JP2013540987A5 - - Google Patents

Claims (11)

1. ハウジングと、センサモジュールと、ダンパーと、を備え、
   前記センサモジュールは、計測制御回路基板と、前記計測制御回路基板上に搭載された慣性センサと、を含むとともに、前記ハウジング内に収容されており、
   前記ダンパーは、前記ハウジングに取り付けられているとともに、前記センサモジュールと前記ハウジングの内壁面との間の隙間に位置することを特徴とするマイクロ慣性測定装置。
2. 前記センサモジュールは、さらにセンサ支持部を含み、前記計測制御回路基板は前記センサ支持部に取り付けられていることを特徴とする請求項１に記載のマイクロ慣性測定装置。
3. 前記慣性センサは、ジャイロスコープおよび加速度計を含むことを特徴とする請求項２に記載のマイクロ慣性測定装置。
4. 前記センサ支持部は、立方体形状を有する剛体の支持部であり、少なくとも１つの平面に凹部が形成されており、
   前記計測制御回路基板はフレキシブル計測制御回路基板であり、
   前記フレキシブル計測制御回路基板の回路部品の少なくとも一部は、少なくとも１つの平面の前記凹部内にはめ込まれることを特徴とする請求項３に記載のマイクロ慣性測定装置。
5. 前記センサ支持部の６つの平面すべてに前記凹部が形成されており、
   前記フレキシブル計測制御回路基板の数は最大６つまでであり、
   前記フレキシブル計測制御回路基板は前記センサ支持部の平面をそれぞれ覆い、各前記フレキシブル計測制御回路基板上の回路部品は、前記フレキシブル計測制御回路基板が前記センサ支持部の各平面を平坦に覆うように、前記センサ支持部の対応する平面における前記凹部内にはめ込まれることを特徴とする請求項４に記載のマイクロ慣性測定装置。
6. 前記センサモジュールは、前記フレキシブル計測制御回路基板上に備えられたアンチエイリアシング回路と、Ａ／Ｄ変換回路と、を含み、前記慣性センサは、３つのジャイロスコープと、１つの速度計と、を含み、当該回路モジュールは、それぞれ前記フレキシブル計測制御回路基板上に配列されることを特徴とする請求項５に記載のマイクロ慣性測定装置。
7. 前記フレキシブル計測制御回路基板は、一体構造を形成するために一体化されており、それぞれ前記センサ支持部の縁に沿うように９０°曲げられて、前記センサ支持部の各平面を完全に覆うことを特徴とする請求項６に記載のマイクロ慣性測定装置。
8. 前記ダンパーは、少なくとも２つの減衰部を含んでおり、前記センサモジュールの対応する平面と前記ハウジングの内壁面との間の隙間に配置されることを特徴とする請求項５に記載のマイクロ慣性測定装置。
9. 前記ダンパーは、最大６つの前記減衰部を含むことを特徴とする請求項６に記載のマイクロ慣性測定装置。
10. 前記センサモジュールは、６つの前記減衰部により前記ハウジングの内部空洞の中心に支持されており、前記ダンパーの弾性中心Ｐは前記センサモジュールの質量中心ｍと一致することを特徴とする請求項９に記載のマイクロ慣性測定装置。
11. 前記ハウジングは、下部に開口部を有する上部ハウジングと、前記開口部に設置された下部カバーとを含むことを特徴とする請求項１に記載のマイクロ慣性測定装置。