JP2013162100A - 積層インダクタ - Google Patents

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Abstract

【課題】コア面積変化を小さくすることができ、L値バラツキが小さい積層インダクタの提供。
【解決手段】複数の絶縁体層A1〜A9からなる積層体と、前記積層体の内部にスパイラル状に形成されたコイル導体とを備え、前記コイル導体は絶縁体層に形成された導体パターンB1〜B5と絶縁体層を貫通し複数の導体パターンを電気的に接続するビアホール導体C1〜C4とを有し、一部の絶縁体層に形成された導体パターンは略矩形状の4つの頂点を含み一辺の一部を欠くC字状パターンB2、B4であり、他の一部の絶縁体層に形成された導体パターンは前記略矩形状における前記C字状パターンにて欠けた一辺の一部に相当するI字状パターンB3であり、前記C字状パターンが形成された絶縁体層と前記I字状パターンが形成された絶縁体層とが積層体の少なくとも一部において隣接している、積層インダクタ。
【選択図】図1

Description

本発明は積層インダクタに関する。
近年、電子機器の小型化、マルチバンド化にともない、積層インダクタには小型化、高Q化、インダクタンス値の狭ステップ、狭偏差が望まれている。従来、積層インダクタは複数のスクリーンマスクから得られる複数の導体パターン、あるいは、同一スクリーンマスクをシフトさせることにより得られる複数の導体パターン、を組み合わせてコイルを形成してきた。図4は従来技術による積層インダクタの一例の模式分解図であり、絶縁体層A22〜A27にそれぞれ所定形状の導体パターンB21〜B26が形成され、これらをビアホール導体C21〜C25が電気的に接続することにより、積層体中にスパイラル状に形成されたコイル導体を備える積層インダクタが構成される。ここで、スクリーンマスクの精度、機械精度により、各パターンの積層位置にズレが生じ、コイルのコア面積が変化することを介して、インダクタのL値中央ズレやL値バラツキが発生する可能性があった。
特許文献1によれば、コイル導体の一部によって形成されるコア面積を残余の部分によって形成される最小コア面積より小さくしたことを特徴とする積層インダクタの発明が開示されている。これにより、導体パターンの積層ずれによって生ずるL値のバラツキがコア面積の小さいコイル導体のターン数に依存することになり、コア面積の小さいコイル導体を形成している導体パターンは導体パターン全体の中の一部にすぎないことを考慮すると、L値のバラツキが少ない、許容電流値の大きい、小型の積層インダクタを提供することができるとされている
特開平11−340042号公報
特許文献1の構成では、形成コア面積を小さくすることに制限が生じるため、小型のインダクタの提供が困難である。本発明は、コア面積変化を小さくすることができ、L値バラツキが小さい積層インダクタを提供することを課題とする。
本発明者らが鋭意検討した結果、以下の内容の本発明を完成した。
本発明の積層インダクタは複数の絶縁体層からなる積層体と、前記積層体の内部にスパイラル状に形成されたコイル導体とを備える。コイル導体は絶縁体層に形成された導体パターンと、絶縁体層を貫通し複数の導体パターンを電気的に接続するビアホール導体と、を有する。一部の絶縁体層に形成された導体パターンは略矩形状の4つの頂点を含み一辺の一部を欠くC字状パターンである。他の一部の絶縁体層に形成された導体パターンは前記略矩形状における前記C字状パターンにて欠けた一辺の一部に相当するI字状パターンである。このC字状パターンが形成された絶縁体層とI字状パターンが形成された絶縁体層とが積層体の少なくとも一部において隣接している。
好ましくは、絶縁体層からなる積層体の外側には外部電極が形成され、コイル導体は外部電極と電気的に接続される引出部と引出部以外のコイル本体とを有し、コイル本体における導体パターンは前記C字状パターンと前記I字状パターンとの組合せのみからなる。別途好ましくは、I字状パターンの長さが前記略矩形状の4辺の長さの合計の30%以下である。
本発明によれば、コア面積変化が小さく、L値のバラツキが小さいインダクタを得ることができる。具体的には、C字状パターンにより、略矩形状のコイル導体が規定する面積がほぼ決定するため、複数の絶縁体層に形成された導体パターンのずれによる面積変化が小さくなり、L値のバラツキが小さくなる。この発明は略矩形状の面積が小さくても適用することができるので、L値のバラツキの小さい積層インダクタの小型化にも寄与し得る。
本発明による積層インダクタの一例の模式分解図である。 本発明による積層インダクタの一例の模式斜視透視図である。 コンピュータシミュレーション結果を示すグラフである。 従来技術による積層インダクタの一例の模式分解図である。
以下、図面を適宜参照しながら本発明を詳述する。但し、本発明は図示された態様に限定されるわけでなく、また、図面においては発明の特徴的な部分を強調して表現することがあるので、図面各部において縮尺の正確性は必ずしも担保されていない。
本発明の積層インダクタは複数の絶縁体層からなる積層体と、前記積層体の内部にスパイラル状に形成されたコイル導体とを備える。図1は本発明による積層インダクタの一例の模式分解図である。絶縁体層A2〜A6には導体パターンB1〜B5が形成されている。異なる絶縁体層に形成された導体パターンはビアホール導体C1〜C4によって相互に電気的に接続されており、これらビアホール導体C1〜C4は少なくとも1層の絶縁体層を貫通している。図面中、黒丸で表現する箇所においてビアホール導体が絶縁体層を貫通している。導体パターンB1〜B5とビアホール導体C1〜C4によってスパイラル状に形成されたコイル導体が構成される。
図2は本発明による積層インダクタの一例の模式斜視透視図である。上述した、複数の絶縁体層からなる積層体12の両端に外部電極D1およびD2が形成されている。図1における導体パターンB1およびB5(図2では描写を省略)は、絶縁体層からなる積層体の端部にまで達しており、図2に描写された外部電極D1およびD2にそれぞれ電気的に接続されている。本発明では、これら外部電極への電気的な接続のための導体パターンを引出部と呼ぶ。引出部以外の導体パターンおよびビアホール導体をコイル本体と呼ぶ。図1の態様では、導体パターンB2〜B4およびビアホール導体C2、C3がコイル本体を構成する。
本発明によれば、後述するC字状パターンが形成された絶縁体層とI字状パターンが形成された絶縁体層とが積層体の少なくとも一部において隣接している。好ましくは、コイル本体はC字状パターンおよびI字状パターンの組合せのみからなる。
C字状パターンは、略矩形状の4つの頂点を含み、かつ、当該略矩形状の一辺の一部を欠く導体パターンである。図1の態様では、C字状パターンは符号B2、B4で表される。略矩形状には、図1のような矩形状のものや、楕円形状のものなど矩形近似可能な形状が包含される。C字状パターンが略矩形状の4つの頂点を含むということは、図1の場合のように、4つの頂点を含む場合や、略矩形状が明確な頂点を持たない場合における矩形近似したときに頂点であると認識しうる箇所を含む場合を含む。C字状パターンは略矩形状の一辺の一部を欠く。このように、C字状パターンはコア面積の大部分を規定する。
I字状パターンは、略矩形状におけるC字状パターンにて欠けた一辺の一部に相当する。図1の態様では、I字状パターンは符号B3で表される。略矩形状の実際の形状に適合して、I字状パターンは、図1に示すような直線であってもよいし、あるいは、楕円形状の一部をなす曲線状であってもよい。好ましくは、I字状パターンの長さが略矩形状の4辺の長さの合計の30%以下であり、より好ましくは10〜20%である。換言すると、I字状パターンの長さは、C字状パターンの長さの好ましくは3/7以下である。なお、本発明の効果を損なわない限り、I字状パターンの長さをC字状パターンにて欠けた部分の長さよりも長くして電気的接続をより確実にしてもよい。
本発明によれば、少なくとも1箇所において、C字状パターンが形成された絶縁体層とI字状パターンが形成された絶縁体層とが隣接している。これにより、1ターンの略矩形状のコイルが構成される。このとき、C字状パターンがコア面積を主として確定するので、コア面積の精度の大部分はC字状パターンの形成精度(印刷精度等)に依存するのであって、隣接する他のパターンの精度や積層時の位置精度などはコア面積の精度に殆ど影響しなくなる。本発明による積層インダクタ10では、インダクタンス値の変化を低減できる。一般に、インダクタンス値Lは、コイル長をl、コア面積をSとしたとき、(S/l)に比例する。このため、コア面積Sのバラツキが小さい積層インダクタ10では、インダクタンス値変化が小さくなる。このため、積層インダクタ全体としてコア面積の精度が向上させやすくなり、インダクタンスのバラツキを小さくすることができる。
図1の態様では1つのC字状パターンと1つのI字状パターンとで1ターンのコイル導体を構成し、さらに1つのC字状パターンが設けられている。この態様を「C−I−C」と記載する。本発明によれば、1枚のC字状パターンと1枚のI字状パターンとをC−I−C−I−・・・というように積層してもよいし、少なくとも1方のパターンを複数にして、例えば、C−C−I−C−C−I−・・・や、C−I−I−C−I−I−・・・のように積層してもよい。
本発明によれば、コイル導体のコイル本体には少なくとも1組のC−Iという隣接した積層構造を有していればよく、例えば、インダクタの値を調節するために部分的にU字状のパターンを積層してもよい。好適態様によれば、コイル導体のコイル本体は全てC字状パターンとI字状パターンとの組合せのみから構成される。
以下、より具体的な実施態様を説明するが、この説明は本発明を限定するものではない。ここで、積層インダクタ10の積層方向をz軸方向と定義し、積層インダクタ10の短辺に沿った方向をx軸方向と定義し、積層インダクタ10の長辺に沿った方向をy軸方向と定義する。x軸、y軸及びz軸は互いに直交している。積層インダクタ10は、積層体12および外部電極D1、D2を備えている。外部電極D1、D2はそれぞれ、コイル導体に電気的に接続されており、z軸方向に延在し、かつ、互いに対向している積層体12の側面に設けられている。本実施形態では、外部電極D1、D2は、y軸方向の両端に位置する2つの側面を覆うように設けられている。積層体12は、絶縁体層A1〜A9がz軸方向に積層されて構成されている。絶縁体層A1〜A9は、この態様ではガラスを主成分とする素材により作製されており、長方形状を有している。コイル導体は旋廻しながらz軸方向に進行するスパイラル状であり、導体パターンB1〜B5及びビアホール導体C1〜C4を含んでいる。導体パターンB1〜B5はそれぞれ、絶縁体層A2〜A6の主面上に形成されており、絶縁体層A1、A7〜A9と共に積層されている。各導体パターンは、Agに例示される導電性材料からなる。導体パターンB1、B5は引出部である。導体パターンB1、コイル導体B5はそれぞれ、外部電極D1、D2に接続されている。導体パターンB2、B5は導体パターンB3を介して接続されている。導体パターンB1とB2、導体パターンB4とB5が接続されることにより、外部電極D1、D2が電気的に接続されている。なお、各導体パターンはビアホール導体C1〜C4によりそれぞれ接続されている。
ここで、絶縁体層はガラスを主成分とする素材の他、フェライト、誘電体セラミックス、軟磁性合金粒子を用いた磁性体、または磁性体粉を混合した樹脂等を用いてもよい。
このような積層インダクタの典型的な製法を例示する。本発明はこの製法に限定されない。絶縁体層A1〜A9の前駆体である絶縁性材料グリーンシートを複数用意する。グリーンシートは、ガラス等を主原料とする絶縁性材料スラリーをドクターブレード法等によりフィルム上に塗布することで形成される。グリーンシートの厚みは特に限定なく、好ましくは5〜30μmであり、例えば18μmである。絶縁体層A2〜A5となる絶縁性材料グリーンシートの所定の位置、すなわちビアホール導体C1〜C4が形成される予定の位置に、レーザー加工等によってスルーホールをそれぞれ形成する。そして、導体パターンB1〜B5の前駆体である導電性ペーストを、絶縁体層A2〜A6となる絶縁性材料グリーンシートのそれぞれの所定の位置に、スクリーンマスク等にて印刷する。導電性ペーストの主成分としては、銀、銅等の金属などが挙げられる。
続いて、絶縁体層A1〜A15となる絶縁性材料グリーンシートを図1に示される順序に従って積層し、積層方向に圧力を加えて絶縁性材料グリーンシートを圧着する。そして、この圧着した絶縁性材料グリーンシートをチップ単位に切断した後に、所定温度(例えば、800℃〜900℃程度)にて焼成を行い、積層体12を形成する。続いて、この積層体12に外部電極D1、D2を形成する。これにより、電子部品10が形成されることとなる。外部電極D1、D2は、積層体12の長手方向の両端面にそれぞれ銀や銅などを主成分とする電極ペースト塗布して、所定温度(例えば、680℃〜900℃程度)で焼き付けを行い、さらに電気めっきを施すことにより形成される。この電気めっきとしては、Cu、Ni及びSn等を用いることができる。以上の工程を経て積層インダクタ10が完成する。
本発明の効果をより明確なものとするために行ったコンピュータシミュレーションの結果を以下に説明する。具体的には、第1のモデル(実施例)として、C字状パターンとI字状パターンとでコイル本体を構成したものである。ここで、I字状パターンは一周回(1ターン)の14%の長さにした。第2のモデル(比較例)は、1/2周回のコイル導体を接続した構造からなる。また、第1のモデル及び第2のモデルのサイズは、0.6mm×0.3mm×0.3mmであり、コイル導体は、50μmの線幅、8μmの厚みを有する銀電極である。
このコンピュータシミュレーションでは、第1のモデルおよび第1のモデルのコイル導体I字状パターンの位置をx方向に±5μm、y方向に+5μm移動させた場合の各モデル、第2のモデルおよび第2のモデルの1つのコイル導体をx方法に+5μm、y方向に±5μm移動させた場合のモデルに対して入力する信号の周波数が500MHzでの、第1、第2のモデルのインダクタンス値を計算した。結果を図3に示す。図中、○のプロットは第1のモデルでずれのない場合の結果、◆のプロットは第1のモデルのy方向に+5μm移動させた場合の結果、□のプロットは第2のモデルでずれのない場合の結果、▲のプロットは第2のモデルのy方向に+5μm移動させた場合の結果、●のプロットは第2のモデルのy方向に−5μm移動させた場合の結果である。
第1のモデル(実施例)では、500MHzの周波数を有する信号が入力したときのインダクタンス値の最大変化量は0.7%であり、第2のモデル(比較例)では、500MHzの周波数を有する信号が入力したときのインダクタンス値の最大変化量は2.2%である。実施例の方が、インダクタンス値の変化が小さいことがわかる。したがって、本シミュレーションにより、C字状パターンとI字状パターンとが隣接する構造を有する積層インダクタでは、インダクタンス値変化が小さくなることが判明した。
10 積層インダクタ、A1〜A9 絶縁体層、B1〜B5 導体パターン、C1〜C4 ビアホール導体、D1、D2 外部電極。

Claims (3)

  1. 複数の絶縁体層からなる積層体と、前記積層体の内部にスパイラル状に形成されたコイル導体とを備え、前記コイル導体は絶縁体層に形成された導体パターンと絶縁体層を貫通し複数の導体パターンを電気的に接続するビアホール導体とを有し、
    一部の絶縁体層に形成された導体パターンは略矩形状の4つの頂点を含み一辺の一部を欠くC字状パターンであり、他の一部の絶縁体層に形成された導体パターンは前記略矩形状における前記C字状パターンにて欠けた一辺の一部に相当するI字状パターンであり、
    前記C字状パターンが形成された絶縁体層と前記I字状パターンが形成された絶縁体層とが積層体の少なくとも一部において隣接している、
    積層インダクタ。
  2. 前記積層体の外側に形成された外部電極を有し、前記コイル導体は外部電極と電気的に接続される引出部と引出部以外のコイル本体とを有し、コイル本体における導体パターンは前記C字状パターンと前記I字状パターンとの組合せのみからなる、請求項1記載の積層インダクタ。
  3. 前記I字状パターンの長さが前記略矩形状の4辺の長さの合計の30%以下である請求項1又は2記載の積層インダクタ。
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