JP2014112518A - 低温焼成銅組成物 - Google Patents
低温焼成銅組成物 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014112518A JP2014112518A JP2013184931A JP2013184931A JP2014112518A JP 2014112518 A JP2014112518 A JP 2014112518A JP 2013184931 A JP2013184931 A JP 2013184931A JP 2013184931 A JP2013184931 A JP 2013184931A JP 2014112518 A JP2014112518 A JP 2014112518A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- paste
- conductive
- weight percent
- copper
- forming
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/09—Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
- H05K1/092—Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
- H01B1/20—Conductive material dispersed in non-conductive organic material
- H01B1/22—Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C8/00—Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
- C03C8/14—Glass frit mixtures having non-frit additions, e.g. opacifiers, colorants, mill-additions
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09D—COATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
- C09D5/00—Coating compositions, e.g. paints, varnishes or lacquers, characterised by their physical nature or the effects produced; Filling pastes
- C09D5/24—Electrically-conducting paints
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
- H01B1/14—Conductive material dispersed in non-conductive inorganic material
- H01B1/16—Conductive material dispersed in non-conductive inorganic material the conductive material comprising metals or alloys
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/12—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/12—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
- H05K3/1283—After-treatment of the printed patterns, e.g. sintering or curing methods
- H05K3/1291—Firing or sintering at relative high temperatures for patterns on inorganic boards, e.g. co-firing of circuits on green ceramic sheets
Abstract
【解決手段】約0.15から1.0m2/gの比表面積を有する第1の銅粒子、約0.5から2.5m2/gの比表面積を有する第2の銅粒子、ガラスフリット、および有機ビヒクルを含む導電性ペースト。更に、第1の銅粒子はペーストの約60から80重量パーセントであり、第2の銅粒子の含有量はペーストの最高約20重量パーセントである。更に、ガラスフリットは無鉛であり、ペーストの約1から10重量パーセントである。好ましくは、ガラスフリットは、酸化ホウ素‐酸化亜鉛‐酸化バリウムのガラスフリットを含む。
【選択図】なし
Description
本願は、参照により本明細書に組み込む、2012年9月10日に出願された米国仮特許出願第61/699,008号の利益を主張する。
本発明の銅成分は、導電性ペーストに導電性を与える。一実施形態によると、銅成分は、異なる表面積を有する2つ元素銅粒子を含む。1種類だけの銅粒子の使用と対照的に、異なる表面積の2つの銅粒子を使用することによって、焼成された導電性リード線の密度は改善され、同様に導電性が改善される。リード線が十分に緻密ではなく、したがってその微細構造に空隙を有する場合、リード線を通る電気に流れは妨げられるだろう。
ガラスフリットは、導電性ペーストが下にある基板によく接着する能力に貢献する。一実施形態によると、ガラスフリットはペーストの約1から10重量パーセントであり、好ましくは無鉛である。つまり、どのような意図的に添加された鉛または鉛化合物もなく、わずかな微量の鉛を有する。好ましくは、ガラスフリットはペーストの約1から5重量パーセントである。
本発明の文脈での好ましい有機ビヒクルは、1つまたは複数の溶媒、好ましくは有機溶媒をベースにした、導電性ペーストの構成物質が分解された形、乳化された形、または分散された形で存在することを保証する溶液、乳液、または分散液である。一実施形態によると、有機ビヒクルは、ペーストの約10から30重量パーセントであってよい。別の実施形態によると、有機ビヒクルはペーストの約1から20重量パーセントであってよい。
導電性ペースト組成物は、接着を支援するために酸化物添加剤を含んでもよい。酸化物添加剤は、好ましくは粉末の形で存在する。酸化物粉末は、ペーストの約0.5から3重量パーセントであってよい。好ましくは、酸化物粉末はCuOおよびCu2Oを含むが、これらに限定されない任意の形の酸化銅である。一実施形態によると、酸化銅は、ガラスフリットとは別の、明らかな別個の成分としてペースト中に存在してよい。
導電性ペースト組成物は、技術で既知のペースを組成物を調製するための任意の方法によって調製されてよい。調製の方法は、それによって均一に分散されたペーストが生じる限り重大ではない。例として、制限なく、ペースト組成物は、次いで、混合器等を使用して混合され、次いでスリーロールミルを通過して、分散された均一のペーストを作ってよい。ペーストは、次いで基板の上に付着、たとえばスクリーン印刷されて、導電性リード線を形成することができる。
例示的な用途では、銅ペースト組成物は、金属基板上でLEDアセンブリを形成するために使用できる。LEDアセンブリを製造するために、誘電ガラス材料の内の1つまたは複数の層が、下にある基板、つまりその最適熱伝導性のため、好ましくはアルミニウムまたはアルミニウム合金の上にスクリーン印刷される。誘電材料は、好ましくは、電気絶縁を提供する(好ましくは高い絶縁破壊電圧を有する)一方、最適熱伝導性を有する。さらに、誘電材料は、焼成プロセス中の胴曲がりまたは反りを妨げるために、好ましくは熱伝導性基板の熱膨張率に類似する熱膨張率を有する。最後に、アルミニウム基板を使用するとき、アルミニウムは610℃以上で溶解するので、誘電材料は好ましくは610℃以下の温度で焼結される。一例として、制限なく、Heraeus Precious Metals North America Conshohocken LLCによって販売されるCelcionTM IP6075誘電ペーストがこれらの要件のすべてを満たす。
導電性能および600℃焼成プロファイルでの接着に対する表面積の影響を確かめるために、2つの銅粉末の組合せが試験された。さまざまな量の2つの銅粉末を有する例示的なペースト調合物が調製された。約1.2m2/gの表面積を有する高表面積(SA)銅粉末、および約0.34m2/gの表面積を有する低表面積(SA)銅粉末が使用された。例示的なペーストは、(ガラスフリットとは別に)有機ビヒクルおよび3重量パーセントの酸化銅添加剤だけではなく、3重量パーセントのB2O3−BaO−ZnOガラスフリットも含んでいた。
また、多様なタイプおよび量のガラスフリット、ならびに多様な量のCuOまたはCu2O添加剤を有する実施例ペーストが、ガラスフリットおよび添加剤が導電性ペーストの接着性能に対して与える影響を確かめるために調製された。これらの成分の組成物および量は、以下の表2に説明されている。各例示的なペーストは2種類の銅粒子を含み、一方は約0.15から0.5m2/gのより低い表面積を有し、他方は約1.0から1.4m2/gのより高い表面積を有する。各ペーストは、ペーストの100%総重量に基づき、約71重量パーセントのより低い表面積銅粉末および10重量パーセントのより高い表面積銅粉末を含む。
Claims (41)
- 約0.15から1.0m2/gの比表面積を有する第1の銅粒子、および約0.5から2.5m2/gの比表面積を有する第2の銅粒子を含む銅成分と、
ガラスフリットと、
有機ビヒクルと、
を含む導電性ペースト。 - 前記第1の銅粒子が、約0.15から0.5m2/g、好ましくは約0.15から0.35m2/gの比表面積を有する、請求項1に記載の導電性ペースト。
- 前記第2の銅粒子が約0.5から1.5m2/g、好ましくは約0.9から1.3m2/gの比表面積を有する、請求項1または2に記載の導電性ペースト。
- 前記第1の銅粒子の比表面積と前記第2の銅粒子の比表面積との差が少なくとも0.4m2/gである、請求項1から3のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 前記第1の銅粒子が2ミクロン未満の平均粒径を有する、請求項1から4のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 前記第2の銅粒子が約2.5から4.7ミクロンの平均粒径を有する、請求項1から5のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 前記第1の銅粒子の含有量が、前記ペーストの約60から80重量パーセント、好ましくは前記ペーストの約70重量パーセントである、請求項1から6のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 前記第2の銅粒子の含有量が、前記ペーストの最高約20重量パーセントであり、好ましくは前記ペーストの約10重量パーセントである、請求項1から7のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 前記ガラスフリットが、実質的に無鉛である酸化物を含む、請求項1から8のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 前記ガラスフリットが、酸化ホウ素‐酸化亜鉛‐酸化バリウムを含む、請求項1から9のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 前記ガラスフリットの含有量が、前記ペーストの約1から10重量パーセントである、請求項1から10のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 前記有機ビヒクルが、結合剤および有機溶媒を含む、請求項1から11のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 前記有機ビヒクルがアクリル接着剤およびテキサノールを含む、請求項1から12のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 前記有機ビヒクルの含有量が、前記ペーストの約10から30重量パーセントである、請求項1から13のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 酸化銅をさらに含む、請求項1から14のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 前記酸化銅の含有量が、前記ペーストの約0.5から3重量パーセントである、請求項1から15のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 60から95重量パーセントの銅粒子と、
酸化ホウ素‐酸化亜鉛‐酸化バリウムを含むガラスフリットと、
有機ビヒクルと、
を含む導電性ペースト。 - 前記ガラスフリットの含有量が、前記ペーストの約1.5重量パーセントである、請求項17に記載の導電性ペースト。
- 前記有機ビヒクルが結合剤および有機溶媒を含む、請求項17または18に記載の導電性ペースト。
- 前記有機ビヒクルがアクリル接着剤およびテキサノールを含む、請求項17から19のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 前記有機ビヒクルの含有量が前記ペーストの約1から20重量パーセントである、請求項17から20のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 酸化銅をさらに含む、請求項17から21のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 前記酸化銅の含有量が前記ペーストの約0.5から3重量パーセントである、請求項17から22のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 導電性リード線のためのパターンを形成するために導電性ペーストを付着するステップであって、前記導電性ペーストが、約0.15から1.0m2/gの比表面積を有する第1の銅粒子、および約0.5から2.5m2/gの比表面積を有する第2の銅粒子を含む銅成分、ガラスフリット、および有機ビヒクルを含む、付着するステップと、
前記導電性リード線を、約0.5から20ppmの酸素を含む窒素大気中で約540から610℃のピーク温度にさらすステップと、
約8分から10分間、前記ピーク温度で温度を保持するステップと、
を含む、導電性回路を形成する方法。 - 前記窒素大気が約1から10ppmの酸素を含む、請求項24に記載の導電性回路を形成する方法。
- 前記窒素大気が約2から3ppmの酸素を含む、請求項24または25に記載の導電性回路を形成する方法。
- 前記導電性リード線が、25分から28分をかけて室温から約540から610℃のピーク温度まで加熱され、次いで8分から10分間前記ピーク温度で保持され、約14分から16分かけて冷却され室温に戻される、請求項24から26のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
- 前記第1の銅粒子が約0.15から0.5m2/g、好ましくは約0.15から0.35m2/gの比表面積を有する、請求項24から27のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
- 前記第2の銅粒子が、約0.5から1.5m2/g、好ましくは約0.9から1.3m2/gの比表面積を有する、請求項24から28のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
- 第1の銅粒子が2ミクロン未満の平均粒径を有する、請求項24から29のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
- 第2の銅粒子が約2.5から4.7ミクロンの平均粒径を有する、請求項24から30のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
- 前記第1の銅粒子が前記ペーストの約60から80重量パーセント、好ましくは前記ペーストの約70重量パーセントである、請求項24から31のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
- 前記第2の銅粒子の含有量が前記ペーストの最高約20重量パーセント、好ましくは前記ペーストの約10重量パーセントである、請求項24から32のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
- 前記ガラスフリットが実質的に無鉛である、請求項24から33のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
- 前記ガラスフリットが酸化ホウ素‐酸化亜鉛‐酸化バリウムを含む、請求項24から34のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
- 前記ガラスフリットが前記ペーストの約1から10重量パーセントである、請求項24から35のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
- 前記有機ビヒクルが結合剤および有機溶媒を含む、請求項24から36のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
- 前記有機ビヒクルがアクリル接着剤およびテキサノールを含む、請求項24から37のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
- 前記有機ビヒクルが前記ペーストの約10から30重量パーセントである、請求項24から38のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
- 前記導電性ペーストが酸化銅をさらに含む、請求項24から39のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
- 前記酸化銅が前記ペーストの約0.5から3重量パーセントである、請求項24から40のいずれか1項に記載の導電性回路を形成する方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201261699008P | 2012-09-10 | 2012-09-10 | |
US61/699,008 | 2012-09-10 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014112518A true JP2014112518A (ja) | 2014-06-19 |
JP6223079B2 JP6223079B2 (ja) | 2017-11-01 |
Family
ID=49150729
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013184931A Expired - Fee Related JP6223079B2 (ja) | 2012-09-10 | 2013-09-06 | 低温焼成銅組成物 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9183967B2 (ja) |
EP (1) | EP2706538A3 (ja) |
JP (1) | JP6223079B2 (ja) |
KR (1) | KR20140087991A (ja) |
CN (1) | CN103680677A (ja) |
SG (1) | SG2013066683A (ja) |
TW (1) | TWI593765B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020111797A (ja) * | 2019-01-11 | 2020-07-27 | Jx金属株式会社 | セラミックと導体の複合体の製造方法 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3093852B1 (en) * | 2015-05-13 | 2017-12-27 | Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG | Use of an electrically conductive composition |
CN108231242A (zh) * | 2017-12-19 | 2018-06-29 | 翟琳 | 一种中温烧结铜系导电电子浆料 |
JP7256260B2 (ja) * | 2018-09-07 | 2023-04-11 | フエロ コーポレーション | 窒化ケイ素及び他の基板用の導電性厚膜ペースト |
CN110202136B (zh) * | 2019-05-21 | 2021-09-03 | 深圳第三代半导体研究院 | 一种低温烧结铜膏及其烧结工艺 |
CN112062607A (zh) * | 2020-05-29 | 2020-12-11 | 南京凯泰化学科技有限公司 | 一种铜浆印制电路板的制备方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02263731A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-26 | Shoei Chem Ind Co | 厚膜銅ペースト |
JPH08180731A (ja) * | 1994-12-26 | 1996-07-12 | Murata Mfg Co Ltd | 導電性厚膜組成物、厚膜電極、セラミック電子部品、および積層セラミックコンデンサ |
JP2005286111A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Shoei Chem Ind Co | 積層セラミック電子部品端子電極用導体ペースト |
US20050277550A1 (en) * | 2004-06-09 | 2005-12-15 | Ferro Corporation | Lead-free and cadmium-free conductive copper thick film pastes |
JP2006004905A (ja) * | 2004-03-10 | 2006-01-05 | Murata Mfg Co Ltd | 導電性ペーストおよびこれを用いたセラミック電子部品 |
EP2455947A1 (en) * | 2010-11-15 | 2012-05-23 | Cheil Industries Inc. | Conductive paste composition and electrode including the same |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4687597A (en) * | 1986-01-29 | 1987-08-18 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Copper conductor compositions |
US4868034A (en) * | 1988-02-11 | 1989-09-19 | Heraeus Incorporated Cermalloy Division | Non-oxidizing copper thick film conductors |
JPH01265405A (ja) * | 1988-04-15 | 1989-10-23 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 導電ペースト及び導電回路 |
JP3507084B2 (ja) * | 1991-12-13 | 2004-03-15 | イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー | 銅導体組成物 |
JPH06318403A (ja) * | 1993-05-07 | 1994-11-15 | Murata Mfg Co Ltd | 導電性被膜形成用銅ペースト |
JP2911429B2 (ja) * | 1997-06-04 | 1999-06-23 | 三井金属鉱業株式会社 | 銅微粉末の製造方法 |
US6881240B2 (en) * | 2000-09-18 | 2005-04-19 | Dowa Mining Co., Ltd. | Copper powder for electrically conductive paste |
JP4197110B2 (ja) * | 2001-08-07 | 2008-12-17 | 三井金属鉱業株式会社 | 混合銅粉、その混合銅粉の製造方法、その混合銅粉を用いた銅ペースト及びその銅ペーストを用いたプリント配線板 |
JP2004362862A (ja) * | 2003-06-03 | 2004-12-24 | Kyoto Elex Kk | 厚膜導体用導電性ペースト組成物 |
US7556747B2 (en) * | 2003-08-08 | 2009-07-07 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Electrically conductive pastes |
JP2010044967A (ja) * | 2008-08-13 | 2010-02-25 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 導電性接着剤およびそれを用いたled基板 |
-
2013
- 2013-09-04 EP EP13004325.0A patent/EP2706538A3/en not_active Withdrawn
- 2013-09-04 SG SG2013066683A patent/SG2013066683A/en unknown
- 2013-09-06 JP JP2013184931A patent/JP6223079B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2013-09-10 US US14/022,641 patent/US9183967B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2013-09-10 KR KR1020130108707A patent/KR20140087991A/ko not_active Application Discontinuation
- 2013-09-10 CN CN201310409520.3A patent/CN103680677A/zh active Pending
- 2013-09-10 TW TW102132634A patent/TWI593765B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02263731A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-26 | Shoei Chem Ind Co | 厚膜銅ペースト |
JPH08180731A (ja) * | 1994-12-26 | 1996-07-12 | Murata Mfg Co Ltd | 導電性厚膜組成物、厚膜電極、セラミック電子部品、および積層セラミックコンデンサ |
JP2006004905A (ja) * | 2004-03-10 | 2006-01-05 | Murata Mfg Co Ltd | 導電性ペーストおよびこれを用いたセラミック電子部品 |
JP2005286111A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Shoei Chem Ind Co | 積層セラミック電子部品端子電極用導体ペースト |
US20050277550A1 (en) * | 2004-06-09 | 2005-12-15 | Ferro Corporation | Lead-free and cadmium-free conductive copper thick film pastes |
EP2455947A1 (en) * | 2010-11-15 | 2012-05-23 | Cheil Industries Inc. | Conductive paste composition and electrode including the same |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020111797A (ja) * | 2019-01-11 | 2020-07-27 | Jx金属株式会社 | セラミックと導体の複合体の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9183967B2 (en) | 2015-11-10 |
TWI593765B (zh) | 2017-08-01 |
CN103680677A (zh) | 2014-03-26 |
SG2013066683A (en) | 2014-04-28 |
EP2706538A2 (en) | 2014-03-12 |
TW201420703A (zh) | 2014-06-01 |
JP6223079B2 (ja) | 2017-11-01 |
EP2706538A3 (en) | 2014-04-23 |
KR20140087991A (ko) | 2014-07-09 |
US20140178573A1 (en) | 2014-06-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6223079B2 (ja) | 低温焼成銅組成物 | |
US9799421B2 (en) | Thick print copper pastes for aluminum nitride substrates | |
US9820379B2 (en) | Circuit board and electronic device including same | |
JP2005286111A (ja) | 積層セラミック電子部品端子電極用導体ペースト | |
JP2004228075A (ja) | 多層セラミックキャパシタ用端子電極組成物 | |
KR102225427B1 (ko) | 파워 모듈용 기판 및 그 제조 방법, 파워 모듈 | |
WO2008157675A1 (en) | Insulation paste for a metal core substrate and electronic device | |
JP7317397B2 (ja) | 酸化銅ペースト及び電子部品の製造方法 | |
EP3604473B1 (en) | Electroconductive adhesive composition | |
JP6869531B2 (ja) | 導電性ペースト、窒化アルミニウム回路基板及びその製造方法 | |
JP2007207604A (ja) | 導電性ペースト及びその導電性ペーストを用いたセラミック多層回路基板 | |
JP2018152218A (ja) | 導電性ペースト、チップ電子部品及びその製造方法 | |
JP2003257243A (ja) | 導電性ペースト | |
EP3645474A1 (en) | Copper-containing thick print electroconductive pastes | |
JP4635274B2 (ja) | 導電性ペースト | |
JP5941006B2 (ja) | 接合材、接合構造体およびその製造方法、並びに半導体モジュール | |
JP3929989B2 (ja) | 導電性ペースト及びその導電性ペーストを用いたセラミック多層回路基板。 | |
JP2012138432A (ja) | プローブカード用セラミック配線基板 | |
JP2006108399A (ja) | フェライト多層回路基板の導電部形成用導電性ペースト及びその導電性ペーストを用いたフェライト多層回路基板 | |
JP2004186108A (ja) | 導電ペースト及びその使用 | |
JP5821743B2 (ja) | 導電性組成物及び接合体の製造方法 | |
JP2012054298A (ja) | プローブカード用セラミック配線基板 | |
JP2010225627A (ja) | 抵抗体膜の製造方法、抵抗体膜、及び抵抗器 | |
TW202231398A (zh) | 氧化銅糊料及電子零件之製造方法 | |
Shahbazi et al. | A Low Firing Temperature Copper Conductor for use on an Aluminum Metal Compatible Dielectric in LED Thermal Substrate Applications |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160107 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161025 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20161026 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170125 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170530 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170825 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170912 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20171003 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6223079 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |