JP2014109686A - 偏向装置、光走査装置及び走査式測距装置 - Google Patents

偏向装置、光走査装置及び走査式測距装置 Download PDF

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Abstract

【課題】非接触で揺動部側に外部から信号を伝達することができ、小型且つ軽量の偏向装置、光走査装置及び走査式測距装置を提供する。
【解決手段】走査式測距装置10は、投受光部20と投受光部20から出射された測定光を光学窓12から外部に偏向反射する偏向装置とで構成され、偏向装置は、第1軸心P1周りに揺動可能な可動部3と可動部3を揺動駆動する駆動部を備えた第1偏向機構30と、第1偏向機構30を第1軸心P1と直交する第2軸心P2周りに回転駆動する第2偏向機構40と、第2偏向機構40の回転に伴って第2軸心P2周りに回転するように配置された第2コイル54と、第2コイル54と共通の軸心上で対向配置された第1コイル52とを備えた非接触給電部50とを備えた偏向装置とを備えている。
【選択図】図3

Description

本発明は、偏向装置、光走査装置及び走査式測距装置に関し、例えば測定光を三次元的に走査するために用いる偏向装置、光走査装置及び走査式測距装置に関する。
特許文献1には、水平軸心周りにミラーを揺動支持するギア機構と、支軸に設置された投受光部を垂直軸心周りに回転駆動するモータを備え、モータを駆動させて支軸周りにミラーを回転させるとともに、モータに連動するギア機構を介してミラーの姿勢を変化させ、投受光部から出力されるビームをミラーで反射させて三次元的に走査する赤外ビーム走査装置が開示されている。
特許文献2には、水平軸心周りにミラーを揺動支持する垂直偏向用のモータと、垂直軸心周りにミラーを回転駆動する水平偏向用のモータを備えたTOF方式の距離測定装置が開示されている。
特許文献3には、強磁性体または永久磁石を備えたミラーと、ミラーを水平軸心周りに姿勢偏向する電磁石とを、垂直軸心周りに回転させるモータを備えた光ビームスキャン機構が開示されている。
特開昭60−12527号公報 特開2001−50723号公報 特開2003−287693号公報
しかし、特許文献1に開示された赤外ビーム走査装置は、ギア機構を介して水平軸心周りにミラーを揺動させる機械式の揺動メカニズムを採用しているため、ミラーを高速に揺動できず、またその揺動角度を精密に制御できないため、測定精度が得られない。さらには装置が大掛かりになるという問題があった。
また、特許文献2に開示された距離測定装置は、ミラーを垂直偏向用のモータで駆動するため、ミラーを高速に揺動できず、また装置が大掛かりになるという問題があった。
さらに、特許文献3に開示された距離測定装置は、電磁石で駆動するため、強磁性体または永久磁石を備えた特殊なミラーを用いる必要がありコストが嵩むとともに、高速に駆動できず、さらには装置が大掛かりになるという問題があった。
また、特許文献2,3に記載された装置は、垂直軸心周りに回転するミラーを水平軸心周りに回転するモータまたは電磁石を用いて揺動させる構成であるため、当該水平軸心周りに回転するモータまたは電磁石に駆動用の電気信号を入力するために、例えばミラーの垂直回転軸に信号伝達用の摺動子構造を備える必要があり、接触部の機械的磨耗により装置の寿命が短くなるという問題があった。
本発明の目的は、上述した問題点に鑑み、非接触で揺動部側に外部から信号を伝達することができ、小型且つ軽量の偏向装置、光走査装置及び走査式測距装置を提供する点にある。
上述の目的を達成するため、本発明による偏向装置の第一の特徴構成は、特許請求の範囲の書類の請求項1に記載した通り、第1軸心周りに揺動可能な可動部と前記可動部を揺動駆動する駆動部を備えた第1偏向機構と、前記第1偏向機構を前記第1軸心とは異なる第2軸心周りに回転駆動する第2偏向機構と、前記駆動部と電気的に接続され、前記第2偏向機構の回転に伴って前記第2軸心周りに回転するように配置された第2コイルと、前記第2コイルと共通の軸心上で対向配置された第1コイルとを備え、電磁誘導方式により前記第1コイルから前記第2コイルに給電する非接触給電部と、を備えている点にある。
第2コイルに対向配置された第1コイルに電流を通流すると、電磁誘導により第1コイルに対向配置された第2コイルに起電力が発生し、第2コイルとともに第2軸心周りに回転する第1偏向機構の駆動部に第2コイルから電力を供給することができるようになる。そして、第1コイルから第2コイルに非接触で給電されるので、機械的寿命に制限がある摺動子構造を採用する必要がない。
同第二の特徴構成は、同請求項2に記載した通り、上述の第一特徴構成に加えて、前記第1偏向機構は、前記第2偏向機構に回転可能に支持された固定部と、前記可動部を前記固定部に支持する梁部とを備えて構成され、前記梁部は、前記駆動部により捻り回転駆動または撓み揺動駆動され、前記第1軸心として機能する点にある。
駆動部によって捻り回転駆動される梁部を介して可動部が固定部に支持されるような第1偏向機構は、梁部がジンバル構造の捻り梁として機能するものであり、例えばMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)技術により極めて小型且つ軽量に構成でき、しかも高速に揺動駆動できる。例えば、可動部に平面状のコイルが形成され、コイルに流れる交流電流と固定部に備えた永久磁石により形成される磁界とによって、コイルにローレンツ力が作用し、梁部で支持された可動部が繰り返し揺動されるようになる。また、ローレンツ力を利用して可動部を揺動する以外に、コイルに交流電流を印加して発生する静電力や、圧電体に電圧を印加して発生する圧電力を利用して可動部を揺動するような微小機械装置や、片持梁で支持された可動部を前後に撓み揺動駆動する微小機械装置も提案されている。このような微小機械装置を用いれば、小型且つ軽量で高速の偏向装置が実現できるようになる。
同第三の特徴構成は、同請求項3に記載した通り、上述の第二特徴構成に加えて、前記第2軸心上に配置された投受光部と、前記可動部に設置され、前記投受光部から前記第2軸心に沿って出射された測定光を偏向反射し、偏向反射された測定光のうち物体で反射された反射光を前記投受光部に導く光偏向部と、前記投受光部から出射され、前記光偏向部で偏向反射された測定光が照射される基準反射部材と、前記投受光部で受光された前記基準反射部材からの反射光に基づいて、前記駆動部を制御する揺動制御部と、を備え、前記揺動制御部からの制御信号が前記非接触給電部を介して前記駆動部に伝達される点にある。
温度変動等の要因で可動部を含む梁部の共振周波数が変動すると、それに伴って可動部の揺動振幅が変動するため、一定の揺動振幅に維持するためには、揺動振幅の変動を計測してコイルに印加する電流を制御する必要がある。そのために第1偏向機構に可動部の揺動振幅を計測するセンサを備えると、当該センサの信号出力を第1偏向機構から外部に取り出すために、さらに別の電磁誘導方式を採用したコイルを備える必要があり、コストの上昇につながる虞がある。しかし、上述の構成を採用すれば、第1偏向機構という回転系の外部に設置された投受光部から出射された測定光のうち基準反射部材で反射した反射光が投受光部で受光されるので、その反射光に基づいて可動部の揺動振幅を検知することができるようになる。つまり、計測された可動部の揺動振幅を第1偏向機構から外部に取り出す必要がなくなる。
同第四の特徴構成は、同請求項4に記載した通り、上述の第三特徴構成に加えて、前記基準反射部材は、前記第2軸心に沿って反射率が異なる領域を備え、前記揺動制御部は、前記投受光部で受光された前記基準反射部材からの反射光に基づいて前記第1偏向機構による揺動振幅を検知する振幅検知部と、前記振幅検知部で検知された揺動振幅が所定の揺動振幅になるように前記駆動部を制御する振幅制御部と、を備えている点にある。
駆動部によって可動部が一定の周波数で揺動駆動されると、測定光が光偏向部で第2軸心方向に沿って上下方向に偏向反射される。そのときに揺動振幅が変動すると、基準反射部材のうち第2軸心に沿って反射率が異なる領域から反射された反射光の強度は、反射率に対応して変動するので、振幅検知部で反射光の強度変化の特性から揺動振幅の変動が検知できるようになる。その結果に基づいて、振幅制御部により駆動部が制御され、可動部の揺動振幅が所定の揺動振幅に調整されるようになる。
同第五の特徴構成は、同請求項5に記載した通り、上述の第四特徴構成に加えて、前記駆動部は、前記可動部に形成された駆動用のコイルを含み、前記振幅制御部は、前記非接触給電部を介して前記コイルに印加する電流の周波数を制御する点にある。
コイルへの印加電流の周波数が一定の下で、温度変化等に起因して可動部を含む梁部の共振周波数が変動する場合に、印加電流の周波数が共振周波数に近くなれば振幅が大きくなり、印加電流の周波数が共振周波数から遠ざかれば振幅が小さくなる。そのような場合であっても、振幅検知部で検知された揺動振幅が目標値になるように、振幅制御部によってコイルへ印加されるべき電流の周波数が可変制御され、その電流が第2コイルから第1コイルに非接触給電され、さらに可動部のコイルに印加される結果、可動部の振幅が一定に維持されるようになる。周波数を可変に制御するためには、例えばPLL回路を組み込んだ交流電源回路等、比較的簡単かつ小型の電源回路で構成できるので、印加電流の周波数を一定に維持しつつ電流値を可変にするための交流電源回路よりも効果的にコストを低減することができ、またその電源回路の設置スペースも小さくできる。
同第六の特徴構成は、同請求項6に記載した通り、上述の第四特徴構成に加えて、駆動部は、前記可動部に形成された駆動用のコイルと、前記コイルに印加する電流を生成する電源回路とを含み、前記振幅制御部は、前記非接触給電部を介して前記コイルに印加する電流の周波数制御情報を高周波に重畳させて前記電源回路に伝送し、前記電源回路は前記周波数制御情報に基づいて前記コイルに印加する電流の周波数を制御する点にある。
第五の特徴構成のように、非接触給電部を介して可動部のコイルへ印加する周波数の電流を直接給電するのではなく、非接触給電部を介してコイルに印加する電流の周波数制御情報を伝送し、周波数制御情報に基づいて駆動部に備えた電源回路を制御することで、非接触給電部を介して駆動部に備えた電源回路に電力を供給すると共に制御情報を重畳して伝送することが可能になる。
同第七の特徴構成は、同請求項7に記載した通り、上述の第四から第六の何れかの特徴構成に加えて、前記可動部の揺動周期に同期して前記第2偏向機構の回転周期及び/または前記投受光部から出射された測定光による測定周期を調整する同期制御部を備えている点にある。
振幅を一定に制御するために可動部の揺動周期が変化すると測定方向が変化して、本来必要な測定方向に対応する測定値が得られなくなる虞がある。また、揺動周期内で必要な測定値の数の増減が発生する虞もある。そのような場合であっても、同期制御部により、可動部の揺動位相に同期した同期信号に基づいて測定光による測定時期及び/または第2偏向機構の回転周期を調整すれば、可動部の揺動周期が変化しても本来必要な測定方向に対応する測定値を得ることができるようになる。
同第八の特徴構成は、同請求項8に記載した通り、上述の第三から第七の何れかの特徴構成に加えて、前記投受光部で受光された前記基準反射部材からの反射光に基づいて、前記投受光部から出射される測定光の強度または発光インタバルを調整する調光部を備えている点にある。
投受光部から出射される測定光の強度が変動すると、測定精度が低下する虞があり、光源に使用するレーザ光の強度が安全基準から逸脱する虞もある。そのような場合でも、調光部により、振幅調整用の基準反射部材からの反射光に基づいて測定光の強度が調整されるので、専用の基準反射部材を別途設ける必要もない。
同第九の特徴構成は、同請求項9に記載した通り、上述の第一から第八の何れかの特徴構成に加えて、前記非接触給電部は、前記第1コイル及び第2コイルを各別に巻回して支持する一対の環状のコイル支持部を備え、各コイル支持部の中心部に形成された空間に前記第1偏向機構との間で信号を伝送する非接触信号伝送部が配置されている点にある。
非接触給電部を環状のコイル及びコイル支持部で構成すると、コイル支持部の中心部に空間が形成される。その空間を利用して非接触信号伝送部を配置すれば、複数種類の信号を外部から第1偏向機構側に伝送することができるようになる。
本発明による光走査装置の特徴構成は、上述した第一から第九の何れかの特徴構成を備えた偏向装置を備えている点にある。
本発明による走査式測距装置の特徴構成は、上述した第一から第九の何れかの特徴構成を備えた偏向装置を備えている点にある。
以上説明した通り、本発明によれば、非接触で揺動部側に外部から信号を伝達することができ、小型且つ軽量の偏向装置、光走査装置及び走査式測距装置を提供することができるようになった。
本発明による偏向装置の要部を構成する微小機械装置の斜視図 微小機械装置の分解斜視図 (a),(b)は本発明による偏向装置の断面図 (a)は投受光部の説明図、(b)は第1軸心周りに揺動される可動部で走査される測定光の説明図 (a)は第1偏向機構の断面図、(b)は非接触給電部(第2コイル)の平面図、(c)は非接触給電部(第1コイル)の平面図 本発明による走査式測距装置により三次元空間に出射される測定光の軌跡の説明図 (a)は基準反射部材への測定光の走査説明図、(b)は測定光の軌跡の説明図 可動部を揺動制御する揺動制御装置の説明図 可動部の揺動振幅の変動と規準反射部材との関係の説明図 (a)は揺動制御の原理の説明図、(b)は共振周波数の変動に対する印加電流の周波数制御の説明図 (a)は振れ角方向に対して等間隔で発光制御する場合の測距タイミングおよび、周波数変動時の測距タイミング制御の説明図、(b)は位相方向に対して等間隔に発光制御する場合の測距タイミング制御の説明図 (a)から(c)は別実施形態を示し、第1偏向機構と非接触給電部の構成の説明図 (a)から(c)は別実施形態を示し、第1偏向機構と非接触給電部の構成の説明図 別実施形態を示し、投受光部と第1偏向機構と非接触給電部の構成の説明図 別実施形態を示し、本発明による偏向装置の断面図
以下、本発明による偏向装置が組み込まれた走査式測距装置を図面に基づいて説明する。
図3(a),(b)には、本発明による走査式測距装置10が示されている。当該走査式測距装置10は、TOF方式が採用され、光学窓12を備えた円筒状のケーシング11と、ケーシング11に収容された投受光部20と、第1偏向機構30と、第2偏向機構40と、非接触給電部50と、信号処理部70等を備えて構成されている。
第1偏向機構30は、図3(a)の紙面に垂直な第1軸心P1周りに揺動可能な可動部3と可動部3を揺動駆動する駆動部(図示されていない)を備えている。また、第2偏向機構40は、第1偏向機構30を第1軸心P1とは異なり、図3(a)の紙面に平行な第2軸心P2周りに回転駆動する機構である。
非接触給電部50は、僅かの間隙で対向配置された第1コイル52と第2コイル54を備えて構成されている。第2コイル54は、第1偏向機構30の駆動部と電気的に接続され、第2偏向機構40の回転に伴って第2軸心P2周りに回転するように配置されている。第1コイル52は、第2コイル54と共通の軸心P2上で対向配置されている。第1コイル52に印加された交流電流から第2コイル54に起電力が生じる電磁誘導方式により給電される。
第1軸心P1と第2軸心P2とが直交するように配置され、静止状態で可動部3の平坦面が、第2軸心P2と垂直な面に対して45°の傾斜姿勢で配置されている。上述の第1偏向機構30と第2偏向機構40と非接触給電部50とから本発明による偏向装置が構成されている。尚、第2軸心P2はケーシング11の軸心でもある。
以下、各部について詳述する。
図1及び図2に示すように、第1偏向機構30は、固定部2となる枠体と、可動部3となる平坦な板状体と、固定部2に対して可動部3を第1軸心P1周りに揺動可能に支持する一対の梁部4,4と、梁部4,4を挟んで可動部3の両側に配置された永久磁石5,6と、上部カバー体8等を備えている。
固定部2はポリカーボネート等の樹脂製の直方体部材で構成され、その中央部が、平面視で可動部3よりもやや大きな面積で、厚み方向に刳り抜かれた開口空間が形成され、その開口空間に可動部3が配置されている。
梁部4,4は金属弾性部材で構成され、所定長の金属棒状部4aと、金属棒状部4aの一端側に形成され固定部2に固定する固定側パッド4bと、金属棒状部4aの他端側に形成され可動部3に固定する可動側パッド4cとを備えている。
断面が“コ”の字形で、高透磁率の部材で構成される磁性体保持部7に、永久磁石5,6のうち一方5がN極、他方6がS極となるように対向配置され、固定部2の開口空間に、可動部3を挟むように下方から挿入固定されている。
可動部3は、ガラス基板、或いはシリコン基板に金またはアルミニウム等が蒸着された偏向ミラー3aと、ガラスエポキシ基板に銅線のコイルCと電極パッドEが印刷形成されたコイル基板3cと、それら間に配置される同じくガラスエポキシ製のスペーサ3bを備えている。一対の梁部4,4の各可動側パッド4cが電極パッドEに接触するように位置決めされ、導電性接着剤を用いて偏向ミラー3aとコイル基板3cとの間に接着固定されている。尚、コイル基板3cを、エポキシ樹脂等を用いた各基板層にコイルパターンを形成し、各基板層のコイルをビアで連結した多層基板で構成してもよい。
一対の梁部4,4を介して駆動用のコイルCに交流電流を印加すると、コイルCに流れる交流電流と固定部2に備えた永久磁石5,6により形成される磁界とによってコイルCに作用するローレンツ力により、梁部4,4で支持された可動部3が繰り返し揺動される。コイル基板3cと永久磁石5,6とで駆動部が構成されている。
即ち、第1偏向機構30は、少なくとも一つの可動部3と、固定部2と、両側から可動部3を固定部2に支持する一対の梁部4,4とを含み、梁部4を捻り回転軸とする第1軸心P1周りに可動部2が揺動可能に構成されている。そして、梁部4,4は、可動部3を支持する機能と、コイルCに通電する導電体としての機能と、可動部3を基準位置に戻すばねとしての機能を備えている。さらに、可動部3に、入射光を反射して偏向走査する光偏向面(偏向ミラー)3aが形成されている。
梁部4,4を構成する材料は金属に制限されるものではなく、シリコンや樹脂等、MEMS技術で加工可能な材料を選択することができ、目標とする揺動周波数に基づいて適宜選択される。
図5(a)に示すように、第2偏向機構40は、コイルを備えたステータ41と永久磁石を備えたロータ42とからなるモータMと、ロータ42に連結された回転軸44と、回転軸44と一体に連結される円盤状の支持部43及び当該支持部43の外周に配置される筒状の支持部45を備えて構成されている。当該支持部43,45によって第1偏向機構30の固定部2が回転自在に支持されている。
支持部43,45に連結された第1偏向機構30がモータMによって第2軸心P2周りに回転駆動される。回転軸44にはエンコーダが設けられ、その出力が信号処理部70に入力され、信号処理部70でその回転速度及び回転位置(回転位相)が把握される。モータMとしてDCブラシレスモータやステッピングモータを好適に用いることができる。
図5(a)から(c)に示すように、非接触給電部50は、珪素鋼で構成された一対の環状のコイル支持部51,53と、各コイル支持部51,53の一端面に形成された断面コの字形状の円環状の溝に巻回された銅線のコイル52,54とで構成されている。
第1コイル支持部51及び第2コイル支持部53は、第2軸心P2を中心に各溝が対向するように僅かな間隙を隔てて配置され、電磁誘導方式により第1コイル52から第2コイル54に給電される。
第1コイル支持部51は、省スペース化のため、ステータ41の周りに嵌め込み固定され、その面位置がステータ41の面位置と一致する高さに配置されている。また第2コイル53は、円盤状の支持部43の周りに嵌込み固定され、両者51,53の間隙が回転軸44の長さで規定されている。
可動部3を揺動駆動するための所定周波数の交流電流が、信号処理部70で生成されて第1コイル52に印加される。さらに当該交流電流が第1コイル52に相対回転する第2コイル54に電磁誘導され、第2コイル54と一体に回転するコイル基板3cに形成されたコイルCに印加される。その結果、可動部3が第1軸心P1回りで揺動する。
ケーシング11の底面に信号処理部70が配置され、その上部に形成された支持板13上に偏向装置が設置されている。支持板13に形成された孔部13aは、信号処理部70と第1コイル52または投受光部20との間の信号線を配置するための開口である。信号処理部70はマイクロコンピュータ等を含む電子回路で構成され、少なくとも第1偏向機構30に対する制御ブロック、第2偏向機構40に対する制御ブロック、投受光部20に対する制御ブロック、測距演算を行なう演算ブロック等が構築されている。
図4(a)には投受光部20の構成が示されている。投受光部20は、光源となるレーザダイオード21と、受光部となるアバランシェフォトダイオード26等を備えて構成されている。レーザダイオード21から放射された測定光がコリメータレンズ22に導かれ、コリメータレンズ22で平行光に成形された測定光が軸心P2に沿って第1偏向機構30の偏向ミラー3a(図4(b)参照。)に入射するように配置されている。コリメータレンズ22は導光部材23に収容され、導光部材23は円錐台状の暗箱24に収容されている。
暗箱24の下端が開放され、導光部材23の周囲を囲むように集光レンズ25が設置されるとともに、暗箱24の天井部で導光部材23の直上にアバランシェフォトダイオード26が配置されている。第1偏向機構30から第2軸心P2に沿って入射した反射光が、集光レンズ25で集光されてアバランシェフォトダイオード26に入射して光電変換される。
図4(b)には、上述した駆動部3c,5,6で第1軸心P1回りに揺動駆動される偏向ミラー3aによって、投受光部20から出射された測定光が上下に偏向反射される様子が示されている。この例では、±11.25°の機械角度で揺動する偏向ミラー3aによって、測定光が±22.5°(45°)の範囲で偏向反射される。
偏向ミラー3aで偏向反射された測定光は、ケーシング11の光学窓12から外部空間に出射され、外部空間の物体から反射した反射光が偏向ミラー3aによって投受光部20に偏向反射され、受光部であるアバランシェフォトダイオード26で検知される。信号処理部70に備えた測距演算部によって、測定光の出射時期と反射光の受光時期の時間差が求められ、その時間差に基づいて走査式測距装置10から物体までの距離が算出される。
第1軸心P1回りに揺動駆動される偏向ミラー3aが第2偏向機構40により第2軸心P2回りに回転駆動される結果、測定光は二次元的に走査される。
図6には、第1軸心P1回りの偏向ミラー3aの揺動周期と、第2軸心P2回りに回転する偏向ミラー3aの回転周期を一致させて、測定光を連続点灯した場合の測定光の軌跡が例示されている。各周期の相対的な位相がずれると、それに伴って測定光の軌跡がシフトする。当該軌跡はリサージュ形状となる。実際には、偏向ミラー3aの揺動周期が回転周期よりも一桁以上の大きな値に設定され、揺動周期よりも一桁から二桁の大きな値の周期で光源が点滅駆動される。
十分な振幅で偏向ミラー3aを揺動させるために、通常、コイルCに印加する交流電流の周波数は可動部3を含む梁部4,4の共振周波数の近傍周波数に設定される。しかし、温度変動等の要因で可動部3を含む梁部4,4の共振周波数が変動すると、それに伴って可動部3の揺動振幅が変動する。
一定の揺動振幅に維持するためには、揺動振幅の変動を計測してコイルCに印加する電流を制御する必要がある。そのために第1偏向機構30に可動部3の揺動振幅を計測するセンサを備えると、当該センサの信号出力を第1偏向機構30から信号処理部70に入力するために、さらに別の電磁誘導方式を採用したコイルを備えるとコストの上昇につながる。
そこで、図3(a),(b)及び図7(a)に示すように、ケーシング11のうち光学窓12が形成されていない領域に、偏向ミラー3aで偏向反射された測定光を反射する基準反射部材60が内周面に沿うように配置されている。この例では、第2軸心P2回りに270°の範囲が測定領域に設定されて、その範囲に光学窓12が形成され、残り90°の範囲が非測定領域に設定されて、その一部領域に基準反射部材60が配置されている。
図7(b)には、平坦に引き伸ばされた基準反射部材60が示されている。同図中、破線で示す正弦波は測定光の軌跡で、この軌跡に沿って所定の周期で光源が点滅される。基準反射部材60は、第2軸心P2に沿う方向での長さが偏向ミラー3aの目標揺動振幅に対応する目標振幅Aよりも若干長くなるように形成された反射シートで構成され、偏向ミラー3aの停止時に測定光が上下方向中心位置を通過するようにケーシング11の内壁に位置決め固定されている。
さらに、基準反射部材60の下縁側には、他の領域(高反射率領域)60Aよりも反射率が低い低反射率領域60Bが形成されている。低反射率領域60Bは少なくとも下端から目標振幅Aの2割の長さまでをカバーする幅で形成されている。
図8に示すように、信号処理部70には、振幅検知部71と振幅制御部72とからなる揺動制御部を備えている。基準反射部材60からの反射光が投受光部20で検知され、信号線を介して振幅検知部71に入力されて振幅が検知される。振幅検知部71で検知された振幅が振幅制御部72に入力され、その振幅が目標振幅になるように交流電流の電流値を一定に維持しながら周波数が調整される。振幅制御部72から出力される交流信号は非接触給電部50を介して可動部3のコイルCに印加される。
振幅検知部71は、低反射率領域60Bに対応する検知間隔と、高反射率領域60Aに対応する検知間隔の合計時間を可動部の1周期と検知する。具体的に、振幅検知部71は、基準反射部材60からの反射光を所定の閾値で二値化するコンパレータと、コンパレータで検知された信号エッジをトリガーにして各区間の時間をカウントするタイマー回路と、タイマー回路の値を記憶する記憶部等を備えている。
図9の上部には、偏向ミラー3a(可動部3)が目標振幅−A(このとき、揺動角度は−11.25°)となるときの振幅特性曲線(実線)と、目標振幅−Aよりも大きな振幅−A´(このとき、揺動角度は−11.25°より大)となるときの振幅特性曲線(破線)と、目標振幅−Aよりも小さな振幅A´´(このとき、揺動角度は−11.25°より小)となるときの振幅特性曲線(一点鎖線)と、基準反射部材60との関係が示されている。
図9の下部には、投受光部20により基準反射部材60からの反射光が検知されるタイミングが示されている。理想的には、可動部3が目標振幅±Aで継続的に揺動されることが好ましいのであるが、環境温度の変動等に起因して可動部3を含む梁部4,4の共振周波数が変化すると振幅が目標振幅±Aからずれるようになる。共振周波数がコイルCへの印加電流の周波数に近づくと可動部3の振幅が大きくなり、共振周波数がコイルCへの印加電流の周波数から遠ざかると可動部3の振幅が小さくなる。
可動部3が目標振幅±Aであるとき、揺動制御部71により低反射率領域60Bに対応する黒レベル領域の区間T11と、高反射率領域60Aに対応する白レベルの区間T12が検知され、区間T11と区間T12の合計時間が可動部3の1周期として検知される。
可動部3が目標振幅Aよりも大きな振幅A´であるとき、揺動制御部71により低反射率領域60Bに対応する黒レベル領域の区間T21と、高反射率領域60Aに対応する白レベルの区間T22が検知され、区間T21と区間T22の合計時間T2(=T1)が可動部3の1周期として検知される。
同様に、可動部3が目標振幅Aよりも小さな振幅A´´であるとき、揺動制御部71により低反射率領域60Bに対応する黒レベル領域の区間T31と、高反射率領域60Aに対応する白レベルの区間T32が検知され、区間T32と区間T32の合計時間T3(=T1)が可動部3の1周期として検知される。
振幅制御部72は、振幅検知部71で検知された白レベル領域の区間と黒レベル領域の区間の時間比が目標値(T11/T12)からずれると、当該時間比が目標値(T11/T12)になるように、コイルCへの印加電流の電流値を一定に維持しながら周波数fを可変制御する。その結果、可動部3の振幅が目標となる振幅Aに一定に維持されるようになる。
具体的に、振幅制御部72は、白レベル領域の区間と黒レベル領域の区間の時間比及び時間比の目標値との偏差を算出する演算回路と、偏差に基づいて印加電流の周波数の制御値を算出するPID演算等で例示されるフィードバック演算部と、フィードバック演算部で算出された制御値に対応して印加電流の周波数を調整するPLL回路を備えた交流電源回路等を備えている。尚、コイルCへの印加電流の電流値を一定に維持するとは、交流電流の実効値を一定に維持することを意味する。
つまり、振幅検知部71では、回転軸44に備えたエンコーダの出力に基づくモータの回転数と回転位置に基づいて、基準反射部材60に対する白レベル領域の区間と黒レベル領域の区間が検知され、振幅制御部72では、白レベル領域の区間と黒レベル領域の区間の合計時間とそれらの時間比とから可動部3の揺動周波数及び振幅が求められる。
図10(a)に示すように、揺動振幅が共にAで揺動周波数がf1,f2(f1<f2)の可動部3に対して、振幅検知部71によって振幅αAとなる位置を境に黒レベル区間と白レベル区間が検知される場合を想定する。
揺動周波数f1の可動部3は、A1(t)=A sin 2πf1tで揺動し、揺動周波数f2の可動部3は、A2(t)=A sin 2πf2tで揺動する。振幅がαAとなる時間t11,t12,t13は、以下の式で求まる。
αA=A sin 2πf1t
αA=A sin 2πf2t
これから、
t11={1/(2πf1)}×sin−1(α)
t12={1/(2πf1)}×{π−sin−1(α)}
t13={1/(2πf1)}×{2π−sin−1(α)}
と求まる。但し、0≦sin−1(α)≦π/2である。
よって、
T11=t12−t11={1/(2πf1)}×{π−2sin−1(α)}
T12=t13−t12={1/(2πf1)}×{π+2sin−1(α)}
T11/T12={π−2sin−1(α)}/{π+2sin−1(α)}
となり、同様に、
T21/T22={π−2sin−1(α)}/{π+2sin−1(α)}
となる。
つまり、振幅が同一であれば周波数が変わってもT1/T2(=T11/T12=T21/T22)は一定となり、逆にT1/T2が一定になるように周波数を調整すれば、振幅が一定に維持されるようになるのである。
図10(b)に示すように、可動部3を含む梁部4,4の当初の共振周波数がQbである場合に、振幅制御部72は、初期にコイルCへの印加電流を一定に維持しつつ、電流の周波数を共振周波数Qbよりも十分に高い周波数fmaxから共振周波数Qbよりも十分に低い周波数fminに向けて連続的にまたはステップ的に変化させる。
振幅制御部72は、その都度、振幅検知部71により検知された白レベル区間と黒レベル区間の時間比が目標値になるか否かを判定し、時間比が所定の許容範囲に収束すると、その周波数(図10(b)ではfbと表記される周波数)に維持する。図10(b)では、可動部3の動作点が共振周波数Qbの共振特性のPb点で示されている。
その後、共振周波数がQ1に低下すると動作点が共振周波数Qlの共振特性のPl点に変化して振幅が小さくなり、共振周波数がQhに上昇すると共振周波数Qhの共振特性のPh点に変化して振幅が大きくなる。例えば、共振周波数がQhに上昇した場合には、振幅制御部72は、長周期区間と短周期区間の時間比が目標値になるように、コイルCへの印加電流の周波数を共振周波数Qhより高いfh1または共振周波数Qhより低いfh2に調整する。その結果、可動部3は、共振周波数Qhの共振特性のPh1点またはPh2点で動作するようになる。Ph1点またはPh2点のうち、動作の安定性に差が見られる場合には、動作の安定性が高い方の動作点に調整すればよい。
例えば、第2偏向機構40に備えたモータMの回転速度を20Hz、第1偏向機構30の揺動周波数を200Hzとすると、モータMの1回転あたり可動部3は10回揺動する。このとき90°の非測定領域に基準反射部材60を設けられていると、少なくとも可動部3は2周期揺動するので、モータMの1回転あたり2回の揺動振幅を計測することができる。このとき、光源の点滅周期が十分に短く設定されていると、十分な分解能で白領域と黒領域を計測することができる。
モータMの回転速度に対して第1偏向機構30による遥動周波数が低く、モータMが一回転する時間内に、基準反射部材60に対して一周期以上の遥動駆動ができない場合には、モータMが一回転する時間内に可動部3の振動振幅を計測することができない。
しかし、この場合には、第2偏向機構40のモータMが複数回転する間に計測される基準反射部材60からの反射光に対する信号とそのときのエンコーダにより検知される回転位置を記憶部に記憶しておき、その後エンコーダにより検知される回転位置に対応付けた一周期の信号に合成することにより可動部3の振動振幅を算出することができ、その値に基づいて揺動振幅を制御することができる。
さらに、信号処理部70に、投受光部20で受光された基準反射部材60からの反射光に基づいて投受光部20から出射される測定光の強度または発光インタバルを調整する調光部を備えていることが好ましい。
投受光部20から出射される測定光の強度が変動すると、測定精度が低下する虞があり、光源に使用するレーザ光の強度が安全基準から逸脱する虞もある。そのような場合でも、調光部により、振幅調整用の基準反射部材60からの反射光に基づいて測定光の強度または発光インタバルが調整されるので、光量調整用の専用の基準反射部材を別途設ける必要もない。
例えば、基準反射部材60からの反射光とモータMの回転位相を検知するエンコーダの信号に基づいて算出される可動部3の振幅と位相から可動部3の揺動角度を求め、揺動角度に基づいてレーザ光の発光タイミングを制御することができる。モータMの回転速度と発光時間間隔を一定にすると、可動部3の最大振幅近辺でのレーザ光の密度が高くなる。即ち、可動部3の最大振幅付近でレーザクラスの安全基準を満たすことが厳しくなる場合がある。そのような場合でも、最大振幅近辺においてレーザダイオードの発光時間間隔が長くなるように制御すれば、レーザの安全クラスを確保することができるようになる。最大振幅タイミングは基準反射部材60に対する反射信号の白レベル区間と黒レベル区間の各々中間時点を基準にして求められる。
また、例えば、基準反射部材60に、第2軸心P2方向に沿った複数段の濃淡の縞状の反射領域を備え、或いはモータMの回転方向に沿った複数段の濃淡の縞状の反射領域を備えると、基準反射部材60の各反射領域からの反射光の強度が変化する場合の距離演算特性が得られ、この距離演算特性に基づいて光学窓12を介した対象物からの反射光に対応する算出距離を補正する補正回路を構築することができる。投受光部で光電変換された反射信号の立ち上がりを二値化するコンパレータ等の出力によって反射光の検出タイミングを決定する場合に、同じ位置に存在する対象物であっても、反射光の光量によって反射光の検出タイミングが異なることで生じる誤差が補正されるようになる。
可動部3の揺動周期に同期して第2偏向機構40の回転周期及び/または投受光部20から出射された測定光による測定周期(具体的には測定光(レーザダイオード)の発光タイミング)を調整する同期制御部を信号処理部70に備えていることが好ましい。
同期制御部は、上述した可動部3の揺動位相に同期して、予め設定された所定の測定方向に向けて測定光を出射するように、モータMの回転数や回転位相と測定光の点灯時期を調整する。
信号処理部70は、投受光部20に備えた光源からの測定光の出射時期を基準に、その後検知された反射光との時間差や位相差に基づいて、測定光の反射位置(物体)までの距離を算出する測距演算部を備えている。例えば、TOF方式を採用する測距演算部は、所定周期で光源を点灯制御して物体までの距離を算出し、そのときの距離と測定光の出射方向とから物体の座標を特定する。
しかし、振幅制御部72によって可動部3の周期が偏向制御されると、モータMの回転周期または位相と、測定光の出射時期との同期がずれるため、予め設定された所定の測定方向に対応した測距が困難になる。つまり、モータMの回転速度と光源の点灯周期を一定に維持した状態で、可動部3の振幅を一定に制御するために可動部の揺動周期が変化すると測定方向が変化して、本来必要な測定方向に対応する測定値が得られなくなる虞がある。また、可動部3の1揺動周期内で必要な測定値の数の増減が発生する虞もある。
そのような場合であっても、同期制御部が、可動部3の周期及び揺動位相に同期するようにモータMの回転速度または回転位相を制御するとともに光源の発光タイミングを制御することにより、本来必要な測定方向に対応する測定値を得ることができるようになる。
図10(a)に示すように、例えば、振幅検知部71で検知された白レベル区間T12と黒レベル区間T11の各区間の1/2となる時期に振幅が最大となる。白レベル区間T12及び/または黒レベル区間T11の各開始時期から時間をカウントすることで各区間の1/2となる時間を検知することができる。即ち、黒レベル区間T11の1/2となる時間が位相π/2となる時間として、また白レベル区間T12の1/2となる時間が位相3π/2となる時間として検知できる。また位相π/2となる時間より(1/4)×T1時間遡った時間が位相0となる時間と検知できる。
同期制御部は、可動部3の揺動位相に基づいて、モータの回転速度と位相を制御し、所定の揺動位相に応じた同期タイミングで発光部を点灯制御することで、可動部3の揺動周期が変動しても、常に所定の揺動位相に対応して測距のための測定光を点灯させて測距演算を行なうことができるようになる。例として可動部3と発光部の点灯タイミングとの同期に限って説明する。
図11(a)に示すように、周波数f1で揺動している可動部3が揺動角Anの方向で測距する必要がある場合の位相をφnとすると、
An=A×sin(φn)
を満たす位相角で測距すればよい。周波数f1の場合、その時間t1nは、
t1n=(φn/2π)×T1
となり、この時間に測距すればよい。
共振周波数が変動して周波数f2で揺動するようになった場合、そのままtnで測距すると測定光は揺動角An´の方向となり、意図した方向での測距ができなくなる。この場合も測距すべき位相φnは同一であるので周波数f2の場合の測定時間t2nは
t2n=(φn/2π)×T2
で求められる。
このように可動部3の位相0の時間と一周期の時間に基づき、周波数f1の場合の位相φnに対応した時間t1nを算出して測定光を点灯制御することが可能となる。そして周波数がf2に変動した場合も位相φnに対応した時間t2nに測定光を点灯制御することで所定の位相φn、揺動角Anで測距することができる。即ち、振幅制御部72によって周波数f2に制御されると可動部3の振れ角がAn´に変動するが、このとき同期信号出力部によって可動部3が位相φnとなる時期t2nに同期信号が出力されると、可動部3の振れ角がAnとなる時期t2nに測定光を点灯させることができるようになる。
ここで図11(a)は、振れ角方向または走査方向に対して等間隔で発光制御する場合の測距タイミングを示す図、図11(b)は位相方向または時間軸上で等間隔に発光制御する場合の測距タイミングを示す図である。どの位相または時間で発光制御するかは用途に応じて適宜定めるものであって、この事例に限定されない。またその発光タイミングは発光すべき位相情報あるいはそれに対応した情報として制御装置内部の記憶装置に予め設定しておいても良く、また外部の制御装置等から入力されてもよい。
以下、別実施形態を説明する。
上述した実施形態では、非接触給電部50を介してコイルCへの印加信号と同一周波数の交流信号を給電信号として第1コイル52に印加し、第2コイル54に電磁誘導された給電信号をコイルCに印加する直接駆動タイプの構成を説明した。この場合、例えば周波数200〜400Hzの駆動信号が非接触給電部50を介して第1コイル52に印加される。このタイプは回路構成が簡単になるが周波数が低いため、コイル支持部51,53を含めた非接触給電部50が大型化する。
また信号処理部70と第1偏向機構30との間で他の種類の制御信号を遣り取りする必要がある場合は、制御信号に対応する他の非接触給電部を備える必要がある。
そこで、第1偏向機構30に組み込まれた駆動部に、可動部3に形成されたコイルCと、コイルCに印加する電流を生成する電源回路とを備え、振幅制御部72が非接触給電部50を介してコイルCに印加する電流の周波数制御情報を高周波に重畳させて駆動部に伝送するように構成すれば、一つの非接触給電部50を介して複数種類の信号を伝達することができるようになる。
例えば、非接触給電部50を介して13MHz等の高周波で第2コイル54に給電し、第1偏向機構30に備えた電源回路で平滑して定電圧を生成し、その電源を元に駆動部の振幅制御等の各種制御を行なうことができる。この場合、電源回路に、受信した周波数制御情報に基づいてコイルCに印加する電流の周波数を制御する周波数調整回路を備えればよい。
周波数制御情報を伝送する態様として、第2コイル54に給電する高周波の周波数を切り替える態様を採用することができる。例えば、13MHzと13.5MHzの二つの周波数を論理値0または1に対応付けて周波数を切り替えることによって、周波数制御情報をデジタル信号として伝達することができる。
また、第2コイル54に給電する高周波を搬送波として使用し、搬送波を周波数制御情報で変調し、受信側で周波数制御情報を復調することも可能である。
このような構成を採用すると、第1偏向機構30に組み込まれる回路が多少複雑になるが、高周波信号により給電することにより非接触給電部50の小型化が可能になる。また電源回路として安定化電源回路を設ければ、第1偏向機構30内部で可動部3の自立的な制御が可能となる。例えば可動部3の揺動振幅を検知するセンサを備え、そのセンサの出力に基づいて自立的に振幅制御を行うことも可能になる。
上述した実施形態では、インナロータタイプのモータMを用い、ステータの周部に第1コイルを配置した例を説明したが、図12(a)から(c)に示すように、同じくインナロータタイプのモータMを用い、ステータ41の上端面に非接触給電部50を配置し、ロータ42と連結された回転軸44で第1揺動機構30を支持するように構成してもよい。
図13(a)から(c)に示すように、アウタロータタイプのモータMを用い、ロータ42に連結した支持部45で第1偏向機構30を支持するとともに、ステータ41の上端面に上述と同様の非接触給電部50を配置してもよい。
この場合、各コイル支持部51,53の中心部に形成された空間に第1偏向機構30との間で信号を伝送する非接触信号伝送部80を配置することができる。非接触信号伝送部80として光カップラ、静電誘導回路、無線送信回路等を用いることができる。つまり、非接触給電部50を介して第1偏向機構30へ給電するとともに、非接触信号伝送部80を介して信号処理部70と第1偏向機構30との間で複数の制御信号のやり取りが可能になる。
例えば、信号処理部70は、非接触給電部50を介して第1偏向機構30へ電力を供給し、第1偏向機構30に備えた揺動振幅センサの信号を、非接触信号伝送部80を介して受信するとともに、揺動振幅を制御する周波数情報を、非接触信号伝送部80を介して第1偏向機構30に備えた電源回路に送信することができる。
図14に示すように、アウタロータタイプのモータMを用い、ロータ42に連結した支持部45で第1偏向機構30を支持するとともに、ステータ41の上端面に上述と同様の非接触給電部50を配置する場合には、ステータ41を中空に形成するとともに、可動部3の上下両面に偏向ミラー3aを形成し、ステータ41及び非接触給電部50の中空部に光路を形成可能に構成してもよい。第2軸心P2に沿って上下にそれぞれ投受光部20を配置することで、同時に二方向の測距が可能になる。
図15に示すように、偏向ミラー3aで偏向反射された測定光に上縁側及び/または下縁側の一部に2次偏向板90を備えると、2次偏向板90を備えた領域で測距範囲を拡大することができる。クレーン車や路面に段差のあるところを走行するAGV等に設置すると、周囲を走査しながら天井の高さや床面の段差の検知が可能となる。例えば正面方向を中心に±2.5°の範囲に2次偏向板90を備えることができる。
上述した実施形態では、何れも静止時の偏向ミラー3aの傾斜角度が水平面に対して45°に設定された例を説明したが、偏向ミラー3aの傾斜角度を水平面に対して45°より大きく、または水平面に対して45°より小さく設定してもよい。測距が必要な領域に応じて適宜設定すればよい。また、第2偏向機構40に第1偏向機構30の取付け角度を自動変更するモータを備えてもよい。
上述した実施形態では、ローレンツ力を利用して可動部3を揺動するタイプの第1偏向機構30を説明したが、コイルに交流電流を印加して発生する静電力や、圧電体で構成される梁部4に電圧を印加して発生する圧電力を利用して可動部3を揺動するような構成を採用してもよい。また弾性梁部が可動部の一方だけに形成され、梁部を軸に可動部が揺動駆動されるような構成を採用してもよい。
上述した実施形態では、本発明による偏向装置を用いた走査式測距装置を説明したが、偏向装置に用途は特に制限されることはなく、例えばプロジェクタ等の映像光を走査する光走査装置に適用してもよい。
10:走査式測距装置
11:ケーシング
12:光学窓
20:投受光部
30:第1偏向機構
40:第2偏向機構
50:非接触給電部
70:信号処理部
P1:第1軸心
P2:第2軸心

Claims (11)

  1. 第1軸心周りに揺動可能な可動部と前記可動部を揺動駆動する駆動部を備えた第1偏向機構と、
    前記第1偏向機構を前記第1軸心とは異なる第2軸心周りに回転駆動する第2偏向機構と、
    前記駆動部と電気的に接続され、前記第2偏向機構の回転に伴って前記第2軸心周りに回転するように配置された第2コイルと、前記第2コイルと共通の軸心上で対向配置された第1コイルとを備え、電磁誘導方式により前記第1コイルから前記第2コイルに給電する非接触給電部と、
    を備えている偏向装置。
  2. 前記第1偏向機構は、前記第2偏向機構に回転可能に支持された固定部と、前記可動部を前記固定部に支持する梁部とを備えて構成され、
    前記梁部は、前記駆動部により捻り回転駆動または撓み揺動駆動され、前記第1軸心として機能する請求項1記載の偏向装置。
  3. 前記第2軸心上に配置された投受光部と、
    前記可動部に設置され、前記投受光部から前記第2軸心に沿って出射された測定光を偏向反射し、偏向反射された測定光のうち物体で反射された反射光を前記投受光部に導く光偏向部と、
    前記投受光部から出射され、前記光偏向部で偏向反射された測定光が照射される基準反射部材と、
    前記投受光部で受光された前記基準反射部材からの反射光に基づいて、前記駆動部を制御する揺動制御部と、
    を備え、
    前記揺動制御部からの制御信号が前記非接触給電部を介して前記駆動部に伝達される請求項2記載の偏向装置。
  4. 前記基準反射部材は、前記第2軸心に沿って反射率が異なる領域を備え、
    前記揺動制御部は、前記投受光部で受光された前記基準反射部材からの反射光に基づいて前記第1偏向機構による揺動振幅を検知する振幅検知部と、前記振幅検知部で検知された揺動振幅が所定の揺動振幅になるように前記駆動部を制御する振幅制御部と、を備えている請求項3記載の偏向装置。
  5. 前記駆動部は、前記可動部に形成された駆動用のコイルを含み、前記振幅制御部は、前記非接触給電部を介して前記コイルに印加する電流の周波数を制御する請求項4記載の偏向装置。
  6. 駆動部は、前記可動部に形成された駆動用のコイルと、前記コイルに印加する電流を生成する電源回路とを含み、
    前記振幅制御部は、前記非接触給電部を介して前記コイルに印加する電流の周波数制御情報を高周波に重畳させて前記電源回路に伝送し、
    前記電源回路は前記周波数制御情報に基づいて前記コイルに印加する電流の周波数を制御する請求項4記載の偏向装置。
  7. 前記可動部の揺動周期に同期して前記第2偏向機構の回転周期及び/または前記投受光部から出射された測定光による測定周期を調整する同期制御部を備えている請求項4から6の何れかに記載の偏向装置。
  8. 前記投受光部で受光された前記基準反射部材からの反射光に基づいて、前記投受光部から出射される測定光の強度または発光インタバルを調整する調光部を備えている請求項3から7の何れかに記載の偏向装置。
  9. 前記非接触給電部は、前記第1コイル及び第2コイルを各別に巻回して支持する一対の環状のコイル支持部を備え、各コイル支持部の中心部に形成された空間に前記第1偏向機構との間で信号を伝送する非接触信号伝送部が配置されている請求項1から8の何れかに記載の偏向装置。
  10. 請求項1から9の何れかに記載された偏向装置を備えている光走査装置。
  11. 請求項1から9の何れかに記載された偏向装置を備えている走査式測距装置。
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Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016024316A (ja) * 2014-07-18 2016-02-08 船井電機株式会社 レーザ走査装置
CN105467398A (zh) * 2015-12-31 2016-04-06 上海思岚科技有限公司 扫描测距设备
KR20170078031A (ko) * 2015-12-29 2017-07-07 전자부품연구원 스캐닝 수직 영역이 가변되는 스캐닝 라이다
CN107003178A (zh) * 2014-11-24 2017-08-01 Zkw集团有限责任公司 对扫描镜的振动幅度的测量
KR20180080974A (ko) * 2017-01-05 2018-07-13 (주)카네비컴 레이저 송수광 모듈 및 이를 포함하는 장치
JP2019074447A (ja) * 2017-10-18 2019-05-16 スタンレー電気株式会社 レーザレーダ装置
US10324184B1 (en) 2018-07-03 2019-06-18 Dolphin Co., Ltd. Object detecting apparatus, object detecting method, and design method of object detecting apparatus
WO2019123722A1 (ja) * 2017-12-22 2019-06-27 コニカミノルタ株式会社 光走査装置、光走査装置の制御方法、および光走査装置の制御プログラム
WO2019181692A1 (ja) * 2018-03-19 2019-09-26 日本電産株式会社 距離測定装置および移動体
JP2019191037A (ja) * 2018-04-26 2019-10-31 コニカミノルタ株式会社 ライダー、およびライダーの制御方法
JP2020008826A (ja) * 2018-11-01 2020-01-16 Dolphin株式会社 物体検出装置、制御方法及びプログラム
JP2020519894A (ja) * 2017-05-12 2020-07-02 ロベルト・ボッシュ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツングRobert Bosch Gmbh 簡素化された検出を備えたlidar装置および方法
US10852431B1 (en) 2019-05-28 2020-12-01 Dolphin Co., Ltd. Actuator and object detecting apparatus
WO2022107510A1 (ja) * 2020-11-19 2022-05-27 株式会社デンソー 光学的測距装置
JP7097647B1 (ja) 2021-12-16 2022-07-08 Dolphin株式会社 光走査装置、物体検出装置、光走査装置の調整方法及びプログラム
JP7097648B1 (ja) 2021-12-16 2022-07-08 Dolphin株式会社 光走査装置、物体検出装置、光走査装置の調整方法及びプログラム

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013205589A1 (de) * 2013-03-28 2014-10-02 Hilti Aktiengesellschaft Vorrichtung zur optischen Messung einer Distanz zu einem reflektierenden oder streuenden Zielobjekt
JP6507500B2 (ja) * 2014-07-01 2019-05-08 セイコーエプソン株式会社 光学デバイスおよび画像表示装置
JP6315268B2 (ja) 2014-07-02 2018-04-25 船井電機株式会社 レーザレンジファインダ
JP6405820B2 (ja) * 2014-09-17 2018-10-17 富士通株式会社 信号伝送装置、信号伝送方法および信号伝送プログラム
AU2015327063A1 (en) * 2014-09-29 2017-04-20 Fondazione Cariplo Method and device for detecting the form of sails
CN105021163A (zh) * 2015-07-14 2015-11-04 深圳乐行天下科技有限公司 光学扫描装置
DE102015118258B3 (de) * 2015-10-27 2016-08-04 Sick Ag Laserscanner und Verfahren zur Überprüfung von dessen Funktionsfähigkeit
US10642027B2 (en) * 2015-12-08 2020-05-05 The Regents Of The University Of Michigan 3D MEMS scanner for real-time cross-sectional endomicroscopy
KR102353513B1 (ko) * 2017-03-16 2022-01-20 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 회전 거리 측정 장치
CN106814366B (zh) * 2017-03-23 2024-04-30 上海思岚科技有限公司 一种激光扫描测距装置
CN108474654B (zh) 2017-03-29 2021-05-04 深圳市大疆创新科技有限公司 激光测量装置和移动平台
JP6969164B2 (ja) * 2017-05-31 2021-11-24 株式会社リコー 評価装置、評価プログラム及び評価方法
DE102017006321A1 (de) 2017-07-05 2019-01-10 Wabco Gmbh LIDAR Sensor mit Bezugsebeneneinstellung
CN109424562B (zh) * 2017-08-25 2020-08-07 技嘉科技股份有限公司 混合反光及导光机制的发光风扇装置
WO2019128227A1 (zh) * 2017-12-29 2019-07-04 江苏美的清洁电器股份有限公司 检测组件、扫地机器人及检测其行走路况的方法和系统
CN108051824B (zh) * 2017-12-29 2020-05-22 江苏美的清洁电器股份有限公司 检测组件、扫地机器人及检测其行走路况的方法和系统
US11480681B2 (en) 2018-03-26 2022-10-25 Research Foundation Of The City University Of New York Lidar system for detection of small flying objects
DE102018113739A1 (de) * 2018-06-08 2019-12-12 Blickfeld GmbH Koaxiales optisches System eines reibungsfreien Scansystems für Lichtdetektion und Abstandsmessung, LIDAR, Messungen
KR102637175B1 (ko) * 2018-07-02 2024-02-14 현대모비스 주식회사 라이다 센싱장치
CN111121651A (zh) 2018-10-31 2020-05-08 财团法人工业技术研究院 光学测量稳定性控制系统
WO2020117287A1 (en) 2018-12-07 2020-06-11 Didi Research America, Llc Mirror assembly for light steering
US11119195B2 (en) 2018-12-07 2021-09-14 Beijing Voyager Technology Co., Ltd. Mirror assembly for light steering
US11181621B2 (en) 2018-12-07 2021-11-23 Beijing Voyager Technology Co., Ltd. Mirror assembly for light steering
US10422881B1 (en) 2018-12-07 2019-09-24 Didi Research America, Llc Mirror assembly for light steering
CN109613695B (zh) * 2019-01-14 2022-01-25 清华大学深圳研究生院 一种mems扫描镜
JP6704537B1 (ja) 2019-06-12 2020-06-03 三菱電機株式会社 障害物検出装置
CN110568421B (zh) * 2019-08-31 2021-04-13 上海禾赛科技股份有限公司 测量扫描振镜偏转角度的方法及使用其的激光雷达
CN112888985B (zh) 2019-09-30 2022-04-05 深圳市速腾聚创科技有限公司 激光雷达振镜的控制方法、控制装置和激光雷达
IT202000002155A1 (it) * 2020-02-04 2021-08-04 Fondazione St Italiano Tecnologia Dispositivo per l’orientamento sferico di un elemento ottico, in particolare per dirigere un fascio di luce, quale un fascio laser
CN111983598B (zh) * 2020-07-22 2024-03-01 清华大学 一种基于多径信号的轴心轨迹确定方法及装置
DE102020214216A1 (de) * 2020-11-12 2022-05-12 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Lidar-Sensor
US11947050B2 (en) * 2021-07-07 2024-04-02 Beijing Voyager Technology Co., Ltd. Temperature control through thermal recycle
DE102022200929B4 (de) * 2022-01-27 2023-08-17 BSH Hausgeräte GmbH Mobiles, selbstfahrendes Gerät

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5681812A (en) * 1979-12-10 1981-07-04 Fuji Photo Film Co Ltd Light beam modulating and deflecting device
JP2003344797A (ja) * 2002-05-28 2003-12-03 Olympus Optical Co Ltd 光走査装置
JP2008249375A (ja) * 2007-03-29 2008-10-16 Topcon Corp 3次元位置測定装置
JP2010151682A (ja) * 2008-12-25 2010-07-08 Topcon Corp レーザスキャナ及びレーザスキャナ測定システム及びレーザスキャナ測定システムの較正方法及び較正用ターゲット
JP2010169811A (ja) * 2009-01-21 2010-08-05 Seiko Epson Corp 光走査装置および画像形成装置
JP2011227379A (ja) * 2010-04-22 2011-11-10 Brother Ind Ltd 画像表示装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6012527A (ja) 1983-07-04 1985-01-22 Secoh Giken Inc 赤外ビ−ム走査装置
JP2001050723A (ja) 1999-08-11 2001-02-23 Minolta Co Ltd 距離測定装置
JP2003287693A (ja) 2002-01-28 2003-10-10 Matsushita Electric Works Ltd 光ビームスキャン機構
JP3875665B2 (ja) * 2003-07-31 2007-01-31 北陽電機株式会社 スキャニング型レンジセンサ
JP3908226B2 (ja) * 2004-02-04 2007-04-25 日本電産株式会社 スキャニング型レンジセンサ
JP2009058616A (ja) 2007-08-30 2009-03-19 Canon Inc 揺動体装置、光偏向装置、及びそれを用いた画像形成装置
DE102009049809B4 (de) 2008-04-18 2019-10-10 Ingenieurbüro Spies GbR (vertretungsberechtigte Gesellschafter: Hans Spies, Martin Spies, 86558 Hohenwart) Optischer Laufzeitsensor zur Raumabtastung
NO332432B1 (no) 2008-08-12 2012-09-17 Kongsberg Seatex As System for deteksjon og avbildning av objekter i banen for marine fartoy
JP2010085205A (ja) 2008-09-30 2010-04-15 Topcon Corp レーザ装置および距離測定装置
ATE544081T1 (de) 2009-03-31 2012-02-15 Pepperl & Fuchs Optischer sensor nach dem laufzeitprinzip
US8829422B2 (en) 2009-10-30 2014-09-09 Kyocera Document Solutions Inc. Optical scanning apparatus using MEMS mirror and image forming apparatus provided with the same
US8305561B2 (en) * 2010-03-25 2012-11-06 Hokuyo Automatic Co., Ltd. Scanning-type distance measuring apparatus

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5681812A (en) * 1979-12-10 1981-07-04 Fuji Photo Film Co Ltd Light beam modulating and deflecting device
JP2003344797A (ja) * 2002-05-28 2003-12-03 Olympus Optical Co Ltd 光走査装置
JP2008249375A (ja) * 2007-03-29 2008-10-16 Topcon Corp 3次元位置測定装置
JP2010151682A (ja) * 2008-12-25 2010-07-08 Topcon Corp レーザスキャナ及びレーザスキャナ測定システム及びレーザスキャナ測定システムの較正方法及び較正用ターゲット
JP2010169811A (ja) * 2009-01-21 2010-08-05 Seiko Epson Corp 光走査装置および画像形成装置
JP2011227379A (ja) * 2010-04-22 2011-11-10 Brother Ind Ltd 画像表示装置

Cited By (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016024316A (ja) * 2014-07-18 2016-02-08 船井電機株式会社 レーザ走査装置
CN107003178B (zh) * 2014-11-24 2019-06-18 Zkw集团有限责任公司 测量扫描镜的振动幅度的方法
CN107003178A (zh) * 2014-11-24 2017-08-01 Zkw集团有限责任公司 对扫描镜的振动幅度的测量
JP2017538170A (ja) * 2014-11-24 2017-12-21 ツェットカーヴェー グループ ゲーエムベーハー スキャナミラーの振動振幅の測定
KR102204980B1 (ko) * 2015-12-29 2021-01-19 한국전자기술연구원 스캐닝 수직 영역이 가변되는 스캐닝 라이다
KR20170078031A (ko) * 2015-12-29 2017-07-07 전자부품연구원 스캐닝 수직 영역이 가변되는 스캐닝 라이다
CN105467398A (zh) * 2015-12-31 2016-04-06 上海思岚科技有限公司 扫描测距设备
KR101963966B1 (ko) * 2017-01-05 2019-04-01 (주)카네비컴 레이저 송수광 모듈 및 이를 포함하는 장치
KR20180080974A (ko) * 2017-01-05 2018-07-13 (주)카네비컴 레이저 송수광 모듈 및 이를 포함하는 장치
JP2020519894A (ja) * 2017-05-12 2020-07-02 ロベルト・ボッシュ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツングRobert Bosch Gmbh 簡素化された検出を備えたlidar装置および方法
JP7035085B2 (ja) 2017-05-12 2022-03-14 ロベルト・ボッシュ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング 簡素化された検出を備えたlidar装置および方法
JP2019074447A (ja) * 2017-10-18 2019-05-16 スタンレー電気株式会社 レーザレーダ装置
WO2019123722A1 (ja) * 2017-12-22 2019-06-27 コニカミノルタ株式会社 光走査装置、光走査装置の制御方法、および光走査装置の制御プログラム
JP7078061B2 (ja) 2017-12-22 2022-05-31 コニカミノルタ株式会社 光走査装置、光走査装置の制御方法、および光走査装置の制御プログラム
JPWO2019123722A1 (ja) * 2017-12-22 2021-01-14 コニカミノルタ株式会社 光走査装置、光走査装置の制御方法、および光走査装置の制御プログラム
WO2019181692A1 (ja) * 2018-03-19 2019-09-26 日本電産株式会社 距離測定装置および移動体
JP2019191037A (ja) * 2018-04-26 2019-10-31 コニカミノルタ株式会社 ライダー、およびライダーの制御方法
JP7087633B2 (ja) 2018-04-26 2022-06-21 コニカミノルタ株式会社 ライダー、およびライダーの制御方法
US10620314B2 (en) 2018-07-03 2020-04-14 Dolphin Co., Ltd. Object detecting apparatus and method thereof
US11275157B2 (en) 2018-07-03 2022-03-15 Dolphin Co., Ltd. Object detecting apparatus, object detecting method, and design method of object detecting apparatus
US10324184B1 (en) 2018-07-03 2019-06-18 Dolphin Co., Ltd. Object detecting apparatus, object detecting method, and design method of object detecting apparatus
JP2020008826A (ja) * 2018-11-01 2020-01-16 Dolphin株式会社 物体検出装置、制御方法及びプログラム
US10852431B1 (en) 2019-05-28 2020-12-01 Dolphin Co., Ltd. Actuator and object detecting apparatus
WO2022107510A1 (ja) * 2020-11-19 2022-05-27 株式会社デンソー 光学的測距装置
JP7097647B1 (ja) 2021-12-16 2022-07-08 Dolphin株式会社 光走査装置、物体検出装置、光走査装置の調整方法及びプログラム
JP7097648B1 (ja) 2021-12-16 2022-07-08 Dolphin株式会社 光走査装置、物体検出装置、光走査装置の調整方法及びプログラム
JP2023089863A (ja) * 2021-12-16 2023-06-28 Dolphin株式会社 光走査装置、物体検出装置、光走査装置の調整方法及びプログラム
JP2023089700A (ja) * 2021-12-16 2023-06-28 Dolphin株式会社 光走査装置、物体検出装置、光走査装置の調整方法及びプログラム

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