JP2014531590A - Icテスト用ソケット装置 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 75
- 238000007667 floating Methods 0.000 claims description 20
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- 239000011295 pitch Substances 0.000 abstract 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 8
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 3
- XVIZMMSINIOIQP-UHFFFAOYSA-N 1,2-dichloro-3-(2-chlorophenyl)benzene Chemical compound ClC1=CC=CC(C=2C(=CC=CC=2)Cl)=C1Cl XVIZMMSINIOIQP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000001684 chronic effect Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0441—Details
- G01R1/0466—Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
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- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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Abstract
Description
特に、IC端子ピッチ(Lead Pitch)が0.4mm以下、つまり0.35mm、0.30mmなどの次世代狭ピッチICをテストするためには、ICの端子(lead)をソケットボードに電気的に繰り返して正確に連結させることが重要であるが、従来のソケット構造においてはテスト効率の低下などの深刻な問題点が発生しており、よって本発明では0.4mm以下の狭ピッチICにも効果的にテストすることができるソケット装置に関するものである。
より正確に、ICのICボール(ball)2をソケットコンタクトの上側ピン13の上側定位置から外れないように一対一で位置させ、通常コンタクトの上側ピン13がICボールと接触した状態で0.3mmに圧縮されるまでICを押し付けて確かな電気的接触を成すようにした後、テストすることになる。
まとめれば、ソケットコンタクトの上側ピン13の中心の定位置に位置して電気的に連結されるべきICのボール2が定位置から0.15mm以上外れることがあり、ボール(ball)の直径が最小0.20mmの場合、ボールの外径部がソケットコンタクトの上側ピンの中央から0.05mmだけ外れることがある。
また、本発明の目的は、0.4mm以下の狭ピッチ端子を持つ次世代ICを正確にテストすることができるICテスト用ソケット装置を提供することである。
好ましくは、本発明において、ソケット胴体の上部に設けられる上側プレートの上側に突出した多数のスプリングコンタクトの上端部をガイドして保護するために多数の遊動ガイドホールが形成されたピンガイドプレートが設けられ、ICインサートは、多数のスプリングコンタクトの上端部がIC端子に正確に案内されて定位置で電気的に接触するように多数のスプリングコンタクトガイドホールが形成されることを特徴とするものである。
したがって、この明細書に開示した実施例及び図面に示した構成は本発明の好適な一実施例に過ぎなく、本発明の技術的思想を全部代弁するものではないので、本出願の時点でこれらと取り替えることができる多様な均等物及び変形例があり得ることを理解しなければならない。
まとめれば、従来のソケットにはコンタクトピンの突出部を定位置にガイドする手段がないが、本発明のピンガイドプレートを備えたソケットはコンタクトピンの突出部を定位置にガイドする手段をソケットに備え、ICの端子(例えば、Ball)がソケットのコンタクトの上側ピンと定位置で接触するようにICインサートの下側にソケットピンガイドプレートを備えることにより、ソケットコンタクトの上側ピンの損傷や破損及びICの損傷や破損を防止し、ひいてはICテスト収率を向上させる手段を提供する。
図6は本発明によるICテスト用ソケット装置の分解状態を示す断面図、図7は図6のB部の詳細図である。
2、7 IC端子
40 インサート胴体
60 ガイドプレート
63 ガイドホール
64 端子収容部
66 スプリングコンタクトガイドホール
200、400、600 ピンガイドプレート
310、510、710 下側プレート
320、520、720 上側プレート
301 スプリングコンタクト
303 スプリングコンタクト下側ピン
306 上側ピン突出部
307 上側ピン突出部端部
Claims (18)
- 上端部と下端部がそれぞれICの端子とソケットボードと電気的に接触する多数のスプリングコンタクトを含むICテスト用ソケット装置において、
多数のスプリングコンタクトが垂直に定着固定されるソケット胴体と;
弾性体を介して前記ソケット胴体の上部に組み立てられ、前記スプリングコンタクトの上端部のそれぞれが対応して貫通突出するように多数の遊動ガイドホールが形成されたピンガイドプレートと;
ICが上部から挿入されて定着固定され、前記スプリングコンタクトの上端部のそれぞれが対応して貫通突出するように多数のスプリングコンタクトガイドホールが形成され、前記ピンガイドプレートの上部に組み立てられるICインサートと;を含むことを特徴とする、ICテスト用ソケット装置。 - 前記ICインサートは、
ICが上部から挿入収容されるIC収容ホールが形成されたインサート胴体と;
前記スプリングコンタクトガイドホールが形成され、前記インサート胴体の下部で前記IC収容ホールを覆うように前記インサート胴体に組み立てられるガイドプレートと;を含むことを特徴とする、請求項1に記載のICテスト用ソケット装置。 - 前記遊動ガイドホールの下側開口部は、前記遊動ガイドホールの直径より大きな第1導入口を持つことを特徴とする、請求項1に記載のICテスト用ソケット装置。
- 前記スプリングコンタクトガイドホールの下側開口部は、前記スプリングコンタクトガイドホールの直径より大きな第2導入口を持つことを特徴とする、請求項1または2に記載のICテスト用ソケット装置。
- 前記スプリングコンタクトガイドホールの上側開口部は、前記スプリングコンタクトガイドホールの直径より大きな端子収容部を持つことを特徴とする、請求項1または2に記載のICテスト用ソケット装置。
- 前記端子収容部は、前記スプリングコンタクトガイドホールの二つ以上の開口部が互いに連結されて共通した端子収容部によって提供されることを特徴とする、請求項5に記載のICテスト用ソケット装置。
- 前記端子収容部は、ICに設けられた多数の端子パターンによってブロックまたはライン形状を持つことを特徴とする、請求項6に記載のICテスト用ソケット装置。
- 前記ピンガイドプレートの縁部に第1傾斜面が形成され、
前記ガイドプレートの下部には前記ピンガイドプレートの第1傾斜面と係合する第2傾斜面が形成され、前記ピンガイドプレートが定着されるように内側に凹んでいる接触面を持つことを特徴とする、請求項2に記載のICテスト用ソケット装置。 - 前記ガイドプレートと前記ピンガイドプレートは、対向組立面にそれぞれガイドピンとこのガイドピンが挿入されるガイドホールが形成され、前記ガイドプレートと前記ピンガイドプレートは定位置で組み立てられることを特徴とする、請求項2または8に記載のICテスト用ソケット装置。
- 前記ガイドピンとガイドホールは傾斜面が形成されて係合されることを特徴とする、請求項9に記載のICテスト用ソケット装置。
- 前記ソケット胴体は上部に第1係合部材が設けられ、前記ピンガイドプレートは上部に前記第1係合部材と係合する第2係合部材が設けられ、前記ソケット胴体と前記ピンガイドプレートは定位置で組み立てられることを特徴とする、請求項1に記載のICテスト用ソケット装置。
- 前記ソケット胴体と前記ピンガイドプレートのいずれか一方に係止突起が備えられ、互いにフック締結されることを特徴とする、請求項1または11に記載のICテスト用ソケット装置。
- 前記ソケット胴体と前記ピンガイドプレートはボルトで締結されることを特徴とする、請求項1に記載のICテスト用ソケット装置。
- 前記ソケット胴体は、下側プレートと、この下側プレートの上部に組み立てられる上側プレートとを含み、
前記下側プレートには、前記スプリングコンタクトの下端のそれぞれが対応して貫通突出するように、多数の第1貫通遊動孔が形成され、前記上側プレートには、前記スプリングコンタクトの上端のそれぞれが対応して貫通突出するように、多数の第2貫通遊動孔が形成されることを特徴とする、請求項1に記載のICテスト用ソケット装置。 - 前記インサート胴体とガイドプレートは互いにボルトで締結されることを特徴とする、請求項2に記載のICテスト用ソケット装置。
- 前記インサート胴体とガイドプレートのいずれか一方に係止突起が設けられてフック締結されることを特徴とする、請求項2に記載のICテスト用ソケット装置。
- 前記下側プレートと上側プレートのいずれか一方に係止突起が設けられてフック締結されることを特徴とする、請求項14に記載のICテスト用ソケット装置。
- 前記下側プレートと上側プレートは互いにボルトで締結されることを特徴とする、請求項14に記載のICテスト用ソケット装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2011-0096310 | 2011-09-23 | ||
KR1020110096310A KR101217205B1 (ko) | 2011-09-23 | 2011-09-23 | 아이씨 테스트용 소켓장치 |
PCT/KR2012/007455 WO2013042919A1 (ko) | 2011-09-23 | 2012-09-18 | 아이씨 테스트용 소켓장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014531590A true JP2014531590A (ja) | 2014-11-27 |
JP5905107B2 JP5905107B2 (ja) | 2016-04-20 |
Family
ID=47908546
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014531711A Active JP5905107B2 (ja) | 2011-09-23 | 2012-09-18 | Icテスト用ソケット装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9435853B2 (ja) |
JP (1) | JP5905107B2 (ja) |
KR (1) | KR101217205B1 (ja) |
CN (1) | CN103814301B (ja) |
WO (1) | WO2013042919A1 (ja) |
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- 2012-09-18 JP JP2014531711A patent/JP5905107B2/ja active Active
- 2012-09-18 CN CN201280046330.3A patent/CN103814301B/zh active Active
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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