1996-06-21 Sony Chem Corp 保護素子及びその製造方法
WO2000019472A1 (fr) * 1998-09-28 2000-04-06 Hokuriku Electric Industry Co., Ltd. Fusible sur puce et son procede de fabrication
JP2000260280A (ja) * 1999-03-08 2000-09-22 Nec Kansai Ltd 保護素子およびその製造方法
JP2000306477A (ja) * 1999-04-16 2000-11-02 Sony Chem Corp 保護素子
JP2001325868A (ja) * 2000-05-17 2001-11-22 Sony Chem Corp 保護素子
JP2002343223A (ja) * 2001-05-10 2002-11-29 Koa Corp ヒューズ素子
JP2004185960A (ja) * 2002-12-03 2004-07-02 Kamaya Denki Kk 回路保護素子とその製造方法

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62107341A (ja) 1985-11-06 1987-05-18 Fujitsu Ltd クロツク制御方式
JPS62136231A (ja) 1985-12-11 1987-06-19 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 燃焼排ガス中の水銀除去方法
JPS62107341U (ja) * 1985-12-25 1987-07-09
JP3209354B2 (ja) 1991-12-17 2001-09-17 コーア株式会社 熱溶断ヒユーズ及びその製造方法
JP2790433B2 (ja) 1993-08-31 1998-08-27 ソニー株式会社 保護素子及び回路基板
US5712610C1 (en) 1994-08-19 2002-06-25 Sony Chemicals Corp Protective device
JPH09213184A (ja) 1996-02-01 1997-08-15 Takuo Nakajima 温度ヒューズ
DE19704097A1 (de) 1997-02-04 1998-08-06 Wickmann Werke Gmbh Elektrisches Sicherungselement
US5939969A (en) 1997-08-29 1999-08-17 Microelectronic Modules Corporation Preformed thermal fuse
JP3552539B2 (ja) 1998-06-19 2004-08-11 エヌイーシー ショット コンポーネンツ株式会社 抵抗付温度ヒューズ
JP3640146B2 (ja) 1999-03-31 2005-04-20 ソニーケミカル株式会社 保護素子
JP2001057139A (ja) 1999-08-18 2001-02-27 Uchihashi Estec Co Ltd 電子・電気機器用プロテクタ−及びその製造方法
JP4301474B2 (ja) 1999-10-18 2009-07-22 エヌイーシー ショット コンポーネンツ株式会社 保護素子
JP2001222938A (ja) 2000-02-09 2001-08-17 Nec Schott Components Corp 保護素子
JP2001325869A (ja) 2000-05-17 2001-11-22 Sony Chem Corp 保護素子
US7385475B2 (en) 2002-01-10 2008-06-10 Cooper Technologies Company Low resistance polymer matrix fuse apparatus and method
JP4159861B2 (ja) 2002-11-26 2008-10-01 新日本無線株式会社 プリント回路基板の放熱構造の製造方法
JP2004214033A (ja) 2002-12-27 2004-07-29 Sony Chem Corp 保護素子
JP2004265617A (ja) 2003-02-05 2004-09-24 Sony Chem Corp 保護素子
EP1645646B1 (en) 2003-05-29 2011-10-05 Panasonic Corporation Temperature fuse element, temperature fuse and battery using the same
JP2005129352A (ja) 2003-10-23 2005-05-19 Nec Schott Components Corp 抵抗付き温度ヒュ−ズ
JP4297431B2 (ja) 2003-10-23 2009-07-15 エヌイーシー ショット コンポーネンツ株式会社 合金型温度ヒューズおよびそれを用いた保護装置
JP2005197005A (ja) 2003-12-26 2005-07-21 Fuji Xerox Co Ltd 可動体表面の温度過昇防止素子、並びに、これを用いた温度過昇防止装置および温度制御素子
JP4207877B2 (ja) 2004-10-04 2009-01-14 ソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社 保護回路
CN100517546C (zh) 2005-07-14 2009-07-22 科伦电器股份有限公司 具有双电路架构的表面黏着型保险丝及其制法
JP2007087934A (ja) * 2005-08-24 2007-04-05 Canon Inc 電子源及び画像表示装置
JP4742844B2 (ja) * 2005-12-15 2011-08-10 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置の製造方法
US7557434B2 (en) * 2006-08-29 2009-07-07 Denso Corporation Power electronic package having two substrates with multiple electronic components
JP4663760B2 (ja) 2007-08-20 2011-04-06 内橋エステック株式会社 二次電池用保護回路
CN101399100A (zh) 2007-09-25 2009-04-01 乾坤科技股份有限公司 热敏电阻芯片及其制造方法
TW200926239A (en) 2007-12-12 2009-06-16 hong-zhi Qiu Microchip fuse structure and its manufacturing method
JP5117917B2 (ja) 2008-04-21 2013-01-16 デクセリアルズ株式会社 保護素子及びその製造方法
JP5072796B2 (ja) 2008-05-23 2012-11-14 ソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社 保護素子及び二次電池装置
TWM363673U (en) 2009-04-24 2009-08-21 Chun-Chang Yen Structure of surface mount resistor fuse
TWM363674U (en) 2009-04-24 2009-08-21 Chun-Chang Yen Structure of lead type resistor fuse
JP5351860B2 (ja) * 2009-09-04 2013-11-27 乾坤科技股▲ふん▼有限公司 保護装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5439846A (en) * 1977-05-28 1979-03-27 Knudsen Nordisk Elect Fuse and method of manufacture thereof
JPS6231853U (ja) * 1985-08-09 1987-02-25
JPS6243440U (ja) * 1985-09-04 1987-03-16
JPH08161990A (ja) * 1994-11-30 1996-06-21 Sony Chem Corp 保護素子及びその製造方法
WO2000019472A1 (fr) * 1998-09-28 2000-04-06 Hokuriku Electric Industry Co., Ltd. Fusible sur puce et son procede de fabrication
JP2000260280A (ja) * 1999-03-08 2000-09-22 Nec Kansai Ltd 保護素子およびその製造方法
JP2000306477A (ja) * 1999-04-16 2000-11-02 Sony Chem Corp 保護素子
JP2001325868A (ja) * 2000-05-17 2001-11-22 Sony Chem Corp 保護素子
JP2002343223A (ja) * 2001-05-10 2002-11-29 Koa Corp ヒューズ素子
JP2004185960A (ja) * 2002-12-03 2004-07-02 Kamaya Denki Kk 回路保護素子とその製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019026904A1 (ja) * 2017-08-01 2019-02-07 ショット日本株式会社 保護素子
JP2019029244A (ja) * 2017-08-01 2019-02-21 ショット日本株式会社 保護素子
KR20190141719A (ko) * 2017-08-01 2019-12-24 쇼트 니혼 가부시키가이샤 보호 소자
KR102373602B1 (ko) * 2017-08-01 2022-03-14 쇼트 니혼 가부시키가이샤 보호 소자

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