JP2007258711A - 結合装置を有するコンパクトなパワー半導体モジュール - Google Patents

結合装置を有するコンパクトなパワー半導体モジュール Download PDF

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Abstract

【課題】結合装置を有するコンパクトなパワー半導体モジュールを提供する。
【解決手段】ハウジング3と、導体路54とこの導体路54に配置されたパワー半導体構成要素58とを有する基板5と、結合装置1とを有するパワー半導体モジュール1において、結合装置1が第1の導電層60及び第2の導電層64と、その間に配置された絶縁層62とからなるフィルム結合部から構成され、第1の導電層60は、パワー半導体構成要素58の第1の接触装置600と、パワー半導体構成要素58の第2の接触装置602と、プリント回路基板に対する負荷結合部に対する第3の接触装置604とを設け、第2の導電層64は、第1の導電層60に対する結合部66と、プリント回路基板7への制御結合部72に対する第4の接触装置606とを設けた。
【選択図】図1

Description

本発明は、外部プリント回路基板を有するパワー半導体構成要素の負荷接続部及び制御接続部を電気的に結合するための結合装置を有するコンパクトなパワー半導体モジュールに関する。この場合、以下の負荷結合の用語に関し、パワー半導体モジュールの接触装置と外部導電要素との間の結合と理解されるべきである。この場合、これにより、負荷接続部は、すなわち例えばハーフブリッジ回路では、中間回路の直流入力、ならびに交流出力と理解される。
同様に、制御結合部とは、以下において、外部制御接続要素とのパワー半導体モジュールの補助又は制御接続部の結合部と理解される。
本発明の出発点は、例えば特許文献1、又は特許文献2から公知のようなパワー半導体モジュールである。最初に挙げた文献は、ねじ込み・押付接触によるパワー半導体モジュールを開示している。この場合、プリント回路基板を有するパワー半導体モジュールの負荷結合は、従来技術によるねじ込み結合によって達成される。この場合、補助又は制御接続部の制御結合部は、ばね接点要素とプリント回路基板の導体路部分との間の結合部として形成される。本発明によれば、制御結合部への圧力導入は、プリント回路基板の配置及び当該プレートと負荷接続要素とのねじ留めによって行われる。上述の種類のパワー半導体モジュールの形態は、10アンペア強の電流負荷に特に適している。
特許文献2は、絶縁中間層を有する第1及び第2の導電性フォイルのフィルム結合部から構成されるパワー半導体構成要素用の結合装置を開示している。パワー半導体構成要素は、超音波溶接によって第1の導電層と永続的に確実に電気結合される。負荷接続部及び制御接続部の両方を含むパワー半導体構成要素のモジュール内部の回路に適切な結合が、ここに開示されている。しかし、上述の文献は、外部結合用の負荷及び制御結合部の詳細について開示していない。
独国特許出願公開第1020040255609A1号明細書 独国特許出願公開第10355925A1号明細書
本発明の課題は、簡単に製造でき、コンパクトな寸法を備え、かつ負荷ならびに制御接続部がプリント回路基板に配置可能である、フィルム結合部の形態の結合装置を有するパワー半導体を提供することである。
上記課題は、本発明によれば、請求項1の特徴部分の措置によって解決される。好ましい実施形態が下位請求項に記載されている。
本発明の構想は、ハウジングと、導体路と回路に適切なようにこの導体路に配置されたパワー半導体構成要素とを有する少なくとも1つの基板と、を有するパワー半導体モジュールを出発点としている。さらに、パワー半導体モジュールは少なくとも1つの結合装置を備え、パワー半導体モジュールは、それぞれ、第1(60)及び第2(64)の導電層の間に配置された絶縁層を有するそれらの導電層からなるフィルム結合部から構成される。
それぞれの導電層は構造化(パターン付与)され、したがって導体路を形成する。両方の導電層の個々の導体路が、例えば押付接触部の形態の回路に適切な結合部によって互いに結合される場合、好ましい。
フィルム結合部の第1の導電層は、パワー半導体構成要素のパワー接続面に対する点溶接結合部として形成された第1の接触装置を備える。同様に、この第1の導電層は、好ましくは別の導体路に、パワー半導体構成要素の制御接続面に対する第2の接触装置を備える。さらに、この第1の導電層は、プリント回路基板に対する負荷結合部に対する第3の接触装置を備える。第2の導電層は、プリント回路基板を有する制御結合部に対する第4の接触装置を備える。
フィルム結合部は、第1及び第2の接触装置の間に、ならびにハウジングのガイド部分に配置される第3及び第4の接触装置の間にフォイル部分を備え、かつ第3及び第4の接触装置は平行の表面法線を有する。
本発明の解決方法について、図1〜図4の実施形態を参照してさらに説明する。
図1は、冷却体及びプリント回路基板を有する構成の本発明によるパワー半導体モジュールの第1の形態の断面を示している。パワー半導体モジュールは、ハウジング3から構成され、このハウジングは、基板5がパワー半導体モジュールの内側と反対側のハウジングの側面から部分的に突出するように基板を囲む。電気的に絶縁して形成された基板のこの側面に、冷却体が配置され、熱伝導して基板と結合される。
パワー半導体モジュールの内側と反対側の基板の側面は、互いに電気的に絶縁された複数の導体路54として形成される。この導体路に、複数のパワー半導体構成要素58a/bが回路に適切に配置され、導電結合される。
さらに、パワー半導体モジュールは、フィルム結合部から構成される結合装置6を備える。このフィルム結合部は、第1(60)及び第2(64)のそれぞれ構造化され、したがって導体路を形成する導電層と、これらの第1及び第2の導電層の間に配置された絶縁層62とから形成される。
フィルム結合部の第1の導電層60は、パワー半導体構成要素58a/bのパワー接続面580に対する点溶接結合部として形成された第1の接触装置600を備える。同様に、第1の導電層は、パワー半導体構成要素58aの制御接続面582に対する第2の接触装置602を備える。したがって、第1の導電層又はその導体路は、接触装置と、基板と反対側のパワー半導体構成要素58a/bの接続面の回路に適切な結合部を形成する。パワー半導体構成要素58を有する基板5と、第1の導電層60との間の体積は、電気的信頼性の理由から絶縁材料で充填され、この場合、この絶縁材料はシリコーンジェル又はエポキシ樹脂584であることが好ましい。
第1の導電層は、プリント回路基板7に対する負荷結合部70に対する第3の接触装置604を備える。この第3の接触装置は、第1の接触装置と、したがって、付設されたパワー半導体構成要素の負荷接続面と導電結合される。
第2の導電層64は、例えばパワー半導体構成要素58aの制御接続面582と、プリント回路基板7を有する制御結合部72に対する第4の接触装置606とを結合するために、第1の導電層60に対する回路に適切な結合部66を備える。
第3及び第4の接触装置がそれぞれ直列に配置される場合、好ましい。このため、パワー半導体モジュールは、フィルム結合部のフォイル部分が配置されるハウジング3の内部にガイド部分30を備える。このフォイル部分は、第1及び第2(600、602)の接触装置の間に、ならびに第3及び第4(604、606)の接触装置の間に結合部を形成する。
パワー半導体モジュールの上述の形態を形成するために、第3の接触装置604に対するフォイル部分は、同一の曲げ方向を有する第1及び第2の曲げ箇所68bを備える。これに対して、第4の接触装置606に対するフォイル部分は、第1の曲げ方向を有する第1の曲げ箇所68aと、その後の推移において、反対の第2の曲げ方向を有する第2の曲げ箇所68bとを備える。この場合、曲げ箇所68a/bは、ハウジング3のガイド部分30の付設されたエッジ32に配置される。
この形態によって、第3ならびに第4の接触装置は、接触されるプリント回路基板によって画定される平面に配置される。同様に、したがって、接触装置は、平行の平面法線を有する平面を形成する。ハウジングは、第3(604)及び第4(606)の接触装置が、表面法線の方向にハウジング3から突出し、したがって、プリント回路基板に対する半田結合部が可能であるように形成される。
図2は、ハウジング3を有する図2a及びハウジング3を有しない図2bの3次元図の本発明によるパワー半導体モジュールの第1の形態を示している。ここには、パワー半導体構成要素58を有する基板5が示されている。このパワー半導体構成要素58は、導体路を形成する構造化された第1の導電性フォイル層60から構成される結合装置6によって回路に適切に結合される。さらに、この結合装置は、絶縁フォイル層62と、この絶縁フォイル層に配置された同様に構造化された別の導体路を形成するフォイル層64とから構成され、この場合、図2bの第2のフォイル層64の導体路のそれぞれの推移は、単に示唆されているに過ぎない。
この結合装置6に形成された導体路を有する当該結合装置のフォイル部分は、ハウジング3のガイド部分30を通して達し、かつ負荷ならびに制御結合部に対する接触装置604、606がプリント回路基板に対して平面を形成し、かつ平行の平面法線を備えるように、基板5と反対側のハウジングの側面に配置される。
このため、第3の接触装置604に対するフォイル部分は、同一の曲げ方向を有する第1及び第2の曲げ箇所68bを備え、これに対して、第4の接触装置606に対するフォイル部分は、第1の曲げ方向を有する第1の曲げ箇所68aと、その後の推移において、反対の第2の曲げ方向を有する第2の曲げ箇所68bとを備える。
それぞれの第3の接触装置604は、本発明によれば、第1の導電層60の導体路の部分として、第4の接触装置606は、第2の導電層64の導体路の部分として形成される。
図3は、冷却体及びプリント回路基板を有する構成の本発明によるパワー半導体モジュールの第2の形態の断面を示している。配置された冷却体及びパワー半導体構成要素を有する基板の形態は、図1による形態に対応し、この場合、冷却体はハウジングの特別な形成部36に支持される。結合装置6は、同様に、第1(60)及び第2(64)の導電層と、これらの第1及び第2の導電層の間に配置された絶縁層62との既述したフィルム結合部から構成される。パワー半導体構成要素58a/bの接続面580、582に対する第1及び第2の接触装置600、602は、同様に、点溶接結合部から形成される。
ハウジング3は基板5を囲み、プリント回路基板7と接触するための第1及び第2(600、602)の接触装置の間に、ならびに第3及び第4(604、606)の接触装置の間に、フォイル部分を配置するためのガイド部分30を備える。第3の接触装置604に対するこのフォイル部分は、第1の曲げ方向を有する第1の曲げ箇所68cを備え、第4の接触装置606に対するフォイル部分は、第2の曲げ方向を有する第2の曲げ箇所68dを備える。これによって、第3(604)及び第4(606)の接触装置が、ここでは当然基板平面に対して垂直の平面に配置され、かつこの場合、再び、接触装置604、606の平面法線が平行に配置されることが達成される。結合装置の詳細な形態が図4に示されている。
図4は、例示したパワー半導体構成要素、例えばMOS−FET、本発明によるパワー半導体モジュールの図3の第2の形態による結合装置を有するフィルム結合部を示している。図4aでは、負荷結合側は、フィルム結合部の第1の導電層及び絶縁層によって形成される。絶縁層62は、面と一体に形成された突出部620aを有する面として形成される。これらの突出部620aは、第1のフォイル層の導体路と共に、パワー半導体モジュールのガイドシャフトに配置するための第1のフォイル部分を形成する。この場合、導体路の部分は、図3による第3の接触装置604を形成する。基板平面に対するこの接触装置604の垂直配置を形成するために、フィルム結合部は、第1の曲げ箇所68cを備える。
図4bに、図2aと同一の視線方向からの制御結合側が示されている。この制御結合側は、フィルム結合部の第2の導電層及び絶縁層によって形成される。絶縁層62は、再び、面と一体に形成された突出部620bを有する面として形成される。これらの突出部620bは、第2のフォイル層の導体路と共に、パワー半導体モジュールのガイドシャフトに配置するための第2のフォイル部分を形成する。この場合、導体路の部分は、図3による第4の接触装置606を形成する。基板平面に対するこの接触装置604の垂直配置を形成するために、フィルム結合部は、第2の曲げ箇所68dを備える。
第1(68c)及び第2の曲げ箇所(68d)の異なる曲げ方向によって、図3のような接触装置604、606が、それぞれ平行の平面法線を有する平面に形成される。
本発明によるパワー半導体モジュールの第1の形態の断面図である。 本発明によるパワー半導体モジュールの第1の形態の3次元図で、ハウジング3を有する態様を示す。 本発明によるパワー半導体モジュールの第1の形態の3次元図で、ハウジング3を有さない態様を示す。 本発明によるパワー半導体モジュールの第2の形態の断面図である。 本発明によるパワー半導体モジュールの第2の形態のフィルム結合部で、フィルム結合部の第1の導電層及び絶縁層によって負荷結合側が形成される態様を示す。 本発明によるパワー半導体モジュールの第2の形態のフィルム結合部で、図2aと同一の視線方向からの制御結合側を示す。
符号の説明
3 ハウジング
5 基板
6 結合装置
7 プリント回路基板
30 ガイド部分
32 エッジ
36 形成部
54 導体路
58a パワー半導体構成要素
58b パワー半導体構成要素
60 第1の導電層
62 絶縁層
64 第2の導電層
66 結合部
68a 第1の曲げ箇所
68b 第2の曲げ箇所
68c 第1の曲げ箇所
68d 第2の曲げ箇所
70 負荷結合部
72 制御結合部
580 パワー接続面
582 制御接続面
584 エポキシ樹脂
600 第1の接触装置
602 第2の接触装置
604 第3の接触装置
606 第4の接触装置
620a 突出部
620b 突出部

Claims (10)

  1. ハウジング(3)と、導体路(54)および回路に適切なように該導体路に配置されたパワー半導体構成要素(58a/b)を有する少なくとも1つの基板(5)と、結合装置(6)とを有するパワー半導体モジュール(1)であって、
    前記結合装置(6)が、第1(60)及び第2(64)のそれぞれ構造化され、したがって導体路を形成する導電層と、該第1及び第2の導電層の間に配置された絶縁層(62)とを有するフィルム結合部から構成され、
    前記第1の導電層(60)が、パワー半導体構成要素(58a/b)のパワー接続面(580)に対するスポット溶接結合部として形成された第1の接触装置(600)と、パワー半導体構成要素(58a)の制御接続面(582)に対する第2の接触装置(602)と、プリント回路基板(7)への負荷結合部(70)に対する第3の接触装置(604)とを備え、
    前記第2の導電層(64)が、回路に適切な前記第1の導電層(60)への結合部(66)と、プリント回路基板(7)への制御結合部(72)に対する第4の接触装置(606)とを備え、
    前記フィルム結合部が、前記第1及び第2の接触装置(600、602)の間に、ならびに前記ハウジング(3)のガイド部分(30)に配置される前記第3及び第4の接触装置(604、606)の間にフォイル部分を備え、かつ前記第3及び第4の接触装置(604、606)が平行の表面法線を有する、パワー半導体モジュール。
  2. 第3の接触装置(604)に対するフォイル部分が、同一の曲げ方向を有する第1の曲げ箇所(68a)及び第2の曲げ箇所(68b)を備え、第4の接触装置(606)に対するフォイル部分が、第1の曲げ方向を有する第1の曲げ箇所(68a)と、その後の推移において、反対の第2の曲げ方向を有する第2の曲げ箇所(68b)とを備える、請求項1に記載のパワー半導体モジュール。
  3. 第3の接触装置(604)に対するフォイル部分が、第1の曲げ方向を有する曲げ箇所(68c)を備え、かつ第4の接触装置(606)に対するフォイル部分が、第2の曲げ方向を有する第2の曲げ箇所(68d)を備える、請求項1に記載のパワー半導体モジュール。
  4. 前記曲げ箇所(68a/b/c/d)が、前記ハウジング(3)のガイド部(30)の付随したエッジ(32)に配置される、請求項3又は4に記載のパワー半導体モジュール。
  5. 前記第3の接触装置(604)が、前記第1の導電層(60)の導体路の部分として、かつ前記第4の接触装置(606)が、前記第2の導電層(64)の導体路の部分として形成される、請求項1に記載のパワー半導体モジュール。
  6. 前記第3の接触装置(604)及び第4の接触装置(606)が、前記表面法線の方向に前記ハウジング(3)から突出する、請求項1に記載のパワー半導体モジュール。
  7. 前記第3の接触装置(604)及び第4の接触装置(606)が、基板平面に対して平行な平面に配置される、請求項2に記載のパワー半導体モジュール。
  8. 前記第3の接触装置(604)及び第4の接触装置(606)が、基板平面に対して垂直な平面に配置される、請求項3に記載のパワー半導体モジュール。
  9. 前記パワー半導体構成要素(58)を有する前記基板(5)と、前記第1の導電層(60)との間の体積が、絶縁材料によって充填される、請求項1に記載のパワー半導体モジュール。
  10. 前記絶縁物質が、シリコーンジェル又はエポキシ樹脂(584)である、請求項9に記載のパワー半導体モジュール。
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