JP2012113809A5 - フラッシュメモリ装置のメモリセルを読み出す方法 - Google Patents
フラッシュメモリ装置のメモリセルを読み出す方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012113809A5 JP2012113809A5 JP2011256290A JP2011256290A JP2012113809A5 JP 2012113809 A5 JP2012113809 A5 JP 2012113809A5 JP 2011256290 A JP2011256290 A JP 2011256290A JP 2011256290 A JP2011256290 A JP 2011256290A JP 2012113809 A5 JP2012113809 A5 JP 2012113809A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- read
- reading
- command
- decision voltages
- result
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Claims (29)
- 不揮発性メモリセルアレイで複数のメモリセルを読み出す方法において、
シングル読出しコマンドに基づいて、複数のハード判定電圧のセット及び複数のソフト判定電圧の少なくとも第1セットを利用してメモリセルからデータを読み出す段階を含む読み出す方法。 - 前記読み出す段階は、シングル読出しコマンド、アドレス、及び解像度指示器に基づいて、複数のハード判定電圧の前記セット及び複数のソフト判定電圧の少なくとも前記第1セットを利用してデータを読み出し、前記解像度指示器はソフト判定電圧のセットの個数を指示する請求項1に記載の読み出す方法。
- もし、読出し解像度が2つのセットを指示すれば、前記読み出す段階は複数のハード判定電圧の前記セット、複数のソフト判定電圧の前記第1セット、及び複数のソフト判定電圧の第2セットを利用して前記メモリセルからデータを読み出す請求項2に記載の読み出す方法。
- 前記第2セットで複数のソフト判定電圧の個数は、前記第1セットより大きい請求項3に記載の読み出す方法。
- 第1読出し出力コマンドに応答して、前記ハード判定電圧に基づいて第1読出し結果を出力する段階をさらに含む請求項1に記載の読み出す方法。
- 第2読出し出力コマンドに応答して、複数のソフト判定電圧の前記第1セットに基づいて第2読出し結果を出力する段階をさらに含む請求項5に記載の読み出す方法。
- 前記読み出す段階は前記読出しコマンドに応答して、ハード判定電圧の前記セットを利用し、前記複数のソフト判定電圧の前記第1セットを利用し、複数のソフト判定電圧の第2セットを利用して前記メモリセルからデータを読み出し、第3読出し出力コマンドに応答して複数のソフト判定電圧の前記第2セットに基づいて第3読出し結果を出力する段階をさらに含む請求項6に記載の読み出す方法。
- 前記第2読出し結果を出力する段階は、前記第1読出し結果を出力する段階で各々のハードビットを出力するためにシングルソフトビットを出力し、
前記第3読出し結果を出力する段階は、前記第1読出し結果を出力する段階で各々のハードビットを出力するためにシングルソフトビットを出力する請求項7に記載の読み出す方法。 - 前記第2読出し結果を出力する段階は、前記第1読出し結果を出力する段階で各々のハードビットを出力するためのシングルソフトビットを出力する請求項6に記載の読み出す方法。
- 前記読み出す段階は前記読出しコマンドに応答して、複数のハード判定電圧の前記セット、複数のソフト判定電圧の前記第1セット、及び複数のソフト判定電圧の前記第2セットに基づいてデータを読み出す動作を順次的に遂行する請求項7に記載の読み出す方法。
- 前記読み出す段階は、前記読出しコマンドに応答して複数のハード判定電圧の前記セット及び複数のソフト判定電圧の前記第1セットに基づいてデータを読み出す動作を順次的に遂行する請求項1に記載の読み出す方法。
- 前記読み出す段階は、
前記読出しコマンドを受信した後に、複数のハード判定電圧の前記セットを利用して前記メモリセルからデータを読み出す段階と、
前記第1読出し出力コマンドを受信した後に、複数のソフト判定電圧の前記第1セットを利用して前記メモリセルからデータを読み出す段階と、
前記第2読出し出力コマンドを受信した後に、複数のソフト判定電圧の前記第2セットを利用して前記メモリセルからデータを読み出す段階と、を含む請求項7に記載の読み出す方法。 - 前記読み出す段階は、
前記読出しコマンドを受信した後に、複数のハード判定電圧の前記セットを利用して前記メモリセルからデータを読み出す段階と、
前記第1読出し出力コマンドを受信した後に、複数のソフト判定電圧の前記第1セットを利用して前記メモリセルからデータを読み出す段階と、を含む請求項5に記載の読み出す方法。 - 前記読み出す段階は、
前記読出しコマンドを受信した後に、複数のハード判定電圧の前記セットを利用して前記メモリセルからデータを読み出す段階と、
複数のハード判定電圧の前記セットを利用して読み出されたデータを出力した後に、複数のソフト判定電圧の前記第1セットを利用して前記メモリセルからデータを読み出す段階と、を含む請求項1に記載の読み出す方法。 - 前記読み出す段階は、
前記第1読出し結果を出力する段階と同時に複数のソフト判定電圧の前記第1セットに基づいてデータを読み出す段階と、
前記第2読出し結果を出力する段階と同時に複数のソフト判定電圧の前記第2セットに基づいてデータを読み出す段階と、を含む請求項7に記載の読み出す方法。 - 前記読み出す段階は、前記第1読出し結果を出力する段階と同時に複数のソフト判定電圧の前記第1セットに基づいてデータを読み出す段階を含む請求項5に記載の読み出す方法。
- 前記複数のメモリセルは複数のマルチ−レベルメモリセルである請求項1に記載の読み出す方法。
- 不揮発性メモリセルアレイで複数のメモリセルを読み出す方法において、
読出しコマンドを伝送する段階と、
第1読出し出力コマンドを伝送する段階と、
前記第1読出し出力コマンドに応答して、複数のハード判定電圧のセットを利用する読出し動作に基づいて遂行された第1読出し結果を受信する段階と、
第2読出し結果で複数のエラーが訂正できるか否かを判定する第1判定段階と、
前記第1判定段階が前記第1読出し結果で複数のエラーが訂正できないと判定すれば、関連した読出しコマンドを伝送せずに第2読出し出力コマンドを伝送する段階と、
前記第2読出し出力コマンドに応答して、複数のソフト判定電圧の第1セットを利用する読出し動作に基づいて遂行された前記第2読出し結果を受信する段階と、を含む読み出す方法。 - 前記第1判定段階が前記第1読出し出力結果で複数のエラーが訂正できると判定すれば、前記読出し出力コマンドは伝送しない請求項18に記載の読み出す方法。
- 前記読出しコマンドに関連した読出し解像度を伝送する段階をさらに含み、
前記読出し解像度はハード読出し動作と共に遂行するために複数のソフト読出し動作の個数を指示し、
前記ハード読出し動作は複数のハード判定電圧の前記セットに基づいて遂行され、
各ソフト読出し動作は複数のソフト判定電圧の他のセットに基づいて遂行される請求項18に記載の読み出す方法。 - 読出し解像度が2つのソフト読出し動作を指示すれば、前記読み出す方法は、
第2読出し結果で複数のエラーが訂正できるか否かを判定する第2判定段階と、
前記第2判定段階が第2読出し結果で複数のエラーが訂正できないと判定すれば、関連した読出しコマンドを伝送せずに第3読出し出力コマンドを伝送する段階と、
前記第3読出し出力コマンドに応答して、複数のソフト判定電圧の第2セットを利用する読出し動作に基づいて遂行された第3読出し結果を受信する段階と、をさらに含む請求項20に記載の読み出す方法。 - 前記第2判定段階が前記第1読出し結果で複数のエラーが訂正できないと判定すれば、前記第3読出し出力コマンドが伝送されない請求項21に記載の読み出す方法。
- 前記第2読出し結果で複数のエラーが訂正できるか否か判定する第3判定段階をさらに含む請求項21に記載の読み出す方法。
- 前記第2読出し結果で複数のエラーが訂正できるか否かを判定する第2判定段階と、
前記第2判定段階が前記第2読出し結果で複数のエラーが訂正できないと判定すれば、関連した読出しコマンドを伝送せずに第3読出し出力コマンドを伝送する段階と、
前記第3読出し出力コマンドに応答して、複数のソフト判定電圧の第2セットを利用する読出し動作に基づいて遂行された前記第3読出し結果を受信する段階と、をさらに含む請求項18に記載の読み出す方法。 - 前記第2判定段階が前記第1読出し結果で複数のエラーが訂正できないと判定すれば、第3読出し出力コマンドが伝送されない請求項24に記載の読み出す方法。
- 前記第2読出し結果で複数のエラーが訂正できるか否かを判定する第3判定段階をさらに含む請求項24に記載の読み出す方法。
- 前記第2読出し結果を受信する段階は、前記第1読出し結果を受信する段階で入力された各ハードビットのためにシングルソフトビットを受信し、
前記第3読出し結果を受信する段階は、前記第1読出し結果を受信する段階で入力された各ハードビットのためにシングルソフトビットを受信する請求項24に記載の読み出す方法。 - 前記第2読出し結果を受信する段階は、前記第1読出し結果を受信する段階で入力された各ハードビットのためにシングルビットを受信する請求項24に記載の読み出す方法。
- 前記複数のメモリセルは複数のマルチ−レベルメモリセルである請求項18に記載の読み出す方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2010-0117940 | 2010-11-25 | ||
KR1020100117940A KR101792868B1 (ko) | 2010-11-25 | 2010-11-25 | 플래시 메모리 장치 및 그것의 읽기 방법 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012113809A JP2012113809A (ja) | 2012-06-14 |
JP2012113809A5 true JP2012113809A5 (ja) | 2014-10-09 |
JP6037373B2 JP6037373B2 (ja) | 2016-12-07 |
Family
ID=46049896
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011256290A Active JP6037373B2 (ja) | 2010-11-25 | 2011-11-24 | フラッシュメモリ装置のメモリセルを読み出す方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8576622B2 (ja) |
JP (1) | JP6037373B2 (ja) |
KR (1) | KR101792868B1 (ja) |
CN (1) | CN102479556B (ja) |
DE (1) | DE102011054181A1 (ja) |
Families Citing this family (55)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9679664B2 (en) | 2012-02-11 | 2017-06-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and system for providing a smart memory architecture |
CN103247347B (zh) * | 2012-02-11 | 2017-07-25 | 三星电子株式会社 | 提供智能存储器架构的方法和系统 |
US9190162B2 (en) * | 2012-03-13 | 2015-11-17 | Micron Technology, Inc. | Nonconsecutive sensing of multilevel memory cells |
US9256522B1 (en) * | 2012-04-19 | 2016-02-09 | Sk Hynix Memory Solutions Inc. | Method and system for generating soft-information after a single read in NAND flash using expected and measured values |
KR102089570B1 (ko) * | 2012-06-04 | 2020-03-16 | 삼성전자주식회사 | 저장 장치 및 그것의 데이터 처리 방법 |
KR101984900B1 (ko) * | 2012-07-24 | 2019-05-31 | 삼성전자 주식회사 | 메모리 장치 및 상기 메모리 장치의 독출 전압 결정 방법 |
US9239754B2 (en) * | 2012-08-04 | 2016-01-19 | Seagate Technology Llc | Single read based soft-decision decoding of non-volatile memory |
US8848453B2 (en) * | 2012-08-31 | 2014-09-30 | Micron Technology, Inc. | Inferring threshold voltage distributions associated with memory cells via interpolation |
US20140071761A1 (en) * | 2012-09-10 | 2014-03-13 | Sandisk Technologies Inc. | Non-volatile storage with joint hard bit and soft bit reading |
US9703945B2 (en) | 2012-09-19 | 2017-07-11 | Winbond Electronics Corporation | Secured computing system with asynchronous authentication |
US8913422B2 (en) * | 2012-09-28 | 2014-12-16 | Intel Corporation | Decreased switching current in spin-transfer torque memory |
KR102125371B1 (ko) * | 2012-12-04 | 2020-06-22 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리 장치 및 그것의 동작방법 |
KR102083491B1 (ko) * | 2012-12-05 | 2020-03-02 | 삼성전자 주식회사 | 메모리 장치, 메모리 시스템 및 이의 동작 방법 |
US20140169102A1 (en) | 2012-12-19 | 2014-06-19 | Western Digital Technologies, Inc. | Log-likelihood ratio and lumped log-likelihood ratio generation for data storage systems |
KR102123946B1 (ko) | 2012-12-28 | 2020-06-17 | 삼성전자주식회사 | 멀티 레벨 셀 메모리 장치 및 그것의 동작방법 |
JP2014157650A (ja) | 2013-02-18 | 2014-08-28 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
US9369152B2 (en) * | 2013-03-07 | 2016-06-14 | Marvell World Trade Ltd. | Systems and methods for decoding with late reliability information |
KR102131802B1 (ko) * | 2013-03-15 | 2020-07-08 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리 장치의 데이터 독출 방법, 비휘발성 메모리 장치, 및 메모리 시스템의 구동 방법 |
WO2014149738A1 (en) * | 2013-03-21 | 2014-09-25 | Marvell World Trade Ltd. | Systems and methods for multi-stage soft input decoding |
US9025393B2 (en) | 2013-03-25 | 2015-05-05 | Seagate Technology Llc | Method of optimizing solid state drive soft retry voltages |
KR102252379B1 (ko) | 2013-06-24 | 2021-05-14 | 삼성전자주식회사 | 메모리 시스템 및 이의 독출 방법 |
KR102120823B1 (ko) * | 2013-08-14 | 2020-06-09 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리 장치의 독출 시퀀스 제어 방법 및 이를 수행하는 메모리 시스템 |
US9455962B2 (en) | 2013-09-22 | 2016-09-27 | Winbond Electronics Corporation | Protecting memory interface |
US9343162B2 (en) * | 2013-10-11 | 2016-05-17 | Winbond Electronics Corporation | Protection against side-channel attacks on non-volatile memory |
US9612773B2 (en) * | 2013-11-21 | 2017-04-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | User device having a host flash translation layer (FTL), a method for transferring an erase count thereof, a method for transferring reprogram information thereof, and a method for transferring a page offset of an open block thereof |
CN104679441B (zh) * | 2013-12-02 | 2018-06-29 | 群联电子股份有限公司 | 时间估测方法、存储器存储装置、存储器控制电路单元 |
US9417960B2 (en) * | 2013-12-20 | 2016-08-16 | Seagate Technology Llc | Preventing programming errors from occurring when programming flash memory cells |
US9645763B2 (en) | 2014-01-13 | 2017-05-09 | Seagate Technology Llc | Framework for balancing robustness and latency during collection of statistics from soft reads |
KR102127287B1 (ko) | 2014-02-11 | 2020-06-26 | 삼성전자주식회사 | 메모리 컨트롤러 및 메모리 컨트롤러가 불휘발성 메모리로부터 데이터를 읽는 데이터 읽기 방법 |
US9318221B2 (en) | 2014-04-03 | 2016-04-19 | Winbound Electronics Corporation | Memory device with secure test mode |
US9632879B2 (en) * | 2014-09-22 | 2017-04-25 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Disk drive repair |
IL234956A (en) | 2014-10-02 | 2017-10-31 | Kaluzhny Uri | Data bus protection with enhanced key entropy |
US9406377B2 (en) * | 2014-12-08 | 2016-08-02 | Sandisk Technologies Llc | Rewritable multibit non-volatile memory with soft decode optimization |
US10320429B2 (en) | 2015-03-04 | 2019-06-11 | Toshiba Memory Corporation | Memory controller, memory system and memory control method |
CN106297883B (zh) * | 2015-06-05 | 2020-01-07 | 群联电子股份有限公司 | 解码方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元 |
KR20160149463A (ko) * | 2015-06-18 | 2016-12-28 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 비휘발성 메모리 시스템 및 비휘발성 메모리 시스템의 동작방법 |
US9659637B2 (en) * | 2015-08-11 | 2017-05-23 | Western Digital Technologies, Inc. | Correlating physical page addresses for soft decision decoding |
US10474525B2 (en) * | 2015-08-11 | 2019-11-12 | Sandisk Technologies Llc | Soft bit techniques for a data storage device |
KR102425259B1 (ko) * | 2015-11-27 | 2022-07-27 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 비휘발성 메모리 장치, 반도체 장치 및 반도체 장치의 동작 방법 |
US10019571B2 (en) | 2016-03-13 | 2018-07-10 | Winbond Electronics Corporation | Protection from side-channel attacks by varying clock delays |
TWI584304B (zh) * | 2016-05-23 | 2017-05-21 | 大心電子(英屬維京群島)股份有限公司 | 解碼方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元 |
CN107436820B (zh) * | 2016-05-27 | 2020-07-17 | 深圳大心电子科技有限公司 | 解码方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元 |
US10222996B2 (en) * | 2017-02-07 | 2019-03-05 | Western Digital Technologies, Inc. | Read operation and soft decoding timing |
JP2019056955A (ja) * | 2017-09-19 | 2019-04-11 | 東芝メモリ株式会社 | メモリシステム |
KR102496272B1 (ko) * | 2017-09-27 | 2023-02-03 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리 장치, 및 이의 동작 방법 |
KR20190075354A (ko) * | 2017-12-21 | 2019-07-01 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 장치 및 메모리 장치의 동작 방법 |
CN110797069B (zh) * | 2018-08-01 | 2021-10-22 | 群联电子股份有限公司 | 电压调整方法、存储器控制电路单元以及存储器存储装置 |
TWI725368B (zh) * | 2018-12-25 | 2021-04-21 | 群聯電子股份有限公司 | 解碼方法、記憶體控制電路單元以及記憶體儲存裝置 |
KR102118899B1 (ko) * | 2019-03-07 | 2020-06-04 | 한양대학교 산학협력단 | 연판정 기반으로 선형 부호를 고속 복호화하는 방법 및 장치 |
KR102144732B1 (ko) * | 2019-05-10 | 2020-08-14 | 한양대학교 산학협력단 | 연판정 기반으로 선형 부호를 고속 복호화하는 방법 및 장치 |
US11342044B2 (en) * | 2019-05-28 | 2022-05-24 | Nuvoton Technology Corporation | System and method for prioritization of bit error correction attempts |
KR20200139496A (ko) * | 2019-06-04 | 2020-12-14 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 장치 및 이의 동작 방법 |
KR20220034341A (ko) * | 2020-09-11 | 2022-03-18 | 삼성전자주식회사 | 메모리 컨트롤러, 스토리지 장치 및 메모리 컨트롤러의 구동방법 |
CN115509465B (zh) * | 2022-11-21 | 2023-03-28 | 杭州字节方舟科技有限公司 | 一种扇区管理方法、装置、电子设备及存储介质 |
TWI824873B (zh) * | 2022-12-12 | 2023-12-01 | 旺宏電子股份有限公司 | 記憶體內搜尋記憶體單元、記憶體內搜尋方法及記憶體內搜尋記憶體裝置 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7644224B2 (en) | 2005-11-15 | 2010-01-05 | Sandisk Il Ltd. | Flash memory device and method |
US20080092015A1 (en) * | 2006-09-28 | 2008-04-17 | Yigal Brandman | Nonvolatile memory with adaptive operation |
TWI360126B (en) * | 2006-09-28 | 2012-03-11 | Sandisk Corp | Nonvolatile memory with adaptive operations and me |
US7805663B2 (en) * | 2006-09-28 | 2010-09-28 | Sandisk Corporation | Methods of adapting operation of nonvolatile memory |
US7904788B2 (en) * | 2006-11-03 | 2011-03-08 | Sandisk Corporation | Methods of varying read threshold voltage in nonvolatile memory |
US7558109B2 (en) * | 2006-11-03 | 2009-07-07 | Sandisk Corporation | Nonvolatile memory with variable read threshold |
WO2008057822A2 (en) * | 2006-11-03 | 2008-05-15 | Sandisk Corporation | Nonvolatile memory with variable read threshold |
US7966550B2 (en) | 2007-03-31 | 2011-06-21 | Sandisk Technologies Inc. | Soft bit data transmission for error correction control in non-volatile memory |
US7966546B2 (en) * | 2007-03-31 | 2011-06-21 | Sandisk Technologies Inc. | Non-volatile memory with soft bit data transmission for error correction control |
US8068360B2 (en) | 2007-10-19 | 2011-11-29 | Anobit Technologies Ltd. | Reading analog memory cells using built-in multi-threshold commands |
KR101436505B1 (ko) | 2008-01-03 | 2014-09-02 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치 |
JP2010118123A (ja) * | 2008-11-14 | 2010-05-27 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP2010192049A (ja) * | 2009-02-19 | 2010-09-02 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP4818381B2 (ja) * | 2009-03-02 | 2011-11-16 | 株式会社東芝 | 半導体メモリ装置 |
KR101618311B1 (ko) * | 2010-02-08 | 2016-05-04 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리 장치 및 그것의 읽기 방법 |
KR101635506B1 (ko) * | 2010-03-29 | 2016-07-04 | 삼성전자주식회사 | 데이터 저장 시스템 및 그것의 읽기 방법 |
US8498152B2 (en) * | 2010-12-23 | 2013-07-30 | Sandisk Il Ltd. | Non-volatile memory and methods with soft-bit reads while reading hard bits with compensation for coupling |
US8099652B1 (en) * | 2010-12-23 | 2012-01-17 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory and methods with reading soft bits in non uniform schemes |
US9177664B2 (en) * | 2012-02-22 | 2015-11-03 | Silicon Motion, Inc. | Method, memory controller and system for reading data stored in flash memory |
US20140071761A1 (en) * | 2012-09-10 | 2014-03-13 | Sandisk Technologies Inc. | Non-volatile storage with joint hard bit and soft bit reading |
-
2010
- 2010-11-25 KR KR1020100117940A patent/KR101792868B1/ko active IP Right Grant
-
2011
- 2011-08-30 US US13/221,162 patent/US8576622B2/en active Active
- 2011-10-05 DE DE102011054181A patent/DE102011054181A1/de active Pending
- 2011-11-16 CN CN201110363250.8A patent/CN102479556B/zh active Active
- 2011-11-24 JP JP2011256290A patent/JP6037373B2/ja active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2012113809A5 (ja) | フラッシュメモリ装置のメモリセルを読み出す方法 | |
JP2012079403A5 (ja) | ||
KR101957614B1 (ko) | 메모리의 상이한 메모리 평면들을 동시에 액세스하기 위한 장치들 및 방법들 | |
WO2009072104A3 (en) | Flash memory device with physical cell value deterioration accommodation and methods useful in conjunction therewith | |
WO2015187771A3 (en) | Apparatuses and methods for performing an exclusive or operation using sensing circuitry | |
JP6037373B2 (ja) | フラッシュメモリ装置のメモリセルを読み出す方法 | |
WO2007116393A3 (en) | Method for generating soft bits in flash memories | |
JP2006528403A5 (ja) | ||
US20130185609A1 (en) | Nonvolatile memory system | |
TW200737213A (en) | Method and system for error correction in flash memory | |
JP2010157216A5 (ja) | ||
JP2012221522A5 (ja) | ||
US9312885B2 (en) | Nonvolatile semiconductor memory system error correction capability of which is improved | |
EP1892721A3 (en) | Method of programming a multi-bit non-volatile memory device and multi-bit non-volatile memory device | |
WO2007130615A3 (en) | A method for reading a multilevel cell in a non-volatile memory device | |
JP2012504820A5 (ja) | ||
WO2009139567A3 (en) | Memory device and memory programming method | |
JP2008269775A5 (ja) | ||
WO2009070406A3 (en) | Method and apparatus for reading data from flash memory | |
JP2011528154A5 (ja) | ||
JP2011515786A5 (ja) | ||
US20150160859A1 (en) | Nonvolatile memory device and operating method thereof | |
JP2014142988A5 (ja) | ||
TW201443650A (zh) | 在非揮發性記憶體中之失序命令執行 | |
JP2015500546A5 (ja) |