JP2013101952A - 飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置におけるイオン分析方法 - Google Patents
飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置におけるイオン分析方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013101952A JP2013101952A JP2013000524A JP2013000524A JP2013101952A JP 2013101952 A JP2013101952 A JP 2013101952A JP 2013000524 A JP2013000524 A JP 2013000524A JP 2013000524 A JP2013000524 A JP 2013000524A JP 2013101952 A JP2013101952 A JP 2013101952A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ions
- voltage
- ion
- segment
- extraction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
- H01J49/403—Time-of-flight spectrometers characterised by the acceleration optics and/or the extraction fields
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/426—Methods for controlling ions
- H01J49/4295—Storage methods
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
【解決手段】 飛行時間型質量分析装置(1)が、イオン源と、該イオン源から供給される試料イオンを受容する分割線形イオンデバイス(10)と、該分割デバイスから排出されたイオンを分析する飛行時間型質量分析器を備える。最初にイオンを二以上の隣接するセグメントグループの中に捕捉し、次いでイオンをセグメントグループよりも短い分割デバイスの領域に捕捉するための捕捉電圧が分割デバイスに印加される。捕捉電圧はデバイス(10)の全長に沿って一様な捕捉場を供給するのにも有効である。
【選択図】図1
Description
試料イオンを供給するイオン源と、
前記イオン源によって供給された試料イオンを受容する、長手軸を有する分割線形イオン蓄積デバイスと、
前記デバイスに、
(i)該デバイスの二以上の互いに隣接したセグメントグループの捕捉領域から成る軸方向伸張領域において試料イオン又は該試料イオンに由来するイオンを、冷却ガスの助力を受けることで捕捉し、次いで、前記軸方向伸張領域に捕捉されたイオンを該軸方向伸張領域の該軸方向伸張領域よりも短い引出領域に捕捉させてイオン雲を形成させるのに有効な捕捉電圧と、
(ii)前記引出領域から、前記デバイスの前記長手軸に直交する引出方向に該イオン雲が排出されるようにする引出電圧と、
を供給する電圧供給手段と、
該引出領域より排出されたイオンの質量分析を行う飛行時間型質量分析器と、
を備えた飛行時間型質量分析装置を提供する。
飛行時間型質量分析装置を用いたイオン分析方法であって、
長手軸を有する分割線形イオン蓄積デバイスに分析対象である試料イオンを受容し、
該デバイスの二以上の互いに隣接したセグメントグループの捕捉領域から成る軸方向伸張領域において試料イオン又は試料イオンに由来するイオンを、冷却ガスの助力を受けることで捕捉し、次いで、前記領域に捕捉されたイオンを該軸方向伸張領域の該軸方向伸張領域よりも短い引出領域に捕捉させてイオン雲を形成させるのに有効な捕捉電圧を前記デバイスに印加し、
前記引出領域から、前記デバイスの前記長手軸に直交する引出方向に、該イオン雲が排出されるようにするために引出電圧を該デバイスに印加し、
該排出されたイオンを飛行時間型質量分析器を用いて分析する
ステップから成るイオン分析方法を提供する。
試料イオンを供給するイオン源と、
前記イオン源によって供給された試料イオンを受容する、長手軸を有する分割線形多重極イオンデバイスと、
前記デバイスに、
(i)イオンが実質的に損なわれずに隣接するセグメント間を通過できるように、前記デバイスの隣接するセグメントに沿って及び隣接するセグメント間で実質的に一様な多重極捕捉場を生成するための高周波捕捉電圧と、
(ii)前記デバイスの引出領域において試料イオン又は試料イオンに由来するイオンを、冷却ガスの助力を受けることで捕捉し、イオン雲を形成させるのに有効な直流捕捉電圧と、
(iii)前記デバイスの前記長手軸に直交する引出方向に、前記引出領域から前記イオン雲を排出させる引出電圧と、
を供給する電圧供給手段と、
前記引出領域から排出されたイオンの質量分析を行う飛行時間型質量分析器と、
を備えた飛行時間型質量分析装置を提供する。
長手軸を有する分割線形多重極イオン蓄積デバイスに試料イオンを受容し、
イオンが実質的に損なわれずに隣接するセグメント間を通過できるように、前記デバイスの隣接するセグメントに沿って及び隣接するセグメント間で実質的に一様な多重極捕捉場を生成するために有効な高周波捕捉電圧を印加し、
前記デバイスの引出領域において試料イオン又は試料イオンに由来するイオンを、冷却ガスの助力を受けることで捕捉し、イオン雲を形成させるのに有効な直流捕捉電圧を印加し、
前記デバイスの前記長手軸に直交する引出方向に、前記引出領域から前記イオン雲を排出させる引出電圧を印加し、
飛行時間型質量分析器を用いて排出されたイオンを分析する
ステップから成る飛行時間型質量分析装置の操作方法を提供する。
試料イオンを供給するイオン源と、
前記イオン源によって供給された試料イオンを受容する、長手軸を有する分割線形イオン蓄積デバイスと、
前記デバイスに高周波多重極捕捉電圧を供給し、
イオンが選択的にMS処理を受ける前記デバイスの異なる軸方向伸張領域の間で試料イオン又は試料イオンに由来するイオンを動かすように該デバイスのセグメントに直流電圧を選択的に供給し、
処理されたイオンが該デバイスの引出セグメントの捕捉領域内に捕捉されるようにし、
該デバイスの前記長手軸に直交する引出方向に捕捉イオンを排出させるために前記引出セグメントに引出電圧を供給する
電圧供給手段と、
前記引出セグメントから排出されたイオンの質量分析を実行する飛行時間型質量分析器と、
を備えた飛行時間型質量分析装置を提供する。
Claims (37)
- 試料イオンを供給するイオン源と、
前記イオン源によって供給された試料イオンを受容する、長手軸を有する分割線形多重極イオン蓄積デバイスと、
前記デバイスに、
(i)イオンが実質的に損なわれずに隣接するセグメント間を通過できるように、前記デバイスの隣接するセグメントに沿って及び隣接するセグメント間で実質的に一様な多重極捕捉場を生成するための高周波捕捉電圧と、
(ii)前記デバイスの引出領域において試料イオン又は試料イオンに由来するイオンを、冷却ガスの助力を受けることで捕捉し、イオン雲を形成させるのに有効な直流捕捉電圧と、
(iii)前記デバイスの前記長手軸に直交する引出方向に、前記引出領域から前記イオン雲を排出させる引出電圧と、
を供給する電圧供給手段と、
前記引出領域から排出されたイオンの質量分析を行う飛行時間型質量分析器と、
を備えた飛行時間型質量分析装置。 - 前記引出領域は前記デバイスの単一セグメントの捕捉領域から成る請求項1に記載の分析装置。
- 前記分割デバイスの各セグメントの径方向寸法は実質的に等しい請求項1又は2に記載の分析装置。
- 前記引出電圧が印加される前に、前記長手軸を横断する方向に前記イオン雲の物理サイズ及び/又はイオン雲内のイオンの速度広がりを減少させるイオン雲処理手段を更に備える請求項1〜2のいずれかに記載の分析装置。
- 前記イオン雲処理手段は、前記引出電圧が印加される前に、前記長手軸上に前記イオン雲を形成するのを促進するのに有効である請求項4に記載の分析装置。
- 前記引出領域は前記デバイスの一以上の引出セグメントの捕捉領域から成り、
前記イオン雲処理手段は、前記電圧供給手段に、前記引出領域に印加される捕捉電圧を増加させるように構成されている
請求項4又は5に記載の分析装置。 - 前記増加は、一連の段階状急激増加から成る請求項6に記載の分析装置。
- 前記引出領域は前記デバイスの一以上の引出セグメントの捕捉領域から成り、
前記イオン雲処理手段は、前記電圧供給手段に、前記一又は複数の引出セグメントに印加される捕捉電圧を停止させ、前記捕捉電圧の停止と前記引出電圧の印加との間に遅延を課すように構成されている
請求項4〜7のいずれかに記載の分析装置。 - 前記電圧供給手段は、前記遅延の間に前記一又は複数の引出セグメントに中間電圧を印加する請求項8に記載の分析装置。
- 前記捕捉電圧はまた、前記引出領域内において前記イオン雲を軸方向に圧縮するのに有効である請求項4〜9のいずれかに記載の分析装置。
- 前記引出領域は前記デバイスの引出セグメントの捕捉領域から成り、
該引出セグメントは、
第一前記捕捉電圧と共に供給される際に、イオンが前記引出領域内で実質的に一次元の軸方向に伸張するイオン雲を形成することを可能にする第一電極手段と、
第二前記捕捉電圧と共に供給される際に、前記実質的に一次元の軸方向に伸張する雲を、前記引出方向と直交する実質的に中心の平面内に二次元のイオン雲に変形させるのに有効な第二電極手段と、
を備える請求項2〜10のいずれかに記載の分析装置。 - 前記実質的に二次元のイオン雲はトロイダル形状イオン雲である請求項11に記載の分析装置。
- 前記第二捕捉電圧が印加される前及び/又は後に、前記長手軸を横断する方向において前記イオン雲の物理サイズ及び/又はイオン雲内のイオンの速度広がりを減少させるイオン雲処理手段を備える請求項11又は12に記載の分析装置。
- 前記デバイスは入射端と、出射端と、該出射端に配置されたイオン検知手段とを有し、
前記電圧供給手段は、
試料イオンを、前記デバイスを前記入射端から前記出射端へと通過させて前記イオン検知手段によって検知させ、
次いで、前記イオン源からの、該デバイス内で受容されたイオンを捕捉し、前記イオン検知手段によって検知されたイオン流によって決定される時間間隔の後に更にイオンが該デバイスに入射することを防止するように構成されている
請求項1〜13のいずれかに記載の分析装置。 - 前記捕捉電圧は、前記デバイスの入射端と該デバイスの軸方向伸張領域との間に配置される該デバイスのイオン蓄積領域に試料イオンを捕捉し、次いで、該イオン蓄積領域に更に試料イオンを捕捉すると同時に、イオンを該イオン蓄積領域から該デバイスの別の領域へ移動させるのに有効である請求項1〜13のいずれかに記載の分析装置。
- 前記イオン蓄積領域は前記デバイスの単一セグメントの捕捉領域から成る請求項15に記載の分析装置。
- 前記別の領域は前記軸方向伸張領域である請求項15又は16に記載の分析装置。
- 前記電圧供給手段によって前記デバイスに供給される電圧によって、前記イオン蓄積領域に更に試料イオンを捕捉すると同時に、前記イオン蓄積領域の外部の一又は複数の領域において、イオンを断片化及び/又は分離する請求項15〜17のいずれかに記載の分析装置。
- 前記捕捉電圧は、前記デバイスの断片化領域においてイオンを捕捉するのに有効であり、
前記電圧供給手段は、該断片化領域に捕捉されたイオンを断片化させるために、該デバイスに断片化電圧を供給するように構成されている
請求項1〜16のいずれかに記載の分析装置。 - 前記断片化電圧は、選択された範囲の質量電荷比においてイオンを断片化させるのに有効な双極子励起電圧から成る請求項18又は19に記載の分析装置。
- 前記双極子励起電圧は、衝突誘起解離(CID=Collision Induced Dissociation)によってイオンを断片化させるのに有効である請求項20に記載の分析装置。
- 前記電圧供給手段は、選択された範囲の質量電荷比において、断片化プリカーサイオンを分離するために分離電圧を供給するように構成されている請求項19〜21のいずれかに記載の分析装置。
- 前記分離電圧は、前記選択された範囲の質量電荷比においてプリカーサイオンを分離するのに有効な広帯域分離電圧である請求項22に記載の分析装置。
- 前記分離電圧は、前記選択された範囲の質量電荷比のどちらかの側へイオンを排出するために前後へ周波数スキャンを行うのに有効である請求項22に記載の分析装置。
- 前記電圧供給手段は、断片化に先立って前記デバイスの第一フィルタリング領域においてイオンのフィルタリングを生じさせ、
断片化の後に前記デバイスの第二フィルタリング領域において更なるイオンのフィルタリングを生じさせる
ように構成されている請求項17〜24のいずれかに記載の分析装置。 - 前記第一フィルタリング領域及び第二フィルタリング領域のそれぞれは前記デバイスの単一のセグメントによって定められる請求項24に記載の分析装置。
- 前記断片化電圧は、MSn機能を提供するために、イオンの繰り返し断片化を生じさせるのに有効である請求項18〜26のいずれかに記載の分析装置。
- 前記分割デバイスは、分割線形四重極イオン蓄積デバイスから成る請求項1〜27のいずれかに記載の分析装置。
- 長手軸を有する分割線形多重極イオン蓄積デバイスに試料イオンを受容し、
イオンが実質的に損なわれずに隣接するセグメント間を通過できるように、前記デバイスの隣接するセグメントに沿って及び隣接するセグメント間で実質的に一様な多重極捕捉場を生成するための高周波捕捉電圧を印加し、
前記デバイスの引出領域において試料イオン又は試料イオンに由来するイオンを、冷却ガスの助力を受けることで捕捉し、イオン雲を形成させるのに有効な直流捕捉電圧を印加し、
前記デバイスの前記長手軸に直交する引出方向に、前記引出領域から前記イオン雲を排出させる引出電圧を印加し、
飛行時間型質量分析器を用いて排出されたイオンを分析する
ステップから成る飛行時間型質量分析装置の操作方法。 - 試料イオンを供給するイオン源と、
前記イオン源によって供給された試料イオンを受容する、長手軸を有する分割線形イオン蓄積デバイスと、
前記デバイスに高周波多重極捕捉電圧を供給し、
イオンが選択的にMS処理を受ける前記デバイスの異なる軸方向伸張領域の間で試料イオン又は試料イオンに由来するイオンを動かすように該デバイスのセグメントに直流電圧を選択的に供給し、
処理されたイオンが該デバイスの引出セグメントの捕捉領域内に捕捉されるようにし、
該デバイスの前記長手軸に直交する引出方向に捕捉イオンを排出させるために前記引出セグメントに引出電圧を供給する
電圧供給手段と、
前記引出セグメントから排出されたイオンの質量分析を実行する飛行時間型分析器と、
を備えた飛行時間型質量分析装置。 - 前記高周波多重極捕捉電圧は、イオンが実質的に損なわれずに隣接するセグメント間を移動できるように、前記デバイスの隣接するセグメントに沿って及び隣接するセグメント間で実質的に一様である請求項30に記載の分析装置。
- 前記MS処理は、断片化、分離、フィルタリング、蓄積から選択される請求項31に記載の分析装置。
- 前記デバイスの異なる軸方向伸張領域において異なるMS処理が同時に実行される請求項32に記載の飛行時間型質量分析装置。
- 軸方向伸張領域のそれぞれは、単一のセグメント又は二以上の互いに隣接したセグメントグループから成る請求項33に記載の飛行時間型質量分析装置。
- 請求項1〜28、30〜34のいずれかに記載の飛行時間型質量分析装置に用いられる分割線形イオン蓄積デバイス。
- 添付の図面に関連して本書類中に実質的に記載された質量分析装置。
- 添付の図面に関連して本書類中に実質的に記載された質量分析装置の操作方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GBGB0624679.7A GB0624679D0 (en) | 2006-12-11 | 2006-12-11 | A time-of-flight mass spectrometer and a method of analysing ions in a time-of-flight mass spectrometer |
GB0624679.7 | 2006-12-11 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009540841A Division JP5218420B2 (ja) | 2006-12-11 | 2007-12-07 | 飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置におけるイオン分析方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013101952A true JP2013101952A (ja) | 2013-05-23 |
JP5541374B2 JP5541374B2 (ja) | 2014-07-09 |
Family
ID=37711901
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009540841A Active JP5218420B2 (ja) | 2006-12-11 | 2007-12-07 | 飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置におけるイオン分析方法 |
JP2013000524A Active JP5541374B2 (ja) | 2006-12-11 | 2013-01-07 | 飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置におけるイオン分析方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009540841A Active JP5218420B2 (ja) | 2006-12-11 | 2007-12-07 | 飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置におけるイオン分析方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9595432B2 (ja) |
EP (2) | EP2797106B1 (ja) |
JP (2) | JP5218420B2 (ja) |
CN (1) | CN101601119B (ja) |
GB (1) | GB0624679D0 (ja) |
WO (1) | WO2008071923A2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107271575A (zh) * | 2016-04-08 | 2017-10-20 | 株式会社岛津制作所 | 离子迁移谱和质谱并行分析的方法及装置 |
WO2023203621A1 (ja) * | 2022-04-18 | 2023-10-26 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
Families Citing this family (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5822919B2 (ja) | 2010-06-08 | 2015-11-25 | マイクロマス ユーケー リミテッド | ビームエキスパンダを備える質量分析計 |
US8735807B2 (en) * | 2010-06-29 | 2014-05-27 | Thermo Finnigan Llc | Forward and reverse scanning for a beam instrument |
GB201103361D0 (en) * | 2011-02-28 | 2011-04-13 | Shimadzu Corp | Mass analyser and method of mass analysis |
GB201104220D0 (en) | 2011-03-14 | 2011-04-27 | Micromass Ltd | Ion guide with orthogonal sampling |
GB201104665D0 (en) | 2011-03-18 | 2011-05-04 | Shimadzu Res Lab Europe Ltd | Ion analysis apparatus and methods |
US10504713B2 (en) * | 2011-06-28 | 2019-12-10 | Academia Sinica | Frequency scan linear ion trap mass spectrometry |
GB201118270D0 (en) | 2011-10-21 | 2011-12-07 | Shimadzu Corp | TOF mass analyser with improved resolving power |
GB201120307D0 (en) | 2011-11-24 | 2012-01-04 | Thermo Fisher Scient Bremen | High duty cycle mass spectrometer |
CN102592937B (zh) * | 2012-03-12 | 2014-10-29 | 复旦大学 | 一种基于狭义相对论的质量分析方法与质谱仪器 |
US9129790B2 (en) | 2013-03-14 | 2015-09-08 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Orthogonal acceleration TOF with ion guide mode |
CN105637613B (zh) * | 2013-10-16 | 2018-02-23 | Dh科技发展私人贸易有限公司 | 使用任意传输加窗根据产物离子识别前驱体离子的系统及方法 |
JP6377740B2 (ja) * | 2013-11-07 | 2018-08-22 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 向上した選別性のためのms3を通したフロー |
GB201409074D0 (en) * | 2014-05-21 | 2014-07-02 | Thermo Fisher Scient Bremen | Ion ejection from a quadrupole ion trap |
US9425033B2 (en) * | 2014-06-19 | 2016-08-23 | Bruker Daltonics, Inc. | Ion injection device for a time-of-flight mass spectrometer |
GB2534569A (en) * | 2015-01-27 | 2016-08-03 | Shimadzu Corp | Method of controlling a DC power supply |
DE102015106418B3 (de) * | 2015-04-27 | 2016-08-11 | Bruker Daltonik Gmbh | Messung des elektrischen Stromverlaufs von Partikelschwärmen in Gasen und im Vakuum |
US10340132B2 (en) * | 2015-11-30 | 2019-07-02 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Optimized electromagnetic field on side-on FT-ICR mass spectrometers |
US9978578B2 (en) * | 2016-02-03 | 2018-05-22 | Fasmatech Science & Technology Ltd. | Segmented linear ion trap for enhanced ion activation and storage |
WO2017179096A1 (ja) * | 2016-04-11 | 2017-10-19 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置及び質量分析方法 |
US9865446B2 (en) * | 2016-05-26 | 2018-01-09 | Thermo Finnigan Llc | Systems and methods for reducing the kinetic energy spread of ions radially ejected from a linear ion trap |
US10593531B2 (en) * | 2016-08-22 | 2020-03-17 | Shimadzu Corporation | Time-of-flight mass spectrometer |
GB201715777D0 (en) * | 2017-09-29 | 2017-11-15 | Shimadzu Corp | ION Trap |
US10529547B2 (en) * | 2018-05-30 | 2020-01-07 | Thermo Finnigan Llc | Mass analyzer dynamic tuning for plural optimization criteria |
GB201808932D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
GB201808949D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
GB201808912D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
GB201808936D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
US11367607B2 (en) | 2018-05-31 | 2022-06-21 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
US11373849B2 (en) | 2018-05-31 | 2022-06-28 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer having fragmentation region |
GB201808892D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
GB201808890D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
GB201808894D0 (en) * | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
GB2576745B (en) * | 2018-08-30 | 2022-11-02 | Brian Hoyes John | Pulsed accelerator for time of flight mass spectrometers |
GB201819372D0 (en) * | 2018-11-28 | 2019-01-09 | Shimadzu Corp | Apparatus for analysing ions |
GB2583758B (en) * | 2019-05-10 | 2021-09-15 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Improved injection of ions into an ion storage device |
GB2584129B (en) * | 2019-05-22 | 2022-01-12 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Ion trap with elongated electrodes |
GB2586786A (en) * | 2019-08-30 | 2021-03-10 | Shimadzu Corp | Device for performing field asymmetric waveform ion mobility spectrometry |
GB2591069A (en) * | 2019-08-30 | 2021-07-21 | Shimadzu Corp | Device for performing field asymmetric waveform ion mobility spectrometry |
GB2586787A (en) * | 2019-08-30 | 2021-03-10 | Shimadzu Corp | Device for performing field asymmetric waveform ion mobility spectrometry |
US11114293B2 (en) | 2019-12-11 | 2021-09-07 | Thermo Finnigan Llc | Space-time buffer for ion processing pipelines |
CA3178871A1 (en) * | 2020-06-08 | 2021-12-16 | Beam Alpha, Inc. | Ion source |
CN113952637B (zh) * | 2021-09-29 | 2022-09-06 | 清华大学 | 一种实现束团分离的方法和装置 |
GB2623758A (en) | 2022-10-24 | 2024-05-01 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Apparatus for trapping ions |
CN116153761B (zh) * | 2023-04-21 | 2023-07-11 | 浙江迪谱诊断技术有限公司 | 飞行时间质谱仪 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002517070A (ja) * | 1998-05-29 | 2002-06-11 | アナリティカ オブ ブランフォード インコーポレーテッド | 多極イオン案内を有する質量分析法 |
JP2002260575A (ja) * | 2001-03-06 | 2002-09-13 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
JP2003530675A (ja) * | 2000-04-10 | 2003-10-14 | パーセプティブ バイオシステムズ,インコーポレイテッド | 飛行時間型質量分析計およびタンデム飛行時間型質量分析計のためのイオンパルスの調製 |
JP2006093160A (ja) * | 2005-11-30 | 2006-04-06 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム |
WO2006103445A2 (en) * | 2005-03-29 | 2006-10-05 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus of ion trapping |
Family Cites Families (77)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5179278A (en) | 1991-08-23 | 1993-01-12 | Mds Health Group Limited | Multipole inlet system for ion traps |
US5248875A (en) | 1992-04-24 | 1993-09-28 | Mds Health Group Limited | Method for increased resolution in tandem mass spectrometry |
US5689111A (en) | 1995-08-10 | 1997-11-18 | Analytica Of Branford, Inc. | Ion storage time-of-flight mass spectrometer |
US7019285B2 (en) | 1995-08-10 | 2006-03-28 | Analytica Of Branford, Inc. | Ion storage time-of-flight mass spectrometer |
US5572022A (en) * | 1995-03-03 | 1996-11-05 | Finnigan Corporation | Method and apparatus of increasing dynamic range and sensitivity of a mass spectrometer |
DE19511333C1 (de) | 1995-03-28 | 1996-08-08 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung für orthogonalen Einschuß von Ionen in ein Flugzeit-Massenspektrometer |
US6075244A (en) | 1995-07-03 | 2000-06-13 | Hitachi, Ltd. | Mass spectrometer |
US5576540A (en) | 1995-08-11 | 1996-11-19 | Mds Health Group Limited | Mass spectrometer with radial ejection |
JPH11510946A (ja) | 1995-08-11 | 1999-09-21 | エムディーエス ヘルス グループ リミテッド | 軸電界を有する分光計 |
DE19738187C2 (de) | 1997-09-02 | 2001-09-13 | Bruker Daltonik Gmbh | Flugzeitmassenspektrometer mit thermokompensierter Fluglänge |
ATE535008T1 (de) * | 1998-01-23 | 2011-12-15 | Perkinelmer Health Sci Inc | Massenspektrometrie mit multipol ionen leitvorrichtung |
US6753523B1 (en) | 1998-01-23 | 2004-06-22 | Analytica Of Branford, Inc. | Mass spectrometry with multipole ion guides |
DE19827841C1 (de) | 1998-06-23 | 2000-02-10 | Bruker Daltonik Gmbh | Thermostabiles Flugzeitmassenspektrometer |
WO2001015201A2 (en) * | 1999-08-26 | 2001-03-01 | University Of New Hampshire | Multiple stage mass spectrometer |
GB9924722D0 (en) | 1999-10-19 | 1999-12-22 | Shimadzu Res Lab Europe Ltd | Methods and apparatus for driving a quadrupole device |
DE10005698B4 (de) | 2000-02-09 | 2007-03-01 | Bruker Daltonik Gmbh | Gitterloses Reflektor-Flugzeitmassenspektrometer für orthogonalen Ioneneinschuss |
US6570152B1 (en) | 2000-03-03 | 2003-05-27 | Micromass Limited | Time of flight mass spectrometer with selectable drift length |
US6441370B1 (en) | 2000-04-11 | 2002-08-27 | Thermo Finnigan Llc | Linear multipole rod assembly for mass spectrometers |
US6720554B2 (en) | 2000-07-21 | 2004-04-13 | Mds Inc. | Triple quadrupole mass spectrometer with capability to perform multiple mass analysis steps |
US6683301B2 (en) * | 2001-01-29 | 2004-01-27 | Analytica Of Branford, Inc. | Charged particle trapping in near-surface potential wells |
US6627883B2 (en) | 2001-03-02 | 2003-09-30 | Bruker Daltonics Inc. | Apparatus and method for analyzing samples in a dual ion trap mass spectrometer |
GB2404784B (en) | 2001-03-23 | 2005-06-22 | Thermo Finnigan Llc | Mass spectrometry method and apparatus |
US7265344B2 (en) | 2001-03-23 | 2007-09-04 | Thermo Finnigan Llc | Mass spectrometry method and apparatus |
US6911651B2 (en) * | 2001-05-08 | 2005-06-28 | Thermo Finnigan Llc | Ion trap |
US6700118B2 (en) | 2001-08-15 | 2004-03-02 | Agilent Technologies, Inc. | Thermal drift compensation to mass calibration in time-of-flight mass spectrometry |
AU2002322895A1 (en) | 2001-08-30 | 2003-03-10 | Mds Inc., Doing Busness As Mds Sciex | A method of reducing space charge in a linear ion trap mass spectrometer |
GB0121172D0 (en) * | 2001-08-31 | 2001-10-24 | Shimadzu Res Lab Europe Ltd | A method for dissociating ions using a quadrupole ion trap device |
JP3990889B2 (ja) * | 2001-10-10 | 2007-10-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム |
GB2389452B (en) | 2001-12-06 | 2006-05-10 | Bruker Daltonik Gmbh | Ion-guide |
US6727495B2 (en) * | 2002-01-17 | 2004-04-27 | Agilent Technologies, Inc. | Ion mobility spectrometer with high ion transmission efficiency |
US6797950B2 (en) | 2002-02-04 | 2004-09-28 | Thermo Finnegan Llc | Two-dimensional quadrupole ion trap operated as a mass spectrometer |
US6844547B2 (en) * | 2002-02-04 | 2005-01-18 | Thermo Finnigan Llc | Circuit for applying supplementary voltages to RF multipole devices |
JP3840417B2 (ja) * | 2002-02-20 | 2006-11-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
US6800846B2 (en) | 2002-05-30 | 2004-10-05 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
US7095013B2 (en) | 2002-05-30 | 2006-08-22 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
US7034292B1 (en) | 2002-05-31 | 2006-04-25 | Analytica Of Branford, Inc. | Mass spectrometry with segmented RF multiple ion guides in various pressure regions |
US6770871B1 (en) | 2002-05-31 | 2004-08-03 | Michrom Bioresources, Inc. | Two-dimensional tandem mass spectrometry |
US6897438B2 (en) * | 2002-08-05 | 2005-05-24 | University Of British Columbia | Geometry for generating a two-dimensional substantially quadrupole field |
CA2514343C (en) * | 2003-01-24 | 2010-04-06 | Thermo Finnigan Llc | Controlling ion populations in a mass analyzer |
CN1833300B (zh) | 2003-03-19 | 2010-05-12 | 萨默费尼根有限公司 | 在离子总体中获取多个母离子的串联质谱分析数据 |
US6858840B2 (en) | 2003-05-20 | 2005-02-22 | Science & Engineering Services, Inc. | Method of ion fragmentation in a multipole ion guide of a tandem mass spectrometer |
US7227133B2 (en) * | 2003-06-03 | 2007-06-05 | The University Of North Carolina At Chapel Hill | Methods and apparatus for electron or positron capture dissociation |
DE10325579B4 (de) * | 2003-06-05 | 2007-10-11 | Bruker Daltonik Gmbh | Ionenfragmentierung durch Elektroneneinfang in linearen Ionenfallen |
US6977371B2 (en) | 2003-06-10 | 2005-12-20 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
US7385187B2 (en) | 2003-06-21 | 2008-06-10 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and method of use |
CA2529505A1 (en) | 2003-06-27 | 2005-01-06 | Brigham Young University | Virtual ion trap |
GB0404285D0 (en) | 2004-02-26 | 2004-03-31 | Shimadzu Res Lab Europe Ltd | A tandem ion-trap time-of flight mass spectrometer |
GB2412487A (en) * | 2004-03-26 | 2005-09-28 | Thermo Finnigan Llc | A method of improving a mass spectrum |
GB0408751D0 (en) * | 2004-04-20 | 2004-05-26 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
CA2567466C (en) * | 2004-05-21 | 2012-05-01 | Craig M. Whitehouse | Rf surfaces and rf ion guides |
US7034293B2 (en) * | 2004-05-26 | 2006-04-25 | Varian, Inc. | Linear ion trap apparatus and method utilizing an asymmetrical trapping field |
CN1326191C (zh) | 2004-06-04 | 2007-07-11 | 复旦大学 | 用印刷电路板构建的离子阱质量分析仪 |
JP4659395B2 (ja) | 2004-06-08 | 2011-03-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置及び質量分析方法 |
US7189967B1 (en) | 2004-06-16 | 2007-03-13 | Analytica Of Branford, Inc. | Mass spectrometry with multipole ion guides |
US7312441B2 (en) | 2004-07-02 | 2007-12-25 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus for controlling the ion population in a mass spectrometer |
US7456396B2 (en) | 2004-08-19 | 2008-11-25 | Thermo Finnigan Llc | Isolating ions in quadrupole ion traps for mass spectrometry |
US7047144B2 (en) | 2004-10-13 | 2006-05-16 | Varian, Inc. | Ion detection in mass spectrometry with extended dynamic range |
JP5357538B2 (ja) | 2005-03-22 | 2013-12-04 | レコ コーポレイション | 等時性湾曲イオンインタフェースを備えた多重反射型飛行時間質量分析計 |
GB0506288D0 (en) | 2005-03-29 | 2005-05-04 | Thermo Finnigan Llc | Improvements relating to mass spectrometry |
US7759638B2 (en) | 2005-03-29 | 2010-07-20 | Thermo Finnigan Llc | Mass spectrometer |
JP4907196B2 (ja) | 2005-05-12 | 2012-03-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析用データ処理装置 |
DE102005039560B4 (de) | 2005-08-22 | 2010-08-26 | Bruker Daltonik Gmbh | Neuartiges Tandem-Massenspektrometer |
US7323683B2 (en) | 2005-08-31 | 2008-01-29 | The Rockefeller University | Linear ion trap for mass spectrometry |
US7166836B1 (en) | 2005-09-07 | 2007-01-23 | Agilent Technologies, Inc. | Ion beam focusing device |
US7351955B2 (en) * | 2005-09-09 | 2008-04-01 | Thermo Finnigan Llc | Reduction of chemical noise in a MALDI mass spectrometer by in-trap photodissociation of matrix cluster ions |
US7312442B2 (en) | 2005-09-13 | 2007-12-25 | Agilent Technologies, Inc | Enhanced gradient multipole collision cell for higher duty cycle |
JP5340735B2 (ja) | 2005-10-11 | 2013-11-13 | レコ コーポレイション | 直交加速を備えた多重反射型飛行時間質量分析計 |
US7378653B2 (en) * | 2006-01-10 | 2008-05-27 | Varian, Inc. | Increasing ion kinetic energy along axis of linear ion processing devices |
US7405399B2 (en) * | 2006-01-30 | 2008-07-29 | Varian, Inc. | Field conditions for ion excitation in linear ion processing apparatus |
US7501623B2 (en) * | 2006-01-30 | 2009-03-10 | Varian, Inc. | Two-dimensional electrode constructions for ion processing |
US7351965B2 (en) * | 2006-01-30 | 2008-04-01 | Varian, Inc. | Rotating excitation field in linear ion processing apparatus |
US7405400B2 (en) * | 2006-01-30 | 2008-07-29 | Varian, Inc. | Adjusting field conditions in linear ion processing apparatus for different modes of operation |
US7470900B2 (en) * | 2006-01-30 | 2008-12-30 | Varian, Inc. | Compensating for field imperfections in linear ion processing apparatus |
JP4369454B2 (ja) | 2006-09-04 | 2009-11-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオントラップ質量分析方法 |
US7598488B2 (en) * | 2006-09-20 | 2009-10-06 | Park Melvin A | Apparatus and method for field asymmetric ion mobility spectrometry combined with mass spectrometry |
US7518104B2 (en) | 2006-10-11 | 2009-04-14 | Applied Biosystems, Llc | Methods and apparatus for time-of-flight mass spectrometer |
US7518107B2 (en) | 2006-10-11 | 2009-04-14 | Applied Biosystems, Llc | Methods and apparatus for time-of-flight mass spectrometer |
-
2006
- 2006-12-11 GB GBGB0624679.7A patent/GB0624679D0/en not_active Ceased
-
2007
- 2007-12-07 EP EP14169423.2A patent/EP2797106B1/en not_active Not-in-force
- 2007-12-07 US US12/518,236 patent/US9595432B2/en active Active
- 2007-12-07 CN CN2007800505979A patent/CN101601119B/zh active Active
- 2007-12-07 WO PCT/GB2007/004689 patent/WO2008071923A2/en active Application Filing
- 2007-12-07 EP EP07858782.1A patent/EP2095397B1/en not_active Not-in-force
- 2007-12-07 JP JP2009540841A patent/JP5218420B2/ja active Active
-
2013
- 2013-01-07 JP JP2013000524A patent/JP5541374B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002517070A (ja) * | 1998-05-29 | 2002-06-11 | アナリティカ オブ ブランフォード インコーポレーテッド | 多極イオン案内を有する質量分析法 |
JP2003530675A (ja) * | 2000-04-10 | 2003-10-14 | パーセプティブ バイオシステムズ,インコーポレイテッド | 飛行時間型質量分析計およびタンデム飛行時間型質量分析計のためのイオンパルスの調製 |
JP2002260575A (ja) * | 2001-03-06 | 2002-09-13 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
WO2006103445A2 (en) * | 2005-03-29 | 2006-10-05 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus of ion trapping |
JP2006093160A (ja) * | 2005-11-30 | 2006-04-06 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107271575A (zh) * | 2016-04-08 | 2017-10-20 | 株式会社岛津制作所 | 离子迁移谱和质谱并行分析的方法及装置 |
JP2017207472A (ja) * | 2016-04-08 | 2017-11-24 | 株式会社島津製作所 | イオン移動度スペクトルとマススペクトルの並行分析の方法及び装置 |
WO2023203621A1 (ja) * | 2022-04-18 | 2023-10-26 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2008071923A3 (en) | 2009-01-08 |
JP2010512632A (ja) | 2010-04-22 |
EP2797106B1 (en) | 2019-07-24 |
CN101601119A (zh) | 2009-12-09 |
EP2095397B1 (en) | 2014-07-02 |
EP2797106A3 (en) | 2015-03-11 |
US9595432B2 (en) | 2017-03-14 |
US20100072362A1 (en) | 2010-03-25 |
EP2095397A2 (en) | 2009-09-02 |
GB0624679D0 (en) | 2007-01-17 |
WO2008071923A2 (en) | 2008-06-19 |
JP5541374B2 (ja) | 2014-07-09 |
CN101601119B (zh) | 2013-04-24 |
EP2797106A2 (en) | 2014-10-29 |
JP5218420B2 (ja) | 2013-06-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5541374B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置におけるイオン分析方法 | |
JP4738326B2 (ja) | イオン母集団内複数親イオン種についてのタンデム質量分析データ取得 | |
JP3989845B2 (ja) | 質量分析の方法及び装置 | |
JP5860958B2 (ja) | タンデム質量分析のためのターゲット分析 | |
US8754368B2 (en) | Mass spectrometer | |
US8637816B1 (en) | Systems and methods for MS-MS-analysis | |
JP2003123685A (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム | |
US8368014B2 (en) | Ion trap time-of-flight mass spectrometer | |
US20080017789A1 (en) | Method of operating a mass spectrometer to provide resonant excitation ion transfer | |
US10504713B2 (en) | Frequency scan linear ion trap mass spectrometry | |
CA2689084C (en) | Mass spectrometry method and apparatus | |
CN113366609A (zh) | 用于优化离子阱填充的自动增益控制 | |
JP2006500757A (ja) | 電気セクタ時間飛行型タンデム質量分析計 | |
US11031232B1 (en) | Injection of ions into an ion storage device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131024 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131029 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131227 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140408 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140421 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5541374 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |