JP2010541218A - ミラー層を有する薄膜ledおよびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【選択図】図1
Description
− 成長基板を形成するステップと、
− 電磁放射を発生させるために適している積層体をエピタキシャル成長させるステップと、
− コンタクト構造体が成膜される範囲の領域とは反対側に位置している領域に切り欠き部を有する第1のミラー層を成膜するステップと、
− この第1のミラー層の上にバリア層を成膜するステップと、
− 成長基板から積層体を分離するステップと、
− コンタクト領域を有するコンタクト構造体を、第1のミラー層とは反対側の積層体の面の上に成膜するステップであって、コンタクト構造体が、第1のミラー層の切り欠き部とは反対側に位置している領域に成膜され、コンタクト構造体のコンタクト領域が第1のミラー層の切り欠き部よりも小さい、ステップと、
を含んでいる。
Claims (15)
- 薄膜LEDであって、
− バリア層(3)と、
− 前記バリア層(3)に隣接する第1のミラー層(2)と、
− 前記第1のミラー層(2)に隣接する積層体(5)であって、電磁放射を放出する少なくとも1つの活性層(5a)を有する、前記積層体(5)と、
− 前記積層体(5)に隣接しており、放射出口領域(4)の上に配置されており、コンタクト領域(7)を有する少なくとも1つのコンタクト構造体(6)であって、前記第1のミラー層(2)が、前記コンタクト構造体(6)の前記コンタクト領域(7)とは反対側に位置している領域に、前記コンタクト構造体(6)の前記コンタクト領域(7)よりも大きい切り欠き部を有する、前記コンタクト構造体(6)、
を備えている、薄膜LED。 - 前記切り欠き部の横方向範囲が、前記コンタクト構造体(6)の前記コンタクト領域(7)の横方向範囲より5μm〜20μm大きい、請求項1に記載の薄膜LED。
- 前記積層体(5)と前記第1のミラー層(2)の前記切り欠き部の領域との間のコンタクト抵抗が増大するように、前記放射出口領域(4)とは反対側に位置している前記積層体(5)の界面が、前記切り欠き部の領域において改質されている、請求項1または請求項2に記載の薄膜LED。
- 前記積層体(5)の前記界面が前記切り欠き部の領域において導電性ではないように、前記放射出口領域(4)とは反対側に位置している前記積層体(5)の前記界面が、前記切り欠き部の領域において改質されている、請求項3に記載の薄膜LED。
- 前記第1のミラー層(2)の前記切り欠き部が第2のミラー層(8)を有する、請求項3または請求項4に記載の薄膜LED。
- 前記積層体(5)に面している前記コンタクト構造体(6)の主領域が反射層(9)を有する、請求項1から請求項5のいずれかに記載の薄膜LED。
- 前記積層体(5)の前記放射出口領域(4)が粗面化されている、請求項1〜6のいずれか1項に記載の薄膜LED。
- 前記コンタクト構造体(6)が上に配置されている前記積層体(5)の領域が、前記コンタクト構造体(6)が上に配置されていない前記積層体(5)の領域よりも小さい層高さを有する、
請求項1から請求項7のいずれかに記載の薄膜LED。 - 前記積層体(5)の側面領域の少なくとも1つがさらなる反射層(12)を有する、請求項1から請求項8のいずれかに記載の薄膜LED。
- 前記薄膜LEDの前記放射出口領域(4)の上にルミネセンス変換層(11)が成膜されている、請求項1から請求項9のいずれかに記載の薄膜LED。
- 請求項1から請求項10のいずれかに記載の薄膜LEDを製造する方法であって、
− 成長基板を形成するステップと、
− 電磁放射を発生させるために適している積層体(5)をエピタキシャル成長させるステップと、
− コンタクト構造体(6)が成膜される範囲の領域とは反対側に位置している領域に切り欠き部を有する第1のミラー層(2)を成膜するステップと、
− 前記第1のミラー層(2)の上にバリア層(3)を成膜するステップと、
− 前記成長基板から前記積層体(5)を分離するステップと、
− コンタクト領域(7)を有するコンタクト構造体(6)を、前記第1のミラー層(2)とは反対側の前記積層体(5)の面の上に成膜するステップであって、前記コンタクト構造体(6)が、前記第1のミラー層(2)の前記切り欠き部とは反対側に位置している領域に成膜され、前記コンタクト構造体(6)の前記コンタクト領域(7)が前記第1のミラー層(2)の前記切り欠き部よりも小さい、前記ステップと、
を含んでいる、方法。 - 前記第1のミラー層の前記切り欠き部の領域に前記バリア層(3)を成膜する前に、前記積層体(5)の界面をプラズマプロセスまたはスパッタリングプロセスによって損傷させる、請求項11に記載の方法。
- 前記バリア層(3)を成膜する前に、前記第1のミラー層(2)の前記切り欠き部の中に第2のミラー層(8)を形成する、請求項12に記載の方法。
- 前記コンタクト構造体(6)を成膜する前に、前記第1のミラー層(2)とは反対側に位置している前記積層体(5)の界面を粗面化する、請求項11から請求項13のいずれかに記載の方法。
- 前記積層体(5)に前記コンタクト構造体(6)を成膜する前に、前記コンタクト構造体(6)が成膜される範囲の前記積層体(5)の部分領域に、反射層(9)を成膜する、請求項11から請求項14のいずれかに記載の方法。
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