JP2011101010A - パワー半導体モジュール - Google Patents

パワー半導体モジュール Download PDF

Info

Publication number
JP2011101010A
JP2011101010A JP2010246204A JP2010246204A JP2011101010A JP 2011101010 A JP2011101010 A JP 2011101010A JP 2010246204 A JP2010246204 A JP 2010246204A JP 2010246204 A JP2010246204 A JP 2010246204A JP 2011101010 A JP2011101010 A JP 2011101010A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
power semiconductor
semiconductor module
capacitor
load connection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010246204A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011101010A5 (ja
JP5695884B2 (ja
Inventor
Thomas Frank
フランク トーマス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semikron GmbH and Co KG
Semikron Elektronik GmbH and Co KG
Original Assignee
Semikron GmbH and Co KG
Semikron Elektronik GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Semikron GmbH and Co KG, Semikron Elektronik GmbH and Co KG filed Critical Semikron GmbH and Co KG
Publication of JP2011101010A publication Critical patent/JP2011101010A/ja
Publication of JP2011101010A5 publication Critical patent/JP2011101010A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5695884B2 publication Critical patent/JP5695884B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/04Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/04Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
    • H01L23/043Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body
    • H01L23/049Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body the other leads being perpendicular to the base
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/642Capacitive arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/71Means for bonding not being attached to, or not being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/72Detachable connecting means consisting of mechanical auxiliary parts connecting the device, e.g. pressure contacts using springs or clips
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/07Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
    • H01L25/072Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4911Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain
    • H01L2224/49111Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain the connectors connecting two common bonding areas, e.g. Litz or braid wires
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01068Erbium [Er]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12041LED
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1904Component type
    • H01L2924/19041Component type being a capacitor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Electric Double-Layer Capacitors Or The Like (AREA)

Abstract

【課題】コンパクトにされおよび簡単かつコスト効果的に製造することができるパワー半導体モジュールを提供する。
【解決手段】パワー半導体モジュールであって、少なくとも1つのパワー半導体を備えた基板が第1の接触領域10と第2の接触領域11とを有し、第1の接触要素3を表面に備えた第1の負荷接続要素1が第1の接触領域10に支持され、第2の接触要素4を表面に備えた第2の負荷接続要素2が第2の接触領域11に支持され、少なくとも1つのバネ要素19が、接触要素3、4と接触領域10、11との間に圧力接触を生じさせるために設けられるパワー半導体モジュールに関する。構造のサイズを小さくするために、接触要素3、4と接触領域10、11との間における圧力接触が、バネ要素19と負荷接続要素1、2の1つとの間に配置された少なくとも1つの電気構成要素12によってもたらされる。
【選択図】図2

Description

本発明は、請求項1の上位概念(プリアンブル部分、所謂おいて部分)に記載のパワー半導体モジュールに関する。
このようなパワー半導体モジュールは特許文献1から知られている。公知のパワー半導体モジュールの場合、第1及び第2の接触領域を有する基板は、その裏面(接触領域の反対側の面)によってヒートシンク上に支持される。パワー半導体が反対側の頂面に取り付けられ、前記パワー半導体が接触領域に導電接続される。接触領域は、例えば電流源と接続するように働く。このため、金属シートから製造された負荷接続要素を設けることができ、接触フットが上記負荷接続要素から延びている。電気接触部を形成するために、負荷接続要素は接触領域においてその接触フットによって支持される。このように形成された接触部が振動、衝撃等の影響を受けないように、圧力が負荷接続要素に加えられ、これにより、それらの接触フットが接触領域に押し付けられる。このため、少なくとも1つのバネ要素によって、圧縮弾性層、圧縮バネ等によって、負荷接続要素を接触領域に押し付けることができる。
この種類のパワー半導体モジュールの場合、別の構成要素、及び/又は回路を備えた回路基板が、時には負荷接続要素の上方に組み込まれる。例えば、構成要素は電解コンデンサであることができ、回路は、パワー半導体を駆動するための制御回路であることができる。構成要素、及び/又は回路を備えた回路基板が、負荷接続要素の上方に組み込まれる場合、ヒートシンクに固定接続されかつバネ要素が支持されるハウジングハーフシェルは、通常、このような構成要素を保護するために設けられる。その結果、バネ要素は構成要素にこのように並んで配置される。回路基板には、一例として、バネ要素を介して導くための穿孔を設けることが可能である。バネ要素と構成要素との間における並置は、比較的大きな空間要件を必要とする。回路基板に穿孔を設けることが複雑になり、さらに、前記回路基板の拡大する一因となり、したがってその結果、空間要件が大きくなる一因となる。
独国特許第102006006425B4号明細書
本発明の目的は、先行技術による欠点を排除することである。特に、本発明の目的は、できるだけコンパクトにされおよび簡単かつコスト効果的に製造することができるパワー半導体モジュールを提供することである。
この目的は、請求項1の特徴によって達成される。本発明の好ましい形態は請求項2〜11の特徴から明らかになる。
本発明によれば、接触要素と接触領域との間における圧力接触が、バネ要素と負荷接続要素の1つとの間に配置された少なくとも1つの電気構成要素によってもたらされることが意図される。先行技術の発展形態において、本発明によれば、圧力接触が、今や、負荷接続要素に支持された電気構成要素によって生じることが提案される。このため、バネ要素が電気構成要素に圧力を加え、この圧力が電気構成要素から負荷接続要素に伝達される。ここで、バネ要素が電気構成要素の上方に配置されるという事実によって、全体的によりコンパクトな構造を実現することができる。
本発明の意味において、「バネ要素」という用語は、一般に、圧縮時に弾性復元力が生じる弾性要素を意味すると理解される。バネ要素は、渦巻きバネ、可撓性バネ舌部、弾性的に圧縮可能な材料であることができ、このバネ要素は、例えば、ゴム、弾性ポリマー、弾性発泡体等から製造することができる。「電気構成要素」という用語は、パワー半導体モジュールの回路の部分である構成要素を意味すると理解される。電気構成要素が実質的に剛性的に設けられるので、これにより、バネ要素によって加えられる力が負荷接続要素に伝達される。
電気構成要素は、特にコンデンサ、好ましくは電解コンデンサである。電解コンデンサは、多くの場合、比較的な大きな容量で具体化される。電解コンデンサを備えるパワー半導体モジュールの場合、提案される本発明を使用して、特にコンパクトな構造を実現することができる。
本発明の別形態によれば、コンデンサを受容するアッパーハウジング要素は、それに対応するロウワーハウジング要素に接続され、前記ロウワーハウジング要素は、基板を受容するか又は基板によって形成される。例えば、上部及び/又は下部のハウジング要素を、射出成形されるプラスチックから製造することができる。ヒートシンクをロウワーハウジング要素に受容することができ、このとき基板は前記ヒートシンク上に支持される。しかしながら、ロウワーハウジング要素自体がヒートシンクから形成されるということもあり得る。この場合、ロウワーハウジング要素を例えばアルミニウムから製造することができる。
有利には、アッパーハウジング要素は、コンデンサを実質的に確実ロック式(形状拘束的、確実なかみ合い様)に受容するための円筒状のカットアウト部(切欠き)を有する。取り付け中に、コンデンサを円筒状のカットアウト部に挿入することができる。そのコンデンサは、円筒状のカットアウト部でスライドさせて移動させることができるように保持される。
カットアウト部のカバーとカットアウト部に受容されたコンデンサとの間には、バネ要素を設けることができる。好ましくは、バネ要素は、永続的に弾性の発泡要素から製造されるか又はバネ舌部の形状で形成される。バネ要素は好ましくはカットアウト部のカバーに一体成形される。バネ要素は、例えば、カバーに一体成形されるバネ舌部から形成することができる。
本発明の別形態によれば、コンデンサから延びる第1の接続部は第1の接触要素の1つに接続され、コンデンサから延びる第2の接続部は第2の接触要素の1つに接続される。言い換えれば、コンデンサは負荷接続要素にこのように直接接続される。
第2の負荷接続要素は少なくとも1つの穿孔を有し、この穿孔を介して、第1の接触要素の1つ及び/又は第1の接続部が導かれる。このようにして、パワー半導体モジュールの構造のサイズをさらに小さくすることができる。
接続部を接触要素にロウ付け又は溶接することができる。さらに、そのことは、接続部が接触領域と接触要素との間に締め付けて保持される場合にも当てはまり得る。そのことにより、パワー半導体モジュールの製造が簡単になる。接続部を保持するための締め付け力は、好ましくはバネ要素によって発生し、これにより、接触要素が接触領域に押し付けられる。
図面を参照して、本発明の例示的な実施形態について以下により詳細に説明する。
パワー半導体モジュールの平面図を示している。 図1による第1の断面斜視図を示している。 図1による第2の断面斜視図を示している。
図において、第1の負荷接続要素は参照符号1で示されており、第2の負荷接続要素は参照符号2で示されている。第1の負荷接続要素1及び第2の負荷接続要素2のそれぞれは、プレート型の金属体から延びる第1の接触フット3及び第2の接触フット4を有するそのプレート型の金属体から形成される。第1の負荷接続要素1及び第2の負荷接続要素2は、電気絶縁層5を介在させた状態で上下に積層される。第2の負荷接続要素2及び電気絶縁層5のそれぞれは、第1の接触フット3が導かれる穿孔6を有する。
参照符号7は、パワー半導体8が受け止められる、例えばDCB法を用いて製造された基板を示している。パワー半導体8は、ボンディングワイヤ9によって第1の接触領域10及び第2の接触領域11に接続される。さらに、第1の接触領域10及び/又は第2の接触領域11は、互いに並んで配置されかつ基板7に当接する複数のボンディングワイヤ9から形成されることができる。第1の接触フット3は第1の接触領域10に電気的に接触し、第2の接触フット4は第2の接触領域11に電気的に接触する。
参照符号12は電解コンデンサを示しており、これらの第1の接続部13は第1の接触フット3に電気的に接続され、これらの電解コンデンサの第2の接続部14は第2の接触フット4にそれぞれ電気的に接続される。この場合、例えばロウ付け又は溶接によって、接続を行うことができる。さらに、第1の接続部13及び/又は第2の接続部14が、接触フット3、4の下縁の周囲に導かれ、接触フット3、4と接触領域10、11との間に締め付けて保持されることが可能である。このため、接触フット3、4の下縁の領域には、接続部13、14を挿入するためのカットアウト部を設けることができる(本図には示さず)。
図3に見られるように、特に、基板7がロウワーハウジング要素15に受容される。参照符号16は、電解コンデンサ12の各々のための円筒状のカットアウト部17を有するアッパーハウジング要素を示している。電解コンデンサ12をスライドさせて移動させることができるように、電解コンデンサ12が円筒状のカットアウト部17に挿入される。カバー18は円筒状のカットアウト部17の各々を閉じる。この場合、圧縮可能な弾性発泡要素19の形態で具体化されたバネ要素が、カバー18と電解コンデンサ12との間に挿入される。発泡要素19は、好ましくはディスクの形態で具体化される。
パワー半導体モジュールの組立について、最初に、第1の接触フット3が、電気絶縁層5及び第2の負荷接続要素に設けられた穿孔6を介して導かれるように、電気絶縁層5及びその上にある第2の負荷接続要素2が第1の接続要素1の上に積層される。次に、電解コンデンサ12の第1の接続部13が、例えばロウ付け又は摩擦溶接によって第1の負荷接続要素1の第1の接触フット3に接続される。その後、第2の接続部14が、例えば同様にロウ付け又は摩擦溶接によって第2の接触フット4に接続される。ここで、電解コンデンサ12が、円筒状のカットアウト部17に挿入される。最後に、アッパーハウジング要素14が、ねじ穴20を介して挿入されたねじ(本図には示さず)によってロウワーハウジングにねじ留めされる。この場合、発泡要素19が圧縮され、電解コンデンサ12が負荷接続要素1、2に押し付けられるので、次に、接触フット3、4がそれぞれの接触領域10、11に押し付けられる。このように、接触フット3、4と接触領域10、11との間に安全かつ確実な接触を生じさせることが可能である。組立は簡単である。接触フット3、4と接触領域10、11との間に圧力接触をもたらすための圧力が、電解コンデンサ12によって負荷接続要素1、2に加えられるという事実により、パワー半導体モジュールの特にコンパクトな構造を実現することができる。
1 第1の負荷接続要素
2 第2の負荷接続要素
3 第1の接触フット
4 第2の接触フット
5 絶縁層
6 穿孔
7 基板
8 パワー半導体
9 ボンディングワイヤ
10 第1の接触領域
11 第2の接触領域
12 電解コンデンサ
13 第1の接続部
14 第2の接続部
15 ロウワーハウジング要素
16 アッパーハウジング要素
17 円筒状のカットアウト部
18 カバー
19 発泡要素
20 ねじ穴

Claims (11)

  1. 少なくとも1つのパワー半導体(8)を備えた基板(7)が第1の接触領域(10)と第2の接触領域(11)とを有するパワー半導体モジュールであって、
    表面に複数の第1の接触要素(3)を備えた第1の負荷接続要素(1)が前記第1の接触領域(10)に支持され、表面に複数の第2の接触要素(4)を備えた第2の負荷接続要素(2)が前記第2の接触領域(11)に支持されており、
    前記接触要素(3、4)と前記接触領域(10、11)との間に圧力接触を生じさせるために少なくとも1つのバネ要素(19)を設けている、パワー半導体モジュールにおいて、
    前記接触要素(3、4)と前記接触領域(10、11)の間での前記圧力接触が、前記バネ要素(19)と前記負荷接続要素(1、2)の1つとの間に配置された少なくとも1つの電気構成要素(12)によってもたらされることを特徴とする、パワー半導体モジュール。
  2. 前記電気構成要素(12)がコンデンサ、好ましくは電解コンデンサである、請求項1に記載のパワー半導体モジュール。
  3. 前記コンデンサを受容するアッパーハウジング要素(16)が、前記アッパーハウジング要素(16)に対応するロウワーハウジング要素(15)に接続され、前記ロウワーハウジング要素が前記基板(7)を受容するか又は前記基板(7)によって形成されている、請求項1又は2に記載のパワー半導体モジュール。
  4. 前記アッパーハウジング要素(16)が、前記コンデンサを実質的に確実ロック式に受容するための、少なくとも1つの円筒状のカットアウト部を有する、請求項1〜3のいずれか一項に記載のパワー半導体モジュール。
  5. 前記バネ要素(19)が、前記カットアウト部(17)のカバー(18)と前記カットアウト部(17)に受容された前記コンデンサとの間に設けられている、請求項1〜4のいずれか一項に記載のパワー半導体モジュール。
  6. 前記バネ要素(19)が、永続的に弾性の発泡要素から作り出されるか又はバネ舌部の形状に形成されている、請求項1〜5のいずれか一項に記載のパワー半導体モジュール。
  7. 前記バネ要素(19)が前記カットアウト部(17)のカバー(18)に一体成形されている、請求項1〜6のいずれか一項に記載のパワー半導体モジュール。
  8. 前記コンデンサから延びる第1の接続部(13)が前記第1の接触要素(3)の1つに接続され、前記コンデンサから延びる第2の接続部(14)が前記第2の接触要素(4)の1つに接続されている、請求項1〜7のいずれか一項に記載のパワー半導体モジュール。
  9. 前記第2の負荷接続要素(2)が少なくとも1つの穿孔(6)を有し、この少なくとも1つの穿孔(6)を介して、前記第1の接触要素(3)の1つ及び/又は第1の接続部(13)が導かれている、請求項1〜8のいずれか一項に記載のパワー半導体モジュール。
  10. 前記接続部(13、14)が前記接触要素(3、4)にロウ付けされ、又は溶接されている、請求項1〜9のいずれか一項に記載のパワー半導体モジュール。
  11. 前記接続部(13、14)が前記接触領域(10、11)と前記接触要素(3、4)との間に締め付けて保持されている、請求項1〜10のいずれか一項に記載のパワー半導体モジュール。
JP2010246204A 2009-11-04 2010-11-02 パワー半導体モジュール Expired - Fee Related JP5695884B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102009046403.4 2009-11-04
DE102009046403.4A DE102009046403B4 (de) 2009-11-04 2009-11-04 Leistungshalbleitermodul in Druckkontakttechnik

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2011101010A true JP2011101010A (ja) 2011-05-19
JP2011101010A5 JP2011101010A5 (ja) 2013-10-03
JP5695884B2 JP5695884B2 (ja) 2015-04-08

Family

ID=42848832

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010246204A Expired - Fee Related JP5695884B2 (ja) 2009-11-04 2010-11-02 パワー半導体モジュール

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8427836B2 (ja)
EP (1) EP2320459A2 (ja)
JP (1) JP5695884B2 (ja)
KR (1) KR101688663B1 (ja)
CN (1) CN102097391B (ja)
DE (1) DE102009046403B4 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107611110A (zh) * 2016-07-12 2018-01-19 赛米控电子股份有限公司 功率半导体设备
WO2021166520A1 (ja) * 2020-02-21 2021-08-26 パナソニックIpマネジメント株式会社 電子部品ホルダ及び電気機器

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8837166B2 (en) * 2011-10-28 2014-09-16 Hamilton Sundstrand Corporation Vertically mounted capacitor assembly
DE102012211952B4 (de) * 2012-07-09 2019-04-25 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul mit mindestens einem stressreduzierenden Anpasselement
FI20126120L (fi) * 2012-10-29 2014-04-30 Tellabs Oy Jousikiinnitteisellä elementillä varustettu piirikorttijärjestelmä
JP5932704B2 (ja) * 2013-04-04 2016-06-08 株式会社日本自動車部品総合研究所 電力変換装置
DE102013104950B3 (de) * 2013-05-14 2014-04-30 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul und Anordnung hiermit
DE102013209431B4 (de) 2013-05-22 2018-04-05 Siemens Aktiengesellschaft Leistungshalbleitermodul
DE102014101024B3 (de) * 2014-01-29 2014-12-04 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitereinrichtung
DE102014116058B3 (de) * 2014-11-04 2015-12-17 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitereinrichtung
DE102015115140B4 (de) * 2015-09-09 2023-12-21 Infineon Technologies Ag Stromrichteranordnung mit verbesserter Befestigung
US10555425B2 (en) * 2016-02-18 2020-02-04 Magna Closures Inc. Enclosure assembly for an electronic controller having an over-molded part to protect electronic components
DE102016105783B4 (de) * 2016-03-30 2019-05-16 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitereinrichtung
DE102018125852B3 (de) * 2018-10-18 2020-03-12 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Anordnung und Verfahren zur Herstellung einer solchen Anordnung sowie Leistungshalbleitereinrichtung
DE102019103402B4 (de) * 2019-02-12 2020-12-17 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitereinrichtung

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0947037A (ja) * 1995-07-25 1997-02-14 Aisin Aw Co Ltd インバータ装置
JP2006165499A (ja) * 2004-06-08 2006-06-22 Fuji Electric Device Technology Co Ltd 半導体装置
JP2007221128A (ja) * 2006-02-13 2007-08-30 Semikron Elektronik Gmbh & Co Kg 少なくとも1個のパワー半導体モジュールと冷却部とを備えた構造体および関連する製造方法
JP2007281127A (ja) * 2006-04-05 2007-10-25 Shindengen Electric Mfg Co Ltd コンデンサを備える回路装置及びコンデンサモジュール
JP2009177872A (ja) * 2008-01-22 2009-08-06 Nissan Motor Co Ltd 電力変換装置および電力変換装置の製造方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4111247C3 (de) * 1991-04-08 1996-11-21 Export Contor Ausenhandelsgese Schaltungsanordnung
JP4490041B2 (ja) * 2001-04-02 2010-06-23 三菱電機株式会社 電力用半導体装置
DE10121970B4 (de) * 2001-05-05 2004-05-27 Semikron Elektronik Gmbh Leistungshalbleitermodul in Druckkontaktierung
KR200300838Y1 (ko) * 2002-10-28 2003-01-14 조경호 버어니어 캘리퍼스의 기능이 구비된 휴대용 저울
DE10355925B4 (de) * 2003-11-29 2006-07-06 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul und Verfahren seiner Herstellung
DE102005024900B4 (de) * 2004-06-08 2012-08-16 Fuji Electric Co., Ltd. Leistungsmodul
DE102004061936A1 (de) 2004-12-22 2006-07-06 Siemens Ag Anordnung eines Halbleitermoduls und einer elektrischen Verschienung
DE102005055608B3 (de) * 2005-11-22 2007-05-10 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul mit zueinander parallel geschalteten Kondensatoren
DE102006006425B4 (de) * 2006-02-13 2009-06-10 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul in Druckkontaktausführung
DE102006013078B4 (de) * 2006-03-22 2008-01-03 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Kompaktes Leistungshalbleitermodul mit Verbindungseinrichtung
JP2008029093A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Hitachi Ltd 電力変換装置
DE102007054709B4 (de) * 2007-11-16 2014-11-13 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul mit einem Substrat und mit einer Druckeinrichtung
WO2009093982A1 (en) * 2008-01-25 2009-07-30 Iskralab D.O.O. Power switching module
DE102008057832B4 (de) * 2008-11-19 2010-07-01 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul mit vorgespannter Hilfskontaktfeder

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0947037A (ja) * 1995-07-25 1997-02-14 Aisin Aw Co Ltd インバータ装置
JP2006165499A (ja) * 2004-06-08 2006-06-22 Fuji Electric Device Technology Co Ltd 半導体装置
JP2007221128A (ja) * 2006-02-13 2007-08-30 Semikron Elektronik Gmbh & Co Kg 少なくとも1個のパワー半導体モジュールと冷却部とを備えた構造体および関連する製造方法
JP2007281127A (ja) * 2006-04-05 2007-10-25 Shindengen Electric Mfg Co Ltd コンデンサを備える回路装置及びコンデンサモジュール
JP2009177872A (ja) * 2008-01-22 2009-08-06 Nissan Motor Co Ltd 電力変換装置および電力変換装置の製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107611110A (zh) * 2016-07-12 2018-01-19 赛米控电子股份有限公司 功率半导体设备
CN107611110B (zh) * 2016-07-12 2023-05-09 赛米控电子股份有限公司 功率半导体设备
WO2021166520A1 (ja) * 2020-02-21 2021-08-26 パナソニックIpマネジメント株式会社 電子部品ホルダ及び電気機器

Also Published As

Publication number Publication date
DE102009046403B4 (de) 2015-05-28
US20110103024A1 (en) 2011-05-05
KR20110049690A (ko) 2011-05-12
CN102097391B (zh) 2014-12-10
EP2320459A2 (de) 2011-05-11
KR101688663B1 (ko) 2016-12-21
JP5695884B2 (ja) 2015-04-08
CN102097391A (zh) 2011-06-15
US8427836B2 (en) 2013-04-23
DE102009046403A1 (de) 2011-05-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5695884B2 (ja) パワー半導体モジュール
CN108293311B (zh) 电气接线盒
JP5028317B2 (ja) 押圧接触式のパワー半導体モジュール並びにその製造方法
US9735086B2 (en) Power semiconductor module having a two-part housing
JP2011101010A5 (ja)
JP2009113526A (ja) コントロールユニット
US7548420B2 (en) Electrical drive unit
JP4570092B2 (ja) 半導体モジュール
JP2007258711A (ja) 結合装置を有するコンパクトなパワー半導体モジュール
JP2009146944A (ja) 半導体装置
JP2010034557A (ja) パワー半導体モジュールと接続装置とを有する装置
JP2006287100A (ja) コンデンサモジュール
WO2010004609A1 (ja) 電力用半導体装置
JP2008034847A (ja) パワー半導体素子及びコンタクト装置を有する装置
JP2007142438A (ja) 互いに平行に接続されたコンデンサを有するパワー半導体モジュール
JP4387290B2 (ja) 回路構成体
JP6926807B2 (ja) コンデンサ実装構造
JP4434879B2 (ja) 電力用半導体装置
JP2003282361A (ja) コンデンサモジュール
JP2006203976A (ja) 電気接続箱
JP4342432B2 (ja) 電気回路装置及び電気回路装置における冷却構造
WO2017098899A1 (ja) 電気接続箱
JP6065806B2 (ja) 回路構成体及び回路構成体の製造方法
KR102619975B1 (ko) 방열 성능이 개선된 인쇄회로기판
JP2006191732A (ja) 回路構成体及びこれを用いた電気接続箱

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130819

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130819

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140908

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20141014

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150108

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150203

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150209

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5695884

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees