JP2013541803A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2013541803A5
JP2013541803A5 JP2013525377A JP2013525377A JP2013541803A5 JP 2013541803 A5 JP2013541803 A5 JP 2013541803A5 JP 2013525377 A JP2013525377 A JP 2013525377A JP 2013525377 A JP2013525377 A JP 2013525377A JP 2013541803 A5 JP2013541803 A5 JP 2013541803A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
ray tube
target
transmission
thick
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013525377A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013541803A (ja
JP5901028B2 (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from US12/806,976 external-priority patent/US8406378B2/en
Application filed filed Critical
Publication of JP2013541803A publication Critical patent/JP2013541803A/ja
Publication of JP2013541803A5 publication Critical patent/JP2013541803A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5901028B2 publication Critical patent/JP5901028B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

2007年2月20日に発行された米国特許第7,180,981号(参考用に全文を添付)において、最大で41μm厚のターゲット箔(target foil)を用いた端窓(end window)X線管が開示されている。41μmのターゲット材料は、使用するターゲット材料によっては、低エネルギー範囲で発生したX線のいくつかをフィルタリングすることができる。しかし、依然として、医療用X線の患者に過度の線量を受けさせる、あるいは、X線顕微鏡、蛍光X線またはX線回折用のX線管の使用等の用途において除去しなければならない不必要な低エネルギーX線を提供するかなりの低エネルギーX線発生がある。
X線の多くの用途において、低エネルギーX線放射は、撮像、X線回折分析またはX線顕微鏡に必要な高エネルギーにおいて有効X線を発生する時の不要な副産物である。医療用用途において、低エネルギーX線放射は、有効な画像を作成せずに患者に吸収されるため、不要な追加の線量になる。
このような単色X線は、結晶回折やX線顕微鏡によく使用されるが、相当量の低エネルギーX線放射が存在する時、単色X線エネルギーを生成するコストは増加する。
電子ビームは、集束メカニズムによりターゲットの上方、下方または上表面に集束することができる。ターゲットは、ベリリウム、アルミニウム、銅、またはこれらの合金等の異なる材料の端窓に取り付けることができる。
上述した透過管を使用する用途は、歯科用CT(computed tomography)画像、医療用画像、CT画像、X線回折図形、Cアーム(C-Arm)画像、透視画像およびX線顕微鏡を取得するための管を使用することを含む。
図1において、本発明の透過管(アイテム7)は、真空ハウジング(アイテム9)と、大気に露出したハウジングの端部に配置された端窓陽極(アイテム1)とを含む。X線ターゲット箔(アイテム2)は、端窓陽極の上に配置される。電気的に刺激された陰極(アイテム3)は、電子ビーム経路(アイテム4)に沿って加速する電子を放出し、X線を発生する陽極ターゲット(アイテム8)に衝突する。電源(アイテム6)は、陰極と陽極の間に接続され、電子ビームに対して加速力を提供する。発生したX線は、端窓を通ってX線管を出る。端窓の材料は、一般的に、ベリリウム、アルミニウム、銅、リチウム、ボロンおよびその合金から選択されるが、代わりに、当技術分野に知られている低端窓材料がある。端窓材料の厚さは、特定の用途に合わせて調整することができる。通常、電気的にバイアスをかけたオプションの集束環頭(アイテム5)は、ターゲットの一点の上方、下方または上表面に電子ビームを集束する。ターゲット表面の一点の最大直径は、焦点スポットサイズまたはスポットサイズと称される。出力X線は、ターゲット材料に特有の制動放射(bremsstrahlungまたはbraking radiation)と特性線放射の両方を含む。先行技術は、ターゲット箔の厚さが41μmであってもよいと明示している。本発明の1つの好適な実施形態において、透過型X線管は、先行文献の開示よりもはるかに厚いターゲット箔を利用し、50μmよりも厚く、200μmと同じくらい厚い。
先行技術では、厚いターゲットは電子に衝突することによってターゲットの内側に発生したX線を吸収しすぎるため、このような厚いターゲットは良くないという意見を一貫して保持しているが、特定の用途に対する放射線の品質についてはこれまで調査されたことがない。本発明は、単に出力されたX線放射量の合計を調査したものではない。様々な用途での使用に対して出力スペクトルの品質を調査した時、50μmおよびそれ以上の厚いターゲットが、Cアーム用途、歯科用CT用途、上半身および下半身X線造影、医療分野におけるCT用途を含む医療造影への透過管の用途、および電子回路造影、電子チップ造影、蛍光分析、X線顕微鏡、CT画像、X線回折、および当技術分野に知られている他の手段等の非破壊検査(NDT)用途において、大きな進歩を与えることは明確である。
X線顕微鏡は、一般的に、対象と画像センサの間にフレネルゾーンプレート(Fresnel zone plate)を配置することによって行われる。準単色X線は、対象のX線に衝突し、対象を通過してから非常に小さな画像スポットに集束されて、およそ数十ナノメートルの対象に詳細の解像度を提供する。このようなX線顕微鏡の場合、大量の単色X線は、短い時間で明確な画像を提供することを必要とする。このような顕微鏡は、非常に高品質の単色X線を発生することのできるシンクロトロンセンター(synchrotron center)でよくみられる。しかしながら、商業用途の場合し、本発明のX線管は、フレネルプレートによって集束される準単色X線を大量に提供し、高解像度の画像を経済的に実行することができる。

Claims (19)

  1. 真空ハウジングと、
    前記ハウジング内に配置され、端窓基板と、1つの箔または複数の箔を有する厚いターゲットと、を含む端窓陽極と、
    前記ハウジング内に配置され、ビーム経路に沿って進んで前記端窓陽極の一点に衝突し、前記端窓基板を通って前記ハウジングを出るX線ビームを発生する電子ビームを放出する陰極と、
    選択された電子ビームエネルギーおよびビーム電流を提供する前記陰極に接続されて、前記厚いターゲットの前記1つの箔または前記複数の箔の少なくとも1つの予め選択されたエネルギー特性の明るいX線ビームを生成する電源とを含み、
    前記厚いターゲットの前記1つ箔または前記複数の箔の少なくとも1つの厚さが、70μmから200μmまでである透過型X線管。
  2. 前記ビームエネルギーが、10〜500kVpである請求項1に記載の透過型X線管。
  3. 前記厚いターゲットおよび前記端窓基板が、それぞれ厚さ500μmの単一の材料で作られた請求項1に記載の透過型X線管。
  4. 前記厚いターゲットが、拡散接合により前記端窓基板に取り付けられた請求項1に記載の透過型X線管。
  5. 前記厚いターゲットが、ホットプレス法または熱間静水圧加圧法により前記端窓基板に取り付けられた請求項1に記載の透過型X線管。
  6. 前記厚いターゲットが、実質的にX線を透過する基板材料の上に配置され、前記基板材料が、ベリリウム、アルミニウム、銅、リチウム、ボロン、またはその合金から選択される請求項1に記載の透過型X線管。
  7. 前記電子ビームが、集束レンズにより前記厚いターゲットの上方、下方または上表面に集束される請求項1に記載の透過型X線管。
  8. (a)請求項1に記載の透過型X線管を提供するステップと、
    (b)前記X線管によってX線透視に用いる前記発生したX線の源を生成するステップとを含むX線透視法。
  9. (a)請求項1に記載の透過型X線管を提供するステップと、
    (b)前記X線管によって歯科用画像を取得するためのX線を生成するステップとを含む歯科用CT画像の取得法。
  10. (a)請求項1に記載の透過型X線管を提供するステップと、
    (b)前記X線管によって医療用画像を取得するための前記発生したX線の源を生成するステップとを含む医療用画像の取得法。
  11. (a)請求項1に記載の透過型X線管を提供するステップと、
    (b)前記X線管によってCT画像の作成に使用される前記発生したX線の源を生成するステップとを含むCT画像の作成方法。
  12. 請求項1に記載の透過型X線管と、
    X線ビーム軸に沿って互いに向かい合う両端に設置されたX線源および受像機を有するCアームとを含む装置。
  13. (a)請求項1に記載の透過型X線管を提供するステップと、
    (b)前記X線管によってkアルファ特性ラインX線を生成するX線回折法。
  14. X線顕微鏡の使用に用いる高濃度単色X線の源を提供する請求項1に記載の透過型X線管を備えた装置。
  15. 前記厚いターゲットの前記1つの箔または前記複数の箔のうちの少なくとも1つに使用される材料が、スカンジウム、クロム、スズ、アンチモン、チタン、鉄、銅、ニッケル、イットリウム、モリブデン、ロジウム、ランタニウム、パラジウム、ガドリニウム、エルビウム、イッテルビウム、ツリウム、タンタル、タングステン、レニウム、プラチナ、金およびウランの元素のうちの少なくとも1つを含む請求項1に記載の透過型X線管。
  16. 前記厚いターゲットの前記1つの箔または前記複数ののうちの少なくとも1つに使用される材料が、前記元素から有効な特性X線放射を生成する前記元素のうちの少なくとも1つから成る合金、共晶合金、化合物または金属間化合物を含む請求項15に記載の透過型X線管
  17. X線透視に使用する透過型X線管であって、
    真空後に密封された、または連続的に真空にされた真空ハウジングと、
    質的にX線を透過する端窓基と、前記端窓基板に取り付けられた少なくとも1つの厚い箔のターゲットから成り、前記ハウジング内に配置される端窓陽極と、
    そのうち、前記厚い箔が、70μmより厚く且つ200μm以下のであり、または前記ターゲットおよび前記端窓基板が、それぞれ厚さ500μmの単一の材料で作られ、
    前記ハウジング内に配置され、ビーム経路に沿って進んで前記端窓陽極の一点に衝突し、前記端窓基板を通って前記ハウジングを出るX線ビームを発生する電子ビームを放出する陰極と、
    前記陰極および陽極に接続され、10〜500kVpの選択可能な電子ビームエネルギーおよび選択可能な電子ビーム電流を提供して、前記X線ビームを生成する電源と、
    を含み、前記電子ビームが、集束レンズにより前記ターゲットの上方、下方または上表面に集束され、
    定される対象の位置に前記X線を案内するためにコリメーションが使用される、透過型X線管。
  18. 真空後に密封された、または連続的に真空にされた真空ハウジングと、
    質的にX線を透過する端窓基と、前記端窓基板に取り付けられた少なくとも1つの厚い箔のターゲットから成り、前記ハウジング内に配置される端窓陽極と、
    そのうち、前記厚い箔が、70μmより厚く且つ200μm以下のであり、または前記ターゲットおよび前記端窓基板が、それぞれ厚さ500μmの単一の材料で作られ、
    前記ハウジング内に配置され、ビーム経路に沿って進んで前記端窓陽極の一点に衝突し、前記端窓基板を通って前記ハウジングを出るX線ビームを発生する電子ビームを放出する陰極と、
    前記陰極および陽極に接続され、10〜500kVpの選択可能な電子ビームエネルギーおよび選択可能な電子ビーム電流を提供して、前記X線ビームを生成する電源と、
    を含み、前記電子ビームが、集束レンズにより前記ターゲットの上方、下方または上部に集束され、
    前記端窓基板の近くに1つのキャピラリーまたはキャピラリーの束が配置され、前記端窓基板を出る前記X線ビームの少なくとも一部を収集するとともに、前記キャピラリーまたはキャピラリーの束の他端を出るようX線を案内する透過型X線管。
  19. インラインによって対象を検査する装置であって、
    管の内側に配置された厚い箔ターゲットに焦点スポットを提供し、前記管の端窓を通って前記管を出るX線ビームを生成して、円錐のX線を形成する集束された電子ビームを有する透過型X線管と、
    そのうち、前記厚い箔ターゲットが、70μmより厚く且つ200μm以下のであり、または前記厚い箔ターゲットおよび前記端窓が、それぞれ厚さ500μmの単一の材料で作られ、
    前記X線管に接続され、10〜500kVpの選択可能な電子ビームエネルギーおよび選択可能な電子ビーム電流を提供して、前記X線ビームを生成する電源と、
    検査したい対象を前記X線円錐の内側に設置して前記X線による照射を行うように前記管および検査したい対象位置決めされ
    前記対象を前記X線円錐に導入して検査を行い、検査が完了した後にそれらを取り除く自動化された材料処理装置と、
    或る位置に配置され、前記透過管からのX線により照射された前記対象を出るX線を検出する少なくとも1つの検出器と、を含む装置。
JP2013525377A 2010-08-25 2011-08-23 透過型x線管用の厚いターゲット Active JP5901028B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/806,976 2010-08-25
US12/806,976 US8406378B2 (en) 2010-08-25 2010-08-25 Thick targets for transmission x-ray tubes
PCT/IB2011/002653 WO2012025830A2 (en) 2010-08-25 2011-08-23 Thick targets for transmission x-ray tubes

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2013541803A JP2013541803A (ja) 2013-11-14
JP2013541803A5 true JP2013541803A5 (ja) 2015-08-13
JP5901028B2 JP5901028B2 (ja) 2016-04-06

Family

ID=45697268

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013525377A Active JP5901028B2 (ja) 2010-08-25 2011-08-23 透過型x線管用の厚いターゲット

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8406378B2 (ja)
JP (1) JP5901028B2 (ja)
CN (1) CN103119686B (ja)
DE (1) DE112011102783B4 (ja)
TW (1) TW201209847A (ja)
WO (1) WO2012025830A2 (ja)

Families Citing this family (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5871529B2 (ja) * 2011-08-31 2016-03-01 キヤノン株式会社 透過型x線発生装置及びそれを用いたx線撮影装置
US9655576B2 (en) 2011-11-08 2017-05-23 NanoRay Biotech Co., Ltd. X-ray phase-shift contrast imaging method and system thereof
TWI476506B (zh) * 2011-11-08 2015-03-11 Gamc Biotech Dev Co Ltd X光相位差對比成像的方法及其系統
US20150117599A1 (en) 2013-10-31 2015-04-30 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
US8938048B2 (en) 2012-03-27 2015-01-20 Tribogenics, Inc. X-ray generator device
CN102662196B (zh) * 2012-05-09 2014-06-04 黑龙江省科学院技术物理研究所 利用蒙特卡罗方法模拟双能x射线成像进行物质识别的方法
JP2013239317A (ja) * 2012-05-15 2013-11-28 Canon Inc 放射線発生ターゲット、放射線発生装置および放射線撮影システム
KR101874029B1 (ko) * 2012-06-14 2018-07-05 지멘스 악티엔게젤샤프트 X­선 소스,그 사용 그리고 x­선들을 생성하기 위한 방법
US9208985B2 (en) * 2012-06-14 2015-12-08 Tribogenics, Inc. Friction driven x-ray source
WO2013185827A1 (de) * 2012-06-14 2013-12-19 Siemens Aktiengesellschaft Röntgenstrahlungsquelle, verfahren zum erzeugen von röntgenstrahlung sowie verwendung einer monochromatischen röntgenstrahlung aussendenden röntgenstrahlungsquelle
US9053901B2 (en) * 2012-12-21 2015-06-09 General Electric Company X-ray system window with vapor deposited filter layer
US9448190B2 (en) 2014-06-06 2016-09-20 Sigray, Inc. High brightness X-ray absorption spectroscopy system
JP6304986B2 (ja) * 2013-09-19 2018-04-04 キヤノン株式会社 乳房断層撮影装置
US9449781B2 (en) 2013-12-05 2016-09-20 Sigray, Inc. X-ray illuminators with high flux and high flux density
JP6304985B2 (ja) * 2013-09-19 2018-04-04 キヤノン株式会社 放射線撮影装置
US10416099B2 (en) 2013-09-19 2019-09-17 Sigray, Inc. Method of performing X-ray spectroscopy and X-ray absorption spectrometer system
JP2015060735A (ja) * 2013-09-19 2015-03-30 浜松ホトニクス株式会社 X線発生装置及び試料検査装置
US9390881B2 (en) 2013-09-19 2016-07-12 Sigray, Inc. X-ray sources using linear accumulation
US10297359B2 (en) 2013-09-19 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray illumination system with multiple target microstructures
US10269528B2 (en) 2013-09-19 2019-04-23 Sigray, Inc. Diverging X-ray sources using linear accumulation
US9570265B1 (en) 2013-12-05 2017-02-14 Sigray, Inc. X-ray fluorescence system with high flux and high flux density
US10295485B2 (en) 2013-12-05 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray transmission spectrometer system
USRE48612E1 (en) 2013-10-31 2021-06-29 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
US10304580B2 (en) 2013-10-31 2019-05-28 Sigray, Inc. Talbot X-ray microscope
US9594036B2 (en) 2014-02-28 2017-03-14 Sigray, Inc. X-ray surface analysis and measurement apparatus
US9823203B2 (en) 2014-02-28 2017-11-21 Sigray, Inc. X-ray surface analysis and measurement apparatus
US10401309B2 (en) 2014-05-15 2019-09-03 Sigray, Inc. X-ray techniques using structured illumination
RU2567848C1 (ru) * 2014-06-18 2015-11-10 Тоо "Ангстрем" Рентгеновский источник
US9404295B2 (en) 2014-06-24 2016-08-02 Milgard Manufacturing Incorporated Sliding sash secondary lock
CN104201078B (zh) * 2014-06-30 2016-08-31 四川材料与工艺研究所 一种x射线管u靶阳极及其制造方法
JP6452334B2 (ja) 2014-07-16 2019-01-16 キヤノン株式会社 ターゲット、該ターゲットを備えたx線発生管、x線発生装置、x線撮影システム
JP6598538B2 (ja) * 2014-07-18 2019-10-30 キヤノン株式会社 陽極及びこれを用いたx線発生管、x線発生装置、x線撮影システム
CN104409304B (zh) * 2014-11-17 2017-01-11 中国科学院电工研究所 一种工业ct机x射线管用透射靶及其制备方法
CN104362063B (zh) * 2014-12-05 2017-04-26 中国科学院深圳先进技术研究院 一种用于ct成像系统的整体封装碳纳米射线源
EP3043371B1 (en) * 2015-01-12 2018-06-20 Malvern Panalytical B.V. X-ray tube anode arrangement and method of manufacturing
US10352880B2 (en) 2015-04-29 2019-07-16 Sigray, Inc. Method and apparatus for x-ray microscopy
US10295486B2 (en) 2015-08-18 2019-05-21 Sigray, Inc. Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution
CN105148412B (zh) * 2015-09-09 2019-01-11 上海联影医疗科技有限公司 成像靶优化方法及成像系统
US10107257B2 (en) 2015-09-23 2018-10-23 General Electric Company Wind turbine rotor blade components formed from pultruded hybrid-resin fiber-reinforced composites
CN105674923B (zh) * 2016-01-06 2018-08-17 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 基于Fresnel波带片编码的超分辨成像方法及其实现装置
US10555711B2 (en) * 2016-09-16 2020-02-11 NanoX-Medical Corp Apparatus and method for low dose mammography using auger imager
US10247683B2 (en) 2016-12-03 2019-04-02 Sigray, Inc. Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams
CN106683963A (zh) * 2016-12-19 2017-05-17 中国科学院深圳先进技术研究院 一种图案化碳纳米管阴极的透射式x射线源结构
CN106950233B (zh) * 2017-05-12 2023-10-24 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 一种x射线成像板的定量标定系统
DE102018201245B3 (de) 2018-01-26 2019-07-25 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Target für eine Strahlungsquelle, Strahlungsquelle zum Erzeugen invasiver elektromagnetischer Strahlung, Verwendung einer Strahlungsquelle und Verfahren zum Herstellen eines Targets für eine Strahlungsquelle
US10578566B2 (en) 2018-04-03 2020-03-03 Sigray, Inc. X-ray emission spectrometer system
DE112019002822T5 (de) 2018-06-04 2021-02-18 Sigray, Inc. Wellenlängendispersives röntgenspektrometer
JP7117452B2 (ja) 2018-07-26 2022-08-12 シグレイ、インコーポレイテッド 高輝度反射型x線源
US10656105B2 (en) 2018-08-06 2020-05-19 Sigray, Inc. Talbot-lau x-ray source and interferometric system
DE112019004433T5 (de) 2018-09-04 2021-05-20 Sigray, Inc. System und verfahren für röntgenstrahlfluoreszenz mit filterung
CN112823280A (zh) 2018-09-07 2021-05-18 斯格瑞公司 用于深度可选x射线分析的系统和方法
CN109473329A (zh) * 2018-12-25 2019-03-15 深圳大学 一种面发射透射式阵列结构的空间相干x射线源
US11152183B2 (en) 2019-07-15 2021-10-19 Sigray, Inc. X-ray source with rotating anode at atmospheric pressure
US11152184B2 (en) * 2019-08-06 2021-10-19 Moxtek, Inc. X-ray tube insulation, window, and focusing plate
CN111473749B (zh) * 2020-04-22 2021-09-03 中国科学院上海应用物理研究所 一种单毛细管内面形在线表征方法
US20220093358A1 (en) * 2020-09-18 2022-03-24 Moxtek, Inc. X-Ray Tube with Multi-Element Target

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4034251A (en) 1976-02-23 1977-07-05 North American Philips Corporation Transmission x-ray tube
JPS60500884A (ja) 1983-02-08 1985-06-06 コモンウエルス サイエンテイフイツク アンド インダストリアルリサ−チ オ−ガニゼイシヨン 放射線ソ−ス
NL8301839A (nl) 1983-05-25 1984-12-17 Philips Nv Roentgenbuis met twee opvolgende lagen anodemateriaal.
NL8301838A (nl) 1983-05-25 1984-12-17 Philips Nv Roentgenbuis voor het opwekken van zachte roentgenstraling.
US4646338A (en) 1983-08-01 1987-02-24 Kevex Corporation Modular portable X-ray source with integral generator
JPH06188092A (ja) * 1992-12-17 1994-07-08 Hitachi Ltd X線発生用タ−ゲットとx線源とx線撮像装置
JP3481643B2 (ja) 1993-03-04 2003-12-22 株式会社東芝 窓にベリリウム箔を用いた真空容器
JPH0756000A (ja) * 1993-08-17 1995-03-03 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd マイクロx線ターゲット
JPH1064695A (ja) * 1996-08-21 1998-03-06 Rigaku Corp X線発生装置及びそれを用いたx線装置
JP2001307669A (ja) * 2000-04-21 2001-11-02 Shimadzu Corp 軟x線発生装置及びx線検査装置
JP4460139B2 (ja) * 2000-10-25 2010-05-12 アンリツ産機システム株式会社 X線異物検出装置
US6661876B2 (en) * 2001-07-30 2003-12-09 Moxtek, Inc. Mobile miniature X-ray source
JP2003151795A (ja) * 2001-11-13 2003-05-23 Japan Science & Technology Corp 面焦点x線管とポリキャピラリ−を用いた単色x線撮影装置
US7186022B2 (en) * 2002-01-31 2007-03-06 The Johns Hopkins University X-ray source and method for more efficiently producing selectable x-ray frequencies
US7180981B2 (en) 2002-04-08 2007-02-20 Nanodynamics-88, Inc. High quantum energy efficiency X-ray tube and targets
JP4326250B2 (ja) * 2002-04-08 2009-09-02 ワン シア−ギ 量子エネルギー効率の高い端窓x線管
AU2003262118A1 (en) 2002-04-08 2003-10-27 Nanodynamics, Inc. High quantum energy efficiency x-ray tube and targets
JP2004028845A (ja) * 2002-06-27 2004-01-29 Japan Science & Technology Corp 高輝度・高出力微小x線発生源とそれを用いた非破壊検査装置
US7981928B2 (en) 2002-09-05 2011-07-19 Nanodynamics, Inc. Chemotherapy method using x-rays
DE10245676B4 (de) 2002-09-30 2008-01-17 Siemens Ag Phasenkontrast-Röntgengerät mit Strichfokus zur Erstellung eines Phasenkontrast-Bildes eines Objekts und Verfahren zum Erstellen des Phasenkontrast-Bildes
JP3871654B2 (ja) * 2003-05-12 2007-01-24 株式会社エーイーティー X線発生装置
AT6994U1 (de) * 2003-10-03 2004-07-26 Plansee Ag Verfahren zur herstellung eines verbundkörpers
US7430276B2 (en) 2004-02-25 2008-09-30 Nanodynamics-88 Low dose X-ray mammography method
JP2005276760A (ja) 2004-03-26 2005-10-06 Shimadzu Corp X線発生装置
WO2006004185A1 (ja) 2004-07-07 2006-01-12 Kabushiki Kaisha Toshiba X線検査方法およびx線検査装置
WO2006069009A2 (en) 2004-12-21 2006-06-29 Parsons Laboratories Company Limited Method of producing target foil material for x-ray tubes
JP2007097610A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Konica Minolta Medical & Graphic Inc X線画像撮影システム
JP2007207539A (ja) * 2006-02-01 2007-08-16 Toshiba Corp X線源および蛍光x線分析装置
US7634052B2 (en) 2006-10-24 2009-12-15 Thermo Niton Analyzers Llc Two-stage x-ray concentrator
JP4937729B2 (ja) * 2006-12-22 2012-05-23 スタンレー電気株式会社 電子線・x線源装置およびエアロゾル分析装置
JP2008198522A (ja) * 2007-02-14 2008-08-28 Univ Of Tokyo X線源
JP2009054562A (ja) * 2007-08-02 2009-03-12 Toyama Univ X線発生装置
DE102007046278A1 (de) 2007-09-27 2009-04-09 Siemens Ag Röntgenröhre mit Transmissionsanode
US7771117B2 (en) * 2008-06-13 2010-08-10 Korea Electrotechnology Research Institute X-ray system for dental diagnosis and oral cancer therapy based on nano-material and method thereof
US7983394B2 (en) 2009-12-17 2011-07-19 Moxtek, Inc. Multiple wavelength X-ray source

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2013541803A5 (ja)
JP5901028B2 (ja) 透過型x線管用の厚いターゲット
CN101296658B (zh) 使用时间数字信号处理的x射线成像
US9014328B2 (en) Method and apparatus for advanced X-ray imaging systems
WO2010109909A1 (ja) X線発生装置とそれを用いた検査装置
JP5779819B2 (ja) 放射線検出器
US9036786B2 (en) Transmission type X-ray tube and reflection type X-ray tube
JP2008268105A (ja) X線ビーム源、x線ビーム照射装置、x線ビーム透過撮影装置、x線ビームct装置、x線元素マッピング検査装置及びx線ビーム形成方法
JP5522347B2 (ja) X線画像検査装置
JP2014032903A (ja) 放射線放出ターゲット、放射線発生ユニット及び放射線撮影システム
US6931099B2 (en) High-energy X-ray imaging device and method therefor
US6233306B1 (en) X-ray irradiation apparatus including an x-ray source provided with a capillary optical system
US20160064177A1 (en) X-ray source and imaging system
JP2013098168A (ja) 透過型x線管及び反射型x線管
Zabler et al. High-resolution X-ray imaging for lab-based materials research
JP2003151795A (ja) 面焦点x線管とポリキャピラリ−を用いた単色x線撮影装置
Blue et al. Improved pinhole-apertured point-projection backlighter geometry
Ploykrachang et al. Design of a proton-induced quasimonochromatic micro-XRF setup for wet biological samples
WO2006069009A2 (en) Method of producing target foil material for x-ray tubes
Panyi et al. A Compact Robust Laser Driven X-ray Source for Phase Contrast Imaging
Maddox et al. Devloping High Energy Radiography for HED Experiments on NIF and Omega-EP
Grätz Characterisation and application of a laser-based hard x-ray source
JP2008084853A (ja) X線発生装置
Galloudec et al. Systems and methods for imaging using radiation from laser produced plasmas
Toyofuku et al. Quantitative Imaging Using Fluorescent X-Rays Generated by Synchrotron Radiation