JP2011232071A - 放電イオン化電流検出器 - Google Patents
放電イオン化電流検出器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011232071A JP2011232071A JP2010100647A JP2010100647A JP2011232071A JP 2011232071 A JP2011232071 A JP 2011232071A JP 2010100647 A JP2010100647 A JP 2010100647A JP 2010100647 A JP2010100647 A JP 2010100647A JP 2011232071 A JP2011232071 A JP 2011232071A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- discharge
- current
- plasma
- current detector
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/68—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using electric discharge to ionise a gas
- G01N27/70—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using electric discharge to ionise a gas and measuring current or voltage
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/68—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using electric discharge to ionise a gas
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N30/64—Electrical detectors
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
【解決手段】励起用高圧電源8と放電用の電極5との間に電流検出器20を設け、プラズマ生成によりパルス的に流れる放電電流を検出する。この検出信号とイオン電流を増幅する電流アンプ18の出力信号とは出力抽出部21に入力され、出力抽出部21は放電電流検出信号の急峻な立ち上がりを検出してトリガを発生し、そのトリガから所定時間だけイオン電流信号を抽出する。これにより、プラズマ発光が生じていない期間中に信号に乗るノイズの影響を除去することができ、検出信号のSN比を改善することができる。
【選択図】図1
Description
a)前記放電生起手段による放電により間欠的に生起されるプラズマ発光のタイミングを検出する発光タイミング検出手段と、
b)前記発光タイミング検出手段による検出結果に基づいて、前記電流検出手段により検出されるイオン電流に対応した信号をプラズマ発光と同期したタイミングで取得する信号抽出手段と、
を備えることを特徴としている。
このようにして、この放電イオン化電流検出器1では、導入された試料ガスに含まれる試料成分の量(濃度)に応じた検出信号を高いSN比でもって得ることができる。
2…円筒管
3…ガス供給口
4…ガス流路
5、6、7…プラズマ生成用電極
8…励起用高圧電源
10…反跳電極
11…バイアス電極
12…イオン収集電極
13、14…絶縁体
15…キャピラリ管
16…ガス排出口
17…バイアス直流電源
18…電流アンプ
19…イオン電流検出部
20…電流検出器
21…出力抽出部
22…光検出器
Claims (4)
- 放電により所定ガスからプラズマを生成するために、少なくとも1つの表面が誘電体で被覆された対をなす電極、及び該電極に低周波交流電圧を印加する電圧印加手段を含む放電生起手段と、生成されたプラズマの作用によりイオン化された気体状の試料成分に由来するイオン電流を検出する電流検出手段と、を具備する放電イオン化電流検出器において、
a)前記放電生起手段による放電により間欠的に生起されるプラズマ発光のタイミングを検出する発光タイミング検出手段と、
b)前記発光タイミング検出手段による検出結果に基づいて、前記電流検出手段により検出されるイオン電流に対応した信号をプラズマ発光と同期したタイミングで取得する信号抽出手段と、
を備えることを特徴とする放電イオン化電流検出器。 - 請求項1に記載の放電イオン化電流検出器であって、
前記発光タイミング検出手段は前記電圧印加手段から前記電極に供給される電流を検出する電流検出手段であることを特徴とする放電イオン化電流検出器。 - 請求項1に記載の放電イオン化電流検出器であって、
前記発光タイミング検出手段はプラズマ発光光を検出する光検出手段であることを特徴とする放電イオン化電流検出器。 - 請求項1〜3のいずれかに記載の放電イオン化電流検出器であって、
前記信号抽出手段は、前記発光タイミング検出手段による検出結果に基づいて、前記放電生起手段に含まれる対をなす電極のうちの高圧側の電極に正極性の電圧が印加されている期間中に、前記電流検出手段により検出されるイオン電流に対応した信号をプラズマ発光と同期したタイミングで取得することを特徴とする放電イオン化電流検出器。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010100647A JP5470543B2 (ja) | 2010-04-26 | 2010-04-26 | 放電イオン化電流検出器 |
US13/092,003 US8797041B2 (en) | 2010-04-26 | 2011-04-21 | Discharge ionization current detector |
CN2011101055794A CN102288672B (zh) | 2010-04-26 | 2011-04-26 | 放电离子化电流检测器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010100647A JP5470543B2 (ja) | 2010-04-26 | 2010-04-26 | 放電イオン化電流検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011232071A true JP2011232071A (ja) | 2011-11-17 |
JP5470543B2 JP5470543B2 (ja) | 2014-04-16 |
Family
ID=44815273
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010100647A Active JP5470543B2 (ja) | 2010-04-26 | 2010-04-26 | 放電イオン化電流検出器 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8797041B2 (ja) |
JP (1) | JP5470543B2 (ja) |
CN (1) | CN102288672B (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015001881A1 (ja) * | 2013-07-05 | 2015-01-08 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置及び質量分析装置の制御方法 |
WO2016027691A1 (ja) * | 2014-08-19 | 2016-02-25 | 株式会社アヤボ | 粒子計測方法および装置 |
US9784714B2 (en) | 2013-02-15 | 2017-10-10 | Shimadzu Corporation | Discharge ionization current detector and tuning method for the same |
US10585073B2 (en) | 2013-02-15 | 2020-03-10 | Shimadzu Corporation | Discharge ionization current detector |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2737291B1 (en) * | 2011-07-26 | 2019-01-23 | MKS Instruments, Inc. | Cold cathode gauge fast response signal circuit |
JP5910161B2 (ja) * | 2012-02-28 | 2016-04-27 | 株式会社島津製作所 | 放電イオン化電流検出器と試料ガス検出方法 |
KR101500420B1 (ko) * | 2012-07-13 | 2015-03-10 | 주식회사 에스피텍 | 전극상에 도전체 돌출부를 갖는 유전체장벽 방전 방식의 플라즈마 발생 전극 구조체 |
JP6255244B2 (ja) * | 2014-01-08 | 2017-12-27 | 日本特殊陶業株式会社 | 微粒子センサ |
US9533909B2 (en) | 2014-03-31 | 2017-01-03 | Corning Incorporated | Methods and apparatus for material processing using atmospheric thermal plasma reactor |
US9550694B2 (en) | 2014-03-31 | 2017-01-24 | Corning Incorporated | Methods and apparatus for material processing using plasma thermal source |
US20160200618A1 (en) | 2015-01-08 | 2016-07-14 | Corning Incorporated | Method and apparatus for adding thermal energy to a glass melt |
JP6623557B2 (ja) * | 2015-05-27 | 2019-12-25 | 株式会社島津製作所 | Icp分析装置 |
CN105606695B (zh) * | 2016-03-28 | 2019-01-22 | 青岛佳明测控科技股份有限公司 | Dbd离子化检测器及其检测方法 |
DE102016112629B3 (de) * | 2016-07-11 | 2017-09-28 | Leibniz - Institut Für Analytische Wissenschaften - Isas - E.V. | Verfahren zur Analyse von Gasen mittels der Gaschromatographie |
JP6743599B2 (ja) * | 2016-09-08 | 2020-08-19 | 株式会社島津製作所 | 誘電体バリア放電イオン化検出器 |
JP6675709B2 (ja) * | 2016-09-08 | 2020-04-01 | 株式会社島津製作所 | 誘電体バリア放電イオン化検出器 |
JP6775141B2 (ja) | 2016-09-08 | 2020-10-28 | 株式会社島津製作所 | 誘電体バリア放電イオン化検出器 |
JP6747198B2 (ja) | 2016-09-08 | 2020-08-26 | 株式会社島津製作所 | 誘電体バリア放電イオン化検出器 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009119050A1 (ja) * | 2008-03-25 | 2009-10-01 | 国立大学法人大阪大学 | 放電イオン化電流検出器 |
JP2010060354A (ja) * | 2008-09-02 | 2010-03-18 | Shimadzu Corp | 放電イオン化電流検出器 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5394092A (en) | 1991-02-28 | 1995-02-28 | Valco Instruments Co., Inc. | System for identifying and quantifying selected constituents of gas samples using selective photoionization |
US5892364A (en) | 1997-09-11 | 1999-04-06 | Monagle; Matthew | Trace constituent detection in inert gases |
US6842008B2 (en) | 2003-03-11 | 2005-01-11 | Stanley D. Stearns | Gas detector with modular detection and discharge source calibration |
CN101158669A (zh) * | 2007-11-22 | 2008-04-09 | 南京工业大学 | 双向脉冲离子化检测器 |
JP2010134434A (ja) * | 2008-11-10 | 2010-06-17 | Canon Inc | 走査光学装置及びそれを用いた画像形成装置 |
-
2010
- 2010-04-26 JP JP2010100647A patent/JP5470543B2/ja active Active
-
2011
- 2011-04-21 US US13/092,003 patent/US8797041B2/en active Active
- 2011-04-26 CN CN2011101055794A patent/CN102288672B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009119050A1 (ja) * | 2008-03-25 | 2009-10-01 | 国立大学法人大阪大学 | 放電イオン化電流検出器 |
JP2010060354A (ja) * | 2008-09-02 | 2010-03-18 | Shimadzu Corp | 放電イオン化電流検出器 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
JPN6013057779; 品田 恵、西本 尚弘、北野 勝久、浜口 智志: '「28p-T-4: 大気圧マイクロプラズマを用いたガスクロマトグラフ用イオン化電流検出器」' 第55回応用物理学関係連合講演会講演予稿集 No. 1, 20080327, p. 202 * |
JPN6013062278; 品田 恵、西本 尚弘、北野 勝久、浜口 智志: '「2p-ZD-9: 大気圧マイクロプラズマを用いたガスクロマトグラフ用イオン化電流検出器(II)」' 第69回応用物理学会学術講演会講演予稿集 No. 1, 20080902, p. 191 * |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9784714B2 (en) | 2013-02-15 | 2017-10-10 | Shimadzu Corporation | Discharge ionization current detector and tuning method for the same |
US10585073B2 (en) | 2013-02-15 | 2020-03-10 | Shimadzu Corporation | Discharge ionization current detector |
WO2015001881A1 (ja) * | 2013-07-05 | 2015-01-08 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置及び質量分析装置の制御方法 |
JP2015015160A (ja) * | 2013-07-05 | 2015-01-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置及び質量分析装置の制御方法 |
US9721773B2 (en) | 2013-07-05 | 2017-08-01 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometric device and mass spectrometric device control method |
DE112014002850B4 (de) | 2013-07-05 | 2018-03-08 | Hitachi High-Technologies Corp. | Massenspektrometer und Steuerverfahren für Massenspektrometer |
WO2016027691A1 (ja) * | 2014-08-19 | 2016-02-25 | 株式会社アヤボ | 粒子計測方法および装置 |
JP2016041842A (ja) * | 2014-08-19 | 2016-03-31 | 株式会社アヤボ | 粒子計測方法および装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8797041B2 (en) | 2014-08-05 |
US20110260732A1 (en) | 2011-10-27 |
CN102288672A (zh) | 2011-12-21 |
CN102288672B (zh) | 2013-11-27 |
JP5470543B2 (ja) | 2014-04-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5470543B2 (ja) | 放電イオン化電流検出器 | |
JP5470544B2 (ja) | 放電イオン化電流検出器 | |
JP5445353B2 (ja) | 放電イオン化電流検出器 | |
JP5136300B2 (ja) | 放電イオン化電流検出器 | |
US8970221B2 (en) | Discharge ionization current detector | |
JP4936492B2 (ja) | 放電イオン化電流検出器 | |
Tabrizchi et al. | Design and optimization of a corona discharge ionization source for ion mobility spectrometry | |
JP5861739B2 (ja) | 放電イオン化電流検出器 | |
CN115808490A (zh) | 用于气相色谱系统的基于放电的光离子化检测器 | |
Kudryavtsev et al. | Use of dc Ar microdischarge with nonlocal plasma for identification of metal samples | |
Latif et al. | Flowing atmospheric-pressure afterglow drift tube ion mobility spectrometry | |
US9513257B2 (en) | Discharge ionization current detector and method for aging treatment of the same | |
JP5910161B2 (ja) | 放電イオン化電流検出器と試料ガス検出方法 | |
JP5614379B2 (ja) | 放電イオン化電流検出器及びガスクロマトグラフ装置 | |
JP5871057B2 (ja) | 放電イオン化電流検出器を備えた分析装置 | |
JP4156579B2 (ja) | 電子捕獲検出器 | |
Laity et al. | Investigation of vacuum UV absorption during low-temperature plasma formation in N 2/H 2 mixtures at atmospheric pressure | |
Coy et al. | A gapless micro-dielectric-barrier-discharge ion source for analytical applications | |
Yang et al. | A Miniaturized Atmospheric Dielectric Barrier Discharge (DBD) Plasma System for Mass Spectrometry Analysis of Biosamples |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20121213 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20121213 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131210 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131217 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20131220 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5470543 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |