JP2013527992A - フォトレジスト剥離液組成物 - Google Patents
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Abstract
Description
上記組成物は、架橋または変性したポジ型フォトレジストを剥離するために有用であるが、ネガ型フォトレジストを剥離する能力は十分でない。
ニウム水酸化物及びこれらの混合物を含む。ドライエッチング、エッチング又はイオン注入工程により硬化及び変性されたポジ型フォトレジストと、露光過程で架橋されたネガ型フォトレジストとは、その内部に架橋がなされているので、溶媒に溶解しない。したがって、架橋を切断するためのアルカリ成分を使用することによって溶解可能な形態に架橋されたフォトレジストを変えることが必要です。
テル、ジエチレングリコールエチルエーテル、ジエチレングリコールブチルエーテル、ジプロピレングリコールメチルエーテル、ヘキシレングリコール、重量平均分子量が100乃至400のポリエチレングリコール等を含み、及び適したトリアゾール類は、限定されるものではないが、ベンゾトリアゾール、カルボキシベンゾトリアゾール、1−ヒドロキシベンゾトリアゾール、ニトロベンゾトリアゾール、ジヒドロキシプロピルベンゾトリアゾール等が含まれる。
以下、下記例は、本発明を更に説明することを目的としているが、本発明はこの範囲に限定されることはない。
実施例1乃至9及び比較例1乃至21の組成物を表1に記載の組成で混合して製造した。
上記混合を、固体腐食防止剤が完全に溶解するように、室温下で1時間以上実施し、そしてテフロン(登録商標)フィルターによってろ過した。
実施例1乃至9及び比較例1乃至21で得られた組成物の剥離力と腐食防止力とを下記のとおりに評価した。
ポジ型フォトレジスト(THMR−iP 330、TOK社製)を窒化シリコン被覆シリコンウェハに被覆し、次いで、露光及び現像工程によってフォトレジストパターンを形成した。このパターンをドライエッチング工程によってフォトレジスト下部の窒化シリコン層に転写し、ポジ型フォトレジスト層試験試料を得た。
ネガ型フォトレジスト(PMER N−HC600、TOK社製)をシリコンウェハに被覆し、次いで、露光、現像及びベーク工程によってフォトレジストパターンを形成した。アルミニウムとチタニウムとをシリコンウェハ上に順次塗布して、リフト−オフのネガ型フォトレジストの試験試料を得た。
試験組成物を60℃に維持し、そしてここにポジ型フォトレジスト試験試料とネガ型フォトレジスト試験試料を20分間浸漬した後、脱イオン水で30秒間洗浄し、そして窒素を用いて乾燥した。乾燥した試料の残留フォトレジストを光学顕微鏡(倍率:×200)及びFE−SEM(倍率:×10,000乃至×50,000)下で観察した。
試験組成物を60℃に維持し、そしてここにネガ型フォトレジストの試験試料を90分
間浸漬させた。得られた試料を脱イオン水で30秒間洗浄した後、窒素を用いて10秒間乾燥した。乾燥した試料の、表面及び切断面での腐食度をFE−SEM(倍率:×10,000乃至×50,000)下で観察した。この試験例では、腐食度の差を調査するために、20分間の通常の剥離条件よりも過酷な腐食条件を使用した。
食を示した。
Claims (10)
- アルキルアンモニウム水酸化物0.5乃至5質量%;
非プロトン性極性溶媒60乃至90質量%;
芳香族多価アルコール0.1乃至3質量%;
直鎖の多価アルコール0.1乃至5質量%;及び
水5乃至30質量%を含む
フォトレジスト剥離液組成物。 - 前記芳香族多価アルコールは、少なくとも1つのカルボキシル基又はアルキルエステル基、及び少なくとも3つのヒドロキシ基を含む請求項1に記載のフォトレジスト剥離液組成物。
- 前記芳香族多価アルコールは、没食子酸、没食子酸メチル、没食子酸エチル、没食子酸プロピル、没食子酸ブチル、及びこれらの混合物からなる群より選ばれる請求項1に記載のフォトレジスト剥離液組成物。
- 前記直鎖の多価アルコールは、少なくとも3つのヒドロキシ基を含む請求項1に記載のフォトレジスト剥離液組成物。
- 前記直鎖の多価アルコールは、グリセロール、エリスリトール、ソルビトール、マンニトール、キシリトール、及びこれらの混合物からなる群より選ばれる請求項1に記載のフォトレジスト剥離液組成物。
- 前記アルキルアンモニウム水酸化物は、テトラメチルアンモニウム水酸化物、テトラエチルアンモニウム水酸化物、テトラプロピルアンモニウム水酸化物、及びこれらの混合物からなる群より選ばれる請求項1に記載のフォトレジスト剥離液組成物。
- 前記非プロトン性極性溶媒は、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N’−ジエチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、N−メチルホルムアミド、N,N’−ジメチルラクタムアミド、N−メチルピロリドン、γ−ブチロラクトン、プロピレンカーボネート、1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン、及びこれらの混合物からなる群より選ばれる請求項1に記載のフォトレジスト剥離液組成物。
- グリコール類及びトリアゾール類を更に含む請求項1に記載のフォトレジスト剥離液組成物。
- 前記グリコールは、ジエチレングリコールメチルエーテル、ジエチレングリコールエチルエーテル、ジエチレングリコールブチルエーテル、ジプロピレングリコールメチルエーテル、ヘキシレングリコール、重量平均分子量が100乃至400のポリエチレングリコール及びこれらの混合物からなる群より選ばれる請求項8に記載のフォトレジスト剥離液組成物。
- 前記トリアゾールは、ベンゾトリアゾール、カルボキシベンゾトリアゾール、1−ヒドロキシベンゾトリアゾール、ニトロベンゾトリアゾール、ジヒドロキシプロピルベンゾトリアゾール及びこれらの混合物からなる群より選ばれる請求項8に記載のフォトレジスト剥離液組成物。
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