JP2014207299A - 電子ビーム描画装置、描画用図形データ作成装置、電子ビーム描画方法、描画用図形データ作成方法、およびプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】1以上の図形を示す情報である入力図形情報を受け付ける受付部と、入力図形情報が示す1以上の各図形の幅を取得する図形幅取得部と、図形の幅に適合する1以上の矩形から構成される図形であり、入力図形情報が示す1以上の各図形に近似する図形である1以上の近似図形を示す近似図形情報を作成する作成部と、作成部が作成した近似図形情報が示す1以上の近似図形を描画する描画部とを備える電子ビーム描画装置により、フラクチャリング時の合計の矩形数を減らし、描画時間を減らすことができる。
【選択図】図1
Description
本実施の形態において、1以上の図形を示す入力図形情報と、矩形とを用いて、当該1以上の各図形に近似する1以上の図形を示す近似図形情報を作成し、当該近似図形情報が示す1以上の図形を描画する電子ビーム描画装置1について説明する。
(1)図形の幅が図形分類条件Aを満たす場合は、図形分類条件Bは満たされない。
(2)図形の幅が図形分類条件Bを満たす場合は、図形分類条件Aは満たされない。
(1)第一メインパターン:メインパターンに対応する図形のうち、図形のサイズが最大ショットサイズよりも大きい図形のパターン
(2)第二メインパターン:メインパターンに対応する図形のうち、図形のサイズが最大ショットサイズ以下である図形のパターン
(A)ビットマップ画像を作成する方法
(B)ビットマップ画像を作成しない方法
(1)入力図形情報を用いて、当該入力図形情報が示す一の図形を示すビットマップ画像を作成する。
(2)(1)で作成したビットマップ画像を用いて、図形の輪郭線を構成する1以上の各点を示す1以上の座標を取得する。
(3)(2)で取得した1以上の座標を用いて、1以上の各幅形成点を示す1以上の座標集合を取得する。当該座標集合は、通常、2つの座標を有する。
(4)(3)で取得した1以上の座標集合を用いて、当該1以上の各座標集合が有する2つの各座標が示す2つの点の中点を示す1以上の座標を取得する。当該取得した1以上の座標は、中心線を構成する1以上の各点を示す座標である。
(5)(2)で取得した1以上の座標と、(4)で取得した1以上の座標とを用いて、中心線を示す1以上の各座標が示す点から、輪郭線までの距離を算出する。
(1)入力図形情報を用いて、図形の輪郭線を構成する1以上の各点を示す1以上の座標を取得する。
(2)(1)で取得した輪郭線を示す1以上の座標を用いて、1以上の各幅形成点を示す1以上の座標集合を取得する。当該座標集合は、通常、2つの座標を有する。
(3)(2)で取得した1以上の座標集合を用いて、当該1以上の各座標集合が有する2つの各座標が示す2つの点の中点を示す1以上の座標を取得する。当該取得した1以上の座標は、中心線を構成する1以上の各点を示す座標である。
(4)(1)で取得した1以上の座標と、(3)で取得した1以上の座標とを用いて、中心線を示す1以上の各座標が示す点から、輪郭線までの距離を算出する。
(A)距離マップを用いる方法
(B)距離マップを用いない方法
(1)図形の中心線を構成する1以上の各点に対応する輪郭線までの距離を、距離マップから取得する。
(2)(1)で取得した1以上の各距離を2倍した1以上の値を取得する。当該取得した値は、図形幅である。
(1)入力図形情報から、図形の輪郭線を構成する1以上の各点を示す1以上の座標を取得する。
(2)(1)で取得した1以上の座標を用いて、1以上の各幅形成点を示す1以上の座標集合を取得する。当該座標集合は、通常、2つの座標を有する。
(3)(2)で取得した1以上の座標集合を用いて、当該1以上の各座標集合が有する2つの各座標が示す2つの点間の距離である1以上の距離を取得する。当該取得した1以上の距離は、図形幅である。
(A)補助パターン
(B)第一メインパターン
(C)第二メインパターン
(ステップS404−1)判断部13は、図形幅が満たす図形分類条件に対応するパターン識別子を、格納部10から取得する。そして、補助パターンを識別するパターン識別子を取得した場合は、ステップS405に進み、メインパターンを識別するパターン識別子を取得した場合は、ステップS406に進む。
(ステップS407−1)判断部13は、図形[i]のサイズが最大ショットサイズより大きいか否かを判断する。最大ショットサイズより大きい場合、判断部13は、第一メインパターンを識別するパターン識別子を、格納部10から取得する。また、最大ショットサイズより大きくない場合、判断部13は、第二メインパターンを識別するパターン識別子を、格納部10から取得する。また、第一メインパターンを識別するパターン識別子を取得した場合は、ステップS408に進み、第二メインパターンを識別するパターン識別子を取得した場合は、ステップS409に進む。
次に、電子ビーム描画装置1の動作の具体例について説明する。
本例において、距離マップを用いて図形幅を取得する例について説明する。
本例において、距離マップを用いずに図形幅を取得する例について説明する。
本例において、補助パターンに対応する図形に対応する近似図形の作成の例について説明する。本例において、補助パターンに対応する図形は、図7に示す図形であるものとする。つまり、当該図形は、判断部13により、補助パターンを識別するパターン識別子が取得された図形である。また、このときの図形分類条件は、例えば、以下の条件である。
(図形分類条件)図形幅が200以下であり、かつ、図形幅が一定であること
本例において、第一メインパターンに対応する図形に対応する近似図形の作成の例について説明する。本例において、第一メインパターンに対応する図形は、図15に示す図形であるものとする。つまり、当該図形は、判断部13により、メインパターンを識別するパターン識別子、および第一メインパターンを識別するパターン識別子が取得された図形である。このときの図形分類条件は、例えば、以下の条件である。また、このときの最大ショットサイズは、例えば、以下のサイズである。
(図形分類条件)図形幅が200より大きいこと
(最大ショットサイズ)250×250
本例において、第二メインパターンに対応する図形に対応する近似図形の作成の例について説明する。本例において、第二メインパターンに対応する図形は、図15に示す図形であるものとする。つまり、当該図形は、判断部13により、メインパターンを識別するパターン識別子、および第二メインパターンを識別するパターン識別子が取得された図形である。このときの図形分類条件は、例えば、以下の条件である。また、このときの最大ショットサイズは、例えば、以下のサイズである。
(図形分類条件)図形幅が200より大きいこと
(最大ショットサイズ)250×250
本実施の形態において、矩形を用いて1以上の各図形に近似する1以上の図形を示す近似図形情報を作成する描画用図形データ作成装置2について説明する。
2 描画用図形データ作成装置
10 格納部
11 受付部
12 図形幅取得部
13 判断部
14 作成部
15 描画部
121 距離マップ作成手段
122 図形幅取得手段
141 中心線取得手段
142 近似輪郭線取得手段
143 作成手段
Claims (15)
- 1以上の図形を示す情報である入力図形情報を受け付ける受付部と、
前記入力図形情報が示す1以上の各図形の幅を取得する図形幅取得部と、
前記図形の幅に適合する1以上の矩形から構成される図形であり、前記入力図形情報が示す1以上の各図形に近似する図形である1以上の近似図形を示す近似図形情報を作成する作成部と、
前記作成部が作成した近似図形情報が示す1以上の近似図形を描画する描画部とを備える電子ビーム描画装置。 - 図形の幅に関する条件である図形分類条件と、図形の幅に基づく予め決められたパターンを識別するパターン識別子とが対応付いた情報である2以上のパターン管理情報が格納される格納部と、
前記図形の幅が満たす図形分類条件に対応するパターン識別子を取得する判断部とをさらに備え、
前記作成部は、
前記判断部が取得したパターン識別子に応じて、異なる方法により、前記1以上の各図形に近似する1以上の近似図形を示す近似図形情報を作成する請求項1記載の電子ビーム描画装置。 - 前記格納部には、
図形の幅が前記図形分類条件を満たすほど小さい図形のパターンである補助パターンを識別するパターン識別子を有するパターン管理情報と、図形の幅が前記図形分類条件を満たすほど大きい図形のパターンであるメインパターンを識別するパターン識別子を有するパターン管理情報とが格納される請求項2記載の電子ビーム描画装置。 - 前記作成部は、
前記1以上の各図形の中心線を取得する中心線取得手段と、
前記中心線に沿って、前記図形の幅に適合する1以上の矩形を配置することにより、前記補助パターンに対応する1以上の各図形に近似する1以上の近似図形を示す近似図形情報を作成する作成手段とを備える請求項3記載の電子ビーム描画装置。 - 前記格納部には、
最大ショットサイズと、図形のサイズが最大ショットサイズより大きい図形のパターンである第一メインパターンを識別するパターン識別子と、図形のサイズが最大ショットサイズ以下である図形のパターンである第二メインパターンを識別するパターン識別子とがさらに格納されており、
前記判断部は、
前記メインパターンに対応する1以上の各図形のサイズが最大ショットサイズより大きいか否かを判断し、最大ショットサイズより大きい場合は、前記第一メインパターンを識別するパターン識別子を取得し、最大ショットサイズ以下である場合は、前記第二メインパターンを識別する識別子を取得する請求項3または請求項4記載の電子ビーム描画装置。 - 前記作成部は、
前記第一メインパターンに対応する図形の輪郭線であり、水平の直線および垂直の直線および予め決められた角度の直線から構成される輪郭線である近似輪郭線を取得する近似輪郭線取得手段と、
前記近似輪郭線が示す図形の形状に適合する1以上の矩形を配置することにより、前記第一メインパターンに対応する1以上の各図形に近似する1以上の近似図形を示す近似図形情報を作成する作成手段とを備える請求項5記載の電子ビーム描画装置。 - 前記作成部は、
前記第二メインパターンに対応する図形の輪郭線であり、水平の直線および垂直の直線および予め決められた角度の直線から構成される輪郭線である近似輪郭線を取得する近似輪郭線取得手段と、
前記近似輪郭線が示す図形を、前記近似輪郭線に沿って2以上の矩形に分割することにより、第二メインパターンに対応する1以上の各図形に近似する1以上の近似図形を示す近似図形情報を作成する作成手段とを備える請求項5または請求項6記載の電子ビーム描画装置。 - 前記入力図形情報は、1以上の各図形の輪郭線を示す1以上の座標を有する情報であり、
前記図形幅取得部は、
前記入力図形情報が示す1以上の各図形の中心線を取得し、当該中心線を構成する1以上の各点から、当該1以上の各図形の輪郭線までの距離を示す距離マップを作成する距離マップ作成手段と、
前記距離マップを用いて、前記1以上の各図形の幅を取得する図形幅取得手段とを備える請求項1から請求項7いずれか一項に記載の電子ビーム描画装置。 - 前記作成手段は、
前記中心線に沿って、前記図形の幅に適合する1以上の矩形を、当該矩形同士が重ならないように配置することにより、前記補助パターンに対応する1以上の各図形に近似する1以上の近似図形を示す近似図形情報を作成する請求項4記載の電子ビーム描画装置。 - 前記作成手段は、
前記中心線に沿って、前記図形の幅に適合する1以上の矩形を、当該矩形同士が重なるように配置することにより、前記補助パターンに対応する1以上の各図形に近似する1以上の近似図形を示す近似図形情報を作成する請求項4記載の電子ビーム描画装置。 - 1以上の図形を示す情報である入力図形情報を受け付ける受付部と、
前記入力図形情報が示す1以上の各図形の幅を取得する図形幅取得部と、
前記図形の幅に適合する1以上の矩形から構成される図形であり、前記入力図形情報が示す1以上の各図形に近似する図形である1以上の近似図形を示す近似図形情報を作成する作成部とを備える描画用図形データ作成装置。 - 受付部と、図形幅取得部と、作成部と、描画部とを用いて行われる電子ビーム描画方法であって、
前記受付部が、
1以上の図形を示す情報である入力図形情報を受け付ける受付ステップと、
前記図形幅取得部が、
前記入力図形情報が示す1以上の各図形の幅を取得する図形幅取得ステップと、
前記作成部が、
前記図形の幅に適合する1以上の矩形から構成される図形であり、前記入力図形情報が示す1以上の各図形に近似する図形である1以上の近似図形を示す近似図形情報を作成する作成ステップと、
前記描画部が、
前記作成部が作成した近似図形情報が示す1以上の近似図形を描画する描画ステップとを備える電子ビーム描画方法。 - 受付部と、図形幅取得部と、作成部とを用いて行われる描画用図形データ作成方法であって、
前記受付部が、
1以上の図形を示す情報である入力図形情報を受け付ける受付ステップと、
前記図形幅取得部が、
前記入力図形情報が示す1以上の各図形の幅を取得する図形幅取得ステップと、
前記作成部が、
前記図形の幅に適合する1以上の矩形から構成される図形であり、前記入力図形情報が示す1以上の各図形に近似する図形である1以上の近似図形を示す近似図形情報を作成する作成ステップとを備える描画用図形データ作成方法。 - コンピュータを、
1以上の図形を示す情報である入力図形情報を受け付ける受付部と、
前記入力図形情報が示す1以上の各図形の幅を取得する図形幅取得部と、
前記図形の幅に適合する1以上の矩形から構成される図形であり、前記入力図形情報が示す1以上の各図形に近似する図形である1以上の近似図形を示す近似図形情報を作成する作成部と、
前記作成部が作成した近似図形情報が示す1以上の近似図形を描画する描画部として機能させるためのプログラム。 - コンピュータを、
1以上の図形を示す情報である入力図形情報を受け付ける受付部と、
前記入力図形情報が示す1以上の各図形の幅を取得する図形幅取得部と、
前記図形の幅に適合する1以上の矩形から構成される図形であり、前記入力図形情報が示す1以上の各図形に近似する図形である1以上の近似図形を示す近似図形情報を作成する作成部として機能させるためのプログラム。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013083377A JP6169876B2 (ja) | 2013-04-11 | 2013-04-11 | 電子ビーム描画装置、描画用図形データ作成装置、電子ビーム描画方法、描画用図形データ作成方法、およびプログラム |
EP13881981.8A EP2876667B1 (en) | 2013-04-11 | 2013-12-06 | Electron beam drawing apparatus, electron beam drawing method, and storage medium |
US14/406,641 US9430607B2 (en) | 2013-04-11 | 2013-12-06 | Electron beam drawing apparatus, electron beam drawing method, and storage medium |
KR1020147012307A KR102065197B1 (ko) | 2013-04-11 | 2013-12-06 | 전자빔 묘화 장치, 전자빔 묘화 방법 및 기록 매체 |
PCT/JP2013/082771 WO2014167750A1 (ja) | 2013-04-11 | 2013-12-06 | 電子ビーム描画装置、電子ビーム描画方法、および記録媒体 |
TW103110895A TWI613510B (zh) | 2013-04-11 | 2014-03-24 | 電子束描繪裝置、電子束描繪方法及記錄媒體 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013083377A JP6169876B2 (ja) | 2013-04-11 | 2013-04-11 | 電子ビーム描画装置、描画用図形データ作成装置、電子ビーム描画方法、描画用図形データ作成方法、およびプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014207299A true JP2014207299A (ja) | 2014-10-30 |
JP6169876B2 JP6169876B2 (ja) | 2017-07-26 |
Family
ID=51689174
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013083377A Active JP6169876B2 (ja) | 2013-04-11 | 2013-04-11 | 電子ビーム描画装置、描画用図形データ作成装置、電子ビーム描画方法、描画用図形データ作成方法、およびプログラム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9430607B2 (ja) |
EP (1) | EP2876667B1 (ja) |
JP (1) | JP6169876B2 (ja) |
KR (1) | KR102065197B1 (ja) |
TW (1) | TWI613510B (ja) |
WO (1) | WO2014167750A1 (ja) |
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- 2013-04-11 JP JP2013083377A patent/JP6169876B2/ja active Active
- 2013-12-06 US US14/406,641 patent/US9430607B2/en active Active
- 2013-12-06 WO PCT/JP2013/082771 patent/WO2014167750A1/ja active Application Filing
- 2013-12-06 EP EP13881981.8A patent/EP2876667B1/en active Active
- 2013-12-06 KR KR1020147012307A patent/KR102065197B1/ko active IP Right Grant
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2876667A4 (en) | 2016-03-16 |
TW201439667A (zh) | 2014-10-16 |
EP2876667B1 (en) | 2019-07-31 |
EP2876667A1 (en) | 2015-05-27 |
KR102065197B1 (ko) | 2020-01-10 |
TWI613510B (zh) | 2018-02-01 |
JP6169876B2 (ja) | 2017-07-26 |
US9430607B2 (en) | 2016-08-30 |
KR20160012064A (ko) | 2016-02-02 |
US20150178439A1 (en) | 2015-06-25 |
WO2014167750A1 (ja) | 2014-10-16 |
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